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DE1133898B - Mechanische Abtasteinrichtung fuer die arretierbare Messstellung eines Instrumentenzeigers, z. B. eines photographischen Belichtungs-messers - Google Patents

Mechanische Abtasteinrichtung fuer die arretierbare Messstellung eines Instrumentenzeigers, z. B. eines photographischen Belichtungs-messers

Info

Publication number
DE1133898B
DE1133898B DEV18971A DEV0018971A DE1133898B DE 1133898 B DE1133898 B DE 1133898B DE V18971 A DEV18971 A DE V18971A DE V0018971 A DEV0018971 A DE V0018971A DE 1133898 B DE1133898 B DE 1133898B
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
pointer
scanning device
mechanical scanning
instrument
tracking
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
DEV18971A
Other languages
English (en)
Inventor
Dipl-Ing Oskar Fischer
Paul Greger
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Voigtlander AG
Original Assignee
Voigtlander AG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Voigtlander AG filed Critical Voigtlander AG
Priority to DEV18971A priority Critical patent/DE1133898B/de
Priority to CH795261A priority patent/CH394660A/de
Publication of DE1133898B publication Critical patent/DE1133898B/de
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03BAPPARATUS OR ARRANGEMENTS FOR TAKING PHOTOGRAPHS OR FOR PROJECTING OR VIEWING THEM; APPARATUS OR ARRANGEMENTS EMPLOYING ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ACCESSORIES THEREFOR
    • G03B7/00Control of exposure by setting shutters, diaphragms or filters, separately or conjointly
    • G03B7/08Control effected solely on the basis of the response, to the intensity of the light received by the camera, of a built-in light-sensitive device
    • G03B7/12Control effected solely on the basis of the response, to the intensity of the light received by the camera, of a built-in light-sensitive device a hand-actuated member moved from one position to another providing the energy to move the setting member, e.g. depression of shutter release button causes a stepped feeler to co-operate with the pointer of the light-sensitive device to set the diaphragm and thereafter release the shutter
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/42Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
    • G01J1/4209Photoelectric exposure meters for determining the exposure time in recording or reproducing
    • G01J1/4214Photoelectric exposure meters for determining the exposure time in recording or reproducing specially adapted for view-taking apparatus

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Indication In Cameras, And Counting Of Exposures (AREA)
  • Mounting And Adjusting Of Optical Elements (AREA)

Description

  • Mechanische Abtasteinrichtung für die arretierbare Meßstellung eines Instrumentenzeigers, z. B. eines photographischen Belichtungsmessers Zusatz zum Patent 1 102421 Das Hauptpatent betrifft eine mechanische Abtasteinrichtung für die arretierbare Meßstellung eines Instrumentenzeigers, z. B. des Zeigers eines elektrischen Belichtungsmessers, insbesondere eines solchen, der in eine photographische Kamera eingebaut ist.
  • Im Hauptpatent ist eine Abtasteinrichtung mit einer Arretierungsvorrichtung für das Festhalten des Instrumentenzeigers in seiner jeweiligen, dem z. B. auf die Photozelle treffenden Lichtstrom entsprechenden Ausschlagstellung beschrieben, bei welcher ein Nachführzeiger mit dem in Meßstellung festgehaltenen Instrumentenzeiger in Kontakt gebracht wird und sich dadurch unmittelbar und ohne besonderen Kraftaufwand mit einer ihm zugeordneten, ortsfesten und kreisbogenförmig ausgebildeten Klemmfläche unverrückbar fest verklemmt.
  • Durch die Bewegung des Nachführzeigers aus seiner Ruhestellung bis zu seiner Klemmstellung werden Blendeneinsteller, Verschlußzeiteinsteller od. dgl. betätigt.
  • Der Nachführzeiger ist nach den Angaben des Hauptpatentes auf einem um eine ortsfeste Achse drehbaren Trägerteil leicht federnd schwenkbar gelagert und bestreicht beim Drehen des Trägerteiles den Meßbereich des Instrumentenzeigers. Er befindet sich dabei mit seinem freien Ende in geringem Abstand von der erwähnten ortsfesten, kreisbogenförmigen Klemmfläche. Der Schwenkpunkt des Nachführzeigers befindet sich in einem geringen Abstand neben dem Krümmungsmittelpunkt der kreisbogenförmigen Klemmfläche. Das freie Ende des schwenkenden Nachführzeigers beschreibt also einen Kreisbogen, der den Kreisbogen der Klemmfläche schneidet. Diese beiden Kreisbögen schneiden sich unter einem Winkel, der kleiner ist als der Reibungswinkel zwischen dem freien Ende des Nachführzeigers und der kreisbogenförmigen Klemmfläche.
