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CN111883051B - 具有劣化补偿的有机发光显示装置 - Google Patents

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CN111883051B CN202010325273.9A CN202010325273A CN111883051B CN 111883051 B CN111883051 B CN 111883051B CN 202010325273 A CN202010325273 A CN 202010325273A CN 111883051 B CN111883051 B CN 111883051B
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Abstract

具有劣化补偿的有机发光显示装置。一种有机发光显示OLED装置，该OLED装置包括图像显示构件、老化显示构件、用于补偿图像显示构件的显示像素的原始图像数据的劣化的劣化补偿控制构件。老化显示构件的老化像素通过反映显示像素的图像驱动数据而劣化，并且原始图像数据的劣化根据与显示像素的累积应力相对应的标准累积应力指标的劣化确认值而进行补偿。可以在具有高开口率的同时准确地反映像素的劣化程度，以使得可以执行有效的劣化补偿。

Description

具有劣化补偿的有机发光显示装置
技术领域
本公开涉及一种有机发光显示(OLED)装置，并且更具体地，涉及一种能够补偿有机发光二极管的劣化的OLED装置。
背景技术
通常，显示面板的像素之间的亮度均匀性由于像素之间的劣化变化而退化。像素的劣化是由例如由于驱动时间、驱动电压等引起的应力累积引起的。像素之间的累积应力可能不同。即使当根据相同驱动数据的相同驱动电流提供给各个像素的有机发光二极管时，由于累积应力不同也会产生劣化变化，结果，在像素之间也产生亮度变化。
像素之间的这种劣化变化导致图像残留(sticking)现象，并成为使所显示的图像的质量退化的因素。因此，为了减轻由于劣化引起的图像质量退化，有机发光显示(OLED)装置通常具有劣化补偿特征。
一种劣化补偿方法是确认显示像素的累积应力，然后根据所确认的累积应力来估计和补偿劣化。这种方法的缺点在于，感测像素没有设置在显示区域中，因此，开口率总体上较高，但是不能准确地反映每个显示像素的劣化程度。
另一种劣化补偿方法是直接感测每个像素的劣化程度，并根据感测到的劣化程度来补偿劣化。这种方法的优点是准确地反映了像素的劣化程度，但缺点是结构复杂且开口率低。
发明内容
在本公开中，描述了具有有效的劣化补偿结构和功能的有机发光显示(OLED)装置的实施方式。
在实施方式中，OLED装置包括图像显示构件，该图像显示构件包括显示像素，在图像显示操作中所述显示像素被驱动以显示每帧的图像并且所述显示像素中的每一个根据图像驱动数据被接入发光(emission-access)；老化显示构件，该老化显示构件包括老化像素，在劣化感测操作中所述老化像素中的每一个被驱动以读取反映每个老化像素的劣化程度的劣化感测值；以及劣化补偿控制构件，该劣化补偿控制构件存储劣化相关性信息，该劣化相关性信息表示标准累积应力指标中的每一个的劣化确认值并且根据劣化感测值进行更新。劣化补偿控制构件根据劣化相关性信息补偿每个显示像素的原始图像数据的劣化，以提供每个显示像素的图像驱动数据。老化像素被驱动以通过反映每帧中的显示像素的图像驱动数据而劣化。原始图像数据的劣化是根据与表示显示像素的累积应力的图像累积应力指标相对应的标准累积应力指标的劣化确认值来补偿的。
基于当前帧中的显示像素中的每一个的原始图像数据当中的最大数据值来确定当前帧中的老化像素中的每一个的原始老化数据。
劣化补偿控制器包括：累积应力存储单元，该累积应力存储单元存储显示像素的图像累积应力指标和老化像素的老化累积应力指标；应力确认更新单元，该应力确认更新单元通过确认显示像素中的每一个的图像单元应力指标和老化像素中的每一个的老化单元应力指标来更新累积应力存储单元中所存储的图像累积应力指标和老化累积应力指标。图像单元应力指标中的每一个与显示像素中的每一个的原始图像数据相对应，并且老化单元应力指标中的每一个与老化像素中的每一个的原始老化数据相对应。劣化补偿控制器包括：相关性确认单元，该相关性确认单元确认老化像素中的每一个的老化累积应力指标与劣化感测值之间的相关性以生成感测相关性信息；以及劣化补偿单元，该劣化补偿单元存储劣化相关性信息，基于与显示像素中的每一个的图像累积应力指标相对应的标准累积应力指标的劣化确认值来补偿显示像素中的每一个的原始图像数据的劣化，以生成显示像素中的每一个的图像驱动数据，基于与老化像素中的每一个的老化累积应力指标相对应的标准累积应力指标的劣化确认值来补偿老化像素中的每一个的原始老化数据的劣化，以生成老化像素中的每一个的老化驱动数据。劣化补偿单元的劣化相关性信息使用感测相关性信息来更新。
