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WO2024177270A1 - 지그의 평탄도를 검사하기 위한 장치 및 방법 - Google Patents

지그의 평탄도를 검사하기 위한 장치 및 방법 Download PDF

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Publication number
WO2024177270A1
WO2024177270A1 PCT/KR2024/000096 KR2024000096W WO2024177270A1 WO 2024177270 A1 WO2024177270 A1 WO 2024177270A1 KR 2024000096 W KR2024000096 W KR 2024000096W WO 2024177270 A1 WO2024177270 A1 WO 2024177270A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
inspection
image
target image
pixel
target
Prior art date
Application number
PCT/KR2024/000096
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
서민환
정기열
Original Assignee
삼성전자 주식회사
이덕자
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority claimed from KR1020230052695A external-priority patent/KR20240131858A/ko
Application filed by 삼성전자 주식회사, 이덕자 filed Critical 삼성전자 주식회사
Publication of WO2024177270A1 publication Critical patent/WO2024177270A1/ko

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    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B21/00—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant
    • G01B21/22—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant for measuring angles or tapers; for testing the alignment of axes
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B21/00—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant
    • G01B21/30—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant for measuring roughness or irregularity of surfaces
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T7/00—Image analysis

Definitions

  • a jig device can be an example of a production equipment system.
  • the jig device can fix the position of a part or guide it to an intended position when processing or assembling the part.
  • a jig device may be provided to fix the part to be formed within the pressing equipment.
  • the jig device may wear out at any point due to repeated motions, thereby reducing the flatness. If the jig device has a flatness below a critical level, the pressure applied to the part may not be maintained uniformly, or the part may be fixed in a distorted state. In order to prevent the quality reliability of the part from being reduced due to this, the jig device must be able to maintain a flatness above a certain level.
  • the inspector can visually evaluate the pressure-sensitive film pressed by the jig device to check the flatness of the jig device.
  • This inspection method may be difficult to ensure objective and consistent reliability because the quality is evaluated subjectively by the inspector.
  • it may not be easy to manage the pressure-sensitive film used for the evaluation.
  • One embodiment of the present disclosure can provide a device and a method including the same capable of inspecting the flatness of a jig device by analyzing a color value of a pressure-sensitive film.
  • the control unit may be configured to select a target inspection pixel block for performing a defect inspection from among a plurality of inspection pixel blocks included in the inspection target image in response to the inspection target image and the inspection reference image being matched.
  • the control unit may be configured to compare characteristic values of a target reference pixel block and a target inspection pixel block matched to a target inspection pixel block from among a plurality of reference pixel blocks included in the inspection reference image on a pixel-by-pixel basis to determine whether the inspection target image is defective.
  • the target inspection pixel blocks may be residual inspection pixel blocks having the highest priority among residual inspection pixel blocks for which a defect inspection has not been performed among the plurality of inspection pixel blocks.
  • Each of a plurality of inspection pixel blocks in the inspection target image can correspond one-to-one with each of a plurality of reference pixel blocks included in the inspection reference image after matching.
  • An inspection method may include an operation of scanning a pressure-sensitive film, which is mounted on the jig and has a pattern image marked according to pressure distribution, to acquire an inspection target image, an operation of matching the inspection target image to a preset inspection reference image using matching inspection image data acquired corresponding to each of a plurality of matching pixel block areas dividing the inspection target image, an operation of selecting a target inspection pixel block to be inspected for defects among a plurality of inspection pixel blocks included in the inspection target image in response to the inspection target image and the inspection reference image being matched, and an operation of comparing characteristic values of a target reference pixel block matched to the target inspection pixel block among a plurality of reference pixel blocks included in the inspection reference image on a pixel basis to determine whether the inspection target image is defective.
  • the target inspection pixel block may be a residual inspection pixel block having the highest priority among residual inspection pixel blocks for which a defective inspection has not been performed among the plurality of inspection pixel blocks.
  • each of the plurality of inspection pixel blocks may correspond one-to-one with each of the plurality of reference pixel blocks included in the inspection reference image after the matching.
  • a pressure-sensitive film can be stored as digital data to provide convenience of storage.
  • FIG. 1 is a block diagram of an inspection device according to one embodiment of the present disclosure.
  • FIG. 3 is a control flowchart for an inspection device to perform an inspection according to one embodiment of the present disclosure.
  • FIG. 4 is a control flowchart for an inspection device to perform an inspection according to one embodiment of the present disclosure.
  • FIG. 5 illustrates an operation of an inspection device converting RGB values of a reference image or an inspection target image according to one embodiment of the present disclosure.
  • FIG. 6 illustrates an operation of an inspection device rotating and aligning a transformation inspection target image with respect to a transformation reference image according to one embodiment of the present disclosure.
  • FIG. 7 illustrates an operation of an inspection device aligning a transformation inspection target image by inverting it with respect to a transformation reference image according to one embodiment of the present disclosure.
  • FIG. 8 illustrates an operation of an inspection device setting an inspection performance area of a judgment target image according to one embodiment of the present disclosure.
  • FIG. 9 illustrates a process of determining whether an image to be judged is passable or fail by an inspection device according to one embodiment of the present disclosure.
  • FIG. 10 illustrates an operation of an inspection device recording a defect occurrence frequency for each unit grid of a judgment target image according to one embodiment of the present disclosure.
  • FIG. 1 is a block diagram of an inspection device (100) according to one embodiment of the present disclosure.
  • the inspection device (100) mentioned in this document can be understood as a device for inspecting whether the flatness of a jig is within a critical range.
  • the jig can be applied to a pressing device.
  • the present invention is not limited thereto, and the jig can be applied to the entire industrial system.
  • the inspection device (100) can inspect the flatness of the jig based on the color value of the inspection target paper that is inserted into the jig and pressed.
  • the inspection target paper can be implemented as a microfilm.
