CN102314902B

CN102314902B - 光记录装置和方法

Info

Publication number: CN102314902B
Application number: CN201110181433.8A
Authority: CN
Inventors: 岸上智; 竹下伸夫
Original assignee: Mitsubishi Electric Corp
Current assignee: Mitsubishi Electric Corp
Priority date: 2010-07-02
Filing date: 2011-06-30
Publication date: 2015-01-07
Anticipated expiration: 2031-06-30
Also published as: JP2012014806A; JP5455819B2; US20120002523A1; CN102314902A; US8295136B2

Abstract

本发明提供一种光记录装置和方法，针对具有多个记录层的多层光盘，即使在作为与记录层相比从记录光的入射侧来看近前的层的状态，混合存在已记录状态和未记录状态的情况下，也能抑制记录性能的变动，进行稳定的记录。根据近前的记录层处于不同的记录状态时得到的再现信号参数的差(Ba-Bb)、以及与记录功率调整区域(OA1)对应的位置的近前的记录层的记录状态，校正标准目标值(BT1)，生成校正目标值(BT2)，使用校正目标值(BT2)来调整记录功率，使用求出的记录功率，将信息记录在信息记录层内(S18)。

Description

光记录装置和方法

技术领域

本发明涉及用于对具有多个记录层的光盘进行信息记录的光记录装置和方法，特别是涉及记录功率的最佳控制(OPC：Optimum power control，最佳功率控制)。

背景技术

为了对光盘进行信息记录，需要在信息记录前进行基于试写的OPC(记录功率的最佳控制)，对记录功率进行最佳调整。在具有多个记录层的多层光盘中，在对从记录光入射的一侧(激光入射面)来看位于里侧的层进行记录的情况下，最佳的记录功率根据位于近前侧的层是否是已记录状态而不同。因此，在信息记录区域内，需要设定成这样的记录功率：即使在作为与进行记录的层相比近前的层的状态，混合存在已记录状态和未记录状态的情况下，也能抑制性能变动，得到稳定的记录性能。

作为其对策，有这样的对策：在进行OPC的区域内进行记录，以便形成在其它层的已记录状态/未记录状态的组合相互不同的多个小区域，在各小区域进行OPC，在记录时使用针对与条件一致的组合的最佳记录功率(例如专利文献1)。并且，与专利文献1一样，有这样的对策：在进行OPC的区域内进行记录，以便形成其它层的已记录状态/未记录状态的组合相互不同的多个小区域，在各小区域进行OPC，将各个OPC结果的平均值用作最佳功率(例如专利文献2)。并且，还有这样的对策：根据空间部的反射光量判定近前的层是已记录状态还是未记录状态，根据状态切换记录功率(例如专利文献3)。

【专利文献1】日本特开2008-192258号公报(第1-12页、第1-6图)

【专利文献2】日本特开2008-108388号公报(第1-12页、第1-5图)

【专利文献3】日本特开2006-179153号公报(第1-10页、第1-4图)

在上述的专利文献1、2的现有的光记录装置中，在进行OPC的区域内进行记录，以便形成其它层的已记录状态/未记录状态的组合相互不同的多个小区域，由于在各小区域进行OPC，因而OPC花费时间长，具有到记录开始前的时间长的问题。并且，由于1次OPC需要许多区域，因而可优化记录功率的次数有限，存在信息的追记次数受到限制的问题。

并且，在专利文献3的现有的光记录装置中，根据空间部的反射光量判定记录状态和未记录状态，然而在存在由光盘的记录膜等的形成状态不均匀引起的反射率变动的情况下，发生误判定，有可能不能以最佳记录功率进行记录。

发明内容

本发明正是为了解决上述问题而完成的，本发明的目的是，提供一种即使在与记录信息的层相比从记录光入射的一侧来看，作为近前侧的记录层的状态混合存在已记录状态和未记录状态的情况下，也能抑制性能变动，设定成得到稳定的记录性能的记录功率的光记录装置和方法。

本发明的光记录装置通过向具有多个记录层的光记录介质照射激光来记录信息，其特征在于，该光记录装置具有：

目标值读出单元，其从光记录介质或光记录装置，读出按照每个光记录介质预先求出的、用于调整记录功率的标准目标值；

记录功率调整单元，其通过对配置在具有信息记录区域的记录层内的记录功率调整区域进行试写，调整记录功率；

信息记录单元，其使用由所述记录功率调整单元调整后的所述记录功率，在所述具有信息记录区域的记录层记录信息；

记录状态判断单元，其判断与所述记录功率调整区域对应的位置上的、与由所述信息记录单元记录的记录层相比位于照射激光一侧的1个或2个以上的近前的记录层的记录状态；以及

目标值校正单元，其根据与记录测试数据的记录层相比位于照射激光一侧的1个或2个以上的近前的记录层处于第1记录状态时和处于第2记录状态时的再现信号参数差、以及所述记录状态判断单元判断出的所述记录状态，校正所述标准目标值，生成校正目标值，

所述记录功率调整单元使用所述校正目标值，调整所述记录功率。

根据本发明，即使在记录信息的区域中，作为与记录层相比近前侧的记录层的状态混合存在已记录状态和未记录状态，也能抑制由状态不同引起的记录性能的变动，进行稳定的记录。并且，由于OPC只需在与进行记录的层相同的层实施即可，因而不需要用于通过OPC求出最佳记录功率的过多的时间和记录区域。

