DE1807599A1 - Verfahren und Einrichtung zur Bestimmung von Eigenschaften sich bewegender Bahnen - Google Patents
Verfahren und Einrichtung zur Bestimmung von Eigenschaften sich bewegender BahnenInfo
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An das
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I/P 6475
4. Oktober 1968 W/He
INDUSTRIAL NUCLEONICS CORPORATION, 65Ο Ackerman Road; Columbus,
Ohio 45202, U.S.A.
Verfahren und Einrichtung zur Bestimmung von Eigenschaften sich
bewegender Bahnen.
Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren und eine Einrichtung zur Gewinnung statistischer Daten für die Eigenschaften einer sich
bewegenden Bahn, und insbesondere auf eine Einrichtung und ein Verfahren zur Aufteilung einer Eigenschaft einer sich bewegenden Bahn
in eine Vielzahl von einzelnen Varianzkomponenten.
Die Varianz oder Abweichung von dem mittleren Wert einer Punktion f(t) über ein Zeiterintervall T wird wie folgt definiert»
V = T
\ j /f(t) - t(t)_/at
Jo
9Ü9825/1
(i)
V die Varianz,
T die Standardabweichung, und
7^ - T Jo f(*)dt isfc·
Wenn die Punktion f(t) N mal während des Intervalles T abgetastet
wird, läßt sich die Gleichung (1) in folgender Weise angeben:
ι N ρ
ir (X1-X)2
I=J.
x. jede* der aufeinanderfolgenden abgetasteten Werte und
1 N
* - Έ δ. xi ist'
Bei industriellen Verarbeitungsvorgängen ist die Berechnung der Varianz einer Eigenschaft in weitem Maße zur Bestimmung verwendet
worden, ob ein hergestelltes Produkt eine gewünschte Konsistenz zur Erzielung eines Ausgleiches zwischen Wirtschaftlichkeit und
Verbrauch-erwünschen ergibt. Die Varianz ist häufig in der Technik
der Herstellung von Bahnen, z.B. in der Papiertechnik, in der Stahl·
fabrikation und in der Kunststoffilmtechnik angewendet worden. Im
allgemeinen wird bei der bekannten Bahnherstelltechnik und in Verbindung mit einem bevorzugten Ausführungsbeispiel vorliegender Erfindung
die Varianz in Abhängigkeit von der Umsetzung einer Anzeigevorrichtung für die interessierende Eigenschaft rechtwinkelig zu
den Bahnkanten berechnet, während die Bahn sich in Längsrichtung verschiebt. Eine derartige Abtastung durch die Anzeigevorrichtung
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ergibt eine Messung* die üblicherweise als Profilmessung bezeichne*
wird.
Bisher wurde allgemein angenommen, daß die Profildaten direkt zur Ableitung einer statistischen Information in bezug auf Querrichtungs
merkmale der gemessenen Eigenschaft verwendet werden können. Dabei
werden die Daten, die sich auf Merkmale rechtwinkelig zu den Bahnkanten und auf solche in Richtung der Bahnbewegung beziehen, üblicherweise
als Querrichtungseigenschaften und Bearbeitungsrichtungseigenschaften
bezeichnet.
Tatsächlich können jedoch dieProfilmerkmale und Querrichtungsmerkmale
nicht als äquivalent betrachtet werden. Das Fehlen der Äquivalenz zwischen den Profil- und Querriohtungskomponenten ergibt
sich aus der Bearbeitungsri'chtungsumsetzung der Bahn, während die Anzeigevorrichtung rechtwinkelig zur Bahn abtastet. Somit enthält
eine Profilmessung tatsächlich Bearbeitungsrichtungs- und Querrichtungskomponenten
der zu messenden Eigenschaft. Eine echte Anzeige der Querrichtungseigenschaften kann nur dadurch abgeleitet werden,
daß die Bearbeitungsrichtungs- und Querrichtungskomponenten in ihre
entsprechenden Teile aufgespalten oder getrennt werden.
Komponenten der Bahneigenschaft besitzen einen weiten Bereich von
Frequenzen. Beispielsweise treten in der Papierherstelltechnik Faktoren auf, wobei das Gewicht pro Flächeneinheit der Bahn, da»
als Grundgewieht bezeichnet wird, über einen Frequenzbereich von ,■
o,ol - loö Hz; variieren kann. Allgemein kann das Frequenzspektnm
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der Bahneigenschaften in Langzelt- und Kurzzeitkomponenten unterteilt
werden, wobei die Langzeitkomponenten eine Periodizität aufweisen,
die eine Abtastung einer Anzeigevorrichtung über eine Bahn übersteigt, während die Kurzzeitkomponenten jene sind, die eine
Periodizität besitzen, welche kleiner als eine Abtastung einer Anzeigevorrichtung
ist.
Ziel der Erfindung ist ein Verfahren und eine Einrichtung zur Berechnung
statistischer Eigenschaften einer sich bewegenden Bahn; hierbei sollen insbesondere Varianzkomponenten einer Eigenschaft
einer sich bewegenden Bahn in ihre Bestandteilskomponenten aufgeteilt werden. ....,:.
Im einzelnen sollen im Falle der Erfindung ein Verfahren und eine
Einrichtung zum Messen von Querrichtungseigenschaftskomponenten
einer sich bewegenden Bahn, der Varianz einer Eigenschaft einer
sich bewegenden Bahn in Bearbeitungsrichtung zur Berechnung der Gesamtvarianz einer Eigenschaft einer sich bewegenden Bahn aufgrund
der Erkenntnis, daß die Gesamtvarianz der Bahn gleich ist der Summe der Bestandteilsvarianzkomponenten bzw, zur Berechnung von Langzeit-
und Kurzzeitvarianz der Eigenschaften einer sich bewegenden Bahn in
Bearbeitungsrichtung vorgeschlagen werden.
Gemäß vorliegender Erfindung wird die Varianz der Eigenschaften einer Bahn In Komponenten der Querrichtung, der Iiangzeitbearbeitungerichtung,
der Kurzzeltbearbeitungerichtung, der ö*s«H8tbearbeitungs*
richtung und 4m Profile« unterteilt* Die Komponenten werden In
co z
Abhängigkeit von einer einzigen Anzeigevorrichtung für die Eigenschaft
berechnet, die die Bahn rechtwinkelig zu den Kanten mehrere Male abtastet. Während einer jeden Abtastung wird die Eigenschaftsmessung bei einer Anzahl von Zonen quer zur Bahn erzielt, damit
eine Profilkontur erzeugt wird. Ein Rechner spricht auf die abgetasteten Werte an, damit die angezeigten Varianzkomponenten erzeugt
werden.
Nach vorliegender Erfindung werden die Varianzkomponenten in ihre verschiedenen Werte in Abhängigkeit von der Profilmessung dadurch
unterteilt, daß man sich auf das unerwartete Ergebnis stützt, daß die gesamte Varianz einer Bahn über eine Vielzahl von Abtastungen
gleich der Summe der Varianzen über diese Abtastungen ist, wobei
die gesamte Varianz gleich dem mittleren Wert der Profilvarianzen über die verschiedenen Abtastungen, vermehrt um die Langzeitvarianz
in Bearbeitungsrichtung ist. Mathematisch ausgedrückt 1st die gesamte Varianz:
VT ~ Vz + Vx(LT)
wobei
VT « die gesamte Varianz,
V_ β der Mittelwert der Profilvarianzen und
z
cn χ(ϋΓ) « die Langzeitvarianz in Bearbeitungsrichtung über die
-*■ Vielzahl von Abtastungen.
Da die Profilvarianz die Summe der Querrichtungs- und Kurzzeittarian-
zen 1st und die Gesamtbearbeitungsrichtungsvarianz gleich der Kurzzeitvarianz plus der Langzeitvarianz ist, läßt sich die
-D-
Gleichung (3) wie folgt ausdrücken:
vT - vY + vx(T) (4)
= die Gesamtbearbeitungsrichtungsvarianz.ist.
Die Langzeitbearbeitungsriohtungsvarianz in der Gleichung (3) wird
durch Errechnung des mittleren Wertes der Bearbeitungseigenschaft für Jede der Abtastungen und durch Berechnung der Varianz dieser
mittleren Werte erhalten. Mathematisch wird die Langzeitbearbeitungsrichtungsvarianz nach folgender Gleichung berechnet ι
x(M) ■ I S (Z1 - Z) (5)
η * die Anzahl der Abtastungen,
w » der mittlere Wert der η Mittelwerte der angezeigten Abtastablesungen, und
i Jede aufeinanderfolgende ganze Zahl zwischen 1 und n.ist.
Zur Bestimmung der Gesamtvarianz in Bearbeitungerichtung wird die
Varianz in jeder der N Zonen für die η Abtastungen abgeleitet. Diese N Varianzen werden dann zusammen gemittelt, damit der Wert von
Vx(T) erlMllten wird.
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Aus den Messungen der Gesamtbearbeitungsrichtung und der Langzeitbearbeitungsrichtungsvarianz
kann die Kurzzeitbearbeitungsriehtungs· varianz V /Sm\ der Eigenschaft berechnet werden zu:
Vx(ST) = Vx(T) " Vx(LT) (6)*
Die Paktoren, die zur Berechnung der Kurzzeitbearbeitungsrichtungsvarianz
verwendet werden, können mit Profilvarianzmessungen zur Ableitung einer exakten Anzeige der Querrichtungsvarianz entsprechend
folgender Gleichung kombiniert werden:
VY ' VZ " Vx(T) + Vx(LT) (7).
