[go: up one dir, main page]

CN101685004B - 用于光纤应变测量的系统 - Google Patents

用于光纤应变测量的系统 Download PDF

Info

Publication number
CN101685004B
CN101685004B CN200910173254.2A CN200910173254A CN101685004B CN 101685004 B CN101685004 B CN 101685004B CN 200910173254 A CN200910173254 A CN 200910173254A CN 101685004 B CN101685004 B CN 101685004B
Authority
CN
China
Prior art keywords
optical fiber
face
section
radiation
strain
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
CN200910173254.2A
Other languages
English (en)
Other versions
CN101685004A (zh
Inventor
M·达比考
G·斯卡马尔乔
S·奥托内利
A·因泰米特
B·拉迪萨夫列维奇
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
UNI DEGLI STUDI DI BARI
Original Assignee
UNI DEGLI STUDI DI BARI
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by UNI DEGLI STUDI DI BARI filed Critical UNI DEGLI STUDI DI BARI
Publication of CN101685004A publication Critical patent/CN101685004A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN101685004B publication Critical patent/CN101685004B/zh
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/16—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring the deformation in a solid, e.g. optical strain gauge
    • G01B11/18—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring the deformation in a solid, e.g. optical strain gauge using photoelastic elements
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/16—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring the deformation in a solid, e.g. optical strain gauge
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
    • G01M11/08—Testing mechanical properties
    • G01M11/083—Testing mechanical properties by using an optical fiber in contact with the device under test [DUT]
    • G01M11/085—Testing mechanical properties by using an optical fiber in contact with the device under test [DUT] the optical fiber being on or near the surface of the DUT

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Optical Transform (AREA)

Abstract

公开了测量物体应变的系统。该测量系统包括：激光源，生成输出辐射；可应变光纤，具有第一和第二面，第一面耦接到激光源，以接收至少部分输出辐射并将引导的辐射通过光纤朝向第二面传输；和计算光纤至少一部分的应变量度的计算装置。光纤至少一部分包括第一和第二截面，第二截面由光纤至少一部分的应变而根据第二截面相对于第一截面沿光纤至少一部分的线性位移来移动。第二面适于接收所引导的辐射并朝第一面反射相应的反射辐射。激光源是自混合型，适于接收从第二面引导到第一面的反射辐射的至少一部分，并将输出辐射与接收到的辐射相混合。计算装置适于通过由激光源中的自混合效应测量的第二截面的线性位移来计算光纤至少一部分的应变的量度。

