[go: up one dir, main page]

DE1032852B - Verfahren und Einrichtung zur Herstellung von Halbleiterkristallen nach dem Kristallziehverfahren aus der Schmelze - Google Patents

Verfahren und Einrichtung zur Herstellung von Halbleiterkristallen nach dem Kristallziehverfahren aus der Schmelze

Info

Publication number
DE1032852B
DE1032852B DES36464A DES0036464A DE1032852B DE 1032852 B DE1032852 B DE 1032852B DE S36464 A DES36464 A DE S36464A DE S0036464 A DES0036464 A DE S0036464A DE 1032852 B DE1032852 B DE 1032852B
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
vessel
melt
volume
vessels
larger
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
DES36464A
Other languages
English (en)
Inventor
Dr Theodor Rummel
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Siemens and Halske AG
Original Assignee
Siemens and Halske AG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Siemens and Halske AG filed Critical Siemens and Halske AG
Priority to DES36464A priority Critical patent/DE1032852B/de
Publication of DE1032852B publication Critical patent/DE1032852B/de
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C30CRYSTAL GROWTH
    • C30BSINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
    • C30B15/00Single-crystal growth by pulling from a melt, e.g. Czochralski method
    • C30B15/10Crucibles or containers for supporting the melt
    • C30B15/12Double crucible methods
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C30CRYSTAL GROWTH
    • C30BSINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
    • C30B15/00Single-crystal growth by pulling from a melt, e.g. Czochralski method
    • C30B15/30Mechanisms for rotating or moving either the melt or the crystal
    • C30B15/305Stirring of the melt

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)