Durch Aufteilung der Gesamtvarianz für die gemessene Eigenschaft in unterschiedliche Komponenten werden Informationen betreffend
die Quelle der Änderungen, die die Unregelmäßigkeiten in der Bahn verursach&i erzeugt. Kennt man beispielsweise den Wert für die
tatsächliche Querbearbeitungsänderung, können die Einflüsse der Steuerungen für die Querbearbeitungsrichtungseigenschaften exakter
bestimmt werden. Die Kenntnis von Kurzzeitbearbeitungsriehtungskomponenten ermöglicht mit hoher Genauigkeit eine bessere Bewertung
der Einflüsse der Bearbeitungsrichtungsvorgangseinstellungen. Bei
der Papierherstellung ermöglicht die Bewertung der tatsächlichen Qnerbearbeitungsvarianz, daß eine genauere Anzeige erzielt werden,
kann, wie die öffnung einer Stauvorrichtung an einer bestiiaeten
Stelle quer zur Bahn das Grundgewicht in der Querrichtung wird. Die Berechnung der Kurzzeitbearbeitungsrichtungsvarianz ergibt eine
vollständigere Beurteilung der Einstellungen des Vorganges in Bearbeitungsrichtung,
z.B. eine Abstimmung am feuchten Ende.
Ein wesentlicher Vorteil vorliegender Erfindung besteht darin,daß
Eigenschaftswerte an unterschiedlichen Querrichtungsstellen zur Bestimmung der Bearbeitungsrichtungs- und Gesamtvarianzen verwendet
werden. Bei den bekannten Einrichtungen ist ganz generell angenommen werden, daß die Bearbeitungsrichtungsvarianz in Abhängigkeit
von der Querrichtungslage konstant ist. Es scheint, als ob diese Annahme fehlerhaft wäre und gemäß vorliegender Erfindung werden
die Berechnungen von Gesamt- und Langzeitbearbeitungsrichtungsvarianzen in Abhängigkeit von Messungen aus verschiedenen Zonen quer
zur Bahn abgeleitet.
Nachstehend wird die Erfindung in Verbindung mit der Zeichnung anhand
einer Einrichtung zur Messung des Grundgewichtes einer Papierbahn während der Herstellung beschrieben. Verfahren und Einrichtung
gemäß vorliegender Erfindung können Jedoch ohne weiteres auch bei anderen Materialien und zur Messung von anderen Eigenschaften als
dem Grundgewicht verwendet werden. Beispielsweise kann vorliegende Erfindung auch zur Messung des Grundgewichtes von stranggepreßten
Kunststoffilmen oder von gewalztem Stahl oder zur Bestimmung von Feuchtigkeitseigensehaften einer Papierbahn während der Herstellung
benutzt werden.
ORIGINAL INSPECTED
Pig. 1 zeigt ein Blockschaltbild eines Rechners gemäß vorliegender
Erfindung in Verbindung mit einer Einrichtung zur Messung der Grundgewichtseigenschaften einer Papierbahn während der
Herstellung,
Fig. 2 eine schematische Darstellung der Art und Weise, in der eine
Grundgewichtsanzeigevorrichtung der in Pig. I gezeigten Art zur wiederholten Abtastung einer Papierbahn verwendet wird,
Fig. 3 ein Blockdiagramm der Einrichtung nach Fig· I zur Berechnung
der Varianz für jede Zonenstellung quer zur abgetasteten Bahn,
Fig. 4 ein Blockdiagramm der Einrichtung nach Fig. 1 zur Berechnung
von Profilvarianzen und Langzeitvarianzen in Bearbeitungsrichtung, und
Fig. 5 ein Blockdiagramm einer abgeänderten Ausführungsform für
einen Teil des Rechners nach Fig. 1.
In Fig. 1 ist die Kernstrahlungsmeßvorrichtung 11 zur Messung des
Grundgewichtes der Papierbahn 12 am einen Ende des Armes 15 dargestellt. Der Arm 13 und die Meßvorrichtung 11 werden rechtwinkelig
zu den Kanten der Bahn 12 durch den Motor 14 umgesetzt bzw. verschoben. Die Bahn 12 wird in Richtung ihrer Längsachse bewegt, wie
durch den Pfeil 15 angedeutet ist, wobei die Lage der Meßvorrichtung
11 für eine Abtastung einen geometrischen Ort von Punkten gleich
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- Io -
der Hypotenose eines Dreieckes festlegt« das erste und zweite
Schenkel aufweist, die mit der Vorwärtsbewegung der Bahn 12 während
einer jeden Abtastung und der Breite der Bahn übereinstimmen.
Das elektrische Signal, das aus der Meßvorrichtung 11 erhalten
wird, und das das Grundgewicht der Bahn 12 für den durch die Meßvorrichtung überstrichenen Bereich anzeigt, ist mit der Meßschaltung
16 gekoppelt. Die Meßschaltung 16 ist von bekanntem Aufbau und erzeugt eine Oleichstrom-Ausgangsspannung proportional dem
Grundgewichtssignal, das aus der Meßvorrichtung 11 stammt.
Nach vorliegender Erfindung wird die Meßvorrichtung 11 rechtwinkelig
zu den Kanten der Bahn 12 mehrere Male abgetastet, wobei Signale erzeugt werden, die mit den Varianzkomponenten für die Kurzjrfzeitbearbeitungsrichtung,
die Langzeltbearbeltungsrichtung, die Gesamtbearbeitungsrichtung, das Profil, die Querrichtung und die Gesamtvarianz
Übereinstimmen. Die Signale, die die Varianzkomponenten anzeigen, werden mit Hilf· des digitalen Rechengerätes erzeugt,
das im übrigen Teil in: Fig. 1 und in den Figuren 3 und 4 gezeigt
ist.
Bevor die Recheneinrichtung gemäß vorliegender Erfindung betrachtet
2" wird, sei auf die schematiche Darstellung nach Fig. 2 bezug genom-
k> men, in der die Art und Weise angegeben ist, in welcher Daten aus
^ der Meßvorrichtung 11 für ein· Vielzahl von Abtastungen abgeleitet
^ werden. In Fig. 2 und im übrigen Teil der Beschreibung vorliegender
Erfindung ist davon auegegangen, daß die Bahn 12 in drei Querrichtungszon»n unterteilt ist und daß die Meßvorrichtung 11 quer zur
Bahn viermal abgetastet wird, damit die gewünschten Daten erhalten
werden. Bei einer Einrichtung der Praxis können die Anzahl von Prüfzonen quer zur Bahn 12 und die ^Anzahl von Abtastungen der Anzeigevorrichtung
11, die zur Bestimmung der interessierenden Daten erforderlich sind, wesentlich höher gewählt werden als in
dem Ausführungsbeispiel angegeben wird;-Die Anzahl von ftuerrichtungszonen
und Proben ist bei der Beschreibung klein gehalten worden,um den Aufwand an Elektronik gering zu halten und die Erfindung
besser verständlich zu machen.
Bei einem typischen Ausführungsbeispiel können einundzwanzig Abtastungen
der Anzeigevorrichtung11 quer zur Bahn 12 vorgenommen
werden, und während jeder Abtastung können Daten aus fünfzehn unterschiedlichen
Prüfzonen abgeleitet werden. Die tatsächliche Anzahl von Abtastungen und die Anzahl von Prüfzonen, die bei einer speziellen
Berechnung verwendet werden, hängt von den Parametern des Vorganges
und von der Meßvorrichtung wie auch Von dem Zweck, zu dem
die berechnete Varianzinformation dient, ab. Daböl itfüsseri die BahR-'"
breite, die Abtastgeschwindigkeit, die Ansprechzeit" "det* Mefivo¥i»ichtung,
die räumlichen Abmessungen des "Fensters", das die Größe 'des
Bahrteiles bestimmt, welcher von der Meßvorrichtung in einem bestimmten Augenblick beträchtet wird, und die Änderungsfrequenzen, dkie
bei den Varianzberechnungen aufgelöst werden müssen, in Rechnung gestellt werden.
Im dargestellten Teil nach Fig. 2 und in der folgenden Beschreibung
ist abgenöasaien, daß die Daten bei aufeinanderfolgenden Abtastungen
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ORIGINAL INSPECTEu
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entnommen werden, um die Varianziformation so rasch wie möglich zur
Verfügung zu stellen, beispielsweise, um den Bedienenden bei der Abstimmung am feuchten Ende einer Papierherstellmaschine zu leiten.
In diesem Falle können die Daten aus beispielsweise einundzwanzig Abtastungen angesammelt und die Varianzkomponenten in beispielsweise zwanzig oder dreißig Minuten berechnet werden. Es ist jedoch
nicht erforderlich, daß Daten bei jeder Abtastung oder bei aufeinanderfolgenden
Abtastungen entnommen werden. Bei einer langlaufenden Auswertung z.B. können die Daten bei beispielsweise einundzwanzig
Abtastungen entnommen werden, die willkürlich während einer Periode von mehreren Stunden oder sogar mehreren Tagen ausgewählt
werden. Die Werte für die entsprechenden, berechneten Varianzkomponenten,
die bei einer derartigen langdauernden Bewertung berechnet werden, werden im allgemeinen unterschiedlich vonden Werten sein,
die bei der kurzdauerndenBewertung erhalten werden.