  • the inspection target paper can be manufactured from, for example, a synthetic resin of a transparent material.
  • the microfilm will be referred to as a 'pressure-sensitive film'.
  • the inspection device (100) can detect the flatness of the jig by comparing or contrasting a reference pressure-sensitive film and a target pressure-sensitive film.
  • the reference pressure-sensitive film may mean a film that is pressed while the flatness of the jig is at its maximum.
  • the reference pressure-sensitive film will be referred to as a 'reference pressure-sensitive film (e.g., the reference pressure-sensitive film (210) of FIG. 2)'. Due to continuous and repetitive use of the jig, the jig may be worn or warped at a specific point. As a result, the flatness of the jig may decrease.
  • At least one pressure-sensitive film used to confirm whether the flatness of the jig corresponds to a reference value will be referred to as a 'target pressure-sensitive film (e.g., the target pressure-sensitive film (230) of FIG. 2)'.
  • the above inspection device (100) can inspect the target pressure-sensitive film (230) to determine whether the target pressure-sensitive film (230) is good or defective.
  • the inspection device (100) may include a control unit (110), an image input unit (120), an image storage unit (130), a communication unit (140), or an output unit (150).
  • the inspection device (100) may include additional components as needed, or at least some of the illustrated configurations may be omitted.
  • the image input unit (120) can convert the pressure-sensitive film fed into the inspection device (100) into digital data.
  • the image input unit (120) can be implemented as an imaging device.
  • the image input unit (120) can be implemented as, for example, a camera, a scanner, or a vision system. In this document, a case where the image input unit (120) is implemented as a scanner is described as an example. However, it is not limited thereto, and it can be understood in the same way when it is implemented as any one of the mentioned imaging devices.
  • the image input unit (120) can scan a reference pressure-sensitive film (210) and convert it into digital data.
  • the digital data obtained by scanning the reference pressure-sensitive film (210) can be referred to as 'reference data' (e.g., the reference image (220) of FIG. 2).
  • the image input unit (120) can scan a target pressure-sensitive film (230) and convert it into digital data.
  • the digital data obtained by scanning the target pressure-sensitive film (230) can be referred to as 'inspection target data' (e.g., the inspection target image (240) of FIG. 2).
  • the image input unit (120) may perform a color conversion (RGB conversion) operation during the process of generating a reference image (220) or an inspection target image (240).
  • the color conversion operation may also be performed by the control unit (110).
  • the image storage unit (130) may include a storage area for storing a reference image (220) or an inspection target image (240).
  • the image storage unit (130) may be implemented as a memory.
  • the image storage unit (130) may include a volatile memory or a nonvolatile memory.
  • a reference image (220) may be stored in the image storage unit (130).
  • the inspection device (100) may inspect for quality by comparing the reference image (220) stored in the image storage unit (130) with the inspection target image (240).
  • the image storage unit (130) may include a first image storage unit (e.g., the first image storage unit (131) of FIG. 2) or a second image storage unit (e.g., the second image storage unit (133) of FIG. 2).
  • the first image storage unit (131) may store an abnormal image determined to be defective among the inspection target images (240).
  • the second image storage unit (131) may store a normal image determined to be good among the inspection target images (240).
  • the inspection device (100) can easily store the inspection results of the inspection target image (240) according to the inspection date. As a result, the user can easily identify the date on which a defect occurred in the jig and quickly respond to the defect.
  • the communication unit (140) may be provided to communicate internally or externally with another device.
  • the communication unit (140) may establish a direct (e.g., wired) communication or wireless communication channel with the other device, or support communication performance through the established communication channel.
  • the communication unit (140) may support connection with the image input unit (120) (e.g., camera, scanner, vision system) or the output unit (150) (e.g., display unit, voice output unit) when the image input unit (120) or the output unit (150) (e.g., display unit, voice output unit) is not included in the inspection device (100) but is provided separately.
  • the communication unit (140) may be provided to connect a device (e.g., image input unit or output unit) provided separately from the inspection device (100).
  • the communication unit (140) may include a wireless communication module (e.g., a cellular communication module, a short-range wireless communication module, or a GNSS (global navigation satellite system) communication module) or a wired communication module (e.g., a local area network (LAN) communication module, or a power line communication module).
  • a wireless communication module e.g., a cellular communication module, a short-range wireless communication module, or a GNSS (global navigation satellite system) communication module
  • a wired communication module e.g., a local area network (LAN) communication module, or a power line communication module.
  • a corresponding communication module among these communication modules may communicate with an external device or server via a first network (e.g., a short-range communication network such as Bluetooth, WiFi (wireless fidelity) direct, or IrDA (infrared data association)) or a second network (e.g., a long-range communication network such as a legacy cellular network, a 5G network, a next-generation communication network, the Internet, or a computer network (e.g., a LAN or WAN)).
  • a first network e.g., a short-range communication network such as Bluetooth, WiFi (wireless fidelity) direct, or IrDA (infrared data association)
  • a second network e.g., a long-range communication network such as a legacy cellular network, a 5G network, a next-generation communication network, the Internet, or a computer network (e.g., a LAN or WAN)
  • a first network e.g., a short-range communication network such as
  • the output unit (150) may be provided to visually or audibly output the results of an inspection performed by the inspection device (100).
  • the output unit (150) may include a display device (e.g., a display) for visually outputting the results of the inspection performed by the inspection device (100).
  • the output unit (150) may display the serial number of the target pressure-sensitive film (230) fed into the inspection device (100) and information indicating whether the target pressure-sensitive film (230) is good and/or defective.
  • the output unit (150) may include an audio output device (e.g., a speaker) for audibly outputting the results of the inspection performed by the inspection device (100).
  • the output unit (150) may transmit information in the form of a voice indicating the serial number of the target pressure-sensitive film (230) inserted into the inspection device (100) and whether the target pressure-sensitive film (230) is good and/or defective.
