CN108780115B - 测试插座以及导电颗粒 - Google Patents

Abstract

本发明是有关于一种测试插座以及导电颗粒。测试插座包括：多个导电部，排列于与测试目标装置的端子对应的位置且在测试插座的表面方向上彼此间隔开，导电部中的每一者包括多个导电颗粒，多个导电颗粒包含于弹性绝缘材料中且在测试插座的厚度方向上对齐；以及绝缘支撑体，排列于彼此间隔开的导电部之间，以支撑导电部并使导电部在表面方向上彼此绝缘，其中导电颗粒中的每一者包括：本体，具有柱形状；以及至少两个突出部，自本体的上端部突出，其中在彼此相邻的突出部之间设置有朝本体凹陷的凹陷部，且突出部的相互面对的内表面之间的角度是大于90°的钝角。

Description

测试插座以及导电颗粒

技术领域

本发明涉及一种测试插座以及导电颗粒，尤其涉及一种被配置成即便当测试插座频繁接触测试目标装置时仍长时间维持导电性的测试插座及导电颗粒。

背景技术

一般而言，在测试制程期间使用测试插座以检查所制造装置是否具有缺陷或错误。举例而言，当执行电性测试以检查所制造装置(测试目标装置)是否具有缺陷或错误时，不使所述测试目标装置与测试设备直接地接触彼此而是通过测试插座间接地连接至彼此。此乃因测试设备相对昂贵且在因频繁接触测试目标装置而被磨损或损坏，进而需要被新测试设备取代时造成困难及高的成本。因此，可将测试插座可拆卸地附接至测试设备的上侧，且接着可通过使测试目标装置接触测试插座而非使测试目标装置接触测试设备来将欲测试的所述测试目标装置电性连接至所述测试设备。此后，可经由测试插座将自测试设备产生的电性信号传输至测试目标装置。

此种测试插座被称作“各向异性导电连接件”，且相关技术的各向异性导电连接件被示出于图1及图2中。图1是说明相关技术的各向异性导电连接件的平面图，且图2是说明图1中所示各向异性导电连接件的剖视图。

各向异性导电连接件10包括：弹性各向异性导电膜15，在弹性各向异性导电膜15的厚度方向上具有导电性；以及框架板20，包含金属材料且支撑弹性各向异性导电膜15。

如图3中所示，在框架板20的长度方向及宽度方向上并排地形成有多个穿透孔21，所述多个穿透孔21具有矩形横截面形状且可在框架板20的厚度方向上延伸。在所示实例中，在框架板20的周边区中形成有用于对齐及放置各向异性导电连接件10的多个位置孔。

在弹性各向异性导电膜15的表面方向上，在与电极图案对应的图案中间隔地排列有用于与所述电极进行连接的多个导电连接部16。详言之，在弹性各向异性导电膜15的长度方向及宽度方向上并排地排列有多个导电连接部群组，所述多个导电连接部群组中的每一者包括根据图案的格栅点来排列的多个导电连接部16。此外，在本实例中，可在自身的厚度方向上延伸的多个导电非连接部18，在未排列有导电连接部群组的位置彼此间隔开地排列成环绕所述导电连接部群组，导电非连接部18以与排列导电连接部16相同的节距在表面方向上进行排列。导电连接部16与导电非连接部18通过排列于导电连接部16与导电非连接部18之间的绝缘部17而彼此绝缘。导电连接部16及导电非连接部18中的每一者包括磁性导电颗粒，所述磁性导电颗粒在绝缘弹性聚合物的厚度方向上紧密地排列于所述绝缘弹性聚合物中，且绝缘部17包含所述绝缘弹性聚合物。在所示实例中，导电连接部16中的每一者包括分别自绝缘部17的两侧突出的突出部位16A及16B。另外，弹性各向异性导电膜15被整体地固定至框架板20，且被框架板20以使得导电连接部群组分别位于框架板20的穿透孔21中的方式支撑，且导电非连接部18放置于框架板20上。