  • Die vorliegende Erfindung erstrebt eine weitere Ausbildung einer derartigen Abtasteinrichtung mit dem Ziel, durch eine Justiereinrichtung für die Abtastelemente eine sichere und einwandfreie Klemmung des Nachführzeigers zu gewährleisten und zu verhindern, daß der Nachführzeiger mit zu großer Kraft auf den arretierten Belichtungsmesserzeiger drückt.
  • Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es, ein zu großes Spiel zwischen dem Punkt, an welchem der Nachführzeiger auf den Instrumentenzeiger trifft, und dem Punkt der eigentlichen Klemmung dadurch zu vermeiden, daß der Nachführzeiger justierbar ausgebildet ist.
  • Die Erfindung gestattet die Anwendung verschiedener Justiermöglichkeiten. Einige davon sind in der nachfolgenden Beschreibung aufgezeigt. Sie dienen sämtlich der Lösung der Aufgabe, den Nachführzeiger sowohl auf die Klemmfläche hin bzw. von ihr weg zu führen, also den Abstand zwischen dem freien Ende des Nachführzeigers und der Klemmfläche zu verändern, als auch den genannten Winkel zwischen dem Kreisbogen des schwenkenden Nachführzeigers und dem Kreisbogen der Klemmfläche einstellbar zu machen. Damit wird gleichzeitig auch der Winkel verändert, welchen der am arretierten Instrumentenzeiger anliegende Nachführzeiger mit dem Instrumentenzeiger bildet. Diese beiden Winkel entsprechen sich dann, wenn der Krümmungsmittelpunkt der Klemmfläche und der Schwenkpunkt des Belichtungsmesserzeigers zusammenfallen.
  • Die Erfindung ist dadurch gekennzeichnet, daß eine Justiervorrichtung mit Verstellmitteln für die Ausrichtung des Nachführzeigers dient, durch welche der Nachführzeiger in Richtung seiner Längsausdehnung auf eine ortsfeste, kreisbogenförmige Klemmfläche zu oder von ihr weg bewegbar ist.
  • Weiterhin wird eine Justiervorrichtung mit Einstellgliedern für denjenigen Winkel vorgeschlagen, welchen die im Schnittpunkt der kreisbogenförmigen Klemmfläche mit dem Kreisbogen, den das freie Ende des Nachführzeigers beim Schwenken um seinen Schwenkpunkt beschreibt, angelegten Tangenten einschließen, so daß dieser Winkel auf einen Wert eingestellt werden kann, der kleiner ist als der Reibungswinkel zwischen dem freien Nachführzeigerende und der ortsfesten Klemmfläche. Eine besonders vorteilhafte Ausgestaltung des Erfindungsgedankens ergibt sich, wenn beide Justiervorrichtungen, nämlich diejenige für eine Längsbewegung des Nachführzeigers und diejenige für eine Einstellung gemäß dem obenerwähnten Reibungswinkel, in der beschriebenen Abtasteinrichtungsart gemeinsam angewendet werden.
  • Die Erfindung wird unter Angabe weiterer Einzelheiten an Hand der Figuren, in welchen Ausführungsbeispiele der Erfindung schematisch dargestellt sind, näher erläutert. Dabei zeigt Fig. 1 eine Abtasteinrichtung mit einer erfindungsgemäß ausgebildeten Justiervorrichtung in Draufsicht, Fig. 2 die Abtast- und Justiereinrichtung nach Fig. 1 im Schnitt, Fig. 3 ein anderes Ausführungsbeispiel der Abtast-und Justiereinrichtung, Fig. 4 die Abtast- und Justiereinrichtung nach Fig. 3 im Schnitt.
