DE378834C

DE378834C - Metallmikroskop

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Publication number: DE378834C
Application number: DEH89377D
Authority: DE
Original assignee: Individual
Current assignee: Individual
Priority date: 1922-04-05
Filing date: 1922-04-05
Publication date: 1923-08-03

Description

lnetalltnikroskop. Das Verfahren, polierte Oberflächen undurchsichtiger Körper, z. B. von Erzen, Schlacken, Gesteinen, Metallen usw., im reflektierten polarisierten Licht zu beobachten, ist bekannt; die Anwendung dieses Verfahrens ist jedoch noch keineswegs allgemein. Ihrer Einführung stellen sich nämlich apparative Schwierigkeiten entgegen. Die bisher eingeführten Apparate, z. B. die 1Ietalhnikroskope, benutzen zur Beobachtung das gewöhnliche unpolarisierte Licht. Aus diesem Grunde sind die Objekttische durchweg nicht mit der Sorgfalt zentriert, wie es für die Beobachtung in polarisiertem Licht erforderlich ist. 'Man kann daher bei den bisher benutzten 'Metallmikroskopen den Objekttisch mit Objekt nicht drehen, ohne, insbesondere bei hoher Vergrößerung, mit dem Objekt aus der optischen Achse herauszukommen. Bei der Beobachtung in polarisiertem Licht muß man aber die Farbumschläge bzw. -auslöschungen bei Drehungen der Kristalle gegen die Polarisationsebene messen und hierzu naturgemäß die Objekte auch bei der Drehung genau in der optischen Achse bzw. im Gesichtsfeld erhalten. Versucht man daher die Beobachtung in polarisiertem Licht mit dem bekannten Metallmikroskop, so stößt man auf Schwierigkeiten.
Es wurde zunächst versucht, diese Schwierigkeiten zu überwinden, indem die Nikols gemeinsam drehbar angeordnet wurden. Eine befriedigende Lösung konnte hiermit nicht bewirkt «-erden, da die Polarisationsebene des Lichtes bei der Spiegelung im Vertikalilluminator gedreht wird. Hieraus ergab sich die Notwendigkeit, Analysator und Polarisator je besonders zu drehen und die zusätzliche Drehung der Polarisationsebene im Vertikalilluminator durch Leerversuche zu eichen.
Dieses Verfahren ist zwar wissenschaftlich durchführbar, aber nicht geeignet für schnelle Beobachtung und somit unbrauchbar für die praktische Metallmikroskopie.
Die Erfindung beseitigt die mitgeteilten Schwierigkeiten durch Anwendung eines in der Metallmikroskopie neuen Prinzips, nämlich in der gleichzeitigen Anwendung ein und desselben Nikolschen Prismas sowohl als Polarisator als auch als Analysator. Zur Erzielung dieser Wirkung wird ein Nikolsches Prisma zwischen Vertikalilluminator und Objekt drehbar angeordnet. Das Licht gelangt vom Vertikalilluminator in den Nikol in seiner Eigenschaft als Polarisator, wird polarisiert und fällt dann. auf das Objekt. Es wird vom Objekt reflektiert und erfährt hierbei die dem Objekt eigentümliche Beeinflussung, sei es Drehung der Polarisationsebene, sei es Umwandlung in elliptisch polarisiertes Licht. Darauf durchläuft es wiederum denselben Nikol, aber diesmal in umgekehrter Richtung, wobei das Nikol nunmehr als Analysator dient. Mit dem Nikol fest @ erbunden kann eine Feinbeobachtungseinrichtung «-erden, «1e z. B. eine Savartplatte, welche, da sie die gleichen Funktionen wie beim Polariskop hat, auch in gleicher Weise mit dem Nikol verbunden ist. Das vom Nikol kommende Licht bringt dann zunächst keine Interferenzstreifen hervor, da die beiden beim Eintritt des Lichtes in die Platte entstehenden Komponenten gleiche Intensität haben. Erst nachdem der Polarisationszustand des Lichtes durch Reflexion eine Änderung erfahren hat, treten die Streifen auf und ermöglichen somit die Beobachtung der durch das Objekt bedingten Einflüsse.
Die neue Einrichtung ist aus der Zeichnung ersichtlich.
Die apparative Ausführung der Einrichtung gestaltet sich überaus einfach. Als Vertikalilluminator wird z. B. ein planparalleles Glas angewandt. Dieser wird mit dem Nikol zu einem einheitlichen Mikroskopzubehörteil verbunden. Die Verwendung jedes Metallmikroskops für die Beobachtung in polarisiertem Licht ist dann dadurch ermöglicht, daß dieser Zubehörteil an Stelle des sonst gebrauchten Vertikalilluminators an das Mikroskop angeschraubt wird.

Claims

PATENT -A"TSPRÜCHE: i. Einrichtung zum Untersuchen von reflektierenden Körpern in polarisiertem Licht, dadurch gekennzeichnet, daß das Licht nach der Reflexion am Objekt den Polarisator nochmals durchläuft. a. Einrichtung nach Anspruch i, dadurch gekennzeichnet, daß sie mit einer Feinmeßeinrichtung,wie z. B. eine Savartplatte, verbunden ist, die von dem Licht vor und nach der Reflexion am Objekt durchlaufen wird. 3. Einrichtung nach Anspruch i, dadurch gekennzeichnet, daß der Polarisator mit dem Vertikalilluminator zu einem einheitlichen festen oder zerlegbaren Zubehörteil vereinigt ist. d. Einrichtung nach Anspruch i bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß zwischen der Savartplatte mit dem Qbj aktiv eine zur quantitativen Bestimmung der Anisotropie geeignete Vorrichtung eingeschaltet ist.