Description

用于光纤应变测量的系统
技术领域
本发明涉及一种用于测量物体的应变的系统。更具体地说，本发明涉及一种基于光纤的应变的应变测量系统。 
背景技术
已知可以利用包括激光源和光纤的系统来执行对物体的应变的测量：这种测量系统通常被称为基于光纤的应变测量系统(或应变传感器)(或者简称为“基于光纤的应变系统”)。 
已知的基于光纤的应变系统(例如，参见公开号为2008/0085073的美国申请)利用如下光纤来执行对物体应变的测量，在该光纤的很短的一段(几厘米长)中包括光纤布拉格光栅，该光纤布拉格光栅附接到可应变的物体并且发生应变。根据该已知系统，激光源生成引导到光纤上并且被光纤布拉格光栅反射的输出辐射，其中，所反射的辐射受到波长偏移的影响，所述波长偏移取决于光纤的包括光纤布拉格光栅的段的应变。接收器将所反射的辐射转换为电信号，并且频谱分析仪根据所反射的辐射的振幅的变化来估计光纤的(包括光纤布拉格光栅的)该段的应变。该已知系统的缺点在于应变测量的分辨率取决于光纤布拉格光栅的止带，由此要求复杂电子设备来执行测量，并且由于光纤布拉格光栅只有几厘米长，所以仅可以执行对可应变物体的很短一段(例如，结构缝)的测量。 
另一已知的基于光纤的应变系统(例如，参见公开号为EP1760424的欧洲申请)利用布里渊散射现象来执行对物体应变的测量，其中根据从光纤发出的光确定布里渊损耗或增益谱。这种已知系统的缺点在于要求昂贵的光纤(掺铒的)，要求高功率激光源，并且要求复杂电子设备来执行测量。 
发明内容
鉴于已知方案的缺陷，本发明的主要目的在于提供一种改进的基于光纤的应变系统。该目的是通过根据权利要求1的测量系统和根据权利要求2至13的测量系统的优选实施例来实现的。执行该测量的基本思想在于，采用光纤本身作为感测元件，并且利用激光源中的自混合(self-mixing)效应来测量光纤的应变。 
本发明的优点在于： 
-允许测量较长物体的应变； 
-降低了测量系统，尤其是执行测量的电子设备的复杂性和成本，同时保持良好的分辨率和工作频率范围。 
附图说明
图1示意性地示出了根据本发明实施例的基于光纤的应变系统。 
图2示意性地示出了第一示例，其中可以采用根据本发明的基于光纤的应变系统。 
图3示意性地示出了第二示例，其中可以采用根据本发明的基于光纤的应变系统。 
具体实施方式
参照图1，示出了根据本发明实施例的基于光纤的应变的测量系统50。该测量系统包括自混合激光源1、光纤2、物体3、光电检测器4、处理电路5、微控制器6以及激光驱动器7。 
优选地，激光源1是分布式反馈(DFB)InGaAsP激光二极管，其适于生成波长例如为1550nm的输出辐射。有利的是，激光源1是带尾纤的，并且激光源1事先(例如，在激光源制造期间)耦接到光纤2，以获得包括激光源1和光纤2的第一面(facet)10的单个封装(例如，封装是由塑料制成)，其中，激光源2相对于第一面10的的位置定位成使得耦合效率(例如，激光源与光纤之间的对准)最大，并且第一面10朝向激光源1反射的辐射最小。此外，激光源1是自混合型，其适于生成输出辐射并且接收被反射的辐射：输出辐射与接收到的辐射相混合，并且该混合导致输出辐射的光学特性(例如，光功率)发生变化，下面将对此进行更好的解释。
 光纤2例如是单模光纤(如Corning SMF28)，该光纤2限定在耦接到激光源1的第一面10与第二面11之间。优选地，第二面11是自由；例如，第二面与如FP／PC连接器的光纤连接器端接。光纤2至少部分地是可应变的：具体地，光纤2包括限定在光纤2的第一截面14与光纤2的第二截面15之间的部分8(该部分8还可以被称为光纤2的“一段”)，并且光纤2的部分8的初始长度X0可以通过增加或减小该长度而改变，如下面将更详细描述的。例如，光纤2的部分8的长度在几厘米到几米之间，该长度可以增加达几米并可以减小达几毫米。因此，通过光纤2的部分8的应变使得第二截面15按照第二截面15相对于第一截面14的线性位移而移动：这是由光纤2的拉伸部分8获得的。 
物体3是可应变的：具体地，出于解释本发明的目的，假设物体3沿X方向变形，X方向与光纤2的部分8基本上平行，并且由此物体3的长度沿X方向改变(增加或减小长度)。例如，物体3是在温度改变、机械应力或振动的情况下沿X方向变形的轴(axel)；该轴可以是桥梁的桁架或者工业机器(铣床、车床...)的一部分。物体3可以是更大物体的一部分。 