  • Nach Fig. 1 und 2 ist innerhalb eines Belichtungsmessergehäuses 1 ein Drehspulinstrument mit dem Magneten 2, der Drehspule 3 und dem Zeiger 4 angeordnet. Der Instrumentenzeiger 4 kann durch den mit der Kraft der Drehfeder 6 beaufschlagten Klemmbügel 5 auf die ortsfeste Fläche 7 gedrückt und auf dieser in seiner Meßstellung arretriert werden. Das Drehspulinstrument wird von einer gehäusefesten Platine 8 überdeckt, auf welcher zwei übereinanderliegende Scheiben 9 und 12 auf einer gemeinsamen, durch die Schraube 13 abgeschlossenen Achse drehbar gelagert sind. Die untere Scheibe 9 ist an ihrem Umfang mit einem gezahnten Sektor 10 versehen, welcher in die Stangenverzahnung 11 a des Schiebers 11 eingreift, durch den in der Zeichnung nicht dargestellte Belichtungseinsteller der Kamera betätigt werden. Auf der oberen Scheibe 12 ist um einen Bolzen 14 schwenkbar der Nachführzeiger 15 gelagert, welcher durch die schwache Feder 16 mit seiner einen Kante 15a unter leichtem Druck gegen den als Exzenter ausgebildeten Anschlag 17 anliegt. Durch Drehen des Exzenters 17 kann die Ruhestellung des Nachführzeigers 15 gegenüber der Scheibe 12 geändert werden und damit auch der Winkel a, den der Nachführzeiger 15 mit dem Instrumentenzeiger 4 in der gezeichneten Berührungsstellung bildet. Der Winkel a entspricht nun aber in diesem Fall dem Winkelp, der durch die im Schnittpunkt der beiden erwähnten Kreisbögen angelegten Tangenten gebildet wird.
  • Die Scheibe 12 kann gegenüber der Scheibe 9 durch einen Exzenter 20, der auf der Scheibe 9 befestigt ist und der durch ein Langloch 21 in die Scheibe 12 eingreift, verdreht werden; damit werden alle auf der Scheibe 12 befestigten Bauelemente, einschließlich des Nachführzeigers 15, in ihrer Stellung zum übrigen Belichtungsmessergehäuse verschwenkt, insbesondere wird der Abstand der oberen Klemmfläche 18 des Abtastzeigers 15 zur kreisbogenförmigen Klemmfläche 19 des Belichtungsmessergehäuses 1 vergrößert oder verkleinert. Der Krümmungsmittelpunkt der kreisbogenförmigen Klemmflächel9 fällt dabei mit dem Schwenkpunkt des Belichtungsmesser- zeigers zusammen. Die Schnittzeichnung ergänzt die Darstellung. Insbesondere wird hier der Deckel 22 des Belichtungsmessergehäuses 1 sichtbar, der zweckmäßigerweise aus einem durchsichtigen Kunststoff besteht. Dieser durchsichtige Deckel 22 hat eine Bohrung 23, durch die es möglich ist, die Exzenter 17 und 20 mit einem Schraubenzieher auch bei bereits geschlossenem und montiertem Belichtungsmessergehäuse zu erreichen und somit die Justagen bei vollständig montierter Kamera vorzunehmen.
  • Die Wirkung der Gesamtanordnung ist folgende: Durch die Betätigung einer nicht dargestellten Handhabe wird der Schieber 11 gegen die Pfeilrichtung bewegt und dreht durch Eingriff der Zahnleiste 11 a in den Zahnkranz 10 die Scheibe 9, wodurch der Nachführzeiger 15 gegen den Belichtungsmesserzeiges 4 geführt wird. Gleichzeitig gleitet die Schrägflächellb des Schiebers 11 unter dem linken Arm des Klemmbügels 5 weg, wodurch dieser den Belichungsmesserzeiger 4 gegen die Arretierungsfläche 7 drückt, und dadurch der Belichtungsmesserzeiger4 in seiner dem auf die Photozelle auftreffenden Lichtstrom entsprechenden Ausschlagsstellung arretiert wird.
