CN109036231B - 显示面板检测方法及显示面板辅助检测装置 - Google Patents
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Abstract
本发明提供一种显示面板检测方法及显示面板辅助检测装置。所述显示面板检测方法通过多个低分辨率的子检测画面拼接得到高分辨率显示面板的检测画面，通过显示面板辅助检测装置移动显示面板所显示的检测画面，能够实现通过低分辨率画面检测高分辨率显示面板的任意区域的灰阶过渡的平滑性，提升显示面板检测效果，降低显示面板检测成本。
Description
技术领域
本发明涉及显示技术领域，尤其涉及显示面板检测方法及显示面板辅助检测装置。
背景技术
随着显示技术的发展，液晶显示器(Liquid Crystal Display，LCD)等平面显示装置因具有高画质、省电、机身薄及应用范围广等优点，而被广泛的应用于手机、电视、个人数字助理、数字相机、笔记本电脑、台式计算机等各种消费性电子产品，成为显示装置中的主流。
现有市场上的液晶显示装置大部分为背光型液晶显示器，其包括液晶显示面板及背光模组(backlight module)。液晶显示面板包括多个呈阵列式排布的子像素，每个子像素电性连接一个薄膜晶体管(TFT)，该TFT的栅极(Gate)连接至水平方向的扫描线，漏极(Drain)连接至竖直方向的数据线，源极(Source)则连接至像素电极。通过栅极驱动器向扫描线上输入扫描信号，使得电性连接至该条扫描线上的所有TFT打开，从而通过数据驱动器输入到数据线上的数据信号能够写入像素，控制液晶的透光度，实现显示效果。
通常液晶显示面板由彩膜基板(CF，Color Filter)、薄膜晶体管基板(TFT，ThinFilm Transistor)、夹于彩膜基板与薄膜晶体管基板之间的液晶(LC，Liquid Crystal)及密封胶框(Sealant)组成，其成型工艺一般包括：前段阵列(Array)制程(薄膜、黄光、蚀刻及剥膜)、中段成盒(Cell)制程(TFT基板与CF基板贴合)及后段模组组装制程(驱动IC与印刷电路板压合)。其中，前段Array制程主要是形成TFT基板，以便于控制液晶分子的运动；中段Cell制程主要是在TFT基板与CF基板之间添加液晶；后段模组组装制程主要是驱动IC压合与印刷电路板的整合，进而驱动液晶分子转动，显示图像。
随着显示技术的不断发展，各大生产厂家都在开发显示效果更好的新显示面板，新显示面板开发完成之后，需要检测显示面板的显示效果，现有的检测方法通常是向显示面板输入一检测画面判断所述显示面板的各个区域灰阶过渡是否平滑，但随着显示面板的分辨率的不断提升，在诸如8K4K显示面板等高分辨率显示面板中，由于高分辨率的信号源相对紧缺且价格昂贵，因此会采用多个低分辨率的子检测画面拼接得到高分辨率的显示面板的检测画面，此时由于无法检测拼接处的灰阶是否平滑，导致检测不完整。
发明内容
本发明的目的在于提供一种显示面板检测方法，能够通过低分辨率画面检测高分辨率显示面板的任意区域的灰阶过渡的平滑性，提升显示面板检测效果，降低显示面板检测成本。
本发明的目的还在于提供一种显示面板检测装置，能够通过低分辨率画面检测高分辨率显示面板的任意区域的灰阶过渡的平滑性，提升显示面板检测效果，降低显示面板检测成本。
为实现上述目的，本发明提供了一种显示面板检测方法，包括如下方法：
步骤S1、提供一显示面板辅助检测装置及显示面板，所述显示面板辅助检测装置包括输入单元、与所述输入单元电性连接的处理单元，所述处理单元用于电性连接所述显示面板；
步骤S2、所述显示面板显示检测画面，所述检测画面包括相互拼接的多个子检测画面，相邻子检测画面之间的拼接线位于第一区域，各个子检测画面的分辨率小于所述显示面板的分辨率；
步骤S3、检测所述显示面板除第一区域以外的第二区域的灰阶过渡的平滑性；
步骤S4、输入单元向所述处理单元提供位移信号，所述处理单元根据所述位移信号移动所述检测画面，使得各个相邻子检测画面之间的拼接线移动至第二区域；
步骤S5、检测所述显示面板的第一区域的灰阶过渡的平滑性。
