CH567721A5 - Monitor sensing variations in flow in fluid path - measuring beam radiated alternately through medium and reference medium - Google Patents

Description

  
 



   Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zur Überwachung des Schwebeteilgehaltes in einem längs eines Strömungsweges strömenden Medium unter Verwendung ortsfesten Strahlungsabsorptionsmesseinrichtung mit im Strömungsweg laufendem Messstrahlengang sowie eine Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens mit einer Strahlenquelle und einem Strahlenempfänger, welcher Strahlenempfänger in Abhängigkeit der auftreffenden Strahlenintensität ein Anzeigegerät steuert.



   Es ist bekannt (US-Patent   2047592    vom 20.08.1932) in einem in einer Leitung strömenden Medium die darin mitgeführten Schwebeteile mittels einer Strahlenabsorptionsmesseinrichtung zu überwachen, wobei der Strahlengang dieser Messeinrichtung quer durch diese Leitung hindurchgeführt wird. Dabei ist es unvermeidlich, dass im Bereich des Strahlenganges die Leitung selbst aus strahlendurchlässigem Material hergestellt oder mit strahlendurchlässigen Fenstern versehen ist. Daraus resultiert der Nachteil, dass durch eine Ablagerung von Schwebeteilchen diese strahlendurchlässigen Stellen zunehmend getrübt und die Messwerte verfälscht werden.



   Um diesen Nachteil zu beseitigen, wurde vorgeschlagen,   (OS    1 908 072 vom 10.12. 1970) die von der Strahlenquelle ausgehende Strahlung durch eine entsprechende optische Einrichtung in zwei Strahlengänge aufzuteilen, wobei der eine Strahlengang der eigentlichen Messung in einem Gaskanal dient, während ein anderer Strahlengang zur periodischen Eichung des Gerätes mit einer Referenzgasprobe herangezogen wird. Nach einem weiteren Vorschlag (DBP 1 623 071 3. 02.1967) wird zur periodischen Eichung des Gerätes vor der eigentlichen, im zu kontrollierenden Gasstrom angeordneten Messstrecke des Strahlenganges ein Referenzreflektor in diesen hineingeschwenkt.

  Beide Vorschläge sind indessen mit dem Nachteil verbunden, dass keine Gewähr besteht, dass die optischen, für die periodische Eichung notwendigen Einreichungen gleich wie jene der eigentlichen Messstrecke ver   schmutzen,    so dass die Genauigkeit der Eichung nicht gewährleistet ist.



   Die Erfindung will bei der Überwachung des Schwebeteilgehaltes in einem strömenden Medium mit einer Strahlenabsorptionsmesseinrichtung die Eichung der Messeinrichtung so gestalten, dass Veränderungen im optischen System während des Betriebes ausgeschaltet werden.



   Erfindungsgemäss wird dieser Zweck dadurch erreicht, dass der Messstrahlengang alternierend durch das erwähnte Medium oder ein Referenzmedium verläuft und jedesmal die Strahlenabsorption gemessen wird, und dass bei jeder Referenzmediummessung die Strahlungsintensität auf der Strahlenempfängerseite des   M essstrahlenganges    automatisch auf einen bestimmten konstanten Wert eingestellt wird.



   Zur Durchführung des erfindungsgemässen Verfahrens ist vorgesehen, dass ein sich wenigstens über einen Teil der Messstrecke des Strahlenganges erstreckendes, strahlendurchlässiges Element in die Messstrecke einschaltbar gelagert ist, dass ein Antrieb vorgesehen ist, um das Element abwechselnd in die Messstrecke bzw. aus dieser heraus zu bewegen, dass eine die Strahlenquelle steuernder, vom Strahlenempfänger über einen ersten Speicher und einem Festwertgeber betätigter Regler vorgesehen ist, um die Strahlenintensität auf den genannten konstanten Wert einzustellen, wenn das Element in der Messstrecke liegt, dass eine Umschaltanordnung vorgesehen ist, welche den Strahlenempfänger mit einem Anzeigegerät verbindet, wenn sich das Element ausserhalb der Messstrecke befindet, und dass eine Programmsteuerung zur Steuerung des Antriebs, des Reglers und der Umschaltanordnung vorgesehen ist.