  • control unit (110) can control the overall operation of the inspection device (100).
  • control unit (110) can perform color conversion (e.g., RGB conversion) of an image input to the image input unit (120).
  • the control unit (110) can divide the reference image (220) into an R (red) component, a G (green) component, or a B (blue) component.
  • the control unit (110) can remove the G component included in the reference image (220).
  • the control unit (110) can reduce the amount of computational processing, thereby increasing the inspection speed.
  • the control unit (110) can remove noise generated during the inspection process, thereby improving the detection capability.
  • the control unit (110) can remove the G component included in the inspection target image (240) in the same manner.
  • control unit (110) can divide the reference image (220) and/or the inspection target image (240) formed in pixel units into predetermined pixel block units.
  • the control unit (110) can divide the reference image (220) and/or the inspection target image (240) into preset areas with different resolutions.
  • control unit (110) can control the image input unit (120) to convert a specific area of the reference pressure-sensitive film (210) and/or the target pressure-sensitive film (230) into a high resolution to obtain the reference image (220) and/or the inspection target image (240).
  • the control unit (110) can control the image input unit (120) to convert the remaining area except the specific area of the reference pressure-sensitive film (210) and/or the target pressure-sensitive film (230) into a low resolution with a relatively low resolution to obtain the reference image (220) and/or the inspection target image (240).
  • control unit (110) obtaining a high-resolution reference image (220) and/or inspection target image (240) for the specific area, inspection of the specific area can be performed in more detail than other areas.
  • control unit (110) can compare the reference image (220) and the inspection target image (240).
  • the control unit (110) can compare the pixels of the inspection target image (240) with the corresponding pixels in the reference image (220).
  • control unit (110) can compare the color values of the pixels constituting the inspection target image (240) with the color values of the corresponding pixels in the reference image (220).
  • control unit (110) can determine whether the inspection target image (240) is good or bad.
  • the control unit (110) can determine that a specific pixel of the inspection target image (240) is bad if there is a difference that exceeds a preset threshold value between the corresponding pixel in the reference image (240).
  • the determination method will be described in detail in FIG. 9.
  • control unit (110) may store the inspection target image (240) in the image storage unit (130) according to the inspection result of the inspection target image (240). For example, the control unit (110) may store data determined to be defective among the inspection target image (240) in the first image storage unit (131). The control unit (110) may store data determined to be good among the inspection target image (240) in the second image storage unit (133).
  • the inspection device (100) can image-process the reference pressure-sensitive film (210) and the target pressure-sensitive film (230).
  • the inspection device (100) can convert the reference pressure-sensitive film (210) and the target pressure-sensitive film (230) into digital data.
  • the reference pressure-sensitive film (210) may be understood as a reference required for the inspection device (100) to determine the flatness of the jig.
  • the reference pressure-sensitive film (210) may mean a pressure-sensitive film that is inserted and pressed into the jig when the flatness of the jig is in a good state.
  • the inspection device (100) may compare a target pressure-sensitive film (230) pressed with the reference pressure-sensitive film (210) as a reference, and infer the flatness of the jig from a state (e.g., color value) indicated by the target pressure-sensitive film (230).
  • the reference pressure-sensitive film (210) may include at least one pressure-sensitive film.
  • the reference pressure-sensitive film (210) may include reference pressure-sensitive film #1 (211-1).
  • the inspection device (100) can objectively evaluate the flatness of the jig by comparing one reference pressure-sensitive film (e.g., reference pressure-sensitive film #1 (211-1)) with a plurality of target pressure-sensitive films (230).
  • the reference pressure-sensitive film (210) may further include a reference pressure-sensitive film other than the reference pressure-sensitive film #1 (211-1).
  • the inspection device (100) can compare one pressure-sensitive film included in the reference pressure-sensitive film (210) with a plurality of target pressure-sensitive films (230).
  • the reference pressure-sensitive film #1 may be understood as a pressure-sensitive film that indicates to the user that it satisfies a predetermined flatness when visually inspected.
  • the target pressure-sensitive film (230) can be understood as a target to be compared with the reference pressure-sensitive film (210) by the inspection device (100).
  • the target pressure-sensitive film (230) can be understood as a pressure-sensitive film used to inspect the flatness of the jig.
  • the inspection device (100) can compare the pressed target pressure-sensitive film (230) with the reference pressure-sensitive film (210) as a reference, and infer the flatness of the jig from the state (e.g., color value) indicated by the target pressure-sensitive film (230).
  • the target pressure-sensitive film (230) may include at least one pressure-sensitive film.
  • the target pressure-sensitive film (230) may include n pressure-sensitive films (n is an integer greater than or equal to 1).
  • the target pressure-sensitive film (230) may include target pressure-sensitive film #k (231-k). k is an integer greater than or equal to 1.
  • the target pressure-sensitive film (230) may include target pressure-sensitive film #n (231-n).
  • the target pressure-sensitive film (230) may include a combination of at least two target pressure-sensitive films among the n target pressure-sensitive films (231-1 to 231-n).
  • the inspection device (100) can perform image processing on the reference pressure-sensitive film (210) and/or the target pressure-sensitive film (230).
  • the inspection device (100) can perform image processing on the reference pressure-sensitive film (210) and/or the target pressure-sensitive film (230) to obtain digital data.
  • An image input unit e.g., an image input unit (120) of FIG. 1 included in the inspection device (100) can scan the input reference pressure-sensitive film (210) and/or the target pressure-sensitive film (230) and convert it into digital data.
  • the image input unit (120) can convert the reference pressure-sensitive film (210) into a reference image (220).
  • the image input unit (120) can convert the target pressure-sensitive film (230) into an inspection target image (240).
  • the above reference image (220) can be understood as data converted from the reference pressure-sensitive film (210) into a digital image.
  • the above inspection target image (240) can be understood as data converted from the target pressure-sensitive film (230) into a digital image.