光纤2的部分8附接到物体3的表面，从而物体3的至少一部分的应变引起光纤2的部分8的应变；假设部分8的应变等于物体3的应变，即物体3的沿着X方向的初始长度等于X0(前面称作部分8的初始长度)并且可以改变ΔX(前面称作第二截面15相对于部分8的第一截面14的线性位移)。具体地，图1示出了光纤2的部分8的第一截面14在位于X方向上的点12中附接到物体3，并且示出第二截面15在位于X方向上的点13中附接到物体3，从而第二截面15可由物体3的应变而根据第二截面15相对于第一截面14沿部分8的 X方向的线性位移ΔX移动(换言之，光纤2的部分8的长度可以改变)。本发明允许利用单模光纤Corning SMF28测量达几毫米的线性位移ΔX。动态范围(即，可利用系统50测量的最大线性位移ΔX)仅受特定光纤2的部分8沿X方向的屈服强度限制。具体地，CorningSMF28光纤2的屈服强度约为10＊10-3＊X0，其中X0是光纤2的部分8的初始长度(即，在部分8变形之前)：因此，系统50的动态范围约为10＊10-3＊X0，而光纤2的部分8的长度可以增加(或减小)达10＊10-3＊X0。例如，针对等于1米的X0，系统50的动态范围是10毫米。 
光纤2的部分8可以按照不同的方案而附接到物体3：例如，部分8可以粘贴到物体3的(部分或全部)表面，或者可以嵌入到物体3中(例如，它可以附接到物体3的中空部分)。 
光电检测器4(例如，光电二极管)适于从激光源1生成的输出辐射的检测到的光功率生成电信号。 
处理电路5适于处理电信号。 
微控制器6适于提供物体3的应变的量度。 
包括光电检测器4、处理电路5以及微控制器6的装置的功能是从激光源1生成的输出辐射的光学特性的变化来计算物体3的应变的量度，如下面将更详细描述的。 
激光驱动器7适于驱动激光源1。 
下面将参照图1来描述测量系统50的实施例的功能。 
激光源1生成输出辐射，该输出辐射通过第一面10(至少部分地)被光纤2接收。输出辐射通过光纤2被朝向第二面11引导。 
第二面11接收所引导的辐射，并且从第二面11朝向第一面10反射所反射的辐射。 
激光源1接收从第二面11引导到第一面10的(至少部分)反射辐射，并且接收到的辐射进入激光源1的腔体，从而生成自混合效应。根据自混合效应，在激光腔内生成(并且传输通过光纤2)的输出辐射与进入激光腔的反射辐射在激光源1的腔体中发生干涉。在激光源 1的输出面与光纤的第二面11之间的光学路径长度发生变化的情况下，该干涉导致对激光腔中的振荡场的振幅或频率的调制，并由此导致激光源1生成的输出辐射的光学特性的变化，如光功率的变化、频率的变化、激光线宽的变化、或者结电压的变化。激光源1的输出面与光纤的第二面11之间的光学路径长度的变化是通过光纤2的第二截面15相对于第一截面14沿着光纤2的部分8的线性位移ΔX来实现的，这是因为光纤2的部分8被拉伸，并且光纤2的部分8的应变导致第二截面15中的线性位移ΔX；因此，该变化取决于第二截面15中的线性位移ΔX(换言之，取决于光纤2的部分8的长度，该长度改变ΔX)，并且由此激光源1的特性的变化(例如，光功率的变化)提供了对光纤2的部分8的应变的量度的估计，由此提供了对物体3的应变的量度的估计。 
更一般地，光功率的变化取决于第二截面15的移动(另一个示例是第二截面15的速度)。 
为了解释本发明，应当仅考虑激光源1生成的输出辐射的光功率的变化。 
取决于进入激光腔的辐射的光功率的强度，可以发生不同的干涉；具体地，在适度反馈(这是由1到4.6之间的反馈参数来限定)的条件下执行对应变的测量。 
光电检测器4检测激光源1生成的改变的输出辐射的至少一部分的光功率的变化，并由此生成具有取决于第二截面15相对于第一截面14的线性位移ΔX的波动的电信号(例如，电流)。在适度反馈的情况下，光电检测器4生成的锯齿电流信号具有振幅调制，并且锯齿电流信号的峰值数以约0.8μm的分辨率(即，可以被测量的最小线性位移ΔX)提供了对第二截面15的线性位移ΔX的量度；此外，适度反馈的条件允许通过干涉条纹的斜度来测量第二截面15的线性位移ΔX的方向(即，第二截面15朝向激光源1移动还是背向激光源1移动)。 
最后，电子地处理由光电检测器生成的电信号，并且在考虑光电 检测器4(从检测到的由激光源1生成的输出信号的光功率)生成的锯齿电流信号的峰值数的情况下，提供对第二截面15的线性位移ΔX的量度(由此提供了对光纤2的部分8的应变的量度和物体3的应变的量度)。 
图1示出了光纤2的部分8附接到物体3，但是本发明还可以根据以下其他实施例来执行： 
-整个光纤2附接到物体3(如图2和3中所示)；在这种情况下，部分8是整个光纤2，光纤2的第一截面14是光纤2的第一面10，光纤2的第二截面15是光纤2的第二面11，并且整个光纤2被拉伸； 
