CN101034564A - 光盘驱动器 - Google Patents
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Abstract
在光盘驱动器中,运行OPC(ROPC)无故障地执行,以由此提高记录质量。ROPC通过利用诸如blu-ray盘的下一代光盘中的记录单元(RUB)的APC区域内、用于APC操作的区域的其余部分来执行。ROPC通过试验性地写入具有比待记录的数据的规定长度长的50T的长度的测试数据,并且检测此时的反射光量的水平B来执行。APC区域由五个摆动周期形成。APC在前两个摆动周期执行,ROPC在其余的三个摆动周期执行。
Description
优先权信息
本申请要求以下申请的优先权:日本专利申请第2006-62998号,提交于2006年3月8日,和日本专利申请第2006-63002号,提交于2006年3月8日,其全部内容通过引用结合于此。
技术领域
本发明涉及一种光盘驱动器,更具体地,涉及记录激光束功率调节。
背景技术
ROPC(运行OPC)至今一直在使用中,其用于检测在实际数据的记录过程中来自光盘的反射光的量,以便由此根据反射光的量来增加或减小记录激光束的功率,并且结合了记录测试数据并再现该测试数据以便由此根据再现的质量来设置最优记录功率的OPC技术,其中记录测试数据是通过当在光盘上记录数据时在光盘的预定测试区域以各种方式改变记录激光束的功率来进行的。
借助于ROPC,通过采样来检测水平B部分,在该部分,通过记录激光束形成坑,而且在数据记录过程中反射光的量之中、来自所述坑的反射光的量变得稳定;并且根据水平B的值来增加或减小记录激光束的功率。例如,假定记录激光束的功率取为P,水平B的值取为B,则调节记录激光束的功率P,以便使得B/Pn变得恒定,其中,例如,“n”的值设为2或其它值。
考虑到使水平B部分稳定所需要的时间,或考虑到滤波范围等,水平B部分优选地通过具有最长可能数据长度的坑来采样。例如,在DVD的情况下,将反射光的量采样成9T到11T、14T等等的数据长度,从而获取水平B的值。
日本专利公开出版物第2002-157738号描述了一种光盘驱动器,其使盘以恒定的角速度旋转,其中,盘从内轨到外轨具有测试写入区域、缓冲区域、引入(lead-in)区域、程序区域和引出(lead-out)区域。该出版物描述了:测试信号记录在位于测试写入区域和引出区域外的外围区域,并且这样记录的测试信号被再现,以便由此设置激光输出的值。
通过ROPC,在数据被记录到最长可能长度的坑中时检测水平B。然而,响应于增加数据记录速度的请求,记录脉冲的绝对时间变短。即使已经对长数据长度的坑加以注意,稳定检测水平B会遇到相当的困难。
当光盘的类型改变时,也假定这样的情况,即不存在较长数据长度的坑。例如,在一种下一代光盘blu-ray盘中,最大数据长度是8T,而即使同步信号也仅具有9T的数据长度,因此检测水平B会遇到更大的困难。“回顾(recalling)方法”也是众知的,其包括以下步骤:在记录操作期间中断数据的记录,评估紧接着在之前所记录的数据的质量,并且根据评估的结果调节记录激光束的功率。当通过评估紧接着在之前所记录的数据的质量以及通过利用β值、γ值、错误率来调节记录激光束的功率时,有必要知道相对于诸如β值、γ值等评估参数来增加或减小记录激光束的功率的方式;即,有必要精确确定记录激光束的功率与评估参数之间的关系。这些知识可以在待执行OPC的测试区域获取。待执行OPC的测试区域以及记录实际数据的区域通常就记录的灵敏度而言互不相同。精确调节记录激光束的功率会遇到困难。
发明内容
本发明提供一种光盘驱动器,其不考虑下一代光盘的短数据长度,通过调节记录激光束的功率来实现数据记录速度的增加或确保记录质量。
本发明提供一种光盘驱动器,用于针对每个预定记录块来记录数据,其中,
记录块包括用户数据区域;
光盘驱动器包括
用于辐射记录激光束的照射装置;以及
控制器,其在记录块中的非用户数据区域的预定区域辐射记录激光束,以便由此试验性地写入具有预定长度的测试数据,并且,其根据在试验性写入期间所实现的反射光的量来调节记录激光束的功率;并且,
记录激光束的功率在数据记录期间针对每个预定记录块重复调节。
根据本发明,ROPC在记录块中的非用户数据区域的预定区域执行,以便通过保证ROPC的执行来确保记录质量。特别地,由于利用APC区域中的其余区域和利用比待记录数据的规定长度长的测试数据,还增加了记录速度。
