CN116243509B - 一种显示面板及其混料检出方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种显示面板及其混料检出方法,显示面板包括N个第一测试垫、N组第一主线单元和N条第一支线;一组第一主线单元包括至少一条第一主线;一条第一支线分别与一个第一测试垫以及一组第一主线单元中的所有第一主线电连接;N为大于或等于3的整数;沿显示面板的厚度方向,各第一主线互不交叠,各第一支线互不交叠;N个第一测试垫沿第一方向并排设置,第一主线的至少部分沿第一方向并排设置;沿第一方向,各第一主线单元中的第一主线对应的目标接收信号的排列顺序为第一顺序,各第一测试垫对应的目标接收信号的排列顺序为第二顺序,第一顺序与第二顺序不同。该技术方案可以解决外观相同而显示特性存在微小差异的显示面板的混料问题。
Description
技术领域
本发明涉及显示技术领域,尤其涉及一种显示面板及其混料检出方法。
背景技术
显示产品中,例如液晶显示屏(Liquid Crystal Display,LCD),常常会出现客户同时具有数款外形尺寸相同,而显示特性存在微小差异的产品的生产需求,如此,在大批量产品的生产过程中,容易出现外观相同的不同产品混在一起的情况,导致需要花费大量的人力物力进行产品的返工,还会影响客户的正常使用。因此,如何在产品出货前及时避免外观相同的不同产品混料成为亟待解决的问题。
发明内容
本发明提供了一种显示面板及其混料检出方法,以解决外观相同而显示特性存在差异的显示面板的混料问题。
一方面,本发明提供了一种显示面板,包括:N个第一测试垫、N组第一主线单元和N条第一支线;
一组第一主线单元包括至少一条第一主线;一条第一支线分别与一个第一测试垫以及一组第一主线单元中的所有第一主线电连接;N为大于或等于3的整数;
沿显示面板的厚度方向,各第一主线互不交叠,各第一支线互不交叠;
N个第一测试垫沿第一方向并排设置,第一主线的至少部分沿第一方向并排设置;沿第一方向,各第一主线单元中的第一主线对应的目标接收信号的排列顺序为第一顺序,各第一测试垫对应的目标接收信号的排列顺序为第二顺序,第一顺序与第二顺序不同。
另一方面,基于同一发明构思,本发明还提供了一种显示面板的混料检出方法,包括:
通过目标测试装置对待检面板进行VT测试;
获取待检面板的测试画面;
若测试画面与VT测试对应的目标画面相同,则确定待检面板为目标面板,否则判定待检面板为混杂面板;
其中,显示面板包括N个第一测试垫、N组第一主线单元和N条第一支线;一组第一主线单元包括至少一条第一主线;一条第一支线分别与一个第一测试垫以及一组第一主线单元中的所有第一主线电连接;N为大于或等于3的整数;
沿显示面板的厚度方向,各第一主线互不交叠,各第一支线互不交叠;
N个第一测试垫沿第一方向并排设置,第一主线的至少部分沿第一方向并排设置;沿第一方向,各第一主线单元中的第一主线对应的目标接收信号的排列顺序为第一顺序,各第一测试垫对应的目标接收信号的排列顺序为第二顺序;
目标面板和混杂面板中的一者满足第一顺序与第二顺序相同,另一者满足第一顺序与第二顺序不同。
本发明实施例提供的显示面板,通过设置N个第一测试垫沿第一方向并排设置,第一主线的至少部分沿第一方向并排设置,各第一主线在显示面板的厚度方向上互不交叠,且沿第一方向,各第一主线单元中的第一主线对应的目标接收信号的排列顺序(第一顺序)与各第一测试垫对应的目标接收信号的排列顺序(第二顺序)不同,如此,对于容易发生混料的多种产品,可以通过调整布线的方式调整其中一类产品的至少部分测试焊盘(即第一测试垫)与第一主线/第一主线单元的对应关系,如此,只要不是利用该类产品对应的测试装置对该显示面板进行VT测试,便会出现明显的显示异常(例如无法显示、显示颜色与目标颜色不一致等)情况,从而可以避免外观相同而显示特性存在微小差异的产品混在一起,在产品出厂前检出混料,避免混料带来的不良后果。
应当理解,本部分所描述的内容并非旨在标识本发明的实施例的关键或重要特征,也不用于限制本发明的范围。本发明的其它特征将通过以下的说明书而变得容易理解。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案,下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本发明实施例提供的一种显示面板的结构示意图;
图2是图1所示显示面板的F3区域的另一种结构示意图;
图3是图1所示显示面板的F3区域的另一种结构示意图;
图4是图1所示显示面板的F3区域的另一种结构示意图;
图5是本发明实施例提供的另一种显示面板的结构示意图;
图6是图5所示显示面板的F4区域的另一种结构示意图;
图7是图5所示显示面板的F4区域的另一种结构示意图;
图8是图5所示显示面板的F4区域的另一种结构示意图;
图9是图5所示显示面板的F4区域的另一种结构示意图;
图10是本发明实施例提供的一种显示面板的混料检出方法的流程示意图。
具体实施方式
为了使本技术领域的人员更好地理解本发明方案,下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分的实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都应当属于本发明保护的范围。
首先需要说明的是,除非另外定义,本发明使用的技术用语或者科学术语应当为本发明所属领域内具有一般技能的人士所理解的通常意义。本发明中使用的“第一”、“第二”以及类似的词语并不表示任何顺序、数量或者重要性,而只是用来区分不同的组成部分。“包括”或者“包含”等类似的词语意指出现该词前面的元件或者物件涵盖出现在该词后面列举的元件或者物件及其等同,而不排除其他元件或者物件。“连接”或者“相连”等类似的词语并非限定于物理的或者机械的连接,而是可以包括电性的连接,不管是直接的还是间接的。“上”、“下”、“左”和“又”等仅用于表示相对位置关系,当被描述对象的绝对位置改变后,则该相对位置关系也可能相应地改变。另外,附图中各部件的形状和大小不反应真实比例,目的只是示意说明本发明内容。