附图说明

图1是示出本发明的实施方式中的光记录再现装置的框图。

图2是示出在本发明的实施方式中的再现特性测定部中测定的再现信号的不对称性的例子的图。

图3是示出在本发明的实施方式中的再现特性测定部中测定的再现信号的调制度的例子的图。

图4是示出本发明的实施方式中的多层记录型光盘的一例，即在具有3层记录层的情况下的盘结构的图。

图5是示出本发明的实施方式中的光盘结构的一例的图。

图6是示出本发明的实施方式1中的多层记录型光盘的导入区域内的OPC区域配置的一例的图。

图7是示出本发明的实施方式1中的光记录再现装置中的记录过程的一例的流程图。

图8是示出本发明的实施方式1中的光记录再现装置中的OPC参数校正过程的一例的流程图。

图9是示出多层光记录盘中的记录功率和记录性能的关系的一例的图。

图10是示出多层光记录盘中的记录功率和不对称性值的关系的一例的图。

图11是示出多层光记录盘中的不对称性值和记录性能的关系的一例的图。

标号说明

100：光记录装置；110：前置放大器；120：再现信号处理部；130：记录质量测定部；140：数据解码器；150：再现特性测定部；160：数据编码器；170：写策略控制部；180：伺服控制部；181：主轴电机；182：滑板电机；190：缓存器；200：中央控制部；210：CPU；220：ROM；230：RAM；300：光头；310：半导体激光器；320：激光器驱动电路；330：准直透镜；340：分束器；350：物镜；360：检测透镜；370：受光元件；400：上位控制器；500：光盘。

具体实施方式

实施方式1

以下，参照附图说明本发明的实施方式。

图1是示出本发明的实施方式1涉及的光记录再现装置100的基本结构例的图。这里，图1的光记录再现装置100例如表示光盘500是BD的情况。

伺服控制部180控制用于使光盘500旋转的主轴电机181、用于使光头300的位置移动的滑板电机182以及光头300的致动器183(表示为功能块)。

来自光头300的再现信号由前置放大器电路110放大，输入到中央控制部200。所输入的信号由中央控制部200进行地址信息的解码，得到光头300的当前位置。

通过将应存取的位置(存取对象位置)的地址信息与在当前位置得到的地址信息的差分提供给伺服控制部180，伺服控制部180控制滑板电机182，使光头300移动到存取对象位置。而且，伺服控制部180根据来自前置放大器110的伺服差错信号驱动致动器183，进行聚焦控制和寻轨控制。

在数据再现时，从半导体激光器310出射的、具有数据再现所需要的输出值(再现功率)的激光经由准直透镜330、分束器340和物镜350会聚照射到光盘500。来自光盘500的反射光通过物镜350后通过分束器340与入射光分离，经由检测透镜360由受光元件370接收。

由上述半导体激光器310、准直透镜330、分束器340、物镜350以及检测透镜360构成光学系统，由该光学系统、受光元件370、激光器驱动部320以及致动器183构成光拾取装置300。这里，还存在这样的情况：在光拾取装置300内的光学系统中配置校正球面像差的元件、透镜等，根据光盘500对其进行最佳控制。

受光元件370将光信号转换为电信号。在受光元件370中转换后的电信号经由前置放大器110被分别输入到中央控制部200和再现信号处理部120。

再现信号处理部120对来自前置放大器110的电信号进行均衡处理(波形整形)，输入到记录质量测定部130和数据解码器140。并且，再现信号处理部120将进行均衡处理前的信号输入到再现特性测定部150。

再现特性测定部150求出记录时需要的记录功率的调整用的不对称性值或者调制度值等的再现信号参数。并且，记录质量测定部130测定再现信号的抖动值和差错率等的信号质量。

数据解码器140对所输入的再现信号进行二值化，进行解调和纠错等的处理，从而生成(再现)记录在光盘500内的数据。光记录再现装置100与上位控制器400连接，中央控制部200将生成的数据存储在缓存器190内之后，发送到上位控制器400。

在再现特性测定部150求出不对称性值的情况下，再现特性测定部150对所输入的电信号(从前置放大器110输出的信号)进行交流耦合，根据交流耦合后的电信号计算不对称性值β。

图2(a)～(c)示出上述交流耦合后的电信号的例子。再现特性测定部150检测图2(a)～(c)所例示的信号的峰值电平A1和底部电平A2。根据检测出的峰值电平A1和底部电平A2，使用以下式(1)计算不对称性值β。

B＝(A1+A2)/(A1-A2) ...(1)

式中，峰值电平A1、底部电平A2是在最长空间和最长标记交替出现的部分产生的，它们的值将最短空间和最短标记交替出现的部分的峰值电平和底部电平的平均值表示为零电平。

如上所述，图2(a)～(c)示出在再现特性测定部150中检测的再现信号(从前置放大器110输出的信号)的不对称性的检测例，其中，图2(a)表示β＜0的情况，图2(b)表示β＝0的情况，图2(c)表示β＞0的情况。

这里，不对称性值不限定于上述的求法，只要求出所记录的最长标记(在BD的情况下是8T信号)的信号与所记录的信号的最短标记(在BD的情况下是2T信号)的信号的不对称性即可。

并且，在再现特性测定部150求出调制度值的情况下，再现特性测定部150检测所输入的电信号的峰值电平PK和底部电平BM。在该情况下，与求出不对称性的情况不同，不进行交流耦合而检测直接(在直流耦合中)得到的信号的峰值电平PK和底部电平BM，根据它们，使用以下式(2)计算调制度。

调制度＝(PK-BM)/PK ...(2)

图3示出在这样的直流耦合中得到的信号的一例。如图所示，峰值PK和底部BM是以零电平(没有对受光元件370的输入(没有来自光盘的反射光输入)时的输出偏置值)为基准。峰值PK和底部BM分别对应于最长空间和最长标记的电平。