所述检测画面包括田字形分布的四个子检测画面，所述第一区域位于所述显示面板的水平中心线及竖直中心线所在的区域。
所述位移信号包括所述检测画面的横向移动距离以及所述检测画面的纵向移动距离。
所述输入单元包括与所述处理单元电性连接的多个按键，通过所述多个按键向所述处理单元输入所述位移信号。
所述处理单元包括处理芯片及与所述处理芯片电性连接的存储器；
所述存储器中存储有子检测画面的显示数据；
所述处理芯片根据位移信号计算得出第一位置信息，并根据所述第一位置信息从所述存储器读取显示数据驱动所述显示面板显示，以实现对所述检测画面的移动，所述第一位置信息为检测画面移动后所述显示面板的起始像素点位于其所在的子检测画面中的位置。
本发明还提供一种显示面板辅助检测装置，包括输入单元及与所述输入单元电性连接的处理单元，所述处理单元电性连接显示面板；
所述显示面板用于显示检测画面，所述检测画面包括多个相互拼接的子检测画面，相邻子检测画面之间的拼接线位于第一区域，各个子检测画面的分辨率小于所述显示面板的分辨率；
所述输入单元用于向所述处理单元提供位移信号；
所述处理单元用于根据所述位移信号移动所述检测画面，使得各个相邻子检测画面之间的拼接线移动至除第一区域以外第二区域；
检测时，在所述检测画面移动前，检测所述显示面板中第二区域的灰阶过渡的平滑性，在所述检测画面移动后，检测所述第一区域的灰阶过渡的平滑性。
所述检测画面包括田字形分布的四个子检测画面，所述第一区域位于所述显示面板的水平中心线及竖直中心线所在的区域。
所述位移信号包括所述检测画面的横向移动距离以及所述检测画面的纵向移动距离；
所述输入单元包括与所述处理单元电性连接的多个按键，通过所述多个按键向所述处理单元输入所述位移信号。
所述处理单元包括处理芯片及与所述处理芯片电性连接的存储器；
所述存储器用于存储子检测画面的显示数据；
所述处理芯片用于根据位移信号计算得出第一位置信息，并根据所述第一位置信息从所述存储器读取显示数据驱动所述显示面板显示，以实现对所述检测画面的移动，所述第一位置信息为检测画面移动后所述显示面板的起始像素点位于其所在的子检测画面中的位置。
本发明的有益效果：本发明提供一种显示面板检测方法，通过多个低分辨率的子检测画面拼接得到高分辨率显示面板的检测画面，通过显示面板辅助检测装置移动显示面板所显示的检测画面，能够实现通过低分辨率画面检测高分辨率显示面板的任意区域的灰阶过渡的平滑性，提升显示面板检测效果，降低显示面板检测成本。本发明还提供一种显示面板辅助检测装置，能够实现通过低分辨率画面检测高分辨率显示面板的任意区域的灰阶过渡的平滑性，提升显示面板检测效果，降低显示面板检测成本。
附图说明
为了能更进一步了解本发明的特征以及技术内容，请参阅以下有关本发明的详细说明与附图，然而附图仅提供参考与说明用，并非用来对本发明加以限制。
附图中，
图1为本发明的显示面板检测方法的步骤S1的示意图暨本发明的显示面板辅助检测装置的示意图；
图2为本发明的显示面板检测方法的步骤S2和步骤S3的示意图；
图3为本发明的显示面板检测方法的步骤S4和步骤S5的示意图；
图4为本发明的显示面板检测方法的流程图。
具体实施方式
为更进一步阐述本发明所采取的技术手段及其效果，以下结合本发明的优选实施例及其附图进行详细描述。
请参阅图4，本发明提供一种显示面板检测方法，包括如下方法：
步骤S1、提供一显示面板辅助检测装置及显示面板30，所述显示面板辅助检测装置包括输入单元10、与所述输入单元10电性连接的处理单元20，所述处理单元20用于电性连接所述显示面板30。
具体地，在本发明优选实施例中，所述显示面板30的分辨率为8K4K即7630×4320。
具体地，所述输入单元10包括多个按键11，所述处理单元20包括处理芯片21及与所述处理芯片21电性连接的存储器22，所述处理芯片21与所述显示面板30电性连接。
优选地，所述处理芯片21为现场可编程门阵列(Field-Programmable GateArray，FPGA)芯片。
步骤S2、所述显示面板30显示检测画面100，所述检测画面包括相互拼接的多个子检测画面101，相邻子检测画面101之间的拼接线位于第一区域201，各个子检测画面的分辨率小于所述显示面板的分辨率。