In Fig. 2 ist Jede Abtastung der Meßvorrichtung 11 quer zur Bahn 12,
bei der Daten erzeugt werden, durch diagonale Linien 21 angedeutet.
Es ist eine Trennung zwischen dem Beginn und dem Ende benachbarter
diagonaler Linien vorgesehen, diese Trennung ergibt sich aufgruii<3t,
der endlichen Zeit, die zur Eückführung der Meßvorrichtung 11; ii^
den anfänglichen Anlaufpunkt notwendig ist. Wie es bei der Messung,
von Bahneigenschaften mit Abtastmeßvprrichtungen üblich ist, werden
die Meß vorrichtungen aus, der ließ vorrichtung 11 nur erzeugt,, wejnn
die Meß vorrichtung in einer Riejh^ung, über die Bahn 12 wandert* Jede
Abtastung der Heßvorrichtung.-3*1 ffu«r; .zur Bahn 12 ergibt, daß die'
1^' C»
ORIGINAL rNSPECTED
Meßschaltung ΐβ eine Profilanzeige des Grundgewichtes der Bereiche
erzeugt, die durch die diagonalen Linien 21 definiert werden. Aus diesen Profilmessungen, die die Eigenschaftsinformationen in Querrichtung
und in Bearbeitungsrichtung enthalten, können die oben erwähnten Varianzkomponenten berechnet werden.
Während Jeder Abtastung der Anzeigevorrichtung 11 quer zur Bahn 12
werden Grundgewichtsänderungen in Bearbeitungsrichtung angezeigt.
Die Änderungen in Bearbeitungsrichtung wflhrftnrt einer abtastung dar
Angeigevorrichtung während einer Abtastung der Anzeigevorrichtung
11 weisen eine verhältnismäßig hohe Frequenz, d.h. eine kurze Dauer auf, und ein Maß Iterfür kann als Kurzdauervarianz ν"χ/3Τ\ in Bearbeitungsrichtung
ausgedrückt werden. Durch Berechnung der Kurzzeitvarianzen in Bearbeitungsrichtung und der Profilvarianzen für
jede Abtastung kann eine exakte Anzeige der Querrichtungsvarianz
V für die Abtastung dadurch abgeleitet werden, daß die Profilvarianz
von der Kurzdauervarianz in Bearbeitungsrichtung subtrahiert wird. Die Berechnung der Kurzdauervarianz in Bearbeitungsrichtung für eine Abtastung kann nicht auf einfache Weise vorgenommen
werden. Die mittlere Kurzdauervarianz in Bearbeitungsrichtung über die verschiedenen Abtastungen kann dadurch erreicht werden,
daß die Gesamtvarianz in Bearbeitungsrichtung und die Langzeitvarianz
in Bearbeitungsrichtung berechnet werden und letztere von ersterer subtrahiert wird. Die mittlere Kurzzeitvarianz in Bearbeitungsrichtung
wird zur Berechnung der mittleren Varianz in Querrichtung über die verschiedenen Abtastungen verwendet.
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Um die Langzeitvarianz in Bearbeitungsrichtung zu berechnen, die sich aus vier Abtastungen der Anzeigevorrichtung 11 quer zur Bahn
12 ergibt, werden die Profilmessungen einer jeden der vier Abtastungen gemittelt und die Varianz dieser vier Mittelungen wird
berechnet. Die Gesamtvarianz in Bearbeitungsriehtung wird dadurch erhalten, daß die Varianz in jeder der drei Zonen für die vier
Abtastungen berechnet wird und daß dann diese drei Varianzen gemittelt werden. Mit anderen Worten wird die Gesamtvarianz dadurch
ermittelt, daß die Varianz in Zone 1 für die vier Abtastungen, die Varianz in Zone 2 für die vier Abtastungen und die Varianz
in Zone 3 für die vier Abtastungen berechnet wird. Die drei Varianzfaktoren werden miteinander gemittelt, so daß eine Anzeige
der Gesamtvarianz in Bearbeitungsriehtung erhalten wird.
Eine Berechnung der Varianz in Querrichtung und der Gesamtvarianz in Bearbeitungsriehtung ermöglicht, daß die Gesamtvarianz der
Bahn, die durch die vier Abtastungen der Anzeigevorrichtung 11 bedeckt
wird, aus V+. » V„ + Vv/^\ abgeleitet wird. Andererseits kann
die Gesamtvarianz dadurch berechnet werden, daß die Frofilvarianz mit der Langzeitvarianz in Bearbeitungsriehtung addiert wird, da
die Frofilvarianz gleich ist der Querrichtungsvarianz plus der Kurzzeitvarianz in Bearbeitungsriehtung, und die gesamte Varianz
in Bearbeitungsriehtung wiederum gleich ist der Summe aus Kurzzeitvarianz
in Bearbeitungsrichtung und Langzeitvarianz in Bearbeitungsriehtung.
909825/113*
Wegen der Speicherprobleme, die bei der Berechnung der verschiedener
Varianzkomponenten auftreten, wird vorzugsweise ein Digitalrechner verwendet. Hierbei wird der Ausgang der Meßschaltung l6 abgetastet,
während die Meßvorrichtung 11 über die Mitte einer jeden der drei
Zonen quer zur Breite der Papierbahn 12 wandert. Diese Abtastung (bzw. Probennahme) wird dadurch erreicht, daß die Abgabewelle des
Motors 14 zur Einstellung mit dem Impulse erzeugenden Wandler 22 gekoppelt.wird, der einen Ausgangsimpuls erzeugt, während die Meßvorrichtung
11 in der Mitte einer jeden der drei Zonen steht.. Der Impuls aus dem Wandler 22 wird dem Probengatter 2J au/ifgtgeben,
das den Ausgang der Meßschaltung 16 mit dem Eingang eines Analog-Digital -Umwandlers 24 koppelt.
Viele der Digitalrechnerkomponenten, die in der Einrichtung gemäß vorliegender Erfindung verwendet werden, z.B. der Umwandler 24,
erzeugen parallele Mehrfachbitwörter, die eine Sammelleitung erforderlich machen, welche eine Vielzahl von Zuleitungen aufweist.
Um Zeichnung und Beschreibung zu vereinfachen, ist jede Sammelleitung, die ein paralleles Mehrfachbitwort führt,. als einzelne Zuleitung
gezeichnet. ,·,,,- ,^ ,
L-Umwandler 24 spricht auf die als Probe
<£>■ laene Gleichspannung an, die zur Erzeugung eines Mehrfachbitwortes
fsj sjAgsführt wird und mit de» örundgewichtssignal über einst lernt, das
2^ aus der Hegsehaltung 16 entsteht· Der Ausgang des Analog-Bigifc&l-
^ Uawandlerß 24 wird dem Speicher 25 aufgegeben, dessen Anzahl von
Z*ll#n gleich deo Produkt der Anzahl von Probenzonen quer zur Bahn
12 w& am· ÄS3!«W. τα» Mskmatemgm dtr JUsstigwojcriektung U ist,
die zur Ableitung von zweckmäßigen Varianzdaten erforderlich sind.
In vorlegendem Beispiel weist der Speicher 25 eine Anzahl von 3 χ 4 » 12 Zellen auf, deren jede eine Kapazität zur Speicherung
eines Mehrfachbitwortes besitzt, das von dem Analog-Digital-Umwandler
24 erzeugt wird.
Während die Meßvorrichtung 11 Grundgewichtssignale erzeugt, wenn
sie quer zur Bahn 12 abtastet, wird der Speicher 25 in einen Einschreibzustand
geschaltet. Bei Beendigung der vier Abtastungen der Meßvorrichtung 11 quer zur Bahn 12 werden alle im Speicher 25 gespeicherten
Daten in den übrigen Teil des Rechners nach Fig. 1 eingelesen, so daß Anzeigen der gewünschten Varianzkomponenten entstehen.
Um Information in den Speicher 25 einzuschreiben, ist Ausgang des
Stellung S-/. Impulswandler^ 22 als Fortschaltspalteneingang in den
Speicher gekoppelt. Wenn die Meßvorrichtung 11 jede Zone der Bahn kreuzt, werden damit Daten in eine unterschiedliche Spalte des Speichers
25 eingelesen. Die Steuerung der vier Reihen des Speichers 25, die mit Daten gespeist werden, erfolgt in Abhängigkeit von einem
Ausgang, der aus dem Mikrosehalter 26 stammt und der an der Kante
der Bahn 12 entfernt von dem anfänglichen Abtastpunkt der Meßvorrich- m tung 11 angeordnet ist. Wenn die Meßvorrichtung 11 eine Abtastung
cd quer zur Bahn 12 abschließt, erzeugt der Mikroschalter 26 ein binä-·
res "Eins"-Signal, das mit einem Fortschaltreiheneingang des
Speichers 25 gekoppelt ist. Der Speicher 25 weist eine Schaltung
zum Rücksetzen der Spalteneinlesestellung·, aus., der dritten in die
erste Spalte in Abhängigkeit von jedem binären "Eins"-Eingangssignal
auf, das dem Fortschaltreiheneingang zugeführt wird. Bei Beendigung einer jeden Abtastung der Meßvorrichtuhg 11 quer fcur Bahn 12 wirä
AdOO - * '
die Reihe des Speichers 25, in welche Daten eingeschrieben werden,
fortgeschaltet und die Speicherzelle, die auf Eingangsdaten anspricht, stimmt stets mit der Stellung der Meßvorrichtung IL in
und
Bearbeitungsrichtung/in Querrichtung der Bahn 12 überein.