在数据记录时，中央控制部200将来自上位控制器400的数据存储在缓存器190内之后，在数据编码器160中附加纠错代码，按照调制规则进行调制，根据光盘500的格式生成记录数据。

写策略控制部170根据记录数据生成写策略信号。即，在从中央控制部200设定了写策略之后，当从数据编码器160提供了指定表示标记长度的周期数n的记录数据时，写策略控制部170输出与这样的记录数据对应的写策略信号(按照写策略生成的、具有与发光脉冲串的波形大致相同的波形的信号)。

激光器驱动部320根据与生成的写策略信号对应的驱动电流驱动半导体激光器310。从半导体激光器310出射的具有数据记录所需要的输出值(记录功率)的激光经由准直透镜330、分束器340和物镜350会聚照射到光盘500。由此，形成标记，形成由标记和位于标记相互间的空间构成的记录部。

中央控制部200在由光记录再现装置100对光盘500进行写入和读出时，控制装置整体，接收来自记录质量测定部130的抖动等的记录质量、来自再现特性测定部150的不对称性值和调制度值、以及来自数据解码器140的再现数据，另一方面，将控制信号提供给数据编码器160、写策略控制部170、激光器驱动部320以及伺服控制部180。

中央控制部200还进行后面参照图7～图11说明的OPC参数的校正控制等。

中央控制部200具有例如CPU210、存储该CPU210的动作用的程序的ROM220以及存储数据的RAM230。存储在ROM220内的程序包含后面参照图8说明的OPC参数校正的运算、以及定义运算所需要的设定值等的部分。

然后，对单面具有多个记录层的多层记录型光盘的结构和多层记录特有的现象进行说明。

图4是示出本发明的实施方式中的多层记录型光盘的一例，即具有3层记录层的情况的图。图示的光盘500具有基板510、第1记录层521、第2记录层522、第3记录层523、覆盖层530以及保护层540。来自图1所示的光拾取装置300的物镜350的光从保护层540一侧入射。

图5是示出光盘的结构的一例的图。在内周附近配置有导入区域LIA，其中记录有光盘的固有信息、用于控制记录动作和再现动作的控制信息等。并且，进行OPC(记录功率的优化控制乃至记录功率的调整)的区域也配置在导入区域LIA内。并且，有时这些信息和区域也配置在导出区域LOA内。

图6是示出导入区域LIA内的OPC区域的配置例的图。导入区域LIA包含有第1记录层用OPC区域OA1、第2记录层用OPC区域OA2、第3记录层用OPC区域OA3以及控制信息区域CA。OPC区域OA1、OA2以及OA3也称为记录功率调整区域。

如图所示，各记录层的OPC区域OA1、OA2以及OA3针对半径方向以相互不重叠的方式且隔开一定的间隔GS12、GS23来配置。

该间隔GS12、GS23是考虑到在各层的偏心分量、以及内层进行记录再现时近前层的位置上的束径，设定成不会受到它们的影响。

另外，尽管未图示，然而用于记录盘的管理信息等的区域等有时配置在导入区域LIA内的OPC区域和CA区域以外的位置。因此，在盘的管理信息区域配置在作为OPC区域而配置的位置的近前层的情况下，OPC区域的近前层是否是已记录根据是否进行了针对盘的管理信息区域的记录而改变。

并且，在记录该盘管理信息的区域内记录有OPC使用的区域的信息、导入区域和导出区域、数据区域的记录状况，作为例如记录结束地址和标志信息。

另外，这些信息是否被记录、以什么样的方式记录根据光盘的规格而不同。

一般，通过将信息记录于插入到记录再现装置内的光盘之前进行试写，进行记录功率的优化。并且，在具有多个记录层的多层光盘中，利用配置在与记录信息的记录层相同的记录层内的OPC区域，进行记录功率的优化。以下说明该过程。

最初，使用例如随机的记录数据模式，使记录功率变化来进行对光盘500的试写，然后再现记录了该测试模式的光盘500上的区域，通过再现特性测定部150检测作为再现信号参数的不对称性值，将检测出的不对称性值在中央控制部200中与目标的不对称性值(OPC目标值)进行比较，求出最佳的记录功率。

一般，在增大记录功率的情况下，不对称性值增大，在减小记录功率的情况下，不对称性值减小。这里，不对称性值往往用于在追记型的光记录介质中优化记录功率的情况。

在中央控制部200中，将与相互不同的多个记录功率分别对应的不对称性值的检测值与目标值进行比较，将产生了最接近目标值的检测值的记录功率设定为最佳的记录功率。

另外，可以取而代之，在以一个记录功率进行了对光盘500的试写之后进行再现，根据再现结果检测不对称性值，将检测出的不对称性值与目标的不对称性值进行比较，根据比较结果增减记录功率，求出记录功率的最佳值。

这里，作为OPC目标值，在追记型盘(DVD-R、BD-R等)中一般利用不对称性值。并且，在改写型盘(DVD-RW、BD-RE等)中，往往利用调制度来取代不对称性值。并且，在改写型盘的情况下，不是将成为最佳记录功率的调制度用作目标值，而一般是使用以下方法等的情况：将与记录功率的变化对应的调制度的变化大的记录功率的区域(比最佳记录功率小的记录功率的区域)中的调制度用作目标值，通过将求出的记录功率乘以预先设定的系数来计算最佳记录功率。

以下，参照图7说明本实施方式的光记录方法的过程。

最初，当本来用于记录信息的光盘500被插入到光记录再现装置100内时，由未图示的传感器检测该动作(步骤S10)，传递到中央控制部200，中央控制部200经由伺服控制部180驱动光头300，判别插入在光记录再现装置100内的光盘500的类别(CD、DVD、BD等的类别)、光盘500是几层盘等(步骤S11)。

