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CN200939436Y - 小型石英晶片谐振参数自动选分装置 - Google Patents

小型石英晶片谐振参数自动选分装置 Download PDF

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CN200939436Y CNU2006201228798U CN200620122879U CN200939436Y CN 200939436 Y CN200939436 Y CN 200939436Y CN U2006201228798 U CNU2006201228798 U CN U2006201228798U CN 200620122879 U CN200620122879 U CN 200620122879U CN 200939436 Y CN200939436 Y CN 200939436Y
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Abstract

本实用新型涉及一种小型石英晶片谐振参数自动选分装置,由轨道、基板、工作台面、送料台、摄像头、测量装置、分料台等部分构成。测量装置包括吸头和测量台。送料台固定在工作台面的一侧,分料台固定在工作台面的另一侧,测量台固定在送料台与分料台之间,轨道固定在与工作台面垂直的基板上,摄像头位于送料台的上方,通过固定架与基板连接。轨道上设有受控的滑块,吸头固定在滑块上,由同一个吸头完成取料、测量、分料的全过程。采用吸头为上电极,测量台为下电极的方式测量石英晶片的谐振参数。本实用新型实现了对小型石英晶片谐振参数的准确测量与分档,定位精度高,测频准确。

Description

小型石英晶片谐振参数自动选分装置
技术领域:
本实用新型涉及一种晶体谐振参数测量装置,特别涉及一种小型石英晶片谐振参数自动选分装置。
背景技术
石英晶体是目前世界上用量最大的压电晶体材料,利用石英晶体本身具有的物理特性制造的电子元件,如石英晶体谐振器、晶体滤波器、晶体振荡器等,具有很高的频率稳定性,作为频率基准或频率源,在数字电路、计算机、通讯等领域得到了广泛应用。石英晶体是制作石英晶体元件的基体,在生产加工过程中需要对晶片的参数,特别是谐振参数,做多次检测和分类,因此,石英晶片谐振参数的自动选分系统成为生产石英晶体产品必不可少的设备。随着电子技术的发展,电子元件的体积逐步微型化,smd封装形式的石英晶体元器件需求量日益加大,制造小型石英晶片已成为必然趋势。
现有的石英晶片频率的选分系统以专利号为ZL00240759.0公开的“石英晶片自动定位测频分选装置”以及专利号为ZL01271098.9公开的“石英晶片频率自动选分装置”为代表,它主要通过料斗和定向送料器以振动的形式送料,将晶片运送至测频装置,测频装置的出料口设有分料装置,通过分料装置的转动将晶片放入相应的料盒中。上述设备使石英晶片谐振参数的检测和选分实现了自动化,并且和日本HUMO公司生产的A-QB-120型转移式静态测频自动分选系统相比,有了较大改进,具有机械结构简单,晶片破损率降低,分选速度快等优点,但存在以下缺陷:
1.由于机械结构和工作模式的限定,只适用于普通体积石英晶片的谐振参数选分,对于小型石英晶片会造成大量的碎片和漏片。
2.晶片定位是靠机械装置实现,无法满足小型晶片精确定位的要求。
发明内容
本实用新型的目的在于提供一种定位精确,测量准确,适合于小型石英晶片的谐振参数自动选分装置。
本实用新型的目的是通过以下技术方案实现的:
一种小型石英晶片谐振参数自动选分装置,包括轨道、基板、工作台面、摄像头、送料台、测量装置、分料台。送料台用于放置晶片。测量装置包括吸头、测量台。分料台上设有分料导孔,在分料导孔下方,设有料盒,与分料孔一一对应。送料台固定在水平位置的工作台面一侧,分料台固定在工作台面另一侧,测量台固定在送料台与分料台之间。轨道固定在与工作台面垂直的基板上,摄像头位于送料台上方,通过固定架与基板相连。轨道上设有滑块,滑块由计算机控制进行水平方向位移,吸头固定在滑块上。其工作原理是:将晶片置于送料台上,摄像头通过图像识别方式检测到待测晶片,通过计算机控制滑块使吸头移动并且定位到待测晶片正上方,吸取后将其移动到测量台上,吸头作为上电极,测量台作为下电极,测量其谐振参数,测量完毕后,根据测量结果将其放入相应档位的分料导孔中,晶片通过分料孔落入相应料盒中,完成一次晶片的选分。
本实用新型与现有技术相比,其显著优点如下:
1.针对小型晶片的特点,摒弃了振动送料形式,采用平板送料方式,晶片损失小,并有效消除了静电的干扰。
2.采用图像识别方式检测,配合小型吸头,保证了定位精度。
3.在同一轨道上使用同一吸头完成取料、测量、分料的全过程,效率高,晶片破损小。
4.结构简单,操作方便。
附图说明
图1是本实用新型的总体结构示意图;
图2是本实用新型测量装置的示意图;
图3是本实用新型分料装置的示意图。
图中:1.轨道  2.吸头  3.滑块  4.送料台  5.摄像头  6.测量台7.固定架  8.石英晶片  9分料台  10.料盒  11.料盒盖板  12分料孔13.工作台面  14.基板。
具体实施方式
如图1.2.3所示,本实用新型由轨道1、基板14、工作台面13、摄像头5、送料台4、测量装置、分料台9构成,测量装置由吸头2、测量台6构成。总体结构参见图1:送料台4固定在水平位置的工作台面13的一侧,分料台9固定在工作台面13的另一侧,测量台6固定在送料台4与分料台9之间,轨道1、固定在与工作台面13垂直的基板14上,摄像头5位于送料台4上方,通过固定架7与基板14相连,轨道1上设有滑块3,可由计算机控制其进行水平方向位移,吸头2固定在滑块3上,送料台4用于放置晶片,摄像头5通过图像识别方式检测到待测晶片,计算机控制滑块使吸头2移动到待测晶片正上方并将其吸取。
测量装置参见图2,由吸头2、测量台6、组成。吸头2吸取晶片后,将晶片移动至测量台6正上方,吸头2作为上电极,测量台6作为下电极,测量晶片8的谐振参数。
分料装置参见图3,分料台9上设有分料导孔12,料盒10与分料导孔12一一对应。测量完毕后,吸头2吸取晶片并移动至分料台9上方,将根据测量结果其放入相应档位的分料导孔12中,晶片通过分料导孔12落入相应料盒10中。