累积应力存储单元包括：易失性存储器，该易失性存储器存储显示像素的图像累积应力指标和老化像素的老化累积应力指标，并与应力确认更新单元、相关性确认单元和劣化补偿单元进行通信，其中，显示像素中的每一个的图像累积应力指标根据对应的图像单元应力指标来更新，并且老化像素中的每一个的老化累积应力指标根据对应的老化单元应力指标来更新；以及非易失性存储器，该非易失性存储器即使在断电时也存储图像累积应力指标和老化累积应力指标，并与易失性存储器进行通信。
应力确认更新单元包括：单元应力确认装置，该单元应力确认装置确认显示像素中的每一个的原始图像数据以生成显示像素中的每一个的图像单元应力指标，并确认老化像素中的每一个的原始老化数据以生成老化像素中的每一个的老化单元应力指标；以及应力相加装置，该应力相加装置通过将显示像素中的每一个的图像单元应力指标相加来更新显示像素中的每一个的图像累积应力指标，并通过将老化像素中的每一个的老化单元应力指标相加来更新老化像素中的每一个的老化累积应力指标。
劣化补偿单元包括：劣化查找表，该劣化查找表存储劣化相关性信息并输出与显示像素中的每一个的图像累积应力指标和老化像素中的每一个的老化累积应力指标相对应的劣化确认值；确认值放大装置，该确认值放大装置通过对从劣化查找表输出的劣化确认值进行放大来生成放大确认值；以及劣化补偿装置，该劣化补偿装置补偿显示像素中的每一个的原始图像数据的劣化以生成显示像素中的每一个的图像驱动数据，并且补偿老化像素中的每一个的原始老化数据的劣化以生成老化像素中的每一个的老化驱动数据。由劣化补偿装置分别基于从确认值放大装置输出的原始图像数据和原始老化数据的放大确认值来补偿原始图像数据的劣化和原始老化数据的劣化。
劣化补偿控制器还包括：数据设置信号生成单元，该数据设置信号生成单元基于图像累积应力指标和老化累积应力指标来生成在先前帧中被激活的数据设置信号；以及老化数据生成器，该老化数据生成器根据数据设置信号的激活，基于图像累积应力指标和老化累积应力指标确定当前帧中的老化像素中的每一个的原始老化数据。
老化显示构件的老化像素中的每一个在图像显示操作中根据老化驱动数据发光；并且老化像素中的每一个的老化驱动数据是基于显示像素中的每一个的原始图像数据确定的。
老化像素中的每一个的老化驱动数据是通过补偿老化像素中的每一个的原始老化数据的劣化来生成的，并且老化像素中的每一个的原始老化数据是基于显示像素中的每一个的原始图像数据生成的。
老化像素中的每一个的原始老化数据是基于显示像素中的每一个的图像累积应力指标生成的。对原始老化数据的劣化的补偿是根据老化像素的劣化感测值来执行的。
附图说明
通过参照附图详细描述本公开的示例性实施方式，本公开的上述和其他目的、特征和优点对于本领域普通技术人员将变得更加清楚，在附图中：
图1是例示了根据实施方式的有机发光显示(OLED)装置的示意图；
图2是例示了图1的图像显示构件和老化显示构件的示意图；
图3是用于描述图2所示的显示像素的驱动的示意图；
图4是用于描述图2所示的老化像素的驱动的示意图；
图5是用于描述图像累积应力指标的最大值和老化累积应力指标的最大值的改变的图；
图6是例示了图1的劣化补偿控制器的示意图；
图7是例示了图6的累积应力存储单元的示意图；
图8是例示了图6的劣化补偿单元的示意图；
图9是用于描述显示像素的原始图像数据的劣化补偿的示例的图；以及
图10是用于描述OLED装置的操作的流程图。
具体实施方式
图1是例示了根据实施方式的具有劣化补偿功能的有机发光显示(OLED)装置的示意图。
OLED装置可以执行图像显示操作和劣化感测操作。在实施方式中，在图像显示操作中激活显示驱动信号XCONDP，并且在劣化感测操作中激活感测驱动信号XCONSN。可以同时执行图像显示操作和劣化感测操作。
为了简化描述，可以省略用于执行图像显示操作和劣化感测操作的各种信号的详细描述。然而，对此类信号的描述的省略不会缩小本公开的范围。
在说明书中，数据、应力指标、值等可以例如通过一条或几条信号线以串行方法来发送。在附图中，由虚线示出的附图标记“SYNC”表示本公开的元件或组件中的相应元件或组件可以同步。
在图1的实施方式中，OLED装置包括图像显示构件100、老化显示构件200和劣化补偿控制构件BKCON。
在图像显示构件100中布置有在图像显示操作中被驱动以显示每帧图像的n个显示像素PIXd<1：n>。另外，在老化显示构件200中布置有m个老化像素PIXg<1：m>。在实施方式中，“n”和“m”二者均是2或更大的自然数，并且“m”可以小于“n”。
在图像显示操作中，显示像素PIXd<1：n>中的每一个根据其图像驱动数据DATDRd<1：n>被接入发光。
老化像素PIXg<1：m>中的每一个被劣化以反映显示像素PIXd<1：n>的劣化程度。老化像素PIXg<1：m>中的每一个被驱动以通过反映每帧中的图像驱动数据DATDRd<1：n>的数据值(分布范围)而劣化。
结果，即使当长时间使用OLED装置时，也通过有效地反映显示像素PIXd<1：n>的劣化程度的分布而使老化像素PIXg<1：m>劣化。
老化像素PIXg<1：m>中的每一个可以被实现为独立于显示像素PIXd<1：n>的接入发光而接入发光。
例如，老化像素PIXg<1：m>主要在图像显示操作中与显示像素PIXd<1：n>一起接入发光。然而，当执行劣化感测操作时，即使在执行图像显示操作，老化像素PIXg<1：m>的接入发光也被阻止。