   Anhand der beiliegenden schematischen Zeichnung wird die Erfindung beispielsweise erläutert. Es zeigen:
Fig. 1 eine Explosionsdarstellung eines Vorrichtungsausführungsbeispieles in der Messstellung, wobei Teile weggelassen sind,
Fig. 2 eine gleiche Darstellung wie Fig. 1, wobei sich das Vorrichtungsausführungsbeispiel in der Eichstellung befindet,
Fig. 3 einen Schnitt längs der Linie III-III nach Fig. 1,
Fig. 4 eine Ansicht in Richtung des Pfeiles IV nach Fig. 2,
Fig. 5 einen Schnitt längs der Linie V-V nach Fig. 4,
Fig. 6 eine Draufsicht auf das Vorrichtungsbeispiel nach den Fig. 1 und 2, wobei dieses in eine Luftleitung eingebaut ist,
Fig. 7 ein Steuerschema zum Vorrichtungsbeispiel nach den Fig. 1 bis 6.



   Die in der Zeichnung dargestellte Vorrichtung weist eine Strahlenquelle 1 und einen Strahlenempfänger 2 auf, welche nebeneinander angeordnet sind. Zur Bildung einer Messstrekke 3 für den Strahlengang führt die von der Strahlenquelle 1 ausgesandten Strahlen über ein Prisma 4, wo eine Umlenkung um   1800    erfolgt, so dass die Strahlen auf den neben der Strahlenquelle liegenden Strahlenempfänger 2 auftreffen. Als Strahlenquelle 1 kann eine Lichtquelle, eine Infrarotquelle oder vgl. verwendet werden. Entsprechend der in der Messstrecke erzeugten Strahlen ist der Strahlenempfänger zu wählen, der im dargestellten Ausführungsbeispiel ein Phototransistor ist, der eine von der   auftreffenden-Strahlenintensität    abhängige elektrische Spannung erzeugt.

  Die Vorrichtung weist zwei axial ausgerichtete Lagerschalen 5 und 6 auf, in denen eine Achse 7 drehbar gelagert ist. Auf der Achse 7 sind zwei Kreisplatten 8 und 9 drehfest angeordnet. Die Kreisplatte 9 ist in der Lagerschale 6 und die Kreisplatte 8 in der Lagerschale 5 drehbar gelagert. Die Kreisplatte 9 umschliesst mit der Lagerschale 6 einen Hohlraum 10, 11, bestehend aus einer oberen Hohlraumhälfte 10 und einer unteren Hohlraumhälfte
11, welche durch eine Rippe 12 voneinander getrennt sind. In der unteren Hohlraumhälfte ist das Lagergehäuse 6 mit im Strahlengang 3 liegenden, durch Fenster 13 abgeschlossenen  Öffnungen versehen, wobei die Fenster 13 im Bereich einer erhabenen Fläche 14 liegen. Die Kreisplatte 9 ist gleich ausgebildet wie die Kreisplatte 8.

  Jede der Kreisplatte 8 bzw. 9 weist auf der dem Lagergehäuse 5 bzw. 6 zugewandten Seite eine Vertiefung 15 auf die durch eine Rippe 16 in zwei Hälften geteilt ist (in der Zeichnung nur bei der Kreisplatte 8 sichtbar).



  In jeder der beiden Hälften der Vertiefung 15 sindje zwei Öffnungen 17 bzw. 17' angeordnet. Der radiale Abstand der Öffnungen 17, 17' von der Achse 7 ist gleich dem radialen Abstand der Messstrecke 3 von der Achse 7. Die gegenseitige Entfernung zwischen den Öffnungen 7 bzw. 17' ist gleich dem Abstand der beiden Hälften der Messstrecke 3, so dass, wie in
Fig. 1 gezeigt, die Öffnungen 17' und danach die Öffnungen
17 (Fig. 2) in die Messstrecke 3 gedreht werden können. Die  Öffnungen 17 sind durch Rohre 18 miteinander verbunden.



   Sind die Rohre 18 in die Messstrecke 3 geschwenkt, so liegt die
Messstrecke in einem gegen die Umgebungsatmosphäre abgeschlossenen Raum. Auf der den Lagergehäusen 5 bzw. 6 zugewandten Seiten der Kreisplatten 8 und 9 ist jede Öffnung 17' von einer Ringrippe 19 umgeben. Die Ringrippe 19 ist mit in
Sehnenrichtung orientierten Schlitzen 20 (Fig. 4 und 5) ver sehen. Das Lagergehäuse 5 ist mit zwei durch Fenster 21 abge schlossenen Öffnungen 22 versehen, durch welche der Strah lengang 3 hindurchgeführt ist. An die Fenster 21 schliesst das den Strahlengang 3 umlenkende Prisma 4 an. Das Lagerge häuse 5 ist mit einer Ausnehmung 23 versehen, die zusammen mit der Vertiefung 15 in der Kreisplatte 8 einen zusammen hängenden Hohlraum bildet. Die Ringrippen 19 an der Kreis platte 8 ragen in diesen Hohlraum 15, 23 hinein und enden unmittelbar vor den Fenstern 21. 