Description

  • Verfahren und Einrichtung zur Herstellung von Halbleiterkris-tallen nach dem Kristallziehverfahrdn- aus der Schmelze Es ist bekannt, Übergänge zwischen Zonen unterschiedlichen Leitfähigkeitstyps, vorzugsweise entgegengesetzten Leitfähigkeitstyps, beispielsweise p-n-oder n-p-n-tYbergänge od. dgl. durch Ziehen eines Kristalls, vorzugsweise Einkristalls, aus der Schmelze herzustellen, indem während des Ziehens dieSchmeize jeweils mit Zusätzen von Donatoren oder Akzeptoren versehen wird. Nach diesem Verfahren können verhältnismäßig einfache Übergänge von beispielsweise positiv zu negativ leitenden Zollen hergestellt werden. Beim Versetzen der Schmelze mit einem Donator oder Akzeptor wird jedoch die Leitfähigkeit des Halble,iters verändert. Wenn nun mehrere positiv und negativ leitende Schichten hintereinander hergestellt werden sollen, ist es jedesmal notwendig, den bestehenden Leitfähigkeitszustand der Schmelze durch einen entsprechend höheren, -entgegengesetzte Leitfähigkeit verursachenden Zusatz überkompensieren. Dies bewirkt, daß bei jedem Umdotieren der Halbleiterschmelze die Leitfähigkeit in erhöhtem Maße verändert wird.
  • Bei einem Verfahren zur Herstellung eines Halbleiterkörpers, bei dem ein Keinikörper aus der Schmelze gezogen wird während die Dotierung der Schmelze geändert wird, ist es bekannt, geschrnolzenes Halbleitermaterial aus einem Vorratsbehälter, der geheizt wird, nachfließen zu lassen, das geschmolzene Material kann aus dem Ziehgefäß in einen weiteren, über ein Ventil angeschlossenen Behälter abgelassen werden. Eine Zirkulation der Schmelze läßt sich mit einer geeigneten Pumpe von dem zweiten Behälter in den ersten Vorratsbehälter zurück vornehmen, wobei das Halbleitermaterial durch Reinigungskammern geleitet werden kann.
  • Die Erfindung setzt sich die Aufgabe, ein Verfahren zu finden, das beim Einkristallziehen die Herstellung verschieden dotierter Schichten ermöglicht, ohne daß eine dauernde Zunahme der Leitfähigkeit nach zeitlicher Reihenfolge der Schichten eintritt.
  • Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zur Herstellung von Halbleiterkristallen -nach dem Kristallziehverfahren aus der Schmelze mit einem oder mehreren Übergängen zwischen Zonen unterschiedlicher Leitfähigkeit und Leitungstyp, bei dem das geschmolzene Halbleitermaterial auf mindestens zwei miteinander verbundene- unterschiedliches Volumen aufweisende Gefäße anigeteilt ist. Erfindungsgemäß wird dies dadurch erreicht, daß die Dotierung der Schmelze mit Donatoren oder Akzeptoren und das Ziehen des Kristalls in dem das kleine Volumen aufweisenden Gefäß vorgenommen wird.
  • Hierdurch wird der Vorteil erreicht, daß die Gesamtschmelze, die sich in- dem -das große Volumen aufweisenden Gefäß befindet, -verhältnismäßig wenig beeinflußt wird. Durch- geeignete Durchführung - des Verfahrens ist es hierbei möglich, auch symmetrische-Transistoren, beispielsweise Imit'symmetrischell p-n-P.L oder ii-p-n-Übergängen, herzustellen. Das Verfahreft ist besonders dann von Vo#ii#il, *wen n* eine noch größere Anzahl von übergän'g#h z -wischen Zonen unterschiedlicher Leitfähigkeit, Wegebenenfalls unter Ei ' nfügung von eigenleitende'n Bier'eichen hergestellt werden sollen. Insbesondere -können n-p-n-p-Sc ' hichten auf diese Weise n#it großer 'Vollkommenheit ufid Gleichmäßigkeit hergest#Ilt ; 'werden, Gemäß einer besonderen' 'Ausb;ildung des Erfin"-dungsgedankens können dtd*beiden Teilgefäße sowohl bei einem Niederfrequenz'#lhduktion*sofen mit Eisen- . kern als auch bei einem Häffifrequenz-Induktionsofen, ohne Eisenkern auf einfache' Weise hergestellt werden. Es sind aber Mittel' vorzusehen, welche dW Schmelze aus dem Teil96f#iß'mit große m> Volumen# gleichmäßig in das Teilgefäß mit kleinem Volumen überführen, gegebenenfalls --itÜ Umlaufverfahren. Es ist vorgesehen, daß die SeInnelze aus dem das größeW Volumen aufweisende Gefäft, in das >zweite, das kleinere Volumen aufweisen'de-#Gefäß hineingeführt und aus 'dem -zweiten in das - emte Gefäß zurückgeführt' wird,»so daß aus der durchs.U#menden Scflmelze der Kristall gezogen wird. Gemäß einer weiteren Ausbildung wird das Volumen des kleineren Gefäßes so bemessen, daß beim Ziehvorgang praktisch alles sich in dem das kleinere Volumen aufweisenden Gefäß vorhandene Schmelzmaterial verbraucht wird, so daß zwischen den beiden Teilgefäßen nur ein Zufluß vom das größere Volumen aufweisende Gefäß zu dem das kleinere Volumen aufweisende Gefäß besteht, ohne Rücklauf von Halbleitermaterial zu dem das größere Volumen aufweisende Gefäß.