  • the inspection device (100) can convert the reference pressure-sensitive film #1 (211-1) into the reference image #1 (221-1).
  • the reference image (220) can be generated without image processing of an existing reference pressure-sensitive film (210). That is, the reference image (220) can be generated by a user.
  • the reference image (220) can be understood as digital data generated based on characteristic values (e.g., color value, brightness, saturation, luminance) of an image of the reference pressure-sensitive film (210) compressed by the jig, assuming that the flatness of the jig has achieved a target reference value.
  • the inspection device (100) can convert n target pressure-sensitive films (231-1 to 231-n) into n target images (241-1 to 241-n).
  • the inspection device (100) can convert target pressure-sensitive film #1 (231-1) into target image #1 (241-1).
  • the inspection device (100) can convert target pressure-sensitive film #2 (231-2) into target image #2 (241-2).
  • the inspection device (100) can convert target pressure-sensitive film #3 (231-3) into target image #3 (241-3).
  • the inspection device (100) can convert target pressure-sensitive film #k (231-k) into target image #k (241-k).
  • the above inspection device (100) can convert the target pressure-sensitive film #n (231-n) into the target image #n (241-n).
  • the inspection device (100) can convert the reference pressure-sensitive film (210) and/or the target pressure-sensitive film (230) into a reference image (220) and/or an inspection target image (240) on a pixel basis.
  • the inspection device (100) can convert the reference image (220) and/or the inspection target image (240) into different resolutions corresponding to preset areas of the reference pressure-sensitive film (210) and/or the target pressure-sensitive film (230).
  • the inspection device (100) can derive color values (e.g., RGB values) on a pixel basis from a reference image (220) and/or an inspection target image (240).
  • color values e.g., RGB values
  • the inspection device (100) can remove the G (green) value included in the reference image (220) and/or the inspection target image (240). As a result, the inspection device (100) can reduce the amount of computation required to determine the quality of the inspection target image (240).
  • the inspection device (100) can compare the reference image (220) and the inspection target image (240) on a pixel-by-pixel basis.
  • the inspection device (100) can determine whether a defective pixel exists by checking whether a color value difference between the reference image (220) and the inspection target image (240) on a pixel-by-pixel basis exceeds a threshold level.
  • the inspection device (100) can determine the inspection target image (240) in which the defective pixel exists as a defective image (abnormal image).
  • the inspection device (100) can determine the inspection target image (240) in which the defective pixel does not exist as a good image (normal image).
  • the bad image can be referred to as a 'first image'.
  • the good image can be referred to as a 'second image'.
  • the inspection device (100) may store the inspection target image (240) in the image storage unit (130) (e.g., the image storage unit (130) of FIG. 1) according to the inspection result.
  • the inspection device (100) may classify and store the inspection target image (240) in another space of the image storage unit (130) according to the inspection result.
  • the image storage unit (130) may include a first image storage unit (131) or a second image storage unit (133).
  • the first image storage unit (131) may be provided as a space for storing a defective image.
  • the second image storage unit (133) may be provided as a space for storing a good image.
  • the target images stored in the first image storage unit (131) and the second image storage unit (133) are merely illustrated as examples, and may include various cases depending on the inspection results. In this drawing, it is assumed that target image #1 (241-1), target image #3 (241-3), and target image #7 (241-7) are determined as defective images, and it is assumed that the remaining target images are determined as good images.
  • the inspection device (100) can store target image #1 (241-1), target image #3 (241-3), and target image #7 (241-7) in the first image storage unit (131).
  • the inspection device (100) can store target image #2 (241-2), target image #4 (241-4), and target image #5 (241-5) in the second image storage unit (133).
  • the inspection device (100) can store target images determined to be good images in the second image storage unit (133).
  • the inspection device (100) may store identification information indicating the inspection target image (240) together with the image storage unit (130).
  • the identification information may include, for example, the inspection date or the inspection result of the inspection target image (240).
  • the inspection device (100) allows a user to easily determine the trend of the jig status according to the inspection date.
  • the inspection device (100) allows a user to easily determine whether follow-up measures for the jig have been performed according to the inspection date.
  • the identification information may be stored in a separate space provided in the inspection device (100) rather than the image storage unit (130). When the identification information is stored in the separate space, it may be stored as a document having a predetermined file format. By storing the identification information, the inspection device (100) can easily determine the jig status.
  • FIG. 3 is a control flowchart for performing an inspection by an inspection device (e.g., the inspection device (100) of FIG. 1) according to one embodiment of the present disclosure.
  • an inspection device e.g., the inspection device (100) of FIG. 1
  • control operations required for the inspection device (100) to perform an inspection is illustrated.
  • the control operations may have their order partially changed, at least some of the control operations may be omitted, or at least some of the control operations may be repeatedly performed as needed.
  • the inspection device (100) can obtain a reference image (e.g., reference image #1 (221-1) of FIG. 2) in operation 310.
  • the inspection device (100) can obtain the reference image #1 (221-1) generated by the image input unit (120) from a reference pressure-sensitive film (e.g., reference pressure-sensitive film #1 (211-1) of FIG. 2).
  • the inspection device (100) can also generate the reference image #1 (221-1) without obtaining the reference image (220) from an actual pressure-sensitive film.
  • the inspection device (100) can obtain an inspection target image in operation 320.
  • the inspection target image may be, for example, at least one of the target images (for example, target images #1 to #n (241-1 to 241-n) of FIG. 2) included in the inspection target image (for example, the inspection target image (240) of FIG. 2).
  • the inspection device (100) can obtain the inspection target image generated by the image input unit (120) from the target pressure-sensitive film.
  • the target pressure-sensitive film may be, for example, at least one of the target pressure-sensitive films (for example, target pressure-sensitive films #1 to #n (231-1 to 231-n) of FIG. 2) included in the target pressure-sensitive film (for example, target pressure-sensitive film (230) of FIG. 2).