示例性的,图1是本发明实施例提供的一种显示面板的结构示意图,如图1所示,本发明实施例提供的显示面板100包括N个第一测试垫Q(如Q1~Q4,英文字母后面的数字仅代表编号下同)、N组第一主线单元V(如V1~V4)和N条第一支线Y;一组第一主线单元V包括至少一条第一主线T;一条第一支线Y分别与一个第一测试垫Q以及一组第一主线单元V中的所有第一主线T电连接;N为大于或等于3的整数(图1以N=4为例进行示意);沿显示面板的厚度方向,各第一主线T互不交叠,各第一支线Y互不交叠;N个第一测试垫Q沿第一方向并排设置,第一主线T的至少部分沿第一方向并排设置;沿第一方向,各第一主线单元V中的第一主线T对应的目标接收信号的排列顺序为第一顺序,各第一测试垫Q对应的目标接收信号的排列顺序为第二顺序,第一顺序与第二顺序不同。
具体的,如图1所示,显示面板100包括显示区AA和非显示区NA,为了清楚展示非显示区的结构布局,图1中非显示区NA的尺寸较大,实际产品中非显示区NA的尺寸远小于显示区AA的尺寸。如图1所示,非显示区NA包括绑定区F1和可视测试(Visual Test,简称VT测试)区F2,绑定区F1内设置有多个绑定焊盘11,VT测试区F2设置有多个测试焊盘12。下面分别对绑定区F1和VT测试区F2的主要功能做简要说明。
具体的,如图1所示,显示面板100包括栅极驱动电路ASG,栅极驱动电路ASG分别与绑定区F1的绑定焊盘11以及多条扫描线S(如图1中S1与S6之间的信号线)电连接,此外,绑定焊盘11还与数据线D(如图1中D1与D9之间的信号线)电连接。在将驱动芯片与绑定区F1的绑定焊盘11电连接之后,驱动芯片可通过向栅极驱动电路ASG提供电信号,使栅极驱动电路ASG向各条扫描线S依次提供扫描使能信号,以使显示区AA内与传输扫描使能信号的扫描线S电连接的薄膜晶体管打开,同时驱动芯片可以通过数据线D向显示区AA内处于打开状态的薄膜晶体管传输数据电压,将数据电压写入对应的子像素,如此,通过扫描线S的逐行扫描可以实现逐行点亮各子像素,完成一帧画面的显示,快速切换一帧帧画面即可实现视频播放。
显示面板在制作完成后,通常需要进行质检,以筛选出显示异常的不良产品。由于从显示面板上剥离驱动芯片时比较困难甚至会损坏驱动芯片,因此,若将驱动芯片与绑定区F1的绑定焊盘电连接之后再进行质检,将造成部分驱动芯片的浪费和成本增加。为避免此情况,相关技术在非显示区NA内设置VT测试区F2,并将栅极驱动电路ASG以及数据线D连接到对应的测试焊盘12上,如此,可以在显示面板制作完成之后,在绑定驱动芯片之前,通过测试装置向测试焊盘12加载相应的测试信号,驱动显示面板显示画面,以检测显示面板能否正常显示,避免造成成本增加。其驱动显示的原理与驱动芯片驱动显示面板显示画面基本一致,在此不再赘述。
示例性的,如图1所示,可以通过一部分支线14将一部分测试焊盘12连接至绑定焊盘11与栅极驱动电路ASG之间的主线13上,以及通过另一部分支线14将另一部分测试焊盘12连接至绑定焊盘11与显示区AA内的子像素之间的主线13(即数据线D)上,如此,测试装置可以通过支线14向栅极驱动电路ASG以及数据线D传输相应的电信号,驱动显示面板显示画面,完成VT测试。
本实施例中,第一测试垫Q可以是指至少部分测试焊盘12,即,可以将所有测试焊盘12中的部分测试焊盘作为第一测试垫Q,也可以将所有测试焊盘12均作为第一测试垫Q,本发明实施例对此不作限定。示例性的,图1中,将所有测试焊盘12中与栅极驱动电路ASG电连接的测试焊盘作为第一测试垫Q,如第一测试垫Q1、第一测试垫Q2、第一测试垫Q3和第一测试垫Q4。此设置方式并非限定,在其他实施例中,可以将部分与栅极驱动电路ASG电连接的测试焊盘12作为第一测试垫Q,也可以将与数据线D电连接的测试焊盘12作为第一测试垫Q,还可以将所有测试焊盘12均作为第一测试垫Q,本发明实施例对此不作限定。
相应的,第一支线Y和第一主线T可以根据第一测试垫Q确定。具体的,第一支线Y是指与测试焊盘12电连接的所有支线14中,与第一测试垫Q电连接的支线;第一主线T则是指与绑定焊盘11电连接的所有主线13中,通过第一支线Y与第一测试垫Q电连接的主线,而且,与同一条第一支线Y电连接的所有第一主线T可构成一组第一主线单元V,一组第一主线单元V可包括至少一条第一主线T。
进一步的,如图1所示,本实施例中,各第一主线T互不交叠,各第一支线Y互不交叠,如此,各条第一主线T可以同层设置,各条第一支线Y可以同层设置,减少异层跨线的设置,降低布线难度。同时,由于各第一主线T互不交叠,因此,不同位置处并排的各第一主线T的排列顺序相同(都等同于第一主线T中沿第一方向并排的部分在第一方向上的排列顺序),使得各第一主线T对应的目标接收信号的排列顺序相同。基于此,本实施例做如下定义:沿第一方向,各第一主线单元V中的第一主线T对应的目标接收信号的排列顺序为第一顺序。
具体的,由于同一组第一主线单元V中的所有第一主线T均与同一个第一测试垫Q电连接,因此,同一组第一主线单元V中的所有第一主线T对应的目标接收信号是相同的,因此,沿第一方向,各第一主线单元V中的第一主线T对应的目标接收信号的排列顺序,可以理解为,沿第一方向排列的多条第一主线T中,属于不同第一主线单元V的首个第一主线T所对应的目标接收信号(在第一方向上)的排列顺序。
示例性的,如图1所示,当一组第一主线单元组V包括一条第一主线T时,沿第一方向排列的各条第一主线T即为各第一主线单元V的首个第一主线。图1中,X1表示第一主线单元V1中的第一主线T接收的目标信号,X2表示第一主线单元V2中的第一主线T接收的目标信号,X3表示第一主线单元V3中的第一主线T接收的目标信号,X4表示第一主线单元V4中的第一主线T接收的目标信号,按照各第一主线T在第一方向上的排列顺序,可以确定沿第一方向各第一主线单元V中的第一主线T对应的目标接收信号的排列顺序为X1、X2、X3、X4(第一顺序)。
当然,图1仅以一组第一主线单元V包括一条第一主线T为例进行示意,在其他实施例中,可以存在第一主线单元V包括多条第一主线T,本发明实施例对此不作限定。示例性的,假设有6条第一主线T,分别为T1,T2,T3,T4,T5和T6,且该六条第一主线的至少部分沿第一方向并排设置,沿第一方向的排列顺序为T1,T2,T3,T4,T5、T6,其中,T1和T4属于第一组第一主线单元,对应的目标接收信号为X1’,T3和T5属于第二组第一主线单元,对应的目标接收信号为X2’,T2属于第三组第一主线单元,对应的目标接收信号为X3’,T6属于第四组第一主线单元,对应的目标接收信号为X4’。基于上文解释,在此示例中,沿第一方向排列的多条第一主线T1~T6中,属于不同第一主线单元的首个第一主线依次为T1、T2、T3和T6,对应的目标接收信号依次为X1’、X3’、X2’和X4’,因此,沿第一方向,各第一主线单元V中的第一主线T对应的目标接收信号的排列顺序(第一顺序)为X1’、X3’、X2’、X4’。
