CN111243472A - 显示面板母板以及显示面板的走线异常检测方法 - Google Patents

Abstract

本发明实施例公开了一种显示面板母板以及显示面板的走线异常检测方法，该显示面板母板包括：衬底膜层和位于衬底膜层上的金属走线层，衬底膜层包括第一坡面和第二坡面，金属走线层包括第一金属走线和第二金属走线，第一坡面和第一金属走线位于显示面板区域，且至少部分第一金属走线位于第一坡面上，第二坡面和第二金属走线位于走线测试区域，且至少部分第二金属走线位于第二坡面上，第二金属走线电连接有测试端子，第二金属走线和测试端子用于测试第二金属走线是否短路，进而推断第一金属走线是否短路。上述技术方案通过不同测试端子之间的电阻值来确定第二金属走线是否短路，进一步确定第一金属走线是否短路，以提高显示面板走线异常的检测效率。

Description

显示面板母板以及显示面板的走线异常检测方法

技术领域

本发明实施例涉及半导体测试技术领域，尤其涉及一种显示面板母板以及显示面板的走线异常检测方法。

背景技术

随着科学技术的发展，柔性显示面板在智能手机、平板电脑和笔记本电脑等显示装置中的应用越来越广泛。

柔性显示面板显示区的信号线，通过非显示区设置的走线与主控板电连接，来获取驱动信号，进而显示稳定的画面。

在制备显示面板的过程中，可能会出现走线短路的情况，如何快速确定显示线面上的走线是否短路，现有技术中并没有一种很好的方法。

发明内容

有鉴于此，本发明实施例提供了一种显示面板母板以及显示面板的走线异常检测方法，提高了显示面板走线异常的检测效率。

本发明实施例提供了一种显示面板母板，包括；衬底膜层和位于所述衬底膜层上的金属走线层，所述显示面板母板划分为显示面板区域和与所述显示面板区域相邻的走线测试区域，所述衬底膜层包括第一坡面和第二坡面，所述金属走线层包括第一金属走线和第二金属走线，所述第一坡面和所述第一金属走线位于所述显示面板区域，且至少部分所述第一金属走线位于所述第一坡面上，所述第二坡面和所述第二金属走线位于所述走线测试区域，且至少部分所述第二金属走线位于所述第二坡面上，所述第二金属走线电连接有测试端子，所述第二金属走线和所述测试端子用于测试所述第二金属走线是否短路，进而推断所述第一金属走线是否短路；

该技术方案可以通过不同测试端子之间的电阻值来确定第二金属走线是否短路，进一步确定第一金属走线的走线是否短路，来提高显示面板走线异常的检测效率。

可选地，所述走线测试区域包括凹槽，位于所述衬底膜层上，所述凹槽的侧面为所述第二坡面。

该技术方案，使得大部分走线测试区域去除了大部分无机层，使其具有较好的弯折性能，与显示面板区域包括的柔性显示面板非显示区的结构和功能完全一致。

可选地，所述第二金属走线覆盖所述第二坡面以及与所述第二坡面连接的平面，从所述平面的第一侧的第二坡面延伸到与所述第一侧相对的第二侧的第二坡面，其中，相邻两条所述金属走线电连接的测试端子不同；

优选地，所述测试端子位于所述第二金属走线的同一侧。

该技术方案，以保证走线测试区域的第二金属走线与显示面板区域包括的柔性显示面板非显示区的第一金属走线的走向相同，且可以通过测试端子来确定第二金属走线是否短路，进一步确定显示面板区域的第一金属走线是否短路，来提高显示面板走线异常的检测效率。

可选地，所述第二金属走线延伸出所述第二坡面的距离大于或等于8微米。

该技术方案中，第二金属走线延伸出第二坡面的距离太短，小于8微米时，不利于与后续的第一短路连接线电连接。

可选地，所述测试端子包括第一测试端子和第二测试端子；

所述第二金属走线层还包括第一短路连接线，所述第一短路连接线与第奇数条第二金属走线电连接；所述第奇数条第二金属走线中的至少一条电连接所述第一测试端子；

第二短路连接线，所述第二短路连接线与第偶数条第二金属走线电连接；所述第偶数条第二金属走线中的至少一条电连接所述第二测试端子；

优选地，所述第一短路连接线与所述第二短路连接线位于所述第二金属走线的不同侧。

该技术方案中，通过测试设备的探针在第一测试端子和第二测试端着施加不同测试信号，获取第一测试端子和第二测试端子之间的电阻值，即获取了第奇数条第二金属走线与第偶数第二金属走线之间的电阻值，确定第二金属走线之间是否发生短路，从而确定柔性显示面板区域的第一金属走线走线是否存在短路。