而且,本发明提供一种光盘驱动器,用于针对每个预定记录块来记录数据,其中,
记录块包括用户数据区域;
光盘驱动器包括
用于辐射记录激光束的照射装置;以及
控制器,用于通过在记录数据期间中断数据记录来调节记录功率;并且,
所述控制器通过在数据记录中断时改变记录块的非用户数据区域的预定区域中的功率来试验性地写入测试数据,并根据通过再现试验性地写入的测试数据所获取的信号的质量与功率之间的关系来调节所述激光束的功率。
根据本发明,数据记录在记录数据期间中断,从而能够高精度地调节记录功率。
通过参考以下实施例,将使本发明得到更清晰的理解。然而,本发明的范围不限于该实施例。
附图说明
将参考以下各图来详细描述本发明的一个优选实施例,其中:
图1是一个实施例的光盘驱动器的总体框图;
图2是光盘驱动器的主要部分的框图;
图3是记录策略的描述性视图;
图4是执行APC和ROPC的时序图;
图5A到5C是执行ROPC的时序图;
图6是示出记录功率和反射比之间的关系的曲线图;
图7是示出光盘半径和ROPC比例之间的关系的线图;
图8是blu-ray盘的数据结构的描述性视图;
图9是光盘驱动器的另一个主要部分的框图;
图10是试验性地写入测试数据所借助的记录脉冲信号的描述性视图;
图11A到11D是再现信号的波形(和信号(sum signal)的波形)和检测波形的时序图;
图12是示出功率和β值之间的关系的曲线图;
图13是示出功率和β值之间的关系的另一个曲线图;
图14是光盘驱动器的又一个主要部分的示图;
图15是blu-ray盘的另一个数据结构的描述性视图。
具体实施方式
参考所述附图,在以下对本发明的一个实施例加以描述。
图1是根据本发明的一个实施例的总体光盘驱动器的框图。主轴马达(SPM)12以旋转方式驱动使得能够记录数据的光盘10,如DVD、下一代光盘(blu-ray)等。主轴马达SPM 12由驱动器14驱动,驱动器14由伺服处理器30伺服控制,以便实现所需要的转速。
光学拾取器16包括以激光束照射光盘10的激光二极管(LD)和光电检测器(PD),光电检测器接收由光盘10所反射的光并将这样所接收的光转换成电信号。光学拾取器16与光盘10相对而设置。光学拾取器16由寻轨马达(sled motor)18在光盘10的径向方向上激励,寻轨马达18由驱动器20驱动。如同驱动器14,驱动器20由伺服处理器30伺服控制。而且,驱动器22驱动光学拾取器16的LD,并且驱动器22按照来自系统控制器32的指令来控制LD所发射的光的量。尽管在附图中,驱动器22是与光学拾取器16分开提供的,如后面将要描述到的,驱动器22也可以并入光学拾取器16。
当再现光盘10上所记录的数据时,再现功率的激光束从光学拾取器16的LD发射;由光盘10所反射的光通过PD转换成电信号;并且这样转换的电信号被提供到RF电路26。RF电路26根据再现信号产生聚焦误差信号和跟踪误差信号,并向伺服处理器30供给这样产生的信号。根据这些误差信号,伺服处理器30伺服控制光学拾取器16,从而使光学拾取器16保持在焦点对准状态和轨迹对准状态。RF电路26向地址解码电路28供给包含于再现信号中的地址信号。地址解码电路28从地址信号解调出与光盘10有关的地址数据,并向伺服处理器30和系统控制器32供给这样解调的地址数据。
所述地址信号的一个示例是摆动信号(wobble signal)。通过表示光盘10绝对地址的时间信息的调制信号,使光盘10的轨迹摆动。所得到的摆动信号从再现信号提取出来,并且这样提取的摆动信号被解码,以便能够获取地址数据(ATIP)。RF电路26将这样再现的RF信号供给到二值化电路(binarization circuit)34。二值化电路34将再现的RF信号二值化,并将作为结果而获取的信号馈送给编码器/解码器电路36。编码器/解码器电路36解调所述二值化的信号;校正经解调的信号中的误差,以便由此获取再现数据;并通过接口I/F 40将再现数据输出到诸如个人计算机的主机。当再现数据输出到主机时,编码器/解码器电路36在已经将再现数据暂时存储于缓冲存储器38之后将其输出。