Bearbeitungsrichtung/in Querrichtung der Bahn 12 überein.
Nachdem Daten in die Zelle des Speichers 25 entsprechend der dritten
Spalte und vierten Reihe eingeschrieben worden sind, wird der Rech-' ner zur Bestimmung der Varianzkomponenten angeschaltet. Hierbei
wird die Abfühl-Einleseschaltung 26 mit der Zelle der dritten Spalte und vierten Reihe verbunden, damit ein Ausgangssignal in Abhängigkeit
von Daten erzeugt wird, die in die Speicherstellung eingelesen werden. Die Abfühl-Einleseschaltung ■ 26 erzeugt einen Ausgangsimpuls,
der das Steuergerät 27 zur Einleitung der Berechnung
anschaltet. Es ist eine genügend große Verzögerung im Steuergerät 27 nach Aufnahme eines Impulses aus der Abfühl-Einleseschaltung
vorgesehen, wobei die Arbeitsweise des Steuergerätes nicht eingeleitet wird, bis das gesamte Wort in die Speicherzelle eingelesen
wird, die der dritten Spalte und der vierten Reihe entsprüit.
Das Steuergerät 27 weist drei primäre Ausgangsklemmen 28, 29 und ^O
auf, die so geschaltet sind, daß sie das Auslesen des Speichers 25, den Varianzrechner 31 und den Varianzrechner 52 steuern. Das Steuergerät
27 weist eine Innentaktgeberimpulsquelle und ein Verschieberegister auf, das auf die Taktquelle anspricht, damit nacheinander
Steuersignale erzeugt werden, um den Inhalt des Speichers 25 in die Rechner 21 und 32 einzulesen. Der erste Einlesevorgang ergibt ein
paralleles, nicht destruktives Auslesen der vier Grundgewichts-
9 0 9 8 25/1 134
COPY
profilsignale, die in Jeder der Spalten gespeichert sind, in den
Varianzrechner Jl. Der Inhalt einer jeden Spalte wird nacheinander
in den Rechner 31 eingelesen, derart, daß der Rechner über drei
Zyklen, und zwar jeweils eine für jede Speicherspalte erregt wird. Hierbei gibt das Steuergerät 27 ein Signal an eine Ausleseeingangsklemme
des Speichers 25, wobei die vier Signale, die in der ersten Spalte des Speichers gespeichert sind, gleichzeitig in den Varianzrechner
yi gelesen werden. Der Varianzrechner 31 spricht auf die
vier Signale an, die gleichzeitig aufgegeben werden, damit ein digitales Mehrfachbitwort entsteht, das in den Akkumulator 33 eingespeist
wird. Nachdem der Inhalt der ersten Spalte des Speichers in den Rechner 31 eingelesen worden ist, wird das Steuergerät 27
so beaufschlagt, daß es die vier Wörter in der zweiten Spalte in den Rechner 31 einliest. Der Rechner spricht auf diese vier Wörter
in der Weise an, daß er ein zweites Mehrfachbitwort erzeugt, das die Varianz der vier eingespeisten Wörter anzeigt. Der zweite
Ausgang des Rechners 31 wird dem im Akkumulator 33 gespeicherten Wort hinzuaddiert, das sich aus der ersten Varianzberechnung durch
den Rechner 31 ergibt. Nachdem die Zellen der zweiten Spalte des Speichers 25 ausgelesen worden sind, werden die Zellen der dritten
Spalte dem Varianzrechner 31 zugeführt, der ein drittes Varianzsignal
erzeugt. Das dritte Varianzsignal wird den ersten beiden Varianzsignalen im Akkumulator 33 hinzuaddiert.
Nachdem die drei Spalten des Speichers 25 nacheinander in den Rechner.
31 eingelesen worden sind und die drei nacheinander erzeugten
Mehrfachbitsignale, die von dem Rechner erzeugt werden, in den
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Akkumulator 33 eingespeist sind, wird der Mittelwert der Varianz
für jede Zonenlage quer zur Bahn 12 dadurch gebildet, daß der Auegang des Akkumulators 33 in die Teilermatrix 35 in Abhängigkeit
von einer Abgabe aus dem Steuergerät 27 eingeführt wird. Die durch drei teilende Matrix ist so verdrahtet, daß sie ein aus mehreren
Bit bestehendes digitales Signal erzeugt, das mit der mittleren
wird
Register 36 zugeführt/. Das Register 36 speichert dabei ein binäres
Mehrfachbitwort, das die Gesamtvarianz der Bahn 12 in Bearbeitungerichtung für die vier Abtastungen der Meßvorrichtung 11 quer zur
Bahn anzeigt; diese Varianz ist V /T\ bezeichnet.
Nachdem die Daten in den drei Spalten des Speichers 25 ausgelesen
worden sind, wird das Steuergerät 27 fortgeschaltet, wodurch der Speicherinhalt jeweils in den Varianzrechner 32 ausgelesen wird.
Der Varianzrechner 32 weist drei Eingänge auf, von denen einer auf jede der drei Spalten des Speichers 25 und auf die vier Reihen
des Speichers nacheinander anspricht. Um die Profilvarianz und die Langzeitvarianz in Bearbeitungsrichtung zu berechnen, werden Signale dem Rechner 32 aus dem Speicher 25 zweimal aufgegeben, und
zwar jeweils einmal für jede der Berechnungen.
co Entsprechend der ersten Kopplung von Daten aus dem Speicher 25 mit
dem Rechner 32 wird der Mittelwert der Profilvarianz T^ über die
vier Abtastungen berechnet. Der Mittelwert der Profilvarianz für
;· ■ ■. · ■ ■ . . . . .
die vier Abtastungen wird durch Berechnung einer Jeden Profil
varianz, Sunwierung der vier ProfilvarlanEen und Teilung dee Irgebnlsse· durch vltr gebildet. Das Mitt#lw»rtprofilvarian*iignal
wird, dem Register 37 in Abhängigkeit von einem Ausgang des Steuer-.
gerätes 27 zugeführt, wobei das Register eine Anzeige der Profilvarianz
ergibt und speichert.
Nachdem die Berechnung der Profilvarianz durchgeführt worden ist,
werden drei Wörter nebeneinander aus dem Speicher 25 in den Rech-'
ner 32 in vier aufeinanderfolgenden Arbeitsvorgängen entsprechend
den Signalen aus -dem Steuergerät 27 eingel^@ssa*-""Der^.'echner 32 '
spricht auf diese zwölf Wörter an und berechnet die hmgzei&smrimsz
in Bearbeitungsrichtung entsprechend der Gleichung (5)·- In Abhängigkeit
von einem aus dem Steuergerät 27 stammenden Signal ist di®
Anzeige für die Langzeitvarianz in Bearbeitungsrichtung von dem Rechner 32 zum Register 38 gekoppelt, wo sie gespeichert wird.
Bei den Registern 36, 37 und 38, die Signale speichern, welche
die Varianzkomponenten der Gesamtbearbeitungsrichtung, des mittleren
Profiles und der Langzeitbearbeitungsrichtung anzeigen, werden
die Werte der Gesamtvarianz, der Kurzzeitvarianz in Bearbeitungsrichtung und der Varianz in Querrichtung nach den Gleichungen "(3)»
(6) und (7) berechnet. Hierzu werden die Profilvarianz-und die
Langzeitvarianzsignale in Bearbeitungsrichtung, die in den Registern
37 und 38 gespeichert sind, 1-n der Addiermatrix 41 kombiniert,
deren Ausgang die gesamte Varianz anzeig^dnd in das Register 42
££ eingespeist wird. Die Kurzzeitvarianz in Bearbeitungsrichtung
cn wird dadurch berechnet, daß der Inhalt des Registers 3° als MInU-
-» endeingang in die Subtraktionsmatrix 43 eingespeist wird, deren
^ Subtrahendeingang mit dem Ausgang des Registers 38 verbunden ist.
Da» Differenzsignal aus der Matrix 4>, das die Kurzzeitvarianz
8AD ORIGINAL
in Bearbeitungsrichtung angibt, wird in Form von Subtrahend-und.
Minuendeingängen in die Subtraktionsmatrix 45 eingespeist, deren Ausgang ein Addendeingang in die Addiermatrix 46 ist. Der Augendeingang in die Matrix 46 ist so geschaltet, daß er auf den Ausgang
des Registers 38 anspricht, wobei die Addiermatrix 46 ein binäres
Wort erzeugt, das mit der Querrichtungsvarianz der Bahn 12 übereinstimmt, wenn sie über die .vier Abtastungen der Anzeigevorrichtung
11 gemittelt wird. Bas~Blia&3corJb -djas von der Addiermatrix 46 er-
mit
zeugt wird, ist/dem Register 47 gekoppelt. Die Register 356, 37, 38,
42, 44 und 47 speichern und ergeben Anzeigen der Varianzkomponenten
für die Gesamtbearbeitungsrichtung, das mittlere Profil über die
vier Abtastungen der Meßvorrichtung, die Langzeitbearbeitungsrichtung über die vier Abtastungen, die Gesamtvarianz für die vier
Abtastungen der Meßvorrichtung 11, die mittlere Kurzzeitvarianz in Bearbeitungsrichtung für die vier Abtastungen und die mittlere
Querrichtungsvarianz für die vier Abtastungen.