然后，在步骤S12中，调整与光盘500的倾斜角度、伺服条件等，之后在步骤S13中，从光盘500中读出光盘的固有信息、用于控制记录动作、再现动作的控制信息等。

然后，在步骤S14中，根据读出的光盘的固有信息(ID等的信息)决定记录参数。这里，在光记录再现装置100的中央控制部200内的ROM220内，预先存储有针对每个光盘的固有信息在标准的条件下应成为目标的记录参数，即记录参数的标准目标值作为表，读出与所读出的光盘的固有信息对应的记录参数(标准目标值)，将其设定为用于记录的记录参数。记录参数包含有用于决定发光脉冲的形式的参数即写策略(标准的写策略)、和用于决定记录功率的OPC用参数(OPC标准目标值)。

并且，在该表内还存储有为了校正后述的OPC用参数所需要的信息，并且还读出该信息。

上述的固有信息针对光盘的组乃至类别，例如各种类、各型式、或者各批次赋予不同的值，因此，各固有信息的记录参数的标准目标值也可以说是各类别，例如各种类、各型式、或者各批次的记录参数的标准目标值。

另外，作为从如上所述预先存储的表决定记录参数以外的方法，也可以读出预先记录在光盘500内的记录参数的推荐值来将其用作标准目标值，或者根据所读出的推荐值进行预定的计算等，从而记录修正后的记录参数并将其用作标准目标值。

在步骤S14的处理后，当由未图示的单元发出记录指示时(步骤S15“是”)，在步骤S16中，进行OPC用参数的校正。对其详情将在后面说明。

当存在与包含本来应记录信息的信息记录区域和进行OPC的OPC区域的信息记录层(数据记录层)相比，从盘的记录光入射的一侧(激光入射面)来看位于近前的1个或2个以上的记录层时，即，在信息记录层和激光入射面之间存在1个或2以上的记录层时进行该校正。

在步骤S17中，使用在步骤S16中校正后的OPC用参数和在步骤S14中设定的记录参数来进行对光盘500的试写。即，在步骤S14中，将设定在中央控制部200内的记录参数的写策略设定在写策略控制部170内，由写策略控制部170生成基于测试模式的写策略，使用光头300来进行对光盘500的试写。然后，由光头300再现记录了测试模式的光盘500上的区域，由中央控制部200对由再现特性测定部150检测出的再现信号参数(不对称性值或调制度)和在步骤S16中校正后的OPC参数(不对称性值或调制度)进行比较，进行控制使两者一致，将两者一致时的记录功率决定为最佳的记录功率。

最后，在步骤S18中，根据在步骤S14中设定的记录参数的写策略和在步骤S17中决定的记录功率，开始对光盘500的本来数据(本来信息)的写入(本写入)。

上述步骤S10的处理是使用未图示的检测光盘插入的传感器、和中央控制部200进行的，步骤S11和步骤S12的处理是使用光头300、前置放大器110、伺服控制部180以及中央控制部200进行的，步骤S13的处理是使用光头300、伺服控制部180、前置放大器110、再现信号处理部120、数据解码器140以及中央控制部200进行的，步骤S14的处理是使用中央控制部200进行的，步骤S15的处理是使用未图示的接收记录指示的单元(接口)、和中央控制部200进行的，步骤S16的处理是使用伺服控制部180、前置放大器110、再现信号处理部120、再现特性测定部150、中央控制部200、写策略控制部170以及光头300进行的，步骤S17以后的数据记录处理是使用中央控制部200、数据编码器160、写策略控制部170、伺服控制部180以及光头300进行的。

然后，参照图8说明步骤S16的OPC参数校正用的处理。

在步骤S20中，调查位于信息记录层和激光入射面之间的近前的记录层数(Nr)，和与包含进行OPC的区域的信息记录层相比，从记录光入射的一侧来看近前侧的记录层的与进行OPC的区域对应的区域的记录状态。

例如，从光盘500的管理区域中读出随后使用的表示OPC区域位置的信息(地址信息)，根据记录在光盘500的管理区域或导入区域内的其它区域的记录管理信息，调查与上述地址信息对应的区域的近前层的区域是否已被记录。

这里，不一定需要根据管理区域的信息把握近前层的状态，在作为光盘500的规格决定的情况下，只要根据该规格进行判断即可，在不能根据管理区域或光盘的规格来确定的情况下，可以再现与实际对应的层的区域，调查是否记录了信号。

在步骤S21中，作为所调查的近前层的状态，将近前层的总数设定为Nr，将近前层中的已记录层的数设定为R，将近前层中的未记录层的数设定为U。

然后，在步骤S22中，根据下式进行OPC参数的校正。

BT2＝BT1+BO×(R-U)/Nr ...(3)

式中，BT2是校正后的OPC参数(校正目标值)，BO是针对各光盘，即光盘的各类别设定的OPC目标值偏移(也称为“基准目标值偏移量”)。

BT1是校正前的OPC参数，是记录性能为综合最佳的OPC标准目标值。这里，“记录性能为综合最佳”是指，在对在各种不同条件下得到的记录性能进行了综合时为最佳，往往例如在平均的或者中间的记录条件下记录性能为最佳的情况下，记录性能为综合最佳。

