CN102655074A - 质量分析方法以及质量分析装置 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种质量分析方法及质量分析装置。修正离子化效率和导入到离子陷阱的测定对象物质的量的改变并进行定量。将标准物质的离子和测定对象物质的离子同时俘获在离子陷阱，并根据质量选择性地排出的标准物质的离子的信号强度和测定对象物质的碎片离子的信号强度，对测定对象物质的浓度进行定量。

Description

质量分析方法以及质量分析装置

技术领域

本发明涉及质量分析方法以及质量分析装置。

背景技术

在质量分析装置中，将在大气压或低真空中生成的离子导入到需要10^-1Pa以下的高真空的质量分析部的方法，是为了实现高灵敏度的重要的技术。

在非专利文献1中记载了在大气压离子源和高真空的质量分析部之间用较细的毛细管直接导入的方法。

在专利文献2中记载了用于质量分析的最一般的差动排气方式。在此，通过在从大气压离子源到真空室之间设置单一或多个具有中间压力的差动排气室，并用另外的泵对其排气，与非专利文献1相比，能够大幅度地有效地导入在大气压中生成的离子。

在专利文献3中记载了在大气压离子源和设置了质量分析部的高真空部之间设置脉冲阀，按时间控制该脉冲阀的开关的方法。在脉冲阀打开时，将离子导入到高真空的质量分析部，之后关闭脉冲阀，在高真空部的压力降低之后，让质量分析部工作。由此，与非专利文献1相比，能够飞跃地增加导入离子量。

专利文献1记载了如下的方法，即，将与测定对象物质离子化效率大致相同的物质，例如，用测定对象物质的稳定且稀少的同位素置换的物质，按照一定浓度作为标准物质添加，并测定其离子量。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本特开2001-147216

专利文献2：美国专利第6177668号

专利文献3：WO2009/023361

非专利文献

非专利文献1：Analytical Chemistry，2007，79，20，7734-7739，AdamKeil，etal.

在非专利文献1所记载的结构中，由于用毛细管直接将气体导入到设置了质量分析部的高真空部，因此能够导入的离子量较少，灵敏度明显降低。另外，没有记述修正离子化效率或导入到离子陷阱的测定对象物质的量的变动后再进行定量的方法。

在专利文献2所记载的结构中，通过在设置了质量分析部的高真空部和大气压的离子源之间采用差动排气，增加导入离子量。另一方面，就需要大型的多个用于排出差动排气的泵。

如专利文献3所记载的方法那样，在用阀间歇地将试样导入到离子陷阱并进行MSn测定时，导入到离子陷阱的测定对象物质离子的量按照测定顺序变动。因此，不能根据用MSn测定进行测定的测定对象物质的碎片离子的信号强度对测定对象物质的浓度进行定量。另外，虽然需要修正离子化效率或导入到离子陷阱的测定对象物质的量的变动后再进行定量，但没有记述这样的方法。

另外，在专利文献1的方法中，虽然可以进行离子化效率和附着于配管等所引起的信号强度的修正，但不能修正按照每一次的测定顺序导入到离子陷阱的测定对象物质量的变动。

发明内容

本发明的课题是在即便小型化所需的排气泵的个数少或采用了排气速度较小的泵的情况下也能维持灵敏度的装置结构中，用MSn测定进行定量。

将标准物质的离子和测定对象物质的离子同时俘获在离子陷阱，并根据质量选择性地排出的标准物质的离子的信号强度和测定对象物质的碎片离子的信号强度，对测定对象物质的浓度进行定量。

即，作为用于解决上述课题的分析方法的代表性的一例，其特征在于，包括：将试样和已知浓度的标准物质在离子源进行离子化的工序；将试样离子和标准物质离子导入离子陷阱的工序；将试样离子和标准物质离子存储在离子陷阱的工序；从离子陷阱质量选择性地排出标准物质离子并进行检测的工序；在离子陷阱分离试样的前体离子的工序；离解前体离子的工序；从离子陷阱质量选择性地排出离解后的前体离子并进行检测的工序；以及根据检测到的标准物质离子的强度和离解后的试样离子的强度，计算试样的浓度的工序。