当数据记录在光盘10上时,从主机发送的待记录的数据通过接口I/F40供给到编码器/解码器电路36。编码器/解码器电路36将待记录的数据存储在缓冲存储器38中;将待记录的数据编码;并将这样编码的数据馈送到写策略电路42。写策略电路42根据预定记录策略将经调制的数据转换成多脉冲信号(脉冲串);并将多脉冲信号作为记录数据供给到驱动器22。因为记录策略影响记录质量,记录策略通常固定于某个最优策略。功率已经由记录数据调制的激光束从光学拾取器16的LD发射,数据由此记录在光盘10上。记录数据之后,光学拾取器16发射再现功率的激光束,以便由此再现所记录的数据;并向RF电路26供给再现数据。RF电路26向二值化电路34供给再现信号,并将二值化的数据供给到编码器/解码器电路36。编码器/解码器电路36对经调制的数据进行解码,并对照缓冲存储器38所存储的记录数据校验这样解码的数据。校验的结果供给到系统控制器32。根据校验的结果,系统控制器32确定是否继续记录数据或执行切换操作。
系统控制器32控制整个系统的操作;具体地,执行OPC和ROPC。借助于OPC,通过逐步改变记录功率将测试数据试验性地写在光盘10的测试区域;再现试验性地写入的测试数据;并且测量再现数据的β值、γ值、调制程度、误差率等。选择使再现信号的质量如误差率等达到期望值的记录功率并取其为最优记录功率Po。系统控制器32控制驱动器22,以便实现所选择的记录功率Po。系统控制器32也执行ROPC。借助于ROPC,如上所述当通过记录激光束形成坑时所实现的水平B的值被采样,并且根据这样获取的水平B的值控制驱动器22,从而增加或减小记录功率。
通过把blu-ray作为光盘10的示例,以下描述待由系统控制器32执行的ROPC处理。
图8示出blu-ray的数据结构。数据在每记录单元块(RUB)的基础上管理。单个RUB包括2760个信道比特(cbs)的运行入区(Runin区);496×1932个信道比特的物理簇(Physical Cluster);和1104个信道比特的运行出区(Runout区)。物理簇是用户数据区域。在运行入区、物理簇和运行出区中,顶部运行入区设有APC区域。该APC区域对应于五个摆动(即,5×69个信道比特),APC通过使用这个区域来执行。这里,术语“APC”表示:通过计算电流(i)和光发射量(L)的之间的关系来调节使得可以获得想要的光发射量的驱动电流,因为激光二极管(LD)的光发射特性显示出温度相关性,并且光发射量即使在相同的驱动电流下也可以变化。通过利用APC区域来执行以下处理:借助于以各种方式改变驱动电流来检测光发射量;计算电流和光发射量之间的关系;并计算使得实现想要的光发射量的驱动电流。例如,在5mW和15mW驱动LD,通过位于LD附近的光接收元件(前监视器)检测此时所实现的光发射量;得知或校正LD的i-L特性。尽管如上所述已经确保了对应于五个摆动的APC区域,然而实际得知或校正i-L特性并不需要对应于五个摆动的APC区域大小,而APC区域的其余部分仍然保持未使用。
在本实施例中,对未使用的部分加以注意,并且通过利用APC区域中的未使用的其余部分来执行ROPC。例如,在APC区域的五个摆动周期之中,两个摆动周期用于APC;其余的三个摆动周期用于ROPC,等等。在blu-ray盘中,只出现具有2T到8T的数据长度(当包括同步信号时达9T的数据长度)的数据。然而,因为任意测试数据可以试验性地写在APC区域,具有大于9T的数据长度的测试数据,如具有50T的数据长度的测试数据等,当ROPC执行时被试验性地写入,从而检测水平B。
图2示出主要部分的配置,该部分在记录单元块RUB的APC区域中执行APC和ROPC。除了包括LD、象限光电检测器PD、物镜、物镜驱动电路(驱动电路用于在聚焦方向以及在跟踪方向产生驱动动作)等以外,光学拾取器16还具有用于驱动LD的驱动器(LDD)22和位于LD附近、检测LD的发射光量的前监视器(FMT)16b。前监视器16b将LD的发射光量转换成电信号并将该电信号输出到系统控制器32。
象限光电检测器检测从LD发射的激光束中光盘10所反射的光的量(返回光的量),并向低通滤波器LPF 44供给所检测的反射光的量。
低通滤波器44消除包含于反射光信号中作为噪声的高频分量;并将去除噪声的反射光信号供给到采样保持电路S/H 46。例如,所述高频分量包括:可归因于在记录数据期间所采取的记录策略的调制分量。在本实施例中,具有50T等的长数据长度的测试数据经历采样保持,并且,低通滤波器44的截止频率fc因此不需要设置为高水平。采样保持电路S/H 46使来自低通滤波器44的信号经历采样保持,以便由此检测反射光量的水平B;并将这样检测的水平B供给到系统控制器32。采样保持电路S/H 46的采样保持时序由编码器/解码器电路36给出。编码器/解码器电路36从格式器或时序发生器接收指示记录单元块RUB的APC区域的时序控制信号Tapc作为输入;并根据该信号确定APC区域的起始定时。编码器/解码器电路36向系统控制器32供给时序信号,通过该时序信号,APC在两个摆动周期内执行;并向系统控制器32和采样保持电路S/H 46供给两个摆动周期的结束定时信号,即ROPC起始定时信号。根据来自编码器36的ROPC起始定时信号,采样保持电路S/H 46使反射光的量经历采样保持,以便由此检测水平B。如上所述,水平B是在坑已形成并且反射光的量已变得稳定时所实现的值;并定义为自ROPC的起始定时以来、经过预定时间段之后所实现的值。
