KR100833477B1 - 소형 석영칩 공진파라미터 자동 선택 분리장치 - Google Patents

Abstract

본 발명에 따른 소형 석영칩 공진파라미터 자동 선택 분리장치는 궤도, 기판, 작업대, 투입대, 웹캠(webcam), 측량장치, 분배대 등 부분으로 구성되었다. 상기 측량장치는 흡입두와 측량대를 포함하여 구성되었다. 상기 투입대는 작업대의 한쪽 켠에 고정설치 하였고 상기 분배대는 작업대의 맞은 켠에 고정설치되어 있고, 상기 측량대는 상기 투입대와 상기 분배대 사이에 고정설치되어 있으며 상기 궤도는 상기 작업대와 수직되게 장치되어 있는 기판에 고정설치되어 있다. 웹캠(webcam) 은 상기 투입대의 상부 쪽에 고정대를 사용하여 상기 기판과 연결을 하였다. 상기 궤도에는 컴퓨터로 가동할 수 있는 슬라이딩모듈이 있다. 상기 흡입두는 슬라이딩모듈에 고정설치되어 있어 하나의 흡입두를 상전극으로, 상기 측량대를 하전극의 방식으로 석영칩의 공진파라미터를 측정한다. 본 발명에 따른 모델은 소형 석영칩의 공진파라미터를 정확하게 측량 및 분 등급을 나눌 수 있게 실현하였다. 이 모델은 위치확정 정밀도가 높고 주파수 측정이 정확하다.

소형 석영칩 공진파라미터 자동 선택 분리장치, 궤도, 기판, 작업대, 투입대, 웹캠(webcam), 측량장치, 분배대

Description

소형 석영칩 공진파라미터 자동 선택 분리장치{automatic selection and separation apparatus for resonance parameter of small size quartz chip}

도 1은 본 발명에 따른 장치의 전체적 구조 단면도,

도 2는 본 발명에 따른 측량장치의 단면도,

도 3은 본 발명에 따른 분배장치의 단면도이다.

- 도면의 주요 부분에 관한 부호의 설명 -

1 : 궤도 2 : 흡입두

3 : 슬라이딩모듈 4 : 투입대

5 : 웹캠(webcam) 6 : 측량대

7 : 고정대 8 : 석영칩

9 : 분배대 10 : 분배함

11 : 분배함 커버 12 : 분배홀

13 : 작업대 14 : 기판

본 발명은 일종의 결정체 공진파라미터 측량장치에 관한 것으로서, 특히 일 종의 소형 석영칩 공진파라미터 자동 선택 분리장치에 관한 것이다.

석영결정체는 현재 사용량이 제일 많은 압전결정체재료이다. 석영결정체가 가지고 있는 물리적 성질을 이용하여 제작한 전자부품, 예를 들면 석영결정체공진기, 결정체여과기, 결정체 진동기 등은 아주 높은 주파수 온전성을 가지고 있어 주파수기준이나 주파수원으로 사용되어 디지털전기회로, 컴퓨터, 통신등 분야에서 광범하게 사용되고 있다. 석영결정체는 석영결정체부품을 만드는데에 있어서 기본물질로서 생산가공과정 중 칩에 한 파라미터, 특히는 공진파라미터에 대해 여러 번의 검사와 분류가 필요하다. 그러므로 석영칩의 공진파라미터 자동 선택 분리시스템은 석영결정체 시리즈제품을 만드는데 있어서 없어서는 안 되는 설비이다. 전자기술의 발전에 따라, 전자부품의 체적은 점차적으로 작아지고 있고, SMD 밀봉방식의 석영결정체부품의 수요는 날로 늘어가고 있어, 소형의 석영칩 제품의 제작은 더 이상 미룰수 없는 중요한 과제로 되었다.

