CH165549A - Einrichtung zum Abbilden von Gegenständen. - Google Patents
Einrichtung zum Abbilden von Gegenständen.Info
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Description
Einrielitung zum Abbilden von Gegenständen. Da Elektronenstrahlen im feldfreien Raum ähnlich den Lichtstrahlen geradlinig verlaufen, erhält man auf einem Leucht schirm ein vergrössertes Schattenbild, wenn man einen für die Strahlen undurchdring lichen Gegenstand in ein divergentes Strah lenbündel bringt. Bei gathodenstrahloszillographen wen det man häufig elektromagnetische Felder an, die den Strahl konzentrisch umgeben und eine Striktion des Strahls bewirken sollen. Diese Felder wirken auf den Strahl ähnlich ein wie eine optische Linse auf einen Licht strahl; sie können das Strahlenbündel kon vergent oder divergent machen. Infolge dessen erhält man bei Anwendung derartiger Striktionsfelder auf dem Leuchtschirm unter Umständen ebenfalls ein vergrössertes oder auch ein verkleinertes Leuchtbild des Ka thodenstrahls. Diese Vergrösserung von Schattenbildern ist bisher nur als technisch weniger wich- tige Nebenerscheinung der Elektronenstrah len betrachtet worden. Die Verkleinerung hat man bisher nur dazu ausgenutzt, einen scharfen Leuchtfleck (Brennpunkt) zu er halten. Nach der Erfindung wird die den Linsen der Optik ähnliche Wirkung von Kraft feldern, die einen Elektrodenstrahl konzen trisch umgeben und radial beeinflussen, dazu ausgenutzt, Gegenstände entsprechend dem Zweck der optischen Lupen und Mikroskope zu vergrössern. Dazu wird der zu ver grössernde Gegenstand einem Elektronen strahl bezw. einem Strahlenbündel ausgesetzt und das Bündel entweder vor oder hinter dem Gegenstand durch linsenähnlich wir kende Felder konvergent oder divergent ge macht. Auf der Zeichnung ist in den Fig. 1 bis 5 das Prinzip der Erfindung erläutert. In den Fig. 6 bis 11 sind verschiedene Ausfüh rungsbeispiele dargestellt. Fig. 1 zeigt eine magnetische Striktions- spule, deren Breite klein ist gegenüber der Bahnlänge des Kathodenstrahlbündels. Die Strahlen werden durch das magnetische Feld zu der mit der Spulenachse zusammenfallen den Strahlenachse gedrängt, so dass die Strahlen in einem Brennfleck oder in einer Brennlinie, bei homogenen Strahlen in einem Brennpunkt zusammenlaufen. Die gleiche Wirkung kann man aber auch durch statisch aufgeladene Blenden erzielen, die im wesentlichen symmetrisch um die Strahlrichtung verlaufen. In Fig. 2 ist eine derartige Blende dargestellt. Das elektro statische Feld ist durch seine Kraftlinien wiedergegeben. Die Aufladung der Blende a ist negativ angenommen. Wenn die Elek tronen eines Kathodenstrahlbündels durch die Blende strömen, so werden sie von ihr abgestossen. Sie werden daher aus ihrer ur- _ sprünglichen Bahn, die parallel verlaufend angenommen ist, nach innen abgelenkt und zu einem konvergenten Bündel mit dem Brennpunkt o vereinigt, den sie divergent wieder verlassen. Da die radiale Kompo nente der Feldstärke der Blende in ihrer Achse Null ist und nach aussen zunächst linear zunimmt, so werden die Elektronen strahlen umso stärker abgelenkt, je weiter sie von der Strahlen- und Blendenachse ent fernt sind. Hierdurch wird bewirkt, dass sich sämtliche Strahlen an der gleichen Brennstelle vereinigen. Um diese Propor tionalität der radialen Feldstärke