CN110402377A - 测量装置、测量方法以及马达的制造方法 - Google Patents

Abstract

目的在于得到一种测量装置，该测量装置能够通过更简单的结构以及在更短时间内掌握槽的内周面与转子导条的导通状态对产生转矩以及效率带来的影响。测量装置(60)具备：绕组(5w)，包围转子(1)的周围，使交变磁场在转子(1)的周向上产生；电压施加部(6)，对绕组(5w)施加交流电压；以及测量部(6)，测量由施加电压部施加的交流电压与电流的相位差。

Description

测量装置、测量方法以及马达的制造方法

技术领域

本发明涉及笼型转子的测量装置、测量方法以及马达的制造方法。

背景技术

一般地，在感应马达的笼型转子中使用如下的转子铁芯：通过冲压对在两面施加有绝缘皮膜的电磁钢板进行冲裁而做成圆环状的板材，将板材呈圆环状地层叠来制作成圆柱状而成。另外，在以下的说明中，将笼型转子也简称为转子。在转子铁芯形成有从圆柱形状的一个端面侧朝向另一端面侧延伸的多个槽。通过铝材压铸等方法，在转子铁芯的槽内填充导体而形成转子导条。此外，通过铝材压铸等方法，形成使转子导条的端部彼此电连接的端环。在转子中，通过转子导条和端环形成2次导体。

虽然构成转子铁芯的圆环状的板材的作为主面的两面被绝缘覆膜覆盖，但是利用冲压进行冲裁，从而板材的切割面变成未被绝缘覆膜覆盖的状态。由于转子铁芯的槽的内周面由板材的切割面形成，因此未被绝缘皮膜覆盖，槽的内周面与形成于槽内的转子导条有时会变成导通状态。由于槽的内周面与转子导条的导通状态会对使用了该转子的马达的产生转矩以及效率造成影响，因此有可能导致马达的品质偏差。

因此，提出了在将转子组装到马达之前检查槽的内周面与转子导条的导通状态对产生转矩以及效率带来的影响的技术。在专利文献1中公开了如下技术：在预先准备的基准的定子的内侧配置成为测量对象的转子，测量在对基准的定子施加了规定的电压时的产生转矩。通过比较被测量出的产生转矩与基准转矩，掌握导通状态对产生转矩以及效率的影响，实现对马达的品质偏差的抑制。

专利文献1：日本特开平5-133821号公报

发明内容

然而，在专利文献1公开的技术中，由于需要与马达的输出相对应的大小的转矩检测器以及负载装置，因此存在装置变得大型的问题。此外，由于需要以会出现导通状态的影响的转速来使转子旋转，因此存在测量花费时间的问题。

本发明是鉴于上述而作出的，目的在于得到一种测量装置，其能够通过更简单的结构以及在更短时间内掌握槽的内周面与转子导条的导通状态对产生转矩以及效率带来的影响。

为了解决上述课题并达成目的，本发明的特征在于，具备：绕组，包围转子的周围，使交变磁场在转子的周向上产生；电压施加部，对绕组施加交流电压；以及测量部，测量由施加电压部施加的交流电压与电流的相位差。