根据从格式器或时序发生器输出的时序信号,编码器/解码器电路36向驱动器22供给记录脉冲信号,以便在APC区域执行APC和ROPC。此外,供给驱动器22遵循预定记录策略的记录脉冲信号,以便在物理簇中记录用户数据。图3示出在记录用户数据时所使用的示例记录策略。所述记录策略包括顶部脉冲Ttop、后续多脉冲Tmp和最后脉冲Tlp。所述记录策略根据以下以各种方式变化:顶部脉冲Ttop的脉宽和脉冲电平(Pw)、多脉冲的个数和脉冲电平(Pb)、最后脉冲Tlp的脉宽和脉冲电平(Pw),以及在最后脉冲Tlp之后所实现的脉冲的脉宽(Ts)和脉冲电平(Pc)。尽管顶部脉冲Ttop、多脉冲Tmp和最后脉冲Tlp叠加在偏置电平Ps上,偏置电平Ps设置为再现电平或擦除电平。当待记录数据的长度是2T时,只存在顶部脉冲Ttop,而多脉冲Tmp和最后脉冲Tlp是不存在的。当待记录数据的长度是3T时,存在顶部脉冲Ttop和最后脉冲Tlp,而多脉冲Tmp是不存在的。当待记录数据的长度是nT(“n”是四或大于四)时,顶部脉冲Ttop、多脉冲Tmp和最后脉冲Tlp都存在,记录策略确定为
Ttop+(n-3)×Tmp+Tlp
当执行OPC时,记录策略可以固定或可以优化。
当应记录实际数据时,遵循以上记录策略来操作。然而,当执行APC时,基本要求是通过单个脉冲信号来驱动驱动器22。而且,当执行ROPC时,可以使用任意的策略,因为测试数据是试验性地写入的。在本实施例中,编码器/解码器电路36通过采用待在记录实际数据期间使用的记录策略试验性地写入测试数据,以便由此执行ROPC。这样,没有故障地确保了ROPC的有效性。具体地,为了记录具有50T长度的测试数据,通过遵照以上表达式定义为Ttop+47×Tmp+Tlp的记录策略试验性地写入测试数据。
响应于来自编码器/解码器电路36的时序信号,系统控制器32控制驱动器22以便在APC区域执行APC和ROPC。在ROPC中,执行以下的处理。具体地,首先在blu-ray测试区域执行OPC,以便由此设置最优记录功率Po,并且以所设置的最优记录功率Po试验性地写入具有50T长度的测试数据。此时所获取的反射光量的水平B(记作Bo)被检测并存储于存储器中。这样获取的记录功率Po和水平B的值Bo在理想记录条件下形成组合。在记录实际数据期间,对水平B的值进行采样,并且调节记录功率P以便使Bo/Pon=B/Pn变成常数。记录功率P也可以借助另一种方法通过这样获取的Po、Bo和B来调节。例如,B/Pn根据当前的记录功率P和所获取的水平B计算,并且将这样计算的B/Pn与Bo/Pon比较。根据比较结果,当前的记录功率P也可以增加或减小给定的量(例如,±0.2mW)。
图4示出APC和ROPC在APC区域中待执行的时序。APC区域100存在于记录单元块RUB的顶部,并且APC区域100分成两个区域;即,用于APC操作的区域(此后称作“APC操作区域”)和用于ROPC操作的区域(此后称作“ROPC操作区域”)。在APC操作区域,如所说明的,LD通过两个功率源P1和P2驱动。此时所发射的光的量通过前监视器16b检测,以便由此获取i-L特性。使得实现期望光发射量的驱动电流根据这样获取的i-L特性计算,并且LD通过这样计算的驱动电流驱动。LD的i-L特性在温度的影响下波动。因此,有必要在每RUB的基础上执行APC,以便由此总是校正或校准i-L特性。如上所述,具有50T的长度的测试数据记录在ROPC操作区域,并且在测试数据试验性写入期间反射光的量经历采样保持,以便由此检测水平B。作为采用具有50T的长度的测试数据的结果,反射光信号通过具有足够低的频带的低通滤波器44,由此,可以从多脉冲信号充分地去除噪声。例如,在66MHz的信道比特率的情况下,50T对应于0.76μs,由此,低通滤波器44的截止频率fc可以降低到1.32MHz的值。附图示出反射光的波形(返回光的波形),已经通过低通滤波器44的光的波形,以及采样保持电路S/H 46的采样保持时序波形。尽管记录策略的调制分量叠加在反射光的波形上,应理解调制分量已经通过低通滤波器44去除。