vom Achsenabstand mit ausreichender Genauig keit zu verwirklichen, ist es zweckmässig, die Blendenöffnung erheblich grösser als die ur sprüngliche Strahlenstarke zu machen oder dem Feld durch eine bestimmte Elektroden form die geeignete Gestalt zu geben. Wenn man die Spannung der Blende nicht negativ, sondern positiv wählt, so wer den die Elektronenstrahlen zur Blende hin gezogen. Man erhält dann, wie Fig. $ zeigt,. aus einem parallel verlaufenden Strahlen- bündel ein divergentes Bündel. Während also die negative Blende, wie eine -Konvexlinse der Optik wirkt, arbeitet. die positive Blende wie eine Konkavlinse. Durch Zusammen stellen derartiger Blenden kann man alle in der Optik bekannten Vorrichtungen, die auf konvergenten oder divergenten Strahlenbün deln beruhen, für Elektronenstrahlen nach bilden. Es ist beispielsweise möglich, auf diese Weise ein Mikroskop oder Fernrohr aufzubauen, das direkte oder reflektierte Elektronenstrahlen aufnimmt. Auf diese Weise ausgebildete Lupen, Mi- Icroskope und Fernrohre ermöglichen Beob achtungen, die der optischen Untersuchung nicht zugängig sind; sie lassen ferner eine in der Grössenordnung beträchtlich stärkere Vergrösserung zu als die optischen Instru- mente, deren Auflösungsvermögen durch die Wellenlänge des Lichtes eingeschränkt ist. Diese Einschränkung fehlt bei Lupen, die mit Elektronenstrahlen arbeiten, da deren Wellenlänge um mehrere Grössenordnungen kleiner ist. Da die Ablenkung der Elektronenstrah len von ihrer Geschwindigkeit abhängt, so erhält man nur dann einen scharfen Brenn punkt, wenn man mit homogenen Kathoden strahlen arbeitet. Es empfiehlt sich daher. das Strahlenbündel homogen zu machen, be vor man den zu vergrössernden Gegenstand dem Strahl aussetzt. Die Homogenität des Strahls kann man auf bekannte Weise er zielen, zum Beispiel indem man den Strahl durch mehrere auf gleichem Potential be findliche Geschwindigkeitsblenden schickt. Erfindungsgemäss lässt sich jedoch auch für das Erzielen der Homogenität die Linsen wirkung radial wirkender magnetischer oder elektrostatischer Felder ausnutzen. Ein Ausführungsbeispiel dieser Art ist in Fig.4 dargestellt. Von der Kathode k geht ein divergentes und inhomogenes Strah lenbündel aus. Dieses Bündel wird durch eine elektrostatische Blende al aufgefangen und nahezu parallelgerichtet. Die geladene Blende a2 konzentriert das Strahlenbündel. An der Brennstelle o" die den Strahlen des Bündels mit gewünschter Geschwindigkeit entspricht; ist eine Lochblende c angeordnet. Die_Blende c kann aufgeladen oder auf Null- potential gehalten sein. Da das Strahlen bündel auch Strahlen anderer Geschwindig keit enthält, würde sich beim Fehlen der Blende c kein scharfer Brennpunkt o aus bilden; vielmehr würden die einzelnen, zu den Strahlen verschiedener Geschwindigkeit gehörenden Brennpunkte längs einer grösseren Strecke der Strahlenachse verteilt sein. Durch die enge Lochblende c werden jedoch sämt liche Strahlen abgefangen, deren Brennpunkt an einer andern . Stelle als bei o liegt. In folgedessen tritt durch die Blende c ein divergentes Bündel, das nur oder vorwiegend Strahlen einer bestimmten Geschwindigkeit enthält. Das die Blende c verlassende divergente homogene Strahlenbündel wird durch eine weitere Blende a3 parallel gerichtet. Hinter der Blende a3 