CN1681058A - 接点腐蚀防止方法以及装置 - Google Patents

Abstract

本发明提供可以实现接点的腐蚀防止，并且可以避免利用接点的打开/闭合状态时的错误动作的接点腐蚀防止方法以及装置。如果由于接点(3)的微滑动磨损等而使接触电阻增加，如(b)所示，在t1时刻输入信号线(4)的电位超过规定电位，如(b)所示，比较器(9)的逻辑输出就变到低电平，开关元件(7)被驱动为导通状态，使较大电流的腐蚀防止电流在接点(3)上流过，到t2时刻使接触电阻减少，而使接点(3)恢复。因为规定电位(VX)与阈电平(VT)相比被设定在非判断一侧，所以可以使电位变化不达到阈电平(VT)，可以避免在后一级的电子控制装置(5)上的错误判断。

Description

接点腐蚀防止方法以及装置

技术领域

本发明涉及使大电流流过而破坏开关或连接器等的接点上产生的氧化物覆盖膜，来防止腐蚀的接点腐蚀防止方法以及装置。

背景技术

一直以来，开关或连接器等的接点由导电性良好的金属材料形成，使电气连接时的接触电阻较小。这样的接点在断开不连接时，接触部分的表面有可能被氧化而使接触电阻增加。并且，在导通连接时，在接触部分的周边露出部分的表面也可能被氧化，所形成的氧化物被夹进接触部分，产生使接触电阻增加的微滑动磨损。即使由于接点氧化而使接触电阻增加，如果适当重复接触状态与非接触状态，在接触状态，流过较大的电流，就可以利用电流产生的发热等使氧化物除去，防止接触电阻的增加。

在接点上经常使可以防止腐蚀的大电流流过，对于向电子设备的输入一般是不需要的，大电流的断续可能成为因噪声而产生错误动作的原因。并且，如果在接点上使大电流流过，有可能使接点的电气寿命极度降低，或者接点熔接。为了解决这些问题，一种接点电流控制装置被公开，其检测接点的接触电阻，如果接触电阻达到预定的基准值或基准值以上，就在接点间使大电流流过。(例如参照专利文献1)

一种开关腐蚀防止电路也被公开，其在电子元件等低电流系统中使用大电流用的开关时，开关的接点在导通期间，使脉冲状的腐蚀防止电流流过(例如参照专利文献2)。一种接点信号判别装置也被公开，其利用向电容器的冲放电，而周期地使脉冲状的腐蚀防止电流流过(例如参照专利文献3)。本申请人也公开了一种开关的接点腐蚀防止装置，其在开关的接点从打开状态变化到闭合状态的时刻起，至少在一定的保持时间内使防止腐蚀用的大电流流过，在开关的接点打开的状态时，使被连接在接点上的输入信号线的阻抗降低(例如参照专利文献4)

[专利文献1]日本特开平2-297818号公报

[专利文献2]日本特开平6-96637号公报

[专利文献3]日本特开平7-14463号公报

[专利文献4]日本特开2002-343171号公报

在专利文献1～4所公开的现有技术中，在使腐蚀防止电流流过而进行腐蚀防止动作期间，没有考虑有关使对应接点的打开/闭合状态而动作的后一级不进行错误动作的情况。例如，如果接点变成闭合状态而使大电流的腐蚀防止电流流过，则在接触电阻增加的接点上由于电位下降而产生的电位变大，有可能在后一级错误判断为接点处于打开状态。并且，如果使腐蚀防止电流脉冲状地流过，对周围有可能产生噪声。

发明内容

本发明的目的在于提供一种接点腐蚀防止方法以及装置，其可以实现防止接点腐蚀，并且可以防止利用接点的打开/闭合状态时的错误动作。

本发明的接点腐蚀防止方法的特征在于，将被连接在接点上的信号线的电位与对应接点被腐蚀的规定电位进行比较，

在大小关系上，上述信号线的电位相对于上述规定电位位于一侧时，上述比较结果表示上述接点腐蚀，

在大小关系上，上述信号线的电位相对于上述规定电位位于另一侧时，上述比较结果表示接点没有腐蚀，

在上述比较结果表示接点腐蚀时，就使腐蚀防止电流在接点上流过，

用于判断接点的连接状态的逻辑值的信号被输入到上述信号线上，

在大小关系上，该规定电位相对于用于上述判断的阈电平设定在上述另一侧上。

根据本发明，将被连接在接点上的输入信号线的电位与接点被腐蚀时的规定电位进行比较，在判断为接点腐蚀时，使腐蚀防止电流在接点上流过，从接点上除去氧化物，可以使接触电阻减少而使接点恢复，实现腐蚀防止。进行逻辑判断接点的连接状态的信号被输入到输入信号线上，判断为腐蚀的规定电位与逻辑判断的阈电平相比，在大小关系上设定在上述的另一侧。例如如果接点是低电平侧的开关的，就将规定电位设定比阈电平低而在接地电位一侧。并且，接点如果是高电平侧的开关的，就将规定电位设定比阈电平高而在电源电位一侧。在接点腐蚀没有进行的状态下，在开关的闭合状态，输入信号线的电位，如果是低电平侧的开关的，则位于接地电位与规定电位之间，如果是高电平侧的开关的，则位于电源电位与规定电位之间。如果接点被腐蚀，在开关闭合的状态，输入信号线的电位，如果是低电平侧的开关的，则变得比规定电位高，变到阈电平的接地电位一侧，如果是高电平侧的开关，则变得比规定电位低，变到阈电平的电源电位一侧。可以期望即使在接点上使腐蚀防止电流流过，也可以使输入信号线的电位在不达到逻辑判断的阈电平时，使接触电阻减少，可以避免利用接点的打开/闭合状态时的错误动作。

本发明的接点腐蚀防止装置的特征在于，具有：

信号线，该信号线被连接在接点上，其电位被用于判断接点的连接状态；

电源；

开关，该开关被连接在上述电源和上述信号线之间，如果导通，则经由该开关使电流在信号线上流过；

阻抗元件，该阻抗元件与上述开关被并联地连接在上述电源与上述信号线之间；以及

比较器，该比较器使上述信号线的电位与对应接点被腐蚀的规定电位进行比较，

上述阻抗元件的阻抗比上述开关的阻抗大，

在大小关系上，上述信号线的电位相对于上述规定电位位于一侧时，上述比较器就判断上述接点被腐蚀，使开关导通，

在大小关系上，上述信号线的电位相对于上述规定电位位于另一侧时，上述比较器就判断接点没被腐蚀，

用于判断接点连接状态的逻辑值的信号被输入到上述信号线上

在大小关系上，上述规定电位相对于判断逻辑值的阈电平被设定在上述的另一侧。

根据上述结构，在大小关系上，只在信号线的电位相对于规定电位位于一侧时，比较器判断接点腐蚀，使开关导通。这时，电流经由开关流向接点以及信号线。因此，上述装置可以实现接点的腐蚀防止。并且，即使腐蚀防止电流在接点上流过，也可以期望在输入信号线的电位不达到进行逻辑判断的阈电平时使接触电阻减少，可以避免利用接点的打开/闭合状态时的错误动作。