可如下制造相关技术的此种各向异性导电连接件。

首先，制造如图3中所示的框架板20。接下来，通过将磁性导电颗粒P分散至可被固化成绝缘弹性聚合物的液体聚合物成形材料中来制备可流动成形材料。另外，如图3中所示，制备用于形成弹性各向异性导电膜的模具50。接下来，使用间隔件(图中未示出)将框架板20对齐及设置于模具50的下部模具56的上表面上方，且使用间隔件(图中未示出)将模具50的上部模具51对齐及设置于框架板20上方。接着，将所制备成形材料填充于由上部模具51、下部模具56、所述间隔壁、及框架板20而形成的成形空间中，以形成成形材料层15A。

接下来，在上部模具51的铁磁性基板52的上表面及下部模具56的铁磁性基板57的下表面上放置电磁体或永久磁体，以使得可在成形材料层15A的厚度方向上施加具有非均匀强度分布的平行磁场。亦即，在成形材料层15A的厚度方向上施加平行磁场，所述平行磁场在上部模具51的磁性构件54A与下部模具56的和磁性构件54A对应的磁性构件59A之间具有相对高的磁性强度。接着，如图4中所示，将分散于成形材料层15A中的导电颗粒P，聚集于上部模具51的磁性构件54A与下部模具56的磁性构件59A之间的区域中，且使导电颗粒P在成形材料层15A的厚度方向上对齐。

在此种状态中，将成形材料层15A固化，藉此形成固定至框架板20的弹性各向异性导电膜15。弹性各向异性导电膜15包括：导电连接部16及导电非连接部18，包括紧密地排列于上部模具51的磁性构件54A与下部模具56的磁性构件59A之间的导电颗粒P；以及绝缘部17，不具有导电颗粒P或具有非常少的导电颗粒P，且绝缘部17排列于导电连接部16与导电非连接部18之间。通过此方式，制造出各向异性导电连接件10。

此种各向异性导电连接件包括其中导电颗粒排列于弹性绝缘材料中的导电部，且所述导电部频繁接触测试目标装置的端子。如上所述，当测试目标装置的端子频繁接触导电部时，分布于弹性绝缘材料中的导电颗粒可轻易地与弹性绝缘材料分离。具体而言，由于导电颗粒具有球体形状，因此导电颗粒可更轻易地与弹性绝缘材料分离。如上所述，若将导电颗粒分离，则各向异性导电连接件的导电性可能降低，且因此可能对测试可靠性造成负面影响。

在由本申请案的申请人提出申请的标题为“具有导电柱颗粒的测试插座”的韩国专利第1019721号中揭示了一种用于解决与现有技术的球体导电颗粒相关的问题的技术。如图5中所示，此种测试插座30包括：导电部31，分别包括多个导电柱颗粒311，所述多个导电柱颗粒311包含于弹性绝缘材料中；以及绝缘支撑体32，支撑导电部31。由于导电柱颗粒311分布于测试插座30的导电部31中，因此邻近的导电柱颗粒311之间的接触面积可为相对大的，且因此测试插座30的电阻可减小，藉此提供稳定的电性连接。另外，由于相较于现有技术的球体导电颗粒而言导电柱颗粒311与弹性绝缘材料具有相对大的接触面积，因此导电柱颗粒311与弹性绝缘材料之间的黏合是强的，且因此即便当重复执行测试时，导电柱颗粒311仍可能无法轻易地与弹性绝缘材料分离。

尽管导电柱颗粒311提供相较于球体导电颗粒而言提高的导电性，然而若紧密地排列于导电部31中的导电柱颗粒311不如图6(a)中所示垂直地对齐，则导电柱颗粒311可能如图6(b)中所示因压缩力而被压缩成非对齐状态。在此情形中，导电柱颗粒311之间的接触点可能无法得到维持，且导电柱颗粒311甚至当压缩力被释放时仍可能无法返回至其原始位置。

发明内容

技术问题

提供本发明是为了解决上述问题。更具体而言，本发明的目标是提供一种被配置成防止导电颗粒与导电部在频繁接触期间分离，以在导电部被压缩及扩张的同时保证导电颗粒之间的牢固电性连接的测试插座，以及提供一种导电颗粒。

