DE1422559B1 - Mikroskop mit auflichtbeleuchtung des objekts mit polarisiertem licht - Google Patents
Mikroskop mit auflichtbeleuchtung des objekts mit polarisiertem lichtInfo
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Description
Bei der Ausführungsform der F i g. 2 ist der Einfallswinkel
der Strahlen 11 auf den Spiegel 18 ebenfalls 22,5°.
Es sind auch andere Ausführungsformen möglich. So kann der einfallende Strahl zunächst senkrecht
zur optischen Achse des Mikroskops verlaufen, um sodann unter Verwendung geeigneter optischer
Mittel, z. B. eines Prismas, abgelenkt zu werden, um den Weg des Strahles 11 der Fig. 1 zu
nehmen.
Man kann auch die Lichtquelle 19 des Strahles 11 und die polarisierende Platte 13 über dem halbdurchlässigen
Spiegel 14 und dem Okular 20 anordnen.
Die Homogenität der Polarisation des auf das 5 Objekt auftreffenden Lichtes kann durch Wahl eines
Einfallswinkels von weniger als 20° noch erhöht werden. Ein Einfallswinkel von 22,5° bewirkt jedoch
schon keine wesentliche Drehung derjenigen Polarisationsebenen, die beim Einfall nicht senkrecht oder
ίο parallel zur Einfallsebene stehen.
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen
GOPY
Claims (5)
1. Mikroskop mit Auflichtbeleuchtung des Ob- Unter Ausnutzung der Aussagen der Fresnelschen
jekts mit polarisiertem Licht über einen im Licht- 5 Formeln und unter dem praktisch nichts bedeutenden
weg zwischen Objektiv und Okular angeordneten Verzicht auf die 90°-Ablenkung durch den bekannhalbdurchlässigenSpiegel,
dadurch gekenn- ten Spiegel oder das bekannte Prisma besteht die zeichnet, daß der Einfallswinkel der auf den Erfindung darin, die Anordnung bei einem Mikrohalbdurchlässigen
Spiegel (14) auftreffenden, zur skop eingangs genannter Art derart zu treffen, daß
optischen Achse des Mikroskops parallelen io der Einfallswinkel der auf den halbdurchlässigen
Strahlen weniger als 35°, vorzugsweise weniger Spiegel auftreffenden, zur optischen Achse des
als 22,5° beträgt. . Mikroskops parallelen Strahlen weniger als 35°, vor-
2. Mikroskop nach Anspruch 1, gekennzeich- zugsweise weniger als 22,5° beträgt.
net durch ein seitlich des Lichtwegs zwischen Bei Anwendung der Erfindung muß zwar gegen-Okular
(20) und Objektiv (16) angeordnetes 15 über den bekannten Mikroskopen eine Verringerung
rechtwinkliges Prisma (12), an dessen Basisfläche der Beleuchtungsstärke des Objekts in Kauf genomdas
von der Lichtquelle (19) kommende Licht men werden; dieser Mangel wird aber durch die erzürn
halbdurchlässigen Spiegel (14) reflektiert höhte Homogenität der Polarisation im Beleuchwird.
tungsfeld, die sich auch in einer Verstärkung des
3. Mikroskop nach Anspruch 2, gekennzeich- 20 Bildkontrastes wegen einer Homogenisierung der
net durch eine zwischen dem Prisma (12) und Extinktion im Beleuchtungsfeld kundtut, mehr als
dem halbdurchlässigen Spiegel (14) angeordnete wettgemacht.
polarisierende Platte (13). Zur Ausführung der Lehre der Erfindung können
4. Mikroskop nach Anspruch 1, gekennzeich- die aus dem Stand der Technik bekannten beiden
net durch einen seitlich des Lichtweges zwischen 25 prinzipiell möglichen Arten der Lichtführung im
Okular (20) und Objektiv (16) angeordneten Auflichtmikroskop, nämlich mit abgeknicktem BeSpiegel
(18), der das auf ihn von der Lichtquelle leuchtungsstrahlengang bei durchlaufendem Ab-(19)
unter einem Einfallswinkel von weniger als bildungsstrahlengang und mit abgeknicktem Ab-35°,
vorzugsweise weniger als 25°, auftreffende bildungsstrahlengang bei durchlaufendem Beleuch-Licht
zum halbdurchlässigen Spiegel (14) re- 3° tungsstrahlengang, d. h. mit Vertauschung von Lichtflektiert,
quelle und Okular, angewendet werden.