进一步的,本实施例中,沿第一方向,各第一测试垫Q对应的目标接收信号的排列顺序为第二顺序,第二顺序与第一顺序不同。可以理解的,任意一个第一测试垫Q,其对应的目标接收信号必然与其电连接的第一主线T对应的目标接收信号相同。以图1为例,第一测试垫Q1与第一主线单元V2中的第一主线T电连接,因此,第一测试垫Q1对应的目标接收信号为X2;第一测试垫Q2与第一主线单元V1中的第一主线T电连接,因此,第一测试垫Q2对应的目标接收信号为X1;第一测试垫Q3与第一主线单元V3中的第一主线T电连接,因此,第一测试垫Q3对应的目标接收信号为X3;第一测试垫Q4与第一主线单元V4中的第一主线T电连接,因此,第一测试垫Q4对应的目标接收信号为X4,因此,沿第一方向,各第一测试垫Q1、Q2、Q3和Q4对应的目标接收信号的排列顺序(第二顺序)为X2、X1、X3、X4,与第一顺序(X1、X2、X3、X4)不同。如此设置,可以在VT测试阶段筛选出不同产品,防止混料,下面对此做详细解释。
具体的,在VT测试阶段,显示面板上通常仅露出焊盘(如绑定焊盘11和测试焊盘12),因此,当外观相同而显示特性(例如发光亮度)具有微小差异的不同产品混在一起时,由于现有技术中这些产品的内部布线方式通常也是完全一致的,因此,采用测试装置进行VT测试时,人眼很难识别出微小的显示差异,进而难以从待出货的目标面板中筛选出混进来的混杂面板。基于此,对于容易发生混料的多种产品,本申请通过调整布线的方式,实现沿第一方向并排设置的各第一测试垫Q对应的目标接收信号的排列顺序(第二顺序)与各第一主线单元V中的第一主线T对应的目标接收信号的排列顺序(第一顺序)不同,从而可以调整其中一类产品的至少部分测试焊盘(即第一测试垫)与第一主线/第一主线单元的对应关系,如此,只要不是利用该类产品对应的测试装置对该显示面板进行VT测试,便会出现明显的显示异常(例如无法显示、显示颜色与目标颜色不一致等)情况,从而可以避免外观相同而显示特性存在微小差异的产品混在一起,在产品出厂前检出混料,避免混料带来的不良后果。
示例性的,假设有两类外观相同而显示特性存在微小差异的产品,第一类产品的第一顺序与第二顺序相同,第二类产品采用本方案设计为第一顺序与第二顺序不同,如此,若采用第一类产品对应的测试装置对一批显示面板进行VT测试,一旦该批产品中混入第二类产品,则第二类产品会因为测试装置不匹配而出现明显的显示异常,从而可以从第一类产品中筛选出混入的第二类产品,防止混料。
综上,本发明实施例提供的显示面板,通过设置N个第一测试垫沿第一方向并排设置,第一主线的至少部分沿第一方向并排设置,各第一主线在显示面板的厚度方向上互不交叠,且沿第一方向,各第一主线单元中的第一主线对应的目标接收信号的排列顺序(第一顺序)与各第一测试垫对应的目标接收信号的排列顺序(第二顺序)不同,如此,对于容易发生混料的多种产品,可以通过调整布线的方式调整其中一类产品的至少部分测试焊盘(即第一测试垫)与第一主线/第一主线单元的对应关系,如此,只要不是利用该类产品对应的测试装置对该显示面板进行VT测试,便会出现明显的显示异常(例如无法显示、显示颜色与目标颜色不一致等)情况,从而可以避免外观相同而显示特性存在微小差异的产品混在一起,在产品出厂前检出混料,避免混料带来的不良后果。
如上所述,第一测试垫Q可以是所有测试焊盘12中与栅极驱动电路ASG电连接的至少部分测试焊盘,也可以是所有测试焊盘12中与数据线D电连接的至少部分测试焊盘,还可以是所有的测试焊盘。下面,分别针对第一测试垫对应不同功能的测试焊盘为例,对本发明实施例的技术方案做进一步解释说明。
作为一种可行的实施方式,继续参照图1,可选地,N个第一测试垫Q包括M个第一驱动测试垫121;N组第一主线单元V包括M组第一驱动主线单元,一组第一驱动主线单元包括一条第一驱动主线131,第一驱动主线131与栅极驱动电路ASG电连接;N条第一支线Y包括M条第一驱动支线141,一条第一驱动支线141的两端分别与一个第一驱动测试垫121和一条第一驱动主线131电连接;M为整数,且2≤M≤N;沿第一方向,各第一驱动主线131对应的目标接收信号的排列顺序与各第一驱动测试垫121对应的目标接收信号的排列顺序不同。
其中,第一驱动测试垫121是指所有测试焊盘12中与栅极驱动电路ASG电连接的测试焊盘,M个第一驱动测试垫121可以是与栅极驱动电路ASG电连接的所有测试焊盘12中的部分(至少两个)或者全部,本发明实施例对此不作限定。图1仅以M=N=4,且M个第一驱动测试垫121(N个第一测试垫)对应所有的与栅极驱动电路ASG电连接的测试焊盘为例进行示意,并非限定。在其他实施例中,M个第一驱动测试垫121可以是与栅极驱动电路ASG电连接的测试焊盘中的一部分;此外,在其他实施例中,第一测试垫Q也可以包括与栅极驱动电路ASG未电连接的其他测试焊盘,本发明实施例对此不作限定。
基于上文解释,本发明实施例通过设置沿第一方向,各第一驱动主线131对应的目标接收信号的排列顺序与各第一驱动测试垫121对应的目标接收信号的排列顺序不同,使得只要不是利用该显示面板对应的测试装置对该显示面板进行VT测试,则会存在至少两个第一驱动测试垫121的目标接收信号与测试装置提供的电信号不匹配,进而导致栅极驱动电路ASG无法正常工作,显示面板无法显示,从而可使工作人员很容易地察觉出该显示面板为混料。同样的,若利用该显示面板对应的测试装置对一批产品进行VT测试,其他显示面板也会无法正常显示,进而被判定为混料。
示例性的,如图1所示,沿第一方向,四条第一驱动主线131的目标接收信号的排列顺序(第一顺序)为X1、X2、X3、X4,而四个第一驱动测试垫121的目标接收信号的排列顺序(第二顺序)为X2、X1、X3、X4,如此,若测试装置对这部分测试焊盘提供的电信号依次为X1、X2、X3和X4,则会导致栅极驱动电路无法正常工作,进而无法显示,可判定该显示面板为混料。
需要说明的是,图1所示方案,仅以第一顺序中的前两个(X1和X2)与第二顺序中的前两个(X2和X1)互换,使得第一顺序与第二顺序不同为例进行示意,如此,只需要调整两条第一驱动支线141的布线,即可实现上述防混料的需求,对显示面板的改动较小。当然,此设置方式并非限定,在其他实施例中,第一顺序和第二顺序中可以有更多位置处的目标接收信号不一致,以使第一顺序与第二顺序不同。示例性的,假设设计第一顺序为X1、X2、X3、X4,第二顺序为X4、X1、X2、X3,此时,可通过将第一测试垫Q1与第一主线单元V4中的第一驱动主线131电连接,将第一测试垫Q2与第一主线单元V1中的第一驱动主线131电连接,将第一测试垫Q3与第一主线单元V2中的第一驱动主线131电连接,将第一测试垫Q4与第一主线单元V3中的第一驱动主线131电连接实现该设计,达到在VT测试阶段防混料的目的。