技术解决方案

为达成上述目标，本发明的实施例提供一种测试插座，所述测试插座被配置成放置于测试目标装置与测试设备之间，以将所述测试目标装置的端子电性连接至所述测试设备的接垫，所述测试插座包括：多个导电部，排列于与所述测试目标装置的所述端子对应的位置且在所述测试插座的表面方向上彼此间隔开，所述导电部中的每一者包括多个导电颗粒，所述多个导电颗粒包含于弹性绝缘材料中且在所述测试插座的厚度方向上对齐；以及绝缘支撑体，排列于彼此间隔开的所述导电部之间，以支撑所述导电部并使所述导电部在所述表面方向上彼此绝缘，其中所述导电颗粒中的每一者包括：本体，具有柱形状；以及至少两个突出部，自所述本体的上端部突出，其中在彼此相邻的所述突出部之间设置有朝所述本体凹陷的凹陷部，且所述突出部的相互面对的内表面之间的角度是大于90°的钝角。

所述本体的形状及大小可使得当利用磁场将所述导电颗粒在所述弹性绝缘材料中对齐时，所述导电颗粒可站立于所述厚度方向上。

所述本体中的每一者的h/w大于1，其中h是指自所述本体的所述上端部至下端部量测的垂直长度，且w是指与所述垂直长度垂直的所述本体的水平长度。

所述本体中的每一者的w/d大于1，其中d是指所述本体的厚度。

所述突出部的所述相互面对的内表面可被倾斜成将相邻的导电颗粒的突出部引导至所述凹陷部中。

在所述本体的所述上端部与下端部之间可设置有侧向表面，且所述侧向表面可自所述本体的所述上端部及所述下端部朝所述本体的中心部朝内凹陷。

在所述本体的侧向表面上可设置有多个凹凸部。

至少两个突出部可自所述本体的下端部突出。

所述本体的所述上端部与所述下端部上的所述突出部可相对于所述本体对称。

为达成上述目标，本发明的实施例提供一种用于测试插座中的导电颗粒，所述测试插座被配置成放置于测试目标装置与测试设备之间，以将所述测试目标装置的端子电性连接至所述测试设备的接垫，其中所述导电颗粒包括在所述测试插座的厚度方向上在所述测试插座的导电部中对齐的多个导电颗粒，所述导电颗粒排列于弹性绝缘材料中，且当所述测试目标装置的所述端子按压所述导电部时，排列于所述导电部中的所述导电颗粒彼此接触而使所述导电部变得有导电性，其中所述导电颗粒中的每一者包括：本体，具有柱形状；以及至少两个突出部，自所述本体的上端部突出，其中在彼此相邻的所述突出部之间设置有朝所述本体凹陷的凹陷部，且所述突出部的相互面对的内表面之间的角度是大于90°的钝角。