可选地，所述走线测试区域还包括虚设测试端子，所述虚设测试端子未电连接所述第二金属走线。

在测试的时候，测试设备上有很多探针，测试端子的数量小于探针的数量时，没有连接测试端子的探针容易被损坏，因此，该技术方案，设置虚设测试端子，可以保护探针不被损坏。

可选地，所述测试端子包括第一测试端子和至少两个第二测试端子；所述走线测试区域还包括第一短路连接线和至少两条第二短路连接线，所述第奇数条金属走线与所述第一短路连接线电连接；所述第奇数条第二金属走线中的至少一条电连接所述第一测试端子，所述第偶数条第二金属走线分别与至少两条所述第二短路连接线电连接，每条所述第偶数条第二金属走线电连接一所述第二短路连接线；每一所述第二短路连接线所电连接的所述第偶数条第二金属走线中的至少一条电连接一所述第二测试端子；

或者，所述测试端子包括至少两个所述第一测试端子和所述第二测试端子；所述走线测试区域还包括至少两条所述第一短路连接线和所述第二短路连接线，所述第奇数条第二金属走线分别与至少两条所述第一短路连接线电连接，每条所述第奇数条第二金属走线电连接一所述第一短路连接线；每一所述第一短路连接线所电连接的所述第奇数条第二金属走线中的至少一条电连接一所述第一测试端子；所述第偶数条第二金属走线与所述第二短路连接线电连接；所述第偶数条第二金属走线中的至少一条电连接所述第二测试端子。

该技术方案，可以进一步锁定第二金属走线之间发生短路的位置。

第二方面，本发明实施例提供了一种显示面板的走线异常检测方法，应用于第一方面任意所述的显示面板母板，包括：

向走线测试区域的测试端子发送第一测试信号，检测所述测试端子得到第二测试信号，基于所述第一测试信号和所述第二测试信号，确定所述走线测试区域的第二金属走线是否短路，以确定显示面板区域的第一金属走线是否短路，进而推断所述显示面板的走线是否异常。

该技术方案可以通过检测走线测试区域内的第二金属走线是否短路，以确定显示面板区域的第一金属走线是否短路，进而判断所述显示面板的走线是否异常。

可选地，向走线测试区域的测试端子发送第一测试信号，检测所述测试端子得到第二测试信号，基于所述第一测试信号和所述第二测试信号，确定所述走线测试区域的第二金属走线是否短路，以确定显示面板区域的第一金属走线是否短路包括：

基于所述第一测试信号和所述第二测试信号，确定不同所述测试端子之间的电阻值；

若不同所述测试端子之间的电阻值不等于预设电阻值，确定所述第二金属走线短路，以确定显示面板区域的第一金属走线短路。

该技术方案可以实现通过测试第二金属走线的电阻值来测试显示面板上的走线是否异常。

可选地，确定所述第二金属走线存在短路之后还包括：通过图像传感器采集所述第二金属走线的图像信号；

基于所述第二金属走线的图像信号，确定所述第二金属走线的短路位置以及显示面板区域的第一金属走线的短路位置。

该技术方案可以通过图像传感器采集第二金属走线的图像信号，锁定第二金属走线之间的金属残留物的位置，来确定第二金属走线的短路位置以及显示面板上的走线的异常位置。

本实施例提供的技术方案，第二金属走线的一部分位于第二坡面上，第二金属走线电连接有测试端子，第二金属走线层和测试端子用于测试第二金属走线是否短路，进而确定第一金属走线是否短路，具体的，可以通过不同测试端子之间的电阻值来确定第二金属走线是否短路，进一步确定第一金属走线是否短路，来判断显示面板上的走线是否异常，提高了显示面板走线异常的检测效率。

附图说明

图1为现有技术中柔性显示面板非显示区处于弯折状态的结构示意图；

图2为图1中的柔性显示面板具体膜层的结构示意图；

图3为图2中金属走线对应的俯视图；

图4为本发明实施例提供的一种显示面板母板的俯视图；

图5为图4中显示区、非显示区和走线测区域对应的剖面结构示意图；

图6是为图4中一种走线测试区域的俯视图。

图7为图4中另一种走线测试区域的俯视图；

图8为图4中又一种走线测试区域的俯视图；

图9为本发明实施例提供的一种显示面板的走线异常检测方法的流程图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本发明作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本发明，而非对本发明的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本发明相关的部分而非全部结构。

正如背景技术中提到的现有的柔性显示面板在制备的过程中，可能会出现走线短路的情况，发明人经过仔细研究发现，产生此技术问题的原因在于，以柔性显示面板100为例进行说明，图1为现有技术中柔性显示面板非显示区处于弯折状态的结构示意图；图2为图1中的柔性显示面板具体膜层的结构示意图；图3为图2中金属走线对应的俯视图。参见图1、图2和图3，柔性显示面板100包括显示区AA和位于显示区AA一侧的非显示区NA，非显示区NA经过弯折，通过与非显示区NA设置的连接焊盘150与柔性显示面板100背面的柔性电路板电连接，使得显示区AA可以获取所需要的驱动信号。由于在柔性显示面板100制备的过程中，针对非显示区NA，需要刻蚀掉部分无机层，获得较好的弯折性能，部分无机层示例性的包括层间绝缘层14、电容绝缘层13、栅极绝缘层12、缓冲层11以及柔性衬底10的部分无机层。刻蚀完成之后，会形成坡面，导致金属走线15被图案化之前以金属层存在时，在坡面区域NA1处的厚度较平缓区域NA2的厚度较薄，后续形成的光刻胶层16在坡面区域NA1处的厚度较平缓区域NA2的厚度较厚。在图案化的过程中，即形成多条金属走线15(与显示区AA中的信号线电连接)的过程，光刻胶层16曝光的过程中，坡面区域NA1处光刻胶层16厚度较厚，无法充分曝光显影而形成残胶,因此导致后续金属刻蚀残留，即可能会使得金属走线15之间形成金属残留物，造成金属走线15之间短路，从而表现为显示面板上的走线异常。但是，如何确定走线是否短路，现有技术中并没有一种很好的测试方法。