本发明的测量装置产生能够通过更简单的结构以及在更短时间内掌握槽的内周面与转子导条的导通状态对转子带来的影响的效果。

附图说明

图1是本发明的实施方式1的马达的分解立体图。

图2是实施方式1中的转子铁芯的俯视图。

图3是示出实施方式1的测量装置的概略结构的图。

图4是将图3所示的转子和传感器单元沿周向呈直线状展开的顶视图。

图5是将图4所示的转子沿周向呈直线状展开的侧视图。

图6是将图4所示的传感器单元沿周向呈直线状展开的侧视图。

图7是使图5所示的转子与图6所示的传感器单元重叠而示出的图，是示出转子与传感器单元的关系的图。

图8是示出在实施方式1中在感应电流未流过2次导体的情况下的从LCR测试仪观察到的阻抗的等效电路的图。

图9是示出在实施方式1中在感应电流流过2次导体的情况下的从LCR测试仪观察到的阻抗的等效电路的图。

图10是示出转子导条和槽的内周面的接触电阻与实数部Re(Z)的关系的图。

图11是示出在实施方式1中使用了8极的传感器单元的测量装置的概略结构的图。

图12是使用图11所示的测量装置将扭斜角为72°的转子沿周向呈直线状展开的图，是示出转子与传感器单元的关系的图。

图13是示出在图11所示的测量装置中在使槽的内周面与转子导条绝缘的情况下的从LCR测试仪观察到的阻抗的等效电路的图。

图14是示出在图11所示的测量装置中在槽的内周面与转子导条导通的情况下的从LCR测试仪观察到的阻抗的等效电路的图。

图15是示出在图11的示例中转子导条和槽的内周面的接触电阻与实数部Re(Z)的关系的图。

图16是将与图5所示的示例相比扭斜角小的转子沿周向呈直线状展开的侧视图。

图17是使图6的传感器单元与图16的转子的侧视图重叠的侧视图。

图18是在实施方式1中将传感器单元沿周向呈直线状展开的侧视图。

图19是使图16与图18重叠而示出转子与传感器单元的关系的侧视图。

图20是示出本发明的实施方式2的测量装置的概略结构的图。

(附图标记说明)

1：转子；1a：旋转轴；1b：转子导条；1c：转子铁芯；1e：端环；1s：槽；1t：齿；1t1、1t2、1t3：区域；2：轴承；3：外廓；3h：轴承箱；4：定子；4c：定子铁芯；4t：齿；4w：绕组；5、15、25、35：传感器单元；5c、25c：传感器铁芯；5e、35e：端部；5t、25t：齿；5w、35w：绕组；6：LCR测试仪；6g：发送部；6i：电流测量部；6v：电压测量部；7：磁通；8：导通部；9：环；10：内周面；50：马达；60、61、62：测量装置。

具体实施方式

以下，基于附图对本发明的实施方式的测量装置、测量方法以及马达的制造方法详细地进行说明。另外，本发明不被该实施方式限定。

实施方式1.

图1是本发明的实施方式1的马达的分解立体图。图2是实施方式1中的转子铁芯的俯视图。图3是示出实施方式1的测量装置的概略结构的图。图4是将图3所示的转子和传感器单元沿周向呈直线状展开的顶视图。图5是将图4所示的转子沿周向呈直线状展开的侧视图。图6是将图4所示的传感器单元沿周向呈直线状展开的侧视图。图7是使图5所示的转子与图6所示的传感器单元重叠而示出的图，是示出转子与传感器单元的关系的图。

如图1所示，马达50具备转子1、轴承2、外廓3以及定子4。马达50是感应马达。转子1具有图2所示的将圆环形状的板材层叠而形成为圆柱形状的转子铁芯1c。通过冲压加工对在两面具有绝缘皮膜的电磁钢板进行冲裁而得到要层叠的圆环形状的板材。要层叠的圆环形状的板材具有朝向外周侧突出的多个齿1t，包含齿1t在内的整体呈圆环形状。另外，省略电磁钢板的图示。在转子铁芯1c形成有从转子铁芯1c的一个端面侧朝向另一端面侧延伸的多个槽1s。

在转子铁芯1c的槽1s内填充导体而形成多个转子导条1b。在转子铁芯1c的一个端面和另一端面设置有端环1e。多个转子导条1b的两端被端环1e短路。通过转子导条1b和端环1e形成2次导体。转子导条1b和端环1e例如通过铝材压铸而形成。

旋转轴1a嵌入于转子铁芯1c的中心。滚珠轴承等轴承2安装于旋转轴1a。轴承2由设置于马达50的外廓3的轴承箱3h保持。由此，能够使转子1以旋转轴1a为中心进行旋转。在转子1的外周配置有在定子铁芯4c的齿4t卷绕绕组4w而成的定子4。通过对绕组4w施加相位错开的两相交流电压而使电流流动，在定子铁芯4c的齿4t的内周侧产生旋转磁场，并由于旋转磁场而感应电流流过转子1的2次导体，从而在转子1产生转矩。即，在图1中，示出两极电容器分相感应马达的示例。另外，省略了电容器的图示。

在此，在由于定子4所产生的旋转磁场而感应电流仅流过转子1的2次导体的情况下，在转子1产生的转矩稳定。然而，由于转子铁芯1c的槽1s的内周面10是对电磁钢板进行冲裁时的切割面，因此未被绝缘皮膜覆盖。因此，根据转子导条1b与槽1s的内周面10的接触状态和在2次导体产生的感应电动势的大小，在转子导条1b与槽1s的内周面10之间产生导通部位。当转子导条1b与槽1s的内周面10导通时，会产生电流从转子导条1b经由转子铁芯1c向相邻的转子导条1b流动的横流电流，而变成损失。即，根据转子导条1b与槽1s的内周面10的导通状态，有时会导致在转子1产生的转矩的降低以及效率的降低。