这里，OPC标准目标值的BT1是这样得到的：例如，通过针对由光盘的固有信息确定的各类别预先进行实验，求出图11所示的特性，求出在许多各种不同的记录条件，例如记录功率时的记录性能为综合最佳的值。在图11中，BT1为综合最佳值。另外，可以将记录在光盘内的OPC目标值的推荐值用作上述的OPC标准目标值。OPC标准目标值BT1无需是记录性能为最佳的值，可以考虑针对再现信号参数的记录性能的变动范围，例如在再现信号参数以某个值为中心同量变化到正侧和负侧时记录性能的退化被容许的余量的范围内、而且在相同程度的情况下，将上述值用作OPC标准目标值。

用于得到图11所示的特性曲线的实验是这样进行的：在用于测试数据的记录和再现的光盘中，当与测试数据记录层相比从激光照射一侧来看位于近前的记录层处于相互不同的记录状态(已记录和未记录状态的不同组合)时，将测试数据记录在上述测试数据记录层的测试数据记录区域内，从测试数据记录区域再现数据，对再现测试数据时得到的再现信号参数例如不对称性值进行评价。上述不同的记录状态例如是在与测试数据记录区域对应的位置，上述近前的记录层中已记录的层数不同的状态。

OPC目标值偏移BO也是根据用于得到图11所示的特性曲线的实验针对光盘的各类别来确定的，在用于目标值偏移决定的光盘中，在近前的层全部是已记录的情况下、和近前的层全部是未记录的情况下，是以相同记录功率记录时的不对称性值β的差DB(再现信号参数的差)的一半，具体地说为下式。

BO＝(BR-BU)/2 ...(4)

式中，BR和BU都是以相同功率记录时的不对称性值β，BR是在近前的层全部是已记录时的不对称性值β，BU是在近前的层全部是未记录时的不对称性值β。BR和BU是预先针对各个光源，即按照类别例如种类、型式、各批次而不同的固有信息来调查的，在根据BR和BU求出BO之后，与上述的标准目标值BT1一起，作为各固有信息的表的一部分存储在光记录再现装置100的中央控制部200内的ROM220内。

这样，ROM220可以用作存储每个固有信息的OPC目标值偏移，即基准目标值偏移量(BO)和每个固有信息的标准目标值(BT1)的单元。

然后，对这样校正OPC参数的理由进行说明。

图9、图10和图11示出在多层光盘中进行了记录再现时的特性的一例。

图9是示出从记录光的入射侧来看最里面的层即第1记录层中的记录功率和记录性能的关系的一例的图。这里，假定第1记录层既可以用作信息记录层，也可以用作测试数据记录层。这里，记录性能是指在再现了记录有信息的区域时的再现性能，例如，抖动值、MLSE(Maximum Likelihood Sequence Error，最大似然序列差错)、差错率等。并且，实线表示在近前的记录层(与第1记录层相比近前的全部层，即第2记录层到第4记录层)全部是未记录时的特性的一例，虚线表示在近前的记录层(第2记录层到第4记录层)全部是已记录时的特性的一例。这样，再现性能为最佳的记录功率根据近前的记录层是未记录还是已记录而不同。这里，图中的PO1表示在近前的记录层全部是未记录时的最佳记录功率，PO2表示在近前的记录层全部是已记录时的最佳记录功率。

因此，例如在使用记录功率PO1进行了记录的情况下，在近前的记录层全部是未记录的区域内，可得到最佳的记录性能，然而在近前的记录层全部是已记录的区域内也进行了记录的情况下，记录性能急剧恶化到由Qa点表示的记录特性值。

同样，在近前的记录层全部是未记录的区域内使用记录功率PO2进行了记录的情况下，记录性能急剧恶化到由Qb点表示的记录特性值。

因此可知，在近前的记录层全部是未记录的情况下、以及近前的记录层全部是已记录的情况下的任意一种情况下都能进行良好记录的记录功率，即中间的记录条件下得到最佳的记录性能，对于从该中间的记录条件起的变化，期望的是以记录性能的下降少的记录功率PO进行记录。

图10示出记录功率和不对称性值的关系的一例。该图示出将图9的纵轴从记录性能置换为不对称性值的情况。如图所示，不对称性值根据近前的记录层是未记录还是已记录的状态而偏移。

图11示出不对称性值和记录性能的关系的一例。该图示出将图9的横轴从记录功率置换为不对称性值的情况。如图所示，针对不对称性值的记录性能，几乎没有由近前的记录层是未记录还是已记录引起的差异，最佳不对称性值为标号BT1所示的值(综合最佳值)。这里可知，当将不对称性值(综合最佳值)BT1用作OPC的目标值进行记录功率调整时，在进行OPC的区域的近前的记录层全部是未记录的情况下，调整到图9的PO1，在进行OPC的区域的近前的记录层全部是已记录的情况下，调整到图9的PO2。

然后，对本实施方式1中的进行OPC参数校正的情况进行说明。

在具有进行OPC的区域的记录层的近前的记录层全部是未记录的情况下，为了将不对称性值维持在BT1，如图10所示，需要增加到记录功率PO1，另一方面，当设记录功率为PO(≤PO1)时的OPC的目标值(目标不对称性值)需要设为如图10所示比BT1小的值BU。反之，在具有进行OPC的区域的记录层的近前的记录层全部是已记录的情况下，为了将不对称性值维持在BT1，如图10所示，需要减少到记录功率PO2，另一方面，当设记录功率为PO(≥PO2)时的OPC的目标值(目标不对称性值)需要设为如图10所示比BT1大的值BR。

这里，由于BT1位于BU和BR的正中间，因而求出BU和BR作为对BT1加上或减去(BR-BU)/2即偏移量BO后的值。

这里，例如在光盘具有4层记录层的情况下，在记录在第1记录层(最里面的层)内的情况下，在步骤S21中设定的Nr、R、U在进行OPC的区域的近前的记录层全部是未记录的情况下，Nr＝3、R＝0、U＝3，从式(3)得到下式：