所述突出部的所述相互面对的内表面可被倾斜成将相邻的导电颗粒的突出部引导至所述凹陷部中。

所述本体可在一个方向上伸长，以使得当通过磁场将所述导电颗粒在所述弹性绝缘材料中对齐时，所述导电颗粒可站立于所述测试插座的所述厚度方向上。

所述导电颗粒还包括至少两个突出部可自所述本体的下端部突出。

发明效果

根据本发明，所述测试插座的导电颗粒的相互面对的内表面之间的角度是钝角(即，大于90°)，且因此经耦合的导电颗粒之间可维持一点接触，藉此提高接触稳定性。

附图说明

图1是说明现有技术的测试插座的图。

图2是说明图1中所示测试插座的剖视图。

图3及图4是说明如何制造图1中所示测试插座的图。

图5是说明现有技术的测试插座的另一实例的图。

图6(a)、图6(b)是说明图5的现有技术中的问题的图。

图7是说明根据本发明实施例的测试插座的图。

图8是说明图7中所示测试插座的运作的图。

图9是说明位于图7中所示测试插座的导电部中的导电颗粒中的一者的立体图。

图10至图12是说明用于制造测试插座的制程的示意图。

图13是说明图12中所示测试插座的运作的放大图。

图14及图15是说明根据本发明其他实施例的导电颗粒的图。

具体实施方式

在下文中，将参照附图根据本发明的实施例来详细阐述测试插座。

根据本发明的较佳实施例，测试插座100呈具有预定厚度的片材形式，且被配置成在测试插座100的表面方向上阻挡电流并在测试插座100的厚度方向上传导电流，以在垂直方向上将测试目标装置130的端子131电性连接至测试设备140的接垫141。测试插座100可用于对测试目标装置130执行电性测试。

测试插座100包括导电部110及绝缘支撑体120。导电部110在厚度方向上延伸，且当导电部110在厚度方向上被按压时，导电部110可被压缩且可在厚度方向传导电流。导电部110在表面方向上彼此间隔开且绝缘支撑体120排列于导电部110之间，使得电流可不在导电部110之间流动。现将详细阐述导电部110及绝缘支撑体120。

导电部110的上端部可接触测试目标装置130的端子131，且导电部110的下端部可接触测试设备140的接垫141。在弹性绝缘材料中、导电部110中的每一者的上端部与下端部之间垂直地对齐有多个导电颗粒111。当导电部110被测试目标装置130按压时，导电颗粒111可彼此接触并传导电流。亦即，当导电部110不被测试目标装置130按压时，导电颗粒111稍微彼此间隔开或彼此接触，且当导电部110被测试目标装置130按压及压缩时，导电颗粒111可牢固地彼此接触，且因此可传导电流。

具体而言，导电部110是通过在弹性绝缘材料中紧密地垂直排列导电颗粒111而形成，且导电部110位于与测试目标装置130的端子131近似对应的位置。

较佳地，所述弹性绝缘材料可包含具有交联结构的绝缘聚合物物质。可使用各种可固化聚合物成形材料来获得此种交联聚合物物质。所述交联聚合物物质的具体实例包括：共轭二烯橡胶，例如聚丁二烯橡胶、天然橡胶、聚异戊二烯橡胶、苯乙烯-丁二烯共聚物橡胶、或丙烯腈-丁二烯共聚物橡胶；共轭二烯橡胶的氢化产物；嵌段共聚物橡胶，例如苯乙烯-丁二烯-二烯嵌段共聚物橡胶或苯乙烯-异戊二烯嵌段共聚物橡胶；嵌段共聚物橡胶的氢化产物；氯丁二烯橡胶；胺基甲酸酯橡胶；聚酯橡胶；表氯醇橡胶；硅酮橡胶；乙烯-丙烯共聚物橡胶；以及乙烯-丙烯-二烯共聚物橡胶。由于硅酮橡胶具有较佳的可成形性及电性特性，因此可使用硅酮橡胶。

较佳地，所述硅酮橡胶可通过交联或缩合而自液体硅酮橡胶获得。液体硅酮橡胶可较佳地当以10^-1秒的剪切速率量测时具有不高于10⁵泊的黏度。液体硅酮橡胶可为缩合固化硅酮橡胶、加成固化硅酮橡胶、及具有乙烯基或羟基的硅酮橡胶中的一种。液体硅酮橡胶的具体实例可包括二甲基硅酮生橡胶、甲基乙烯基硅酮生橡胶、及甲基苯基乙烯基硅酮生橡胶。

导电颗粒111中的每一者包括整体具有柱形状的本体112及自本体112的上端部与下端部突出的突出部113。

本体112具有近似柱形状，具体而言具有细的四棱柱形状。尽管在以上实例中将本体112阐述为具有四棱柱形状，然而本体112并非仅限于此。举例而言，本体112可具有多棱柱形状。