  • Trifft der Zapfen 15 b des Nachführzeigers 15 auf das freie Ende des Belichtungsmesserzeigers 4, so wird bei weiterer Verdrehung der Scheibe 9 der Nachführzeiger 15 entgegen der schwachen Kraft der Feder 16 mit der Fläche 15 a vom Exzenter 17 abgehoben und trifft mit seiner Klemmfläche 18 seines freien Endes auf die gehäuseseitige Klemmfläche 19, mit welcher er dann unverrückbar fest verklemmt wird. Je stärker der Abtastdruck auf den Schieber 11 ist, um so stärker ist auch die Verklemmung des Nachführzeigers 15 mit der gehäuseseitigen Klemmfläche 19. Dadurch werden alle mit der Bewegung des Schiebers 11 verbundenen Einstellvorgänge, z. B. diejenigen irgendwelcher Belichtungsfaktoreneinsteller an der Kamera, wie Zeiteneinstellring, Blendeneinstellring oder Belichtungswerteinstellring, zuverlässig auf den vom Meßzeiger 6 angegebenen Einstellwert gebracht. Die obenerwähnte Handhabe zur Betätigung des Schiebers 11 kann nun mit der Auslösetaste gekuppelt sein, so daß nach Klemmung des Nachführzeigers der Verschluß ausgelöst wird. Nach der Auslösung soll die Arretierung des Belichtungsmesserzeigers und die Klemmung des Nachführzeigers dadurch wieder aufgehoben werden, daß der Schieber 11 in seine Ausgangslage zurückgeführt und dadurch der Nachführzeiger 15 von der Klemmfläche 19 gelöst und der Klemmbügel 5 durch die Schrägfläche 11 b angehoben wird.
  • Durch die Verstellung der Exzenter 17 und 20 wird der Nachführzeiger 15 in oben beschriebener Weise so eingestellt, daß diese Abtast- und Klemmvorgänge reibungslos ablaufen.
  • Fig. 3 und 4 zeigen ein anderes Ausführungsbeispiel der Erfindung. Es ist hier imBelichtungsmessergehäuse 24 in den Lagern 25 ein Klemmbügel 26 angeordnet, der sich im Gegensatz zur Ausführung nach den Fig. 1 und 2 gegen den Deckel des Belichtungsmessergehäuses bewegt und den Belichtungsmesserzeiger 27 auf einer Arretierungsfläche 28 des Belichtungsmessergehäusedeckels 43 (Fig. 4) festhält. Das durch die Traverse 29 mit dem Belichtungsmessergehäuse 24 verbundene Drehspulmeßinstrument 30 liegt in diesem Fall nicht hinter der Justiereinrichtunng, sondern darunter. Die Justiereinrichtung besteht aus einer Scheibe 32, auf die eine Scheibe 33 verstellbar montiert ist, die ihrerseits einen an einem Bolzen 34 schwenkbar gelagerten Nachführzeiger 35 trägt, der durch die Feder 36 gegen den Exzenter 37 gedrückt wird, so daß eine Verstellung des Exzenters 37 eine Schwenkung des Nachführzeigers 35 zur Folge hat, wobei der Winkel a, den die Mittelachse des Nachführzeigers 35 bei Anlage an den Belichtungsmesserzeiger 27 mit diesem einschließt, verändert wird. Gleichzeitig wird auch der Winkel fl verändert, den die im Schnittpunkt der kreisbogenförmigen Klemmfläche 39 mit dem Kreisbogen, den der Nachführzeiger 35 bei Schwenkung um den Bolzen 34 beschreibt, angelegten Tangenten einschließen. Die kreisbogenförmige Klemmfläche 39 hat ihren Krümmungsmittelpunkt in der Achse des Bolzens 40, während der Belichtungsmesserzeiger27 seinen Schwenkpunkt in der Achse des Drehspulmeßinstrumentes 30 bzw. in der Achse des Bolzens 38 hat. Das bedeutet, daß in dieser Ausführung kein Zusammenhang zwischen den Winkeln a und fl besteht; der Winkel a ändert sich über den Schwenkweg des Belichtungsmesserzeigers bzw. des Nachführzeigers. Die Scheiben 32 und 33 sind durch den Bolzen 40 mit dem Belichtungsmessergehäuse 24 beweglich verbunden. Ein weiterer Exzenter 41, der mit der Scheibe 32 drehbar verbunden ist und durch ein Langloch 42 in die Scheibe 33 eingreift, gestattet eine Verdrehung der Scheibe 33 und damit eine Verschiebung des Nachführzeigers 35 in Richtung auf die Klemmfläche 39 hin.