BT2＝BT1+BO×(0-3)/3＝BT1-BO ...(3A)

并且，从图10可知，由于BR＞BU，因而从式(4)求出的BO在该例子的情况下为正值，因此该结果相当于BU。

反之，在进行OPC的区域的近前的记录层全部是已记录的情况下，Nr＝3、R＝3、U＝0，从式(3)得到下式：

BT2＝BT1+BO×(3-0)/3＝BT1+BO ...(3B)

并且可知，由于BO为正值，因而该结果相当于BR。

以上对进行OPC的区域的近前的记录层全部是未记录的情况和全部是已记录的情况作了描述，然后对进行OPC的区域的近前的记录层中的仅一部分记录层是已记录的情况进行说明。

尽管未图示，然而与进行记录的记录层相比近前的记录层中的仅一部分记录层是已记录的情况下，作为图10所示的记录功率与不对称性值的关系，处于在由实线所示的近前的记录层全部是未记录的情况、和由虚线所示的近前的记录层全部是已记录的情况之间移动的状态。例如，在近前的记录层中的已记录层的数和未记录层的数是相同数的情况下，得到在全部是未记录时的不对称性值、与在全部是已记录时的不对称性值的大致中间的不对称性值。因此，不对称性值根据近前的记录层中的已记录层的数和未记录层的数移动。

因此，根据进行OPC的区域的近前的记录层中的已记录层的数R和未记录层的数U，根据式(3)将与各层的数对应的偏移量相加。

根据图9的特性，还考虑了使记录功率而不是OPC的目标值从OPC后的最佳记录功率移动的情况，通过变更OPC的目标值，具有以下优点。

在记录功率与记录性能的关系中，从图9看出其倾向，相对于最佳记录功率，在高功率侧和低功率侧的变动范围有时产生差异。这是因为，在图10所示的特性中，记录功率与不对称性值的关系不是线性的，低功率侧的倾斜剧烈。反之，从图11可知，相对于不对称性值的记录性能在高功率侧和低功率侧变动范围大致相同。

并且，记录功率由于有时因温度等的影响而特性移动，因而在实际进行记录时的温度条件与预先求出偏移量时的温度条件等不同的情况等下，难以得到合适的功率移动，根据情况，有可能使功率过度偏移，结果，有可能记录性能激烈变动。

另一方面，由于不对称性值与记录性能的关系难以受到温度等的影响，因而通过使用OPC的目标值，能进行合适校正。

如上所述，在本实施方式1中，根据针对进行OPC的区域的近前的记录层中的未记录层的数(U)、已记录层的数(R)以及预先求出的不对称性值的变动量(BR-BU)，校正进行OPC时的目标不对称性值，因而在记录信息的记录区域内，即使近前的记录层中的未记录层的数(U)和已记录层的数(R)变化，也能抑制记录性能的变动，进行稳定的记录。

并且，为此无需追加的OPC区域，并且也不会增加OPC需要的处理时间。

并且，在本实施方式中，例如就光盘500是BD的情况，示出了光记录再现装置100，然而本发明也能应用于除此以外的种类的多层光盘或者其它种类的光记录介质。

并且，在本实施方式中，根据在用于决定基准偏移量的光盘中的、在近前的记录层全部是未记录的情况下和在近前的记录层全部是已记录的情况下的相同功率时的不对称性值的偏移量(基准偏移量)，以及在用于本来信息记录的光盘中的、近前的记录层中的已记录层的数和未记录层的数，校正OPC目标值，然而求出基准偏移量的条件不限于此。例如也可以将在近前的记录层全部是未记录的情况下和在近前的记录层仅是1层已记录的情况下的不对称性值的偏移量用作基准偏移量，根据这样求出的基准偏移量以及近前的记录层中的已记录层的数和未记录层的数，校正OPC目标值。

一般，求出在某个记录层(测试数据记录层)的近前的已记录层的数是a的状态(第1记录状态)下，记录于测试数据记录层内的情况下的不对称性值(第1再现信号参数)Ba、以及在测试数据记录层的近前的已记录层的数是b的状态(第2记录状态)下，以与上述第1记录状态的情况相同的记录功率PO记录在上述测试数据记录层内的情况下的不对称性值(第2再现信号参数)Bb，在根据这些不对称性值求出基准目标值偏移量BO的情况下，取代上述的式(4)而使用下述的式(5)。

BO＝{(Ba-Bb)/2}×{Nt/(a-b)} ...(5)

在式(5)中，

Nt是在第1记录状态和第2记录状态下的、用于决定基准偏移量的光盘中的近前的记录层的数，(Nt/(a-b))表示近前的记录层的数Nt与第1记录状态下的近前的已记录层的数a和第2记录状态下的近前的已记录层的数b之差的比。

基准目标值偏移量BO预先针对各个光盘例如各类别，即各固有信息来调查，并存储在ROM220等内。

针对为了记录而插入到光记录再现装置内的光盘，在计算校正目标值BT2时，使用所存储的基准目标值偏移量BO(使用式(5)计算)，进行式(3)的计算。即，求出例如在记录状态判断单元(S20)求出的从已记录的记录层的数(R)减去未记录的记录层的数(U)而得到的值除以记录层的总数(Nr)后的值((R-U)/Nr)作为偏移量校正系数，通过将对基准目标值偏移量(BO)乘以偏移量校正系数(R-U)/Nr后的值加上标准目标值(BT1)，求出校正目标值(BT2)。

也可以将上述的a设定为Nt或0。在a＝Nt(因此Ba＝BR)的情况下，式(5)变形如下。

BO＝{(BR-Bb)/2}×{Nt/(Nt-b)} ...(6)