  • the inspection device (100) may divide at least one of the target images included in the inspection target image (240) into a plurality of block areas in operation 330.
  • the inspection device (100) may divide the reference image (220) into a plurality of blocks.
  • the inspection device (100) can convert the reference image and the inspection target image into a plurality of section areas.
  • the plurality of section areas can be set to 1 pixel.
  • the present invention is not limited thereto, and the plurality of section areas can be set in various ways according to the user's settings.
  • the inspection device (100) can divide the reference image and the inspection target image into at least two block areas in order to match the reference image and the inspection target image.
  • the divided block areas will be referred to as matching block areas.
  • the inspection device (100) divides the reference image and the inspection target image into four block areas. In relation to this, it will be described in detail in FIG. 5 and below.
  • the inspection device (100) can divide the reference image into four matching block areas.
  • the inspection device (100) can divide the reference image into a first reference image block (e.g., the first reference image block (511a) of FIG. 5), a fifth reference image block (e.g., the second reference image block (511b) of FIG. 5), a third reference image block (e.g., the third reference image block (511c) of FIG. 5), and a fourth reference image block (e.g., the fourth reference image block (511d) of FIG. 5).
  • a first reference image block e.g., the first reference image block (511a) of FIG. 5
  • a fifth reference image block e.g., the second reference image block (511b) of FIG. 5
  • a third reference image block e.g., the third reference image block (511c) of FIG. 5
  • a fourth reference image block e.g., the fourth reference image block (511d) of FIG. 5
  • the inspection device (100) can divide the inspection target image into four matching block areas.
  • the inspection device (100) can divide the inspection target image into a first inspection target image block (e.g., the first inspection target image block (611a) of FIG. 6), a second inspection target image block (e.g., the second inspection target image block (611b) of FIG. 6), a third inspection target image block (e.g., the third inspection target image block (611c) of FIG. 6), and a fourth inspection target image block (e.g., the fourth inspection target image block (611d) of FIG. 6).
  • a first inspection target image block e.g., the first inspection target image block (611a) of FIG. 6
  • a second inspection target image block e.g., the second inspection target image block (611b) of FIG. 6
  • a third inspection target image block e.g., the third inspection target image block (611c) of FIG. 6
  • a fourth inspection target image block e.g., the fourth inspection target image block
  • the inspection device (100) can calculate the characteristic value for each block constituting the segmented inspection target image and the reference image.
  • the inspection device (100) can calculate the characteristic value for each block of the segmented inspection target image.
  • the characteristic value for each block calculated by the inspection device (100) can be used as data for matching the inspection target image and the reference image.
  • the data can be referred to as matching data.
  • the matching data can include, for example, matching inspection image data, which is data based on the characteristic value for each block constituting the segmented inspection target image.
  • the matching data can include, for example, matching reference image data, which is data based on the characteristic value for each block constituting the segmented reference image.
  • the inspection device (100) can image-process the reference image. For example, the inspection device (100) can convert the area, shape, or outline of the reference image into a digital image. The inspection device (100) can detect RGB values per pixel of the reference image. The inspection device (100) can store RGB values per pixel of the reference image.
  • the inspection device (100) can image-process the inspection target image.
  • the inspection device (100) can convert the area, shape, or outline of the inspection target image into a digital image.
  • the inspection device (100) can detect RGB values per pixel of the inspection target image.
  • the inspection device (100) can store RGB values per pixel of the inspection target image.
  • the inspection device (100) can perform RGB value conversion of the inspection target image.
  • the inspection device (100) can remove the G (green) value included in the color values constituting the inspection target image. By removing the G value, the inspection device (100) can reduce the amount of computation for image processing.
  • the inspection device (100) can rotate the inspection target image or flip it left and right to match the inspection target image and the reference image.
  • the inspection device (100) can fix a reference image at a designated location and cause an inspection target image to correspond to the designated location.
  • the inspection device (100) can correspond the center point of the reference image (e.g., center point 1 (515) of FIG. 5) to the center point of the inspection target image (e.g., center point 2 (615) of FIG. 6).
  • the inspection device (100) can arrange the center point 1 (515) and the center point 2 (615) to correspond on the same line so that the reference image and the inspection target image are overlapped.
  • the edges of the overlapped reference image and the inspection target image may not correspond.
  • the inspection device (100) can rotate the inspection target image.
  • the inspection device (100) can rotate the inspection target image in a predetermined direction while the reference image is fixed.
  • the predetermined direction can include, for example, a clockwise direction or a counterclockwise direction.
  • the inspection device (100) can rotate the inspection target image by a predetermined angle unit.
  • the inspection device (100) can rotate the inspection target image in 1° units.
  • the inspection device (100) can rotate the inspection target image in 1° units until any one of the corners of the inspection target image becomes less than a predetermined distance from any one of the corners of the adjacent reference image.
  • the inspection device (100) can rotate the inspection target image in 0.1° units.
  • the inspection device (100) can rotate the inspection target image in 0.1° units until any one of the corners of the inspection target image corresponds to any one of the corners of the adjacent reference image.
  • the inspection device (100) can match the inspection target image with the reference image.
  • the inspection device (100) can determine whether the outline of the inspection target image and the outline of the reference image match. If the outline of the inspection target image and the outline of the reference image match, the inspection device (100) can perform an operation of comparing the inspection target image and the reference image. If the outline of the inspection target image and the outline of the reference image do not match, the inspection device (100) can flip the inspection target image up and down or left and right. Accordingly, even if the user inserts the inspection target pressure-sensitive film in the wrong direction, the inspection device (100) can match the inspection target image and the reference image.
  • the inspection device (100) can determine whether the inspection target image is defective in operation 350.
  • the inspection device (100) can compare the reference image and the inspection target image.
  • the inspection device (100) can compare the aligned reference image and the inspection target image on a pixel-by-pixel basis.
  • the inspection device (100) may perform an inspection by setting at least a plurality of pixels as inspection execution units.