特别是，如图1所示，在通过一边使板材在周向上错开一边进行层叠来使槽1s形成为螺旋状并设置有扭斜角的转子铁芯1c中，扭斜角越大则向转子铁芯1c流动的电流越大。因此，越是使用扭斜角大的转子铁芯1c的转子1，损失也越大，产生转矩的降低也越大。此外，旋转磁场所包含的高次谐波分量越大，则产生转矩的降低越大。

接下来，对图3所示的测量装置60进行说明。测量装置60具备传感器单元5和LCR测试仪6。传感器单元5具有筒状形状的传感器铁芯5c，在传感器铁芯5c形成有朝向内周侧突出的多个齿5t。在图3中，示出使十个齿5t在周向上排列而形成的示例。绕组5w卷绕于各个齿5t。卷绕于齿5t的绕组5w彼此被串联连接。此外，各绕组5w的匝数为相同的数。此外，相邻的绕组5w彼此的向齿5t的卷绕方向为相反方向。

LCR测试仪6具备发送部6g、电流测量部6i以及电压测量部6v，对串联连接的绕组5w的两端部5e施加交流电压。此外，LCR测试仪6测量相对于施加电压的流过绕组5w的电流的大小和相位差，并换算成等效阻抗。LCR测试仪6能够使用例如日置电机制造的LCR测试仪(型号：IM3533)。LCR测试仪6发挥对绕组5w施加交流电压的电压施加部的功能，并且发挥测量相位差的测量部的功能。

当从LCR测试仪6对绕组5w施加了交流电压时，在转子1产生沿周向的10极交变磁场。由此，如图4所示，产生从传感器铁芯5c的齿5t经由转子铁芯1c的齿1t的磁通7，并与包括转子导条1b和端环1e的2次导体交链。在传感器单元5中，通过产生10极交变磁场，能够掌握与旋转磁场中的高次谐波分量的5次分量相对应的转子的状态。在本实施方式1中，由传感器铁芯5c、齿5t、绕组5w构成在转子1的周围产生交变磁场的磁场产生部。

测量装置60利用当与2次导体交链的磁通7的总和小时流过2次导体的电流也变小、当与2次导体交链的磁通7的总和大时流过2次导体的电流也变大的情况，来测量2次导体的状态。

使用图3～图7，说明测量装置60的具体动作。如上述那样，当从LCR测试仪6对绕组5w施加了交流电压时，在传感器铁芯5c的齿5t的内周面产生交变磁场。在相邻的绕组5w彼此中，由于向齿5t的卷绕方向为相反方向，因此相邻的绕组5w彼此的磁通的朝向相反。另一方面，由于绕组5w的匝数为相同的数，因此磁通的大小相同，在齿5t的内周面的任何位置均为大致相同的磁通密度。这样在齿5t的内周面所产生的10极磁通穿过转子1的齿1t。在此，从LCR测试仪6观察到的等效阻抗的等效电路根据齿5t的数量和扭斜角而变化。

首先，为了容易理解，以不使齿5t扭斜而使作为测量对象的转子铁芯1c扭斜的示例进行说明。具体地，对图7所示的扭斜角S为转子1的齿1t的外周与两个齿5t的宽度一致的角度的示例进行说明。即，以S＝360°÷10(极)×2(个)＝72°的示例进行说明。

在此，关注与一个齿1t交链的磁通。如图7所示，一个齿1t与三个相邻的齿5t对置。在图7中，所关注的一个齿1t中对置的齿5t划分在各个不同的区域并由粗线包围，分别设为区域1t1、区域1t2、区域1t3。

如上述那样，根据卷绕于齿5t的绕组5w的卷绕方向的差异，而区域1t1以及区域1t3与区域1t2的磁通的朝向为相反方向。此外，由于绕组5w的匝数为相同的数，因此在区域1t1、区域1t3以及区域1t2中磁通密度相等。被区域1t1和区域1t3夹着的区域1t2的面积与区域1t1和区域1t3的总计面积一致。因此，与包括区域1t1、区域1t2和区域1t3的齿1t交链的磁通的总和为零。

这在所关注的齿1t以外的齿1t中也是同样的，与由转子导条1b和端环1e包围各齿1t的2次导体的环(loop)交链的磁通的总和无论在哪里均为零。因此，在转子铁芯1c的槽1s的内周面10与转子导条1b未导通的情况下，即使对绕组5w的端部5e施加交流电压，在2次导体中也不会产生感应电动势，不会流过感应电流。