并且，在a＝0(因此Ba＝BU)的情况下，式(5)变形如下。

BO＝{(BU-Bb)/2}×{Nt/(0-b)} ...(7A)

＝{(Bb-BU)/2}×{Nt/b} ...(7B)

并且，在本实施方式中，在用于决定基准偏移量的光盘中，针对在近前的记录层全部是未记录的情况下、和近前的记录层全部是已记录的情况下的相同功率时的不对称性值的偏移量(基准偏移量)，根据用于本来信息记录的光盘中的近前的记录层中的已记录层的数和未记录层的数决定校正系数，校正OPC目标值，然而在基准偏移量小的情况等下，无需根据这些层的数严格计算校正系数。例如，可以大致设定成使近前的记录层中的已记录层的数比近前的记录层中的未记录层的数多的情况、与其相同的情况以及比其少的情况。

并且，在本实施方式中，在用于本来信息记录的光盘中的在近前的记录层全部是未记录的情况下、和在用于本来信息记录的光盘中的近前的记录层全部是已记录的情况下的相同功率时的OPC目标值的校正量相同，然而在多层光盘中进行记录的情况下，一般往往从里面的记录层进行记录，特别是在记录层多的情况下，由于近前的层全部为已记录的情况少，因而通过使OPC校正量进一步偏移、或者乘以系数等使校正后的OPC目标值接近图10所示的BU，以使在近前的层是未记录的情况下的记录性能更良好。

并且，在本实施方式中，针对光盘的各固有信息预先求出在近前的记录层全部是已记录的情况下和全部是未记录的情况下的相同功率时的不对称性值的偏移量，然而对于不预先求出该偏移量的光盘，也可以使用预先调查的其它多个光盘的不对称性值的偏移量的平均值。

或者，也可以在光记录再现装置内利用为了记录信息而插入的光盘的OPC区域等的试写区域，生成至少一个以上的近前的层的状态不同的区域，测定在记录层内以相同记录功率在各个区域内记录时的不对称性值的差，并使用该结果。

并且，在本实施方式中，描述了以不对称性值作为目标值的OPC方法，然而以调制度作为目标值的OPC方法，也可以使用相同方法。不过，在该情况下，针对记录功率的调制度的特性在记录功率高的区域内，具有饱和的特性，因而需要求出调制度不饱和的低功率时的调制度的偏移量。

并且，在本实施方式中，使用式(3)、式(4)、式(5)、式(6)、式(7B)，校正OPC目标值，然而也可以使用得到相同结果的别的式子。

并且，在本实施方式中，预先针对光盘的各固有信息求出在近前的记录层全部是未记录的情况下、和近前的记录层全部是已记录的情况下的不对称性值的变动量，然而也可以针对光盘的类型(例如，追记型光盘、改写型光盘等)、光盘的记录层数(例如，3层光盘、4层光盘等)来设定，然而期望的是针对光盘的各固有信息来求出。

并且，期望的是，预先求出的不对称性值的变动量针对记录对象的各层来求出，然而也可以在相同的光盘内没有差异的情况下使用相同的不对称性值的变动量。

并且，不对称性值的变动量只要针对各型式的光记录再现装置进行一次即可，可以针对相同型式的许多光记录再现装置使用相同的值。即，在针对某个型式的光记录再现装置求出不对称性值的变动量的情况下，只要在相同型式的光记录再现装置内设定求出的变动量来发货即可。

Claims

1.一种光记录装置，该光记录装置通过向具有多个记录层的光记录介质照射激光来记录信息，其特征在于，该光记录装置具有：

所述记录功率调整单元使用所述校正目标值，调整所述记录功率，

根据在与所述记录测试数据的记录层相比近前的记录层处于所述第1记录状态的第1情况下记录的第1再现信号参数、和处于所述第2记录状态的第2情况下，以与所述第1情况相同的记录功率记录的第2再现信号参数的差，求出基准目标值偏移量，

所述记录状态判断单元判断与使用的记录功率调整区域对应的位置上的、与由所述信息记录单元记录的记录层相比近前的记录层分别是已记录还是未记录，求出已记录的层数和未记录的层数，

所述目标值校正单元根据所述基准目标值偏移量、以及所述已记录的层数与所述未记录的层数的比例，决定所述校正目标值。

2.根据权利要求1所述的光记录装置，其特征在于，再现信号参数差是使用类别与由所述信息记录单元记录的光记录介质相同的1个或2个以上的光记录介质预先求出的。

3.根据权利要求1所述的光记录装置，其特征在于，

所述第1记录状态是所述近前的记录层全部为未记录或已记录的情况，

求出所述第1情况下的第1再现信号参数和所述第2情况下的第2再现信号参数，

求出所述第1再现信号参数减去所述第2再现信号参数而得到的差分量的一半与如下比值的积，作为所述基准目标值偏移量，所述比值是所述近前的记录层数，与所述第1记录状态下的所述近前的已记录层数减去所述第2记录状态下的所述近前的已记录层数而得到的值之比，

所述目标值校正单元求出由所述记录状态判断单元求出的已记录的层数减去未记录的层数后除以所述近前的记录层数而得到的值，作为偏移量校正系数，

通过将所述基准目标值偏移量乘以所述偏移量校正系数而得到的值与所述标准目标值相加，求出所述校正目标值。

4.根据权利要求1所述的光记录装置，其特征在于，

所述第1记录状态是所述近前的记录层全部为已记录的状态，

所述第2记录状态是所述近前的记录层全部为未记录的状态，

在所述第1情况下得到的第1再现信号参数是BR，在所述第2情况下得到的第2再现信号参数是BU的情况下，所述基准目标值偏移量BO根据下式求出，

BO＝(BR－BU)/2，

在由所述记录状态判断单元求出的已记录的层数由R表示，未记录的层数由U表示，与由所述信息记录单元记录的记录层相比近前的全部记录层数由Nr表示的情况下，在设标准目标值为BT1时，所述目标值校正单元根据下式求出所述校正目标值BT2，