wird der zu vergrössernde Gegenstand d in den Strahlengang gebracht und durch eine vierte geladene Blende a4 ge mäss Fig. 2 vergrössert. Des besseren Verständnisses halber ist bei dem in Fig.4 dargestellten Beispiel für jede Beeinflussung des Strahls je eine beson dere Blende verwendet. Man kann jedoch auch die Zahl der Blenden verringern oder gegebenenfalls vergrössern. Ferner kann man hinter der Blende a4 weitere Blenden an ordnen, die zusammen mit der als Lupe wir kenden Blende a4 eine mikroskop- oder fern rohrähnliche Vergrösserung ergeben. Ein Beispiel dieser Art ist in Fig. 5 dargestellt. Der homogene, parallelgerichtete Elektronen strahl fällt durch den zu beobachtenden Kör per d. Er geht dann durch eine Reihe von Divergenzblenden b1, b2, b3, b4 hindurch. Die erste Blende b1 vergrössert den Strahlquer- schnitt auf einen bestimmten Wert, die zweite Blende b2 wirkt auf einen kleinen Teil des vergrösserten Strahlenquerschnittes ein und vergrössert diesen wiederum usw. Auf diese Weise erhält man eine kaskaden- artige Vergrösserung. Nimmt man an, dass alle Blenden den gleichen Vergrösserungs- "J,kior haben, so ist die durch n Blenden er- zielte Vergrösserung gleich der n-ten Potenz dm-Vergrösserungsfaktors. Durch derartige Kaskadenanordnungen lassen sich starke Ver grösserungen erzielen, ohne dass das Feld der einzelnen Blenden eine unbequeme hohe Feldstärke haben muss. Ähnliche Ergebnisse lassen sich auch mit Konvergenzblenden oder mit Anordnunger erzielen. die sowohl Konvergenz- oder D1Ver- genzblenden enthalten. Der zu vergrössernde Gegenstand d kann zum Beispiel aus einer zu beobachtenden dünnen Schicht bestehen, die den Elektroden strahl mehr oder weniger geschwächt hin durchlässt. Anordnungen nach der Erfindung sind jedoch auch für Fälle anwendbar, in denen der zu beobachtende Gegenstand selbst Quelle von Elektronenstrahlen entweder di rekt erzeugten oder auch reflektierten Strah len oder Sekundärstrahlen ist. Es ist in die sem Falle möglich, mit Hilfe von geladenen Blenden Bilder zu erzielen, die den reellen oder virtuellen Bildern der Optik entspre chen. Es lassen sich auch Mikroskope und Fernrohre im Sinne der Erfindung ausfüh ren, die auf derartigen Abbildungen beruhen. Die Prinzipien der Optik lassen sich also weitgehend auf Einrichtungen anwenden, die eine Vergrösserung eines zu beobachtenden Gegenstandes mit Hilfe von Elektronen strahlen bewirken. Das gilt sowohl für die in den Beispielen beschriebenen elektrosta tisch wirkenden Anordnungen, als auch für solche mit magnetischen Konvergenz- oder Divergenzfeldern. Unter 'Umständen empfiehlt es sich, das Vakuum an den . verschiedenen Stellen des Strahlenganges verschieden zu machen. Fer ner kann es vorteilhaft sein, dem Elektro nenstrahl an den verschiedenen Stellen des Strahlenganges eine verschiedene Geschwin digkeit zu geben zur Erzielung einer mög lichst grossen Intensität des erzeugten Bildes und einer weitgehenden Unabhängigkeit von störenden Einflüssen. Zum Beispiel emp fiehlt es sich, Strahlen hoher Geschwindig keit zu benutzen. Das erschwert aber ander seits in manchen Fällen die Anwendung der Einrichtung zum Untersuchen lebender Sub stanzen. In solchen Fällen können langsame Elektronen und ein geringeres Vakuum vor teilhafter sein, um Zerstörungen des zu un tersuchenden Objektes zu vermeiden und gute Kontraste zu erzielen. Fig. 6 zeigt ein Ausführungsbeispiel der Erfindung, bei dem diese Schwierigkeiten vermieden werden können. 