Claims (2)

1、一种小型石英晶片谐振参数自动选分装置,包括轨道(1)、基板(14)、工作台面(13)、送料台(4)、摄像头(5)、测量装置、分料台(9),测量装置包括吸头(2)和测量台(6),其特征在于:送料台(4)固定在工作台面(13)的一侧,分料台(9)固定在工作台面(13)的另一侧,测量台(6)固定在送料台(4)与分料台(9)之间,轨道(1)固定在与工作台面(13)垂直的基板(14)上,摄像头(5)位于送料台(4)的上方,并通过固定架(7)与基板(14)相连,轨道(1)上设有受计算机控制在水平方向移动的滑块(3),吸头(2)固定在滑块(3)上。
2、根据权利要求1所述的小型石英晶片谐振参数自动选分装置,其特征在于:所述的测量装置,以吸头(2)作为上电极,以测量台(6)作为下电极。
CNU2006201228798U 2006-07-28 2006-07-28 小型石英晶片谐振参数自动选分装置 Expired - Fee Related CN200939436Y (zh)

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KR1020070010938A KR100833477B1 (ko) 2006-07-28 2007-02-02 소형 석영칩 공진파라미터 자동 선택 분리장치
JP2007003156U JP3133507U6 (ja) 2006-07-28 2007-05-01 小型水晶ブランク共振周波数自動選別装置。

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102500554A (zh) * 2011-10-12 2012-06-20 浙江大学台州研究院 一种晶片全自动目检机
CN110002176A (zh) * 2018-12-17 2019-07-12 浙江大学台州研究院 一种石英晶片的散播式送料装置

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05341491A (ja) * 1992-06-04 1993-12-24 Asahi Optical Co Ltd マスクフィルムの欠陥検査及び修正装置
KR100745586B1 (ko) * 2001-05-07 2007-08-02 삼성전자주식회사 전지 검사장치
JP2003040433A (ja) * 2001-07-25 2003-02-13 Humo Laboratory Ltd 極薄水晶片測定分類装置

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102500554A (zh) * 2011-10-12 2012-06-20 浙江大学台州研究院 一种晶片全自动目检机
CN110002176A (zh) * 2018-12-17 2019-07-12 浙江大学台州研究院 一种石英晶片的散播式送料装置
CN110002176B (zh) * 2018-12-17 2023-12-22 浙江大学台州研究院 一种石英晶片的散播式送料装置

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