本体112的形状及大小被确定成使得可通过利用磁场将导电颗粒111在弹性绝缘材料中对齐而使导电颗粒111站立于厚度方向上。亦即，当制造测试插座100时，会以其中分布有导电颗粒111的液体硅酮橡胶来填充模具150，且在一个方向上施加磁场以将导电颗粒111线性地排列于与导电部110对应的位置。对于此制程，将本体112的尺寸确定成使得导电颗粒111可站立于一个方向上是重要的。为此，本体112可具有在一个方向上延伸的长柱形状。

具体而言，本体112中的每一者的h/w大于1，其中“h”是指自本体112的上端部至下端部的垂直长度，且“w”是指与所述垂直长度垂直的本体112的水平长度。当h/w比率大于1时，本体112的垂直长度大于本体112的水平长度，且因此本体112可轻易地站立于与厚度方向平行的方向上。因此，当导电颗粒111在厚度方向上对齐时，自相邻本体112延伸的突出部113可轻易地耦合至彼此。然而，若h/w比率小于1，则导电颗粒111可能不同地定向，且因此，突出部113可能无法轻易地耦合至彼此。

另外，本体112的w/d大于1，其中“d”是指本体112的厚度。亦即，本体112可具有矩形水平横截面而非正方形水平横截面。当本体112的w/d大于1时，导电颗粒111可在特定方向上定向。亦即，导电颗粒111可不旋转至随机的角度但可在相对于本体112的中心轴线而言的特定方向上定向(与本体112的垂直长度平行地穿过本体112的中心)，且因此上部导电颗粒与下部导电颗粒111的突出部113可轻易地耦合至彼此。然而，若w/d比率小于1，则导电颗粒111可旋转至不同的角度，且因此，导电颗粒111的突出部113可能无法轻易地耦合至彼此。w/d比率可较佳地大于1，更佳地为2或大于2，且甚至更佳地为5或大于5。

若如上所述确定本体112的大小，则导电颗粒111的突出部113可当导电颗粒111彼此对齐时轻易地耦合至彼此。

另外，本体112中的每一者的上端部与下端部之间形成有用于连接上端部表面与下端部表面的侧向表面1121，且侧向表面1121自本体112的上端部及下端部朝本体112的中心部朝内凹陷。亦即，弹性绝缘材料可甚至填充于侧向表面1121的凹的中心部中，且因此可使导电颗粒111与导电部110的分离最小化。

至少两个突出部113可自本体112中的每一者的上端部突出。另外，自本体112的下端部突出的突出部113可具有与自本体112的上端部突出的突出部113的形状或形式对应的形状或形式。相邻的突出部113之间形成有朝本体112凹陷的凹陷部1132。较佳地，在相邻的突出部113之间形成的凹陷部1132的内表面1131之间的角度θ可为钝角(即，大于90°)。内表面1131之间的角度θ可具有大于90°的任意值。较佳地，角度θ可介于95°至170°范围内，且更佳地介于100°至160°范围内。

如上所述，由于内表面1131之间的角度θ大于90°，因此当制造测试插座时，模具150中所含有的导电颗粒111可通过磁力而紧密地聚集。详言之，如图10中所示，在通过磁力而对齐之前，导电颗粒111彼此相距一定距离地包含于液体弹性材料中，且如图11中所示当导电颗粒111通过磁场而紧密地聚集时，导电颗粒111的突出部113可因内表面1131之间的大的角度θ而彼此接触。接着，随着磁场的持续施加，导电颗粒111可牢固地耦合至彼此。通过此方式，可如图12中所示制造出测试插座100。

在其中导电颗粒111如上所述耦合至彼此的状态中，若将液体弹性材料固化，则测试插座100的制造完成。此后，当测试目标装置130的接垫端子131按压导电部110的上侧时，在导电颗粒111中相对靠上的导电颗粒111如图13中所示旋转至某些角度的同时导电颗粒111之间的耦合得到维持。

除导电颗粒111的形状以外，现亦将阐述可用于形成导电颗粒111的材料。

导电颗粒111可由磁性材料形成，以轻易地在垂直方向上沿磁力线排列导电颗粒111。举例而言，导电颗粒111可为以下颗粒：磁性金属的颗粒，所述磁性金属例如为镍、铁、或钴；所述磁性金属的合金的颗粒；含有此种磁性金属的颗粒；或者包括此种颗粒作为核心颗粒且被镀覆以例如金、银、钯、或铑等难以氧化的导电金属的颗粒。