  • Eine weitere Ausführung sieht vor, daß die Schmelze aus mindestens zwei großes Volumen aufweisenden Gefäßen abwechselnd oder gleichzeitig herausgeführt und mit dem das kleinere Volumen aufweisenden Gefäß in Verbindung gebracht wird.
  • In den Fig. 1 bis 4 sind einige Ausführungsformen der Einrichtung zur Verwirklichung des Verfahrens gemäß der Erfindung beispielsweise dargestellt.
  • 1 bedeutet den Querschnitt durch ein Schmelzgefäß, das in bekannter Weise erhitzt wird und das gemäß der Erfindung aus einem großen Volumenteil V, und einem kleinen Teil V, besteht, die miteinander durch zwei Zu- und Abführungskanäle in Verbindung stehen. 2 bedeutet eine Wicklung, die zur Erzeugung eines Magnetfeldes dient, welches eine Durchrührung der Metaltschmelze bzw. Halbleiterschmelze bewirkt, welche sich unter dem Einfluß dieser Rüh#rwirkung in das Volumen T,#, und von dort wieder zurück in das Volumen V, bewegt. Aus dem Gefäßt-eil V2 wird in an sich bekannter Weise ein Kristall 3 in Richtung des Pfeiles 4 gezogen. Der Kristall 3 ist in der Zeichnung in die Zeichenebene geklappt dargestellt, sie müßte an sich ans der Zeichenebene senkrecht herausgeführt erscheinen. Die Dotierung bzw. Umdotierung der im Gefäßteil V2 befindlichen Schmelze mit Donatoren und Akzeptoren geschieht in der an sich üb- lichen Weise durch Zusatz des Donators oder Akzeptors in fest-er oder flüssiger Form. Gegebenenfalls kann man auch eine Dotierung aus der Gasphase vornehmen. Da der größte Teil des mit dem Donalor oder Akzeptor versetzten Metalls der im Volumen V., befindlichen Schmelze beim Kristallziehen verbrauchi wird und nur ein gewisser Rest in den Gefäßteil V, wieder zurückfließt, wird das Gesamtvolumen der Schmelze nicht wesentlich mit den Zusätzen verunreinigt-. so daß die Umdotierung von p- in n- oder n- in p-Leitfähigkeit nur durch geringe Zusätze möglich wird.
  • In Fig. 2 ist eine Ausführungsform im Querschnitt dargestellt, bei der das kleine Volumen V, konzentrisch in dem großen Gefäßteil V, angeordnet ist.
  • In Fig. 3 ist die gleiche Anordnung in Draufsicht dargestellt. 6 und 5 bedeuten Halterungsorgane für den kleineren Gefäßteil V., 7 und 8 sind Schlitze des Gefäßteils V., durch die die Schmelze aus dem Gefäßteil V, in den Gefäßteil V, bzw. durch diesen hindurchströmen kann. Das Hindurchströmen wird gemäß diesem Ausführungsbeispiel mechanisch mittels eines Rührers 9 bewirkt. Die Pfeile 10 und 11 deuten die Strömungsrichtung der Schmelze durch den kleineren Gefäßteil V, an. Damit der Spiegel 12 der Schmelze nicht unter den Boden des kleinen Gefäßteils V2 sinkt, ist vorgesehen, daß dem Gefäßteil V, von Zeit zu Zeit bzw. dauernd Halbleitermaterial in fester oder flüssiger Form nachgeliefert wird.
  • Eine weitere Ausführungsform ist in Fig, 4 beispielsweise dargestellt. Bei dieser Anordnung ist zunächst davon ausgegangen, daß kein Umlauf, sondern eine Zuströmung von Schmelze stattfindet, 19 deutet in Draufsicht den Kristall an, der nach oben-aus der Zeichenebene herausgezogen wird. Es sind in diesem Fall zwei große Vorratsgefäße V, und V4 vorgesehen, die groß gegenüber dem Ziehraum 13 sind. V4 ist mit n-leitendem und V, mit p-leitendem Materiaa vorsehen; beide Gefäße können abwechselnd durch Zuführungsleitungen 15 und 16, welche mit geeigneten Verschlüssen, Hähnen u. dgl. versehen sind, die in der Zeichnung nicht dargestellt sind, abwechselnd an das Ziehgefäß 13 angeschlossen werden. Das Ziehgefäß ist derart bemessen, daß jeweils so viel Schmelze beim Ziehen verbraucht WiTd, wie aus den Gefäßen V, und V4 zuströmt. Die Zuführungen 15 und 16 können entweder von Hand oder durch einen besonderen, in der Zeichnung nicht dargestellten Stenermechanismus automatisch nach vorher eingestelltem Rhythmus betätigt werden.
  • Das Aus:Ciihrungsbeispiel läßt sich ohne Schwierigkeit in ein Umlaufverfahren umwandeln, indem entsprechende Rückläufe 17 und 18 zwischen dem Gefäß 13 und den beiden Vorratsschmelzbehältnissen VS und V4 angeordnet werden.
  • Auch kann beispielsweise noch eine bereits vehrgeschlageneRührvorrichtung vorzugsweise magnetischer Art vorgesehen sein. Der Transport der Schmelze in das kleine, als Ziehraum dienende Teilgefäß kann gegebenenfalls mit denselben, zum RühTen dienen-den Mitteln bewirkt werden.