-光纤2的一部分附接到物体3，并且该部分限定在第一面10与第二截面15之间，而第二面11没有附接到物体3(例如，它是自由的)；在这种情况下，光纤2在第一面10与第二截面15之间拉伸。 
-光纤2的一部分附接到物体3，并且该部分限定在第一截面14与第二面11之间，而第一面10没有附接到物体3；在这种情况下，光纤2在第一截面14与第二面11之间拉伸。 
图1示出了第二截面15相对于第一截面14沿着光纤2的部分8的线性位移ΔX，其中，X方向与光纤2的部分8基本上平行，这是因为假设物体3沿着X方向变形。无论如何，物体3可以沿着任何其他方向在物体3的基本上平的顶面所限定的平面内变形，由此第二截面15(相对于第一截面14)沿着光纤2的部分8的线性位移可以沿着任意方向而在物体3的顶面所限定的平面内发生。例如，物体3的顶面所限定的平面由X轴(平行于具有初始长度X0的部分8的初始位置，即X0是部分8在变形之前的长度)和Y轴(垂直于X轴)限定：物体3可以由仅在Y方向上的线性位移ΔY而变形，并且在这种情况下，第二截面15(相对于第一截面14)沿着平行于光纤2的变形部分8的方向R具有线性位移ΔR(换言之，如果X0和ΔY是矢量，则R是X0和ΔY的矢量相加)。 
图2和图3示出了可以应用本发明的第一示例和第二示例。可应 变物体3是在温度变化的情况下或者在有结构问题的情况下可变形的轴；该轴可以是如图2所示的桥梁150的桁架103的一部分，或者可以是如图3所示的工业机器250(铣床、车床…)的部分203。图2和3中示出的设备101包括自混合激光源1、光电检测器4以及激光驱动器7；优选地，设备101是由金属制成的单个封装。有利的是，封装101是带尾纤的，封装101事先耦接到光纤2，并使得耦合效率最大。光纤2附接到桁架103的一部分或者附接到部分203，并且设备101安装到桁架103上或者安装到部分203上，并且它耦接到第一面101。因此，第一截面14是第一面10，第二截面15是第二面11，第二面11由光纤2的应变(这是由桁架103的部分的应变或者由部分203而引起的)而根据第二面11相对于第一面10的线性位移ΔX移动；这个线性位移ΔX是由根据本发明的系统而测量的。 
优选地，反射辐射占所引导的辐射的0.01％到0.1％之间；这使得能够控制进入激光源1的腔体的反射辐射的光功率，以实现适度自混合效应，即由自混合激光源1生成的输出辐射与由自混合激光源1接收到的辐射的适度混合。 
优选地，光纤2的第二面11至少部分地被折射率匹配胶覆盖；这使得能够控制进入激光源1的腔体的反射辐射的光功率，以实现适度自混合效应，这是由自混合激光源1生成的输出辐射与由自混合激光源1接收到的辐射的适度混合。 
优选地，光纤2的第二面11以7度到9度之间的角度被削切，优选地该角度等于8度；这使得能够进一步控制反射辐射的光功率，以实现适度的自混合效应。有利的是，第二面11被削切并且端接以如FP/PC连接器的光纤连接器。 
优选地，光纤2的第二面11至少部分地被折射率匹配胶覆盖，并且还被以7度到9度之间的角度(优选地等于8度)削切，以提供更多灵活性来实现适度的自混合效应。 
另选地，适度的自混合效应由(光纤2的)第二面11来实现，这是通过粗略地切割光纤2而获得的；有利的是，第二面11还端接 以如FP/PC连接器的光纤连接器。 
优选地，光纤弯曲成多折光路以扩展光纤长度，并且同时保持有限的测量系统的占用空间(footprint)。例如，光纤可以U形折叠两次，以使得光纤长度加倍；光纤可以U形折叠超过两次，由此进一步增加光纤长度。这样的优点在于增大测量系统50的分辨率(即，增加可以被测量的最小线性位移ΔX，并由此增加物体3的可被测量的最小应变，这是因为假设第二截面15的线性位移ΔX等于物体3的应变)，这是因为分辨率与部分8的长度的倒数成比例。具体地，带有非弯曲光纤的测量系统50提供约0.8μm的分辨率，而具有两次U形折叠弯曲光纤的系统提供约0.4μm的分辨率。 
根据本发明的测量系统允许获得1Hz到150Hz之间的工作频率范围，由此可以测量频率在1Hz到150Hz之间的光纤的长度的变化。 
根据本发明另一方面，多个光纤(至少部分地)沿不同方向在物体3的基本上平的顶面所限定的平面中附接到物体3，或者嵌入到物体3中。多个光纤各自具有耦接到对应的自混合激光源的第一面，并且具有可根据相对于对应的第一截面沿对应的光纤的线性位移移动的第二截面。该系统使得能够同时测量物体3的不同方向上的应变，其中，该应变可以是线性位移或者是角位移。 

