DE2617729B2 - Photometrische schaltung - Google Patents
Photometrische schaltungInfo
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Description
Die Erfindung bezieht sich auf eine photometrische Schaltung zur elektronischen Bestimmung der Belichtungszeit
in Abhängigkeit von der Szenenleuchtdichte, ίο der Filmempfindlichkeit und der Blendeneinstellung ™;.'
der MimempiHiuH«-»"·^'1 "■■" ">-■ .»w„kumv.iiU,i
einem photoelektrischen Wandler zur Erzeugung eines von der Szenenleuchtdichte abhängigen Stromes, einem
ersten Transistor, dessen Kollektor mit dem photoelektrischen Wandler und dessen Basis mit dem Kollektor
über eine Kollektor-Basis-Rückkopplungsschaltung hoher Eingangsimpedanz zur Erzeugung einer in Beziehung
zur APEX-Größe B1 der Szenen-Leuchtdichte B
stehenden Basis-Emitter-Spannung verbunden ist, mit zwei veränderlichen entsprechend der Filmempfindlich-
keil bzw. dem Blendenwert einstellbaren Widerständen und mit einem zweiten Transistor zur Erzeugung eines
Belichtungsregelstromes in seinem Kollektorkreis in Abhängigkeit von der zwischen seiner Basis und seinem
Emitter anliegenden Spannung.
Die Verwendung von photometrischen Schaltungen in Kameras zur Bestimmung der erforderlichen
Belichtungszeit in Abhängigkeit von der Filmempfindlichkeit, der Blende und der Objekthelligkeit ist bekannt.
Die Belichtungszeit wird unter Verwendung der APEX-Gleichung
Sy + By = Ty + Ay
ermittelt, wobei Sv, B, und A,.jeweils die APEX-Größen
für die Filmempfindlichkeit, die Objekthelligkeit und die Biende sind.
In einer bekannten photometrischen Schaltung (DT-OS 22 50 379) werden Verstärker und in weitem
Bereich veränderliche Präzisionswiderstände verwendet. Diese bekannte Schaltung hat einen relativ hohen
Stromverbrauch. Außerdem ist die Herstellung der Präzisionswiderstände sehr schwierig.
In dem älteren Vorschlag gemäß DT-OS 25 58 614 wird eine Schaltung der eingangs genannten Art
vorgeschlagen, in der mehrere Operationsverstärker Verwendung finden. Aufgrund der Schwellspannung der
Operationsverstärker und der Transistoren muß eine Spannungsquelle mit relativ hoher Spannung benutzt
werden. Der Aufbau der Operationsverstärker ist außerdem kompliziert, was zu relativ hohen Kosten
dieser Schaltung führt.
Der vorliegenden Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine photometrische Schaltung der eingangs
genannten Art anzugeben, die einfacher aufgebaut ist, einen geringen Stromverbrauch hat und ohne mit hoher
Präzision hergestellte Widerstände auskommt.
Diese Aufgabe wird gemäß dem kennzeichnenden Teil des Hauptanspruchs gelöst. Vorteilhafte Weiterbildungen
ergeben sich aus den Unteransprüchen.
Anhand eines in der Zeichnung dargestellten Ausführungsbeispiels wird die Erfindung im folgenden
näher erläutert. Es zeigt
Fig. t einen teilweise schematisierten Schaltplan zur
Erläuterung des Grundprinzips der vorliegenden erfindungsgemäßen photometrischen Schaltung,
F i g. 2 die deiamierie Schauung des Ausführungsbeispiels
nach Fig. 1 und
F i g. 3 eine graphische Darstellung der Charakteristika eines Feldeffekttransistors.
35
40
50
Der Kollektor eines Transitors 19 mit logarithmisch^-
Kompression, der mit einem photoelektrischen Element J8 verbunden ist, ist über eine Pufferschaltung 20 und
veränderliche Widerstände 21 und 22 mit der Basis des gleichen Transistors 19 rückgekoppelt. Ein Strom von
einer Konstantstromquelle 23 fließt durch die veränderlichen Widerstände 21 und 22. Der Ausgang der
Pufferschaltung 20 ist außerdem mit der Basis eines Transistors 24 mit logarithmischer Expansion verbunden,
dessen Kollektor mit einem Integrationskondensator 25 verbunden ist. Außerdem ist eine Konstantspannungsquelle
26 vorgesehen.