还需要说明的是,图1仅以第一驱动测试垫121的数量为4个为例进行示意,此设置方式并非限定,具体可以根据栅极驱动电路ASG的具体电路结构确定所需的电信号,进而确定第一驱动测试垫121的数量。示例性的,在一具体实施例中,栅极驱动电路ASG所需的电信号X1、X2、X3和X4可以分别为高电平信号VGH,低电平信号VGL,第一时钟信号CK1和第二时钟信号CK2。
图2是图1所示显示面板的F3区域的另一种结构示意图,如图2所示,在一实施例中,可选地,第一驱动主线131与第一驱动支线141同层设置,未电连接的第一驱动主线131和第一驱动支线141互不交叠。图2以较粗实线表示第一驱动主线131,较细实线表示第一驱动支线141。本实施例通过设置第一驱动主线131与第一驱动支线141同层设置,且保证未电连接的第一驱动主线131和第一驱动支线141互不交叠,不仅工艺简单,还可以进一步减少异层跨线,进而避免不同信号线之间因交叠而产生寄生电容,降低信号干扰,保证传输信号的准确性。
进一步的,继续参见图2,可选地,第一驱动主线131包括第一主线分部1311、第二主线分部1312和第三主线分部1313,第二主线分部1312电连接于第一主线分部1311和第三主线分部1313之间,第二主线分部1312的延伸方向与第一主线分部1311的延伸方向以及第三主线分部1313的延伸方向均相交,且第二主线分部1312穿过第一驱动测试垫121所在区域;显示面板包括至少一个测试组15,一个测试组15包括两个相邻的第一驱动测试垫121(如第一驱动测试垫121-1和121-2);沿第一驱动测试垫121的排列方向,测试组15内的两个第一驱动测试垫121所对应的两条第二主线分部1312(如第二主线分部1312-1和1312-2)分别位于该测试组15的相对两侧,且该相邻两个第一驱动测试垫121对应的目标接收信号的排列顺序与该两条第二主线分部1312对应的目标接收信号的排列顺序相反。
本实施例中,第一驱动主线131中的第二主线分部1312穿过第一驱动测试垫121所在区域(即VT测试区),如此可以进一步提高VT测试区的空间利用率,节省出更多空间用以其他元件或走线的设置。
进一步的,本实施例中,对于M个第一驱动测试垫121,可以选择其中一组相邻的两个第一驱动测试垫121构成一个测试组,也可以选择其中多组相邻的两个第一驱动测试垫121构成多个测试组,本发明实施例对此不作限定。对于任意一个测试组15内的两个相邻的第一驱动测试垫121,需要满足沿第一驱动测试垫121的排列方向(如第一方向),测试组15内该相邻两个第一驱动测试垫121对应的目标接收信号的排列顺序与该两条第二主线分部1312对应的目标接收信号的排列顺序相反,以实现第一驱动测试垫121对应的目标接收信号的排列顺序与第一驱动主线131对应的目标接收信号的排列顺序不同,在VT测试阶段实现防混料。
进一步的,为了既实现上述防混料所需的设计要求,又保证第一驱动主线131和第一驱动支线141同层设置,且未电连接的第一驱动主线131和第一驱动支线141互不交叠,本实施例将一个测试组15内的两个第一驱动测试垫121所对应的两条第二主线分部1312分别设置于该测试组15的相对两侧,如此,可以为测试组15内的两个第一驱动测试垫121对应的第一驱动支线141提供绕线空间,实现上述目标接收信号排列顺序的不同,同时避免未电连接的第一驱动支线141与第一驱动主线131发生交叠。
示例性的,图2以第一驱动测试垫121-1和第一驱动测试垫121-2构成一个测试组15为例进行示意,沿第一驱动测试垫121的排列方向(如第一方向),第一驱动测试垫121-1对应的第二主线分部1312-1和第一驱动测试垫121-2对应的第二主线分部1312-2分别位于该测试组15的相对两侧,并且,第一驱动测试垫121-1对应的目标接收信号为X2,第二驱动测试垫121-2对应的目标接收信号为X1,而第二主线分部1312-1对应的目标接收信号为X1,第二主线分部1312-2对应的目标接收信号为X2,该相邻两个第一驱动测试垫(121-1和121-2)对应的目标接收信号的排列顺序(即X2、X1)与该两条第二主线分部(1312-1和1312-2)对应的目标接收信号的排列顺序(即X1、X2)相反,从而可以在第一驱动主线131与第一驱动支线141同层设置的基础上,实现第一驱动测试垫121对应的目标接收信号的排列顺序与第一驱动主线131对应的目标接收信号的排列顺序不同,在VT测试阶段实现防混料。
需要说明的是,图2仅以第一驱动测试垫121-1和第一驱动测试垫121-2构成一个测试组15为例进行示意,此设置方式并非限定,在其他实施例中,当显示面板具有一个测试组时,也可以选择其他相邻两个第一驱动测试垫121构成测试组,例如可以选择第一驱动测试垫121-2和121-3构成测试组,或者也可以选择第一驱动测试垫121-3和121-4构成测试组。此外,在其他实施例中,显示面板也可以具有更多数量的测试组,例如第一驱动测试垫121-1和121-2构成一个测试组,第一驱动测试垫121-3和121-4构成一个测试组,本发明实施例对此不作限定。对于任意一个测试组15,只要保证设置该测试组15内的两个第一驱动测试垫121所对应的两条第二主线分部1312分别位于该测试组15的相对两侧,且该相邻两个第一驱动测试垫121对应的目标接收信号的排列顺序与该两条第二主线分部1312对应的目标接收信号的排列顺序相反即可。
还需要说明的是,对于未构成测试组的相邻两个第一驱动测试垫121,由于该两个第一驱动测试垫121对应的第一驱动支线141无需绕线,因此二者所对应的两条第二主线分部1312可以位于这两个第一驱动测试垫121的相对两侧,也可以与这两个第一驱动测试垫121间隔设置,本发明实施例对此不作限定。
示例性的,如图2所示,第一驱动测试垫121-3和121-4对应的目标接收信号的排列顺序与二者对应的第二主线分部1312-3和1312-4所对应的目标接收信号的排列顺序一致,均为X3、X4,因此,第一驱动测试垫121-3和121-4对应的第一驱动支线141无绕线需求,此时,第一驱动测试垫121-3对应的第二主线分部1312-3和第一驱动测试垫121-4对应的第二主线分部1312-4同样可以位于第一驱动测试垫121-3和121-4的相对两侧。图3是图1所示显示面板的F3区域的另一种结构示意图,如图3所示,在其他实施例中,沿第一驱动测试垫121的排列方向(如第一方向),也可以将第一驱动测试垫121-3、第二主线分部1312-3、第一驱动测试垫121-4和第二主线分部1312-4间隔设置(测试垫与信号线相互间隔)。
