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DE1060158B - Microscope, especially for measuring nuclear traces - Google Patents

Microscope, especially for measuring nuclear traces

Info

Publication number
DE1060158B
DE1060158B DEJ14487A DEJ0014487A DE1060158B DE 1060158 B DE1060158 B DE 1060158B DE J14487 A DEJ14487 A DE J14487A DE J0014487 A DEJ0014487 A DE J0014487A DE 1060158 B DE1060158 B DE 1060158B
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
microscope
lens
condenser
measuring nuclear
traces
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
DEJ14487A
Other languages
German (de)
Inventor
Dr Max Cosyns
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Jenoptik AG
Original Assignee
Jenoptik Jena GmbH
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Jenoptik Jena GmbH filed Critical Jenoptik Jena GmbH
Priority to DEJ14487A priority Critical patent/DE1060158B/en
Publication of DE1060158B publication Critical patent/DE1060158B/en
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/24Base structure

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Microscoopes, Condenser (AREA)

Description

Mikroskop, insbesondere zur Vermessung von Kernspuren Der Gegenstand der Erfindung betrifft ein Mikroskop, insbesondere zur Vermessung von Kernspuren. Mit dessen Hilfe ist es möglich, auch räumlich verlaufende Kernspuren in einer Emulsion auszumessen. Die Ausmessung solcher Spuren muß dabei in der Weise erfolgen, daß in festgelegten Abständen bei optimaler Beleuchtung die jeweilige Tiefenlage der Spur in der Emulsion festgestellt und daraus der räumliche Verlauf derselben berechnet wird.Microscope, especially for measuring nuclear traces The object The invention relates to a microscope, in particular for measuring nuclear tracks. With its help, it is possible to also find spatially running nuclear tracks in an emulsion to measure. The measurement of such traces must be done in such a way that the respective depth of the Trace found in the emulsion and calculated from this the spatial course of the same will.

Einrichtungen solcher Art, mit denen diese Messungen schnell und mit genügender Genauigkeit durchführbar sind, sind bisher unbekannt.Facilities of this kind with which these measurements can be carried out quickly and with are feasible with sufficient accuracy are so far unknown.

Gemäß der Erfindung ist ein Mikroskop zur Durchführung solcher Messungen so beschaffen, daß das Objektiv und der Kondensor mit an sich bekannten Mitteln gemeinsam von einem Trieb aus zwecks Fokussierung meßbar so verstellbar sind, daß für jede Stellung des Objektivs eine optimale Beleuchtung gewährleistet ist.According to the invention is a microscope for making such measurements designed so that the objective and the condenser by means known per se can be measured together from a drive for the purpose of focusing so that optimal lighting is guaranteed for every position of the lens.

Eine vorteilhafte Ausführung eines solchen Mikroskops ergibt sich, wenn das Maß der Objektivverschiebung im Gesichtsfeld des Mikroskopokulars ablesbar ist und wenn zur Führung des Objektivs und des Kondensors Blattfedern angeordnet sind.An advantageous embodiment of such a microscope results from if the amount of lens shift can be read off in the field of view of the microscope eyepiece and if leaf springs are arranged to guide the lens and the condenser are.