针对上述技术问题，本发明提出如下解决方案：

图4为本发明实施例提供的一种显示面板母板的俯视图，图5是图4中显示区、非显示区和走线测区域对应的剖面结构示意图；图6为图4中走线测试区域的俯视图。参见图4、图5和图6，该显示面板母板包括：衬底膜层30和位于衬底膜层30上的金属走线层，显示面板母板划分为显示面板区域B1和与显示面板区域B1相邻的走线测试区域B2，衬底膜层30包括第一坡面300A和第二坡面300B，金属走线层包括第一金属走线50和第二金属走线51，第一坡面300A和第一金属走线50位于显示面板区域B1，且至少部分第一金属走线50位于第一坡面300A上，第二坡面300B和第二金属走线51位于走线测试区域B2，且至少部分第二金属走线51位于第二坡面300B上，第二金属走线51电连接有测试端子60，第二金属走线51和测试端子60用于测试第二金属走线51是否短路，进而推断第一金属走线50是否短路。

示例性地，图4示出了至少两个显示面板区域B1，显示面板区域B1设置有显示面板200；走线测试区域B2，走线测试区域B2位于相邻显示面板区域B1之间。

需要说明的是，现有技术中的显示面板母板，包括显示面板区域，通常在显示面板区域包括的显示面板的非显示区制作测试电路，来测试显示面板上的走线是否短路，其中测试电路侧完成测试之后，需要被切割掉，切割的过程中容易对显示面板的走线造成不可逆的损坏，影响后续的制造工艺，进而降低了显示面板的良率。

本发明实施例提供的显示面板母板，设置了独立的显示面板区域B1和走线测试区域B2，走线测试区B2与显示面板区域B1设置的柔性显示面板200的显示区201和非显示区2021同时制备，且结构和膜层与非显示区2021相同。因此，走线测试区B2内第二金属走线51如果出现短路，那么柔性显示面板上非显示区2021的第一金属走线50也必然出现短路；走线测试区B2内第二金属走线51没有出现短路，那么柔性显示面板上非显示区2021的第一金属走线50也必然不会出现短路。因此，可以通过对位于走线测试区域B2的第二金属走线51和测试端子60用于测试第二金属走线51是否短路，进而确定第一金属走线50是否短路。其中，走线测试区域B2测试完成之后，可以被切割掉的，经过切割之后，显示面板母板便可以得到一个一个独立的显示面板。因此可以避免切割的过程中容易对显示面板的走线造成不可逆的损坏，影响后续的制造工艺的技术问题，进而达到提高显示面板的良率的技术效果。

可知的，第一坡面300A处的柔性显示面板200非显示区2021的第一金属走线50在形成的过程中，第一坡面300A处的金属走线层之上的光刻胶层厚度较厚，无法充分曝光显影而形成残胶，因此导致后续金属刻蚀残留，即第一金属走线50之间容易出现金属残留物，造成第一金属走线50之间存在短路。

可知的，参见图4，显示面板区域B1设置有显示面板200，显示面板200包括显示区201，非显示区202，其中非显示区202包括非显示区2021。图4中的显示区201和非显示区2021的剖面结构示意图对应于图5中示出显示区201和非显示区2021的剖面结构示意图。参见图5，柔性显示面板200包括显示区201和非显示区2021，显示区201包括用于驱动发光单元发光的薄膜晶体管，其中，薄膜晶体管示例性的包括底栅结构的低温多晶硅薄膜晶体管40，非显示区2021经过弯折与柔性显示面板200背面的柔性电路板电连接。其中，非显示区2021内设置的第一金属走线50与显示区202内数据信号线、扫描信号线以及电源信号线电连接，如果第一金属走线50短路，则显示区202内数据信号线、扫描信号线以及电源信号线则不能通过第一金属走线50获取正常的显示信号，导致显示面板的走线异常。

图4示出的走线测试区B2的俯视图对应于图6示出的走线测试区B2的俯视图。可知的，走线测试区B2与显示面板区域B1设置的柔性显示面板200的显示区201和非显示区2021同时制备，且结构和膜层与非显示区2021相同。具体的，参见图5，走线测试区B2衬底膜层30中载板牺牲层31之上的膜层(柔性衬底32、缓冲层33、栅极绝缘层34、电容绝缘层35、以及层间绝缘层36)对应于柔性显示面板200非显示区2021的柔性衬底32、缓冲层33、栅极绝缘层34、电容绝缘层35、以及层间绝缘层36。走线测试区B2的第二坡面300B对应于柔性显示面板200非显示区2021的第一坡面300A。位于走线测试区B2的第二金属走线51对应于柔性显示面板非显示区2021的第一金属走线50。