另外，作为用于解决上述课题的分析装置的代表性的一例，其特征在于，具有：将试样和已知浓度的标准物质进行离子化的离子源；将在离子源生成的试样离子和标准物质离子存储，并质量选择性地排出的离子陷阱；检测从离子陷阱排出的离子的检测器；向离子源或离子陷阱间歇地导入离子的开关机构；以及控制部，该控制部控制离子陷阱和开关机构，并根据标准物质的离子的信号强度和在离子陷阱中离解的试样离子的信号强度，计算试样的浓度。

本发明具有如下有益效果。

能够修正离子化效率和导入到离子陷阱的测定对象物质的量的改变并进行定量。

附图说明

图1是实施例1的结构图。

图2(A)是实施例1的测定顺序。

图2(B)是实施例1的测定顺序。

图3是质量选择性排出动作的说明图。

图4是实施例2的结构图。

图5是实施例3的测定顺序。

图6是实施例4的测定顺序。

图中：

1-离子源，2-毛细管，3-阀前排气区域，4-阀，5-分析室，6-毛细管，7-线性离子陷阱电极，8-检测器，10-排气泵，11-排气泵，12-快门阀，13-阀动作方向，14-样品气化部，15-排气方向，16-排气方向，18-辅助交流电压，19-陷阱高频电压，21-控制部，22-控制电源，23-阀控制电源，40-阻挡层放电用高频电压，41-电介质，42-电极，43-电极，50-气化部，51-毛细管，60-标准物质前体离子的共振频率，61-测定对象物质前体离子的共振频率。

具体实施方式

实施例1

图1是质量分析装置的例子。使用由加热器或喷射式喷雾器等构成的气化部14将测定对象试样的一部分气化，通过毛细管2导入到阀前排气区域3。另外，标准物质被气化部50气化，并通过毛细管51导入到阀前排气区域3。在此，标准物质是离子化效率与测定对象大致相同的物质，例如，用稳定且稀少的同位素置换了测定对象物质的物质等。虽然也可以将标准物质与测定对象物质一起用气化部14气化后导入，但用与气化部14分别设置的气化部50使其气化，并总是将一定流量、浓度的标准物质导入到阀前排气区域3，这样标准物质的信号强度更稳定，并且能够进行更准确的测定。

气化后的测定对象物质和标准物质被导入到阀前排气区域3，在阀4打开时，与周边气体一起导入到由玻璃、陶瓷、塑料等电介质构成的电介质毛细管41。在电介质外侧配置有电极42和电极43，通过在电极43和电极42之间施加频率1～100kHz、电压2～5kV左右的电压，进行介质阻挡放电。通过向该放电区域导入气化后的分子，生成测定对象物质分子的离子。

阀4是具有流道开关功能的机构，但并不是简单的开关机构，可以列举像夹管阀、滑阀那样能够间歇地控制气体的导入、非导入的机构。在间歇地控制气体的导入、非导入的情况下，不一定按照每次的顺序导入的试样的量都要相同。另外，在这样的情况下，离子化效率也有可能变动。因而，将已知浓度的标准物质与测定对象物质一起进行离子化，这样就能够修正试样量和离子化效率的变动。

将用电介质毛细管41生成的离子导入到配置了质量分析部7以及检测器8的分析室5。分析室5利用由涡轮分子泵或离子吸气泵等构成的排气泵11排气(将该排气泵的排气方向用标记16表示)。

导入到分析室的离子被导入到质量分析部7。在实施例1中，为了说明测定顺序，以线性离子陷阱质量分析计为例进行说明。线性离子陷阱由多极，例如四根四极棒形电极7a、7b、7c、7d构成。在四极棒形电极7上以在相面对的棒之间(7a、7b之间，7c、7d之间)成同相且在邻接的棒之间成反相的方式施加陷阱高频电压19。已知陷阱高频电压其最佳值根据电极尺寸或测定质量范围而不同，典型的是使用振幅0～5kV(0-peak)、频率500kHz～5MHz左右的电压。另外，在四极棒形电极7上除了施加陷阱高频电压之外，在测定正离子时也可以施加正的偏离电压，在测定负离子时也可以施加负的偏离电压。通过施加该陷阱高频电压19，能够在四极棒形电极7内部的空间内俘获离子。