老化像素PIXg<1：m>中的每一个根据其老化驱动数据DATDRg<1：m>接入发光。当重复执行这种接入发光时，老化像素PIXg<1：m>中的每一个被接入以具有彼此不同的劣化程度。
在劣化感测操作中，老化像素PIXg<1：m>中的每一个被驱动以读取其劣化感测值VSEN<1：m>，该劣化感测值VSEN<1：m>是反映劣化程度的电分量(例如，电压电平、电流值等)。
在实施方式中，劣化感测值VSEN<1：m>是电压电平。可以通过对从老化像素PIXg<1：m>中的每一个感测到的电流量进行积分和转换，来获得作为劣化感测值VSEN<1：m>的电压电平。
此外，在诸如在上电期间、达到预定时间段等的特定条件下执行劣化感测操作。
作为示例，例示并描述了其中针对每个劣化程度存在一个老化像素PIXg的实施方式。然而，实施方式不限于此。在实施方式中，可以存在针对相同劣化程度的多个老化像素PIXg。在这种情况下，劣化感测值VSEN<1：m>可以被理解为针对相同劣化程度的老化像素PIXg中的每一个的劣化感测值VSEN的平均值。
显示像素PIXd和老化像素PIXg的劣化程度可以取决于它们自己的累积应力。在这种情况下，显示像素PIXd的单元应力和老化像素PIXg的单元应力可以分别取决于显示像素PIXd的图像驱动数据DATDRd的大小和老化像素PIXg的老化驱动数据DATDRg的大小。
显示像素PIXd和老化像素PIXg分别以根据其图像驱动数据DATDRd和老化驱动数据DATDRg的值的亮度发光。
显示像素PIXd和老化像素PIXg中的劣化程度(即，累积应力)越高，相同值的图像驱动数据DATDRd和老化驱动数据DATDRg的亮度越低。
仍然参照图1，劣化补偿控制构件BKCON存储劣化相关性信息IFDE。
劣化相关性信息IFDE表示标准累积应力指标RPST中的每一个的劣化确认值FVA(参见图9)。
例如，劣化确认值FVA是将劣化程度确定为标准累积应力指标RPST中的每一个的数值的值。如下所述，劣化确认值FVA被用作显示像素PIXd和老化像素PIXg的亮度的补偿的基础。
劣化相关性信息IFDE的劣化确认值FVA根据老化像素PIXg中的每一个的劣化感测值VSEN来更新。
劣化补偿控制构件BKCON被驱动以根据劣化相关性信息IFDE补偿图像显示构件100的显示像素PIXd中的每一个的原始图像数据DATQRd的劣化，以提供显示像素PIXd中的每一个的图像驱动数据DATDRd。
根据与显示像素PIXd的对应于原始图像数据DATQRd的图像累积应力指标ASTd相对应的标准累积应力指标RPST的劣化确认值FVA来执行原始图像数据DATQRd的劣化补偿。
图像累积应力指标ASTd表示与其对应的显示像素PIXd的累积应力。
当不存在与图像累积应力指标ASTd相匹配的标准累积应力指标RPST时，确认最接近图像累积应力指标ASTd的标准累积应力指标RPST或基于两个相邻的值通过插值计算出的标准累积应力指标RPST的劣化确认值FVA。
在OLED装置中，用于识别劣化程度的老化像素PIXg与用于显示图像的显示像素PIXd设置在不同的区域中。因此，在根据该实施方式的OLED装置中，开口率大大提高。
此外，在OLED装置中，通过反映每帧中的显示像素PIXd的图像驱动数据DATDRd的数据值来使老化像素PIXg劣化。通过老化像素PIXg直接感测劣化程度，并且所感测的劣化程度反映在对显示像素PIXd的劣化补偿中。因此，极大提高了对显示像素的劣化补偿的准确度。
结果，在具有高开口率的同时可以准确地反映像素的劣化程度，即，可以执行有效的劣化补偿。
在下文中，将详细描述图1中所示的OLED装置的每个组件。
图2是例示了图1的图像显示构件100和老化显示构件200的示意图。参照图2，图像显示构件100包括图像显示面板110、图像选通驱动电路130和图像数据驱动电路150。
在图像显示面板110中，显示像素PIXd<1：n>以由图像选通线GLd和图像数据线DLd组成的矩阵结构布置。图像选通驱动电路130被驱动以选择性地激活图像选通线GLd。图像数据驱动电路150被驱动以根据与图像数据线DLd相对应的显示像素PIXd中的每一个的图像驱动数据DATDRd来驱动图像数据线DLd。
接下来，描述显示像素PIXd的驱动。
图3是用于描述图2所示的显示像素PIXd的驱动的示意图。图3将例示与一个显示像素PIXd有关的配置。
图3中所示的显示像素PIXd是最简单的实施方式。实施方式不限于此。例如，由n沟道金属氧化物半导体(NMOS)表示的晶体管可以被配置为p沟道金属氧化物半导体(PMOS)，并且可以提供用于Vt补偿等的其他元件。
参照图3，显示像素PIXd中的每一个包括有机发光二极管113，当显示像素PIXd中的每一个由于相应图像选通线GLd的激活而被选中时，有机发光二极管113根据有机发光二极管113的图像驱动电压发光。
显示像素PIXd中的每一个的图像驱动电流IDRd具有其中图像驱动数据DATDRd由DAC 151转换并通过相应图像数据线DLd发送的电流量。
随着重复执行图像显示操作，显示像素PIXd中的每一个的有机发光二极管113逐渐劣化。随着图像驱动电流IDRd的增加，显示像素PIXd中的每一个的有机发光二极管113劣化。
