CN108226642B - 一种阻抗匹配的阻抗谱测量系统及方法 - Google Patents
一种阻抗匹配的阻抗谱测量系统及方法 Download PDFInfo
- Publication number
- CN108226642B CN108226642B CN201810036909.0A CN201810036909A CN108226642B CN 108226642 B CN108226642 B CN 108226642B CN 201810036909 A CN201810036909 A CN 201810036909A CN 108226642 B CN108226642 B CN 108226642B
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- impedance
- module
- sinusoidal signal
- processing unit
- central processing
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000001453 impedance spectrum Methods 0.000 title claims abstract description 22
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 20
- 238000005259 measurement Methods 0.000 title abstract description 21
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims abstract description 59
- 230000003321 amplification Effects 0.000 claims abstract description 52
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 claims abstract description 52
- 238000010187 selection method Methods 0.000 claims abstract description 3
- 238000005070 sampling Methods 0.000 claims description 34
- 230000001629 suppression Effects 0.000 claims description 27
- 238000002847 impedance measurement Methods 0.000 claims description 7
- 238000000157 electrochemical-induced impedance spectroscopy Methods 0.000 description 4
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 4
- 230000008859 change Effects 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000008569 process Effects 0.000 description 3
- 238000002848 electrochemical method Methods 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 230000004044 response Effects 0.000 description 2
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 1
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 1
- 238000010219 correlation analysis Methods 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 230000003993 interaction Effects 0.000 description 1
- 238000011160 research Methods 0.000 description 1