图4是图1所示显示面板的F3区域的另一种结构示意图,如图4所示,可选地,第一主线分部1311位于第一驱动测试垫121靠近栅极驱动电路ASG的一侧;测试组15中的两个第一驱动测试垫121分别为第一焊垫(如121-2)和第二焊垫(如121-1);第一焊垫(121-2)对应的第一驱动支线(141-2),从第一焊垫(121-2)远离第一主线分部1311的一侧,半围绕第二焊垫(121-1)延伸至第一焊垫(121-2)对应的第一主线分部(1311-1),并与该第一主线分部(1311-1)电连接;第二焊垫(121-1)对应的第一驱动支线(141-1),从第二焊垫(121-1)靠近第一主线分部1311的一侧,延伸至第二焊垫(121-1)对应的第一主线分部(1311-2),并与该第一主线分部(1311-2)电连接。如此,可以通过绕线的方式实现测试组15内相邻两个第一驱动测试垫121对应的目标接收信号的排列顺序与相应的两条第二主线分部1312所对应的目标接收信号的排列顺序相反,进而实现第一驱动测试垫121对应的目标接收信号的排列顺序与第一驱动主线131对应的目标接收信号的排列顺序不同,在VT测试阶段实现防混料。
需要说明的是,图4仅以第一驱动测试垫121-1和第一驱动测试垫121-2构成一个测试组15,且第一驱动测试垫121-2作为第一焊垫,第一驱动测试垫121-1作为第二焊垫,对第一驱动测试垫121-2对应的第一驱动支线141-2进行绕线为例进行示意,在其他实施例中,参照图2,也可以将第一驱动测试垫121-1作为第一焊垫,第一驱动测试垫121-2作为第二焊垫,对第一驱动测试垫121-1对应的第一驱动支线141-1进行绕线。
综上,上述实施例以第一测试垫Q包括与栅极驱动电路ASG电连接的第一驱动测试垫121为例,对本发明实施例的技术方案作了详细说明,下面,以第一测试垫Q包括与数据线电连接的测试焊盘为例,对本发明实施例的技术方案作进一步说明。
作为另一种可行的实施方式,图5是本发明实施例提供的另一种显示面板的结构示意图,如图5所示,可选地,N个第一测试垫Q包括K个第一颜色测试垫122(“122-”后面的数字仅表示编号,下同);N组第一主线单元V包括K组第一数据主线单元H,一组第一数据主线单元H包括多条第一数据主线132,且同一组的各第一数据主线132连接同一种发光颜色的子像素P;N条第一支线Y包括K条第一数据支线142,一条第一数据支线142分别与一个第一颜色测试垫122和同一组的各第一数据主线132电连接;K为整数,且2≤K≤N;沿第一方向,K组第一数据主线单元H中的第一数据主线132依次交替并周期性排列;一个排列周期内的K条第一数据主线132对应的目标接收信号的排列顺序与K个第一颜色测试垫122对应的目标接收信号的排列顺序不同。
其中,第一颜色测试垫122是指所有测试焊盘12中与数据线D电连接的测试焊盘,K个第一颜色测试垫122可以是与数据线D电连接的所有测试焊盘中的部分(至少两个)或者全部,本发明实施例对此不作限定。图5仅以K=N=3,且K个第一颜色测试垫122(N个第一测试垫Q)对应所有的与数据线D电连接的测试焊盘为例进行示意,并非限定。在其他实施例中,K个第一颜色测试垫122可以是与数据线D电连接的测试焊盘中的一部分;此外,在其他实施例中,第一测试垫Q也可以包括与数据线D未电连接的其他测试焊盘,本发明实施例对此不作限定。
本实施例中,一组第一数据主线单元H包括多条第一数据主线132,且同一组的各第一数据主线132连接同一种发光颜色的子像素P,一条第一数据支线142分别与一个第一颜色测试垫122和同一组的各第一数据主线132电连接,如此,测试装置可以通过一个第一颜色测试垫122向该组第一数据主线132所连接的同一种发光颜色的子像素P发送数据信号,以点亮该部分子像素,减少测试焊盘的设置数量,减小VT测试区对非显示区的面积占用。
示例性的,如图5所示,第一数据主线132-1和第一数据主线132-4属于第一数据主线单元H1,且均连接红色子像素R,并且通过第一数据支线142与第一颜色测试垫122-2电连接;第一数据主线132-2和第一数据主线132-5属于第一数据主线单元H2,且均连接绿色子像素G,并且通过第一数据支线142与第一颜色测试垫122-1电连接;第一数据主线132-3和第一数据主线132-6属于第一数据主线单元H3,且均电连接蓝色子像素B,并通过第一数据支线142与第一颜色测试垫122-3电连接,如此,可以通过第一颜色测试垫122-1控制绿色子像素G的点亮,通过第一颜色测试垫122-2控制红色子像素R的点亮,通过第一颜色测试垫122-3控制蓝色子像素B的点亮。
进一步的,本实施例中,沿第一方向,K组第一数据主线单元H中的第一数据主线132依次交替并周期性排列。换而言之,对于沿第一方向排列的多条第一数据主线132,设置每K条第一数据主线132为一个排列周期,且该排列周期内的K条第一数据主线132分别与K个第一数据主线单元H一一对应。示例性的,如图5所示,第一数据主线132-1、132-2和132-3为一个排列周期,且分别对应第一数据主线单元H1、H2和H3,第一数据主线132-4、132-5和132-6为一个排列周期,且分别对应第一数据主线单元H1、H2和H3,使得3组第一数据主线单元H1、H2和H3中的第一数据主线132依次交替并周期性设置。本实施例通过设置K组第一数据主线单元H中的第一数据主线132依次交替并周期性排列,可使不同发光颜色的子像素交替排列,由一个排列周期内的子像素的最小重复单元构成一个像素,实现彩色显示。
进一步的,本实施例中,沿第一方向,一个排列周期内的K条第一数据主线132(如132-1、132-2和132-3)对应的目标接收信号的排列顺序(图5所示方案的排列顺序为XR、XG、XB)与K个第一颜色测试垫122(如122-1、122-2和122-3)对应的目标接收信号的排列顺序(图5所示方案的排列顺序为XG、XR、XB)不同。其中,XR、XG、XB分别表示点亮红色子像素、绿色子像素和蓝色子像素的数据电压。如此设置,只要测试装置向第一颜色测试垫122施加的电信号与第一颜色测试垫所需的目标接收信号不匹配,便会导致颜色显示异常,进而可以在VT测试阶段实现防混料。示例性的,若使用的测试装置对三个第一颜色测试垫122-1、122-2和122-3提供的电信号依次分别是XR、XG和XB,目的在于在VT测试阶段依次点亮红色子像素、绿色子像素和蓝色子像素,显示红色画面、绿色画面和蓝色画面。但是该测试装置应用于本发明实施例提供的显示面板时,会在点亮红色子像素(即向第一颜色测试垫122-1施加电信号)时,看到实际显示的画面为绿色画面,从而可以很容易的判定该显示面板为混入的混杂面板,需要筛除。