Es wird nunmehr auf Flg. 3 der Zeichnung bezug genommen, in der ein
Blockdiagramm des Spaltenvarianzrechners 3I nach Fig« I dargestellt
ist. Der Rechner nach Fig. 3 spricht auf die vier gleichzeitigen Ausgänge des Speichers 25 an, wie sie aus den Spaltenstellungen
abgeleitet werden. Entsprechend jedem der vier gleichzeitigen Eingänge berechnet der Rechner nach Fig. 3 zuerst die mittleren Werte,
subtrahiert jeden einzelnen Eingangswert von dem berechneten
mittleren Wert, quadriert den resultierendjien subtrahierten Wert
und die summiert die Quadratwerte. Die Summe der Quadrate wird
durch vier dividiert, um ein Maß für die Varianz zu erhalten.
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8AO ORIGINAL
Die vier gleichzeitigen Eingänge in den lechner 31 werden der Addiermatrix 52 über einen vierpoligen elektronischen Wechselschalter
51 aufgegeben, der in die angegebene Stellung in Abhängigkeit von einem Signal aus dem Steuergerät 27 geschaltet wird. Die Addiermatrix
52 kombiniert die vier Eingänge und erzeugt dadurch ein
einziges, binäres Mehrfachbit-Ausgangswort, dessen Wert in der Divisionsmatrix 53 durch vier geteilt wird. Während der mittlere
Wert der vier Eingänge in den Rechner J>1 berechnet wird, 1st der
Ausgang der .Matrix 53 über einen elektronischen, einpoligen Weohselschalter
54 gekoppelt, der von der Ausgangsspannung an der Klemme 29 des Steuergerätes 27 gesteuert wird. Die Signale, die über
den Schalter 54 gekoppelt werden, werden parallel den Subtrahenddngangsklemmen
der Subtraktionsmatrizen 55-58 zugeführt· Die Minuendeingänge der Matrizen 55-58 sprechen auf die Wörter an, die aus
den vier Reihen des Speichers 25 für die auszulesende Spalte des Speichers ausgelesen werden. Dadurch erzeugt jede Matrix 55-58 ein
digitales Mehrfachbitwort, das mit. der Abweichung von dem mittleren Grundgewichtssignal für eine bestimmte Zone tber die vier Abtastungen
der Meßvorrichtung 11 quer zur Bahn 12 übereinstimmt. Die
vier Signale aus den Matrizen 55-58 werden entsprechend den Quadriermatrizen 61-64 aufgegeben, deren jede einen Zwischenspeicher
in seinem Ausgang besitzt· Die unterschiedlichen Signale, die in
**> den Zwischenspeichern der Matrizen 61-64 gespeichert sind, bleiben
J£ in den Speichern, bis das Steuergerät 27 in der Weise beaufschlagt
cn wird, daß der Schalter 54 eingeschaltet wird, so daß der Inhalt
-> der Teilermatrix 53 von den Minuendeingängen der Subtraktionsmatri-JJ
zen 55-58 abgekoppelt wird. Wenn da» Steuergerät 27 in der angegebenen
Weise beaufschlagt wird, läßt es den Schalter 51 ansprechen,
wobei .der Inhalt der Zwischenspeicher, die in die Matrizen 61-64
eingeschlossen sind, über den Schalter mit der Addiereinrichtung 52 mit Ausnahme der Signale aus dem Speicher 25 gekoppelt werden.
Die Addier- und Dividiermatrizen 52 und 53 sprechen nunmehr auf
die vier Abweichungssignale an, die aus den Zwischenspeichern aufgegeben werden,welche innerhalb der Quadriermatrizen 61-64 eingeschlossen
sind, wobei ein Binärsignal aus dem normalerweise offenen Kontakt des Schalters 54 erzeugt wird, das mit der Varianz der
vier Werte für die aus dem Speicher 25 abgelesene Zone Übereinstimmt.
Das Signal, das die Varianz anzeigt, ist mit dem Akkumulator 33 in der oben angegebenen Weise gekoppelt.
Nach Beendigung einer jeden Varianzberechnung durch den Rechner Jl
in Abhängigkeit von Signalen aus dem Steuergerät 27 speist das
Steuergerät ein Signal in den Speicher 25 ein, wobei die aus dem Speicher ausgelesene Spalte weitergeschaltet wird, ^m eine Spalte
des Speichers 25 weiter zu schalten, wird das Steuergerät 27 in
den anfänglichen Zustand zurückgeführt, die Schalter 5I und 54
werden beaufschlagt, so daß der Inhalt einer zweiten Spalte des
Speichers 25 der Addiermatrix 52 aufgegeben wird, und der Ausgang
der Divisionsmatrix 53 wird mit den Subtraktionsmatrizen 55-58
gekoppelt. Somit erzeugt der Rechner 31 nacheinander drei binäre
Mehrfachbitwörter, deren jedes die Varianz in jeder der drei Zonen
quer zur Breite der Bahn 12 anzeigt.
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BAO OAIGJNM.
Es wird·nunmehr auf Pig. 4 der Zeichnung bezug genommen, in der ;
die Einrichtung angegeben ist, die zur Berechnung der mittleren Profilvarianz über die vier Abtastungen der Meßvorrichtung 11 und
■der Langzeitvarianz in Bearbeitungsrichtung verwendet wird. Der
Rechner nach Fig. 4 spricht auf den Ausgang des Steuergerätes 27 an, um die mittlere Profilvarianz für jede der vier Abtastungen
abzuleiten, und berechnet die Langzeitvarianz in Bearbeitungsrichtung,
nachdem die Profilvarianz-berechnung abgeschlossen worden ist.
Der. Rechner nach Fig. 4 ergibt Profilvarianzanzeigen für jede der
Abtastungen in einer Art und Weise ähnlich der Berechnung der Varianz durch den Rechner Jl. Insbesondere werden die drei parallelen
Mehrfachbitwörter, die aus jeder Reihe des Speichers 25 stammen, in Abhängigkeit von Auslesesteuersignalen aus dem Steuergerät
27 über den dreipoligen Wechselschalter 71 in die Addiermatrix
72 gegeben. Der Schalter 71 weist zwei geschlossene Zustände
auf, deren erster durch das Steuergerät 27 zu Beginn der Profilvarianzberechnung
erregt wird. Die Summe der Probenwerte für die drei Zonen für jede Abtastung der Meßvorrichtung 11 quer zur Bahn
12 wird aus der Addiermatrix/72 erhalten und der durch drei teilenden
Matrix 75 aufgegeben, deren Ausgangssignal das mittlere Pro-
Q■ filbasisgewicht für die zu betrachtende Abtastung anzeigt. Das
O0 Signal für das mittlere Profilgrundgewicht, das aus der Matrix
cn stammt, wird parallel einem elektronischen, einpoligen Wechsel- ^ Schalter 74 und einem elektronischen Multip/lexsohalter 175 zuge-
^ führt. Der Multiplexschalter 175 spricht auf Signale aus dem Steuergerät 27 an, wobei jedes Mittelwertprofilsignal einem
anderen Ausgang des Schalters aufgegeben wird, wenn die Anzahl
von Ausgängen gleich der Anzahl von Abtastungen der Meßvorrichtung
11 quer zur Bahn 12 ist. Damit werden vier Signale nacheinander
aus dem Schalter 125 erzeugt, und zwar jeweils eines für jedes der
Mittelprofilgrundgewichtssignale für die vier Abtastungen der Meß-_
vorrichtung 11. Die vier Ausgangssignale^es Schalters 175 werden
dem Zwischenspeicher ΐγβ aufgegeben, der vier Zellen besitzt, von
denen eine auf jeden der vier Ausgänge des Schalters anspricht. Damit speichert.der Speicher Signale, die später zur Berechnung
der Langzeitvaiianz in Bearbeitungsrichtung verwendet werden können.
Um den Wert der Profilvarianz zu berechnen, werden die Mittelprofilgrundgewichtsausgangasignale
der Matrix 73 über die normalerweise
geschlossenen Kontakte des Schalters fk den Subtrahendeingängen
der Subtraktionsmatrizen 75-77 aufgegeben. Die Subtraktionsmatrizen 75-77 weisen Minuendeingänge auf, die auf die drei Zonengrundgewichtssignale
ansprechen, welche von der auszulesenden Reihe des Speichers 25 ausgelesen werden, wobei jede der Subtraktionsmatrizen ein binäres Mehrfachbitsignal erzeugt, das die Abweichung
im Grundgewicht von dem mittleren Basisgewicht für eine bestimmte
Abtastung der Meßvorrichtung 11 quer zur Bahn 12 anzeigt. Die Abweichungs-
oder Differenzsignale, die aus den Subtraktionsmatrizen
en ·
75-77 stammen, werden entsprechend/Quadriermatrizen 78-8Ο aufgegeben,
die in ihrem Ausgang Zwischenspeicher besitzen, welche in Abhängigkeit von Signalen aus dem Steuergerät 27 ausgelesen werden.
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Die in den Zwischenspeichern der Quadriermatrizen 78-8O gespeicherten
Signale werden zur gleichen Zeit ausgelesen wie der Schalter 71 so beaufschlagt wird, daß er den Ausgang des Speichers 25 von
der Addiermatrix 72 abkoppelt. Wenn das Steuergerät 27 den Schalter
71 in der Weise beaufschlagt, daß der Ausgang des Speichers
25 von der Addiermatrix 72 abgekoppelt wird, wird der Inhalt der Zwischenspeicher, die in die Quadriermatrizen j8'~QO eingeschlossen
sind, über den Schalter mit der Addiermatrix gekoppelt. Gleichzeitig
wird der einpolige W.echselschalter 71^ in Abhängigkeit von
dem Ausgang, des Steuergerätes 27 erregt und die Divisionseinrichtung
75 speist ein binäres Mehrfachbitwort in den normalerweise
offenen Kontakt des Schalters ein, das mit der Profilvarianz für die aus dem Speicher 25 abzulesende Abtastung übereinstimmt.