Die oben beschriebene Schaltung funktioniert folgendermaßen. Da der Kollektor des Transistors 19 mit
Kompression, der einen durch Licht verursachten Strom /' von dem in Sperrichtung betriebenen photoelektrischen
Element 18 empfängt, mit der Basis des gleichen Transistors rückgekoppelt ist, hat die Basis-Emitter-Spannung
Vi: des Transistors einen vom Strom /,/
abhängigen Wert. Es gilt
(2)
qdie elektrische Ladung eines Elektrons, Kdie Boltzmann-Konstante,
Tdie absolute Temperatur,
Vbe(io) d'e Basis-Emitter-Spannung des Transistors 19 zu der Zeit ist, wenn der Kollektorstrom durch den Transistor 19 /„ist. Wenn nichts anderes angemerkt ist, haben alle
Tdie absolute Temperatur,
Vbe(io) d'e Basis-Emitter-Spannung des Transistors 19 zu der Zeit ist, wenn der Kollektorstrom durch den Transistor 19 /„ist. Wenn nichts anderes angemerkt ist, haben alle
Logarithmen die Basis e.
Die Beziehung zwischen dem durch Licht erzeugten
Die Beziehung zwischen dem durch Licht erzeugten
Strom ip und der APEX-Größe B^ der Leuchtdichte B
eines zu photographierenden Gegenstandes wird ausgedrückt durch die Gleichung
«;=ίρο2β-, (3)
wobei />o ein durch Licht erzeugter Strom zur Zeit von
Bv = 0 ist.
Daher kann die Basis-Emitter-Spannung des Transistors 19 mit Kompression folgendermaßen ausgedrückt
werden:
Die Stromstärke /, von der Konstantstromquclle 23
wird entsprechend folgender Gleichung eingestellt:
is = KT ■ .! -log 2. (7)
</ 'Vs
Daher können die an den veränderlichen Widerständen 21 und 22 auftretenden Spannungen V(1 und Vi
durch folgende Gleichungen ausgedrückt werden:
KT
KT
• S1. ■ log 2 , i8)
-(N - A1,) ■ log 2. (9)
Andererseits kann die Beziehung zwischen der Basis-Emitter-Spannung VH des Transistors 24 mit
logarithmischer Expansion und dem Kollektorstrom ic
des gleichen Transistors (für den Fall, daß die Charakteristik der Basis-Emitter-Spannung gegen den
Kollektorstrom des Transistors 24 mit Expansion identisch mit der gleichen Charakteristik des Transistors
19 mit Kompression ist) durch folgende Gle.chung ausgedrückt werden:
' Ii '—
KT
(10)
Die Beziehung zwischen der APEX-Größe Γ,- der
Belichtungszeit T und dem Kollektorstrom ic des Transistors 24 mit Expansion wird durch folgende
Gleichung angegeben:
ic = ic -2Γ· , (ID
wobei /co der Kollektorstrom des Transistors mit
Expansion bei T1 = 0 ist.
Daher kann die Basis-Emitter-Spannung Vn des Transistors 24 mit Expansion folgendermaßen ausgedrückt
werden:
= ^H log
-2r-
(12)
KT
log
1PO
+ V
«Uli,,] ■
(4)
Der veränderliche Widerstand 21 wird so ausgehählt, daß er in Beziehung zu der APEX-Größe S1- der
Empfindlichkeit S des Filmes steht. Der veränderliche Widerstand 22 wird derart ausgewählt, daß er in
Beziehung zu der APEX-Größe Av der Blende A des
Objektivs steht. Die veränderlichen Widerstände 21 und 22 werden derart ausgewählt, und die Schleifer werden
derart mit ihnen verbunden, daß die Widerstandswerte der Widerstände 21 und 22 jeweils R\ und R2 sind, wobei
folgende Beziehungen gelten:
Andererseits kann unter Verwendung der Basis-Emitter-Spannung
VE des Transistors 19 mit Kompression
und der Klemmenspannungen Vc und Vrder veränderlichen
Widerstände 21 und 22 die Basis-Emitter-Spannung Vn des Transistors 24 mit Expansion folgendermaßen
ausgedrückt werden:
Vn = Vl; + V1, +
(13)
Durch Einführen der Gleichungen 4, 8, 9 und 12 in Gleichung 13 ergibt sich
- T1.) ^ (log ^). (14)
UmeineAPEX-Operation
(l
= Rv | -S1., | A1), | (5) | |
R, | = Rs | (/V- | (6) | |
T1. = B1 + S1. - A1.