更进一步地，本发明的接点腐蚀防止方法的特征在于，将被连接在接点上的信号线的电位与对应接点被腐蚀的规定电位进行比较，

上述比较结果表示接点腐蚀时，就使腐蚀防止电流在接点上流过，

在使腐蚀防止电流流过期间，对信号线上产生的电位变动对后一级的影响进行抑制。

根据本发明，将被连接在接点上的输入信号线的电位与接点被腐蚀时的电位进行比较，在判断为接点腐蚀时，就使腐蚀防止电流在接点上流过，从接点上除去氧化物，可以使接触电阻减少而使接点恢复，实现腐蚀防止。因为在使腐蚀防止电流流过期间，抑制输入信号线上产生的电位变动对后一级的影响，所以即使流过腐蚀防止电流，输入信号线的电位变动，也可以对后一级不产生影响，可以避免利用接点的打开/闭合状态时的错误动作。

更进一步地，本发明的接点腐蚀防止方法的特征在于，将被连接在接点上的信号线的电位与对应接点被腐蚀的规定电位相比较，

上述比较结果表示接点腐蚀时，就使腐蚀防止电流在接点上流过，

降低使腐蚀防止电流流过的频率。

根据本发明，将被连接在接点上的输入信号线的电位与接点被腐蚀时的电位进行比较，在判断为接点腐蚀时，就使腐蚀防止电流在接点上流过，从接点上除去氧化物，可以使接触电阻减少而使接点恢复，实现腐蚀防止。因为降低使腐蚀防止电流流过的频率，所以也使与流过腐蚀防止电流的动作相伴随的后一级的错误动作的频率减低，可以避免利用接点的打开/闭合状态时的错误动作。

更进一步地，本发明的接点腐蚀防止方法的特征在于，将被连接在接点上的信号线的电位与对应接点腐蚀的规定电位进行比较，

上述比较结果表示接点腐蚀时，就使腐蚀防止电流在接点上流过，

相对于噪音，使上述信号线的阻抗降低.

根据本发明，将被连接在接点上的输入信号线的电位与接点被腐蚀时的电位进行比较，在判断为接点腐蚀时，就使腐蚀防止电流在接点上流过，从接点上除去氧化物，可以使接触电阻减少而使接点恢复，实现腐蚀防止。因为相对于噪音使输入信号线的阻抗降低，所以使耐噪音性提高，对由噪音产生的信号线的电位变动进行抑制，可以避免利用接点的打开/闭合状态时的错误动作。

附图说明

图1所示为本发明的第1实施方式的接点腐蚀防止装置1的概略电气结构的模块图以及动作的例子的时序图。

图2所示为本发明的第2实施方式的接点腐蚀防止装置11的概略电气结构的模块图以及表示动作的例子的时序图。

图3所示为本发明的第3实施方式的接点腐蚀防止装置21的概略电气结构的模块图。

图4所示为本发明的第4实施方式的接点腐蚀防止装置31的概略电气结构的模块图。

图5所示为本发明的第5实施方式的接点腐蚀防止装置41的概略电气结构的模块图。

图6分别表示所示为图5的输入信号线4的电位变化的例子、对应的比较器9的逻辑判断结果、延迟电路42的逻辑输出的变化的时序图。

图7所示为本发明的第6实施方式的接点腐蚀防止装置51的概略电气结构的模块图。

图8所示为本发明的第7实施方式的接点腐蚀防止装置61的概略电气结构的模块图。

图9所示为本发明的第8实施方式的接点腐蚀防止装置71的概略电气结构的模块图。

图10所示为本发明的第9实施方式的接点腐蚀防止装置81的概略电气结构的模块图。

图11所示为本发明的第10实施方式的接点腐蚀防止装置91的概略电气结构的模块图。

图12分别表示输入信号线4的电位变化的例子、以及利用电流提供部分92可以提供的通电特性曲线例子的时序图。

图13所示为本发明的第11实施方式的接点腐蚀防止装置101的概略电气结构的模块图。

图14所示为图13的输入电路模块102A所包含的腐蚀防止装置102Ax的概略电气结构的模块图。

图15所示为图13的输入电路模块102B所包含的腐蚀防止装置102Bx的概略电气结构的模块图。

图16所示为图13的输入电路模块102C所包含的腐蚀防止装置102Cx的概略电气结构的模块图。

图17所示为本发明的第12实施方式的接点腐蚀防止装置201的概略电气结构的模块图。

图18所示为图16的腐蚀防止装置102Cx的功能的图表。

图19分别表示图18的输入信号线4的电位变化以及阻抗变化的例子的时序图。

图20所示为本发明的第13实施方式的接点腐蚀防止装置221的概略电气结构的模块图。

图21所示为本发明的第14实施方式的接点腐蚀防止装置221的概略电气结构的模块图。

具体实施方式

下面，参照附图对本发明的各实施方式进行说明。在各实施方式中，对于具有与前面说明的部分相对应的功能的部分，使用相同的参考标号，并省略重复的说明，但是，使用相同参考标号的部分不仅限于具有完全相同结构的部分，也当然包含各种变形形态。并且，各实施方式可以将特征部分与其他的实施方式进行组合。

图1所示为本发明第1实施方式的接点腐蚀防止装置1的概略电气结构以及动作的例子。(a)图表示电气结构，接点腐蚀防止装置1具有防止开关2的接点3被腐蚀的功能。接点3经由输入信号线4被连接在后一级的电子控制装置5的输入侧。接点3也可以是连接器等的接点。接点腐蚀防止装置1作为大规模的半导体集成电路(LSI)的一部分被实现。电源6利用从LSI的外部供给的电力生成逻辑电路动作用的电源电位，供给到LSI的内部。逻辑电路动作用的电源电位例如是5V或3.3V。该电源电位将低电平侧接地，并在高电平侧输出。另外，根据开关2或连接器的形式或构造，接点3的数量或构造也不同。无论是那一种，接点3的接触电阻都是相互接触而被电气连接的表面部分间的电阻。