另外，在相面对的一对棒形电极之间(7a、7b之间)施加辅助交流电压18。作为辅助交流电压，典型的是使用振幅0～50V(0-peak)、频率5kHz～2MHz左右的单一频率以及其多个频率成分的重叠波形。通过施加该辅助交流电压18，对于俘获在四极棒形电极7内部的离子，能够进行质量扫描，例如只选择特定质量数的离子并排除除此之外的离子，或者将特定质量数的离子离解，或者质量选择性地排出离子。作为质量扫描的方法，在此列举了在一对电极之间施加辅助交流电压18的例子，除此之外还有在一对棒形电极之间(7a、7b之间)施加相同相位的辅助交流电压的方法等。

质量选择性地排出的离子利用由电子倍增管、多道板、或者转换倍增极和闪烁器和光电倍增管等构成的检测器8转换成电信号，输送到控制部21，并存储到控制部内的存储部。控制部21除了存储、转换这些信息之外，还有控制控制各电极等的控制电源22、阀电源23等的功能。再者，在图1中，表示了用毛细管连接阀和离子源之间、阀和真空室之间的例子，但也可以用锐孔代替毛细管。

关于分析室的压力，在阀打开时，是1Pa以上(典型的是10Pa左右)。另一方面，由于由线性离子陷阱或电子倍增管等构成的检测器8等能够很好地工作的压力是0.1Pa以下，因此用如图2所示的测定顺序进行测定。该测定顺序的一例是由以下七个工序构成的，即，存储、等待排气、标准物质离子的质量选择性排出、分离、离解、测定对象物质碎片离子的质量选择性排出、排除。

在存储工序中，打开阀，然后将包括标准物质和测定对象物质的试样气体导入到离子化室内，并将在离子化室生成的标准物质离子和测定对象物质离子同时俘获到离子陷阱内。

在等待排气工序中，待机直到分析室5的压力减少到能够进行离子测定的0.1Pa以下的压力。虽然在存储工序中导入的试样气体越多灵敏度越高，但等待排气时间变长，占空比降低。

在标准物质离子的选择性排出工序中，在测定对象物质离子俘获在离子陷阱内的状态下质量选择性地排出标准物质离子。用检测器8检测已排出的标准物质离子，将离子信号强度保存到控制部21。通过如图2那样施加标准物质离子的共振频率的辅助交流电压，就能够质量选择性地排出标准物质离子。

标准物质离子的排出所需的时间是0.1～10ms左右。另外，也可以将标准物质离子的共振条件作为中心来扫描陷阱RF电压振幅或辅助交流电压频率。不进行扫描而固定为标准物质离子的共振条件而进行排出，这样排出所需的时间短也行。另一方面，在进行扫描的情况下，在共振条件因空间电荷的影响等而偏移的情况下，也能够排出标准物质离子，因此比较可靠。另外，通过根据质量波谱的波峰形状进行拟合，或者进行抵消背景信号等的信息处理，能够得到更准确的信号强度。

在分离工序中，在存储于在等待排气步骤中压力降低到0.1Pa以下的离子陷阱内部的离子之中，将测定对象物质的前体离子以外的离子排除，只残留测定对象物质的前体离子。在图2中作为一例表示了将被称为FNF的多个频率的重叠波形作为辅助交流电压而施加的方法。因FNF而共振的离子被排出到离子陷阱外，只有测定对象物质的前体离子残留在陷阱内。除此之外，通过以在相面对的四极棒形电极之间是同相且在邻接的棒形电极之间是反相的方式施加四极直流电压，或者在测定对象物质的前体离子的共振条件以外的范围内扫描辅助交流电压的频率，或者改变陷阱高频电压的振幅，能够实施分离。

在离解工序中，通过施加辅助交流电压，离解被选择到离子陷阱内部的测定对象物质的前体离子。与辅助交流电压共振的离子与陷阱内部的缓冲气体多次冲突并分解，生成碎片离子。作为该缓冲气体最好其压力是0.01Pa至1Pa左右的压力。既可以采用残留在分析室内的气体，也可以另行将气体导入离子陷阱(未图示)。作为另行导入气体的优点，就是通过高精度地控制气体压力，能够进行再现性高的测定。

在测定对象物质的碎片离子的质量选择性排出工序中，质量选择性地排出离子陷阱内部的测定对象物质的碎片离子。在图2(A)中作为一例记载了在施加一定频率的辅助交流电压的同时改变陷阱高频电压的振幅的方法。由此共振的离子从质量数较低到较高按顺序排出，并用检测器8检测。