현재 사용하고 있는 석영칩의 선택분리시스템은 중국특허 ZL 002407590호에서 공개한 "석영칩 자동위치확정 및 주파수 선택장치"와 중국특허 ZL 01271098.9호에서 공개한 "석영칩 주파수 자동 선택장치"를 대표로 하고 있다. 이것은 주요하게 호퍼와 정향투입기를 사용하여 진동의 방식으로 원료투입을 한다. 즉 칩을 주파수측정장치로 운송하는 것이다. 주파수측정장치의 배출구에는 분배장치가 설치되어 있어 분배장치의 회전운동에 의하여 칩을 각 등급의 분배함에 담는 것이다. 상기 설비의 사용은 석영칩의 공진파라미터의 측정검사와 분리가 자동화생산을 실현하게 하여, 일본 HUMO 회사에서 생산한 A-QB-120 형 전이식 정태 주파수 측정 자동분리 시스템에 비해 많은 진보를 가져왔다. 이 설비는 기계구조가 간단하고, 칩 파손율이 낮으며 분리속도가 빠른 등 장점을 가지고 있다. 그러나 아래와 같은 결점도 존재하고 있다.

1. 기계구조와 작업방법이 한정되어 있으므로 보통체적의 석영칩의 공진파라미터의 분리에만 사용되어 소형의 석영칩에 사용될 때에는 대량의 조각부스러기와 새는 현상이 많이 나타나게 된다.

2. 칩의 위치확정은 주요하게 기계장치를 통하여 실현하므로 소형칩의 위치확정정밀도 요구를 충족시키지 못한다.

본 발명은 위치확정이 정확하고, 측량이 정확하며, 소형의 석영칩의 공진파라미터 자동 선택 분리에 적용할 수 있는 장치를 제공하는데 그 목적이 있다.

본 발명의 목적은 아래의 기술내용을 통하여 실현한다. 상기한 과제를 해결하기 위한 본 발명에 따른 소형 석영칩 공진파라미터 자동 선택 분리장치는 궤도, 기판, 작업대, 웹캠(webcam), 칩을 놓는데 쓰이는 투입대, 측량장치, 분배대를 포함하여 구성된다. 상기 측량장치는 흡입두, 측량대를 포함하여 구성된다. 상기 분배대에는 분배홀이 설치되어 있다. 상기 분배홀의 하부 쪽에는 분배홀과 일일이 대응되게 분배함이 설치되어 있다. 상기 투입대는 수평위치에 있는 상기 작업대의 한쪽 켠에 고정설치되어 있고, 상기 분배대는 상기 작업대의 맞은 켠에 고정설치되어 있다. 상기 측량대는 상기 투입대와 상기 분배대 사이에 고정설치되어 있다. 상기 궤도는 상기 작업대와 수직되어 있는 상기 기판에 고정설치되어 있고, 상기 웹캠(webcam)은 상기 투입대의 상부 쪽에 위치하여 고정대를 통하여 상기 기판과 연결되어 있다. 상기 궤도에는 슬라이딩모듈이 설치되어 있으며 상기 슬라이딩모듈은 컴퓨터로 공제하여 수평방향에서 이동할 수 있다. 상기 흡입두는 상기 슬라이딩모듈에 고정설치되어 있다.

이하 본 발명의 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명하면 다음과 같다.

본 발명에 따른 설비장치는 도 1, 도 2, 도 3에 도시된 바와 같이, 궤도(1), 기판(14), 작업대(13), 웹캠(webcam)(5), 투입대(4), 측량장치, 분배대(9)를 포함하여 구성된다. 상기 측량장치는 흡입두(2), 측량대(6)를 포함하여 구성된다. 전체적 구조는 도 1을 참조하여 보면 된다. 상기 투입대(4)는 수평위치에 있는 상기 작업대(13)의 한쪽 켠에 고정설치되었고, 상기 분배대(9)는 상기 작업대의 맞은 켠에 고정설치되었으며, 상기 측량대(6)는 상기 투입대(4)와 상기 분배대(9) 사이에 고정설치되어 있다.

상기 궤도(1)는 상기 작업대와 수직되어 있는 기판(14)에 고정설치되었고 상기 웹캠(webcam)(5)은 상기 투입대(4)의 상부 쪽에 고정대(7)를 통하여 상기 기판(14)과 연결되었다. 상기 궤도(1)에는 슬라이딩모듈(3)이 설치되어 컴퓨터를 통하여 수평방향에서 위치 이동을 할 수 있다. 흡입대(2)는 상기 슬라이딩모듈(3)에 고정설치되어 있다. 상기 투입대(4)는 칩을 투입하는데 쓰이며 상기 웹캠(webcam)(5)은 영상 식별방식으로 측정하려는 칩을 검사측정하게 된다. 컴퓨터는 상기 슬라이딩모듈을 공제하여 상기 흡입두(2)를 측정하려는 칩의 정상방으로 이동하는 동시에 칩을 흡입하게 된다.