图8是示出在实施方式1中在感应电流未流过2次导体的情况下的从LCR测试仪6观察到的阻抗的等效电路的图。关于图8，在槽1s的内周面10与转子导条1b未导通的情况下，即在感应电流未流过2次导体的情况下的从LCR测试仪6观察到的阻抗Z如图8所示为不存在2次导体的等效电路。在此，Ra是传感器单元5的绕组5w的电阻，La是传感器单元5的绕组5w的漏电感，Lm是与转子铁芯1c交链的磁通的电感。

接下来，对在未确保转子铁芯1c的槽1s的内周面10与转子导条1b的绝缘而存在导通的部位的情况下的阻抗进行说明。例如，在图7所示的导通部8中，当从转子导条1b经由转子铁芯1c的齿1t而朝向相邻的转子导条1b的部分的绝缘不充分时，槽1s的内周面10与转子导条1b导通，由转子导条1b和端环1e来包围齿1t的2次导体的环被分割为图7中由虚线所示那样的两个环9。在该情况下，与被分割的各个环9交链的磁通的总和不会为零，而对各个环产生感应电动势，感应电流流过2次导体和齿1t的电路。

图9是示出在实施方式1中在感应电流流过2次导体的情况下的从LCR测试仪6观察到的阻抗的等效电路的图。在槽1s的内周面10与转子导条1b导通的情况下，即在感应电流流过2次导体的情况下的从LCR测试仪6观察到的阻抗Z如图9所示为2次导体和齿1t的电路的电阻Ri与电感Li的串联电路跟与转子铁芯1c交链的磁通的电感Lm并联连接的等效电路。

设实数部为Re(Z)、虚数部为lm(Z)，将等效串联电路的阻抗Z设为

Z＝Re(Z)+jlm(Z) (j是虚数单位)

的情况下，在感应电流从转子导条1b经由齿1t流动的情况下，相对于无感应电流流过的情况，实数部Re(Z)变大，虚数部lm(Z)变小。

图10是示出转子导条1b和槽1s的内周面10的接触电阻与实数部Re(Z)的关系的图。在图10中，示出了通过电磁场解析求出在使转子导条1b与槽1s的内周面10的接触电阻变化了的情况下的、从实数部Re(Z)减去绕组5w的电阻Ra后的值的一例。如图10所示，接触电阻小而电流越大，则实数部Re(Z)越大。

该等效串联电路的阻抗Z的变化量的测量方法与实际上被装配的马达50同样地，使用感应电动势来测量通过由转子导条1b与槽1s的内周面10的导通而流向转子铁芯1c的电流引起的变化。因此，测量结果与对产生转矩的降低的影响程度之间存在相关关系，通过测量阻抗Z的变化量，能够掌握转子1中的导通状态对产生转矩的降低以及效率的降低的影响程度。即，越是被测量出的实数部大的转子1，则越能够判定为是在组装到马达50时由于导通状态的影响而产生转矩越会降低的转子1。

另外，卷绕有传感器单元5的绕组5w的齿5t在传感器铁芯5c的内周侧的整个区域形成，但即使不是在内周侧的整个区域形成，只要使绕组卷绕于相邻的偶数个齿即可。

这样在测量出阻抗Z的变化量之后，通过进行从传感器铁芯5c的内侧，即从被绕组5w包围的区域取出转子1并将取出的转子1组装到定子4的内侧等装配工序，来制造马达50。如果使用本实施方式1的测量装置60，则无需使转子1实际旋转而能够掌握对产生转矩以及效率带来的影响。即，能够通过更简单的结构以及在更短时间内掌握槽1s的内周面10与转子导条1b的导通状态对产生转矩以及效率带来的影响。

到此为止示出了以使形成于传感器单元5的两个齿5t的宽度与转子铁芯1c的扭斜角一致的方式选择形成于传感器单元5的齿5t的数量的示例。在通过这样的齿5t的选择而使槽1s的内周面10与转子导条1b绝缘的情况下，实现了使与2次导体的环交链的磁通的总和为零。然而，根据转子铁芯1c的扭斜角，有时确定不了使与2次导体的环交链的磁通的总和为零的齿5t的数量。

即使在这样的情况下，当有转子导条1b经由齿1t的感应电流的有无或感应电流的量发生变化时，使用传感器单元5和LCR测试仪6测量出的阻抗Z的值发生变化。因此，能够从阻抗Z的变化量掌握转子导条1b与槽1s的内周面10的导通对转矩的降低的影响程度。