陷阱RF电压的振幅值和排出离子的质量数一义地定义，能够从所检测的离子的质量数和其信号量得到质量波谱。除此之外，作为质量扫描的方法，还有如图2(B)所示那样将陷阱高频电压的振幅设成一定，然后扫描辅助交流电压的频率的方法。另外，也可以将陷阱高频电压振幅和辅助交流电压的频率固定在各碎片离子的共振条件为0.1～10ms左右之间进行排出。

在图3中表示了固定陷阱高频电压和辅助交流电压的频率，然后顺次排出碎片离子a、b、c(质量的大小：a＜b＜c)时的陷阱高频电压和辅助交流电压的控制的一例。这样的方法也能够进行质量选择性排出。

在排除工序中，将陷阱高频电压的电压振幅设成0，然后排除残留在陷阱内的所有的离子。

在标准物质离子的质量选择性排出和测定对象物质碎片离子的质量选择性排出工序中，必须接通检测器的电压。通常在检测器的电压上使用在稳定化方面需要时间的高压，因此在分离工序或离解工序期间也可以接通。在测定对象物质离子的质量选择性排出工序测定的测定对象物质的碎片离子的强度被保存在控制部21。在进行多次MS/MS分析(MSn)的情况下，只要将分离工序、离解工序反复进行多次即可。

接下来，说明根据标准物质的离子信号强度与测定对象物质的碎片离子的离子信号强度之比对测定对象物质的浓度进行定量的情况，其中上述标准物质的离子信号强度是在标准物质离子的质量选择性排出工序测定的，上述测定对象物质的碎片离子的离子信号强度是在测定对象物质的碎片离子的质量选择性排出工序测定的。以下表示其具体的方法。

标准物质离子的信号强度Ii用数1所示的公式表示，并与离子化效率αi、在各测定顺序从阀导入的气体的导入量S、标准物质浓度Ni、离子陷阱的检测效率β成比例。

数1

Ii＝Ni×αi×S×β(数1)

另一方面，测定对象物质的碎片离子的信号强度Is与离子化效率αs、在各测定顺序从阀导入的气体的导入量S、测定对象物质浓度Ns、离子陷阱的检测效率β、离解效率γs成比例。

数2

Is＝Ns×αs×S×β×γs(数2)

因而，测定对象物质浓度使用测定对象物质的碎片离子的信号强度Is与标准物质离子的信号强度Ii之比写成如下形式。

数3

Ns＝(Is/Ii)×(Ni/C)(数3)

在此C用如下数4表示。

数4

C＝γs×αs/αi(数4)。

C可以看做常数，如数5所示，可以通过如下的方式决定，即，预先测定已知浓度Ni’的标准物质和已知浓度Ns’的测定对象物质，然后求得标准物质离子与测定对象物质的碎片离子的信号强度比。

数5

C＝(Is×Ni’)/(Ns’×Ii)(数5)

在此，预先对各测定对象物质、标准物质、碎片离子测定该常数C，并保存到控制部的数据库。另外，除了上述的方法以外，作为求得常数C的方法还有如下的方法，即，预先测定已知浓度的标准物质和已知浓度的测定对象物质的前体离子，求得信号强度之比，再决定离子化效率之比(αs/αi)，离解效率γ由测定对象物质的前体离子和碎片离子的强度决定。

综上所述，通过在数3中代入测定对象物质的碎片离子的信号强度Is与标准物质离子的信号强度Ii之比、标准物质的浓度Ni、保存到控制部的数据库的常数C的值，就能够求得测定对象物质浓度Ns。

在测定对象物质的碎片离子是多个的情况下，通过对各碎片离子进行上述修正，就能够更准确地进行测定对象物质的定量。

实施例2

图4是质量分析装置的另一个结构例。由大气压化学离子源、电喷雾离子源等大气压离子源1生成的离子与周边气体一起通过毛细管2，并导入阀前排气区域3。标准物质与测定对象物质一起被大气压离子源1进行离子化，并通过毛细管2导入阀前排气区域3。利用由隔膜泵或回转泵等构成的排气泵10将阀前排气区域3排气到100～10000Pa左右(将该排气泵的排气方向用标记15表示)。如果将毛细管2的电导调整为图2的存储工序的分析室的最高压力纳入排气泵11的动作压力范围内，也可以设成没有排气泵10的结构。