综上，可以通过检测走线测试区域B2内第二金属走线51是否短路，来确定柔性显示面板上非显示区2021的第一金属走线50是否短路，进而判断显示面板的走线是否异常。

具体测试原理如下：第二金属走线51之间是否短路可以通过第二金属走线51的电阻值来确定。第二金属走线51之间的电阻值是无穷大，从而柔性显示面板200上的第一金属走线50不存在短路。若第二金属走线51包之间的电阻值并不是无穷大，从而断定显示面板区域B1包括的柔性显示面板上第一金属走线50存在异常。

因此，本实施例提供的技术方案，第二金属走线51的至少部分位于第二坡面300B上，第二金属走线51电连接有测试端子60，第二金属走线51和测试端子60用于测试显示面板上的走线是否短路，具体的，可以通过不同测试端子60之间的电阻值来确定第二金属走线51是否短路，进而确定第一金属走线50是否短路，从而确定显示面板区域包括的显示面板上的走线是否异常，来提高显示面板走线异常的检测效率。

可知的，走线测试区域B2测试完成之后，可以被切割掉的，经过切割之后，显示面板母板便可以得到一个一个独立的显示面板。本实施例中的技术方案，没有在柔性显示面板上非显示区2021进行测试，而是设置独立的走线测试区域B2，可以避免测试端子60以及后续设置的短路连接线，占用柔性显示面板非显示区的面积。

可选地，在上述技术方案的基础上，参见图5，走线测试区域B2包括凹槽，位于衬底膜层30上，凹槽的侧面为第二坡面300B。

具体的，参见图5，第一坡面300A和第二坡面300B分别包括前坡面301、中坡面302和后坡面303。其中，凹槽包括第一刻蚀凹槽、第二刻蚀凹槽和第三刻蚀凹槽。通过刻蚀工艺，形成第一刻蚀凹槽，对应于层间绝缘层36的主刻蚀，去除部分层间绝缘层36，第一刻蚀凹槽的侧面为前坡面301。前坡面301的倾斜角为α。形成第二刻蚀凹槽，对应于层间绝缘层36的过刻蚀，去除主刻蚀之后剩余的层间绝缘层36，第二刻蚀凹槽的侧面为中坡面302。中坡面302的倾斜角为β。形成第三刻蚀凹槽的目的是去除层间绝缘层36和柔性衬底32之间依次排列的缓冲层33、栅极绝缘层34、电容绝缘层35，其中柔性衬底32包括有机层和无机层的叠层，形成第三刻蚀凹槽时，也可以去除部分紧邻缓冲层33的部分无机层。第三刻蚀凹槽的侧面为后坡面303。前坡面301、中坡面302以及后坡面303的形成，去除了位于走线测试区域B2的衬底膜层30包括的大部分无机层，使得走线测试区域B2的弯折性能较好，与显示面板区域B1包括的柔性显示面板200非显示区2021的结构和功能完全一致。由于前坡面301的倾斜角α和中坡面302的倾斜角β比较大，因此，前坡面301和中坡面302处可能会存在金属残留物，导致第二金属走线51和第一金属走线50之间短路。且前坡面301的倾斜角α大于中坡面302的倾斜角β，因此前坡面301处较中坡面302处更容易存在金属残留物。而后坡面303的倾斜角较小，存在金属残留物的可能性会小些。

可知的，参见图5，低温多晶硅薄膜晶体管40在形成的过程中，在形成源极42和漏极43时，需要在多晶硅有源层41之上的层间绝缘层36刻蚀通孔44，露出多晶硅有源层41，使得源极42和漏极43与多晶硅有源层41电连接。其中，层间绝缘层36的刻蚀分为两步进行，分别是主刻蚀和过刻蚀。主刻蚀选择的刻蚀气体包括：CF₄和O₂。过刻蚀选择的刻蚀气体包括：CHF₅、Ar以及H₂。过刻蚀相对主刻蚀的区别是，过刻蚀选择的气体对于氧化硅(层间绝缘层36包括氧化硅、氮化硅和氧化硅的叠层)和多晶硅有源层41具有更高的刻蚀比。因此在柔性显示面板200的显示区201刻蚀时，远离多晶硅有源层41的无机层部分选择主刻蚀，靠近多晶硅有源层的部分选择过刻蚀，有利于在刻蚀多晶硅有源层41之上的绝缘层时，保护其不被刻蚀。