再次参照图2，老化显示构件200包括老化显示面板210、老化选通驱动电路230和老化数据驱动感测电路250。
在老化显示面板210中，老化像素PIXg<1：m>以矩阵结构布置。这里，当老化像素PIXg<1：m>中的每一个被接入发光时，老化像素PIXg<1：m>中的每一个由老化显示选通线GLDg和老化数据线DLg来指定。另外，在劣化感测操作中，老化像素PIXg<1：m>中的每一个由老化感测选通线GLSg和老化感测线SLg来指定。
在图像显示操作中，老化选通驱动电路230被驱动以选择性地激活老化显示选通线GLDg。另外，在劣化感测操作中，老化选通驱动电路230被驱动以选择性地激活老化感测选通线GLSg。
在图像显示操作中，老化数据驱动感测电路250被驱动以根据与老化数据线DLg相对应的老化像素PIXg中的每一个的老化驱动数据DATDRg来驱动老化数据线DLg。另外，在劣化感测操作中，老化数据驱动感测电路250被驱动以通过相应的老化感测线SLg读取老化像素PIXg中的每一个的劣化感测值VSEN。
接下来，描述老化像素PIXg的驱动。
图4是用于描述图2所示的老化像素PIXg的驱动的示意图。图4将例示与一个老化像素PIXg有关的配置。
参照图4，老化像素PIXg中的每一个包括当老化像素PIXg中的每一个由于相应老化显示选通线GLDg的激活而被选中时，根据有机发光二极管213的老化驱动电压而发光的有机发光二极管213。
老化像素PIXg中的每一个的老化驱动电流IDRg具有其中老化驱动数据DATDRg由DAC 251转换并通过相应老化数据线DLg发送的电流量。
随着重复执行图像显示操作，老化像素PIXg中的每一个的有机发光二极管213逐渐劣化。另外，随着老化驱动电流IDRg的增加，老化像素PIXg中的每一个的有机发光二极管213劣化。
此外，当老化像素PIXg中的每一个由于相应老化感测选通线GLSg的激活而被选中时，老化像素PIXg中的每一个向相应老化感测线SLg发送有机发光二极管213的阳极端子NAN的电压。
发送到老化感测线SLg的有机发光二极管213的阳极端子NAN的电压通过老化数据驱动感测电路250的读取装置253被读取为劣化感测值VSEN。
在OLED装置中，可以在老化显示面板210的上表面上形成阻挡材料。因此，可以通过阻挡材料来阻挡从老化像素PIXg发射到外部的光的发射。
图像显示面板110和老化显示面板210可以以集成面板的形式实现。缓冲区域ARBF可以设置在图像显示面板110和老化显示面板210之间。因此，可以缓解诸如由于从老化像素PIXg发射的光的干扰导致在图像显示面板110上显示的图像失真之类的现象。
再次参照图1，劣化补偿控制构件BKCON包括老化数据生成器300和劣化补偿控制器400。
老化数据生成器300基于显示像素PIXd中的每一个的原始图像数据DATQRd生成老化像素PIXg中的每一个的原始老化数据DATQRg。
劣化补偿控制器400存储劣化相关性信息IFDE。
劣化补偿控制器400使用劣化相关性信息IFDE补偿显示像素PIXd中的每一个的原始图像数据DATQRd的劣化，以生成显示像素PIXd中的每一个的图像驱动数据DATDRd。
劣化补偿控制器400使用劣化相关性信息IFDE补偿老化像素PIXg中的每一个的原始老化数据DATQRg的劣化，以生成老化像素PIXg中的每一个的老化驱动数据DATDRg。
与劣化原始信息DATQRd的劣化的补偿类似，根据劣化相关性信息IFDE执行对原始老化数据DATQRg的劣化的补偿。
根据与老化像素PIXg的对应于原始老化数据DATQRg(参见图8)的老化累积应力指标ASTg相对应的标准累积应力指标RPST的劣化确认值FVA来执行对原始老化数据DATQRg的劣化的补偿。
在下文中，将描述由老化数据生成器300生成的原始老化数据DATQRg。
基于当前帧中显示像素PIXd中的每一个的原始图像数据DATQRd的最大数据值、图像累积应力指标ASTd、老化累积应力指标ASTg等，确定当前帧(例如，第k帧)中的老化像素PIXg中的每一个的原始老化数据DATQRg。
作为示例，假设显示像素PIXd中的每一个的原始图像数据DATQRd中的最大数据值为255并且m为9，则老化像素PIXg<1：9>中的每一个的原始老化数据DATQRg<1：9>可以如下表1所示。
[表1]
原始老化数据 数据值
DATQRg<1> 255
DATQRg<2> 223
DATQRg<3> 191
DATQRg<4> 159
DATQRg<5> 127
DATQRg<6> 95
DATQRg<7> 63
DATQRg<8> 31
DATQRg<9> 0
在以与表1中相同的方式生成原始老化数据DATQRg的情况下，随着重复执行图像显示操作，显示像素PIXd的图像累积应力指标ASTd当中的最大值与老化像素PIXg的老化累积应力指标ASTg当中的最大值之间的差逐渐增加(参见图5中的情况1)。
在这种情况下，原始图像数据DATQRd在特定显示像素PIXd中可以不总是具有最大值255。准备劣化的最坏情况的老化像素PIXg<1>的劣化程度与特定显示像素PIXd的劣化程度之间的差变得更大。