  • the inspection device (100) may perform an inspection by grouping 2x2 pixels. By performing an inspection by setting at least a plurality of pixels as inspection execution units, the inspection speed can be increased.
  • the inspection device (100) can perform inspection preferentially on a designated area of the inspection target image.
  • the designated area can be set by a user, for example.
  • the designated area may include a plurality of inspection pixel blocks.
  • the plurality of inspection pixel blocks may include a first inspection pixel block (e.g., the first inspection pixel block (710) of FIG. 8), a second inspection pixel block (e.g., the second inspection pixel block (720) of FIG. 8), or a third inspection pixel block (e.g., the third inspection pixel block (730) of FIG. 8).
  • the plurality of inspection pixel blocks may include more areas depending on the setting. Each of the plurality of inspection pixel blocks may be composed of at least one pixel.
  • each of the plurality of inspection pixel blocks may have a different resolution.
  • the resolution may range from, for example, 100 dpi (dots per inch) to 600 dpi.
  • the present invention is not limited thereto, and the plurality of inspection pixel blocks may have various ranges depending on the user's settings.
  • the first inspection pixel block (710) may be expressed at a resolution of 600 dpi.
  • the second inspection pixel block (720) may be expressed at a resolution of 400 dpi.
  • the third inspection pixel block (730) may be expressed at a resolution of 200 dpi.
  • the remaining target inspection area excluding the first inspection pixel block to the third inspection pixel block (710, 720, 730) in the inspection target image can be expressed at a resolution of 100 dpi.
  • a plurality of inspection pixel blocks may be configured with unit grids of different sizes.
  • the size of the unit grid constituting the first inspection pixel block (710) may be substantially smaller than or equal to the size of the unit grid constituting the second inspection pixel block (720).
  • the size of the unit grid constituting the second inspection pixel block (720) may be substantially smaller than or equal to the size of the unit grid constituting the third inspection pixel block (730).
  • the inspection device (100) can reduce resources required for performing inspection by setting the sizes of the unit grids constituting the plurality of inspection pixel blocks differently.
  • the inspection device (100) can shorten the time required for performing inspection by setting the sizes of the unit grids constituting the inspection pixel blocks differently.
  • the inspection device (100) can perform inspection on a plurality of inspection pixel blocks according to a preset priority.
  • the priority can be determined by a user's setting.
  • the inspection device (100) can perform inspection starting from a set block for a plurality of inspection pixel blocks.
  • the inspection device (100) can perform inspection in the order of an area having a high resolution (e.g., the first inspection pixel block (710)) to an area having a low resolution (e.g., the remaining inspection target area excluding the first to third inspection pixel blocks (710, 720, 730) in the inspection target image).
  • an area having a high resolution e.g., the first inspection pixel block (710)
  • an area having a low resolution e.g., the remaining inspection target area excluding the first to third inspection pixel blocks (710, 720, 730) in the inspection target image.
  • the inspection device (100) can compare a color value indicating a specific pixel of a reference image with a color value indicating a pixel of an inspection target image corresponding to the specific pixel. For example, if the difference in the color values exceeds a preset threshold value, the inspection device (100) can determine that the pixel is a defective pixel. The inspection device (100) can determine an inspection target image including the defective pixel as a defective image. For example, if the difference in the color values does not exceed a preset threshold value, the inspection device (100) can determine that the pixel is a good pixel. The inspection device (100) can determine an inspection target image not including the defective pixel as a good image.
  • the inspection device (100) can stop the inspection. By stopping the inspection due to the presence of a defective pixel, the inspection device (100) can shorten the time required to perform the inspection. For example, the inspection device (100) can perform the inspection on all areas even if it determines that a defective pixel exists in the inspection target image.
  • the inspection device (100) can store the points where defective pixels occur by repeatedly performing inspections on a plurality of inspection target images.
  • the inspection device (100) can accumulate and store the points where the defective pixels occur.
  • the inspection device (100) can preferentially perform inspections on pixels where there are many points where the defective pixels occur. For example, the inspection device (100) can preferentially perform inspections on pixels where defective pixels occur frequently within the first inspection pixel block (710).
  • the inspection device (100) may store the inspection target image in an image storage unit (e.g., the image storage unit (130) of FIG. 1) according to the inspection result of the inspection target image at operation 360.
  • an image storage unit e.g., the image storage unit (130) of FIG. 1
  • the inspection device (100) can store a defective image included in the inspection target image in a first image storage unit (e.g., the first image storage unit (131) of FIG. 2).
  • the inspection device (100) can store a good image included in the inspection target image in a second image storage unit (e.g., the second image storage unit (133) of FIG. 2).
  • FIG. 4 is a control flowchart for performing an inspection by an inspection device (100) according to one embodiment of the present disclosure.
  • the inspection device (100) can obtain a reference image (e.g., reference image #1 (221-1) of FIG. 2) in operation 310.
  • the inspection device (100) can obtain the reference image (221-1) generated by the image input unit (120) from a reference pressure-sensitive film (e.g., reference pressure-sensitive film #1 (211-1) of FIG. 2).
  • the inspection device (100) can also generate the reference image #1 (221-1) without obtaining the reference image (220) from an actual pressure-sensitive film.
  • the inspection device (100) can obtain an inspection target image (e.g., at least one of the target images included in the inspection target image (e.g., the inspection target image (240) of FIG. 2)) at operation 320.
  • the inspection device (100) can obtain the inspection target image generated by the image input unit (120) from a target pressure-sensitive film (e.g., at least one of the target pressure-sensitive films included in the target pressure-sensitive film (230) of FIG. 2).
  • the inspection device (100) can divide the inspection target image (240) into a plurality of block areas in operation 330.
  • the inspection device (100) can divide the reference image (220) into a plurality of blocks.
  • the inspection device (100) can divide the reference image into four block areas.