具体的，参见图5，后坡面303和中坡面302之间的间隔L1的距离大于或等于10微米，且小于或等于15微米。

可知的，走线测试区域B2与显示面板区域B1设置的柔性显示面板200的显示区201和非显示区2021同时制备，且结构和膜层与非显示区2021相同，如果后坡面303和中坡面302之间的间隔L1的距离大于15微米，那么非显示区2021保留的无机层的面积较大，会导致其弯折性能不好。后坡面303和中坡面302之间的间隔L1的距离小于10微米，使得第二刻蚀凹槽和第三刻蚀凹槽之间的间距太短，容易刻蚀到中坡面302处的层间绝缘层36，在形成第三刻蚀凹槽的过程中，不能刻蚀到柔性衬底32的部分无机层，影响非显示区2021的弯折性能。

可选地，在上述技术方案的基础上，参见图5和图6，第二金属走线51覆盖第二坡面300B以及与第二坡面300B连接的平面304，从平面304的第一侧的第二坡面300B延伸到与第一侧相对的第二侧的第二坡面300B，其中，相邻两条第二金属走线51电连接的测试端子60不同。

可知的，金属走线51，绝缘设置，可以是数据信号走线、扫描信号走线以及电源信号走线中的一种或者多种。走线测试区域B2中，N条绝缘设置的第二金属走线51对应于柔性显示面板200非显示区2021的第一金属走线50，前坡面301和中坡面302处对应于柔性显示面板200非显示区2021的前坡面301和中坡面302处，以保证走线测试区域B2的结构和膜层与柔性显示面板200非显示区2021的结构和膜层相同。

优选地，测试端子60位于第二金属走线51的同一侧，这是为了匹配测试设备的探针的结构设置，测试设备的探针一般是位于同一方向上排列开来的。测试端子60通过与测试设备的探针电连接，来获得测试信号，来完成显示面板的走线是否异常的测试过程。

可选地，在上述技术方案的基础上，参见图6，第二金属走线51延伸出第二坡面300的距离L2大于或等于8微米。

第二金属走线51延伸出第二坡面300B的距离L2太短，小于8微米时，不利于与后续的第一短路连接线52电连接。

可选地，在上述技术方案的基础上，参见图6，测试端子60包括第一测试端子61和第二测试端子62；走线测试区域B2还包括第一短路连接线52，第一短路连接线52与第奇数条第二金属走线510电连接；第奇数条第二金属走线510中的至少一条电连接第一测试端子61；第二短路连接线53，第二短路连接线53与第偶数条第二金属走线511电连接；第偶数条第二金属走线511中的至少一条电连接第二测试端子62。

可知的，在第二金属走线51形成的过程中，金属残留物的位置是在相邻两条第二金属走线51之间，相邻两条第二金属走线51中的其中一条是第奇数条第二金属走线510，另外一条是第偶数条第二金属走线511。

通过第一短路连接线52与第奇数条第二金属走线510电连接，第奇数条第二金属走线510中的至少一条电连接第一测试端子61，第二短路连接线53与第偶数条第二金属走线511电连接，第偶数条第二金属走线511中的至少一条电连接第二测试端子62，那么可以通过测试设备的探针在第一测试端子61和第二测试端着62施加不同测试信号，示例性的，第一测试端子61被施加的是第一电源信号，第二测试端子62被施加的是第二电源信号，那么测试设备可以获取第一测试端子61和第二测试端子62之间的电阻值，即获取了第奇数条第二金属走线510与第偶数条第二金属走线511之间的电阻值。如果该电阻值是无穷大，则第二金属走线51之间没有短路，从而第一金属走线50之间没有短路，进而确定柔性显示面板上的走线不存在异常。若第二金属走线51之间的电阻值并不是无穷大，则可确定确实有第二金属走线51之间发生短路，从而第一金属走线50之间发生短路，进而确定柔性显示面板上的走线存在异常。因此，上述技术方案可以实现通过测试第二金属走线51的电阻值来测试显示面板上的走线是否异常。

此外，上述技术方案中，通过第一短路连接线52与第奇数条第二金属走线510电连接，第奇数条第二金属走线510中的至少一条电连接第一测试端子61，第二短路连接线53与第偶数条第二金属走线511电连接，第偶数条第二金属走线511中的至少一条电连接第二测试端子62，只需要两个测试端子便可以完成，节省了测试端子的数量，简化了测试过程。

需要说明的是，图6中，示例性的示出了第奇数条第二金属走线510中的一条电连接第一测试端子61，第偶数条第二金属走线511中的一条电连接第二测试端子62。

优选地，第一短路连接线52与第二短路连接线53位于第二金属走线51的不同侧，可以避免将第一短路连接线52与第二短路连接线53位于第二金属走线51同一侧造成线路密度太大，容易出现电路故障的问题。

可选地，在上述技术方案的基础上，参见图6，走线测试区域B2还包括虚设测试端子63，虚设测试端子63未电连接第二金属走线51。

可知的，在测试的时候，测试设备上有很多探针，测试端子60的数量小于探针的数量时，如果不设置虚设测试端子63，没有连接测试端子63的探针处于悬空状态，没有支撑物，很容易被损坏，因此，设置虚设测试端子63，可以保护探针不被损坏。