1 ist das Gehäuse der Einrichtung, 2 die darin untergebrachte Kathode, 3 das zu vergrössernde Objekt und 4 der Leuchtschirm. Mit 5 ist eine Sammel- spule bezeichnet, die den von der Kathode 2 ausgehenden Elektronenstrahl parallel rich tet oder konvergent macht. Die zwischen der Kathode und der Blende 6 liegende Anoden spannung ist bei dem dargestellten Beispiel hoch angenommen, um eine möglichst grosse Anzahl von Elektronen zu erzeugen. Die Elektronen haben infolgedessen eine ziemlich grosse Geschwindigkeit. Um zu verhindern, dass die Strahlen mit dieser Geschwindigkeit auf das zu vergrössernde Objekt 3 auftreffen und es zerstören und um bessere Kontraste zu erzielen, ist eine weitere Blende 7 vor gesehen, die gegenüber der Blende 6 und dem Elektronenstrahl negativ aufgeladen ist. Zwischen den Blenden 6 und 7 besteht in folgedessen ein in Längsrichtung des Strahls wirkendes elektrostatisches Feld, das die Strahlgeschwindigkeit verzögert. Der Strahl hat daher bei seinem Durchtritt durch das Objekt 3 eine verhältnismässig geringe Ge- schwindigkeit. Hinter dem Objekt sitzen zwei weitere Blenden 8 und 9, von denen die Blende 8 negativ und die Blende 9 positiv geladen ist. Beide Blenden erzeugen zwischen sich ein Längsfeld, das den Strahl wieder beschleu nigt. Hinter der Blende 9 sind Blenden oder Spulen 10 und 11 angeordnet, die zum Ver grössern des erzeugten Abbildes dienen. Das Vakuum kann in den verschiedenen Abschnitten der Einrichtung verschieden sein. Im Raum 12, der die Kathode 2 auf nimmt und durch die Blende 6 gegen den übrigen Teil des Entladungsgefässes begrenzt ist, wird zum Beispiel ein für die Erzeugung des Elektronenstrahls günstiges hohes Va kuum aufrecht erhalten. In dem zwischen den Blenden 6 und 7 liegenden Verzöge rungsraum 13 herrscht ein mittleres Va kuum. In dem Raum 14 zwischen den BIen- den- 7 und 8, worin sich das abzubildende Objekt 3 befindet, wird ein möglichst niedri ges Vakuum angewandt, im Beschleuni gungsraum 15 zwischen den Blenden 8 und 9 ein mittleres Vakuum und in den zwischen der Blende 9 und dem Leuchtschirm 4 be findlichen Raum 16 zur Aufnahme des Ab- bildungs- und Vergrösserungssatzes ein hohes Vakuum. Das Vakuum in den einzelnen Raumabschnitten kann dabei durch dauern des Auspumpen hergestellt und konstant ge halten werden. Fig. 7 zeigt eine Anordnung, bei der sich das zu untersuchende Objekt in Luft norma len Druckes befindet und durch ein Fenster (Lenard-Fenster) beobachtet wird. Der zu untersuchende Gegenstand wird durch eine Glühkathode oder mit Hilfe einer radioakti ven Substanz oder dergleichen bestrahlt. Das Vakuumrohr 21 mit dem Leuchtschirm. 22 ist durch ein Lenard-Fenster 23 zum Objekt 24 hin abgeschlossen. Mit 25 und 26 sind Magnetspulen bezeichnet, die auf den Elek tronenstrahl einwirken. Mit 27 ist die Elek tronenquelle bezeichnet. Das von ihr aus gehende Strahlenbündel kann durch eine Striktionsspule 28 oder dergleichen konver gent gemacht oder parallel gerichtet werden. Bei Anwendung eines elektrisch erzeug ten Kathodenstrahls kann man den Strahl ebenfalls durch ein Fenster aus dem Erzeu gungsraum auf das zu vergrössernde Objekt