  • the inspection device (100) can divide the reference image into a first reference image block (e.g., the first reference image block (511a) of FIG. 5), a second reference image block (e.g., the second reference image block (511b) of FIG. 5), a third reference image block (e.g., the third reference image block (511c) of FIG. 5), and a fourth reference image block (e.g., the fourth reference image block (511d) of FIG. 5).
  • a first reference image block e.g., the first reference image block (511a) of FIG. 5
  • a second reference image block e.g., the second reference image block (511b) of FIG. 5
  • a third reference image block e.g., the third reference image block (511c) of FIG. 5
  • a fourth reference image block e.g., the fourth reference image block (511d) of FIG. 5
  • the inspection device (100) can divide the inspection target image into a first inspection target image block (e.g., the first inspection target image block (611a) of FIG. 6), a second inspection target image block (e.g., the second inspection target image block (611b) of FIG. 6), a third inspection target image block (e.g., the third inspection target image block (611c) of FIG. 6), and a fourth inspection target image block (e.g., the fourth inspection target image block (611d) of FIG. 6).
  • a first inspection target image block e.g., the first inspection target image block (611a) of FIG. 6
  • a second inspection target image block e.g., the second inspection target image block (611b) of FIG. 6
  • a third inspection target image block e.g., the third inspection target image block (611c) of FIG. 6
  • a fourth inspection target image block e.g., the fourth inspection target image block (611d) of FIG. 6
  • the inspection device (100) can calculate characteristic values for each block constituting the segmented inspection target image and the reference image. For one example, the inspection device (100) can calculate characteristic values for each block of the segmented inspection target image.
  • the inspection device (100) can match a reference image and an inspection target image in operation 340.
  • the inspection device (100) can convert a reference image and an inspection target image.
  • the inspection device can convert the acquired reference image and/or inspection target image into pixel units.
  • the inspection device (100) can convert the reference image and the inspection target image into a plurality of section areas.
  • the plurality of section areas can be set to 1 pixel.
  • the present invention is not limited thereto, and the plurality of section areas can be set in various ways according to the user's settings.
  • the inspection device (100) can perform image processing on the reference image. For example, the inspection device (100) can convert an area, a shape, or an outline of the reference image into a digital image. The inspection device (100) can detect RGB values per pixel of the reference image. The inspection device (100) can store RGB values per pixel of the reference image.
  • the inspection device (100) can image-process the inspection target image.
  • the inspection device (100) can convert the area, shape, or outline of the inspection target image into a digital image.
  • the inspection device (100) can detect RGB values per pixel of the inspection target image.
  • the inspection device (100) can store RGB values per pixel of the inspection target image.
  • the inspection device (100) can match a reference image and an inspection target image in operation 340.
  • the inspection device (100) can align the reference image and the inspection target image.
  • the inspection device (100) can align the reference image and the inspection target image.
  • the inspection device (100) can match the inspection target image and the reference image based on the characteristic values of each block constituting the segmented inspection target image and each block constituting the segmented reference image.
  • the inspection device (100) can match the inspection target image to the reference image using matching inspection data.
  • the inspection device (100) can rotate the inspection target image or flip it left and right to match the inspection target image and the reference image.
  • the inspection device (100) can perform RGB conversion on the reference image and the inspection target image in operation 441.
  • the inspection device (100) can remove the G (green) value included in the color values that constitute the reference image. By removing the G value, the inspection device (100) can reduce the amount of computation consumed in image processing.
  • the inspection device (100) can remove the G (green) value included in the color values that constitute the inspection target image. By removing the G value, the inspection device (100) can reduce the amount of computation consumed in image processing.
  • the inspection device (100) may correspond, in operation 443, the center point of the reference image (e.g., center point 1 (515) of FIG. 5) to the center point of the inspection target image (e.g., center point 2 (615) of FIG. 6).
  • the inspection device (100) may arrange the center point 1 (515) and the center point 2 (615) to correspond on the same line so that the reference image and the inspection target image are overlapped. The edges of the overlapped reference image and the inspection target image may not correspond.
  • the inspection device (100) may rotate the inspection target image in operation 445.
  • the inspection device (100) may rotate the inspection target image in a predetermined direction while the reference image is fixed.
  • the predetermined direction may include, for example, a clockwise direction or a counterclockwise direction.
  • the inspection device (100) may rotate the inspection target image by a predetermined angle unit.
  • the inspection device (100) can rotate the inspection target image in 1° units.
  • the inspection device (100) can rotate the inspection target image in 1° units until any one of the corners of the inspection target image becomes less than a predetermined distance from any one of the corners of the adjacent reference image.
  • the inspection device (100) can rotate the inspection target image in 0.1° units.
  • the inspection device (100) can rotate the inspection target image in 0.1° units until any one of the corners of the inspection target image corresponds to any one of the corners of the adjacent reference image.
  • the inspection device (100) can match the inspection target image with the reference image in operation 447.
  • the inspection device (100) can determine whether the outline of the inspection target image and the outline of the reference image match. If the outline of the inspection target image and the outline of the reference image match, the inspection device (100) can perform an operation of comparing the inspection target image and the reference image. If the outline of the inspection target image and the outline of the reference image do not match, the inspection device (100) can flip the inspection target image up and down or left and right. Accordingly, even if the user inserts the inspection target pressure-sensitive film in the wrong direction, the inspection device (100) can match the inspection target image and the reference image.
  • the inspection device (100) can determine whether the inspection target image is defective in operation 350.
  • the inspection device (100) can compare the reference image and the inspection target image.
  • the inspection device (100) can compare the aligned reference image and the inspection target image on a pixel-by-pixel basis.