측량장치는 도 2를 참조하여 설명한다. 측량장치는 상기 흡입두(2), 상기 측량대(6)를 포함하여 구성된다. 상기 흡입두(2)는 칩을 흡입한 후, 칩을 상기 측량대(6)의 정상방으로 이송한다. 동시에 상기 흡입두(2)는 상전극으로 상기 측량대(6)는 하전극으로 나뉘어 칩(8)의 공진파라미터를 측정한다.

분배장치는 도 3을 참조하여 설명한다. 상기 분배대(9)에는 분배홀(12)이 설치되어 분배함(10)은 분배홀(12)과 일일이 대응된다. 측량이 끝난 후 상기 흡입두(2)는 칩을 흡입하여 상기 분배대(9)의 상방으로 이송한다. 그 다음 측량결과에 근거하여 칩을 등급에 알맞은 상응한 상기 분배홀(12)에 넣어버린다. 칩은 상기 분배홀(12)을 통하여 상응한 상기 분배함(10)에 떨어지게 된다.

여기서 그 작동원리를 설명하면 아래와 같다.

먼저 칩을 상기 투입대(14)에 투입한다. 상기 웹캠(webcam)(5)은 영상식별방식으로 측정하려고 하는 칩을 측정검사한다. 그 다음 컴퓨터로 상기 슬라이딩모듈을 컨트롤하여 수평방향에서 이동하여 즉 상기 흡입두(2)를 이동하여 측정하려고 하는 칩의 정상방향 쪽으로 흡입두 위치를 확정하게 한다. 상기 흡입두(2)는 측정하려고 하는 칩을 흡입 후 상기 측량대(6)로 이송한다. 이때 상기 흡입두(2)는 상전극이고 상기 측량대는 하전극으로서 상기 칩의 공진파라미터를 측정한다. 측량이 끝난 후에는 측량결과에 근거하여 상기 칩을 상응한 분배홀(12)에 넣는다. 그러면 칩은 분배홀(12)을 통하여 상응한 분배함에 떨어지게 되며 이렇게 한 번의 칩의 선 택분리는 끝마치게 된다.

상기와 같이 구성된 본 발명에 따른 장치는 종래기술과 비교하면 그 현저한 장점은 아래와 같다:

1. 소형칩의 특징에 맞추어 진동식 원료이송방식을 폐기하고 평반식 이송방식을 채용하여 칩 손실이 적어졌으며 정전의 우려가 없다.

2. 영상식별방식의 측정검사방법으로 소형의 흡입두와 배합하여 위치확정의 정확도를 보증하였다.

3. 동일한 궤도상에서 동일한 흡입두로 원료취득, 측량, 분배의 전 과정을 완성하여 효율이 높고 칩 파손이 적어졌다.

4. 구조가 간단하고 조작이 간편하다.

Claims (2)

1. 작업대(13)의 한쪽에 고정설치되어 있는 투입대(4)와, 상기 작업대(13)의 맞은 켠에 고정설치되어 있는 분리대(9)와, 상기 투입대(4)와 상기 분리대(9) 사이에 고정설치되어 있는 측량대(6)와, 상기 작업대(13)와 수직되어 있는 기판(14)과, 상기 기판(14)에 고정설치되어 있는 궤도(1)와, 상기 투입대(4)의 상부 쪽에 위치되어 있으며 고정대(7)를 통하여 상기 기판(14)과 연결되어 있는 웹캠(webcam)(5)과, 상기 궤도(1)에 설치되어 있으며 컴퓨터로 수평방향에서 이동할 수 있게 컨트롤을 할 수 있는 슬라이딩모듈(3)에 고정 설치되어 있는 흡입두(2)와, 상기 흡입두(2)와 상기 측량대(6)를 통 털어 포함하여 구성된 측량장치를 특징으로 하는 소형 석영칩 공진파라미터 자동 선택 분리장치.
2. 제 1항에 있어서,

   상기 측량장치에서 상기 흡입두(2)를 상전극으로, 상기 측량대(6)가 하전극으로 되어 있는 것을 특징으로 하는 소형 석영칩 공진파라미터 자동선택 분리장치.

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