übertreten lassen. Eine derartige Anordnung ist durch Fig. 8 wiedergegeben. In dem Va kuumrohr 29 ist eine Glühkathode 80 ange ordnet. Der von dort ausgehende Strahl wird durch eine elektrostatische Blende 31 oder dergleichen konvergent gemacht. Er fällt durch das Fenster 32 auf das Objekt 24. Die Beeinflussung des im Gehäuse 21 befind lichen Strahlenganges erfolgt bei diesem Beispiel durch elektrostatische Blenden 33 und 34. Den Abstand zwischen dem Objekt und den Ein- oder Austrittsfenstern wird man so gering wie möglich halten, um die Absorp tion der Kathodenstrahlen in der Luft mög lichst zu vermeiden. Man kann auch zur Verminderung der Absorption diese Teile des Raumes in einem Gefäss mit so niedri gem Vakuum anordnen wie es das Objekt eben noch verträgt. Eine derartige Anord nung ist in Fig. 9 dargestellt. Der zwischen den Vakuumgehäusen 29 und 21 liegende Objektraum ist von einem Gehäuse 35 um geben, in welchem ein niedriges Vakuum er zeugt wird. Wenn das Strahlenbündel für die Abbil dung des Objektes sehr eng ist, kann man unter Umständen auch ohne das Lenardsche Fenster auskommen, indem man die Elektro nen lediglich durch ein feines Loch in den Vakuumraum ein- oder austreten lässt. Man ordnet dann nach Fig. 10 unmittelbar hinter. dem Loch 36 eine kräftige Saugvorrichtung an, um die durch das Loch in das Vakuum ziehende Luft in einer oder mehreren Stufen zu beseitigen. In Fig. 10 sind zwei Stufen mit je einem Saugrohr 37 und 38 angegeben. Das Objekt, das man durch Elektronen strahlen vergrössert abbilden will, wird man beim Arbeiten mit durchfallenden Elektro nen möglichst dünn ausführen. Damit es die nötige Konsistenz und Haltbarkeit besitzt, ordnet man es zweckmässig zwischen zwei Folien an, deren Dicke nur sehr geringe Bruchteile eines Millimeters beträgt und deren Materialdichte möglichst gering sein muss, um die Elektronenstrahlen nicht über mässig zu bremsen. Zweckmässig verwendet man feinste Plättchen aus Metall wie Gold, Silber oder Aluminium. Wie bereits erwähnt, kann man mit Hilfe von Einrichtungen nach der Erfindung Fein heiten sichtbar machen, die weit jenseits des durch die Wellenlänge des Lichtes bedingten optischen Auflösungsvermögens liegen. We gen der Unvollkommenheit der Linsenwir kung der magnetischen und elektrischen Fel der ist es jedoch häufig schwierig, die Ver- gisserung über einen gewissen Betrag ziz weigern, der bei niedrigen Zehnerpotenzen liegt. In diesem Fall kann man die Vergrö- sserung in zwei Stufen vornehmen, indem man ausser dem Elektronenmikroskop noch ein optisches Mikroskop anwendet. In Fig.11 ist eine derartige Anordnung dargestellt. Das Elektronenmikroskop ist mit 40 und das optische Mikroskop mit 41 bezeichnet. Das auf dem Lichtschirm des Elektronenmikro skops erzeugte Bild besitzt eine Vergrösse rung, wie sie durch Elektronenstrahlen be quem erreichbar ist, zum Beispiel eine Ver grösserung, die in der Grössenordnung des 100fachen liegt. Um auf dem Leuchtschirm ein klares Bild zu erzielen, muss das Korn des Leucht schirmes möglichst fein sein. Vorteilhaft ver wendet man eine geschliffene homogene Platte aus Einkristall, die beim Auftreffen des Strahlenbündels dessen Bild verzerrungs frei darstellt. Der elektrische und der optische Teil der Einrichtung kann zu einem einzigen Gerät zusammengebaut sein.
