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CH676898A5 - - Google Patents

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Publication number
CH676898A5
CH676898A5 CH328688A CH328688A CH676898A5 CH 676898 A5 CH676898 A5 CH 676898A5 CH 328688 A CH328688 A CH 328688A CH 328688 A CH328688 A CH 328688A CH 676898 A5 CH676898 A5 CH 676898A5
Authority
CH
Switzerland
Prior art keywords
block
test head
head according
contact
holes
Prior art date
Application number
CH328688A
Other languages
German (de)
English (en)
Inventor
Rolf Grimm
Original Assignee
Microcontact Ag
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Microcontact Ag filed Critical Microcontact Ag
Priority to CH328688A priority Critical patent/CH676898A5/de
Priority to JP50608889A priority patent/JPH03501056A/ja
Priority to EP19890906694 priority patent/EP0387311A1/de
Priority to PCT/CH1989/000112 priority patent/WO1990002954A1/de
Publication of CH676898A5 publication Critical patent/CH676898A5/de

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/06Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067Measuring probes
    • G01R1/073Multiple probes
    • G01R1/07307Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
    • G01R1/07314Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card the body of the probe being perpendicular to test object, e.g. bed of nails or probe with bump contacts on a rigid support
    • G01R1/07328Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card the body of the probe being perpendicular to test object, e.g. bed of nails or probe with bump contacts on a rigid support for testing printed circuit boards

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Measuring Leads Or Probes (AREA)
CH328688A 1988-09-02 1988-09-02 CH676898A5 (da)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CH328688A CH676898A5 (da) 1988-09-02 1988-09-02
JP50608889A JPH03501056A (ja) 1988-09-02 1989-06-12 マルチプレックス・ガイド・ブロック全体を使用してのマイクロ・コンタクト針とマイクロ・スプリングのガイドとアイソレーション及びマルチプレックス・ガイド・ブロックの製造方法
EP19890906694 EP0387311A1 (de) 1988-09-02 1989-06-12 Führung und isolierung von mikrokontaktdornen und -federn mit hilfe von ganzen mehrfachführungsblöcken und verfahren zur herstellung dieser mehrfachführungsblöcke
PCT/CH1989/000112 WO1990002954A1 (de) 1988-09-02 1989-06-12 Führung und isolierung von mikrokontaktdornen und -federn mit hilfe von ganzen mehrfachführungsblöcken und verfahren zur herstellung dieser mehrfachführungsblöcke

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CH328688A CH676898A5 (da) 1988-09-02 1988-09-02

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CH676898A5 true CH676898A5 (da) 1991-03-15

Family

ID=4252697

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CH328688A CH676898A5 (da) 1988-09-02 1988-09-02

Country Status (4)

Country Link
EP (1) EP0387311A1 (da)
JP (1) JPH03501056A (da)
CH (1) CH676898A5 (da)
WO (1) WO1990002954A1 (da)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1999049325A1 (en) * 1998-03-24 1999-09-30 Nit Systems Ltd. Automatic fixture building for electrical testing
CN114207952A (zh) * 2020-07-14 2022-03-18 株式会社村田制作所 检查用探针装置和连接器检查方法

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1992003741A1 (de) * 1990-08-13 1992-03-05 Mania Gmbh & Co. Federkontaktfeldkörper für ein verdrahtungsträger-/leiterplattenprüfgerät
US5414369A (en) * 1992-11-09 1995-05-09 Nhk Spring Co., Ltd. Coil spring-pressed needle contact probe modules with offset needles
DE4323276A1 (de) * 1993-07-12 1995-01-19 Mania Gmbh Vollmaterialadapter
JP4660864B2 (ja) * 1999-01-19 2011-03-30 イビデン株式会社 導通検査装置
JP4655392B2 (ja) * 2001-03-16 2011-03-23 イビデン株式会社 導通検査治具及びその製造方法

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1790052B1 (de) * 1968-09-02 1972-01-13 Siemens Ag Kontaktvorrichtung zum abtasten von kontaktstellen
DE2839982C2 (de) * 1978-09-14 1984-01-05 Feinmetall Gmbh, 7033 Herrenberg Federnder Kontaktbaustein
US4463310A (en) * 1980-07-11 1984-07-31 Rca Corporation Apparatus for detecting the presence of components on a printed circuit board

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1999049325A1 (en) * 1998-03-24 1999-09-30 Nit Systems Ltd. Automatic fixture building for electrical testing
CN114207952A (zh) * 2020-07-14 2022-03-18 株式会社村田制作所 检查用探针装置和连接器检查方法
CN114207952B (zh) * 2020-07-14 2023-11-03 株式会社村田制作所 检查用探针装置和连接器检查方法

Also Published As

Publication number Publication date
JPH03501056A (ja) 1991-03-07
EP0387311A1 (de) 1990-09-19
WO1990002954A1 (de) 1990-03-22

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