- 238000005316 response function Methods 0.000 description 1
- 238000006467 substitution reaction Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R27/00—Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
- G01R27/02—Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/26—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating electrochemical variables; by using electrolysis or electrophoresis
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Molecular Biology (AREA)
- Electrochemistry (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
Abstract
本发明涉及一种阻抗匹配的阻抗谱测量系统及方法,本发明包括一种阻抗匹配的阻抗谱测量系统。首先通过中央处理器根据DDS算法产生正弦信号;然后通过电阻对模块选用不同电阻,分别在断开阻抗模块与闭合阻抗模块的条件下,采集系统比例放大系数;根据线性最小二乘拟合算法计算测量阻抗值;最后通过人工选择方法对不同频率正弦信号选择的匹配阻抗从而得到匹配阻抗谱。与现有技术相比,本发明克服了阻抗谱测量中由于阻抗不匹配导致测量精度降低的问题,进一步提高了测量系统的精度。
Description
技术领域
本发明涉及测量电路技术与信号处理技术领域,尤其涉及一种阻抗匹配的阻抗谱测量系统及方法。
背景技术
在电化学性能的研究过程中,多采用测量电化学阻抗谱的方法。电化学阻抗谱方法是一种以小振幅的正弦波电流为扰动信号的电化学测量方法。由于是以小振幅的电信号对电化学体系扰动,一方面可避免对体系产生大的影响,另一方面也使得扰动与体系的响应之间近似呈线性关系,这就使得测量结果的数学处理变得简单。同时,电化学阻抗谱方法又是一种频率域的测量方法,它以测量得到的频率范围很宽的阻抗谱来研究电极系统,因而能比其他常规的电化学方法得到更多的动力学信息及电极界面结构的信息。
给电化学系统施加一个频率不同的小振幅的交流电势波,测量交流电势与电流信号的比值(此比值即为系统的阻抗)随正弦波频率的变化,或者是阻抗的相位角随的变化。此时电极系统的频响函数,就是电化学阻抗。在一系列不同频率下测得的一组这种频响函数值则就是电极系统的电化学阻抗谱。
目前,市场上的能进行电化学阻抗谱测量的产品有电化学工作站、频率响应分析仪、精密LCR仪等设备。这些设备可进行多频点阻抗测量,精度高,完善的软件设计,但是成本昂贵,体积庞大,不便于携带,设计复杂,使用繁琐,非专业人员难以上手使用。还有一类测量设备体积小,但是功能较差,一般只能在少数几个或者一个频点测量阻抗信息,或者能测量的阻抗值范围小,分析能力弱,人机交互不方便。这两类常规设备原理上都没有将测量系统阻抗从被测阻抗中区分出来。
总之,常规阻抗谱测量方法没有考虑测量过程中的阻抗匹配,要么测量精度低,要么测量范围小,或需要手工换档;其次,不同频率下的阻抗计算多采用相关分析,精度高的条件下,要求整周期的数据处理,不适合高频采样点数少的情况;最后,测量过程中没有把测量系统阻抗从被测阻抗中区分开来,降低了测量的准确度。
发明内容
为了解决上述的技术问题,本发明提供了一种阻抗匹配的阻抗谱测量系统及方法。
本发明的系统所采用的技术方案是:一种阻抗匹配的阻抗谱测量系统,其特征在于,包括:射极跟随器模块、直流抑制模块、多路电阻对模块、阻抗模块、差分放大模块、中央处理器;所述的射极跟随器模块通过导线与所述的直流抑制模块连接;所述的直流抑制模块通过导线与所述的多路电阻对模块连接;所述的多路电阻对模块通过导线与所述的差分放大模块并联连接;所述的阻抗模块通过导线与所述的差分放大模块并联连接;所述的差分放大模块通过导线与所述的中央处理器连接;所述的中央处理器通过导线与所述的射极跟随器模块连接;所述的中央处理器通过导线与所述的直流抑制模块连接;所述的中央处理器通过导线与所述的多路电阻对模块连接;所述的中央处理器通过导线与所述的阻抗模块连接;所述的中央处理器通过导线与所述的差分放大模块连接。
本发明的方法所采用的技术方案是:一种阻抗匹配的阻抗谱测量方法,其特征在于,包括以下步骤:
步骤1:通过中央处理器根据DDS算法产生频率为fl的正弦信号且 fl∈[f1,...,fL];
步骤2:通过中央处理器控制多路电阻对模块选择阻值均为0Ω的一对电阻,其中一个0Ω电阻串连接在直流抑制模块与差分放大模块间,另一个0Ω电阻串连接在地与差分放大模块间;
步骤3:通过中央处理器控制阻抗模块断开阻抗模块与差分放大模块的并联连接;
步骤4:通过中央处理器分别采集步骤1中所述正弦信号通过直流抑制模块后的断开阻抗输入正弦信号,并通过中央处理器依次采集断开阻抗输入正弦信号通过差分放大器后的断开阻抗输出正弦信号;
步骤5:通过中央处理器根据线性最小二乘拟合算法计算步骤4中所述断开阻抗输入正弦信号以及步骤4中所述断开阻抗输出正弦信号的复数表达式,计算得到断开阻抗系统比例放大系数;
步骤6:通过中央处理器控制阻抗模块闭合阻抗模块与差分放大模块的并联连接;
步骤7:通过中央处理器分别采集步骤1中所述正弦信号通过直流抑制模块后的闭合阻抗输入正弦信号,并通过中央处理器依次采集闭合阻抗输入正弦信号通过差分放大器后的闭合阻抗输出正弦信号;
步骤8:通过中央处理器根据线性最小二乘拟合算法计算步骤7中所述闭合阻抗输入正弦信号以及步骤7中所述闭合阻抗输出正弦信号的复数表达式,计算得到闭合阻抗系统比例放大系数;
步骤9:通过中央处理器控制多路电阻对模块选择阻值均为RmΩ的一对电阻且Rm∈[R1,...,RM],Rm>0,其中一个RmΩ电阻串连接在直流抑制模块与差分放大模块间,另一个RmΩ电阻串连接在地与差分放大模块间;
步骤10:通过中央处理器控制阻抗模块断开阻抗模块与差分放大模块的并联连接,根据线性最小二乘拟合算法计算得到系统等效阻抗;
作为优选,步骤5中所述断开阻抗系统比例放大系数为:
步骤5中所述线性最小二乘拟合算法如下:
作为优选,步骤8中所述闭合阻抗系统比例放大系数为:
步骤8中所述线性最小二乘拟合算法如下:
作为优选,步骤10中所述系统等效阻抗为:
其中,为步骤5中所述断开阻抗系统比例放大系数,在RmΩ的一对电阻且正弦信号频率为fl的条件下,为步骤4中所述断开阻抗输出正弦信号,为步骤4中所述断开阻抗输入正弦信号,为断开阻抗系统比例放大系数实部,为断开阻抗系统比例放大系数虚部;
步骤10中所述线性最小二乘拟合算法如下:
作为优选,步骤11中所述阻抗测量值为:
其中,为步骤8中所述闭合阻抗系统比例放大系数,为步骤10中所述系统等效阻抗,在RmΩ的一对电阻且正弦信号频率为fl的条件下,为步骤7中所述闭合阻抗输出正弦信号,为步骤7中所述闭合阻抗输入正弦信号,为闭合阻抗系统比例放大系数实部,为闭合阻抗系统比例放大系数虚部;
步骤11中所述线性最小二乘拟合算法如下:
与现有技术相比,本发明克服了阻抗谱测量中由于阻抗不匹配导致测量精度降低的问题。
附图说明
图1:是本发明实施例的系统电路结构图;
图2:是本发明实施例的断开阻抗场景示意图;
图3:是本发明实施例的闭合阻抗场景示意图;
图4:是本发明实施例的方法流程图。
具体实施方式
为了便于本领域普通技术人员理解和实施本发明,下面结合附图及实施例对本发明作进一步的详细描述,应当理解,此处所描述的实施示例仅用于说明和解释本发明,并不用于限定本发明。
请见图1-图3,本发明的系统所采用的技术方案是:一种阻抗匹配的阻抗谱测量系统,其特征在于,包括:射极跟随器模块、直流抑制模块、多路电阻对模块、阻抗模块、差分放大模块、中央处理器;所述的射极跟随器模块通过导线与所述的直流抑制模块连接;所述的直流抑制模块通过导线与所述的多路电阻对模块连接;所述的多路电阻对模块通过导线与所述的差分放大模块并联连接;所述的阻抗模块通过导线与所述的差分放大模块并联连接;所述的差分放大模块通过导线与所述的中央处理器连接;所述的中央处理器通过导线与所述的射极跟随器模块连接;所述的中央处理器通过导线与所述的直流抑制模块连接;所述的中央处理器通过导线与所述的多路电阻对模块连接;所述的中央处理器通过导线与所述的阻抗模块连接;所述的中央处理器通过导线与所述的差分放大模块连接;其中,所述的射极跟随器模块用于提高正弦信号输出带负载能力;所述的直流抑制模块用于抑制正弦信号的直流偏置;所述的多路电阻对模块用于提供多路阻值的电阻对;所述的阻抗模块用于断开和闭合阻抗;所述的差分放大器用于差分放大正弦信号;所述的中央处理器用于通过DDS算法产生频率可调的正弦信号,用于控制所述的多路电阻对模块选择不同阻值的电阻对,用于控制所述的阻抗模块与所述的差分放大模块的并联连接的断开和闭合,用于采集正弦输入信号与正弦输出信号,用于通过最小二乘拟合算法计算阻抗测量值。