如上所述,ROPC在以预定频率出现的APC区域执行,数据在记录功率增加或减小的同时记录。如所说明的,在ROPC的执行期间,水平B也可以通过试验性地写入仅一次具有50T的长度的测试数据来检测。然而,当APC区域100对应于五个摆动周期,而三个摆动周期分配给ROPC时,可以确保3×69=207个信道比特。因此具有50T的长度的测试数据可以试验性地写四次而不是仅仅一次。从而,如在下述情况下,即当在预定测试区域执行OPC时逐步改变记录功率的情况下,具有50T的长度的测试数据也可以在以多步改变记录功率的同时试验性地写入,以便由此执行ROPC。
图5A到5C示出当通过以P4、P5、P6和P7的序列改变记录功率来试验性地写入具有50T的长度的测试数据时获取的时序图。图5A示出记录脉冲信号的波形,其中用来试验性地写入50T的测试数据的记录策略重复出现四次。图5B示出那时所反射的光(返回光)的波形,其中已经通过低通滤波器44的信号的波形在图中以实线表示。图5C示出采样保持电路S/H 46的采样保持时序。各包括记录功率和水平B的值的总共四组通过以下获取:执行总共四次用于试验性地写入50T的测试数据以及使反射光经历采样保持的处理。这些组记作(P4、B4)、(P5、B5)、(P6、B6)和(P7、B7)。为了利用这些组合来执行ROPC,反射比R=B/P被计算。具体地,R4=B4/P4、R5=B5/P5、R6=B6/P6以及R7=B7/P7通过计算确定。而且,反射比R和记录功率之间的关系表达式被计算。图6示出记录功率P和反射比R之间的关系。系统控制器32根据记录功率P和反射比R之间的关系计算f(Px,Rx)。理想反射比Ro根据OPC的执行期间所获取的理想关系(Po,Bo)计算。这个理想反射比Ro被代入关系表达式f(Px,Rx),以便能够获取对于待执行ROPC的位置理想的记录功率。ROPC处理概括如下。
(1)在blu-ray盘的测试区域执行OPC,并且以最优记录功率Po试验性地写入50T的测试数据,以便由此检测水平B。确定组合(Po,Bo),其是理想记录功率Po和水平B的值Bo的组合。
(2)根据(Po,Bo)确定理想反射比Ro=Bo/Po。
(3)当已经在APC区域执行APC之后,在以多步改变记录功率的同时重复多次试验性地写入50T的测试数据,并且检测每一次所实现的水平B,从而确定记录功率P和水平B的组合。
(4)根据记录功率和水平B的组合确定反射比R。
(5)计算记录功率和反射比之间的关系表达式f(Px,Rx)。
(6)根据理想反射比Ro和关系表达式“f”计算记录功率,从而增加或减小当前记录功率。
在本实施例中,因为ROPC在APC区域重复执行,记录功率可以总是调节到最优值。此外,通过利用具有长达50T长度的测试数据执行ROPC,因此也可以增加记录速度。
在本实施例中,在五个摆动周期中,两个摆动周期用于APC操作,其余的三个摆动周期用于ROPC操作。然而,可以进行任意的设置;例如,三个摆动周期分配给APC操作,其余两个摆动周期分配给ROPC操作,等等。用于APC操作的摆动周期与用于ROPC操作的摆动周期的比例也可以作适应性地改变,以适应每一个光盘或者甚至是单光盘情况下适应每一个半径位置。例如,在内轨,三个摆动周期分配给APC操作,两个摆动周期分配给ROPC操作。而在外轨,两个摆动周期分配给APC操作,三个摆动周期分配给ROPC操作。因为在内轨有完好地施加通过OPC所设置的最优记录功率Po的机会,五个摆动周期可以在内轨分配给APC而不涉及ROPC操作。ROPC的必要性通常随着到外轨的距离的增加而增加。因此,考虑到增强ROPC的执行精度,增加用于ROPC操作的摆动周期的比例是优选的。
图7示出ROPC操作区域与APC区域的比例的示例;即三种情况。比例“a”表示ROPC操作区域的比例固定到60%(即,五个摆动周期中的三个摆动周期)而与半径无关的情况。比例“b”表示,一直到某一半径位置r2,ROPC操作区域的比例是40%的情况。在较大半径位置,比例增加到60%。比例“c”表示这样的情况:一直到某一半径位置r1,ROPC操作区域的比例是0%,即只执行APC而不涉及ROPC;ROPC操作区域的比例随后在r1到r2的范围内随着半径位置而增加;并且在半径位置r2或更大的位置,ROPC操作的比例取值为100%;即只执行ROPC。比例“c”表示这样的情况:通过在至少一些区域利用APC区域来执行APC和ROPC,而不是在光盘10的所有区域总是执行APC和ROPC。