在该阀前排气区域3的后段设置阀4，并利用阀控制电源23进行开关动作。通过了阀4的离子经过毛细管6导入离子陷阱。离子陷阱的结构、测定顺序可以设成与实施例1相同。在离子化之后通过阀这一点上不同于实施例1。与实施例1相比，由于在通过阀和毛细管时发生的离子的损失的影响，灵敏度变低。另一方面，可以采用各种离子源，具有离子源的维护和更换容易的优点。

实施例3

图5表示测定顺序的一例。关于质量分析装置的结构，可以采用与实施例1或2相同的结构。另外，关于测定顺序中的阀开关、阀前排气区域压力、分析室压力的控制，与图2同样地进行控制即可。在分离工序中，施加FNF，将标准物质的前体离子、测定对象物质的前体离子残留在陷阱内并排除其他的离子。在离解工序中，施加与标准物质的前体离子和测定对象物质的前体离子共振的频率的辅助交流电压，从而使标准物质和测定对象物质的前体离子离解。辅助交流电压既可以施加双方的共振频率的重合，也可以如图5所示那样依次施加各自的共振频率。

在碎片离子的质量选择性排出工序中，质量选择性地排出标准物质、测定对象物质的碎片离子，并用检测器8检测。将该标准物质、测定对象物质的碎片离子强度保存到控制部21。

标准物质的碎片离子的信号强度Ii’与离子化效率αi、在各测定顺序从阀导入的气体的导入量S、标准物质浓度Ni、离解效率γi、离子陷阱的检测效率β成比例。

数6

Ii’＝Ni×αi×S×β×γi(数6)

这时，从数6和数2得出测定对象物质浓度Ns。

数7

Ns＝(Is/Ii’)×(Ni/C’)(数7)

在此，C’如下表示。

数8

C’＝(γs×αs)/(γi×αi)(数8)

常数C’可以通过如下的方式决定，即，预先测定已知浓度的标准物质Ni’和已知浓度的测定对象物质Ns’，然后求得标准物质与测定对象物质的碎片离子的信号强度比。

数9

C’＝(Is×Ni’)/(Ns’×Ii’)(数9)

预先对各测定对象物质、标准物质、碎片离子测定该常数C’，然后保存到控制部的数据库，通过将C’和标准物质与测定对象物质的碎片离子的信号强度比(Is/Ii’)代入数7，能够求得测定对象物质的浓度Ns。

另外，也可以代替标准物质的碎片离子而将标准物质的前体离子的强度作为Ii’进行修正。这时，在离解工序中，也可以不施加标准物质的前体离子的共振频率的辅助交流电压。

在实施例3中，与实施例1相比少了质量选择性排出的工序，因此具有控制变得简单的优点。但是，一旦分离工序和离解工序中的性质在标准物质和测定对象物质上有较大的差异，有可能在定量值上发生偏移。

实施例4

接下来，对在质量扫描中进行分离的例子进行说明。图6表示测定顺序。关于质量分析装置的结构，可以采用与实施例1或2相同的结构。另外，关于测定顺序中的阀开关、阀前排气区域压力、分析室压力的控制，与图2同样地进行控制即可。

在标准物质的质量选择性排出工序中，扫描辅助交流电压的频率。通过在扫描与测定对象物质前体离子的质量数共振的条件到达时刻，暂时将辅助交流电压的振幅设成0(61)，就能够在测定对象物质前体离子被俘获的状态下，质量选择性地排出其他的离子。用检测器8检测从离子陷阱排出的离子，将其信号强度保存到控制部21。标准物质的质量选择性排出工序以后的测定顺序、以及定量的方法与实施例1相同。

在实施例4中，在标准物质的质量选择性排出工序中，由于必须扫描离子存在的全部质量范围，因此与用FNF进行分离的情况相比较花时间。另一方面，由于能够得到去除测定对象物质的前体离子的质量波谱，因此根据该质量波谱除了得到标准物质的离子强度以外，还能够得到各种信息。例如，在存在多个测定对象物质的情况下，在实施例1的测定顺序中，当进行一个测定对象物质的MSn测定时，无法得到关于其他的测定对象物质的信息，但在实施例4中能够得到其他的测定对象物质的前体离子的信号强度的信息。这在测定测定对象物质的浓度因时间而改变的系时很有用，特别是在用阀4间歇地将气体导入分析室5的结构中，由于等待排气工序较长，有很大优点。