  Entsprechend ragen die nicht sichtbaren, die Öffnungen 17' umgebenden Ringrippen an der Kreisplatte 9 in die untere Hohlraumhälfte 11 hinein,  wo sie kurz vor den Fenstern 13 enden. Die obere Hohlraumhälfte 10 ist mittels einem Stutzen 24 und die untere Hohlraumhälfte 11 mittels einem Stutzen 24' mit einer nicht dargestellten Referenzgasquelle verbunden. Ist die Vorrichtung in der in Fig. 1 gezeigten Messstellung so strömt das Referenzgas aus der oberen Hohlraumhälfte 10 durch die Rohre 18 in den Hohlraum 15, 23 und tritt aus diesem Hohlraum 15, 23 durch die Öffnung 17' der Kreisplatte 8 aus. Dabei entsteht in den Öffnungen 17', bedingt durch die Schlitze 20, ein Referenzgaswirbel, dessen saugende Wirkung allfällige Staubablagerungen auf den Fenstern 21 beseitigt.

  Das durch den Stutzen 24' in die untere Hohlraumhälfte 11 strömende Referenzgas tritt durch die Öffnung 17' der Kreisplatte 9 aus, wobei auch hier, bedingt durch die Schlitze 20, in den Öffnungen 17' ein Referenzgaswirbel entsteht, der die Fenster 13 von einem allfälligen Staubniederschlag reinigt. Auf der Achse 7 ist nebst den Kreisplatten 8 und 9 ein Ritzel 25 drehfest aufgesetzt, welches mit einem Ritzel 26 kämmt, das auf die Abtriebwelle 27 eines Schrittmotors 28 fest aufgesetzt ist. Bei einer Drehung des Schrittmotors 28 dreht die Welle 7 abwechslungsweise die Rohre 18 und die Öffnungen 17' der Kreisplatten 8 und 9 in den Strahlengang 3.



   Fig. 6 zeigt eine Draufsicht auf die Vorrichtung nach den Fig. 1 und 2 in zusammengebautem Zustand, wobei die Vorrichtung in eine Luftleitung 43 eingebaut ist. Die Luftleitung 43 wird von der auf ihren   Staübgehalt    zu überwachenden
Luft, welche z.B. die aus einer Entstaubungsanlage austretende Sauberluft sein kann, in Richtung der eingezeichneten Pfeile durchströmt. Die Messstrecke 3 führt von der Strahlenquelle 1, welche in einem Antriebsgehäuse 44 angeordnet ist, durch ein Zwischen- oder Isolationsgehäuse 45 in die Luftleitung 43 und vom Prisma 4 zurück zum Strahlenempfänger 2, der ebenfalls im Antriebsgehäuse 44 untergebracht ist.

  Beim
Betrieb der Vorrichtung werden die Kreisplatten 8 und 9 schrittweise um   180     gedreht, derart, dass wechselweise die
Messstrecke 3 vom Referenzgas in den Rohren 18 und von der zu überwachenden Luft durchströmt wird.



   Die Strahlenquelle 1, der Strahlenempfänger 2 und der Schrittmotor 28 sind Teile einer in Fig. 7 im einzelnen beschriebenen Schaltanordnung. Am Ritzel 25 ist eine Schaltnocke 30 befestigt, welche mit einem Schaltelement 31 zusammenwirkt, das beim Schliessen ein Auslösesignal an eine
Programmsteuerung 32 abgibt, welche danach das eine Mes sung und eine Eichung umfassende Schaltprogramm auslöst.