具体地，如图2所示，在本发明优选实施例中，所述子检测画面的分辨率为4K2K即3840×2160，所述检测画面包括田字形分布的四个子检测画面101，所述第一区域201位于所述显示面板30的水平中心线及竖直中心线所在的区域，如图2所示，所述四个子检测画面101分别为子检测画面A、子检测画面B、子检测画面C及子检测画面D。
具体地，所述四个子检测画面101由同一个的显示数据驱动，显示相同的图案，所述显示数据存储于所述存储器22中。
当然，在本发明的其他实施例中，所述子检测画面的分辨率还可以为2K1K即1920×1080，所述检测画面包括呈4行4列分布的16个子检测画面101。
步骤S3、检测所述显示面板30除第一区域201以外的第二区域202的灰阶过渡的平滑性。
具体地，所述步骤S3可通过人眼直接观察来检测所述显示面板30第二区域202的灰阶过渡的平滑性，也可以通过诸如电荷耦合器件(Charge-coupled Device，CCD)的光学检测器件来检测所述显示面板30第二区域202的灰阶过渡的平滑性，以提升检测的准确性。
步骤S4、输入单元10向所述处理单元20提供位移信号，所述处理单元20根据所述位移信号移动所述检测画面100，使得各个相邻子检测画面101之间的拼接线移动至第二区域202。
具体地，通过所述按键11向所述处理单元20输入位移信号，所述位移信号包括所述检测画面100的横向移动距离以及所述检测画面100的纵向移动距离。
所述存储器22中存储有子检测画面101的显示数据；所述处理芯片21根据位移信号计算得出第一位置信息，并根据所述第一位置信息从所述存储器22读取显示数据驱动所述显示面板显示，以实现对所述检测画面100的移动，所述第一位置信息为检测画面100移动后为所述显示面板30的起始像素点位于其所在的子检测画面101中的位置。
举例来说，如图3所示，在本发明优选实施例中，通过向所述通过所述按键11向所述处理单元20输入位移信号，该位移信号中所述检测画面100的横向移动距离为X0个像素以及所述检测画面100的纵向移动距离为Y0个像素，一个子检测画面包括X列Y行像素，所述起始像素点为显示面板10左上角的像素点，据此所述处理芯片21计算得出第一位置信息为第X-X0列第Y-Y0行，也即所述起始像素点位于所述子检测画面的第X-X0列第Y-Y0行，然后所述处理芯片21从所述存储器22的子检测画面的第X-X0列第Y-Y0行的显示数据开始数据读取，以完成检测画面100的移动。
进一步地，如图3所述，移动后所述将子检测画面A向右移动X0个像素，向下移动Y0个像素，所述子检测画面C变成C1和C2两个部分位于所述子检测画面A的左右两侧，所述子检测画面B变成B1和B2两个部分位于子检测画面A的上下两侧，所述子检测画面D变成D1～D4四个部分位于所述显示面板10的四角，此时相邻子检测画面101之间的拼接线不再位于第一区域201。
步骤S5、检测所述显示面板30的第一区域201的灰阶过渡的平滑性。
具体地，所述步骤S5可通过人眼直接观察来检测所述第一区域201灰阶过渡的平滑性，也可以通过诸如电荷耦合器件(Charge-coupled Device，CCD)的光学检测器件来检测所述第一区域201的灰阶过渡的平滑性，以提升检测的准确性。
请参阅图1，本发明提供一种显示面板辅助检测装置，包括输入单元10及与所述输入单元10电性连接的处理单元20，所述处理单元20电性连接显示面板30；
所述显示面板30用于显示检测画面100，所述检测画面100包括多个相互拼接的子检测画面101，相邻子检测画面101之间的拼接线位于第一区域201，各个子检测画面的分辨率小于所述显示面板的分辨率。
具体地，具体地，在本发明优选实施例中，所述显示面板30的分辨率为8K4K即7630×4320。
具体地，所述输入单元10包括多个按键11，所述处理单元20包括处理芯片21及与所述处理芯片21电性连接的存储器22，所述处理芯片21与所述显示面板30电性连接。
优选地，所述处理芯片21为FPGA芯片。
