DE19720968A1 - Verfahren zur Ermittlung der Fehler einer Winkelteilung aus der Winkelteilungsdifferenz, bestimmt aus der Differenz zweier Winkelpositionen mit jeweils konstantem Winkelabstand - Google Patents
Verfahren zur Ermittlung der Fehler einer Winkelteilung aus der Winkelteilungsdifferenz, bestimmt aus der Differenz zweier Winkelpositionen mit jeweils konstantem WinkelabstandInfo
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Description
Nachfolgend verwendete Nomenklatur über Fachbegriffe:
Ein Teilkreis hat eine Winkelteilung, mit deren Hilfe eine Winkelposition ermittelt wird.
Ein Teilkreis hat eine Winkelteilung, mit deren Hilfe eine Winkelposition ermittelt wird.
Die Differenz der Winkel gemessen an zwei oder mehreren
Winkelpositionen auf der Winkelteilung mit jeweils konstan
tem Winkelabstand wird im folgenden als Winkelteilungsdif
ferenz bezeichnet.
Eine Verschiebung der Winkelteilungen zueinander wird im
folgenden auch als Winkelshear bezeichnet.
Als Fourier-Filterung wird eine aufeinanderfolgende Durch
führung von Fourier-Transformation, Multiplikation der Fou
rier-Transformierten mit einer sog. Übertragungsfunktion
und Fourier-Rücktransformation bezeichnet.
Als Winkelfrequenz wird der Kehrwert der Periodenlänge ei
nes Winkelsignals bezeichnet.
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Ermittlung der
Fehler einer Winkelteilung aus der Winkelteilungsdifferenz
unter der Voraussetzung, daß die Winkelteilungsdifferenz
aus Messungen an der Winkelteilung an jeweils zwei Punkten
ermittelt wird, die zueinander ständig denselben Winkelab
stand haben.
Differenzverfahren zur Messung der Fehler von Winkelteilun
gen sind nicht bekannt.
Entwicklung eines Verfahrens zur Bestimmung der Winkeltei
lung aus ihrer Differenz, unter der Voraussetzung, daß die
Winkelteilungsdifferenz aus Messungen an der Winkelteilung
an jeweils zwei Punkten ermittelt wird, die zueinander
ständig denselben Winkelabstand haben, wobei die vollstän
dige Information über die Winkelteilung mit hoher Genauig
keit ohne jegliche Einschränkungen bezüglich der Gestalt
der Winkelteilung mit hoher lateraler Auflösung bestimmt
wird.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß dadurch gelöst, daß die
Winkelteilung mit der Übertragungsfunktion
(T ist die Übertragungsfunktion, ν die Winkelfrequenz, i
die imaginäre Einheit und s der Winkelshear) unter der Be
dingung rekonstruiert wird, daß die Unstetigkeitsstellen
dieser Funktion durch geeignete Wahl des Winkelshear nicht
mit einer Winkelfrequenz der harmonischen Elementarfunk
tionen bei der harmonischen Analyse der Winkelteilungsdif
ferenz durch die Fourier-Filterung zum Zwecke der Ermitt
lung der Winkelteilung zusammenfallen und daß mehr als eine
Winkelteilungsdifferenz mit mehr als einem Winkelshear ver
wendet werden kann, um die Übertragungsfunktion des Auswer
tesystems zu optimieren und um den Einfluß statistischer
Meßunsicherheiten zu minimieren.
Die Winkelteilungsdifferenz wird einer Fourier-Filterung
unterworfen zum Zwecke der Ermittlung der Winkelteilung mit
Hilfe der eigens hierfür bestimmten Übertragungsfunktion
unter der Bedingung, daß die Unstetigkeitsstellen der Über
tragungsfunktion durch geeignete Wahl des Winkelshears
nicht mit einer Winkelfrequenz der harmonischen Elementar
funktionen bei der harmonischen Analyse der Winkelteilungs
differenz zusammenfallen. Die Übertragungsfunktion ist
wobei ν die Winkelfrequenz ist, i die imaginäre Einheit, s
der Winkelshear. Es ist empfehlenswert, mehr als eine Win
kelteilungsdifferenz mit mehr als einem Winkelshear zu ver
wenden, um die Übertragungsfunktion des Auswertesystems zu
optimieren und um den Einfluß statistischer Meßunsicherhei
ten zu minimieren.
Für die Messung der Fehler von Winkelteilungen wird eine
Messung dergestalt durchgeführt werden, daß zwei Abtastköp
fe mit einem endlichen Winkelabstand (Winkelshear) angeord
net werden und daß Messungen mit den Abtastköpfen derge
stalt durchgeführt werden, daß der Winkelabstand zwischen
den beiden Abtastköpfen konstant bleibt, während die Win
kelteilung gegenüber den Abtastköpfen um einen Vollkreis
gedreht wird oder während die Abtastköpfe gegenüber der
Winkelteilung um einen Vollkreis gedreht werden. Die beiden
Abtastköpfe liefern als Meßsignal die Position auf der Win
kelteilung, hieraus entsteht als Differenz der beiden Mes
sungen die Winkelteilungsdifferenz. Aus der Winkelteilungs
differenz kann die Winkelteilung, in diesem Falle der Feh
ler der Winkelteilung, abgetastet durch die Abtastköpfe,
ermittelt werden. Weiterhin ist empfehlenswert, mehr als
eine Winkelteilungsdifferenz mit mehr als einem Winkelshear
zu verwenden, um die Übertragungsfunktion des Auswertesy
stems zu optimieren und um den Einfluß statistischer Meßun
sicherheiten zu minimieren.