因此，老化像素PIXg的老化累积应力指标ASTg之间的间隔可以增加，并且在这种情况下可能不期望劣化补偿的效果。
为了改善劣化补偿，在示例性实施方式中，老化像素PIXg中的每一个的原始老化数据DATQRg是基于显示像素PIXd的图像累积应力指标ASTd和老化像素PIXg的老化累积应力指标ASTg。
例如，当激活数据设置信号XDASET时，当前帧中的老化像素PIXg中的每一个的原始老化数据DATQRg被确定为基本数据(例如，0)(参见情况2)。
当显示像素PIXd的图像累积应力指标ASTd当中的最大值Dmax_d与老化像素PIXg的老化累积应力指标ASTg当中的最大值之间的差D_dif超过“先前帧(例如，第(k-1)帧”)中的允许范围D_max时，可以激活数据设置信号XDASET(参见图5中的t1)。
在这种情况下，原始老化像素PIXg<1：9>中的每一个的原始老化数据DATQRg<1：9>可以如下表2所示。
[表2]
原始老化数据 数据值
DATQRg<1> 0
DATQRg<2> 0
DATQRg<3> 0
DATQRg<4> 0
DATQRg<5> 0
DATQRg<6> 0
DATQRg<7> 0
DATQRg<8> 0
DATQRg<9> 0
如表2所示，由于老化像素PIXg中的每一个的原始老化数据DATQRg被确定为基本数据，所以可以缓解老化像素PIXg的老化累积应力指标ASTg之间的间隔的增加。
在下文中，详细描述劣化补偿控制器400。
图6是例示了图1的劣化补偿控制器400的示意图。参照图6，劣化补偿控制器400包括累积应力存储单元410、应力确认更新单元420、相关性确认单元430、劣化补偿单元440和数据设置信号生成单元450。
累积应力存储单元410存储显示像素PIXd的图像累积应力指标ASTd和老化像素PIXg的老化累积应力指标ASTg。
图7是例示了图6的累积应力存储单元410的示意图。参照图7，累积应力存储单元410包括易失性存储器411和非易失性存储器413。
易失性存储器411具有比非易失性存储器413相对更快的操作速度。易失性存储器411存储显示像素PIXd的图像累积应力指标ASTd，并且与应力确认更新单元420、相关性确认单元430、劣化补偿单元440和数据设置信号生成单元450进行通信。
这里，通过添加(adding)当前帧中的相应图像单元应力指标USTd(参照图6)来更新显示像素PIXd中的每一个的图像累积应力指标ASTd。另外，通过添加当前帧中的相应老化单元应力指标USTg(参照图6)来更新老化像素PIXg中的每一个的老化累积应力指标ASTg。
易失性存储器411可以是静态随机存取存储器(SRAM)。
非易失性存储器413与易失性存储器411进行通信。另外，即使在电源关闭的情况下，非易失性存储器413也存储图像累积应力指标ASTd和老化累积应力指标ASTg。
非易失性存储器413可以是闪存。
在易失性存储器411和非易失性存储器413中，图像累积应力指标ASTd和老化累积应力指标ASTg可以存储在不同的存储器装置中。
再次参照图6，应力确认更新单元420确认显示像素PIXd中的每一个的图像单元应力指标USTd和老化像素PIXg中的每一个的老化单元应力指标USTg。
显示像素PIXd中的每一个的图像单元应力指标中的每一个与显示像素PIXd中的每一个的原始图像数据DATQRd相对应。老化像素PIXg中的每一个的老化单元应力指标中的每一个与老化像素PIXg中的每一个的原始老化数据DATQRg相对应。
应力确认更新单元420被驱动以更新存储在累积应力存储单元410中的图像累积应力指标ASTd和老化累积应力指标ASTg。
在实施方式中，应力确认更新单元420可以包括单元应力确认装置421和应力相加装置423。
单元应力确认装置421确认显示像素PIXd中的每一个的原始图像数据DATQRd，并生成显示像素PIXd中的每一个的图像单元应力指标USTd。单元应力确认装置421确认老化像素PIXg中的每一个的原始老化数据DATQRg，并生成老化像素PIXg中的每一个的老化单元应力指标USTg。
应力相加装置423通过将显示像素PIXd中的每一个的图像单元应力指标相加来更新图像累积应力指标ASTd。应力相加装置423通过将老化像素PIXg中的每一个的老化单元应力指标相加来更新老化累积应力指标ASTg。
相关性确认单元430确认老化累积应力指标ASTg与老化像素PIXg中的每一个的劣化感测值VSEN之间的相关性，并生成作为关于相关性的信息的感测相关性信息IFSN。
劣化补偿单元440存储劣化相关性信息IFDE。使用感测相关性信息IFSN来更新劣化相关性信息IFDE。
劣化补偿单元440基于与显示像素PIXd中的每一个的图像累积应力指标ASTd相对应的标准累积应力指标RPST的劣化确认值FVA来补偿显示像素PIXd中的每一个的原始图像数据DATQRd的劣化，以生成显示像素PIXd中的每一个的图像驱动数据DATDRd。
劣化补偿单元440基于与老化像素PIXg中的每一个的老化累积应力指标ASTg相对应的标准累积应力指标RPST的劣化确认值FVA来补偿老化像素PIXg中的每一个的原始老化数据DATQRg的劣化，以生成老化像素PIXg中的每一个的老化驱动数据DATDRg。