在本实施方式中,所述的中央处理器模块选用STM32单片机,所述的射极跟随器模块、直流抑制模块、差分放大模块均选用LMV324芯片,所述的多路电阻对模块选用ADG707芯片,所述的多路电阻对模块选用ADG412芯片。
请见图4,本发明的方法所采用的技术方案是一种阻抗匹配的阻抗谱测量方法,包括以下步骤:
步骤1:通过中央处理器根据DDS算法产生频率为fl的正弦信号且 fl∈[10Hz,30Hz,50Hz,72Hz,80Hz,100Hz,300Hz,500Hz,720Hz,800Hz,1KHz,;
3KHz,5KHz,7.2KHz,8KHz,10KHz,30KHz,50KHz,72KHz,80KHz,100KHz]
步骤2:通过中央处理器控制多路电阻对模块选择阻值均为0Ω的一对电阻,其中一个0Ω电阻串连接在直流抑制模块与差分放大模块间,另一个0Ω电阻串连接在地与差分放大模块间;
步骤3:通过中央处理器控制阻抗模块断开阻抗模块与差分放大模块的并联连接;
步骤4:通过中央处理器分别采集步骤1中所述正弦信号通过直流抑制模块后的断开阻抗输入正弦信号,并通过中央处理器依次采集断开阻抗输入正弦信号通过差分放大器后的断开阻抗输出正弦信号;
步骤5:通过中央处理器根据线性最小二乘拟合算法计算步骤4中所述断开阻抗输入正弦信号以及步骤4中所述断开阻抗输出正弦信号的复数表达式,计算得到断开阻抗系统比例放大系数;
作为优选,步骤5中所述断开阻抗系统比例放大系数为:
步骤5中所述线性最小二乘拟合算法如下:
步骤6:通过中央处理器控制阻抗模块闭合阻抗模块与差分放大模块的并联连接;
步骤7:通过中央处理器分别采集步骤1中所述正弦信号通过直流抑制模块后的闭合阻抗输入正弦信号,并通过中央处理器依次采集闭合阻抗输入正弦信号通过差分放大器后的闭合阻抗输出正弦信号;
步骤8:通过中央处理器根据线性最小二乘拟合算法计算步骤7中所述闭合阻抗输入正弦信号以及步骤7中所述闭合阻抗输出正弦信号的复数表达式,计算得到闭合阻抗系统比例放大系数;
作为优选,步骤8中所述闭合阻抗系统比例放大系数为:
步骤8中所述线性最小二乘拟合算法如下:
步骤9:通过中央处理器控制多路电阻对模块选择阻值均为RmΩ的一对电阻且Rm∈[10Ω,100Ω,1KΩ,10KΩ,100KΩ,1MΩ,10MΩ],Rm>0,其中一个RmΩ电阻串连接在直流抑制模块与差分放大模块间,另一个RmΩ电阻串连接在地与差分放大模块间;
步骤10:通过中央处理器控制阻抗模块断开阻抗模块与差分放大模块的并联连接,根据线性最小二乘拟合算法计算得到系统等效阻抗;
作为优选,步骤10中所述系统等效阻抗为:
其中,为步骤5中所述断开阻抗系统比例放大系数,在RmΩ的一对电阻且正弦信号频率为fl的条件下,为步骤4中所述断开阻抗输出正弦信号,为步骤4中所述断开阻抗输入正弦信号,为断开阻抗系统比例放大系数实部,为断开阻抗系统比例放大系数虚部;
步骤10中所述线性最小二乘拟合算法如下:
作为优选,步骤11中所述阻抗测量值为:
其中,为步骤8中所述闭合阻抗系统比例放大系数,为步骤10中所述系统等效阻抗,在RmΩ的一对电阻且正弦信号频率为fl的条件下,为步骤7中所述闭合阻抗输出正弦信号,为步骤7中所述闭合阻抗输入正弦信号,为闭合阻抗系统比例放大系数实部,为闭合阻抗系统比例放大系数虚部;
步骤11中所述线性最小二乘拟合算法如下:
[10Hz,30Hz,50Hz,72Hz,80Hz,100Hz,300Hz,500Hz,720Hz,800Hz,1KHz,
3KHz,5KHz,7.2KHz,8KHz,10KHz,30KHz,50KHz,72KHz,80KHz,100KHz]。
尽管本文较多地使用了射极跟随器模块、直流抑制模块、多路电阻对模块、阻抗模块、差分放大模块、中央处理器等术语,但并不排除使用其他术语的可能性。使用这些术语仅仅是为了更方便的描述本发明的本质,把它们解释成任何一种附加的限制都是与本发明精神相违背的。
应当理解的是,上述针对较佳实施例的描述较为详细,并不能因此而认为是对本发明专利保护范围的限制,本领域的普通技术人员在本发明的启示下,在不脱离本发明权利要求所保护的范围情况下,还可以做出替换或变形,均落入本发明的保护范围之内,本发明的请求保护范围应以所附权利要求为准。
Claims (2)
1.一种阻抗匹配的阻抗谱测量方法,其特征在于:
所述阻抗匹配的阻抗谱测量方法应用于一种阻抗匹配的阻抗谱测量系统,包括:射极跟随器模块、直流抑制模块、多路电阻对模块、阻抗模块、差分放大模块、中央处理器;