Claims (14)

1.一种用于测量物体的应变的系统，包括：
激光源(1)，用于生成输出辐射；
可应变光纤(2)，具有第一面(10)和第二面(11)，其中，所述第一面耦接到所述激光源，用于接收至少部分输出辐射，并且用于从该第一面将引导的辐射通过所述光纤朝向所述第二面传输；
计算装置，用于计算所述光纤(2)的至少一部分(8)的应变的量度；
其特征在于，
所述系统还包括附接到光纤(2)的所述至少一部分(8)的可应变物体(3)；
光纤(2)的所述至少一部分(8)能被拉伸，包括第一截面(14)和第二截面(15)，其中，所述第二截面(15)能够由光纤(2)的所述至少一部分(8)的应变而根据第二截面(15)相对于第一截面(14)沿着光纤(2)的所述至少一部分(8)的线性位移(ΔX)移动；
通过限定所述激光源(1)的输出面和所述光纤(2)的第二面(11)之间的光学路径长度的变化，所述第二截面(15)的位移(ΔX)与所述物体(3)的应变成比例；
并且第二面(11)适于接收所引导的辐射，并且从该第二面朝向第一面(10)反射相应的反射辐射；
并且激光源(1)是自混合型，其适于接收从第二面(11)引导到第一面(10)的反射辐射的至少一部分，并且将输出辐射与接收到的辐射相混合；
并且所述计算装置适于通过由激光源(1)中的自混合效应产生的输出辐射的光学特性的变化所测量的第二截面(15)的线性位移(ΔX)来计算光纤(2)的所述至少一部分(8)的应变的量度。
2.根据权利要求1所述的测量系统，其中，所述第二面至少部分地被折射率匹配胶覆盖，用于控制反射辐射，以实现输出辐射与接收到的辐射的适度混合。
3.根据权利要求1所述的测量系统，其中，光纤的第二面以7度到9度之间的角度被削切。
4.根据权利要求1所述的测量系统，其中，所述第二面是通过粗略地切割光纤而获得的。
5.根据权利要求1所述的测量系统，其中，所述光纤弯曲至少两次。
6.根据权利要求1所述的测量系统，其中，反射辐射占所引导的辐射的0.01％到0.1％之间。
7.根据权利要求1所述的测量系统，其中，所述激光源是带尾纤的。
8.根据权利要求1所述的测量系统，其中，所述物体(3)的应变是平行于光纤的所述至少一部分(8)的线性位移。
9.根据权利要求1所述的测量系统，其中，所述物体(3)的应变是不平行于光纤的所述至少一部分(8)的线性位移。
10.根据权利要求1所述的测量系统，其中，光纤的所述至少一部分(8)在第一截面(14)的第一点(12)以及第二截面(15)的第二点(13)中附接到物体(3)。
11.根据权利要求1所述的测量系统，其中，光纤的第二面以约8度的角度被削切。
12.根据权利要求1至11中任一项所述的测量系统，其中，光纤的所述至少一部分(8)附接到物体的表面，或者嵌入到所述物体中。
13.一种包括根据权利要求1至12中任一项所述的测量系统的轴。
14.一种包括根据权利要求13所述的轴的工业机器。
CN200910173254.2A 2008-09-22 2009-09-22 用于光纤应变测量的系统 Expired - Fee Related CN101685004B (zh)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
EP08425618.9 2008-09-22
EP08425618A EP2166328A1 (en) 2008-09-22 2008-09-22 System for optical fiber strain measure