Die Profilvarianzsignale, die mit dem normalerweise offenen Kontakt
des Schalters 7^ gekoppelt sind, werden über den elektronischen
Multiplexschalter 82 eingeführt, der vier Ausgangsleitungen aufweist, und zwar eine für jede der vier Zellen innerhalb des
Speichers 83. Der Schalter 82 spricht auf Signale aus dem Steuergerät
27 an, wobei jedes der vier Profilvarianzsignale aus dem Schalter 7^ mit einer anderen der vier fällen innerhalb des Spei
chersQj gekoppelt ist. Nachdem alle vier Reihen des Speichers 25
in den Rechner 32 eingelesen worden sind, speichern die vier
Zellen des Speichers 85 Binärsignale, die mit den Profilvarianzen
der vier Abtastungen der Meßvorrichtung 11 quer zur Bahn Übereinstimmen.
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Copy
- 27 - ■ ·
- Die Einrichtung "berechnet nunmehr den mittleren Wert - für die-vier
Profilvarianzen,_ indem die Ausgänge des Speichers/gleichzeitig
über den Schalter 84 mit der Mittelungseinrichtung nach Fig. 3
gekoppelt werden. Der Schalter 84 wird in Abhängigkeit von einem
Ausgangssignal aus~ dem Steuergerät 27 gesteuert, wobei die Signale
in den vier Zellen des Speichers 8> über Schalter 84 und 51
(Fig. J>) mit der Addiereinrichtung 52 gekoppelt sind. Das Steuergerät 27 beaufschlag; nun die Schalter nach der Fig. 3, wobei das
Mittelwertsignal aus der Divisionseinrichtung 53 mit dem normalerweise
offenen Kontäfc des Schalters 5^ gekoppelt ist, dessen Ausgang
nunmehr über einen nicht dargestellten Schalter mit dem Register
27 verbunden ist. .
Nachdem die Berechnung für die Mittelwertprofilvarianz über die
vier Abtastungen abgeschlossen ist, wird das Steuergerät 27 angeschaltet, wobei der Rechner 32 und der Speicher 25 rückgesetzt
werden, um die Langzeitvarianz in Bearbeitungsrichtung zu berechnen.
Diese Langzeitvarianz in Bearbeitungsrichtung wird dadurch berechnet, daß die vier Mittelwertgrundgewichtssignale, die im
Speicher 76 gespeichert sind, über den Schalter 84 in den Varianzrechner
nach Fig. J5 in Abhängigkeit von Signalen aus dem Steuergerät
27 eingespeist werden. Der Varianzrechner nach Flg. j5
^3 spricht auf die vier Mittelwertprofilgrundgewichtssignale, die
co im Speicher 76 gespeichert sind, an, um die Varianz in genau der
gleichen Weise wie oben in Verbindung mit der Berechnung der Gesamtvarianz
in Bearbeitungsrichtung zu berechnen. Das Signal für die Langzeitvarianz in Bearbeitungsrichtung, das aus der Fig. j5 abge-
leitet wird,/Über einen nicht dargestellten Schalter in Abhängig- ,
keit von einem Signal aus dem Steuergerät 27 mit dem Register 38
gekoppelt.
Der Rechner nach Fig. 2 kann in Fig. 4 auf einer Zeitmultiplexbasis
verwendet werden , oder die Einrichtung nach Fig. 5 kann im Rechner nach Fig. 4 verdoppelt werden.
Eine andere Ausführungsform zur Berechnung der Gesamtvarianz anstelle
des in Fig. 1 dargestellten Systems ist in Fig. 5 gezeigt. Bei der Ausführungsform nach Fig. 5 wird Jede der Varianzkomppnenten
mit Ausnahme der Gesamtvarianz wie in Verbindung mit Fig. 1 beschrieben berechnet, so daß es nicht erforderlich ist, die Beschreibung
zu wiederholen. Die Gesamtvarianz wird bei der Ausführungsform nach Fig. 5 dadurch berechnet, daß.die Gesamtvarianz in
Bearbeitungsrichtung, wie sie im Register $6 gespeichert ist, mit
dem Querrichtungsvarianzsignal im Register 47 addiert wird. Der
Inhalt der Register 56 und 47 wird in der Addiermatrix 91 addiert,
deren Mehrfachbitausgang dem Gesamtvarianzregister 92 zugeführt wird. Somit ergibt die Anordnung nach Fig. 5 das gleiche Resultat,
wie es mit der Addiereinrichtung 41 und dem Register 42 nach Fig. erhalten wird.
909825/1 1 3 Λ
Claims (1)
- ■ Patentansprüche;1. Verfahren zur Bestimmung einer .Querbearbeitungsfunktion einer Eigenschaft einer sich in Bearbeitungsrichtung bewegenden Bahn, dadurch gekennzeichnet, daß ein einziger Detektor für die Eigenschaft . rechtwinkelig zu den Kanten der sich bewegenden Bahn abgetastet wird, daß aus dem abgetasteten Detektor eine Größe erzeugt wird, die die Punktionen der Eigenschaft in Querbearbeitungsrichtung und in Bearbeitungsrichtung anzeigt, und daß die Punktion in Bearbeitungsrichtung aus der Größe eliminiert wird, damit eine Anzeige nur der Punktion in Querbearbeitungsrichtung erhalten wird.Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Punktion die Varianz ist.Verfahren nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß der Detektor rechtwinkelig zu den Bahnkanten mehrere Male abgetastet wird und daß die Eigenschaftsvarianzen, die aus jeder Abtastung der Anzeigevorrichtung entstehen, kombiniert werden, damit eine Anzeige der Gesamtvarianz über den abgetasteten Bahnbereich erhalten wird.Verfahren nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Varianz in Bearbeitungsriätung dadurch erhalten wird, daß eine Anzeige abgeleitet wird, die mit dem Wert der Eigenschaft an einer Vielzahl von Zonen quer zur Bahn in Abhängigkeit von jeder Abtastung übereinstimmt, und daß die Anzeigen, de sich aus den Signalen ergeben, kombiniert werden, damit eine Messung der Gesamtvarianz der Eigenschaft in Bearbeitungsrichtung erhalten wird.- —:: · COPYINSPECTED- 50 -5. Verfahren nach Anspruch k, dadurch gekennzeichnet, daß die Anzeigen, die sich aus den Signalen ergeben, dadurch kombiniert werden, daß die Varianz in Jeder Zone über die Vielzahl von Abtastungen berechnet wird, und daß die Zonen-varianz gemittelt wird.S. Verfahren nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß die Varianz in Bearbeitungsrichtung weiter dadurch erhalten wird, daß der Wert der Eigenschaft für jede Abtastung gemittelt wird, und daß die Varianz der Mittelwerte berechnet wird, damit eine Anzeige der Langzeitvarianz in Bearbeitungsrichtung über die Vielzahl von Abtastungen erhalten wird.'. Verfahren nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß die mittlere Varianz in Bearbeitungsrichtung für eine Abtastung dadurch berechnet wird, daß die Langzeitvarianz in Bearbeitungsrichtung von der Oesamtvarianz in Bearbeitungsrichtung subtrahiert wird.3. Verfahren nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Varianz in Bearbeitungsrichtung dadurch abgeleitet wird, daß der Wert der Eigenschaft für jede Abtastung gemittelt wird, und daß die Varianz der Mittelwerte berechnet wird, damit eine Anzeige der Langzeitvarianz in Bearbeitungsrichtung über die Vielzahl von Abtastungen erhalten wird.3. Verfahren zur Bestimmung der Gesamtvarianz einer Eigenschaft einer sich in Bearbeitungsrichtung bewegenden Bahn, dadurch gekennzeichnet, daß der Wert der Eigenschaft an einer Vielzahl von Zonen quer909825/1134
< COPYORIGINAL. INSPECTED ^ .zur Bahn an jeder von einer; Vielzahl von nicht zusammenhängenden Stellen längs der Bahn gemessen wird, daß aus den gemessenen Werten Funktionen der Varianzen für die Eigenschaft in Querbearbeitungi richtung und in Bearbeitungsrichtung abgeleitet -werden, und daß die Funktionen kombiniert werden, um ein Maß für die Gesamtvarianz der Bahn für die Eigenschaft über den angezeigten Bahnbereich zu erhalten. ■ ·10. Verfahren nach Anspruch 9, dadurch gekeiizeichnet, daß die Eigenschaft durch Abtastung eines einzigen Detektors über die Zonen rechwinkelig zu den Kanten der Bahn angezeigt wird, und zwar so oft, wi der Anzahl von Stellen entspricht.11. Verfahren nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, daß eine der Funktionen die Gesamtvarianz in Bearbeitungsrichtung ist, die dadurch erhalten wird, daß die Eigenschaftsvarianz in Jeder Zone über die Vielzahl von Stellen abgetastet wird, und daß die Zonenvariarizen gemittelt werden.12. Verfahren nach Anspruch 9» dadurch gekennzeichiö:, daß eine der Funktionen die Langzeitvarianz in Bearbeitungsrichtung über die Vielzahl von Stellen ist, die dadurch erhalten wird, daß der Mittelwert der Eigenschaft an Jeder der Stellen errechnet und die° Varianz der Mittelwerte für alle-diese Stellen berechnet wird, toOO . , .