需要说明的是,图5仅以所有的与红色子像素R电连接的第一数据主线132与同一个第一颜色测试垫122电连接,所有与绿色子像素G电连接的第一数据主线132与同一个第一颜色测试垫122电连接,所有与蓝色子像素B电连接的第一数据主线132与同一个第一颜色测试垫122电连接,即显示面板包括W(W=3)种发光颜色的子像素,且第一颜色测试垫122的数量K等于W为例进行示意。在其他实施例中,也可以设置一个第一颜色测试垫122所连接的所有第一数据主线132所连接的子像素仅为该发光颜色的子像素的一部分,只要保证同一组的第一数据主线132连接同一种发光颜色的子像素即可。
示例性的,图6是图5所示显示面板的F4区域的另一种结构示意图,如图6所示,可选地,显示面板包括W种发光颜色的子像素,K=2W。
示例性的,图6以W=3,显示面板包括发光颜色为红色的红色子像素R、发光颜色为绿色的绿色子像素G和发光颜色为蓝色的蓝色子像素B为例进行示意。相应的,如图6所示,本实施例中,VT测试区包括6个第一颜色测试垫122,对应6个第一数据主线单元H,分别为H1、H2、H3、H4、H5和H6,且6个第一数据主线单元H中的第一数据主线132依次交替并周期性排列,如图6中数据线D1~D6构成一个排列周期,且这6条数据线分属于6个第一数据主线单元H,数据线D7~D12构成下一个排列周期,且这6条数据线分属于6个第一数据主线单元H。
进一步的,如图6所示,当K=2W时,可选地,K个第一颜色测试垫122包括两个红色测试垫(PR1和PR2)、两个绿色测试垫(PG1和PG2)和两个蓝色测试垫(PB1和PB2),且两个红色测试垫(PR1和PR2)接收的数据信号的极性相反,两个绿色测试垫(PG1和PG2)接收的数据信号的极性相反,两个蓝色测试垫(PG1和PG2)接收的数据信号的极性相反。如此设置,可以在VT测试时,通过测试装置向对应的两个第一颜色测试垫提供电信号,以点亮一种发光颜色的子像素。
当K=2W时,同样可以通过设置沿第一方向,一个排列周期内的K条第一数据主线132对应的目标接收信号的排列顺序与K个第一颜色测试垫122对应的目标接收信号的排列顺序不同,实现在VT测试阶段的防混料。示例性的,如图6所示,假设沿第一方向,一个排列周期内的6条第一数据主线132(如D1~D6)对应的目标接收信号的排列顺序为XR+、XG+、XB+、XR-、XG-、XB-(“+”和“-”代表信号极性相反),图6所示方案通过调整布线的方式,使得6个第一颜色测试垫122对应的目标接收信号的排列顺序XG+、XR+、XG-、XB+、XR-、XB-,二者顺序不同,如此,只要测试装置向第一颜色测试垫122施加的电信号与第一颜色测试垫所需的目标接收信号不匹配,便会导致颜色显示异常,实现防混料。当然,第一颜色测试垫122对应的目标接收信号的排列顺序也可以是其他顺序,本发明实施例对此不作限定。以图6为例,若使用的测试装置对6个第一颜色测试垫提供的电信号依次分别是XR+、XG+、XB+、XR-、XG-、XB-,目的在于通过从左向右的第一个和第四个颜色测试垫点亮红色子像素,通过第二个和第五个颜色测试垫点亮绿色子像素,通过第三个和第六个颜色测试垫点亮蓝色子像素,但是,工作人员利用该测试装置对图6所示的显示面板进行测试时,由于所有产品的焊盘布局都一样,因此,工作人员还是会将第一个和第四个颜色测试垫配对,将第二个和第五个颜色测试垫配对,以及将第三个和第六个颜色测试垫配对,每一对的两个颜色测试垫施加极性相反的数据电压,此时,显示面板将依次显示青色画面(绿色与蓝色混合)、红色画面、青色画面,与预期的显示画面存在明显的差异,从而可以意识到混料。
图7是图5所示显示面板的F4区域的另一种结构示意图,如图7所示,可选地,N个第一测试垫Q包括C个第一开关测试垫123和K个第一颜色测试垫122,C和K均为整数,且C+K≤N,2≤C≤K;N组第一主线单元V包括K组第一数据主线单元H,一组第一数据主线单元H包括多条第一数据主线132,且同一组的各第一数据主线132连接同一种发光颜色的子像素;N条第一支线Y包括C条第一开关支线143和K条第一数据支线142;显示面板还包括C组第一开关单元U,每组第一开关单元U包括多个薄膜晶体管L,同一种发光颜色的子像素对应的各第一数据主线132与同一组的薄膜晶体管L的第一极电连接,同一组的各第一数据主线132对应的薄膜晶体管L的第二极通过同一条第一数据支线142与同一个第一颜色测试垫122电连接,同一组的薄膜晶体管L的栅极通过同一条第一开关支线143与同一个第一开关测试垫123电连接;沿第一方向,K组第一数据主线单元H中的第一数据主线132依次交替并周期性排列。
参照图7,本实施例与图5所示结构的区别在于,增设了薄膜晶体管L,相应的,在VT测试区,除了与栅极驱动电路ASG电连接的测试焊盘,与数据线D电连接的测试焊盘以外,还具有与薄膜晶体管L电连接的测试焊盘(即第一开关测试垫123),如此,在VT测试阶段,需要通过第一开关测试垫123和第一颜色测试垫122相互配合,具体需要向一种发光颜色的子像素对应的第一开关测试垫123和第一颜色测试垫122分别施加用于选通薄膜晶体管的电信号以及数据电压信号,才能实现将数据电压写入到相应的子像素。示例性的,图7中显示面板包括三组第一开关单元U,分别为第一开关单元U1、U2和U3,其中,第一开关单元U1的薄膜晶体管L1和L4的栅极连接同一个第一开关测试垫123-2,二者的第一极分别与红色子像素R对应的第一数据主线132-1和132-4电连接,属于同一组的第一数据主线132-1和132-4对应的薄膜晶体管L1和L4的第二极还通过同一条第一数据支线142与同一个第一颜色测试垫122-1电连接,如此,通过第一开关测试垫123-2和第一颜色测试垫122-1可以控制红色子像素R的点亮;同理,第一开关单元U2的薄膜晶体管L2和L5的栅极连接同一个第一开关测试垫123-1,二者的第一极分别与绿色子像素G对应的第一数据主线132-2和132-5电连接,属于同一组的第一数据主线132-2和132-5对应的薄膜晶体管L2和L5的第二极还通过同一条第一数据支线142与同一个第一颜色测试垫122-2电连接,如此,通过第一开关测试垫123-1和第一颜色测试垫122-2可以控制绿色子像素G的点亮;第一开关单元U3的薄膜晶体管L3和L6的栅极连接同一个第一开关测试垫123-3,二者的第一极分别与蓝色子像素B对应的第一数据主线132-3和132-6电连接,属于同一组的第一数据主线132-3和132-6对应的薄膜晶体管L3和L6的第二极还通过同一条第一数据支线142与同一个第一颜色测试垫122-3电连接,如此,通过第一开关测试垫123-2和第一颜色测试垫122-1控制蓝色子像素B的点亮。