在本实施例中,在ROPC的执行期间,通过利用B/P或B/P2增加或减小记录功率。然而,B/Pn(“n”是1或1以上的实数)也可以更一般地使用,以便由此增加或减小记录功率。
图15再次示出blu-ray盘的数据结构。保护区域设有预定重复比特模式区域(predetermined iterative bit pattern area)和APC区域。保护区域对应于八个摆动周期(8×69个信道比特)这些周期中的三个摆动周期分配给这个重复比特模式区域。其余的五个摆动周期分配给APC区域。尽管五个摆动周期保证用于APC区域,实际得知或校正i-L特性并不需要所述五个摆动周期。分配给APC区域的周期中的其余周期仍保持未使用。而且,因为在RUB的顶部运行入区域中也提供了APC区域,保护区域中的APC区域就不必要使用。在这种情况下,所有五个摆动周期都仍然保持为未使用区域。
如上所述,在本实施例中,对数据记录的中断期间所记录的保护区域中的重复比特模式区域之后的APC区域加以注意。通过回顾方法对其进行引用的评估参数和记录功率之间的关系通过利用APC区域来获取。具体地,在数据记录的中断之后,评估紧接着在之前所记录的数据的质量,并且,记录功率和评估参数之间的关系通过利用APC区域来计算。通过利用紧接着在之前所记录的数据的质量和所计算的关系来增加或减小当前记录功率。记录功率和评估参数之间的关系在数据的记录已经中断的区域而不是在执行OPC的测试区域计算。从而,记录功率可以精确地调节。
图9示出主要部分的配置,该部分调节包括于记录单元块RUB的保护区域中的APC区域的记录功率。除了具有LD、象限光电检测器PD、物镜,物镜驱动电路(驱动电路用于在聚焦方向以及在跟踪方向产生驱动动作)等以外,光学拾取器16还具有驱动器(LDD)22。
来自象限光电检测器的差信号(内轨信号和外轨信号之间的差信号)作为再现信号和摆动信号被提供到包括PLL电路的再现系统电路(二值化电路)34以及编码器/解码器电路36的解码器36b。来自象限光电检测器的和信号(由内轨信号和外轨信号组成的和信号)被供给到低通滤波器和均衡器141。高频噪声从和信号中去除,并且该信号的预定频率分量被提升且弄平。随后,和信号被供给到峰值保持电路143、平均值电路144、和底部保持电路146。
峰值保持电路143检测和信号的峰值电平,并将这样检测的峰值电平输出到采样保持电路(S/H)148。平均值电路144检测和信号的平均值,并将这样检测的值输出到采样保持电路150。底部保持电路146检测和信号的底部电平,并将所检测的底部电平输出到采样保持电路152。
采样保持电路148检测峰值电平;采样保持电路150检测平均值电平;采样保持电路152检测底部电平。这样采样保持的电平供给到系统控制器32。采样保持电路148、150和152的采样时序根据再现系统电路34的PLL电路所获取的时钟信号确定。
根据来自格式器或时序发生器的OPC时序信号,编码器/解码器电路36的编码器36a接收时序信号Topc,其表示在数据记录的中断之后待记录的保护区域(Guard 3)的重复比特模式区域之后的APC区域。为了计算记录功率和评估参数之间的关系,记录功率逐步改变的记录脉冲信号被生成并被供给到驱动器22。根据该记录脉冲信号,驱动器22在保护区域的APC区域中试验性地写入测试数据。这样试验性地写入的测试数据的再现信号供给到再现系统电路34和解码器36b,信号在这里被解调;解调的信号供给到系统控制器32。系统控制器32评估经解调的数据,从而计算记录功率和评估参数之间的关系。例如评估以相应记录功率水平试验性地写入的测试数据的β值,以便由此计算记录功率和β值之间的关系。通过使用紧接着在之前所记录的数据的β值以及记录功率和β值之间的关系,记录功率得以计算,通过该记录功率得到最初获取的目标β值,从而增加或减小记录功率。具体地,系统控制器32根据以下所提供的过程调节记录功率。
(1)先于数据记录,在光盘10的测试区域(PCA)中执行OPC,并设置最优记录功率Po。
(2)以最优记录功率Po记录数据。
(3)当数据记录达到预定记录长度时,当数据只记录了一预定时间段时,当检测到温度的预定增加水平时,或当已经发生缓冲器的欠载运行(under-run)时,中断数据记录。
(4)在保护区域中记录重复比特模式,并且在保护区域的APC区域中逐步改变记录功率,从而试验性地写入测试数据。