图8是例示了图6的劣化补偿单元440的示意图。参照图8，劣化补偿单元440包括劣化查找表441、确认值放大装置443和劣化补偿装置445。
劣化查找表441存储劣化相关性信息IFDE。劣化查找表441输出与显示像素PIXd中的每一个的图像累积应力指标ASTd和老化像素PIXg中的每一个的老化累积应力指标ASTg相对应的劣化确认值FVA。
确认值放大装置443将从劣化查找表441输出的劣化确认值FVA放大到预定增益(例如，10)，并生成放大确认值PVA。由于劣化确认值FVA被放大，因此有助于劣化补偿装置445中的劣化补偿。
劣化补偿装置445通过补偿显示像素PIXd中的每一个的原始图像数据DATQRd的劣化来生成显示像素PIXd中的每一个的图像驱动数据DATDRd。劣化补偿装置445通过补偿老化像素PIXg中的每一个的原始老化数据DATQRg的劣化来生成老化像素PIXg中的每一个的老化驱动数据DATDRg。
基于从劣化查找表441输出的原始图像数据DATQRd和原始老化数据DATQRg的劣化确认值FVA来执行劣化补偿装置445中的对原始图像数据DATQRd和原始老化数据DATQRg的劣化的补偿。
数据设置信号生成单元450生成数据设置信号XDASET(参照图6)。数据设置信号XDASET例如可以如上面参照图5所述地被激活。
在下文中，描述了对显示像素PIXd<i>的原始图像数据DATQRd的劣化的补偿。
图9是用于描述对图1中的显示像素PIXd<i>的原始图像数据DATQRd的劣化的补偿的示例的图。
例如，在显示像素PIXd<i>的图像累积应力指标ASTd<i>(其中，i是1以上且n以下的自然数)中，当标准累积应力指标RPST对应于20时，显示像素PIXd<i>的劣化确认值FVA被确认为0.13V。而且，放大确认值PVA为1.3V。
这里，显示像素PIXd<i>的劣化补偿值CVA被确认为13。
在这种情况下，当显示像素PIXd<i>的原始图像数据DATQRd的数据值为142时，图像驱动数据DATDRd被确定为155＝(142+13)。
图10是用于描述根据实施方式的OLED装置的操作的流程图。
首先，在S100的操作中，在劣化感测操作进行的同时，提取老化像素PIXg的劣化感测值VSEN。
在S200的操作中，基于提取的老化像素PIXg的劣化感测值VSEN，从显示像素PIXd的原始图像数据DATQRd生成图像驱动数据DATDRd。
在S300的操作中，在图像显示操作进行的同时，显示像素PIXd根据图像驱动数据DATDRd接入发光。
在本公开中，关于劣化补偿方法，例示并描述了实施方式，其中生成了根据劣化程度的劣化补偿值CVA，并且将劣化补偿值CVA加至所生成的原始图像数据DATQRd，以生成图像驱动数据DATDRd。
然而，实施方式不限于此。在其他实施方式中，可以实现劣化补偿，使得根据劣化程度来生成增益，并且所生成的增益与原始图像数据DATQRd相乘以生成图像驱动数据DATDRd。
在OLED装置的上述实施方式中，用于识别劣化程度的老化像素被设置在与用于显示图像的显示像素不同的区域中。因此，能够极大提高开口率。此外，通过反映每帧中的显示像素的图像驱动数据的数据值来使老化像素劣化。通过老化像素直接感测劣化程度，并且所感测的劣化程度反映在显示像素的劣化补偿中。因此，能够极大地提高显示像素的劣化补偿的准确度。
结果，根据本公开的OLED装置，能够在具有高开口率的同时准确地反映像素的劣化程度，即，能够执行有效的劣化补偿。
在结束详细说明时，本领域技术人员将理解，可以在基本不脱离本公开的原理和精神和范围的情况下对实施方式进行许多变型和修改。因此，所公开的实施方式仅以一般性和描述性意义使用，并非出于限制的目的。
相关申请的交叉引用
本申请要求于2019年5月1日提交的韩国专利申请第10-2019-0051133号的优先权和权益，其公开通过引用全部合并于此。

Claims (11)

1.一种有机发光显示OLED装置，该OLED装置包括：
图像显示构件，该图像显示构件包括显示像素，在图像显示操作中所述显示像素被驱动以显示每帧的图像并且所述显示像素中的每一个根据图像驱动数据被接入发光；
老化显示构件，该老化显示构件包括老化像素，在劣化感测操作中所述老化像素中的每一个被驱动以读取反映每个老化像素的劣化程度的劣化感测值；以及
劣化补偿控制构件，该劣化补偿控制构件存储劣化相关性信息，该劣化相关性信息表示标准累积应力指标中的每一个的劣化确认值并且根据所述劣化感测值进行更新，所述劣化补偿控制构件根据所述劣化相关性信息补偿每个显示像素的原始图像数据的劣化，以提供每个显示像素的图像驱动数据，
其中，所述老化像素被驱动以通过反映每帧中的所述显示像素的所述图像驱动数据而劣化，并且
所述原始图像数据的劣化是根据与表示所述显示像素的累积应力的图像累积应力指标相对应的标准累积应力指标的劣化确认值来补偿的，
其中，在不执行所述劣化感测操作的所述图像显示操作中，所述老化像素中的每一个根据老化驱动数据而接入发光，
所述劣化补偿控制构件包括：
老化数据生成器，该老化数据生成器基于每个所述显示像素的所述原始图像数据来生成每个所述老化像素的原始老化数据；以及