Claims (1)
- <B>PATENTANSPRUCH</B> Einrichtung zum Abbilden von Gegen ständen, dadurch gekennzeichnet, dass der abzubildende bezw. zu vergrössernde Gegen stand in den Weg eines Elektronenstrahls gebracht und der dadurch beeinflusste Strahl durch ein oder mehrere auf ihn einwirkende, elektrostatische oder elektromagnetische Fel der konvergent oder divergent gemacht oder parallel gerichtet wird.UNTERANTSPRüCHE 1. Einrichtung nach Patentanspruch, da durch gekennzeichnet, dass der Katho denstrahl vor oder nach dem Auftreffen auf den zu vergrössernden Gegenstand durch magnetische oder elektrostatische Felder homogen gemacht wird. 2. Einrichtung nach Patentanspruch, da durch gekennzeichnet, dass der Strahl vor seinem Auftreffen auf den zu ver grössernden Gegenstand parallelgerichtet wird.3. Einrichtung nach Patentanspruch, da durch gekennzeichnet, dass mehrere das Strahlenbündel radial beeinflussende Felder zu einer die Vergrösserung nach Art eines Mikroskops oder Fernrohres steigernden Wirkung zusammengesetzt sind. 4. Einrichtung nach Unteranspruch 3, da durch -gekennzeichnet, dass mehrere Di vergenz oder Konvergenz erzeugende Felder hintereinander so angeordnet sind, dass sie eine kaskadenartige Steigerung der Vergrösserung ergeben. 5. Einrichtung nach Patentanspruch, da durch gekennzeichnet, dass die die Ver grösserung bewirkenden Felder durch elektrostatisch geladene Blenden erzeugt werden, die den Strahl im wesentlichen symmetrisch umgeben. 6.Einrichtung nach Patentanspruch, da durch gekennzeichnet, dass im Verlauf des Strahlenganges reelle oder virtuelle Bilder-im Sinne der-bei optischen Mikro skopen oder Fernrohren entstehenden er zeugt werden. 7. Einrichtung nach Patentanspruch, da durch gekennzeichnet, dass die Stärke des Vakuums an verschiedenen Stellen des Strahlenganges verschieden ist. B.Einrichtung nach Unteranspruch 7, bei der die Geschwindigkeit des Strahls an verschiedenen Stellen des Strahlengan ges unter dem Einfluss elektrostatischer, in Längsrichtung des Strahls wirkender Felder verschieden ist, dadurch gekenn zeichnet, dass das Vakuum an den Stel len niedriger Elektronengeschwindigkeit niedriger ist als an den Stellen höherer Elektronengeschwindigkeit. 9. Einrichtung nach Unteranspruch 7, da durch gekennzeichnet, dass das Vakuum in der Umgebung des zu vergrössernden Gegenstandes niedriger ist als im übri gen Teil des Strahlenganges.10. Einrichtung nach Unteranspruch 7, da durch gekennzeichnet, dass in der Um ., - gebung des zu vergrössernden Gegen standes ein- niedriges Vakuum, an den Verzögerungs- oder Beschleunigungs strecken des Vakuums und ausserhalb dieser Stellen ei gewandt Vakuum an gewandt ist. 11:: Einrichtung nach Unteranspruch- 7, da -durch gekennzeichnet; :dass das Vakuum. - an den verschiedenen Raumabschnitten des Strahlenganges durch - dauerndes Auspumpen -aufrecht erhalten wird, 12.Einrichtung nach - Patentanspruch, da durch gekennzeichnet, dass der- Elektro nenstrahl -durch -in seiner Längsrichtung wirkende elektrostatische Felder beein-- flusst ist, derart, dass er in den verschic denen Abschnitten des Strahlenganges eine andere, an der jeweiligen Stelle er wünschte Geschwindigkeit hat. 13.Einrichtung nach Unteranspruch 12.; da durch gekennzeichnet, dass der abzubil- dende Gegenstand- einem Elektronen strahl geringer Geschwindigkeit aus gesetzt und die Geschwindigkeit im wei teren Verlauf des Strahlenganges durch in Richtung des Strahls wirkende elek trostatische Beschleunigungsfelder ge= steigert wird. 14. Einrichtung nach