然而，导电颗粒111并不总是需要包括磁性核心颗粒。举例而言，导电颗粒111可包括：由例如非磁性金属、玻璃、或碳等无机材料形成的核心颗粒；由例如聚苯乙烯或与二乙烯基苯交联的聚苯乙烯等聚合物形成的核心颗粒；或者通过将弹性纤维长丝或玻璃纤维长丝打碎成具有等于或小于某一值的长度的颗粒而形成的核心颗粒，其中所述核心颗粒可被镀覆以例如钴或镍钴合金等导电磁性物质，或者可被涂布以导电磁性物质及难以氧化的导电金属。

绝缘支撑体120使导电部110彼此绝缘且支撑导电部110。较佳地，绝缘支撑体120可由与用于形成导电部110的弹性绝缘材料相同的硅酮橡胶形成。然而，绝缘支撑体120并非仅限于此。亦即，绝缘支撑体120可由不同于用于形成弹性绝缘材料的绝缘材料形成。

可如下使用根据本发明的较佳实施例的测试插座100来测试测试目标装置130。

首先，如图7中所示，将测试插座100放置于测试设备140上方。详言之，将测试插座100放置成使得导电部110的下端部接触测试设备140的接垫141。此后，如图8中所示，将测试目标装置130向下移动以使测试目标装置130的端子131接触导电部110。此时，若进一步将测试目标装置130降低，则测试目标装置130开始按压导电部110，且导电部110的导电颗粒111的端部彼此接触且因此而电性连接至彼此。此时，若测试设备140产生预定电性信号，则经由测试插座100将所述电性信号传输至测试目标装置130。

详言之，当测试目标装置130的端子131按压导电部110时，如图13中所示导电部110在导电部110的厚度方向上被按缩。在此过程中，通过突出部113耦合至彼此的导电颗粒111在相对于彼此旋转的同时保持处于耦合状态，且因此可经由导电颗粒111可靠地传输电性信号。

另外，当测试目标装置130的端子131远离导电部110移动时，导电部110如图12中所示返回至其原始耦合状态。因此，即便当另一测试目标装置的端子按压导电部110时，导电部110仍可维持电性连接。

根据本发明的较佳实施例，测试插座100具有以下效果。

首先，由于测试插座100的导电颗粒111的相互面对的内表面1131之间的角度是钝角(即，大于90°)，因此经耦合的导电颗粒111之间可维持一点接触，藉此提高接触稳定性。

另外，由于本体112具有h/w比率大于1的柱形状，因此在制造测试插座100时可轻易地使本体112垂直地对齐。

另外，用于促进导电颗粒111之间的结合的突出部113设置在良好形成的本体112的上端和下端，并且导电颗粒111相互耦合在导电部110中，此耦合结构使得即便当导电部110被测试目标装置130压缩时，导电颗粒111之间仍可维持接触，且因此，导电颗粒111的导电性可得到维持。

另外，由于本体112在其中心区处是凹的，因此本体112与弹性绝缘材料之间的接触面积增大，且因此本体112可不轻易地与导电部110分离。

另外，由于导电颗粒111的本体112的厚度d小于本体112的宽度w，因此导电颗粒111可轻易地在垂直方向上对齐，且因此导电颗粒111可轻易地耦合至彼此。

另外，由于突出部113插入在突出部113之间形成的凹陷部1132中，因此当使用测试插座100时，相邻导电颗粒111之间的接触可在一个点处得到维持，且因此接触稳定性可得到提高。

可如下所述修改根据本发明较佳实施例的测试插座100。

参照图14，导电颗粒111’的凹的中心区的侧向表面1121上可设置有凹凸部1122。若如上所述侧向表面上设置有多个凹凸部，则可在凹凸部之间填充弹性绝缘材料，且因此可可靠地防止导电颗粒的分离。