图11是示出在实施方式1中使用了8极的传感器单元15的测量装置61的概略结构的图。图12是使用图11所示的测量装置61将扭斜角为72°的转子1沿周向呈直线状展开的图，是示出转子1与传感器单元15的关系的图。图13是示出在图11所示的测量装置61中在使槽1s的内周面10与转子导条1b绝缘的情况下的从LCR测试仪6观察到的阻抗的等效电路的图。图14是示出在图11所示的测量装置61中在槽1s的内周面10与转子导条1b导通的情况下的从LCR测试仪6观察到的阻抗的等效电路的图。传感器单元15具有传感器铁芯15c和齿15t，绕组5w卷绕于齿15t。

在图12所示那样的情况下，即使在槽1s的内周面10与转子导条1b被绝缘的情况下，与2次导体的环交链的磁通的总和不会在所有齿为零。因此，从LCR测试仪6观察到的阻抗Z如图13所示为2次导体的电阻量Rr和漏电感量Lr的串联电路与交链于转子铁芯1c的磁通的电感Lm并联连接的等效电路。

另一方面，在未确保槽1s的内周面10与转子导条1b的绝缘而存在导通的情况下，由感应电动势产生的电流流过包括转子导条1b、端环1e和齿1t的环。流过电流的齿1t的部位是如下部位：与在其两侧形成的环交链的磁通的总和的方向为相反方向，但通过在两个环产生的感应电动势而流过齿1t的电流的方向相同。

例如，在图12所示的导通部8的部位，由于与在其两侧形成的包括转子导条1b、端环1e和转子铁芯1c的环交链的磁通的总和的方向相反，且与各环交链的磁通的总和量也大，因此流过齿1t的电流变大。另外，在同一齿1t内，流过电流的导通部8不限于一处，如果齿1t的导通部8是与在其两侧形成的环交链的磁通的总和的方向为相反方向但由于在两个环产生的感应电动势而流过齿1t的电流的方向为相同的部位，则通过感应电动势的大小和槽1s的内周面10与转子导条1b的绝缘状态的平衡而能够流过电流。

此时从LCR测试仪6观察到的阻抗Z如图14所示为2次导体和齿1t的电路的电阻Ri与电感Li的串联电路跟与转子铁芯1c交链的磁通的电感Lm以及2次导体的电阻量Rr与漏电感量Lr的串联电路并联连接的等效电路。

在感应电流从转子导条1b经由齿1t流过的情况下，相对于不流动的情况，实数部Re(Z)变大，虚数部lm(Z)变小。图15是示出在图11的示例中转子导条1b和槽1s的内周面10的接触电阻与实数部Re(Z)的关系的图。在图15中，示出了通过电磁场解析求出在使转子导条1b与槽1s的内周面10的接触电阻变化了的情况下的、从实数部Re(Z)减去绕组5w的电阻Ra后的值的一例。即使在转子导条1b与槽1s的内周面10未导通的情况下，Re(Z)-Ra也不会为零，与图13所示的等效电路的情况相比灵敏度会下降，但接触电阻越小则实数部Re(Z)越大，能够进行接触程度的识别。

图16是将与图5所示的示例相比扭斜角小的转子1沿周向呈直线状展开的侧视图。图17是使图6的传感器单元5与图16的转子的侧视图重叠的侧视图。图18是在实施方式1中将传感器单元25沿周向呈直线状展开的侧视图。图19是使图16与图18重叠而示出转子1与传感器单元25的关系的侧视图。传感器单元25具有传感器铁芯25c和齿25t。

如图17所示，在扭斜角小的转子1的情况下，即使通过极数少的传感器单元5生成交变磁场，在齿1t有导通部的情况下，与在其两侧形成的环交链的磁通的总和的方向为相反方向且由于在两个环产生的感应电动势而流过齿1t的电流的方向变为相同的位置也少。因此，与环交链的磁通的总和也小，因此感应电动势变小，经由齿1t而流过的电流容易变少。

如上述那样，为了提高转子导条1b与槽1s的内周面10的接触部分处的导通的检测灵敏度，优选将传感器单元5的极数设为使与转子铁芯1c的一个齿1t交链的磁通的总和为零的360°除以转子铁芯1c的扭斜角而得的数的两倍的数的极数。然而，如图16所示，在扭斜角S1小的情况下，例如当转子铁芯1c的扭斜角为18°时，成为会产生360°÷18°×2＝40极的传感器单元5，极数增大。通过极数增大，在齿1t有导通部的情况下，由于与在其两侧形成的环交链的磁通的总和的方向为相反方向且与两个环交链的磁通的总和变小，因此产生的感应电动势也变小，而不易流过经由齿1t的电流。