BT2＝BT1+BO×(R－U)/Nr。

5.根据权利要求1所述的光记录装置，其特征在于，所述再现信号参数是再现信号的不对称性值。

6.根据权利要求1所述的光记录装置，其特征在于，所述再现信号参数是再现信号的调制度。

7.根据权利要求3或4所述的光记录装置，其特征在于，

所述光记录装置具有基准目标值偏移量存储单元，该基准目标值偏移量存储单元将所述基准目标值偏移量与表示光记录介质的类别的信息一起存储，

按照光记录介质的每个类别，预先通过实验求出所述基准目标值偏移量，与表示光记录介质的类别的信息一起存储在所述基准目标值偏移量存储单元内，

按照光记录介质的类别，读出存储在所述基准目标值偏移量存储单元内的基准目标值偏移量，由所述目标值校正单元校正所述标准目标值，生成所述校正目标值。

8.根据权利要求3或4所述的光记录装置，其特征在于，

所述光记录装置具有基准目标值偏移量存储单元，该基准目标值偏移量存储单元将所述基准目标值偏移量与光记录介质的固有信息一起存储，

按照光记录介质的每个固有信息，预先通过实验求出所述基准目标值偏移量，与光记录介质的固有信息一起存储在所述基准目标值偏移量存储单元内，

按照光记录介质的固有信息，读出存储在所述基准目标值偏移量存储单元内的基准目标值偏移量，由所述目标值校正单元校正标准目标值，生成所述校正目标值。

9.一种光记录方法，在该光记录方法中通过向具有多个记录层的光记录介质照射激光来记录信息，其特征在于，该光记录方法具有：

目标值读出步骤，从光记录介质或用于实施光记录方法的光记录装置，读出按照每个光记录介质预先求出的、用于调整记录功率的标准目标值；

记录功率调整步骤，通过对配置在具有信息记录区域的记录层内的记录功率调整区域进行试写，调整记录功率；

信息记录步骤，使用在所述记录功率调整步骤中调整后的所述记录功率，在所述具有信息记录区域的记录层记录信息；

记录状态判断步骤，判断与所述记录功率调整区域对应的位置上的、与在所述信息记录步骤中记录的记录层相比位于照射激光一侧的1个或2个以上的近前的记录层的记录状态；以及

目标值校正步骤，根据与记录测试数据的记录层相比位于照射激光一侧的1个或2个以上的近前的记录层处于第1记录状态时和处于第2记录状态时的再现信号参数差、以及在所述记录状态判断步骤中判断出的所述记录状态，校正所述标准目标值，生成校正目标值，

在所述记录功率调整步骤中，使用所述校正目标值，调整所述记录功率，

在所述记录状态判断步骤中，判断与使用的记录功率调整区域对应的位置上的、与在所述信息记录步骤中记录的记录层相比近前的记录层分别是已记录还是未记录，求出已记录的层数和未记录的层数，

在所述目标值校正步骤中，根据所述基准目标值偏移量、以及所述已记录的层数与所述未记录的层数的比例，决定所述校正目标值。

10.根据权利要求9所述的光记录方法，其特征在于，再现信号参数差是使用类别与在所述信息记录步骤中记录的光记录介质相同的1个或2个以上的光记录介质预先求出的。

11.根据权利要求9所述的光记录方法，其特征在于，

在所述目标值校正步骤中求出在所述记录状态判断步骤中求出的已记录的层数减去未记录的层数后除以所述近前的记录层数而得到的值，作为偏移量校正系数，

12.根据权利要求9所述的光记录方法，其特征在于，

所述第1记录状态是所述近前的记录层全部为已记录的状态，

所述第2记录状态是所述近前的记录层全部为未记录的状态，

BO＝(BR－BU)/2，

在所述记录状态判断步骤中求出的已记录的层数由R表示，未记录的层数由U表示，与在所述信息记录步骤中记录的记录层相比近前的全部记录层数由Nr表示的情况下，在设标准目标值为BT1时，在所述目标值校正步骤中根据下式求出所述校正目标值BT2，

BT2＝BT1+BO×(R－U)/Nr。

13.根据权利要求9所述的光记录方法，其特征在于，所述再现信号参数是再现信号的不对称性值。

14.根据权利要求9所述的光记录方法，其特征在于，所述再现信号参数是再现信号的调制度。

15.根据权利要求11或12所述的光记录方法，其特征在于，

按照光记录介质的每个类别，预先通过实验求出所述基准目标值偏移量，由基准目标值偏移量存储单元将所述基准目标值偏移量与表示光记录介质的类别的信息一起存储，

按照光记录介质的类别，读出存储在所述基准目标值偏移量存储单元内的基准目标值偏移量，在所述目标值校正步骤中校正所述标准目标值，生成所述校正目标值。

16.根据权利要求11或12所述的光记录方法，其特征在于，

按照光记录介质的每个固有信息，预先通过实验求出所述基准目标值偏移量，由基准目标值偏移量存储单元将所述基准目标值偏移量与光记录介质的固有信息一起存储，

按照光记录介质的固有信息，读出存储在所述基准目标值偏移量存储单元内的基准目标值偏移量，在所述目标值校正步骤中校正标准目标值，生成所述校正目标值。