劣化补偿控制器，该劣化补偿控制器存储所述劣化相关性信息，使用所述劣化相关性信息补偿每个所述显示像素的所述原始图像数据的劣化，以生成每个所述显示像素的图像驱动数据，并补偿每个所述老化像素的所述原始老化数据的劣化，以生成每个所述老化像素的所述老化驱动数据，并且
所述原始老化数据的劣化是根据与表示所述老化像素的累积应力的老化累积应力指标相对应的所述标准累积应力指标的劣化确认值来补偿的。
2.根据权利要求1所述的OLED装置，其中，基于当前帧中的所述显示像素中的每一个的所述原始图像数据当中的最大数据值来确定所述当前帧中的所述老化像素中的每一个的所述原始老化数据。
3.根据权利要求1所述的OLED装置，其中，所述劣化补偿控制器包括：
累积应力存储单元，该累积应力存储单元存储所述显示像素的所述图像累积应力指标和所述老化像素的所述老化累积应力指标；
应力确认更新单元，该应力确认更新单元通过确认所述显示像素中的每一个的图像单元应力指标和所述老化像素中的每一个的老化单元应力指标来更新所述累积应力存储单元中所存储的所述图像累积应力指标和所述老化累积应力指标，其中，
所述图像单元应力指标中的每一个与所述显示像素中的每一个的所述原始图像数据相对应，并且
所述老化单元应力指标中的每一个与所述老化像素中的每一个的所述原始老化数据相对应；
相关性确认单元，该相关性确认单元确认所述老化像素中的每一个的所述老化累积应力指标与所述劣化感测值之间的相关性，以生成感测相关性信息；以及
劣化补偿单元，该劣化补偿单元：
存储所述劣化相关性信息，
基于与所述显示像素中的每一个的所述图像累积应力指标相对应的所述标准累积应力指标的所述劣化确认值来补偿所述显示像素中的每一个的所述原始图像数据的劣化，以生成所述显示像素中的每一个的所述图像驱动数据，
基于与所述老化像素中的每一个的所述老化累积应力指标相对应的所述标准累积应力指标的所述劣化确认值来补偿所述老化像素中的每一个的所述原始老化数据的劣化，以生成所述老化像素中的每一个的所述老化驱动数据，
其中，所述劣化补偿单元的所述劣化相关性信息使用所述感测相关性信息来更新。
4.根据权利要求3所述的OLED装置，其中，所述累积应力存储单元包括：
易失性存储器，该易失性存储器存储所述显示像素的所述图像累积应力指标和所述老化像素的所述老化累积应力指标，并与所述应力确认更新单元、所述相关性确认单元和所述劣化补偿单元进行通信，其中，
所述显示像素中的每一个的所述图像累积应力指标根据对应的图像单元应力指标来更新，
所述老化像素中的每一个的所述老化累积应力指标根据对应的老化单元应力指标来更新；以及
非易失性存储器，该非易失性存储器即使在断电时也存储所述图像累积应力指标和所述老化累积应力指标，并与所述易失性存储器进行通信。
5.根据权利要求3所述的OLED装置，其中，所述应力确认更新单元包括：
单元应力确认装置，该单元应力确认装置确认所述显示像素中的每一个的所述原始图像数据以生成所述显示像素中的每一个的所述图像单元应力指标，并确认所述老化像素中的每一个的所述原始老化数据以生成所述老化像素中的每一个的所述老化单元应力指标；以及
应力相加装置，该应力相加装置通过将所述显示像素中的每一个的所述图像单元应力指标相加来更新所述显示像素中的每一个的所述图像累积应力指标，并通过将所述老化像素中的每一个的所述老化单元应力指标相加来更新所述老化像素中的每一个的所述老化累积应力指标。
6.根据权利要求3所述的OLED装置，其中，所述劣化补偿单元包括：
劣化查找表，该劣化查找表存储所述劣化相关性信息并输出与所述显示像素中的每一个的所述图像累积应力指标和所述老化像素中的每一个的所述老化累积应力指标相对应的所述劣化确认值；
确认值放大装置，该确认值放大装置通过对从所述劣化查找表输出的所述劣化确认值进行放大来生成放大确认值；以及
劣化补偿装置，该劣化补偿装置补偿所述显示像素中的每一个的所述原始图像数据的劣化以生成所述显示像素中的每一个的所述图像驱动数据，并且补偿所述老化像素中的每一个的所述原始老化数据的劣化以生成所述老化像素中的每一个的所述老化驱动数据，
其中，由所述劣化补偿装置分别基于从所述确认值放大装置输出的所述原始图像数据和所述原始老化数据的所述放大确认值来补偿所述原始图像数据的劣化和所述原始老化数据的劣化。
7.根据权利要求3所述的OLED装置，其中，
所述劣化补偿控制器还包括：数据设置信号生成单元，该数据设置信号生成单元基于所述图像累积应力指标和所述老化累积应力指标来生成先前帧中被激活的数据设置信号；以及
老化数据生成器，该老化数据生成器根据所述数据设置信号的激活，基于所述图像累积应力指标和所述老化累积应力指标来确定当前帧中的所述老化像素中的每一个的所述原始老化数据。
8.根据权利要求1所述的OLED装置，其中，
所述老化显示构件的所述老化像素中的每一个在所述图像显示操作中根据老化驱动数据发光，并且
所述老化像素中的每一个的所述老化驱动数据是基于所述显示像素中的每一个的所述原始图像数据确定的。
9.根据权利要求8所述的OLED装置，其中，
所述老化像素中的每一个的所述老化驱动数据是通过补偿所述老化像素中的每一个的原始老化数据的劣化来生成的，并且