上述技术方案中，通过获取第一测试端子61和第二测试端子62之间的电阻值确定有第二金属走线51之间是否发生短路，从而确定第一金属走线50是否发生短路，进而确定柔性显示面板上的走线是否存在异常。为了进一步锁定第二金属走线51之间发生短路的位置，本发明实施例进一步提出如下解决方案：

可选地，在上述技术方案的基础上，图7为图4中另一种走线测试区域的俯视图，参见图7，测试端子60包括第一测试端子61和至少两个第二测试端子62；走线测试区域B2还包括第一短路连接线52和至少两条第二短路连接线53，第奇数条第二金属走线510与第一短路连接线52电连接；第奇数条第二金属走线510中的至少一条电连接第一测试端子61；第偶数条第二金属走线511分别与至少两条第二短路连接线53电连接，每条第偶数条第二金属走线511电连接一第二短路连接线53；每一第二短路连接线53所电连接的第偶数条第二金属走线511中的至少一条电连接一第二测试端子62。

示例性的，测试端子60包括两个第二测试端子62，走线测试区域B2还包括两条第二短路连接线53。走线测试第一子区域B21内的第二测试端子62，与第一测试端子61之间的电阻值是无穷大，则走线测试第一子区域B21内的第二金属走线51之间没有短路。若走线测试第一子区域B21内的第二测试端子62，与第一测试端子61之间的电阻值并不是无穷大，则可确定确实有走线测试第一子区域B21内的第二金属走线51之间发生短路。相应的，走线测试第二子区域B22内的第二测试端子62，与第一测试端子61之间的电阻值是无穷大，则走线测试第二子区域B22内的第二金属走线51之间没有短路。若走线测试第二子区域B22内的第二测试端子62，与第一测试端子61之间的电阻值并不是无穷大，则可确定确实有走线测试第二子区域B22内的第二金属走线51之间发生短路。

具体的，在制备显示面板母板的过程中，还可以根据实际情况增加测试端子60包括的第二测试端子62的数量，以及走线测试区域B251还包括的第二短路连接线53的数量，进一步锁定第二金属走线51之间发生短路的更精确的位置。

可选地，在上述技术方案的基础上，图8为图4中又一种走线测试区域的俯视图，参见图8，测试端子60包括至少两个第一测试端子61和第二测试端子62；走线测试区域B2还包括至少两条第一短路连接线52和第二短路连接线53，第奇数条第二金属走线510分别与至少两条第一短路连接线52电连接，每条第奇数条第二金属走线510电连接一第一短路连接线62；每一第一短路连接线52所电连接的第奇数条第二金属走线510中的至少一条电连接一第一测试端子61；第偶数条第二金属走线511与第二短路连接线53电连接；第偶数条第二金属走线511中的至少一条电连接第二测试端子62。

示例性的，测试端子60包括两个第一测试端子61，走线测试区域B2还包括两条第一短路连接线52。走线测试第一子区域B21内的第一测试端子61，与第二测试端子62之间的电阻值是无穷大，则走线测试第一子区域B21内的第二金属走线51之间没有短路。若走线测试第一子区域B21内的第一测试端子61，与第二测试端子62之间的电阻值并不是无穷大，则可确定确实有走线测试第一子区域B21内的第二金属走线51之间发生短路。相应的，走线测试第二子区域B22内的第一测试端子61，与第二测试端子62之间的电阻值是无穷大，则走线测试第二子区域B21内的第二金属走线51之间没有短路。若走线测试第二子区域B22内的第一测试端子61，与第二测试端子62之间的电阻值并不是无穷大，则可确定确实有走线测试第二子区域B22内的金属走线510之间发生短路。

具体的，根据实际情况，还可以继续增加测试端子60包括的第一测试端子61的数量，以及走线测试区域B2还包括的第一短路连接线52的数量，进一步锁定第二金属走线51之间发生短路的更精确的位置。

需要说明的是，本发明实施例的图6、图7以及图8中，只是示例性的示出了8条第二金属走线51，对于第二金属走线51的具体数量，本发明实施例并不作限定。

由于现有技术中的显示面板母板，包括显示面板区域，通常在显示面板区域包括的显示面板的非显示区制作测试电路，来测试显示面板上的走线是否短路，其中测试电路侧完成测试之后，需要被切割掉，切割的过程中容易对显示面板的走线造成不可逆的损坏，影响后续的制造工艺，进而降低了显示面板的良率。

本发明实施例提供的显示面板母板，设置了独立的显示面板区域B1和走线测试区域B2，走线测试区B2与显示面板区域B1设置的柔性显示面板200的显示区201和非显示区2021同时制备，且结构和膜层与非显示区2021相同。因此，走线测试区B2内第二金属走线51如果出现短路，那么柔性显示面板上非显示区2021的第一金属走线50也必然出现短路；走线测试区B2内第二金属走线51没有出现短路，那么柔性显示面板上非显示区2021的第一金属走线50也必然不会出现短路。通过对位于走线测试区域B2的第二金属走线51和测试端子60用于测试第二金属走线51是否短路，进而确定第一金属走线50是否短路。其中，走线测试区域B2测试完成之后，可以被切割掉的，经过切割之后，显示面板母板便可以得到一个一个独立的显示面板。因此可以避免切割的过程中容易对显示面板的走线造成不可逆的损坏，影响后续的制造工艺的技术问题，进而达到提高显示面板的良率的技术效果。