开关2被连接在电源6的低电平侧，如果开关2导通，接点3就被连接在接地电位上。在输入信号线4上，低阻抗部分即开关元件7以及高阻抗部分即电阻8被连接在电源6的高电平侧。开关元件7例如由P沟道MOS晶体管实现，比较器9将输入信号线4的电位与基准电位源10所提供的规定电位VX进行比较。在大小关系上，输入信号线4的电位相对于规定电位VX位于一侧时，比较器9向开关元件7输出驱动信号。另一方面，在大小关系上，输入信号线4的电位相对于规定电位VX位于另一侧时，比较器9就不输出上述驱动信号。具体地说，比较器9判断上述信号线4的电位比规定电位VX高时(即，比较器9判断在大小关系上输入信号线4的电压相对于规定电压VX位于一侧)，比较器9就被向开关元件7的栅极输出驱动信号。规定电位作为接点3被腐蚀时的电位进行设定。比较器9，其反向输入端子被连接在输入信号线4上，非反向输入端子被连接在由基准电位源10所提供的规定电位VX上。基准电位源10例如以利用由电阻10a、10b形成的分压电路对电源电位VB进行分压的方式形成。输入信号线4的电位比规定电位VX低在接地电位一侧的情况下，从比较器9输出高电平(Hi)的逻辑值作为驱动信号，P沟道MOS晶体管的开关元件7变成断开的状态。输入信号线4的电位比规定电位VX高在电源6的高电平侧的情况下，就从比较器9输出低电平(Lo)的逻辑值，P沟道MOS晶体管即开关元件7变成导通的状态。开关2如果断开，则输入信号线4的电位变得比规定电位VX高，开关元件7变成导通的状态。因为开关元件7变成导通的动作，所以输入信号线4的阻抗变成比开关元件7断开动作时低，但是因为开关2断开，所以电流不流过接点3，消耗电力不会增加。

开关元件7在进行导通动作时，是比电阻8的电阻值低的阻抗，并将输入信号线4与电源6的高电平侧进行连接。这时如果开关2导通，则在接点3上使可以除去氧化物的腐蚀防止电流流过。开关元件7在断开时，开关元件7的阻抗变成比电阻8的电阻值高，输入信号线4与电源6的高电平侧之间的阻抗也变高，开关2即使导通，流过接点3的电流也较小，除去氧化物的功能就没有了，但是消耗电力被减少。

(b)图表示输入信号线4的电位变化，(c)图表示比较器9的逻辑输出的变化。如(b)图所示，开关2被连接在低电平侧时，从基准电位源10向比较器9所提供的规定电位VX，与在后一级的电子控制装置5上进行逻辑判断的阈电平VT相比，被设定在接地电位一侧，换言之，在大小关系上，规定电位VX相对于阈电平VT位于上述另一侧。例如，如果到t0时刻开关2是断开状态，则被连接在接点3上的输入信号线4的电位，几乎接近电源电位VB，(c)图表示的比较器9的逻辑输出变成低电平，开关元件7就被驱动导通。如果开关2在t0时刻被导通，则如(b)图所示，输入信号线4的电位降到接地电位附近。因为该电位比规定电位VX低，所以如(c)图所示，比较器9的逻辑输出就变成高电平，开关元件7被驱动断开。从而，输入信号线4的阻抗变成由电阻8的电阻值形成的高阻抗状态，连通开关2的接点3而流过的电流变小。

因接点3的微滑动磨损等，接触电阻增加，如(b)图所示，假设在t1时刻输入信号线4的电位超过规定电位VX的情况，因为如(c)图所示，比较器9的逻辑输出变为低电平，所以开关元件7被驱动为导通的状态，使比较大的腐蚀防止电流经由开关元件7在接点3上流过，而除去氧化物等，到t2时刻，使接触电阻减少，而使接点3恢复。如(b)图所示，在t1时刻与t2时刻之间，因为在接点3上流过比较大的电流，所以输入信号线4的电位进一步上升。但是，因为在大小关系上，规定电位VX相对于阈电平VT，被设定在上述另一侧(即，规定电位VX位于阈电平VT的非判断一侧)，所以可以使电位变化不达到阈电平VT，可以防止在后一级的电子控制装置5等上的错误判断。

图2表示本发明的第2实施方式的接点腐蚀防止装置11的概略电气结构以及动作的例子。(a)图表示电气结构，接点腐蚀防止装置11具有防止开关12的接点13腐蚀的功能。接点13经由输入信号线14被连接在后一级的电子控制装置5的输入侧。接点13也可以是连接器等的接点。接点腐蚀防止装置11作为LSI的一部分被实现。电源6由LSI的外部所供给的电力生成逻辑电路动作用的电源电位，提供到LSI的内部。逻辑电路动作用的电源电位例如是5V或3.3V。该电位将低电平侧接地，并在高电平侧输出。另外，根据开关12或连接器的形式或构造，接点13的数量或构造也不同。无论是那一种，接点13的接触电阻都是相互接触而被电气连接的表面部分间的电阻。

开关12被连接在电源6的高电平侧，如果开关12导通，接点13就被连接在电源电位VB一侧上。在输入信号线14上，低阻抗部分即开关元件17以及高阻抗部分即电阻18被连接在电源6的低电平侧。开关元件17例如由P沟道MOS晶体管实现。比较器9将输入信号线14的电位与由基准电位源20所提供规定电位VX相比较。在大小关系上，输入信号线14的电位相对于规定电位VX位于一侧时，比较器9向开关元件17输出驱动信号。另一方面，在大小关系上，输入信号线14的电位相对于规定电位VX位于另一侧时，比较器9就不输出驱动信号。具体地说，比较起9判断输入信号线14的电位比规定电位VX低时(即，比较器9判断在大小关系上，输入信号线4的电位相对于规定电位VX位于上述一侧)，比较器9就向开关元件17输出驱动信号。比较器9，其反向输入端子被连接在输入信号线14上，非反向输入端子被连接在由基准电位源20所提供的规定电位VX上。基准电位源20例如以利用由电阻20a、20b形成的分压电路，对电源电位VB进行分压的方式形成。输入信号线14的电位比规定电位VX高在电源电位VB一侧的情况下，就从比较器9输出低电平的逻辑值作为驱动信号，N通道MOS晶体管即开关元件17变成断开的状态。输入信号线14的电位比规定电位VX低，在电源6的低电平侧的情况下，就从比较器9输出高电平的逻辑值，N通道MOS晶体管即开关元件17变成导通的状态。开关12如果断开，输入信号线14的电位就变的比规定电位VX低，开关元件17就变成导通的状态。因为开关元件17变成导通的动作，所以输入信号线1 4的阻抗变成比开关元件17断开动作时低，但是因为开关12断开，所以使电流在接点13上不流过，消耗电力不会增加。

开关元件17在进行导通动作时，是比电阻18的电阻值低的阻抗，并将降输入信号线14与电源6的低电平侧的接地之间进行连接。这时如果开关12导通，就在接点13上流过可以除去氧化物的腐蚀防止电流。开关元件17在断开时，开关元件17的阻抗变成比电阻18的电阻值高，输入信号线14与电源6的低电平侧之间的阻抗也变高，开关12即使导通，流过接点13的电流也较小，除去氧化物的功能就没有了，但是消耗电力被减少。