所述的射极跟随器模块通过导线与所述的直流抑制模块连接;所述的直流抑制模块通过导线与所述的多路电阻对模块连接;所述的多路电阻对模块通过导线与所述的差分放大模块并联连接;所述的阻抗模块通过导线与所述的差分放大模块并联连接;所述的差分放大模块通过导线与所述的中央处理器连接;所述的中央处理器通过导线与所述的射极跟随器模块连接;所述的中央处理器通过导线与所述的直流抑制模块连接;所述的中央处理器通过导线与所述的多路电阻对模块连接;所述的中央处理器通过导线与所述的阻抗模块连接;所述的中央处理器通过导线与所述的差分放大模块连接;
所述阻抗匹配的阻抗谱测量方法,具体包括以下步骤:
步骤1:通过中央处理器根据DDS算法产生频率为fl的正弦信号且fl∈[f1,...,fL];
步骤2:通过中央处理器控制多路电阻对模块选择阻值均为0Ω的一对电阻,其中一个0Ω电阻串连接在直流抑制模块与差分放大模块间,另一个0Ω电阻串连接在地与差分放大模块间;
步骤3:通过中央处理器控制阻抗模块断开阻抗模块与差分放大模块的并联连接;
步骤4:通过中央处理器分别采集步骤1中所述正弦信号通过直流抑制模块后的断开阻抗输入正弦信号,并通过中央处理器依次采集断开阻抗输入正弦信号通过差分放大器后的断开阻抗输出正弦信号;
步骤5:通过中央处理器根据线性最小二乘拟合算法计算步骤4中所述断开阻抗输入正弦信号以及步骤4中所述断开阻抗输出正弦信号的复数表达式,计算得到断开阻抗系统比例放大系数;
步骤6:通过中央处理器控制阻抗模块闭合阻抗模块与差分放大模块的并联连接;
步骤7:通过中央处理器分别采集步骤1中所述正弦信号通过直流抑制模块后的闭合阻抗输入正弦信号,并通过中央处理器依次采集闭合阻抗输入正弦信号通过差分放大器后的闭合阻抗输出正弦信号;
步骤8:通过中央处理器根据线性最小二乘拟合算法计算步骤7中所述闭合阻抗输入正弦信号以及步骤7中所述闭合阻抗输出正弦信号的复数表达式,计算得到闭合阻抗系统比例放大系数;
步骤9:通过中央处理器控制多路电阻对模块选择阻值均为RmΩ的一对电阻且Rm∈[R1,...,RM],Rm>0,其中一个RmΩ电阻串连接在直流抑制模块与差分放大模块间,另一个RmΩ电阻串连接在地与差分放大模块间;
步骤10:通过中央处理器控制阻抗模块断开阻抗模块与差分放大模块的并联连接,根据线性最小二乘拟合算法计算得到系统等效阻抗;
2.根据权利要求1所述的阻抗匹配的阻抗谱测量方法,其特征在于:步骤5中所述断开阻抗系统比例放大系数为:
步骤5中所述线性最小二乘拟合算法如下:
步骤8中所述闭合阻抗系统比例放大系数为:
步骤8中所述线性最小二乘拟合算法如下:
步骤10中所述系统等效阻抗为:
其中,为步骤5中所述断开阻抗系统比例放大系数,在RmΩ的一对电阻且正弦信号频率为fl的条件下,为步骤4中所述断开阻抗输出正弦信号,为步骤4中所述断开阻抗输入正弦信号,为断开阻抗系统比例放大系数实部,为断开阻抗系统比例放大系数虚部;
步骤10中所述线性最小二乘拟合算法如下:
步骤11中所述阻抗测量值为:
其中,为步骤8中所述闭合阻抗系统比例放大系数,为步骤10中所述系统等效阻抗,在RmΩ的一对电阻且正弦信号频率为fl的条件下,为步骤7中所述闭合阻抗输出正弦信号,为步骤7中所述闭合阻抗输入正弦信号,为闭合阻抗系统比例放大系数实部,为闭合阻抗系统比例放大系数虚部;
步骤11中所述线性最小二乘拟合算法如下:
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201810036909.0A CN108226642B (zh) | 2018-01-15 | 2018-01-15 | 一种阻抗匹配的阻抗谱测量系统及方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201810036909.0A CN108226642B (zh) | 2018-01-15 | 2018-01-15 | 一种阻抗匹配的阻抗谱测量系统及方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN108226642A CN108226642A (zh) | 2018-06-29 |
CN108226642B true CN108226642B (zh) | 2020-04-10 |
Family
ID=62640316
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN201810036909.0A Active CN108226642B (zh) | 2018-01-15 | 2018-01-15 | 一种阻抗匹配的阻抗谱测量系统及方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN108226642B (zh) |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TW526327B (en) * | 1998-02-19 | 2003-04-01 | Sumitomo Metal Ind | Detection apparatus and method of physical variable |