   Befinden sich die Rohre 18 im Strahlengang 3 (Fig. 2), so wer den sie durch den Stutzen 24' und die untere Hohlraumhälfte
11 mit dem Referenzgas   durchströmt.    In dieser Lage der
Rohre 18 betätigt die Schaltnocke 30 das Schaltelement 31, das an die Programmsteuerung einen Befehlsimpuls zum Eichen der Vorrichtung erzeugt. Die Programmsteuerung 32 schliesst über ihren Eichausgang E die beiden Schaltelemente
33 und 34 und schliesst damit einen Regelkreis 35, umfassend die Strahlenquelle 1 und den Strahlenempfänger 2, die Schalt elemente 33 und 34, einen Integrator 36, einen ersten Ver stärker 37, einen zweiten Verstärker 38, einen ersten Speicher
Sl mit einer Alarmeinrichtung Al und einen Regler R sowie einen zugeschalteten Festwertspeicher So. Gleichzeitig stoppt die Programmsteuerung 32 über eine Leitung 39 den Schritt motor 28.

  Im Empfänger 2 entsteht nun ein Strom, dessen
Spannung von der Strahlenabsorption durch die Reinheit des
Referenzmediums und/oder durch die Reinheit der Scheiben
13 und 21 und/oder durch die Alters- und Betriebsbedingun gen der optoelektrischen Elemente 1 und 2 beeinflusst ist. Die
Strahlendurchlässigkeit des Referenzgases ist zur Reproduzier barkeit der Eichung konstant.



   Diese Spannung wird im Integrator 36 geglättet und mit einer im Festwertspeicher So erzeugten Referenzspannung verglichen. Eine durch diesen Vergleich der von So vorgegebenen und am Ausgang des Integrators 36 vom Empfänger 2 verarbeitet abgegebenen Spannungen erzeugte Differenzspannung wird in den Verstärkern 37 und 38 verstärkt und über den ersten Speicher Sl dem Regler R zugeführt. Je nach der Polarität der diesem Regler R zugeführten Spannung bewirkt der Regler R eine Veränderung der an die Strahlenquelle gelegten Spannung und damit der von dieser emittierten Strahlung solange, bis die Differenz der vom Integrator 36 abgegebenen und der vom Festwertspeicher So vorgegebenen Spannungen auf einen bestimmten vernachlässigbar kleinen Wert zurückgeht.

  Bei Erreichen der genannten Differenzspannung, die durch die Verstärker 37 und 38 dem Regler R zu dessen Nachführung zugeführt wird, wird am Ende dieser als  Eichen  bezeichneten Programmstufe die für den Betrieb der Strahlenquelle erforderliche Einstellung des Reglers R im ersten Speicher Sl festgehalten. Diese festgehaltene Regler Einstellung dient in der nachfolgenden Programmstufe  Messen  dem entsprechend geeichten Betrieb der Strahlenquelle 1, d.h. beim Messen übernimmt der erste Speicher   S1    eine Stellgrössenfunktion auf den Regler R.



   Nach der Programmstufe  Eichen  öffnet die Programmsteuerung 32 die Schaltelemente 33 und 34 und erteilt dem Schrittmotor 28 eine bestimmte Anzahl Impulse, so dass sich dieser soweit dreht, bis die nicht durch Rohre verbundenen Öffnungen 17' der Kreisplatten 8 und 9 (Fig. 1) im Strahlengang 3 liegen. In dieser Messstellung erteilt die Programmsteuerung 32 über den Messausgang M einen Schliessbefehl an die Schaltelemente 33 und 40, wddurch ein Messkreis 41 geschlossen wird, dem nebst dem Empfänger 33, dem Schaltelement 33, dem Integrator 36 und dem ersten Verstärker 37 ein zweiter Speicher S2 mit mit einer Alarmeinrichtung A2 zugeordnet ist. Dem zweiten Speicher S2 ist eine Schwellenwerteinstellung 42 zugeordnet.

  Fällt die Spannung des dem zweiten Speicher S2 zugeführten Stromes unter den an der Schwellenwerteinstellung 42 vorgewählten Spannungsschwellwert, so erzeugt die Alarmvorrichtung A2 ein akustisches und/ oder optische Singal, welches anzeigt, dass der Staubgehalt in der zu überwachenden Luft zu hoch liegt. Danach steuert die Programmsteuerung 32 erneut den Schrittmotor an; dieser läuft nun bis erneut die Rohre 18 in den Strahlengang (Fig. 2) gelangen, worauf die Schaltnocke 30 erneut den Eichfall an die Programmsteuerung 32 erteilt, worauf sich der beschriebene Arbeitsablauf wiederholt.