Das erfindungsgemäße Differenzverfahren gestattet die Be
nutzung großer Winkelshears, womit große Meßsignale reali
siert werden können, und es kann aus der Winkelteilungsdif
ferenz, insbesondere wenn mehr als ein Winkelshear verwen
det wird, die vollständige Winkelteilung bestimmt werden,
wobei eine hohe Genauigkeit erzielt wird, wobei keinerlei
Einschränkungen bezüglich der Gestalt der Winkelteilung
vorausgesetzt werden müssen und wobei eine hohe laterale
Auflösung erzielt wird.
Claims (4)
1. Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Ermittlung der
Fehler einer Winkelteilung aus der Winkelteilungsdiffe
renz unter der Voraussetzung, daß diese Winkelteilungs
differenz aus zwei Winkeln ermittelt wird, die zueinan
der ständig denselben Winkelabstand haben, dadurch ge
kennzeichnet,
daß die Winkelteilung mit der Übertragungsfunktion
(T ist die Übertragungsfunktion, ν die Winkelfrequenz, i die imaginäre Einheit und s der Winkelshear) aus der Winkelteilungsdifferenz rekonstruiert wird.
(T ist die Übertragungsfunktion, ν die Winkelfrequenz, i die imaginäre Einheit und s der Winkelshear) aus der Winkelteilungsdifferenz rekonstruiert wird.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß
das Verfahren auf einer Fourier-Filterung mit der Über
tragungsfunktion im Winkelfrequenzraum beruht unter der
Bedingung, daß die Unstetigkeitsstellen der Übertra
gungsfunktion durch geeignete Wahl des Winkelshear
nicht mit einer Winkelfrequenz der harmonischen Elemen
tarfunktionen bei der harmonischen Analyse der Winkel
teilungsdifferenz zusammenfallen.
3. Verfahren nach Anspruch 1 und 2, dadurch gekennzeichnet,
daß mehr als eine Winkelteilungsdifferenz mit mehr als
einem Winkelshear verwendet werden kann, um die Über
tragungsfunktion des Auswertesystems zu optimieren und
um den Einfluß statistischer Meßunsicherheiten zu mini
mieren.
4. Verfahren nach Anspruch 1 und 2, dadurch gekennzeichnet,
daß die Fourier-Filterung im Computer durchgeführt
wird.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE1997120968 DE19720968A1 (de) | 1997-05-17 | 1997-05-17 | Verfahren zur Ermittlung der Fehler einer Winkelteilung aus der Winkelteilungsdifferenz, bestimmt aus der Differenz zweier Winkelpositionen mit jeweils konstantem Winkelabstand |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE1997120968 DE19720968A1 (de) | 1997-05-17 | 1997-05-17 | Verfahren zur Ermittlung der Fehler einer Winkelteilung aus der Winkelteilungsdifferenz, bestimmt aus der Differenz zweier Winkelpositionen mit jeweils konstantem Winkelabstand |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE19720968A1 true DE19720968A1 (de) | 1998-11-19 |
Family
ID=7829918
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE1997120968 Withdrawn DE19720968A1 (de) | 1997-05-17 | 1997-05-17 | Verfahren zur Ermittlung der Fehler einer Winkelteilung aus der Winkelteilungsdifferenz, bestimmt aus der Differenz zweier Winkelpositionen mit jeweils konstantem Winkelabstand |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE19720968A1 (de) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102006059491B3 (de) * | 2006-12-14 | 2008-04-17 | Bundesrepublik Deutschland, vertr.d.d. Bundesministerium für Wirtschaft und Technologie, d.vertr.d.d. Präsidenten der Physikalisch-Technischen Bundesanstalt | Verfahren und Einrichtung zur Selbstkalibrierung von Teilkreisen |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE4242145A1 (de) * | 1992-12-14 | 1994-06-16 | Siemens Ag | Vorrichtung zum Ausgleich eines Fehlwinkels zwischen einem cosinus- und einem sinusförmigen, lageabhängigen Meßsignal bei einem Winkelgeber bzw. einem Linearmaßstab |
DE4331151A1 (de) * | 1993-09-14 | 1995-03-23 | Baumueller Nuernberg Gmbh | System zur Messung der Absolutposition des beweglichen, zyklischen Teilungsmarken-Trägers eines inkrementalen Positionsgebers |
-
1997
- 1997-05-17 DE DE1997120968 patent/DE19720968A1/de not_active Withdrawn
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE4242145A1 (de) * | 1992-12-14 | 1994-06-16 | Siemens Ag | Vorrichtung zum Ausgleich eines Fehlwinkels zwischen einem cosinus- und einem sinusförmigen, lageabhängigen Meßsignal bei einem Winkelgeber bzw. einem Linearmaßstab |
DE4331151A1 (de) * | 1993-09-14 | 1995-03-23 | Baumueller Nuernberg Gmbh | System zur Messung der Absolutposition des beweglichen, zyklischen Teilungsmarken-Trägers eines inkrementalen Positionsgebers |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102006059491B3 (de) * | 2006-12-14 | 2008-04-17 | Bundesrepublik Deutschland, vertr.d.d. Bundesministerium für Wirtschaft und Technologie, d.vertr.d.d. Präsidenten der Physikalisch-Technischen Bundesanstalt | Verfahren und Einrichtung zur Selbstkalibrierung von Teilkreisen |
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