zu ermöglichen, muß folgende Beziehung gelten:
(15)
wobei Rs einen Widerstandswert entsprechend einer Stufe von S^und /4,.und Neine Konstante ist.
Daher kann der theoretisch richtige Betrieb der photometrischen Schaltung durch Auffinden e.nes
Wertes von N, der die Gleichung (15) befriedigt, erreicht werden.
Im folgenden wird ein praktisches Ausführungsbeispiel
in bezug mit F i g. 2 beschrieben. Vom Kollektor eines Transistors 27 mit logarithmischer Kompression
zu dessen Basis ist ein Rückkopplungskreis vorgesehen mit einer Kathodenfolgeschaltung, die von einem
Feldeffekttransistor (FET) 29 und einem Widerstand 30 gebildet wird, einem Transistor 31, dessen Emitter
Konstantstromenergie durch einen Transistor 36 zugeführt wird, und veränderlichen Widerständen 32 bis
35, die mit dem Emitter verbunden sind. Zwischen dem Kollektor des Transistors 27 und der Kathodenelektrode
des FET 29 ist ein photoelektrisches Element 28 geschaltet. Der veränderliche Widerstand 32 ist zur
Einstellung entsprechend einem Meßgerät vorgesehen. Der veränderliche Widerstand 33 wird entsprechend
der Empfindlichkeit des Filmes und der veränderliche Widerstand 34 wird entsprechend der Blende des
Objektivs eingestellt. Der veränderliche Widerstand 35 wird zur Einstellung der Belichtungszeit verwendet. Die
Basis des Transistors 36 ist mit der Basis eines Transistors 39 verbunden, der in Form einer Diode
geschaltet ist. Der Kollektor und die Basis des Transistors 39 sind mit einem FET37 verbunden, der mit
einem eine automatische Gittervorspannungserzeugung bewirkenden Widerstand 38 verbunden ist.
Zwischen dem Verbindungspunkt eines Widerstandes 40 und einem weiteren als Diode geschalteten
Transistor 41 und dem Emitter des Transistors 31 ist ein Meßgerät 42 geschaltet. Der Widerstand 40 und der
Transistor 41 sind in Reihe mit einer Spannungsquelle 50 verbunden. Der Verbindungspunkt zwischen den
veränderlichen Widerständen 32 und 33 ist mit der Basis eines Transistors 45 mit logarithmischer Expansion und
der Kollektor des Transistors 45 ist mit einem Zeitschalter 43, einem Kondensator 44 und einer
invertierenden Eingangsklemmc eines Vergleichers 48 verbunden. Der Verbindungspunkt zwischen einer
Zenerdiode 46 und einem Widerstand 47, die beide in Reihe an die Spannungsquelle 50 angeschlossen sind, ist
mit der nichtinvertierenden Eingangsklemme des Vergleichers 48 verbunden. Der Ausgang des letzteren
ist mit einer Spule 49 eines Elektromagneten verbunden.