(5)在完成数据的试验性写入之后,再现紧接着在记录操作的中断之前所获取的数据的任意部分,并且评估这样再现的数据部分的质量(例如,β值)。
(6)再现试验性地写入的测试数据,并且评估所再现的数据的质量,从而计算记录功率和评估参数之间的关系。
(7)根据在(6)中所执行的计算的结果或(5)和(6)之间存在的关系,调节当前记录功率。
图10示出记录脉冲信号(或由LD所发射的光的模式),其被用于在记录操作中断之后待记录的保护区域(Guard 3)的APC区域中试验性地写入测试数据。在图10中,记录功率分五步改变:功率(0.7Po),其相对于当前记录功率Po减小30%;功率(0.85Po),其相对于当前记录功率Po减小15%;功率(1.15Po),其相对于当前记录功率Po增加15%;以及功率(1.3Po),其相对于当前记录功率Po增加30%。一个功率水平分配给五个摆动周期中的一个摆动周期,测试数据被试验性地写入。在第一摆动周期中,记录功率是0.7Po。在第二摆动周期中,记录功率是0.85Po,等等。测试数据可以是随机的或具有预定长度。在附图中,有具有最短长度的数据和具有最大长度的数据的重复模式。
图11A到11D示出当图10所示的测试数据已经试验性地写入的时候所获取的再现信号的波形。图11A示出测试数据的和信号的波形;图11B示出由于峰值保持电路43已经检测到和信号的波形的峰值而获取的波形;图11C示出由于平均值电路44已经检测到和信号的波形的平均值而获取的波形;以及,图11D示出由于底部保持电路46已经检测到和信号的波形的底部而获取的波形。再现信号的β值定义为β=(A-B)/(A+B),假定RC耦合的再现信号的峰值电平记作A,RC耦合的再现信号的底部电平记作B。通过利用这些值,系统控制器32为每一个记录功率计算β值,并将这样计算的β值存储到存储器。解码器36b将时序(测试数据的再现时序)发送到系统控制器32,系统控制器32根据时序信号为每一个记录功率计算β值。
图12示出一个曲线图,其中绘出了针对分五步改变的相应功率水平(记作P1到P5)所计算的β值(记作β1到β5)。系统控制器32通过利用(P,β)的这些组来计算关系表达式β=f(P)。将目标β值βm代入该关系表达式,从而计算目标记录功率Pm并增加或减小当前记录功率。
同时,图12所示的β1到β5的检测在一个短时间段内执行。因此,依赖于诸如峰值保持电路43等的检测电路的时间常数,会出现偏差。所以,如图13所示,假设在关系表达式β=f(P)中已经出现偏差,系统控制器32设置β=f(P)+α(α是常数);并将通过紧接着在记录操作之前所记录的数据的再现所获取的(P,β)的组代入这样设置的表达式,以便由此计算α。作为目标β值βm被代入该关系表达式的结果,计算出目标记录功率Pm,以便由此增加或减小当前记录功率。当然,β值是示例评估参数。通常当评估参数记作Q时,基本要求是:将Q=f(P)+α定义为记录功率和评估参数之间的关系,并根据紧接着在数据记录中断之前所获取的数据的评估参数Qo和功率Po来确定偏差α。
系统控制器32也可以通过另一种方法调节记录功率。例如,会出现一种情况,其中记录功率的突然改变导致再现期间出现错误。从而,通过利用某一系数“k”,也可以将记录功率设置在紧接着在数据记录中断之前所实现的记录功率Po与由上述方法所计算的记录功率Pm之间。具体地,记录功率通过P=Po+k(Pm-Po)Po设置。
如上所述,在本实施例中,在发生中断的区域中所实现的记录功率与评估参数(β值等)之间的关系在数据记录中断时计算。记录功率根据所述关系调节,因此,提高了记录功率的调节精度。此外,先前在数据记录的中断时所保证的保护区域被用作这样的区域:其将用于计算记录功率和评估参数之间的关系。因此光盘10的记录容量也不会减小。
尽管对本发明的实施例已经作了上述描述,本发明并不限于所述实施例,且易于改变为其它形式。
例如在本实施例中,如图9和11中所示,诸如峰值保持电路143等的模拟检测电路检测和信号,并将这样检测的和信号供给到系统控制器32,然而,如图14所示,A/D转换器154也可以将和信号转换成数字信号;将数字信号供给到系统控制器32;并通过系统控制器32检测峰值和底部值,从而计算β值。
