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DE1807599B2 - Verfahren zum statischen analysieren der verteilung der werte einer eigenschaft, z.b. des flaechengewichts oder der staerke einer xxxxx sich in laengsrichtung bewegenden bahn - Google Patents

Verfahren zum statischen analysieren der verteilung der werte einer eigenschaft, z.b. des flaechengewichts oder der staerke einer xxxxx sich in laengsrichtung bewegenden bahn

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DE1807599B2
DE1807599B2 DE19681807599 DE1807599A DE1807599B2 DE 1807599 B2 DE1807599 B2 DE 1807599B2 DE 19681807599 DE19681807599 DE 19681807599 DE 1807599 A DE1807599 A DE 1807599A DE 1807599 B2 DE1807599 B2 DE 1807599B2
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DE
Germany
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xxxxx
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thickness
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DE19681807599
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DE1807599A1 (de
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    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
    • G01N23/06—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and measuring the absorption
    • G01N23/16—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and measuring the absorption the material being a moving sheet or film
    • G—PHYSICS
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    • G01B15/00—Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons
    • G01B15/02—Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons for measuring thickness
    • G01B15/025—Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons for measuring thickness by measuring absorption
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
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    • G01B15/00—Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons
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DE19681807599 1967-11-13 1968-11-07 Verfahren zum statischen analysieren der verteilung der werte einer eigenschaft, z.b. des flaechengewichts oder der staerke einer xxxxx sich in laengsrichtung bewegenden bahn Pending DE1807599B2 (de)

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US68240267A 1967-11-13 1967-11-13

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JP (1) JPS5036339B1 (de)
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