基于同一发明构思，本发明实施例还提供了一种显示面板的走线异常检测方法，应用于上述技术方案中任意的显示面板母板该测试方法包括如下步骤：

步骤110、向走线测试区域的测试端子发送第一测试信号，检测测试端子得到第二测试信号，基于第一测试信号和第二测试信号，确定走线测试区域的第二金属走线是否短路，以确定显示面板区域的第一金属走线是否短路，进而推断显示面板的走线是否异常。

以图6为例进行说明，向走线测试区域B2的测试端子60发送第一测试信号，检测测试端子60得到第二测试信号，基于第一测试信号和第二测试信号，确定走线测试区域的第二金属走线51是否短路，以确定显示面板区域的第一金属走线是否短路，进而推断显示面板的走线是否异常。

可知的，以图5为例进行说明，走线测试区域B2与显示面板区域B1设置的柔性显示面板200的显示区201和非显示区2021同时制备，且结构和膜层与非显示区2021相同。因此，走线测试区B2内第二金属走线51如果出现短路，那么柔性显示面板上非显示区2021的第一金属走线50也必然出现短路；走线测试区B2内第二金属走线51没有出现短路，那么柔性显示面板上非显示区2021的第一金属走线50也必然不会出现短路。综上，可以通过检测走线测试区域B2内的第二金属走线51是否短路，来以确定显示面板200上的走线是否异常，提高了显示面板200走线异常的检测效率。具体的，可以通过不同测试端子60之间的电阻值来确定第二金属走线51是否短路，以确定显示面板区域的第一金属走线50是否短路，进一步确定显示面板区域包括的显示面板上的走线是否异常，来提高显示面板走线异常的检测效率。

可知的，走线测试区域B2测试完成之后，可以被切割掉的，经过切割之后，显示面板母板便可以得到一个一个独立的显示面板。本实施例中的技术方案，没有在柔性显示面板上非显示区2021进行测试，而是设置独立的走线测试区域B2，可以避免测试端子60以及后续设置的短路连接线，占用柔性显示面板非显示区的面积。

可选地，在上述技术方案的基础上，参见图9，步骤110、向走线测试区域的测试端子发送第一测试信号，检测测试端子得到第二测试信号，基于第一测试信号和第二测试信号，确定走线测试区域的第二金属是否短路，以确定显示面板区域的第一金属走线是否短路包括：

步骤1101、基于第一测试信号和第二测试信号，确定不同测试端子之间的电阻值；

步骤1102、若不同测试端子之间的电阻值不等于预设电阻值，确定第二金属走线短路，以确定显示面板区域的第一金属走线是否短路。

以图6为例进行说明，第一测试端子61被施加的是第一电源信号，第二测试端子62被施加的是第二电源信号，那么测试设备可以获取第一测试端子61和第二测试端子62之间的电阻值，即获取了第奇数条第二金属走线510与第偶数条金第二属走线511之间的电阻值。如果该电阻值是无穷大，则第二金属走线51之间没有短路，从而显示面板区域包括的柔性显示面板上的走线不存在异常。若第二金属走线51之间的电阻值并不是无穷大，则可确定确实有第二金属走线51之间发生短路，从而显示面板区域包括的柔性显示面板上的走线存在异常。因此，上述技术方案可以实现通过测试第二金属走线51的电阻值来测试显示面板区域包括的显示面板上的走线是否异常。其中，无穷大的电阻值为预设电阻值。

可选地，在上述技术方案的基础上，参见图9，步骤1102、确定第二金属走线存在短路之后还包括：通过图像传感器采集第二金属走线的图像信号；

步骤1103、基于第二金属走线的图像信号，确定第二金属走线的短路位置以及显示面板区域的第一金属走线的短路位置。

上述技术方案中，通过获取第一测试端子61和第二测试端子62之间的电阻值确实有第二金属走线51之间发生短路，从而柔性显示面板上的走线存在异常。为了进一步锁定第二金属走线51之间发生短路的位置，可以图像传感器采集第二金属走线的图像信号，锁定第二金属走线51之间的金属残留物的位置，来确定第二金属走线51的短路位置以及显示面板上的走线的异常位置。

具体的，通过图像传感器采集第二金属走线的图像信号之前，还可以获取走线测试区域B2的中心点位置，根据走线测试区域B2的中心点位置，快速通过图像传感器采集第二金属走线的图像信号。

注意，上述仅为本发明的较佳实施例及所运用技术原理。本领域技术人员会理解，本发明不限于这里所述的特定实施例，对本领域技术人员来说能够进行各种明显的变化、重新调整和替代而不会脱离本发明的保护范围。因此，虽然通过以上实施例对本发明进行了较为详细的说明，但是本发明不仅仅限于以上实施例，在不脱离本发明构思的情况下，还可以包括更多其他等效实施例，而本发明的范围由所附的权利要求范围决定。