进一步的,为了在VT测试阶段实现防混料,如图7所示,可选地,沿第一方向,各第一开关测试垫123所连接的子像素的发光颜色的排列顺序(图7所示方案的排列顺序为绿、红、蓝)与一个排列周期内的各第一数据主线132所连接的子像素的发光颜色的最小排列周期的排列顺序(图7所示方案的排列顺序为红、绿、蓝)不同。或者,图8是图5所示显示面板的F4区域的另一种结构示意图,如图8所示,可选地,沿第一方向,一个排列周期内的K条第一数据主线132对应的目标接收信号的排列顺序(图8所示方案的排列顺序为XR、XG、XB)与K个第一颜色测试垫122对应的目标接收信号的排列顺序(图8所示方案的排列顺序为XG、XR、XB)不同。又或者,图9是图5所示显示面板的F4区域的另一种结构示意图,如图9所示,可选地,沿第一方向,各第一开关测试垫123所连接的子像素的发光颜色的排列顺序(图9所示方案的排列顺序为绿、红、蓝)与一个排列周期内的各第一数据主线132所连接的子像素的发光颜色的最小排列周期的排列顺序(图9所示方案的排列顺序为红、绿、蓝)不同,且一个排列周期内的K条第一数据主线132对应的目标接收信号的排列顺序(图9所示方案的排列顺序为XR、XG、XB)与K个第一颜色测试垫122对应的目标接收信号的排列顺序(图9所示方案的排列顺序为XG、XR、XB)不同。
示例性的,参照图7,从左向右,若使用的测试装置施加电信号时,将第一个开关测试垫(如第一开关测试垫123-1)和第一个颜色测试垫(如第一颜色测试垫122-1)匹配用以点亮红色子像素,第二个开关测试垫(如第一开关测试垫123-2)和第二个颜色测试垫(如第一颜色测试垫122-2)匹配用以点亮绿色子像素,第三个开关测试垫(如第一开关测试垫123-3)和第一个颜色测试垫(如第一颜色测试垫122-3)匹配用以点亮蓝色子像素。当将该测试装置应用于图7所示的显示面板时,虽然第一颜色测试垫122-1的数据信号提供至红色子像素R连接的薄膜晶体管的第二极,但是第一开关测试垫123-1的选通信号提供至绿色子像素G连接的薄膜晶体管的栅极,因此显示面板由于红色子像素R对应的薄膜晶体管无法选通而无法显示,从而可以意识到混料。当将该测试装置应用于图8所示的显示面板时,虽然第一开关测试垫123-1的选通信号提供至红色子像素R连接的薄膜晶体管的栅极,但是第一颜色测试垫122-1的数据信号提供至绿色子像素G连接的薄膜晶体管的第二极,第一开关测试垫123-1和第一颜色测试垫122-1分别对应不同颜色的子像素,显示面板同样无法显示,因而可以意识到混料。当将该测试装置应用于图9所示的显示面板时,第一开关测试垫123-1的选通信号提供至绿色子像素G连接的薄膜晶体管的栅极,第一颜色测试垫122-1的数据信号提供至绿色子像素G连接的薄膜晶体管的第二极,虽然可以点亮显示面板,但实际显示颜色为绿色,而非预期的红色,因此也可以意识到混料。
如图7所示,可选地,显示面板包括W种发光颜色的子像素,C=W。图7以显示面板包括三种发光颜色的子像素,即红色子像素R、绿色子像素G和蓝色子像素B为例进行示意,同一种发光颜色的子像素对应的薄膜晶体管L与同一个第一开关测试垫123电连接,如此设置,可以通过一个第一开关测试垫123控制所有的同一发光颜色子像素的点亮,减少测试焊盘的数量,降低对非显示区的面积占用。
需要说明的是,图7-图9仅以第一颜色测试垫122的数量K=W为例进行示意,参照上述实施例,当VT测试区设置有第一开关测试垫123时,第一颜色测试垫122的数量也可以是子像素种类的2倍,即K=2W,本发明实施例对此不作限定。
最后,还需要说明的是,上述任一实施例提供的第一测试垫的目标接收信号的排列顺序(第一顺序)以及个第一主线单元中的第一主线对应的目标接收信号的排列顺序(第二顺序)仅为示意,并非限定,只要保证第一顺序与第二顺序不同即可。
基于同一发明构思,本发明实施例还提供了一种显示面板的混料检出方法,图10是本发明实施例提供的一种显示面板的混料检出方法的流程示意图,如图10所示,该混料检出方法包括如下步骤:
S101、通过目标测试装置对待检面板进行VT测试。
S102、获取待检面板的测试画面。
S103若测试画面与VT测试对应的目标画面相同,则确定待检面板为目标面板,否则判定待检面板为混杂面板。
其中,显示面板包括N个第一测试垫、N组第一主线单元和N条第一支线;一组第一主线单元包括至少一条第一主线;一条第一支线分别与一个第一测试垫以及一组第一主线单元中的所有第一主线电连接;N为大于或等于3的整数;沿显示面板的厚度方向,各第一主线互不交叠,各第一支线互不交叠;N个第一测试垫沿第一方向并排设置,第一主线的至少部分沿第一方向并排设置;沿第一方向,各第一主线单元中的第一主线对应的目标接收信号的排列顺序为第一顺序,各第一测试垫对应的目标接收信号的排列顺序为第二顺序;目标面板和混杂面板中的一者满足第一顺序与第二顺序相同,另一者满足第一顺序与第二顺序不同。
其中,目标面板可以理解为正在进行VT测试的一批产品中需要出货或者进行下一工艺的产品,混杂面板则是混进来的与目标面板外观相同而显示特性差异很小的产品,混杂面板需要从目标面板中筛除出去。
其中,目标测试装置与目标面板相对应,换而言之,目标测试装置对各个测试焊盘提供的电信号与各个测试焊盘对应的目标接收信号是匹配的。基于上文解释,本实施例通过设置目标面板和混杂面板中的一者满足第一顺序与第二顺序相同,另一者满足第一顺序与第二顺序不同,可使目标测试装置提供的电信号与混杂面板的至少部分测试焊盘对应的目标接收信号不匹配,进而使混杂面板出现明显的显示异常,从而可使工作人员确定该显示面板为混杂面板,将其筛除出去,在VT测试阶段实现防混料。具体原理请参照上文实施例的解释,在此不再过多赘述。
上述具体实施方式,并不构成对本发明保护范围的限制。本领域技术人员应该明白的是,根据设计要求和其他因素,可以进行各种修改、组合、子组合和替代。任何在本发明的精神和原则之内所作的修改、等同替换和改进等,均应包含在本发明保护范围之内。
Claims (11)
1.一种显示面板,其特征在于,包括:N个第一测试垫、N组第一主线单元和N条第一支线;