   Weicht bei erneutem Eichen die am Ausgang des Integrators 36 anliegende verarbeitete Spannung des Empfängers 2 aufgrund unveränderter Strahlung der Strahlungsquelle 1 gegenüber der vorangehenden Eichung von der vom Festwertspeicher SO vorgegebenen Spannung ab, dann sind im optoelektrischen System vom ersten Speicher   S1    über den Regler R, die Strahlenquelle 1, die Referenzmediumstrecke 3   4' und    den Empfänger 2 Veränderungen aufgetreten. Kleinere Ver änderungen können durch alters- oder betriebsbedingte Ver änderungen der optoelektrischen Elemente, durch Verschmutzungen dieser Elemente oder diesen zugeordneter Optikteile oder durch Veränderungen des Referenzmediums bedingt sein, grössere rühren von zu starker Erregung der Strahlenquelle 1 her, oder aber umgekehrt. 

  Solche Abweichungen werden beim erneuten Eichen zum Korrigieren des Reglers R und entsprechend zum Verändern der Erregung der Strahlungsquelle 1 ausgewertet, bis der Spannungsabgleich zwischen 36 und SO weitgehend auf Null gebracht ist. Die neue Einstellung wird im ersten Speicher   S1    festgehalten. Sind die Fenster 13 und 21 so stark verstaubt, dass eine Nachregulie rung der Strahlenquelle 1 durch den Regler R nicht mehr möglich ist, so erzeugt die Alarmeinrichtung   A 1    ein optisches und/oder akustisches Signal, damit die Vorrichtung gereinigt werden kann.  

 

   Es ist dem Fachmann naheliegend, auf das Einblasen eines Referenzgases in die Rohre 18 zu verzichten. In diesem Fall ist es zweckmässig, eine besondere Reinigungsvorrichtung für die Fenster 13 und 21 vorzusehen. Ebenso können im Rahmen der Erfindung anstelle der Rohre 18 materielle Lichtleiter, z.B.



  Glas- oder Kunstfaserstäbe, verwendet werden.



   Weiter ist es möglich, die Rohre 18 längs eines geradlinigen Weges in die Messstrecke 3 bzw. aus dieser heraus zu bewegen. Weiter ist es möglich, die Öffnungen 17 bzw. 17' je durch eine einzige, schlitzförmige Öffnung und entsprechend die Rohre 18 durch ein einziges, im Querschnitt der einzigen Öffnung angepasstes, z.B. ovales Rohr zu ersetzen, worin während dem Eichvorgang die beiden Äste der Messstrecke 3 ohne Trennwand hin und her geführt werden. 

Claims (1)

1. PATENTANSPRÜCHE

   I. Verfahren zur Überwachung des Schwebeteilgehaltes in einem längs eines Strömungsweges strömenden Medium unter Verwendung einer ortsfesten Strahlungsabsorptionsmesseinrichtung mit einem im Strömungsweg verlaufenden Messstrahlengang, dadurch gekennzeichnet, dass der Messstrahlengang alternierend durch das erwähnte Medium oder ein Referenzmedium verläuft und jedesmal die Strahlenabsorption gemessen wird und dass bei jeder Referenzmediummessung die Strahlungsintensität auf der Strahlenempfängerseite des Messstrahlenganges auotmatisch auf einen bestimmten, konstanten Wert eingestellt wird.

   II. Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens nach Patentanspruch I, mit einer Strahlenquelle und einem Strahlenempfänger, welcher Strahlenempfänger in Abhängigkeit der auftreffenden Strahlenintensität ein Anzeigegerät betätigt, dadurch gekennzeichnet, dass ein sich wenigstens über einen Teil der Messstrecke des Messstrahlenganges erstreckendes, strah- lendurchlässiges Element (18) in die Messstrecke (3) einschaltbar gelagert ist, dass ein Antrieb (28) vorgesehen ist, um das Element (18) abwechselnd in die Messstrecke (3) bzw.

   aus dieser heraus zu bewegen, dass ein die Strahlenquelle steuernder, vom Strahlenempfänger und einem Festwertgeber (SO) über einen ersten Speicher (S 1) betätigter Regler (R) vorgesehen ist, um die Strahlenintensität auf den genannten konstanten Wert einzustellen, wenn das Element (18) in der Messstrecke (3) liegt, dass eine Umschaltanordnung (34, 40) vorgesehen ist, welche den Strahlenempfänger (2) mit einem Anzeigegerät (S2, A2, 42) verbindet, wenn sich das Element (18) ausserhalb der Messstrecke (3) befindet, und dass eine Programmsteuerung (32) zur Steuerung des Antriebes (28), des Reglers (R) und der Umschaltanordnung (34, 40) vorgesehen ist.