(b)图表示输入信号线14的电位变化，(c)图表示比较器9的逻辑输出的变化。如(b)图所示，开关12被连接在高电平侧时，从基准电位源20向比较器9所提供的规定电位VX，与在后一级的电子控制装置5上进行逻辑判断的阈电平VT相比，被设定在电源电位VB一侧。换言之，在大小关系上，规定电位VX相对于阈电平VT位于上述另一侧。例如，如果到t10时刻开关12是的断开状态，被连接在接点13的输入信号线14的电位，几乎接近接地电位，(c)图表示的比较器9的逻辑输出变成高电平，开关元件17就被驱动导通。如果开关12在t10时刻被导通时，如(b)图所示，输入信号线14的电位就上升到电源电位VB附近。因为该电位比规定电位VX高，所以如(c)图所示，比较器9的逻辑输出就变成低电平，开关元件17被驱动断开。从而，输入信号线14的阻抗变成由电阻18的电阻值形成的高阻抗状态，连通开关12的接点13而流过的电流变小。

因接点13的微滑动磨损等，而使接触电阻增加，如(b)图所示，假设在t11时刻输入信号线14的电位比规定电位VX低的情况，如(c)图所示，比较器9的逻辑输出变到高电平一侧，所以开关元件17被驱动导通，使比较大的腐蚀防止电流经由开关元件17在接点13上流过，而除去氧化物等，到t12时刻，使接触电阻减少，而使接点13恢复。如(b)图所示，在t11时刻与t12时刻之间，因为使比较大的电流在接点13上流过，所以输入信号线14的电位进一步下降。但是，规定电位VX与阈电平VT相比，被设定在非判断一侧，所以可以使电位变化不达到阈电平VT，可以防止在后一级的电子控制装置5等上的错误判断。

图3表示本发明的第3实施方式的接点腐蚀防止装置21的概略电气结构。接点腐蚀防止装置21包含有：模/数(A/D)转换部分22，上述模/数(A/D)转换部分22对被输入到输入信号线4上的信号进行模/字转换；以及处理部分23，上述处理部分23进行作为比较部分而将模/数转换部分22的转换结果与规定电位VX进行比较的动作和将模/数转换部分22的转换结果与阈电平VT进行比较的逻辑判断动作。与输入信号线4变成模/数转换部分22的输入的情况下，没必要分别设置比较部分与逻辑判断部分，有效低利用模/数转换部分22的变换值，可以实现电路规模的小型化。

另外，开关2如图1同样的设置在低电平侧，但是连接如图2同样地设置在高电平侧的开关12时，可以在低电平侧上连接开关元件17以及电阻18，来代替与图1同样的高电平侧的开关元件7以及电阻8。在以下所示的其他实施方式中，无论对低电平侧或者高电平侧的哪一方进行说明，对于另一方也可以是同样的结构。

处理部分23可以作为能变更规定电位VX以及阈电平VT的电平变更部分发挥作用，因为可以变更规定电位VX以及阈电平VT，所以可以根据接点3的种类选择最合适的规定电位VX，并且，可以对应使腐蚀防止电流流过的动作频率或动作状况，机动地变更规定电位VX。例如，开始动作时，为了提高使腐蚀防止电流在接点3上流过的频率，可以在判断侧，例如如果是低电平侧的开关2的接点3就在接地电位一侧，如果是高电平侧的开关12的接点13就在电源电位一侧，分别变更规定电位VX。

并且，图1以及图2的比较器9和图3的处理部分23形成的比较部分最好在规定电位VX上具有滞后作用。作为比较器9可以使用磁滞比较器。在处理部分23中，可以利用程序处理实现比较器的功能。在用于使腐蚀防止电流流过的判断腐蚀的规定电位VX上，如果没有滞后作用，在开关3的接点3在打开/闭合时，对应机械地重复断续的抖动现象，而重复着下述动作，即，因为腐蚀的判断使腐蚀防止电流流过，和因为没有腐蚀的判断，就不使腐蚀防止电流流过。输入信号线4的电位较大地变动，有可能对后一级的处理产生影响。规定电位VX如果具有滞后作用，由于在判断为腐蚀时使腐蚀防止电流流过，来实现接点3的腐蚀防止，即使产生抖动现象，也可以防止使腐蚀防止电流重复流过，避免对后一级的影响。另外，腐蚀的判断，根据模/数转换部分22的转换值而进行，但是当然也可以使用如图1和图2那样的比较器9。即使以下说明的各实施方式，腐蚀的判断即使利用比较器进行比较，当然也可以通过处理电位的模/数转换值进行。

图4所示本发明的第4实施方式的接点腐蚀防止装置31的概略电气结构，在接点腐蚀防止装置31中，作为处理阻止部分的屏蔽部分32被插入在输入信号线4上。如果处理部分33判断为由模/数转换部分22所产生的电位的变换值超过规定电位VX，开关元件7就被驱动为导通的状态而变成低阻抗，更进一步地，在接点3闭合使腐蚀防止电流流过期间，屏蔽部分32阻止对后一级的电子控制装置5等的影响。即，将被连接在接点3上的输入信号线4的电位与接点3被腐蚀时的规定电位VX进行比较，在接点3判断为腐蚀时，使腐蚀防止电流在接点3上流过的接点腐蚀防止方法中，在使腐蚀防止电流流过期间，可以利用屏蔽部分32抑制输入信号线4上产生的电位变动对后一级的影响。将被连接在接点3上的输入信号线4的电位，例如与对应因接点3的腐蚀所产生的接触电阻的增加而预先被设定的规定电位VX相比较，在判断接点3为腐蚀时，就使腐蚀防止电流在接点3上流过，可以从接点3上除去氧化物等，使接触电阻降低而使接点3恢复，实现腐蚀防止。因为在使腐蚀防止电流流过期间，抑制输入信号线4上产生的电位变动对后一级的影响，所以即使流过腐蚀防止电流而使输入信号线4的电位变动，也可以不影响后一级，可以防止在后一级的电子控制装置5等上利用接点3的打开/闭合状态时的错误动作。另外，也可以将滤波器等用作阻止处理部分，来代替屏蔽部分32。

图5所示为本发明的第5实施方式的接点腐蚀防止装置41的概略电气结构。接点腐蚀防止装置41在比较器9的逻辑输出与开关元件7的控制信号电极之间设置延迟电路42。延迟电路42利用比较部分的比较器9导通低阻抗部分的开关元件7，进行控制使输入信号线4变成低阻抗。在使腐蚀防止电流流过的时候，作为在预定的最小时间内使腐蚀防止电流持续流过的电流保持部分而发挥作用。

图6表示图5所示的延迟电路42的动作。(a)图表示被输入到比较器9的输入信号线4的电位的变化，(b)图表示比较器9的逻辑输出，(c)图表示延迟电路42的输出。如(a)所示，从t20时刻到t21时刻，如果比较器9的输入超过规定电位VX，则如图(b)所示，比较器9的输出变成低电平。延迟电路42被以下述方式形成，即，例如具有5μs左右的延迟时间td，并且在该延迟时间td期间内持续为同一逻辑值的情况下，在延迟时间td后就输出该逻辑值。从而，如(c)图所示，从t20时刻经过延迟时间td后，延迟电路42的输出就变成低电平，如虚线所示，作为最小时间tmin，在与延迟时间td相同的时间内持续高电平。如果从t20时刻到t21时刻的时间比延迟时间td长，在从t21时刻经过延迟时间td后的时刻，延迟电路42的输出就变化到高电平。