^ 13. Verfahren zur Bestimmung der Varianz einer Eigenschaft einer sich -1 in.Bearbeitungsrichtung bewegenden Bahn, dadurch gekennzeichnet, dai ein Detektor für' die Eigenschaft quer zur Bahn mehrere Malerechtwinkelig zu den Kanten der Bahn*abgetastet wird, daß ein Signal abgeleitet wird, das mit einer Punktion des Wertes der Eigenschaft für jede Abtastung des Detektors quer zur Bahn übereinstimmt } und daß 'die Signale kombiniert werden, die sich aus jeder Abtastung; ergeben, so daß eine Anzeige der Langzeitvarianz der Eigenschaft in Bearbeitungsrichtung erhalten wird.14. Verfahren nach Anspruch 13, dadurch gekennzeichnet, daß eine Anzeige der Varianz der Eigenschaft in Bewegungsrichtung des Detektors quer zur Bahn in Abhängigkeit von den Signalen .abgeleitet wird.15. Verfahren nach Anspruch 14, dadurch gekennzeichnet, daß die Anzeigen der Langzeitvarianz und der Varianz in Richtung der Detektorverschiebung zur Ableitung einer Anzeige der Gesamtvarianz über die Bahnfläche im gesamten von dem Detektor abgetasteten Bereich kombiniert wird. '■■;■16. Verfahren nach Anspruch 15> dadurch gekennzeichnet, daß die Anzeigen der Langzeitvarianz in Bearbeitungsrichtung und der Gesamtvarianz kombiniert werden, damit eine Anzeige der Kurzzeitvarianz in Bearbeitungsrichtung erhalten wird.17. Verfahren nach Anspruch 15, dadurch gekennzeichnet, daß die Anzei- : ; gen der Varianz in Bewegungsrichtung des Detektors über die Bahn mit der Gesamtvarianz und der Langzeitvarianz in Bearbeitungsrichtung kombiniert werden, um eine Anzeige der Querbearbeitungsrichtungsvarianz zu erhalten. 909825/1134COPYVerfahren nach Anspruch 13, dadurch gekennzeichnet, daß die Anzeige der Langzeitvarianz in Bearbeitungsrichtung durch Berechnung der Varianz des mittleren Eigenschaftswertes, der sich aus jeder Abtastung ergibt, abgeleitet wird.Verfahren zur Bestimmung der Varianz einer Eigenschaft einer sich in Bearbeitungsrichtung bewegenden Bahn, dadurch gekennzeichnet, daß eine Punktion der Eigenschaft an einer Vielzahl von Zonen quer zur Bahn an jeder von verschiedenen versetzten Stellen längs der Bahn angezeigt wird, und daß aus den Punktionen eine Anzeige der Gesamtvarianz der Eigenschaft in Bearbeitungsrichtung abgeleitet wird.Verfahren nach Anspruch 19* dadurch gekennzeichnet, daß aus den Punktionen eine Anzeige der Langzeitvarianz in Bearbeitungsrichtung abgeleitet wird.Verfahren nach Anspruch 20, dadurch gekennzeichnet, daß die Anzeigen der Gesamtvarianz und der Langzeitvarianz in Bearbeitungsrichtung kombiniert werden, damit eine Anzeige der Kurzzeitvarianz in Bearbeitungsrichtung abgeleitet wird.Verfahren nach Anspruch 19, dadurch gekennzeichnet, daß die Gesamter ianz in Bearbeitungsrichtung durch Berechnung der Varianz in jeder Zone über die verschiedenen Stellen abgeleitet wird, und daß die Varianz für jede Zone gemittelt wird.90 9825/1134■- "Copy.-3· Verfahren zur Bestimmung der Varianz einer Eigenschaft einer sichi. ■ ' ■ -■ in Bearbeitungsrichtung bewegenden Bahn, dadurch gekennzeichnet, daß der Mittelwert der Eigenschaft an jeder von einer Vielzahl von unterschiedlichen Stellen längs der Bahn in Bearbeitungsrichtung angezeigt wird, und daß die Varianz der Mittelwerte berechnet wird, derart, daß eine Anzeige der Langzeitvarianz der Eigenschaft in Bearbeitungsrichtung erhalten wird.f-. Verfahren nach Anspruch 23, dadurch gekennzeichnet, daß die Mittelwerte in Abhängigkeit von der Verschiebung eines einzigen Eigenschaftsdetektors über die Bahn in rechtem Winkel zu den Bahnkanten angezeigt werden.3. Verfahren nach Anspruch 24, dadurch gekennzeichnet, daß eine Anzeige der Varianz über den von dem Eigenschaftsdetektor für jede Abtastung des Detektors abgetasteten Bereich abgeleitet wird.'). Verfahren nach Anspruch 25, dadurch gekennzeichnet, daß die Varianzanzeigen über den abgetasteten Bereich gemittelt werden und daß der Mittelwert der Varianzanzeigen mit der Langzeitvarianz in Bearbeitungsrichtung kombiniert wird, damit ein Maß für die gesamte Varianz erzielt wird.Einrichtung zur Berechnung einer Varianzfunktion einer Eigenschaft einer Bahn in.Abhängigkeit von Signalen, die die aus einer Vielzahl von Zonen quer zur Bahn und. an verschiedenen Stellen längs909825/1134copy <;;;:ORIGINAL INSPEGTEDder Bahn abgeleitete Eigenschaft anzeigen, dadurch'gekennzeichnet, daß eine Vorrichtung auf die Signale anspricht, die ein Ansprechen berechnet, das den Mittelwert der Eigenschaft an jeder Stelle längs der Bahn anzeigt, und daß eine Vorrichtung auf die Rechenanordnung anspricht und die Varianz des Ansprechens zur Ableitung einer Anzeige der Langzeitvarianz in Bearbeitungsrichtung anspricht.28. Einrichtung nach Anspruch 27, dadurch gekennzeichnet, daß eine Vorrichtung auf die Signale zur Berechnung eines Wertes anspricht, der die Varianz der Eigenschaft in Jeder Zone quer zur Bahn für die verschiedenen Stellen anzeigt, und daß eine Vorrichtung auf die letztgenannte Rechenanordnung anspricht, um den Mittelwert der Varianzwerte zu berechnen, so daß eine Anzeige der Gesamtvarianz in Bearbeitungsrichtung erhalten wird.29. Einrichtung nach Anspruch 28, dadurch gekennzeichnet, daß eine Vorrichtung auf beide Rechenanordnungen zur Subtrahierung einer der Varianzanzeigen von der anderen Varianzanzeige anspricht, damit ein Maß für die Kurzzeltvarianz in Bearbeitungsrichtung abgeleitet wird.30. Einrichtung nach Anspruch 28, dadurch gekennzeichnet, daß die Signale in Abhängigkeit von der mehrmaligen Abtastung eines einzigen Eigenschaftsdetektors quer zur Bahn abgeleitet werden, und zwar jeweils einer ant jeder Stelle, und daß eine Vorrichtung auf den abgetasteten Detektor zur Berechnung der Varianz eines jeden Profiles, das durch Abtastung des Detektors abgeleitet wird, anspricht " .... i . 909825/ 1 1 34COPY31. Einrichtung nach Anspruch 20, dadurch gekennzeichnet, daß eine Vorrichtung auf alle .Rechenanordnungen anspricht, aim die Profilvarianz mit der Gesamtvarianz in Bearbeitungsrichtung und der Lang' zeitvarianz-in IBearbeltungsrichtung zu kombinieren, damit eine Anzeige der Querrlchtungsvarianz der Eigenschaft erzielt wird.32. Einrichtung nach Anspruch 3I, dadurch gekennzeichnet, daß eineVorrichtung auf zwei .Rechenanordnungen zum Kombinieren der Anzei-und gen der Varianz in Querbearbeitungsrichtung/der Gesamtvarianz inanspricht,
Bearbeitungsrichtung 2Ht4foi»bi»te-pe«·, damit eine Anzeige der Gesamivarianz erhalten wird. ^"■33. Einrichtung nach Anspruch 30, dadurch gekennzeichnet., daß eine Vorrichtung auf zwei Rechenanordnungen zum Kombinieren der Anzeigen der Langzeitvarianz in Bearbeitungsrichtung und der Profilvarianz anspricht, damit eine Anzeige der Gesamtvarianz erhalten wird.34. Einrichtung zur Berechnung einer Varianzfunktion einer Eigenschaf einer Bahn in Abhängigkeit von Signalen, die die Eigenschaft anzeigen, welche aus4iner Vielzahl von Zonen quer zur Bahn und an. verschiedenen Stelen längs der Bahn abgeleitet wird, dadurch gekennzeichne t,daß eine Vorrichtung auf die Signale zur Berechnung coο einer Größe anspricht, die die Varianz der Eigenschaft für jede fr cö ... ,Zone quer zur Bahn für die verschiedenen Stellungen anzeigt, und^] daß eine Vorrichtung auf die Rechenanordnung zur Berechnung des_^» Mittelwertes dieser Größen anspricht, um eine Anzeige der Gesamt-·*■*· varianz in Bearbeitungsrichtung zu erhalten.35° Einrichtung zur Berechnung einer Varianzfunktion einer Eigenschaft einer sich in Bearbeitungsrichtung bewegenden Bahn, dadurch gekennzeichnet, daß ein Detektor für die Eigenschaft vorgesehen ist, daß eine Vorrichtung den Detektor rechtwinkelig zu den Kanten der Bahn abtastet, daß der Detektor mehrere Maleifcer die sich bewegende Bahn abgetastet wird, daß die Vorrichtung auf den Detektor anspricht, um eine Anzeige des mittleren Profilwertes