具体地，如图2所示，在本发明优选实施例中，所述子检测画面的分辨率为4K2K即3840×2160，所述检测画面包括田字形分布的四个子检测画面101，所述第一区域201位于所述显示面板30的水平中心线及竖直中心线所在的区域，如图2所示，所述四个子检测画面101分别为子检测画面A、子检测画面B、子检测画面C及子检测画面D。
具体地，所述四个子检测画面101由同一个的显示数据驱动，显示相同的图案，所述显示数据存储于所述存储器22中。
当然，在本发明的其他实施例中，所述子检测画面的分辨率还可以为2K1K即1920×1080，所述检测画面包括呈4行4列分布的16个子检测画面101。
所述输入单元10用于向所述处理单元20提供位移信号。
所述处理单元20用于根据所述位移信号移动所述检测画面100，使得各个相邻子检测画面101之间的拼接线移动至除第一区域201以外第二区域202。
具体地，通过所述按键11向所述处理单元20输入位移信号，所述位移信号包括所述检测画面100的横向移动距离以及所述检测画面100的纵向移动距离。
所述存储器22中存储有子检测画面101的显示数据；所述处理芯片21根据位移信号计算得出第一位置信息，并根据所述第一位置信息从所述存储器22读取显示数据驱动所述显示面板显示，以实现对所述检测画面100的移动，所述第一位置信息为检测画面100移动后为所述显示面板30的起始像素点位于其所在的子检测画面101中的位置。
举例来说，如图3所示，在本发明优选实施例中，通过向所述通过所述按键11向所述处理单元20输入位移信号，该位移信号中所述检测画面100的横向移动距离为X0个像素以及所述检测画面100的纵向移动距离为Y0个像素，一个子检测画面包括X列Y行像素，所述起始像素点为显示面板10左上角的像素点，所述处理芯片21计算得出第一位置信息为第X-X0列第Y-Y0行，也即所述起始像素点位于所述子检测画面的第X-X0列第Y-Y0行，然后所述处理芯片21从所述存储器22的子检测画面的第X-X0列第Y-Y0行的显示数据开始数据读取，以完成检测画面100的移动。
进一步地，如图3所述，移动后所述将子检测画面A向右移动X0个像素，向下移动Y0个像素，所述子检测画面C变成C1和C2两个部分位于所述子检测画面A的左右两侧，所述子检测画面B变成B1和B2两个部分位于子检测画面A的上下两侧，所述子检测画面D变成D1～D4四个部分位于所述显示面板10的四角，此时相邻子检测画面101之间的拼接线不再位于第一区域201。
检测时，在所述检测画面100移动前，检测所述显示面板30中第二区域202的灰阶过渡的平滑性，在所述检测画面100移动后，检测所述第一区域201的灰阶过渡的平滑性，通过对检测画面100移动位置的控制，能够实现对所述显示面板10中任意区域的灰阶过渡的平滑性的检测。
具体地，可通过人眼直接观察来检测所述显示面板30灰阶过渡的平滑性，也可以通过诸如电荷耦合器件(Charge-coupled Device，CCD)的光学检测器件来检测所述显示面板30灰阶过渡的平滑性，以提升检测的准确性。
综上所述，本发明提供一种显示面板检测方法，通过多个低分辨率的子检测画面拼接得到高分辨率显示面板的检测画面，通过显示面板辅助检测装置移动显示面板所显示的检测画面，能够实现通过低分辨率画面检测高分辨率显示面板的任意区域的灰阶过渡的平滑性，提升显示面板检测效果，降低显示面板检测成本。本发明还提供一种显示面板辅助检测装置，能够实现通过低分辨率画面检测高分辨率显示面板的任意区域的灰阶过渡的平滑性，提升显示面板检测效果，降低显示面板检测成本。
以上所述，对于本领域的普通技术人员来说，可以根据本发明的技术方案和技术构思作出其他各种相应的改变和变形，而所有这些改变和变形都应属于本发明权利要求的保护范围。
Claims (10)
1.一种显示面板检测方法，其特征在于，包括如下方法：
步骤S1、提供一显示面板辅助检测装置及显示面板(30)，所述显示面板辅助检测装置包括输入单元(10)、与所述输入单元(10)电性连接的处理单元(20)，所述处理单元(20)用于电性连接所述显示面板(30)；