而且,在本实施例中,在保护区域中的APC区域通过利用全部五个摆动周期试验性地写入测试数据。然而,APC区域中的五个摆动周期中的任意周期也可以用作待试验性地写入测试数据的区域。该区域的大小也可以是固定的或变化的。当所述区域的大小可变时,优选地进行如此设置,以便使所述区域的大小根据调节记录功率的需要循序变大。例如在光盘10的内轨,通过只利用三个摆动周期功率只以三步改变功率。在光盘10的外轨,通过利用全部摆动周期功率以五步改变功率。这样,根据光盘10上的半径位置可变地调节所述区域的大小。可替选地,也可以根据光盘10的类型可变地调节待试验性地写入测试数据的区域的大小。当只三个摆动周期用于试验性地写入测试数据时,两个其余的摆动周期可用于作为最初目的的APC。
Claims (20)
1.一种光盘驱动器,用于针对每个预定记录块来记录数据,其中:
所述记录块包括用户数据区域;
所述光盘驱动器包括:
用于辐射记录激光束的照射装置;以及
控制器,其在所述记录块的非所述用户数据区域的预定区域辐射所述记录激光束,以便由此试验性地写入具有预定长度的测试数据,并且,其根据在试验性写入期间所实现的反射光的量来调节所述记录激光束的功率;并且,
所述记录激光束的功率在数据记录期间针对每个预定记录块重复调节。
2.根据权利要求1的光盘驱动器,其中非所述用户数据区域的预定区域是用于调节功率的APC区域。
3.根据权利要求2的光盘驱动器,其中所述控制器通过利用所述APC区域中用于计算电流和光发射量之间的关系的区域的其余部分试验性地写入具有预定长度的数据。
4.根据权利要求1的光盘驱动器,其中所述预定长度比待记录的数据的规定长度长。
5.根据权利要求1的光盘驱动器,其中用于所述测试数据的记录策略与用于待记录的数据的记录策略相同。
6.根据权利要求1的光盘驱动器,其中当所述测试数据是试验性数据时,所述控制器根据水平B的值来调节所述记录激光束的功率,所述水平B是当反射光的量由于坑的形成而变得稳定时所反射的光的量。
7.根据权利要求6的光盘驱动器,其中所述控制器根据当试验性地写入所述测试数据时所获取的记录激光束的功率P以及所述水平B的值B来计算B/Pn(“n”是1或1以上的实数),并根据B/Pn来调节所述记录激光束的功率。
8.根据权利要求6的光盘驱动器,其中,所述控制器试验性地写入所述测试数据以便由此改变所述记录激光束的功率,并根据相关于所述记录激光束的功率的水平B的值来调节所述记录激光束的功率。
9.根据权利要求3的光盘驱动器,其中所述APC区域中的其余区域的比例针对每个光盘可变地调节。
10.根据权利要求3的光盘驱动器,其中所述APC区域中的其余区域的比例根据光盘上的半径位置可变地调节。
11.一种光盘驱动器,用于针对每个预定记录块来记录数据,其中:
所述记录块包括用户数据区域;
所述光盘驱动器包括:
用于辐射记录激光束的照射装置;以及
控制器,其通过在记录数据期间中断数据记录来调节记录功率;并且,
所述控制器通过当数据记录中断时改变所述记录块的非所述用户数据区域的预定区域中的功率来试验性地写入测试数据,并根据通过再现试验性地写入的测试数据所获取的信号的质量与功率之间的关系来调节所述激光束的功率。
12.根据权利要求11的光盘驱动器,其中所述控制器评估紧接着在中断之前所记录的数据的质量,并根据紧接着在中断之前所记录的数据的质量,以及根据由于再现试验性地写入的测试数据而获得的信号的质量与功率之间的关系来调节所述激光束的功率。
13.根据权利要求11的光盘驱动器,其中非所述用户数据区域的预定区域是运行出区域之后的保护区域。
14.根据权利要求13的光盘驱动器,其中非所述用户数据区域的预定区域是APC区域,其设置在所述保护区域中,用于调节功率。
15.根据权利要求11的光盘驱动器,其中所述控制器在数据已经记录到预定长度或仅记录了记录时间段的时间点中断数据记录。
16.根据权利要求11的光盘驱动器,其中所述控制器在已经检测到预定温度变化量的时间点中断数据记录。
17.根据权利要求11的光盘驱动器,其中所述控制器在已经检测到缓冲器欠载运行的时间点中断数据记录。
18.根据权利要求12的光盘驱动器,其中所述控制器将由再现试验性地写入的测试数据而得到的信号的质量Q与该信号的功率P之间的关系计算为Q=f(p)+α,α为预定偏差,并通过利用紧接着在数据记录中断之前已经实现的数据的信号质量Qo和功率Po来计算所述偏差α。
19.根据权利要求11的光盘驱动器,其中所述APC区域中待试验性地写入所述测试数据的区域的大小根据光盘类型可变地调节。
20.根据权利要求11的光盘驱动器,其中所述APC区域中待试验性地写入所述测试数据的区域的大小根据光盘上的半径位置可变地调节。
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