延迟电路42作为电流保持部分，利用比较器9进行控制，以使开关元件7将输入信号线4变成低阻抗，在腐蚀防止电流流过时，在预定的最小时间tmin内保持持续流过该腐蚀防止电流的状态。如果比较器9判断为腐蚀，而流过腐蚀防止电流，则有可能输入信号线4的电位就变动，产生重复判断为腐蚀那样的腐蚀防止动作的抖动现象。因为利用延迟电路42，在预定的最小时间tmin内保持持续流过腐蚀防止电流的状态，所以可以实现接点3的腐蚀防止，并且可以避免腐蚀防止动作的抖动现象，可以防止在后一级的电子控制装置等中利用接点3的打开/闭合状态时的错误动作。

图5的延迟电路42作为延迟部分发挥作用，该延迟部分对于比较部分的比较器9判断为腐蚀时的低阻抗部分的开关元件7的控制进行延迟，而使腐蚀的判断在持续了预定时间之后进行。因为利用延迟电路42对于利用低阻抗部分使输入信号线4变成低阻抗，而成为可以流过腐蚀防止电流的状态的控制进行延迟，使腐蚀的判断在持续了预定时间之后进行，所以可以避免腐蚀防止动作的过剩反应，而降低动作频率，可以避免利用接点的打开/闭合状态时的错误动作。

图7表示本发明的第6实施方式的接点腐蚀防止装置51的概略电气结构。接点腐蚀防止装置51包含有处理部分53。处理部分53在作为比较部分进行对开关元件7的控制的同时，也作为处理阻止部分而发挥作用，该处理阻止部分控制被连接在输入信号线4的后一级的电子控制装置55等的处理电路。作为阻止处理部分的处理部分53因为在腐蚀防止电流流过期间，固定后一级的处理电路的输出，所以可以不使由腐蚀防止电流产生的一时的输入信号线4电位的变动对后一级的处理电路带来坏的影响。

另外作为处理阻止部分的处理部分53，最好不只在腐蚀防止电流流过期间，而且在其后的预定时间内固定后一级的处理电路的输出。腐蚀防止电流通电终了后，直到输入信号线4的电位稳定的时间内，如果固定处理电路的输出，因为在后一级的处理中不使用逻辑输入，所以可以防止错误动作。

图8表示本发明的第7实施方式的接点腐蚀防止装置61的概略电气结构。接点腐蚀防止装置61包含有处理部分63，作为高阻抗部分包含有多个电阻68a、68b。电阻68a、68b为了方便表示了2个，但是当然也可以是3个或3个以上。处理部分63有选择地驱动开关元件69a、69b，而可以选择多个电阻68a、68b，，处理部分63也可以作为比较部分发挥作用，该比较部分以下述方式进行控制，即，将被连接在输入信号线4上的电位作为由模/数转换部分22所产生的转换值，与接点3被腐蚀时的预定电位VX进行比较，判断接点3是否腐蚀，在判断为腐蚀时，就驱动低阻抗部分的开关元件7导通，使输入信号线4变成低阻抗。

接点腐蚀防止装置61具有低阻抗部分和高阻抗部分以及比较部分，高阻抗部分具有多个将输入信号线4保持在高阻抗的阻抗，可以选择任何一个阻抗。高阻抗部分如图所示如果输入信号线4所连接的接点3是低电平侧的开关，则具有多个上拉用阻抗可以进行选择，如果是图中未表示的高电平侧的开关，则具有多个下拉用阻抗可以进行选择。如果对应接点的状态选择多个阻抗，可以使接点腐蚀防止电路动作时的阻抗变化较小，实现接点的腐蚀防止，并且，可以抑制在腐蚀防止电流流过时的电位变动，避免利用接点的打开/闭合状态时的错误动作。

图9表示本发明的第8实施方式的接点腐蚀防止装置71的概略电气结构。接点腐蚀防止装置71包含有信号缓和部分72。信号缓和部分72缓和从比较部分的比较器9输出的驱动低阻抗部分的开关元件7的信号的变化。开关元件7，由作为比较部分的比较器9在判断为腐蚀时所输出的信号所驱动，使输入信号线7(4)的阻抗变成低阻抗，接点3如果是闭合状态，就使腐蚀防止电流流过，可以实现接点3的腐蚀防止。因为信号缓和部分72使从比较器9输出的驱动开关元件7的信号的变化缓和，所以使在伴随着开关元件7的驱动的低阻抗部分上的阻抗变化量减小，腐蚀防止电流的变化也减小，就可以控制破坏氧化膜时的接点电位变化量，可以避免利用接点3的打开/闭合状态时的错误动作。

开关元件7是MOS晶体管时，栅极/通道之间的输入容量变得比较大，在即使被驱动导通在接点3关闭状态时也不流过腐蚀防止电流的情况下，经由输入容量被输入的驱动信号送进输入信号线4，有可能造成噪声。因为利用信号缓和部分72使驱动信号的变化缓和，所也可以抑制噪声的发生。

图10表示本发明的第9实施方式的接点腐蚀防止装置81的概略电气结构。在接点腐蚀防止装置81中，具有计数器82的处理部分83作为比较部分而发挥作用。计数起82计算输入信号线4的电位超过规定电位VX的次数。如果计数器82的计数值达到规定次数或规定次数以上，处理部分83就进行控制，以控制低阻抗部分的开关元件7而使腐蚀防止电流流过。因为如果计数器82的计数值达到规定次数或规定次数以上，作为比较部分的处理部分83就控制开关元件7导通使腐蚀防止电流可以流过，所以可以避免腐蚀防止动作的过剩反应，可以使动作频率下降，可以避免利用接点3的打开/闭合状态时的错误动作。

并且，计数器82也可以计算在每一预定时间内的次数。因为作为比较部分的处理部分83利用计数器82计算在每一预定时间内的次数，所以在预定时间内腐蚀的判断变多时，就可以判断实际发生了腐蚀，而使腐蚀防止电流流过。

如上所述，是一种接点腐蚀防止方法，其在将被连接在接点3上的输入信号线4的电位与接点3会被腐蚀的规定电位VX相比较，在判断为接点3腐蚀时，在接点3上使腐蚀防止电流流过，通过使流过腐蚀防止电流的频率降低，伴随着流过腐蚀防止电流的动作的后一级的错误动作的频率也降低，可以避免利用接点3的打开/闭合状态时的错误动作。