5. Mikroskop nach Anspruch 4, gekennzeich- Vorteilhafte Ausbildungen des erfindungsgemäßen
net durch eine zwischen dem Spiegel (18) und Mikroskops sind in den Unteransprüchen angegeben,
der Lichtquelle (19) angeordnete polarisierende Im folgenden werden unter Hinweis auf die Fig. 1
Platte (13). 35 und 2 Ausführungsformen des Mikroskops beschrieben.
F i g. 1 zeigt einen Lichtstrahl 11, der aus einer
Lichtquelle 19 austritt. Der Lichtstrahl 11 ist auf ein Prisma 12 gerichtet und wird nach dem Austritt aus
Die Erfindung betrifft ein Mikroskop mit Auflicht- 40 dem Prisma 12 mittels einer polarisierenden Platte
beleuchtung des Objekts mit polarisiertem Licht über 13 polarisiert. Der polarisierte Strahl fällt sodann
einen im Lichtweg zwischen Objektiv und Okular auf einen halbdurchlässigen Spiegel 14, welcher im
angeordneten halbdurchlässigen Spiegel. Mikroskopkörper angeordnet ist und sich über die
Nach Conn und Bradshaw, Polarized Light gesamte Apertur des Mikroskopobjektivs 16 erstreckt,
in Metallography, Verlag Butterworth Scientific 45 so daß die optische Achse des Mikroskops den
Publications, London, 1952, S. 21, 22, 23, 45 und Spiegel 14 schneidet. Nach Reflexion am Spiegel 14
46, ist ein Mikroskop dieser Art bekannt, bei dem folgt der Strahl 11 der optischen Achse des Mikrodie
Normale des Spiegels mit der zum Objektiv ge- skops und durchsetzt das Objektiv 16, um auf ein
richteten optischen Achse einen Winkel von 45° ein- Objekt 17 zu treffen, welches zu betrachten ist. Das
schließt. Bei Verwendung eines solchen Mikroskops 50 Licht wird durch das Objekt 17 reflektiert, geht durch
ist das Licht, mit dem das Objekt beleuchtet wird, das Objektiv 16 zurück und durchsetzt den Spiegel
nicht homogen polarisiert. Die Polarisationseinrich- 14 als Strahl 11«, um durch ein Okular 20 zu treten,
tung hängt vielmehr vom Ort innerhalb des Beleuch- Bei der Ausführungsform nach F i g. 2 durchsetzt
tungsfelds ab. Die Ursache hierfür liegt darin, daß der aus der Lichtquelle 19 kommende Lichtstrahl 11
der Spiegel das auf ihn treffende polarisierte Licht 55 zunächst die polarisierende Platte 13, um sodann
je nach dem Auftreffwinkel und damit nach dem über einen Spiegel 18 auf den halbdurchlässigen
Auftreffort etwas verschieden dreht. Spiegel 14 zu gelangen. Von diesem aus ist der
Aus den Fresnelschen Formern kann man an sich Strahlengang dann der gleiche wie bei der Ausfühablesen,
daß die Abhängigkeit der Drehung der rungsform nach F i g. 1.
Polarisationsebene vom Auftreffwinkel bei Winkeln, 60 Bei beiden Ausführungsformen ist der Einfallsdie
kleiner sind als 45°, geringer wird. winkel der Strahlen 11 auf die Oberfläche 15 des
Tatsächlich hat man jedoch, um eine homogen halbdurchlässigen Spiegels 14 22,5°. Die Oberfläche
polarisierte Ausleuchtung des Beleuchtungsfeldes zu 15 des Spiegels 14 trägt einen halbreflektierenden
erreichen, statt eines Spiegels ein 90°-Umlenkprisma Film, z. B. aus Titandioxyd. Die polarisierende
von sehr kompliziertem Aufbau verwendet, wie es 65 Platte 13 ist zweckmäßig so orientiert, daß der polarivon
Berek in der Zeitschrift für Instrumentenkunde, sierte Lichtstrahl, welcher auf den Spiegel 14 fällt,
Januar 1936, S. 1 bis 6, beschrieben ist. mit seiner Polarisationsebene senkrecht oder parallel
Aufgabe der Erfindung ist es, diesem Stand der zu der Ebene des Einfalls steht.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
GB44100/61A GB1045574A (en) | 1961-12-08 | 1961-12-08 | Improvements in or relating to optical apparatus |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE1422559B1 true DE1422559B1 (de) | 1972-02-03 |
Family
ID=10431783
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19621422559 Pending DE1422559B1 (de) | 1961-12-08 | 1962-12-03 | Mikroskop mit auflichtbeleuchtung des objekts mit polarisiertem licht |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US3277782A (de) |
DE (1) | DE1422559B1 (de) |
GB (1) | GB1045574A (de) |
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