Im Betrieb hat die Spannung V/ zwischen der Basis
und dem Emitter des Transistors 27 einen Wert, wie aus F i g. 2 hervorgeht, der abhängig ist von dem durch Licht
erzeugten Strom in dem photoelektrischen Element 28. Der Kollektorstrom des Transistors 36 (konstanter
Strom) muß entsprechend folgender Gleichung eingestellt werden:
gleiche Basis-Emitter-Spannung haben müssen. Der Strom io kann so geregelt werden, daß er proportional
zur absoluten Temperatur Tist, wie durch Gleichung (7) verlangt wird, indem der FE729 und der Widerstand 38
in geeigneter Weise ausgewählt werden. Die Charakteristiken der Gitter-Kathodenspannung Vcs gegen den
Anodenstrom /odes selbstvorgespannten FET37 sind in Fig. 3 gezeigt. Wenn der Widerstandswert des
Widerstandes 38 gleich /?3 ist und in F i g. 3 der
ίο Schnittpunkt zwischen einer hierdurch gebildeten
Lastkurve und einer Charakteristikkurve bei 200C des FET37 aufgesucht wird, kann der Anodenstrom Im des
FET 37 unter gewünschten Bedingungen erhalten werden. Wie in Gleichung (7) angezeigt ist, ist es
erforderlich, daß der Anodenstrom des FET 37 eine Temperaturcharakteristik proportional zur absoluten
Temperatur That. Wie aus F i g. 4 hervorgeht, kann eine solche Forderung leicht durch Änderung des Wertes Rz
und durch Auswahl der Charakteristik des FET in geeigneter Weise erfüllt werden. Durch Verwendung
von zwei Transistoren 36 und 39 mit gleicher Charakteristik der Basis-Emitter-Spannung gegen den
Kollektorstrom wird am Kollektor des Transistors 36 eine Konstantstromquelle gebildet, die einen Strom
gleich dem Anodenstrom Im des FET37 erzeugt.
Die Klemmenspannungen Vj. und Vk erhält man an
den veränderlichen Widerständen 33 und 34, welche jeweils entsprechend der Empfindlichkeit des Filmes
und der Blende des Objektivs eingestellt werden können. Der veränderliche Widerstand 35, welcher
entsprechend der Belichtungszeit eingestellt werden kann, ist hierdurch justiert, um den die Gleichung (15)
befriedigenden Wert N zu erhalten. Wenn alle oben beschriebenen Bedingungen erfüllt sind, verwirklicht
der Kollektorstrom des Transistors 45 mit Expansion die richtige Belichtung der Kamera.
Die Spule 49 wird erregt, während der Zeitschalter 43 geschlossen ist. Wenn der Zeitschalter 43 geöffnet ist,
wird der Kondensator 44 geladen, bis die Ladungsspan-
nung die Klemmenspannung Vb der Zenerdiode 46
erreicht. Nach Erreichen der Klemmenspannung Vr wird die Erregung der Spule 49 beendet. Auf ,eine
detaillierte Beschreibung der Beziehung zwischen dem Zeitschalter und der Spule in der Kamera wird
verzichtet, da diese bekannt ist. Die Klemmenspannung Vq am Meßgerät 42, das zwischen den Kollektor des
Transistors 41 und den Emitter des Transistors 31 geschaltet ist, wird durch folgende Gleichung ausgedrückt:
KT
log 2 .
(7)
wie oben erklärt worden ist. Dies wird durch die in Fig. 2 vorgesehenen Verbindungen erzielt. Wenn die
Transistoren 36 und 39 die gleichen Charakteristiken aufweisen, wird der konstante Strom /'s gleich dem
Kollektorstrom //> des Transistors 39 sein, da beide die
V0 = V0 I V
(16)
Da Vo proportional zur APEX-Größc 7; der
Belichtungszeit Tist, ist die Klemmenspannung Vy des
Meßgerätes entsprechend Gleichung (16) proportional zu Γ,, Das Niveau des Meßgerätes 42 kann beliebig
durch die Spannung VMl die am veränderlichen
Widerstand 32 zur Einstellung des Meßgerätes erzeugt wird, eingestellt werden.
Hierzu 2 UIaIl /oidinimucn
Claims (5)
1. Photometrische Schaltung zur elektronischen Bestimmung der Belichtungszeit in Abhängigkeit
von der Szenenleuchtdichte, der Filmempfindlichkeit und der Blendeneinstellung mit einem photoelektrischen
Wandler zur Erzeugung eines von der Szenenleuchtdichte abhängigen Stromes, einem
ersten Transistor, dessen Kollektor mit dem photoelektrischen Wandler und dessen Basis mit
dem Kollektor über eine Kollektor-Basis-Rückkopplungsschaltung hoher Eingangsimpedanz zur
Erzeugung einer in Beziehung zur APEX-Größe By der Szenen-Leuchtdichte B stehenden Basis-Emitter-Spannung
verbunden ist, mit zwei veränderlichen entsprechend der Filmempfindlichkeit bzw.