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN101685004A CN101685004A (zh) 2010-03-31
CN101685004B true CN101685004B (zh) 2014-11-12

Family

ID=40150189

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN200910173254.2A Expired - Fee Related CN101685004B (zh) 2008-09-22 2009-09-22 用于光纤应变测量的系统

Country Status (3)

Country Link
US (1) US8234081B2 (zh)
EP (1) EP2166328A1 (zh)
CN (1) CN101685004B (zh)

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CL2011000765A1 (es) * 2011-04-06 2011-06-24 Micomo S A Metodo de medicion de deformaciones lineales en una fibra optica mediante un analizador botdr, en el que se obaatiene una matriz de lectura del botdr, para luego obtener la medicion de la deformacion de la fibra optica como un vector de deformaciones en cada distancia
CN106152961B (zh) * 2015-01-16 2019-02-12 黄辉 一种光纤应变传感器及其制备方法
US10191454B2 (en) * 2016-06-13 2019-01-29 William Marsh Rice University Methods and related systems of ultra-short pulse detection
CN110850144B (zh) * 2018-04-12 2022-02-18 安徽大学 基于多纵模自混合效应的电压传感测量装置及方法
US11523097B2 (en) * 2019-03-22 2022-12-06 Universita' Degli Studi Di Bari Aldo Moro Process and apparatus for the capture of plenoptic images between arbitrary planes
IT201900008874A1 (it) * 2019-06-13 2020-12-13 Freni Brembo Spa Metodo e sistema per rilevare e misurare una forza di frenata di un sistema frenante per veicolo, mediante sensori fotonici incorporati in una pastiglia freno
WO2024184074A1 (en) * 2023-03-06 2024-09-12 Ams-Osram International Gmbh Method of manufacturing a photonic circuit and alignment device

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0404242A1 (en) * 1989-06-23 1990-12-27 AGIP S.p.A. Method and device based on fibre-optic interferometer sensors, for analyzing the dynamic deformation of a structure or its components
GB2276449B (en) * 1993-03-27 1996-10-02 Deutsche Forsch Luft Raumfahrt Interferometer strain sensor
CN101476879A (zh) * 2009-01-23 2009-07-08 南京航空航天大学 一种光纤分布式传感器网络自修复系统及自修复方法