一组所述第一主线单元包括至少一条第一主线;一条所述第一支线分别与一个所述第一测试垫以及一组所述第一主线单元中的所有所述第一主线电连接;N为大于或等于3的整数;
沿所述显示面板的厚度方向,各所述第一主线互不交叠,各所述第一支线互不交叠;
N个所述第一测试垫沿第一方向并排设置,所述第一主线的至少部分沿所述第一方向并排设置;沿所述第一方向,各所述第一主线单元中的所述第一主线对应的目标接收信号的排列顺序为第一顺序,各所述第一测试垫对应的目标接收信号的排列顺序为第二顺序,所述第一顺序与所述第二顺序不同;
所述显示面板包括目标面板和混杂面板;所述目标面板的所述第二顺序与所述混杂面板的所述第二顺序不同。
2.根据权利要求1所述的显示面板,其特征在于,N个所述第一测试垫包括M个第一驱动测试垫;N组所述第一主线单元包括M组第一驱动主线单元,一组所述第一驱动主线单元包括一条第一驱动主线,所述第一驱动主线与栅极驱动电路电连接;N条所述第一支线包括M条第一驱动支线,一条所述第一驱动支线的两端分别与一个所述第一驱动测试垫和一条所述第一驱动主线电连接;M为整数,且2≤M≤N;
沿所述第一方向,各所述第一驱动主线对应的目标接收信号的排列顺序与各所述第一驱动测试垫对应的目标接收信号的排列顺序不同。
3.根据权利要求2所述的显示面板,其特征在于,所述第一驱动主线与所述第一驱动支线同层设置,未电连接的所述第一驱动主线和所述第一驱动支线互不交叠。
4.根据权利要求3所述的显示面板,其特征在于,所述第一驱动主线包括第一主线分部、第二主线分部和第三主线分部,所述第二主线分部电连接于所述第一主线分部和所述第三主线分部之间,所述第二主线分部的延伸方向与所述第一主线分部的延伸方向以及所述第三主线分部的延伸方向均相交,且所述第二主线分部穿过所述第一驱动测试垫所在区域;
所述显示面板包括至少一个测试组,一个所述测试组包括两个相邻的所述第一驱动测试垫;沿所述第一驱动测试垫的排列方向,所述测试组内的两个所述第一驱动测试垫所对应的两条所述第二主线分部分别位于该测试组的相对两侧,且该相邻两个第一驱动测试垫对应的目标接收信号的排列顺序与该两条第二主线分部对应的目标接收信号的排列顺序相反。
5.根据权利要求4所述的显示面板,其特征在于,所述第一主线分部位于所述第一驱动测试垫靠近所述栅极驱动电路的一侧;
所述测试组中的两个所述第一驱动测试垫分别为第一焊垫和第二焊垫;所述第一焊垫对应的所述第一驱动支线,从所述第一焊垫远离所述第一主线分部的一侧,半围绕所述第二焊垫延伸至所述第一焊垫对应的所述第一主线分部,并与该第一主线分部电连接;所述第二焊垫对应的所述第一驱动支线,从所述第二焊垫靠近所述第一主线分部的一侧,延伸至所述第二焊垫对应的所述第一主线分部,并与该第一主线分部电连接。
6.根据权利要求1所述的显示面板,其特征在于,N个所述第一测试垫包括K个第一颜色测试垫;N组所述第一主线单元包括K组第一数据主线单元,一组所述第一数据主线单元包括多条第一数据主线,且同一组的各所述第一数据主线连接同一种发光颜色的子像素;N条所述第一支线包括K条第一数据支线,一条所述第一数据支线分别与一个所述第一颜色测试垫和同一组的各所述第一数据主线电连接;K为整数,且2≤K≤N;
沿所述第一方向,K组所述第一数据主线单元中的所述第一数据主线依次交替并周期性排列;一个排列周期内的K条所述第一数据主线对应的目标接收信号的排列顺序与K个所述第一颜色测试垫对应的目标接收信号的排列顺序不同。
7.根据权利要求1所述的显示面板,其特征在于,N个所述第一测试垫包括C个第一开关测试垫和K个第一颜色测试垫,C和K均为整数,且C+K≤N,2≤C≤K;
N组所述第一主线单元包括K组第一数据主线单元,一组所述第一数据主线单元包括多条第一数据主线,且同一组的各所述第一数据主线连接同一种发光颜色的子像素;
N条所述第一支线包括C条第一开关支线和K条第一数据支线;所述显示面板还包括C组第一开关单元,每组所述第一开关单元包括多个薄膜晶体管,同一种发光颜色的子像素对应的各所述第一数据主线与同一组的薄膜晶体管的第一极电连接,同一组的各所述第一数据主线对应的所述薄膜晶体管的第二极通过同一条所述第一数据支线与同一个所述第一颜色测试垫电连接,同一组的所述薄膜晶体管的栅极通过同一条所述第一开关支线与同一个所述第一开关测试垫电连接;
沿所述第一方向,K组所述第一数据主线单元中的所述第一数据主线依次交替并周期性排列;
沿所述第一方向,各所述第一开关测试垫所连接的子像素的发光颜色的排列顺序与一个排列周期内的各所述第一数据主线所连接的子像素的发光颜色的最小排列周期的排列顺序不同;和/或,
沿所述第一方向,一个排列周期内的K条所述第一数据主线对应的目标接收信号的排列顺序与K个所述第一颜色测试垫对应的目标接收信号的排列顺序不同。
8.根据权利要求7所述的显示面板,其特征在于,所述显示面板包括W种发光颜色的子像素,C=W。
9.根据权利要求6或7所述的显示面板,其特征在于,所述显示面板包括W种发光颜色的子像素,K=W,或者,K=2W。
10.根据权利要求9所述的显示面板,其特征在于,所述显示面板包括发光颜色为红色的红色子像素、发光颜色为绿色的绿色子像素和发光颜色为蓝色的蓝色子像素;
K=2W时,K个所述第一颜色测试垫包括两个红色测试垫、两个绿色测试垫和两个蓝色测试垫,且两个所述红色测试垫接收的数据信号的极性相反,两个所述绿色测试垫接收的数据信号的极性相反,两个所述蓝色测试垫接收的数据信号的极性相反。
11.一种显示面板的混料检出方法,其特征在于,包括:
通过目标测试装置对待检面板进行VT测试;
获取所述待检面板的测试画面;
若所述测试画面与所述VT测试对应的目标画面相同,则确定所述待检面板为目标面板,否则判定所述待检面板为混杂面板;
其中,所述显示面板包括N个第一测试垫、N组第一主线单元和N条第一支线;一组所述第一主线单元包括至少一条第一主线;一条所述第一支线分别与一个所述第一测试垫以及一组所述第一主线单元中的所有所述第一主线电连接;N为大于或等于3的整数;
沿所述显示面板的厚度方向,各所述第一主线互不交叠,各所述第一支线互不交叠;
N个所述第一测试垫沿第一方向并排设置,所述第一主线的至少部分沿所述第一方向并排设置;沿所述第一方向,各所述第一主线单元中的所述第一主线对应的目标接收信号的排列顺序为第一顺序,各所述第一测试垫对应的目标接收信号的排列顺序为第二顺序;
所述目标面板和所述混杂面板中的一者满足所述第一顺序与所述第二顺序相同,另一者满足所述第一顺序与所述第二顺序不同。
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