图11表示本发明的第10实施方式的接点腐蚀防止装置91的概略电气结构。接点腐蚀防止装置91包含有电流提供部分92以及处理部分93。处理部分93将输入信号线4的电位与接点3被腐蚀时的规定电位相比较，来判断接点3是否腐蚀，在判断为腐蚀时，就作为比较部分发挥作用，使低阻抗部分的开关元件7将输入信号线4变成低阻抗。电流提供部分92通过利用处理部分93控制腐蚀防止电流，可以变更通电特性曲线进行提供。

图12表示由电流提供部分92实现的通电特性曲线的例子，(a)图表示输入信号线4上的电位变化，假设在t30时刻电位超过规定电位VX，在t31时刻下降到比规定电位低的情况。(b)图表示电流提供部分92将脉动电流作为腐蚀防止电流进行提供的通电特性曲线。(c)图表示电流提供部分92脉冲状地提供腐蚀防止电流的通电特性曲线。因为电流提供部分92可以变更通电特性曲线进行提供，所以，可以对应接点3的种类选择通电特性曲线，或者在不能恢复接点3时也可以切换不同的通电特性曲线，可以实现可靠的腐蚀防止。通过可靠地实现接点的腐蚀防止，使流过腐蚀防止电流的频率降低，可以避免利用接点3的打开/闭合状态时的错误动作。

电流提供部分92将腐蚀防止电流作为平滑地变化的脉动电流进行提供时，可以实现腐蚀防止动作的低噪声化。由腐蚀防止动作时的低噪声化，可以避免利用接点的打开/闭合状态时的错误动作。在电流提供部分92还包含有脉冲状地提供腐蚀防止电流的电流提供部分的情况下，在被判断为接点腐蚀时可靠地实现接点的恢复，使腐蚀防止动作的频率降低，可以避免利用接点的打开/闭合状态时的错误动作。

图13表示本发明的第11实施方式的接点腐蚀防止装置101的概略电气结构。接点腐蚀防止装置101作为具有选择多个输入信号的功能的LSI被形成。即，具有含多条通道的输入电路模块102，利用多路转换器103选择来自于输入电路模块102中的多条通道的输出，利用比较器104进行逻辑判断，输出判断结果。输入电路模块102具有电路结构不同的输入电路模块A102A、输入电路模块B102B以及输入电路模块C102C。多路转换器103具有选择输入电路模块A102A通道的MPX103A、选择输入电路模块B102B通道的MPX103B、以及选择输入电路模块C102C通道的MPX103C。分别由MPX103A、103B、103C选择的输入，利用比较器104内的比较器104A、104B、104C分别作为逻辑值进行判断。对应来自于译码器105的输出，进行利用多路转换器103的通道选择。

正的电源电位VB从电源106被提供到输入电路模块102中，+5V的逻辑电路用的电源电位VOM5从电源106被提供到比较器104中。靠近电源106设置过热检测部分107以及异常判断部分108。过热检测部分107的检测结果以及异常判断部分108的判断结果被送到处理部分109，作为保护动作，进行包含向外部端子110输出异常信号的动作。

输入电路模块A102A的多条输入通道分别被连接在输入端子111、112、113、…上。输入电路模块B102B的多条输入通道分别被连接在输入端子121、122、123、…上。输入电路模块C102C的多条输入通道分别被连接在输入端子131、132、133、…上。

图14表示输入电路模块102A的一个通道的接点腐蚀防止装置102Ax的概略电气结构。假设连接输入信号线4所连接的的输入端子11x连接在电源低电平侧的接点上进行使用。输入信号线4最后被连接在比较器104A上，利用其电位判断开关或连接器等的导通与断开。在输入信号线4上插入衰减电路140。二极管8d被串联地连接在高阻抗部分的电阻8上，阻止方向的电流。比较部分即比较器9的输出经由延迟电路42以及门电路141被提供开关元件7。开关元件7由P沟道MOS晶体管实现时，二极管7d被连接在漏极与输入信号线4之间，阻止反向电流。二极管7e被连接在P沟道MOS晶体管的反向栅极与电源电位VB之间。来自于图13的处理部分109的过热检测信号被提供门电路141的一个输入。过热检测信号，如果没有检测出过热状态就是低电平，如果检测为过热状态就变成高电平，禁止开关元件7导通。门电路141与OR电路是等同的。

图15表示输入电路模块102B的一个通道的接点腐蚀防止装置102Bx的概略电气结构。假设连接输入信号线14所连接的的输入端子12x连接在电源高电平侧的接点上进行使用。输入信号线14最后被连接在比较器104B上，利用其电位判断开关或连接器等的导通与断开。作为低阻抗部分的开关元件17由N沟道MOS晶体管实现，与高阻抗部分的电阻18一起被连接在输入信号线4与接地之间，二极管17d被串联地连接在开关元件17的N沟道MOS晶体管的漏极与信号线14之间，阻止方向的电流。比较部分即比较器9的输出经由延迟电路42以及门电路142被提供开关元17。来自于图13的处理部分109的过热检测信号被提供门电路142的一个输入。过热检测信号，如果没有检测出过热状态就是低电平，如果检测为过热状态就变成高电平，禁止开关元件17导通。

图16表示输入电路模块102C的一个通道的接点腐蚀防止装置102Cx的概略电气结构。假设输入信号线14所连接的的输入端子13x不仅连接在电源的低电平侧而且连接在电源高电平侧的接点上进行使用。输入信号线4最后被连接在比较器104C上，利用其电位判断开关或连接器等的导通与断开。比较器9的逻辑输出经由NAND电路151被提供开关元件7，上述NAND电路151的一个输入被延迟电路42的输出所提供。NAND电路151的另一个输入被AND电路152的输出所提供。比较器9的逻辑输出经由NOR电路153被提供开关元件17，上述NOR电路153的一个输入被延迟电路42的输出所提供。NOR电路153的另一个输入被OR电路1 54的输出所提供。门电路155的输出和SEL1的输入被送到AND电路152中。利用反相器156将门电路155的输出进行逻辑反转后的信号和利用反相器157将SEL2的输入进行逻辑反转后的信号被送到OR电路154中。SEL3的输入信号和过热检测信号被送到门电路155中。

SEL1的输入如果变成高电平，开关158就导通，电阻8就作为高阻抗部分被连接在输入信号线4和电源电位VB之间。SEL2的输入如果变成高电平，开关159就导通，电阻18就作为高阻抗部分被连接在输入信号线4和接地之间。SEL2以及SEL1如果都变成高电平，就分别导通基准电位源160的开关161、162。由此，切换由电阻163、164、165形成分压电路，可以使比较器9的规定电位发生变化。

图17表示由图16的3个选择信号SEL1、SEL2、SEL3进行的输入电路模块102C上的功能选择状态。如果使SEL1位于高电平，与输入电路模块102A同样，可以将开关连接在低电平侧。如果使SEL2为高电平，与输入电路模块102B同样，可以将开关连接在高电平侧。如果使SEL3为高电平，就可以具有防止接点腐蚀的功能。