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5798521A (en) * 1996-02-27 1998-08-25 The United States Of America As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics And Space Administration Apparatus and method for measuring strain in bragg gratings
JP3094917B2 (ja) * 1996-09-12 2000-10-03 安藤電気株式会社 光ファイバ歪み測定装置
US5889901A (en) * 1997-06-06 1999-03-30 University Technology Corporation Strain measuring apparatus/method having a sensor and a reference optical fiber grating
US5986749A (en) * 1997-09-19 1999-11-16 Cidra Corporation Fiber optic sensing system
JP4463818B2 (ja) 2004-06-25 2010-05-19 ニューブレクス株式会社 分布型光ファイバセンサ
US7302123B2 (en) 2005-03-10 2007-11-27 Weatherford/Lamb, Inc. Dynamic optical waveguide sensor

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0404242A1 (en) * 1989-06-23 1990-12-27 AGIP S.p.A. Method and device based on fibre-optic interferometer sensors, for analyzing the dynamic deformation of a structure or its components
GB2276449B (en) * 1993-03-27 1996-10-02 Deutsche Forsch Luft Raumfahrt Interferometer strain sensor
CN101476879A (zh) * 2009-01-23 2009-07-08 南京航空航天大学 一种光纤分布式传感器网络自修复系统及自修复方法

Non-Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
M.Suleiman.Remote fiber Bragg grating strain sensing by self-mixing interferometry.《IEEE》.2008,1-6. *
Remote fiber Bragg grating strain sensing by self-mixing interferometry;M.Suleiman;《IEEE》;20080407;摘要，第2-3部分，图1-3 *

Also Published As

Publication number Publication date
US8234081B2 (en) 2012-07-31
CN101685004A (zh) 2010-03-31
EP2166328A1 (en) 2010-03-24
US20100076700A1 (en) 2010-03-25

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN101685004B (zh) 用于光纤应变测量的系统
Perrone et al. A low-cost optical sensor for noncontact vibration measurements
Liu et al. All-fiber laser-self-mixing sensor for acoustic emission measurement
KR100719892B1 (ko) 다중모드광섬유의 모드간 차등지연시간 측정장치
CN102197286B (zh) 编码器
KR100486937B1 (ko) 광섬유에 의해 구현된 패브리 페로 공진기와 이를 이용한 원자간력 현미경에서의 외팔보 탐침의 변위 측정 및 보정시스템
US20070280581A1 (en) Optical pressure measuring apparatus
WO2001002824A1 (en) Method and device for fibre-optical measuring systems
KR20190006659A (ko) 브릴루앙 산란을 이용한 형상 센싱 장치, 방법 및 시스템
JP6082320B2 (ja) 光軸調整装置及びその工程
Suleiman et al. Interrogation of fiber Bragg grating dynamic strain sensors by self-mixing interferometry
US20140036258A1 (en) Optical transmission line connection system and optical transmission line connection method
JP4862594B2 (ja) 光ファイバセンサ
Xiao et al. Absolute sapphire optical fiber sensor for high-temperature applications
CN107152913B (zh) 振动位移测定装置及振动位移测定方法
KR100874428B1 (ko) 하이브리드 간섭계를 이용한 광섬유 센서 시스템
JP6082313B2 (ja) 光軸調整用の距離測定装置及び方法
US7312435B2 (en) Determination of a physical state of an optical device
CN100416323C (zh) 多模光纤光栅传感器系统
KR100368122B1 (ko) 반사대역폭이 외부 인가 스트레인에 따라 변하는 처핑된 광섬유 격자 센서 및 이를 이용한 스트레인 측정 장치
JP2669359B2 (ja) 歪み測定方法及びその装置
JP2006029995A (ja) 光学式物理量測定方法および装置
US20240192032A1 (en) Optical fiber sensing based on changes in laser emission wavelength
Seat et al. Self-mixing-based demodulation technique for dynamic fiber Bragg grating strain sensors
JP4604878B2 (ja) 波長モニタ

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant
CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee

Granted publication date: 20141112

Termination date: 20150922

EXPY Termination of patent right or utility model