JP3089347U (ja) * | 2002-04-17 | 2002-10-25 | 船井電機株式会社 | 体脂肪測定機能付きテレビ用リモコン |
CN1332208C (zh) * | 2005-07-07 | 2007-08-15 | 中国航天科技集团公司第五研究院第五一四研究所 | 数字模拟阻抗标准器 |
CN102540101A (zh) * | 2012-03-01 | 2012-07-04 | 宁德新能源科技有限公司 | 电池组高压及绝缘电阻检测一体化装置 |
CN105572475B (zh) * | 2015-12-14 | 2018-07-27 | 湖北工业大学 | 一种高阻抗测量电路与信号处理方法 |
-
2018
- 2018-01-15 CN CN201810036909.0A patent/CN108226642B/zh active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN108226642A (zh) | 2018-06-29 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN109387685B (zh) | 一种差分探头及非接触式电压测量装置 | |
CN207215905U (zh) | 一种高精度交流微电阻测量仪 | |
WO2001040810A1 (en) | Method and apparatus for measuring complex self-immittance of a general electrical element | |
CN106066425B (zh) | 一种阻抗测量装置及其实现校准补偿的方法 | |
CN204101635U (zh) | 一种微电阻测量仪和电子产品生产装置 | |
CN101467031A (zh) | 电位测量探头的测量方法和装置 | |
CN109387686B (zh) | 一种非接触式电压测量电路 | |
CN110567606B (zh) | 一种噪声温度计及测量温度的方法 | |
JP2012177571A (ja) | 交流電力測定装置 | |
CN205103389U (zh) | 高频局部放电检测仪检定系统 | |
CN103149441B (zh) | 应用于电化学测量的便携式阻抗谱分析仪及阻抗谱分析方法 | |
WO2017219708A1 (zh) | 一种功率分析方法和装置 | |
CN110392827A (zh) | 用于表征测量对象的电阻的设备 | |
CN218272637U (zh) | 用于电池内阻测试仪的接触检查电路以及电池内阻测试仪 | |
CN102466751A (zh) | 一种电流测量装置 | |
CN210294376U (zh) | 一种差分探头及非接触式电压测量装置 | |
CN205826750U (zh) | 一种变温下测量导体常温电阻率及电阻温度系数的装置 | |
CN108226642B (zh) | 一种阻抗匹配的阻抗谱测量系统及方法 | |
CN103576032B (zh) | 一种电力设备的在线检测装置及方法 | |
ES2963551T3 (es) | Dispositivo de medición de potencia y método de medición de potencia | |
CN108693407B (zh) | 一种误差最小的参考电阻对优选的阻抗谱测量方法 | |
CN110220537A (zh) | 一种应用于压阻式传感器的检测电路 | |
CN110044957A (zh) | 测量电路、测量系统及热物性参数测量方法 | |
CN201417260Y (zh) | 一种分倍频式绝缘子等值附盐密度测量仪 | |
CN202171617U (zh) | 接触电流测试仪 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PB01 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
GR01 | Patent grant | ||
GR01 | Patent grant |