Claims (2)

  1. PATENTANSPRÜCHE: 1. Verfahren zur Herstellung von Halbleiterkristallen nach dem Kristallziehverfahren aus der Schmelze mit einem oder mehreren Übergängen zwischen Zonen unterschiedlicher Leitfähigkeit und Leitungstyp, bei dem das geschmolzene Halbleitermaterial auf wenigstens zwei miteinander verbundene, unterschiedliches Volumen aufweisende Gefäße aufgeteilt ist, dadurch gekennzeichnet, daß die Dotierung der Schmelze mit Donatoren und/oder Akzeptoren und das Ziehen des Kristalls in dem das kleinere Volumen aufweisenden Gefäß vorgenommen wird.
  2. 2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Schmelze aus dem ersten, das größere Volumen aufweisenden Gefäß in das zweite, das kleinere Volumen aufweisenden Gefäß hineingeführt und aus dein zweiten in das erste Gefäß wieder zurückgeführt wird. 3. Verfahren nach Anspruch 1 und 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Schmelze aus mindestens zwei größere Volumen aufweisenden Gefäßen abwechselnd oder gleichzeitig herausgeführt und mit dem das kleine Volumen aufweisenden Gefäß in# Verbindung gebracht wird. 4. Einrichtung zur Ausübung des Verfahrens nach wenigstens einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß ein oder mehrere größere Volumen aufweisende Gefäße mit dem das kleinere Volumen aufweisenden Gefäß nach Art der kommunizierenden Röhren verbunden sind. 5. Einrichtung nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß die Dotierung der Schmelze durch die Oberfläche aus einem in Gasphase befindlichen Donator oder Akzeptor geschieht. 6. Einrichtung nach einem der Ansprüche 4 und 5, dadurch gekennzeichnet, daß dus zum Ziehen dienende Gefäß kleineren Volumens innerhalb des größeren Gefäßes angeerdnet ist und mit diesem durch geeignete Öffnungen, beispielsweise## einem oder mehreren Schlitzen, in Verbindung steht. 7. Einrichtung nach einem der Ansprüche 4 bis 6, dadurch gekennzeichnet, daß mechanisch und/oder elektromagnetisch wirkende Mittel vorgesehen sind, die Transport und/oder Rühren der Schmelze bewirken. In Betracht gezogene Druckschriften: Deutsche Patentschrif t Nr. 894 293; deutsche Auslegeschrift T 8148 VIIIc/21g (bekanntgemacht am 24. Mai 1956); deutsche Patentanmeldung W 5787 VIII c/21 g (bekanntgemacht am 21. Februar 1952).
DES36464A 1953-11-24 1953-11-24 Verfahren und Einrichtung zur Herstellung von Halbleiterkristallen nach dem Kristallziehverfahren aus der Schmelze Pending DE1032852B (de)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DES36464A DE1032852B (de) 1953-11-24 1953-11-24 Verfahren und Einrichtung zur Herstellung von Halbleiterkristallen nach dem Kristallziehverfahren aus der Schmelze

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DES36464A DE1032852B (de) 1953-11-24 1953-11-24 Verfahren und Einrichtung zur Herstellung von Halbleiterkristallen nach dem Kristallziehverfahren aus der Schmelze

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE1032852B true DE1032852B (de) 1958-06-26

Family

ID=7482226

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DES36464A Pending DE1032852B (de) 1953-11-24 1953-11-24 Verfahren und Einrichtung zur Herstellung von Halbleiterkristallen nach dem Kristallziehverfahren aus der Schmelze

Country Status (1)

Country Link
DE (1) DE1032852B (de)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1108185B (de) * 1958-07-11 1961-06-08 Philips Nv Verfahren zum Herstellen von kristallinen Koerpern durch Ziehen aus einer Schmelze
DE1136671B (de) * 1959-05-05 1962-09-20 Philips Nv Schmelztiegel mit einem Ruehrer zum Aufziehen von kristallinen Staeben aus einer Schmelze
DE1194820B (de) * 1960-03-30 1965-06-16 Telefunken Patent Verfahren zum Ziehen von Einkristallen homogener Stoerstellenkonzentration und Vorrichtung zur Durchfuehrung des Verfahrens
DE1294939B (de) * 1962-12-21 1969-05-14 Siemens Ag Verfahren und Vorrichtung zur Herstellung von aus Halbleitermaterial bestehenden Einkristallen durch Ziehen aus einer Schmelze