der Eigenschaft für Jede der Abtastungen anzuzeigen, und daß eine Vortichtung auf die Ableitvorrichtung zur Berechnung der Varianz der mittleren Profilwerte anspricht, um eine Anzeige der Langzeitvarianz in Bearbeitungsrichtung für die Eigenschaft zu erhalten.36. Einrichtung nach Anspruch 35, dadurch gekennzeichnet, daß eine Vorrichtung auf den Detektor zur Ableitung einer Anzeige der Profilvarianz anspricht, und daß eine Vorrichtung auf beide Ableitvorrichtungen anspricht, um die Varianzanzeigen des Profiles und der Langzeitvarianz in Bearbeitungsrichtung zu kombinieren, damit eine Anzeige der Gesamtvarianz der Eigenschaft erhalten wird.37· Einrichtung nach Anspruch 36, dadurch gekennzeichnet, daß eine Vorrichtung auf Anzeigen anspricht, die die Varianz in Bearbeitungsrichtung und die Profilvarianz anzeigen, damit eine Anzeige der Varianz in Querbearbeitungsrichtung erhalten wird.38. Einrichtung zur Berechnung einer Varianzfunktion einer Eigenschaft einer sich in Bearbeitungsrichtung bewegenden Bahn, dadurch gekennzeichnet, daß ein Detektor für die Eigenschaft vorgesehen ist, daß eine Vorrichtung den Detektor über die sich bewegende Bahn recht-COPY1 8 O 7 b ü y- 58 -winkelig zur Bahn abtastet, damit ein Signal erzeugt wird, das ein Profil der Eigenschaft anzeigt, daß der Detektor mehrere Male abgetastet wird, daß ein Speicher auf die Profilsignale anspricht und eine Vorrichtung zur Speicherung von Signalen aufweist, die die-Eigenschaft an jeder von einer Vielzahl von Zonen quer zur Bahn für das Profilsignal aufweist,das in Abhängigkeit von jeder Abtastung des Detektors abgeleitet wird, und daß eine Vorrichtung auf die gespeicherten Signale zur Berechnung einer ersten Größe anspricht, die eine erste Varianzfunktion der Eigenschaft in Bearbeitungsrichtung anzeigt.59· Einrichtung nach Anspruch J8, dadurch gekennzeichnet, daß die Rechenanordnung eine Vorrichtung zur Berechnung einer zweiten Größe aufweist, die eine zweite Varianzfunktion der Eigenschaft in Bearbeitungsrichtung anzeigt, und daß eine Vorrichtung die Größen in der Weise kombiniert, daß eine Anzeige der Querrichtungsvarianz der Eigenschaft abgeleitet wird.40. Einrichtung nach Anspruch 59* dadurch gekennzeichnet, daß die erste und die zweite Größe die Kurzzeitvarianz in Bearbeitungsrichtung und die Profilvarianz angeben.41. Einrichtung nach Anspruch J8, dadurch gekennzeichnet, daß die Rechenanordnung eine Vorrichtung zur Berechnung einer zweiten Größe aufweist, die eine Querrichtungsvarianzfunktion der Eigenschaft anzeigt, und daß eine Vorrichtung die Größen kombiniert, damit eine Anzeige der Gesamtveianz der Eigenschaft erhalten wird.90 25/1134COPYORIGINAL INSPECTED - . s42. Einrichtung nach Anspruch 41, .dadurch gekennzeichnäs, daß die erste und die zweite Größe die Langzeitvarianz in Bearbeitungsrichtung .und die Trofilvarianz anzeigen. -45. Einrichtung nach Anspruch 41, dadurch gekennzeichnet, daß die erste und die zweite Größe die Gesamtvarianz in Bearbeitungsrichtung und die Querrichtungsvarianz anzeigen.44. Einrichtung nach Anspruch 38, dadurch gekennzeichnet, daß die Rechenanordnung eine Vorrichtung zur Berechnung einer Anzeige der Tarianz der gespeicherten Signale für Jede einzelne Zone über die verschiedenen Abtastungen und eine Vorrichtung. ., die auf die letztgenannte Vorrichtung anspricht, zur Mittelung der Varianz-anzeigen aufweist, um ein Maß für die Gesamtvarianz in Bearbeitungsrichtung zu erzielen.45. Einrichtung nach Anspruch 38, dadurch gekennzeichnet, daß die Rechenanordnung eine Vorrichtung zur Berechnung einer Anzeige des Mittelwertes der Signale für die Zonen eines jeden Profiles und eine Vorrichtung, die auf die letztgenannte Vorrichtung zur Berecfc nung der Varianz der Mittelwertanzeigen anspricht, aufweist, um ein Maß für die gesamte Langzeitvarianz in Bearbeitungsrichtung zu erzielen.Copy909825/1 134-no-Leerseite
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Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2925749A1 (de) * | 1978-06-27 | 1980-01-17 | Domtar Inc | Verfahren und vorrichtung zur koernungsbestimmung |
DE19634997C2 (de) * | 1996-08-30 | 1999-08-05 | Voith Sulzer Papiermasch Gmbh | Regeleinrichtung mit einer Sensoren-Mehrzahl |
DE10350743A1 (de) * | 2003-10-30 | 2005-10-27 | Voith Paper Patent Gmbh | System zur computergestützten Überwachung eines Querprofils eines Qualitätsparameters einer Materialbahn |
Families Citing this family (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB1406218A (en) * | 1971-11-17 | 1975-09-17 | Molins Ltd | Apparatus for calculating the standard deviation of a property of articles |
US3808525A (en) * | 1972-06-22 | 1974-04-30 | A Ott | Thickness measuring device for indicating the mean value of a pre-set number of measurements of the thickness of a layer |
US4000402A (en) * | 1974-06-10 | 1976-12-28 | Measurex Corporation | Scanning gauge control for sheet processing apparatus |
US4320463A (en) * | 1980-02-25 | 1982-03-16 | S. Himmelstein And Company | Production control system |
US4589080A (en) * | 1982-06-11 | 1986-05-13 | International Business Machines Corporation | Apparatus and method for predicting failure in a copier's paper path |
SE459013B (sv) * | 1987-09-22 | 1989-05-29 | Svenska Traeforskningsinst | Saett foer maetning av variationer i egenskaper hos en kontinuerligt loepande pappersbana |
US4910688A (en) * | 1988-04-01 | 1990-03-20 | Domtar Inc. | On-machine sheet material property analysis |
JP2609540B2 (ja) * | 1988-08-31 | 1997-05-14 | 住友重機械工業株式会社 | 非干渉制御型tダイギャップ制御装置 |
US4903528A (en) * | 1988-09-26 | 1990-02-27 | Measurex Corporation | System and process for detecting properties of travelling sheets in the cross direction |
US5539634A (en) * | 1993-09-03 | 1996-07-23 | Measurex Corporation | Sheetmaking system identification using synthetic measurement produced from redundant noisy measurements |
US6728592B2 (en) * | 2000-08-24 | 2004-04-27 | Voith Paper Automation, Inc. | Streak detection in papermaking |
US7316877B2 (en) * | 2004-10-29 | 2008-01-08 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Bisazo-based charge transport materials having 4-oxo-2,5-cyclohexadiene-1-ylidenyl groups |
US8702908B1 (en) | 2013-01-28 | 2014-04-22 | Abb Technology Ag | Reducing product variations via variance partition analysis |
JP6918235B2 (ja) * | 2018-06-14 | 2021-08-11 | 三菱電機株式会社 | Dc/dcコンバータ回路及び電気推進用電源 |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3007052A (en) * | 1958-12-03 | 1961-10-31 | Industrial Nucleonics Corp | Measuring apparatus |
US3067939A (en) * | 1959-01-09 | 1962-12-11 | Lab For Electronics Inc | Control system |
US3191015A (en) * | 1960-07-25 | 1965-06-22 | Lab For Electronics Inc | Averaging system |
US3190261A (en) * | 1960-09-28 | 1965-06-22 | Lab For Electronics Inc | Control system |
US3248545A (en) * | 1962-05-29 | 1966-04-26 | Lab For Electronics Inc | Radiation gauge system with controls |
BE642865A (de) * | 1963-01-23 | 1900-01-01 | ||
US3471685A (en) * | 1964-06-19 | 1969-10-07 | Industrial Nucleonics Corp | Methods and means for statistical variance analysis of sheet manufacturing processes using scanning and dwelling gauges |
-
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Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2925749A1 (de) * | 1978-06-27 | 1980-01-17 | Domtar Inc | Verfahren und vorrichtung zur koernungsbestimmung |
DE19634997C2 (de) * | 1996-08-30 | 1999-08-05 | Voith Sulzer Papiermasch Gmbh | Regeleinrichtung mit einer Sensoren-Mehrzahl |
DE10350743A1 (de) * | 2003-10-30 | 2005-10-27 | Voith Paper Patent Gmbh | System zur computergestützten Überwachung eines Querprofils eines Qualitätsparameters einer Materialbahn |
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Publication number | Publication date |
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