   UNTERANSPRÜCHE 1. Verfahren nach Patentanspruch I, dadurch gekennzeichnet, dass die Messstrecke des Messstrahlenganges quer zum Strömungsweg des Gases angeordnet wird und dass periodisch im Bereich des Messstrahlenganges eine reine Referenzgasatmosphäre aufgebaut wird, um die Referenzgasmessung vorzunehmen.

   2. Verfahren nach Unteranspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass der Strahlengang mehrmals umgelenkt und durch den Strömungsweg geleitet wird.

   3. Vorrichtung nach Patentanspruch II, dadurch gekennzeichnet, dass die Messstrecke (3) zwischen zwei parallelen ko axial ausgerichteten Kreisplatten (8, 9) verläuft, welche in zwei ortsfesten, parallelen Lagergehäusen (5, 6) um eine zur Messstrecke parallele Achse drehbar gelagert sind, dass die Kreisplatten (8, 9) mit dem zugeordneten Lagergehäuse (5, 6) einen Hohlraum (15, 23, 10, 11) umschliessen, dass in jeder Kreisplatte eine gleiche gerade Zahl von Öffnungen (17, 17') vorgesehen sind, denen in achsparalleler Richtung eine Öffnung in der anderen Kreisplatte gegenüberliegt und deren Abstand zur Plattendrehachse (7) gleich jenem der Messstrecke (3) ist, dass die Hälfte der Öffnungen (17, 17') eine Kreisplatte (8, 9) durch die genannten,

   als Rohre ausgebildeten Elemente (18) mit den Öffnungen der gegenüberliegenden Kreisplatte verbunden sind und dass der eine der erwähnten Hohlräume (10, 11) mit einer Referenzgasquelle verbunden ist.

   4. Vorrichtung nach Unteranspruch 3, dadurch gekennzeichnet, dass die Kreisplatten vier Öffnungen aufweisen, dass der Strahlengang durch die Lagergehäuse hindurchgeführt ist, wozu in diesen entsprechende, den erwähnten Hohlraum abschliessende Fenster angeordnet sind, dass der Strahlensender und der Strahlenempfänger im Bereich des einen Lagergehäuses angeordnet sind, und dass im Bereich des anderen Lagergehäuses Mittel zum Umlenken der Strahlen von der Strahlenquelle zum Strahlenempfänger vorgesehen sind.

   5. Vorrichtung nach Unteranspruch 4, dadurch gekennzeichnet, dass die nicht durch Rohre verbundenen Öffnungen der Kreisplatten auf der Seite des Hohlraumes mit einer Ringrippe umgeben sind, dass die Ringrippen, wenn diese Öffnungen in den Strahlengang gedreht sind, kurz vor dem entsprechenden Fenster enden, und dass jede Ringrippe mit Mitteln (20) versehen ist, um das durch die nicht durch Rohre verbundenen Öffnungen (17') austretende Referenzgas zu einer Wirbelströmung umzulenken.

   6. Vorrichtung nach Unteranspruch 5, dadurch gekennzeichnet, dass der mit der Referenzgasquelle verbundene Hohlraum in zwei Hälften unterteilt ist, derart, dass in einer Hohlraumhälfte die erwähnten Fenster angeordnet sind, und dass jede der Hohlraumhälften mit der Referenzgasquelle verbunden ist.

   7. Vorrichtung nach Unteranspruch 3, dadurch gekennzeichnet, dass der Antriebsmotor ein von der Programmsteuerung gesteuerter Schrittmotor ist.

   8. Vorrichtung nach Unteranspruch 3, dadurch gekennzeichnet, dass die Strahlenquelle, der Regler und der Strahlenempfänger in einem Regelkreis liegen, in dem der Strahlenempfängerstrom über einen Verstärker und einen Speicher dem Regler zugeführt wird, dass der Strahlenempfänger überdies in einem Messkreis mit einem Speicher und einer Anzeigevorrichtung liegt, und dass durch von der Programmsteuerung betätigte Schalter in Abhängigkeit von der Drehlage des Schrittmotors der Regel- oder der Messkreis am Strahlenempfänger angeschlossen wird.

   9. Vorrichtung nach Patentanspruch II, dadurch gekennzeichnet, dass das genannte Element (18) als materieller Lichtleiter ausgebildet ist.