如上所述，在腐蚀防止装置101中，在多个接点的每个接点上具有输入信号线4、14所连接的通道。过热检测部分107在任何一条通道的输入信号线4上流过腐蚀防止电流期间，检测是否达到预定的过热状态。在腐蚀防止电流不流过时，几乎没有发热，所以不会变成过热状态。处理部分109响应过热检测部分107的检测结果，在利用过热检测部分107检测为过热状态时，就作为禁止动作部分发挥作用，该动作禁止部分进行控制，以禁止流过腐蚀防止电流的通道的低阻抗部分的开关元件7、17流过腐蚀防止电流的动作。控制部分109具有检测腐蚀防止电流是否在每个通道上流过的功能、和使过热检测信号只在腐蚀防止电流流过的通道中位于高电平的功能。在如腐蚀防止电流持续流过那样的异常动作时，使该腐蚀防止电流不流过，进行用于减少发热的保护动作。并且对于其他接点可以避免腐蚀防止功能无效。

并且异常判断部分108监视从电源106流向各输入信号线4、14的腐蚀防止电流，在多条输入信号线4、14上流过腐蚀防止电流的期间中的至少一部分重叠时判定为异常。并且，监视开关元件7、17的驱动信号，如果激活开关元件7、17的驱动信号重叠就可以判断为异常。因为腐蚀防止电流的通电频率低，所以本不应该在多个接点上频繁地重复流过腐蚀防止电流。接点异常时，对于多个接点的腐蚀防止动作被分别独立进行，有可能在时间上重叠。异常判断部分监视流向各输入信号线上的腐蚀防止电流，在多条输入信号线上，流过腐蚀防止电流的期间或者能流过的期间内的至少一部分重叠时判定为异常，所以可以容易地进行接点异常的判断。

图18表示本发明的第12实施方式的接点腐蚀防止装置201的概略电气结构。接点腐蚀防止装置201还包含有噪声检测部分202以及开关元件207。噪声检测部分202检测输入信号线4的噪声。在噪声检测部分202检测出噪声时，开关元件207就作为阻抗降低部分发挥作用，该阻抗降低部分利用低阻抗部分即开关207使被控制为低阻抗的输入信号线4的阻抗进一步降低。因为在噪声检测部分202检测出噪声时，作为阻抗降低部分的开关元件207使输入信号线4的阻抗进一步降低，所以可以使耐噪声性提高，抑制由噪声而产生的输入信号线的电位变动，可以避免利用接点的打开/闭合状态时的错误动作。因为噪声检测部分202如果没有检测出噪声，由开关元件207产生的输入信号线4的阻抗下降的现象就不发生，所以可以避免经常使阻抗下降。如果经常使阻抗下降，腐蚀防止电流就增加，就有可能导致接点或后一级的处理电路的可靠性降低。检测噪声，可以只在必须使阻抗降低的状态下，使输入信号线4的阻抗比由低阻抗部分的激活时使阻抗降低的程度，更进一步地降低。

图19表示开关2在断开状态的输入信号线4的电位变化与阻抗变化的关系的例子。(a)表示电位变化，(b)表示阻抗变化。因为在开关断开的状态下，开关元件7导通，所以输入信号线4的阻抗变成低阻抗的状态。因为开关2的接点是打开状态，所以输入信号线的电位比阈电平VT高，在电源电位VB附近。如果噪声在信号线上重叠，则使电位降低，在t40时刻，如果比噪声检测部分202的基准电平VN低，则开关元件207也导通，使输入信号线4的阻抗进一步降低。即，输入信号线4的电位从比基准电平VN低的t40时刻到t41时刻之间，以及从t42时刻到t43时刻之间，分别使输入信号线4的阻抗降低。

另外，如图19(a)所示，噪声检测部分202，根据在大小关系上相对于阈电平VT被设定在上述一方的基准电平VN，判断噪声检测的有无。换言之，基准电平VN被设定，而使阈电平VT夹在基准电平VN与规定电位VX之间。如图所示，接点3如果由低电平侧的开关2连接，开关2在闭合状态下判断腐蚀的规定电位VX被设定在接地电位一侧，开关2在打开状态下检测噪声水平的基准电平设定在电源电位VB一侧，可以检测出由于噪声输入信号线4的电位比基准电平VN低。

图20表示本发明的第13实施方式的接点腐蚀防止装置211的概略电气结构。接点腐蚀防止装置211还包含有作为高频率低阻抗元件的电容器212。电容器212被连接在输入信号线4上。被输入到输入信号线4的信号是高频率时，与由使开关元件7导通而获得的阻抗降低相比，电容器212可以使输入信号线4的阻抗进一步降低。如果接点3被腐蚀，则输入信号线4的电位超过规定电位VX，比较器9控制开关元件7，以使腐蚀防止电流流过，如果使腐蚀防止电流流过，则可以防止接点3的腐蚀的进行，实现从腐蚀状态的恢复。被输入到输入信号线4的信号是高频率时，作为高频率低阻抗元件的电容器212与由低阻抗部分即开关元件7被导通而降低阻抗相比，可以使输入线号线4的阻抗进一步降低。为此，即使在输入信号线4上混入高频率噪声，也不会使电位变高，使耐噪声性提高，以不受噪声的影响，可以防止利用接点3的打开/闭合状态时的错误动作。

图21表示本发明的第14实施方式的接点腐蚀防止装置221的概略电气结构。接点腐蚀防止装置221还包含有开关元件207以及噪声检测部分222。噪声检测部分222作为障碍检测部分而发挥作用，该障碍检测部分223被输入来自于外部的RF检测部分223的RF检测信号，检测电磁波障碍。在噪声检测部分222检测出电磁波障碍时，开关元件207作为阻抗降低部分而发挥作用，该阻抗降低部分使由低阻抗部分即开关元件7的激活而降低了的输入信号线4的阻抗进一步降低。因为如果噪声检测部分222没有检测出电磁波障碍，由开关元件207形成的阻抗降低就不发生，所以可以避免经常使阻抗降低。

如上所述，是一种接点腐蚀防止方法，其将被连接在接点上的输入信号线4的电位与接点3被腐蚀时的规定电位VX相比较，判断为接点3腐蚀时，使腐蚀防止电流在接点3上流过的接点腐蚀防止方法，因为相对于噪声使输入信号线4的阻抗降低，所以使耐噪声性提高，抑制由噪声产生的输入信号线4的电位变动，可以避免利用接点3的打开/关闭状态时的错误动作。

Claims (25)