dem Blendenwert einstellbaren Widerständen und mit einem zweiten Transistor zur Erzeugung eines
Belichtungsregelstromes in seinem Kollektorkreis in Abhängigkeit von der zwischen seiner Basis und
seinem Emitter anliegenden Spannung, dadurch
gekennzeichnet, daß die veränderlichen Widerstände (21, 22; 33, 34) in Reihe miteinander in
der Kollektor-Basis-Rückkopplungsschaltung (20, 21, 22; 29-35) angeordnet sind, daß eine die
veränderlichen Widerstände (21, 22; 33,34) speisende Konstantstromquelle (23; 36) zur Erzeugung von
den APEX-Größen S,. bzw. Λ, entsprechenden Spannungsabfällen an diesen Widerständen vorgesehen
ist, und daß die Basis-Emitter-Strecke des zweiten Transistors (24; 45) zusammen mit den
veränderlichen Widerständen (21,22; 33,34) und der
Basis-Emitter-Strecke des ersten Transistors (19; 27) einen geschlossenen Stromkreis bildet.
2. Photometrische Schaltung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Konstantstromquelle
(23; 36) einen Strom solcher Größe erzeugt, daß die Temperaturcharakteristik der hierdurch an
den veränderlichen Widerständen (21, 22; 33, 34) erzeugten Spannungen pro Stufe der die Belichtung
bestimmenden Faktoren jeweils im wesentlichen (KT/q) logc2 entspricht, wobei K die Boltzmann-Konstante,
ς die elektrische Ladung eines Elektrons und Tdie absolute Temperatur ist.
3. Photometrische Schaltung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Konstant-
>itomquelle einen dritten Transistor (36) aufweist,
dessen Kollektor mit den in Reihe geschalteten veränderlichen Widerständen (33, 34) und dessen
Emitter mit einer Quelle (50) eines Bezugspotentials verbunden ist, und eine Einrichtung (37, 38, 39) zur
Erzeugung einer von der absoluten Temperatur abhängigen, an der Basis des dritten Transistors (36)
anliegenden Spannung.
4. Photometrische Schaltung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Einrichtung zur
Erzeugung einer an der Basis des dritten Transistors (36) anliegenden Spannung eine Diode (39) und
einen selbstvorgespannten, in Reihe mit der Spannungsquelle (50) geschalteten Feldeffekttransistor
(37) aufweist und daß der Verbindungspunkt zwischen dem Feldeffekttransistor (37) und der
Diode (39) mit der Basis des dritten Transistors (36) vcTüUndeii iSi. '
5. Photometrische Schaltung nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß ein Meßgerät (42) in
Reihe mit der Emitter-Basis-Strecke des ersten Transistors (27) und den veränderlichen Widerständen
(33,34) geschaltet ist.
Applications Claiming Priority (1)
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---|---|---|---|
JP50050470A JPS5922167B2 (ja) | 1975-04-25 | 1975-04-25 | 測光・演算回路 |
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DE2617729A1 DE2617729A1 (de) | 1976-11-04 |
DE2617729B2 true DE2617729B2 (de) | 1977-09-22 |
DE2617729C3 DE2617729C3 (de) | 1978-05-24 |
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GB (1) | GB1521374A (de) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2905850A1 (de) * | 1978-02-17 | 1979-08-23 | Asahi Optical Co Ltd | Belichtungsfaktor-schaltkreis |
Families Citing this family (1)
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JPS631936A (ja) * | 1986-06-23 | 1988-01-06 | Asahi Optical Co Ltd | 光電変換回路 |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB1376080A (en) * | 1971-02-27 | 1974-12-04 | Asahi Optical Co Ltd | Exposure-determing device for a camera |
JPS5611930B2 (de) * | 1973-10-09 | 1981-03-18 |
-
1975
- 1975-04-25 JP JP50050470A patent/JPS5922167B2/ja not_active Expired
-
1976
- 1976-04-23 DE DE19762617729 patent/DE2617729B2/de active Granted
- 1976-04-23 US US05/679,587 patent/US4106035A/en not_active Expired - Lifetime
- 1976-04-26 GB GB16840/76A patent/GB1521374A/en not_active Expired
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Also Published As
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GB1521374A (en) | 1978-08-16 |
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