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE894293C (de) * 1951-06-29 1953-10-22 Western Electric Co Verfahren zur Herstellung eines Kristalls aus Halbleitermaterial
DE944209C (de) * 1950-06-15 1956-06-07 Western Electric Co Verfahren zur Herstellung von Halbleiterkoerpern

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE944209C (de) * 1950-06-15 1956-06-07 Western Electric Co Verfahren zur Herstellung von Halbleiterkoerpern
DE894293C (de) * 1951-06-29 1953-10-22 Western Electric Co Verfahren zur Herstellung eines Kristalls aus Halbleitermaterial

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
DE T8148 (Bekanntgemacht am 24.05.1956) *

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1108185B (de) * 1958-07-11 1961-06-08 Philips Nv Verfahren zum Herstellen von kristallinen Koerpern durch Ziehen aus einer Schmelze
DE1136671B (de) * 1959-05-05 1962-09-20 Philips Nv Schmelztiegel mit einem Ruehrer zum Aufziehen von kristallinen Staeben aus einer Schmelze
DE1194820B (de) * 1960-03-30 1965-06-16 Telefunken Patent Verfahren zum Ziehen von Einkristallen homogener Stoerstellenkonzentration und Vorrichtung zur Durchfuehrung des Verfahrens
DE1294939B (de) * 1962-12-21 1969-05-14 Siemens Ag Verfahren und Vorrichtung zur Herstellung von aus Halbleitermaterial bestehenden Einkristallen durch Ziehen aus einer Schmelze

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE3124633A1 (de) "halbleitereinrichtung und verfahren zu deren herstellung"
DE2217537A1 (de) Transistor-Transistor-Logikschaltung
DE1032852B (de) Verfahren und Einrichtung zur Herstellung von Halbleiterkristallen nach dem Kristallziehverfahren aus der Schmelze
DE1564218A1 (de) Verfahren zur Herstellung von Transistoren
DE3689393T2 (de) Monolitische Halbleiterübergitterstruktur.
DE2259042A1 (de) Magnetische speicheranordnung
DE2756535C2 (de) Integrierte Halbleiterschaltungsanordnung mit in I↑2↑L-Technik betriebenen Transistoren
DE2007230A1 (de)
DE3406095C2 (de) Steuerschaltungsanordnung für einen Transistor
DE624276C (de) Verfahren und Vorrichtung zum Waschen oder Extrahieren von nicht oder nur teilweise mischbaren Fluessigkeiten im Gegenstrom
EP0119655A2 (de) Schaltungsanordnung zur Pegelanpassung
DE1204712B (de) Verfahren zur Verdrahtung von Speicherkernmatrizen
DE2733675C3 (de)
DE1449426B2 (de) Lesesehaltung für eine magnetische Speichereinrichtung
DE3006176C2 (de) Einrichtung zur Signalpegelverschiebung
DE2102678C3 (de) Einrichtung zum Aufbringen von feinen Teilchen aus einem Aerosol
DE69220575T2 (de) Gestell für Vorrichtungen zur Oberflächenbehandlung mit Bädern sowie Herstellungsverfahren
DE2452077A1 (de) Ansteuer- und stromrueckgewinnungsschaltung fuer impulsmaessig zu betreibende elektromagnete
DE1165083B (de) Magnetkernschalter
DE3021565A1 (de) Flip-flop
DE3336255A1 (de) Vorrichtung zur abscheidung ferromagnetischer partikel aus einer truebe
DE2554743A1 (de) Treiberschaltung fuer wechselnde induktive last
DE1054074B (de) Kontaktkolonne fuer Gase und Fluessigkeiten oder miteinander nicht mischbare Fluessigkeiten
DE332197C (de) Verfahren zur ununterbrochenen Herstellung von Loesungen gleichmaessiger Dichte
DE2139312C3 (de) Temperaturkompensierter ECL-Schalt-kreis