在以上所述实施例中，侧向表面是线性倾斜的。然而，如图15中所示，导电颗粒111”的侧向表面上可设置有在垂直方向上具有恒定宽度的凹凸部1123。

在以上所述实施例中，相邻突出部113的相互面对的内表面1131之间的角度是钝角(即，大于90°)。然而，所述角度可等于或大于90°。

尽管以上已示出及阐述了本发明的较佳实施例，然而本发明并非仅限于本发明的实施例或经修改实例，且可在不背离本发明的范围的条件下作出各种其他润饰及变动。

Claims (9)

1.一种测试插座，被配置成放置于测试目标装置与测试设备之间，以将所述测试目标装置的端子电性连接至所述测试设备的接垫，所述测试插座包括：

多个导电部，排列于与所述测试目标装置的所述端子对应的位置且在所述测试插座的表面方向上彼此间隔开，所述导电部中的每一者包括多个导电颗粒，所述多个导电颗粒包含于弹性绝缘材料中且在所述测试插座的厚度方向上对齐；以及

绝缘支撑体，排列于彼此间隔开的所述导电部之间，以支撑所述导电部并使所述导电部在所述表面方向上彼此绝缘，

其中所述导电颗粒中的每一者包括：

本体，具有柱形状；

自所述本体的上端部突出的至少两个突出部；以及

自所述本体的下端部突出的至少两个突出部，

其中在彼此相邻的所述突出部之间设置有朝所述本体凹陷的凹陷部，且

所述突出部的相互面对的内表面之间的角度是大于90°的钝角，

其中所述突出部的所述相互面对的内表面被倾斜成将相邻的所述导电颗粒的所述突出部引导至所述凹陷部中。

2.根据权利要求1所述的测试插座，其中所述本体的形状及大小使得当利用磁场将所述导电颗粒在所述弹性绝缘材料中对齐时，所述导电颗粒站立于所述厚度方向上。

3.根据权利要求2所述的测试插座，其中所述本体中的每一者的h/w大于1，其中h是指自所述本体的所述上端部至下端部量测的垂直长度，且w是指与所述垂直长度垂直的所述本体的水平长度。

4.根据权利要求3所述的测试插座，其中所述本体中的每一者的w/d大于1，其中d是指所述本体的厚度。

5.根据权利要求1所述的测试插座，其中在所述本体的所述上端部与下端部之间设置有侧向表面，且所述侧向表面自所述本体的所述上端部及所述下端部朝所述本体的中心部朝内凹陷。

6.根据权利要求1至5中任一项所述的测试插座，其中在所述本体的侧向表面上设置有多个凹凸部。

7.根据权利要求1所述的测试插座，其中所述本体的所述上端部与所述下端部上的所述突出部相对于所述本体对称。

8.一种用于测试插座中的导电颗粒，所述测试插座被配置成放置于测试目标装置与测试设备之间，以将所述测试目标装置的端子电性连接至所述测试设备的接垫，

其中所述导电颗粒包括在所述测试插座的厚度方向上在所述测试插座的导电部中对齐的多个导电颗粒，所述导电颗粒排列于弹性绝缘材料中，且当所述测试目标装置的所述端子按压所述导电部时，排列于所述导电部中的所述导电颗粒彼此接触而使所述导电部变得有导电性，

其中所述导电颗粒中的每一者包括：

本体，具有柱形状；

自所述本体的上端部突出的至少两个突出部；以及

自所述本体的下端部突出的至少两个突出部，

其中在彼此相邻的所述突出部之间设置有朝所述本体凹陷的凹陷部，且

所述突出部的相互面对的内表面之间的角度是大于90°的钝角，

其中所述突出部的所述相互面对的内表面被倾斜成将相邻的所述导电颗粒的所述突出部引导至所述凹陷部中。

9.根据权利要求8所述的导电颗粒，其中所述本体在一个方向上伸长，以使得当通过磁场将所述导电颗粒在所述弹性绝缘材料中对齐时，所述导电颗粒站立于所述测试插座的所述厚度方向上。

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