Claims (9)

  1. Der Gehäusedeckel 43 (Fig. 4) ist mit Schrauben 44 mit dem Belichtungsmessergehäuse 24 verbunden und hat gegenüber der Justiereinrichtung einen Durchbruch 45, der es gestattet, die Exzenter 37 und 41 bei bereits montiertem Belichtungsmessergehäuse von außen zu betätigen und damit die Justage bei bereits montierter Kamera vorzunehmen. Die Gesamtanordnung wirkt auch hier ebenso, wie bei der Beschreibung zu den Fig. 1 und 2 dargelegt PATENTANSPRÜCHE: 1. Mechanische Abtasteinrichtung für die arretierbare Meßstellung eines Instrumentenzeigers, insbesondere desjenigen eines photographischen Belichtungsmessers, nach Patent 1 102421, gekennzeichnet durch eine Justiervorrichtung (9, 12, 13; 32, 33, 40) mit Verstellmitteln (20, 21; 41, 42) für die Ausrichtung des Nachführzeigers, durch welche der Nachführzeiger (15, 35) in Richtung seiner Längsausdehnung auf eine ortsfeste kreisbogenförmige Klemmfläche (19, 39) zu oder von ihr weg bewegbar ist.
  2. 2. Mechanische Abtasteinrichtung für die arretierbare Meßstellung eines Ins trumentenzeigers, insbesondere desjenigen eines photographischen Belichtungsmessers, nach Patent 1 102421, gekennzeichnet durch eine Justiervorrichtung (9, 12, 13; 32, 33, 40) mit Einstellgliedern (17, 37) für den Winkel (13), welchen die im Schnittpunkt der kreisbogenförmigen Klemmfläche (19, 39) mit dem Kreisbogen, den das freie Ende des Nachführzeigers (15, 35) beim Schwenken um seinen Schwenkpunkt (14, 34) beschreibt, angelegten Tangenten einschließen.
  3. 3. Mechanische Abtasteinrichtung für die arretierbare Meßstellung eines Instrumentenzeigers, insbesondere desjenigen eines photographischen Belichtungsmessers, nach Patent 1 102421, gekennzeichnet durch eine Justiervorrichtung (9, 12, 13; 32, 33, 34) für die Ausrichtung des Nachführzeigers (15, 35) unter gleichzeitiger Anwendung der Merkmale der Ansprüche 1 und 2.
  4. 4. Mechanische Abtasteinrichtung nach Anspruch 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß zwei Scheiben (9, 12/32, 33) vorgesehen sind, die durch einen gemeinsamen Bolzen (13, 40) beweglich mit dem Belichtungsmessergehäuse verbunden sind, wobei die obere Scheibe (12, 33) den Nachführzeiger (15, 35) trägt und gegenüber der unteren Scheibe (9, 32) drehbar ist.
  5. 5. Mechanische Abtasteinrichtung nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß ein auf der unteren Scheibe (9, 32) befestigter Exzenter (20, 41) in ein Langloch (21, 42) der oberen Scheibe (12, 33) eingreift und bei Drehung des Exzenters (20, 41) die obere Scheibe (12, 33) gegenüber der unteren Scheibe (9, 32) verdreht wird.
  6. 6. Mechanische Abtasteinrichtung nach Anspruch 2 und 3 dadurch gekennzeichnet, daß auf der oberen Scheibe ein Exzenter (17, 37) befestigt ist, gegen welchen der Nachführzeiger (15, 35) federnd anliegt, so daß bei Verdrehung des Exzenters (17, 37) der Abtastzeiger gegenüber der oberen Scheibe (12, 33) und damit auch gegenüber der unteren Scheibe (9, 32) verschwenkt wird.
  7. 7. Mechanische Abtasteinrichtung nach Anspruch 1 bis 6, dadurch gekennzeichnet, daß im Deckel (22, 43) eines Instrumentengehäuses (1, 24) gegenüber den verstellbaren Exzentern (17, 20; 37, 41) Durchbrüche (23, 45) derart angebracht sind, daß die Justierung über die Exzenter (17, 20. 37, 41) auch bei geschlossenem und montiertem Instrumentengehäuse möglich ist.
  8. 8. Mechanische Abtasteinrichtung nach Anspruch 1 bis 7, dadurch gekennzeichnet, daß der Deckel (22, 43) des Instrumentengehäuses (1, 24) durchsichtig ausgeführt ist.
  9. 9. Mechanische Abtasteinrichtung nach Anspruch 1 bis 8, dadurch gekennzeichnet, daß die Arretierungsfläche (28) für den Instrumentenzeiger (27) am Deckel des Instrumentengehäuses (43) angebracht ist.
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