所述老化像素中的每一个的所述原始老化数据是基于所述显示像素中的每一个的所述原始图像数据生成的。
10.根据权利要求9所述的OLED装置，其中，所述老化像素中的每一个的所述原始老化数据是基于所述显示像素中的每一个的所述图像累积应力指标生成的。
11.根据权利要求9所述的OLED装置，其中，对所述原始老化数据的劣化的补偿是根据所述老化像素的所述劣化感测值来执行的。
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Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20220030333A (ko) * 2020-08-27 2022-03-11 삼성디스플레이 주식회사 표시장치 및 표시장치의 구동 방법
US11626047B1 (en) * 2020-09-25 2023-04-11 Apple Inc. Reference array current sensing
KR20230064704A (ko) * 2021-11-03 2023-05-11 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치 및 그의 열화 보상 방법
KR20230167203A (ko) * 2022-05-30 2023-12-08 삼성디스플레이 주식회사 표시 시스템 및 이의 구동 방법
US12125436B1 (en) 2023-05-30 2024-10-22 Apple Inc. Pixel drive circuitry burn-in compensation systems and methods

Family Cites Families (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100902238B1 (ko) * 2008-01-18 2009-06-11 삼성모바일디스플레이주식회사 유기전계발광 표시장치 및 그의 구동방법
JP5246433B2 (ja) * 2009-09-18 2013-07-24 ソニー株式会社 表示装置
US10176736B2 (en) * 2010-02-04 2019-01-08 Ignis Innovation Inc. System and methods for extracting correlation curves for an organic light emitting device
KR101470688B1 (ko) * 2011-12-08 2014-12-08 엘지디스플레이 주식회사 유기발광 표시장치 및 그의 열화보상방법
KR101829467B1 (ko) 2011-12-13 2018-02-19 엘지디스플레이 주식회사 유기발광 표시장치 및 그의 열화보상방법
KR101960795B1 (ko) * 2012-12-17 2019-03-21 엘지디스플레이 주식회사 유기 발광 표시 장치 및 그의 구동 방법
KR101997875B1 (ko) * 2013-01-24 2019-07-12 삼성디스플레이 주식회사 유기전계발광 표시장치 및 그의 구동방법
KR20140133189A (ko) * 2013-05-10 2014-11-19 삼성디스플레이 주식회사 유기 발광 표시 장치의 화소 및 유기 발광 표시 장치
CN112002285B (zh) * 2014-06-25 2021-10-29 伊格尼斯创新公司 用于确定和补偿有机发光器件的效率劣化的方法
KR102336090B1 (ko) * 2014-12-15 2021-12-07 삼성디스플레이 주식회사 유기 발광 표시 장치 및 이의 구동방법
KR102236561B1 (ko) * 2014-12-31 2021-04-07 삼성디스플레이 주식회사 열화 보상 장치, 이를 포함하는 표시 장치 및 열화 보상 방법
KR102406206B1 (ko) * 2015-01-20 2022-06-09 삼성디스플레이 주식회사 유기 발광 표시 장치 및 그의 구동 방법
KR20170036938A (ko) 2015-09-24 2017-04-04 삼성디스플레이 주식회사 열화 보상 장치 및 이를 포함하는 표시 장치
KR20170136028A (ko) 2016-05-30 2017-12-11 엘지디스플레이 주식회사 유기 발광 표시 장치 및 발광 소자의 열화 보상 방법
KR102522478B1 (ko) * 2016-11-25 2023-04-17 엘지디스플레이 주식회사 유기발광표시장치 및 그의 구동방법
KR20240000648A (ko) * 2017-09-21 2024-01-02 애플 인크. 전류-전압 보상을 갖는 oled 전압 드라이버

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