此外，由于传感器单元5的极数大于转子铁芯1c的齿1t的数量，因此在将转子1组装到马达50时实际上施加于转子铁芯1c的磁通的高次空间谐波的振幅变大的次数例如被分离为3次、5次、7次，阻抗与转矩的降低程度的相关性变低。

此外，转子导条1b与槽1s的内周面10的接触部分处的导通程度的检测灵敏度在传感器单元5的极数是与转子铁芯1c的一个齿1t交链的磁通的总和为零的的极数的情况下是好的，但对马达50来说最佳的扭斜角不限于为360°的整数分之一。

于是，如图18所示，在传感器单元25中，对磁极施加了扭斜。如图19所示，在将转子铁芯1c的扭斜角设为S1、将传感器单元25的磁极的扭斜角设为S2、将传感器单元25的磁极数设为P时，当以成为

S1+S2＝360°/P/2 (1)

的关系的方式来设定了传感器单元25的磁极的扭斜角S2时，能够以任意的偶数的磁极数P使与所有转子铁芯1c的一个齿1t交链的磁通的总和为零，并且在转子铁芯1c的齿1t有导通部的情况下，通过使与在其两侧形成的环交链的磁通的总和的方向为相反方向、增大与两个环交链的磁通的总和，也能够增大感应电动势。由此，在转子导条1b与槽1s的内周面10导通的导通部处，容易流过经由转子铁芯1c的电流，能够实现检测灵敏度的提升。

实施方式2.

图20是示出本发明的实施方式2的测量装置62的概略结构的图。在上述实施方式1中，为了产生传感器单元5的磁极而将绕组5w卷绕于形成在传感器铁芯5c的齿5t(也参照图3等)。另一方面，在本实施方式2的传感器单元35中，未设置传感器铁芯以及齿而只设置有绕组35w。绕组35w形成为使交变磁场沿转子铁芯1c的周向而产生的形状。LCR测试仪6连接于绕组35w的端部35e。

在该情况下，从LCR测试仪6观察到的绕组的阻抗Z的虚数部lm(Z)变小，能够使LCR测试仪6的输出电压变低，并且能够排除传感器铁芯的磁特性以及形状的偏差的影响。

以上的实施方式所示的结构示出本发明的内容的一例，也能够与其他公知的技术进行组合，也能够在不脱离本发明的主旨的范围内省略、变更结构的一部分。

Claims (8)

1.一种测量装置，其特征在于，具备：

绕组，包围转子的周围，使交变磁场在所述转子的周向上产生；

电压施加部，对所述绕组施加交流电压；以及

测量部，测量由所述电压施加部施加的交流电压与电流的相位差。

2.根据权利要求1所述的测量装置，其特征在于，

传感器铁芯，包围所述转子的周围；以及

多个齿，从所述传感器铁芯朝向所述转子突出，并且沿所述转子的周向排列设置，

所述绕组卷绕于所述多个齿的各个齿并且被串联连接。

3.根据权利要求2所述的测量装置，其特征在于，

对所述传感器铁芯以及所述齿设置有扭斜。

4.根据权利要求3所述的测量装置，其特征在于，

在将所述转子的扭斜角设为S1、将所述传感器铁芯以及所述齿的扭斜角设为S2、将所述交变磁场的磁极数设为P时，满足如下关系：

S1+S2＝360°/P/2。

5.根据权利要求2所述的测量装置，其特征在于，

所述绕组产生的所述交变磁场的极数是360°除以所述转子的扭斜角而得的值的两倍数值的极数的整数倍。

6.根据权利要求1至5中的任意一项所述的测量装置，其特征在于，

所述测量部基于测量出的所述相位差，求出包括实数部和虚数部的所述绕组的阻抗。

7.一种测量方法，其特征在于，具备：

用绕组包围转子的周围的步骤；

对所述绕组施加交流电压而产生交变磁场的步骤；以及

测量所述交流电压与电流的相位差的步骤。

8.一种马达的制造方法，其特征在于，具备：

用绕组包围转子的周围的步骤；

对所述绕组施加交流电压而产生交变磁场的步骤；

测量所述交流电压与电流的相位差的步骤；

从被所述绕组包围的区域取出所述转子的步骤；以及

用定子包围所述转子的周围的步骤。