1.一种接点腐蚀防止方法，其特征在于，将被连接在接点上的信号线的电位与对应接点被腐蚀的规定电位进行比较，

在大小关系上，上述信号线的电位相对于上述规定电位位于一侧时，上述比较结果表示上述接点腐蚀，

在大小关系上，上述信号线的电位相对于上述规定电位位于另一侧时，上述比较结果表示接点没有腐蚀，

在上述比较结果表示接点腐蚀时，就使腐蚀防止电流在接点上流过，

用于判断接点的连接状态的逻辑值的信号被输入到上述信号线上，

在大小关系上，该规定电位相对于用于上述判断的阈电平设定在上述另一侧上。

2.一种接点腐蚀防止方法，其特征在于，将被连接在接点上的信号线的电位与对应接点被腐蚀的规定电位进行比较，

上述比较结果表示接点腐蚀时，就使腐蚀防止电流在接点上流过，

在使腐蚀防止电流流过期间，抑制信号线上产生的电位变动对后一级的影响。

3.一种接点腐蚀防止方法，其特征在于，将被连接在接点上的信号线的电位与对应接点被腐蚀的规定电位相比较，

上述比较结果表示接点腐蚀时，就使腐蚀防止电流在接点上流过，

降低使腐蚀防止电流流过的频率。

4.一种接点腐蚀防止方法，其特征在于，将被连接在接点上的信号线的电位与对应接点被腐蚀的规定电位相比较，

上述比较结果表示接点腐蚀时，就使腐蚀防止电流在接点上流过，

使上述信号线的阻抗相对于噪音下降.

5.一种接点腐蚀防止装置，其特征在于，具有：

信号线，该信号线被连接在接点上，其电位被用于判断接点的连接状态；

电源；

开关，该开关被连接在上述电源和上述信号线之间，如果导通，则经由该开关使电流在信号线上流过；

阻抗元件，该阻抗元件与上述开关被并联地连接在上述电源与上述信号线之间；以及

比较器，该比较器对上述信号线的电位与对应接点被腐蚀的规定电位进行比较，

上述阻抗元件的阻抗比上述开关的阻抗大，

在大小关系上，上述信号线的电位相对于上述规定电位位于一侧时，上述比较器就判断上述接点被腐蚀，使开关导通，

在大小关系上，上述信号线的电位相对于上述规定电位位于另一侧时，上述比较器就判断接点没被腐蚀，

用于判断接点连接状态的逻辑值的信号被输入到上述信号线上

在大小关系上，上述规定电位相对于判断逻辑值的阈电平被设定在上述的另一侧。

6.根据权利要求5所述的接点腐蚀防止装置，其特征在于，还具有被连接在上述信号线上的电子设备，

根据上述阈电平，该电子设备判断上述接点的连接状态的逻辑值。

7.根据权利要求5或者6的任何一项所述的接点腐蚀防止装置，其特征在于，还具有模/数转换部分，该模/数转换部分将被输入到上述信号线上的上述信号转换成数字值，

上述比较器将上述数字值用作上述信号线的电位，并将上述数字值与上述阈电平相比较，来判断上述接点的连接状态的逻辑值。

8.根据权利要求5至7的任何一项所述的接点腐蚀防止装置，其特征在于，还具有可以变更上述规定电位以及上述阈电平的电平变更部分。

9.根据权利要求5至8的任何一项所述的接点腐蚀防止装置，其特征在于，上述比较器在上述规定电位上具有滞后现象。

10.根据权利要求5所述的接点腐蚀防止装置，其特征在于，还包含有电流保持部分，该电流保持部分从上述比较器使上述开关导通，电流经由上述开关以及上述阻抗元件流向上述信号线的时刻起，在预定的最小时间内，保持使该电流持续流过的状态。

11.一种接点腐蚀防止装置，其特征在于，还包含有处理阻止部分，该处理阻止部分被插入上述信号线上，在上述比较器使上述开关导通，并经由上述开关以及上述阻抗元件使电流在上述信号线上流过时，阻止在经由上述信号线的后一级上的信号处理。

12.根据权利要求11所述的接点腐蚀防止装置，其特征在于，在上述处理阻止部分的后一级上，处理电路被连接在信号线上，

上述处理阻止部分在电流经由上述开关以及上述阻抗元件，在上述信号线上流过期间，固定后一级的处理电路的输出。

13.根据权利要求12所述的接点腐蚀防止装置，其特征在于，终止使电流经由上述开关流过后，在预定时间内，上述处理阻止部分固定上述后一级的处理电路的输出

14.根据权利要求5所述的接点腐蚀防止装置，其特征在于，上述阻抗元件具有多个阻抗元件，

该多个阻抗元件比上述开关的阻抗高，

可以选择任何一个或者多个阻抗元件。

15.根据权利要求5所述的接点腐蚀防止装置，其特征在于，还具有信号缓和部分，

上述比较器判断上述接点腐蚀时，上述比较器向上述开关输出驱动信号，使上述开关导通，

上述比较器输出驱动信号时，上述信号缓和部分使上述驱动信号缓和，

16.根据权利要求5所述的接点腐蚀防止装置，其特征在于，还具有延迟部分，

上述比较器判断上述接点腐蚀时，上述比较器在上述开关上将驱动信号输出到上述延迟部分，

上述比较器输出驱动信号时，上述比较器判断上述接点腐蚀持续规定的时间后，上述延迟部分向上述开关输送上述驱动信号。

17.根据权利要求5所述的接点腐蚀防止装置，其特征在于，上述比较器具有计数器，该计数器计算上述信号线的电位相对于上述规定电位从一侧变化到另一侧的次数，

如果计数器的计数值达到规定的次数，上述比较器就使上述开关导通。

18.根据权利要求17所述的接点腐蚀防止装置，其特征在于，上述比较器利用上述计数器计算每一预定时间内的上述次数。

19.根据权利要求5所述的接点腐蚀防止装置，其特征在于，还具有经由上述开关和上述阻抗元件，向上述信号线供给平滑变化的脉动电流作为上述电流的电流提供部分。

20.根据权利要求5所述的接点腐蚀防止装置，其特征在于，还具有经由上述开关和上述阻抗元件，向上述信号线脉冲状地提供上述电流的电流提供部分。

21.根据权利要求5所述的接点腐蚀防止装置，其特征在于，还具有变更通电特性曲线而提供腐蚀防止电流的电流提供部分。

22.根据权利要求5所述的接点腐蚀防止装置，其特征在于，还具有：

检测上述信号线的噪声的检测部分；

阻抗降低部分，该阻抗降低部分在上述噪声检测部分检测出噪声时，使上述信号线的阻抗降低。

23.根据权利要求22所述的接点腐蚀防止装置，其特征在于，上述噪声检测部分根据相对于上述规定电位被设定在上述另一侧的基准电平，判断噪声检测的有无。

24.根据权利要求5所述的接点腐蚀防止装置，其特征在于，还具有被连接在上述信号线上的高频率低阻抗元件，

被输入到上述信号线的信号是高频率时，上述高频率低阻抗元件使上述信号线的阻抗降低。

25.根据权利要求5所述的接点腐蚀防止装置，其特征在于，还具有：

检测电磁波障碍的障碍检测部分；

阻抗降低部分，该阻抗降低部分在障碍检测部分检测出电磁波障碍时，使上述信号线的阻抗降低。

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