步骤S2、所述显示面板(30)显示检测画面(100)，所述检测画面(100)包括相互拼接的多个子检测画面(101)，相邻子检测画面(101)之间的拼接线位于第一区域(201)，各个子检测画面(101)的分辨率小于所述显示面板(30)的分辨率；
步骤S3、检测所述显示面板(30)除第一区域(201)以外的第二区域(202)的灰阶过渡的平滑性；
步骤S4、输入单元(10)向所述处理单元(20)提供位移信号，所述处理单元(20)根据所述位移信号移动所述检测画面(100)，使得各个相邻子检测画面(101)之间的拼接线移动至第二区域(202)；
步骤S5、检测所述显示面板(30)的第一区域(201)的灰阶过渡的平滑性。
2.如权利要求1所述的显示面板检测方法，其特征在于，所述检测画面(100)包括田字形分布的四个子检测画面(101)，所述第一区域(201)位于所述显示面板(30)的水平中心线及竖直中心线所在的区域。
3.如权利要求1所述的显示面板检测方法，其特征在于，所述位移信号包括所述检测画面(100)的横向移动距离以及所述检测画面(100)的纵向移动距离。
4.如权利要求1所述的显示面板检测方法，其特征在于，所述输入单元(10)包括与所述处理单元(20)电性连接的多个按键(11)，通过所述多个按键(11)向所述处理单元(20)输入所述位移信号。
5.如权利要求1所述的显示面板检测方法，其特征在于，所述处理单元(20)包括处理芯片(21)及与所述处理芯片(21)电性连接的存储器(22)；
所述存储器(22)中存储有子检测画面(101)的显示数据；
所述处理芯片(21)根据位移信号计算得出第一位置信息，并根据所述第一位置信息从所述存储器(22)读取显示数据驱动所述显示面板(30)显示，以实现对所述检测画面(100)的移动，所述第一位置信息为检测画面(100)移动后所述显示面板(30)的起始像素点位于其所在的子检测画面(101)中的位置。
6.一种显示面板辅助检测装置，其特征在于，包括输入单元(10)及与所述输入单元(10)电性连接的处理单元(20)，所述处理单元(20)电性连接显示面板(30)；
所述显示面板(30)用于显示检测画面(100)，所述检测画面(100)包括多个相互拼接的子检测画面(101)，相邻子检测画面(101)之间的拼接线位于第一区域(201)，各个子检测画面(101)的分辨率小于所述显示面板(30)的分辨率；
所述输入单元(10)用于向所述处理单元(20)提供位移信号；
所述处理单元(20)用于根据所述位移信号移动所述检测画面(100)，使得各个相邻子检测画面(101)之间的拼接线移动至除第一区域(201)以外的第二区域(202)；
检测时，在所述检测画面(100)移动前，检测所述显示面板(30)中第二区域(202)的灰阶过渡的平滑性，在所述检测画面(100)移动后，检测所述第一区域(201)的灰阶过渡的平滑性。
7.如权利要求6所述的显示面板辅助检测装置，其特征在于，所述检测画面(100)包括田字形分布的四个子检测画面(101)，所述第一区域(201)位于所述显示面板(30)的水平中心线及竖直中心线所在的区域。
8.如权利要求6所述的显示面板辅助检测装置，其特征在于，所述位移信号包括所述检测画面(100)的横向移动距离以及所述检测画面的纵向移动距离。
9.如权利要求6所述的显示面板辅助检测装置，其特征在于，所述输入单元(10)包括与所述处理单元(20)电性连接的多个按键(11)，通过所述多个按键(11)向所述处理单元(20)输入所述位移信号。
10.如权利要求6所述的显示面板辅助检测装置，其特征在于，所述处理单元(20)包括处理芯片(21)及与所述处理芯片(21)电性连接的存储器(22)；
所述存储器(22)用于存储子检测画面(101)的显示数据；
所述处理芯片(21)用于根据位移信号计算得出第一位置信息，并根据所述第一位置信息从所述存储器(22)读取显示数据驱动所述显示面板(30)显示，以实现对所述检测画面(100)的移动，所述第一位置信息为检测画面(100)移动后所述显示面板(30)的起始像素点位于其所在的子检测画面(101)中的位置。
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