Ein Ausführungsbeispiel des Erfindungsgegenstandes ist im Schema in der Zeichnung dargestellt, in der das Okular, das Objektiv und der Kondensor mit 1, 2 und 3 beziffert sind. Das Objektiv 2 und der Kondensor 3 werden von Führungskörpern 4 und 5 getragen, die durch nicht dargestellte Blattfedern in Richtung der optischen Achse des Mikroskops bewegbar angeordnet sind. Die Bewegung des Objektivs 2 erfolgt von einem Drehknopf 6 aus, der mit einem Ritzel 7 direkt gekuppelt ist. Zwischen diesem Ritzel 7 und einer an dem Führungskörper 4 befestigten Zahnstange 8 befindet sich zur Übertragung der Bewegung ein Zahnrad 9. Da das vorliegende Mikroskop insbesondere zur Ausmessung von in Emulsionen befindlichen räumlich verlaufenden Kernspuren verwendet werden soll, ist zur Scharfeinstellung des Mikroskops laufend eine entsprechende Verstellung des Objektivs erforderlich. Die Tiefenlage der jeweils beobachteten Stelle der Kernspur innerhalb der Emulsion ist an einer Skala 10 ablesbar. Zur Erzielung einer optimalen Beleuchtung muß auch gleichzeitig der Kondensor in gleicher Richtung wie das Objektiv bewegt werden. Die Größe der Bewegung dieser beiden Teile ist jedoch unterschiedlich. Zur gleichzeitigen Bewegung des Kondensors 3 steht mit dem Ritzel 7 ein weiteres Zahnrad 11 im Eingriff, -welches jede Bewegung des Ritzels auf ein Zahnsegment 12 überträgt. Dieses Zahnsegment befindet sich an dem einen Ende eines zweiarmigen Hebelarmes 13, der auf einem Schneidenlager 14 ruht. Das andere Ende des Hebelarmes 13 steht über eine Stange 15 mit einem auf einem Schneidenlager 16 gelagerten einarmigen Hebel 17 in Verbindung. Dieser Hebel wirkt mit seinem ballig ausgebildeten Ende 18 auf den Führungskörper 5 und verursacht die Hebung und Senkung des Kondensors im entsprechenden Verhältnis zur Objektivbewegung. Zur Justierung und zur Anpassung an auswechselbare Objektive ist es von Vorteil, wenn die Hebellängen undjoder Zahnradübersetzungen veränderbar und/oder das Schneidenlager 16 verschiebbar angeordnet sind.An embodiment of the subject matter of the invention is shown in the scheme in shown in the drawing, in which the eyepiece, the objective and the condenser with 1, 2 and 3 are numbered. The objective 2 and the condenser 3 are guide bodies 4 and 5 carried by leaf springs, not shown, in the direction of the optical Axis of the microscope are arranged to be movable. The movement of the lens 2 takes place from a rotary knob 6 which is directly coupled to a pinion 7. Between this pinion 7 and a rack 8 attached to the guide body 4 is located A gear wheel 9 is used to transmit the movement. As the present microscope in particular used to measure spatial nuclear traces in emulsions is to be, the focus of the microscope is always a corresponding one Adjustment of the lens required. The depth of each observed The location of the core track within the emulsion can be read on a scale 10. To achieve For optimal lighting, the condenser must also be pointing in the same direction at the same time how to move the lens. However, the magnitude of the movement of these two parts is different. For simultaneous movement of the condenser 3 is available with the pinion 7 another gear 11 in mesh, -which any movement of the pinion on Toothed segment 12 transmits. This tooth segment is at one end of a two-armed lever arm 13 which rests on a blade bearing 14. The other end of the lever arm 13 stands over a rod 15 with a knife-edge bearing 16 mounted one-armed lever 17 in connection. This lever has a convex effect formed end 18 on the guide body 5 and causes the lifting and lowering of the condenser in relation to the movement of the lens. For adjustment and to adapt to interchangeable lenses, it is advantageous if the lever lengths undjoder gear ratios changeable and / or the cutting edge bearing 16 displaceable are arranged.

Claims (3)

PATENTANSPRÜCHE: 1. Mikroskop, insbesondere zur Vermessung von Kernspuren, dadurch gekennzeichnet, daß das Objektiv und der Kondensor mit an sich bekannten Mitteln gemeinsam von einem Trieb aus zwecks Fokussierung meßbar so verstellbar sind, daß für jede Stellung des Objektivs eine optimale Beleuchtung gewährleistet ist. PATENT CLAIMS: 1. Microscope, especially for measuring nuclear traces, characterized in that the objective and the condenser are known per se Means together from a drive for the purpose of focusing measurable so adjustable are that optimal lighting is guaranteed for every position of the lens is. 2. Mikroskop nach Artspruch 1, dad'urc'h gekennzeichnet, daß das Maß der Objektivverschiebung im Gesichtsfeld des Mikroskopokulars ablesbar ist. 2. Microscope according to Artspruch 1, dad'urc'h characterized in that the amount of lens shift can be read in the field of view of the microscope eyepiece. 3. Mikroskop nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß zur Führung des Objektivs und des Kondensors Blattfedern angeordnet sind.3. microscope according to claim 2, characterized in that leaf springs are used to guide the lens and the condenser are arranged.
DEJ14487A 1958-03-03 1958-03-03 Microscope, especially for measuring nuclear traces Pending DE1060158B (en)

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