Claims (10)

1.一种显示面板母板，其特征在于，包括：

衬底膜层和位于所述衬底膜层上的金属走线层，所述显示面板母板划分为显示面板区域和与所述显示面板区域相邻的走线测试区域；

所述衬底膜层包括第一坡面和第二坡面，所述金属走线层包括第一金属走线和第二金属走线，所述第一坡面和所述第一金属走线位于所述显示面板区域，且至少部分所述第一金属走线位于所述第一坡面上，所述第二坡面和所述第二金属走线位于所述走线测试区域，且至少部分所述第二金属走线位于所述第二坡面上，

所述第二金属走线电连接有测试端子，所述第二金属走线和所述测试端子用于测试所述第二金属走线是否短路，进而推断所述第一金属走线是否短路。

2.根据权利要求1所述的显示面板母板，其特征在于，所述走线测试区域包括凹槽，位于所述衬底膜层上，所述凹槽的侧面为所述第二坡面。

3.根据权利要求1所述的显示面板母板，其特征在于，所述第二金属走线覆盖所述第二坡面以及与所述第二坡面连接的平面，从所述平面的第一侧的第二坡面延伸到与所述第一侧相对的第二侧的第二坡面，其中，相邻两条所述第二金属走线电连接的测试端子不同；

优选地，所述测试端子位于所述第二金属走线的同一侧。

4.根据权利要求3所述的显示面板母板，其特征在于，所述第二金属走线延伸出所述第二坡面的距离大于或等于8微米。

5.根据权利要求3所述的显示面板母板，其特征在于，所述测试端子包括第一测试端子和第二测试端子；

所述走线测试区域还包括第一短路连接线，所述第一短路连接线与第奇数条第二金属走线电连接；所述第奇数条第二金属走线中的至少一条电连接所述第一测试端子；

第二短路连接线，所述第二短路连接线与第偶数条第二金属走线电连接；所述第偶数条第二金属走线中的至少一条电连接所述第二测试端子；

优选地，所述第一短路连接线与所述第二短路连接线位于所述第二金属走线的不同侧。

6.根据权利要求1所述的显示面板母板，其特征在于，所述走线测试区域还包括虚设测试端子，所述虚设测试端子未电连接所述第二金属走线。

7.根据权利要求5所述的显示面板母板，其特征在于，所述测试端子包括第一测试端子和至少两个第二测试端子；所述走线测试区域还包括第一短路连接线和至少两条第二短路连接线，所述第奇数条第二金属走线与所述第一短路连接线电连接；所述第奇数条第二金属走线中的至少一条电连接所述第一测试端子，所述第偶数条第二金属走线分别与至少两个所述第二短路连接线电连接，每条所述第偶数条第二金属走线电连接一所述第二短路连接线；每一所述第二短路连接线所电连接的所述第偶数条第二金属走线中的至少一条电连接一所述第二测试端子；

或者，所述测试端子包括至少两个所述第一测试端子和所述第二测试端子；所述走线测试区域还包括至少两条所述第一短路连接线和所述第二短路连接线，所述第奇数条第二金属走线分别与至少两条所述第一短路连接线电连接，每条所述第奇数条第二金属走线电连接一所述第一短路连接线；每一所述第一短路连接线所电连接的所述第奇数条第二金属走线中的至少一条电连接一所述第一测试端子；所述第偶数条第二金属走线与所述第二短路连接线电连接；所述第偶数条第二金属走线中的至少一条电连接所述第二测试端子。

8.一种显示面板的走线异常检测方法，应用于权利要求1-7任一所述的显示面板母板，其特征在于，包括：

向走线测试区域的测试端子发送第一测试信号，检测所述测试端子得到第二测试信号，基于所述第一测试信号和所述第二测试信号，确定所述走线测试区域的第二金属走线是否短路，以确定显示面板区域的第一金属走线是否短路，进而推断所述显示面板的走线是否异常。

9.根据权利要求8所述的显示面板的走线异常检测方法，其特征在于，向走线测试区域的测试端子发送第一测试信号，检测所述测试端子得到第二测试信号，基于所述第一测试信号和所述第二测试信号，确定所述走线测试区域的第二金属走线层是否短路，以确定显示面板区域的第一金属走线是否短路包括：

基于所述第一测试信号和所述第二测试信号，确定不同所述测试端子之间的电阻值；

若不同所述测试端子之间的电阻值不等于预设电阻值，确定所述第二金属走线短路，以确定显示面板区域的第一金属走线短路。

10.根据权利要求9所述的显示面板的走线异常检测方法，其特征在于，确定所述第二金属走线存在短路之后还包括：通过图像传感器采集所述第二金属走线的图像信号；

基于所述第二金属走线的图像信号，确定所述第二金属走线的短路位置，进而推断显示面板区域的第一金属走线的短路位置。

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