Unteranspruch 12, da durch gekennzeichnet, dass der Elektro nenstrahl vor seinem Durchtritt durch den abzubildenden Gegenstand durch ein in Längsrichtung des Strahls -wirkendes Verzögerungsfeld verlangsamt wird. 1.5.Einrichtung nach Patentanspruch, da durch gekennzeichnet, dass der Vakuum raum, der den die Vergrösserung bewir kenden Teil des Strahlenganges auf nimmt, zum ausserhalb liegenden Objekt hin durch ein vom Elektronenstrahl durchdrungenes Fenster abgeschlossen ist. 16. Einrichtung nach Unteranspruch 15, da durch gekennzeichnet, dass sich der zu vergrössernde Gegenstand in Luft nor malen Druckes befindet.17. Einrichtung nach Unteranspruch 15, da durch gekennzeichnet, dass ein die Elek tronenquelle, insbesondere eine - Glüh-- kathode enthaltender Vakuumraum. .durch ein Lenardfenster abgeschlossen - ist,- durch das die Elektronenstrahlen auf den zu vergrössernden Gegenstand fallen. 18. Einrichtung nach Unteranspruch 15, da durch gekennzeichnet, dass das Fenster aus einer freien Öffnung besteht, hinter der die durch die Öffnung in das Va kuum strömende Luft in einer oder meh reren Stufe abgesaugt wird. 19.Einrichtung nach Patentanspruch, da durch gekennzeichnet, dass die Vergrö sserung in zwei Stufen erfolgt, und zwar ausser durch Elektronenstrahlen auch durch ein optisches Mikroskop. ?0. Einrichtung nach Unteranspruch 19, da durch gekennzeichnet, dass die durch Elektronenstrahlen erzielte lineare Ver- grösserung in der Grössenordnung des 100fachen liegt, und dass die weitere Vergrösserung des durch die Elektronen strahlen erzeugten reellen Bildes optisch erzielt wird. 21. Einrichtung nach Unteranspruch 20, da durch gekennzeichnet, dass der Leucht schirm, auf dem das optische, weiter zu vergrössernde Bild entsteht, aus einem homogenen, geschliffenen Einkristall be steht.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE165549X | 1931-05-30 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CH165549A true CH165549A (de) | 1933-11-30 |
Family
ID=5685293
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CH165549D CH165549A (de) | 1931-05-30 | 1932-05-17 | Einrichtung zum Abbilden von Gegenständen. |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CH (1) | CH165549A (de) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE887685C (de) * | 1946-01-05 | 1953-08-27 | Philips Nv | Elektronenmikroskop mit magnetischer Fokussierung |
DE971431C (de) * | 1934-06-07 | 1959-01-29 | Manfred Von Ardenne | Anordnung zur Helligkeitsverstaerkung von lichtoptischen Bildern |
DE1087723B (de) * | 1953-01-09 | 1960-08-25 | Heraeus Gmbh W C | UEberdruckschutzkammer fuer eine Korpuskularstrahl-Druckstufenstrecke |
DE1117793B (de) * | 1952-07-25 | 1961-11-23 | Zeiss Carl Fa | Einrichtung zur Bearbeitung von Gegenstaenden oder Materialien mittels Ladungstraegerstrahlen |
-
1932
- 1932-05-17 CH CH165549D patent/CH165549A/de unknown
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE971431C (de) * | 1934-06-07 | 1959-01-29 | Manfred Von Ardenne | Anordnung zur Helligkeitsverstaerkung von lichtoptischen Bildern |
DE887685C (de) * | 1946-01-05 | 1953-08-27 | Philips Nv | Elektronenmikroskop mit magnetischer Fokussierung |
DE1117793B (de) * | 1952-07-25 | 1961-11-23 | Zeiss Carl Fa | Einrichtung zur Bearbeitung von Gegenstaenden oder Materialien mittels Ladungstraegerstrahlen |
DE1087723B (de) * | 1953-01-09 | 1960-08-25 | Heraeus Gmbh W C | UEberdruckschutzkammer fuer eine Korpuskularstrahl-Druckstufenstrecke |
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