Claims (15)

1.一种质量分析方法，其特征在于，包括：

将试样和已知浓度的标准物质在离子源进行离子化的工序；

将试样离子和标准物质离子导入离子陷阱的工序；

将上述试样离子和上述标准物质离子同时存储在上述离子陷阱的工序；

从上述离子陷阱质量选择性地排出上述标准物质离子并进行检测的工序；

在上述离子陷阱分离上述试样的前体离子的工序；

离解上述试样的前体离子而生成碎片离子的工序；

从上述离子陷阱质量选择性地排出上述碎片离子并进行检测的工序；以及

根据检测到的上述标准物质离子的强度和离解后的上述试样的碎片离子的强度计算上述试样的浓度的工序。

2.如权利要求1所述的质量分析方法，其特征在于，

在将上述试样离子存储在上述离子陷阱的状态下，质量选择性地排出上述标准物质离子并进行检测，之后离解上述试样离子的上述前体离子。

3.如权利要求1所述的质量分析方法，其特征在于，

具有使上述试样和上述标准物质气化的工序，气化后的上述试样和上述标准物质间歇地被导入上述离子源。

4.如权利要求1所述的质量分析方法，其特征在于，

在上述离子陷阱中间歇地导入气体。

5.如权利要求1所述的质量分析方法，其特征在于，

通过以上述标准物质离子共振的条件扫描施加在上述离子陷阱的高频电压的振幅或辅助交流电压的频率，从上述离子陷阱质量选择性地排出上述标准物质离子。

6.如权利要求5所述的质量分析方法，其特征在于，

在以上述标准物质离子共振的条件进行扫描的期间内，具有不包括与上述试样的上述前体离子共振的条件的期间。

7.如权利要求1所述的质量分析方法，其特征在于，

具有将存储在上述离子陷阱内的上述试样和上述标准物质的前体离子分别分离并离解的工序，

从上述离子陷阱质量选择性地排出上述标准物质离子并进行检测的工序，用于检测上述标准物质的碎片离子，

根据离解后的上述标准物质的碎片离子的强度和离解后的上述试样的碎片离子的强度，对上述试样的浓度进行定量。

8.如权利要求1所述的质量分析方法，其特征在于，

使用用已知浓度的上述标准物质和上述试样取得的上述标准物质离子与上述试样的碎片离子的信号强度比、以及用各自的浓度决定的常数，对上述试样的浓度进行定量。

9.一种质量分析装置，其特征在于，具有：

将试样和已知浓度的标准物质进行离子化的离子源；

将在上述离子源生成的试样离子和标准物质离子同时存储，并质量选择性地排出的离子陷阱；

检测从上述离子陷阱排出的离子的检测器；

向上述离子源或上述离子陷阱导入离子的开关机构；以及

控制部，该控制部控制上述离子陷阱和上述开关机构，并根据上述标准物质的离子的信号强度和在上述离子陷阱中离解的上述试样的碎片离子的信号强度，计算试样的浓度。

10.如权利要求9所述的质量分析装置，其特征在于，

上述控制部对上述离子陷阱以如下方式进行控制，即，在同时存储在上述离子源生成的试样离子和标准物质离子的状态下，从上述离子陷阱排出上述标准物质离子，之后将上述试样离子的前体离子分离并离解。

11.如权利要求9所述的质量分析装置，其特征在于，

具有使上述试样和上述标准物质气化的气化部，上述开关机构设在上述气化部和上述离子源之间。

12.如权利要求9所述的质量分析装置，其特征在于，

上述离子源具备：使从上述开关机构导入的气体流向上述离子陷阱的由电介质构成的流道；和设在上述流道上并且被施加交流电压的电极。

13.如权利要求9所述的质量分析装置，其特征在于，

上述开关机构设在上述离子源和上述离子陷阱之间。

14.如权利要求9所述的质量分析装置，其特征在于，

上述控制部保存用已知浓度的上述标准物质和上述试样取得的上述标准物质离子与离解后的上述试样的离子的信号强度比、以及用各自的浓度决定的常数，并用上述常数对上述试样的浓度进行定量。

15.如权利要求9所述的质量分析装置，其特征在于，

上述开关机构进行间歇的开关。

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