  • the inspection device (100) can compare a color value indicating a specific pixel of a reference image with a color value indicating a pixel of an inspection target image corresponding to the specific pixel. For example, if the difference in the color values exceeds a preset threshold value, the inspection device (100) can determine that the pixel is a defective pixel. The inspection device (100) can determine an inspection target image including the defective pixel as a defective image. For example, if the difference in the color values does not exceed a preset threshold value, the inspection device (100) can determine that the pixel is a good pixel. The inspection device (100) can determine an inspection target image not including the defective pixel as a good image.
  • the inspection device (100) can determine the order of areas in which inspection is to be performed. As a result, the inspection device (100) can shorten the time required for inspection and improve inspection efficiency.
  • the inspection device (100) may determine a target inspection pixel block from among a plurality of inspection pixel blocks in operation 451.
  • the target inspection pixel block may be defined as a block set as a specific area on which the inspection device (100) will perform inspection preferentially in the inspection target image.
  • the inspection device (100) may perform inspection preferentially on a designated area of the inspection target image.
  • the designated area may be set by a user, for example.
  • the designated area may include a plurality of inspection pixel blocks.
  • the plurality of inspection pixel blocks may include a first inspection pixel block (e.g., a first inspection pixel block (710) of FIG. 8), a second inspection pixel block (e.g., a second inspection pixel block (720) of FIG. 8), or a third inspection pixel block (e.g., a third inspection pixel block (730) of FIG. 8).
  • the plurality of inspection pixel blocks may include more areas depending on the setting. Each of the plurality of inspection pixel blocks may be composed of at least one pixel.
  • each of the plurality of inspection pixel blocks may have a different resolution.
  • the resolution may range from, for example, 100 dpi (dots per inch) to 600 dpi.
  • the present invention is not limited thereto, and the plurality of inspection pixel blocks may have various ranges depending on the user's settings.
  • the first inspection pixel block (710) may be expressed at a resolution of 600 dpi.
  • the second inspection pixel block (720) may be expressed at a resolution of 400 dpi.
  • the third inspection pixel block (730) may be expressed at a resolution of 200 dpi.
  • an area excluding the first inspection pixel block to the third inspection pixel block (710, 720, 730) in the inspection target image may be expressed at a resolution of 100 dpi.
  • An area excluding the first inspection pixel block to the third inspection pixel block (710, 720, 730) in the inspection target image may be defined as a remaining target inspection area.
  • the inspection device (100) can perform inspection on a plurality of inspection pixel blocks according to a preset priority.
  • the priority can be determined by a user's setting.
  • the inspection device (100) can perform inspection from a set area for a plurality of inspection pixel blocks.
  • the inspection device (100) can perform inspection in the order of an area having a high resolution (e.g., the first inspection pixel block (710)) to an area having a low resolution (e.g., an area excluding the first inspection pixel block to the third inspection pixel block (710, 720, 730) in the inspection target image).
  • an area having a high resolution e.g., the first inspection pixel block (710)
  • an area having a low resolution e.g., an area excluding the first inspection pixel block to the third inspection pixel block (710, 720, 730) in the inspection target image.
  • the inspection device (100) when the inspection device (100) finishes performing an inspection on pixels existing in the first inspection pixel block (710), it can perform an inspection on pixels existing in the second inspection pixel block (720). When the inspection device (100) finishes performing an inspection on pixels existing in the second inspection pixel block (720), it can perform an inspection on pixels existing in the third inspection pixel block (730). When the inspection device (100) finishes performing an inspection on pixels existing in the third inspection pixel block (730), it can perform an inspection on pixels existing in the remaining area.
  • the inspection device (100) can perform inspection by giving priority to pixels with a high frequency of occurrence of defective pixels in operation 453.
  • the inspection device (100) can store points where defective pixels occur by repeatedly performing inspections on a plurality of inspection target images.
  • the inspection device (100) can accumulate and store points where the defective pixels occur.
  • the inspection device (100) can perform inspection starting from points where the defective pixels occur frequently. Accordingly, the inspection device (100) can effectively identify the defective location of the jig by indicating the location of the jig corresponding to the defective pixel of the inspection target image.
  • the inspection device (100) may perform an inspection by setting at least a plurality of pixels as an inspection performance unit.
  • the inspection device (100) may perform an inspection by grouping 2x2 pixels. Since the inspection device (100) performs an inspection by setting at least a plurality of pixels as an inspection performance unit, the inspection speed can be increased. In the following, for the convenience of explanation, it will be assumed and described that the inspection device (100) performs an inspection in units of one pixel.
  • the inspection device (100) can detect whether a defective pixel exists in the inspection target image at operation 455.
  • the inspection device (100) can compare a color value indicating a specific pixel of a reference image with a color value indicating a pixel of the inspection target image corresponding to the specific pixel. For example, if the difference in the color values exceeds a preset threshold value, the inspection device (100) can determine that the pixel is a defective pixel.
  • the inspection device (100) can determine an inspection target image including the defective pixel as a defective image. For example, if the difference in the color values does not exceed a preset threshold value, the inspection device (100) can determine that the pixel is a good pixel.
  • the inspection device (100) can determine an inspection target image not including the defective pixel as a good image.
  • the inspection device (100) if the inspection device (100) detects that a defective pixel exists in the inspection target image, the inspection can be stopped at operation 457.
  • the inspection device (100) can determine the inspection image as a defective image. By stopping the inspection when the inspection device (100) finds a defective pixel, the time required to perform the inspection can be shortened.
  • the inspection device (100) can store the location of a defective pixel detected in an image to be inspected.
  • the inspection device (100) can accumulate and store the number of times a defect occurs according to the location of the pixel.
  • the inspection device (100) when the inspection device (100) performs inspection in multiple pixel units, the inspection device (100) can store the location of the section corresponding to the multiple pixel units on which the inspection was performed. The inspection device (100) can also accumulate and store the number of times a defect occurs according to the location of the section.
  • the inspection device (100) can determine whether there is a remaining inspection pixel block. If there is a remaining inspection pixel block to be inspected, the inspection device (100) can perform an inspection on blocks set in the following order (e.g., the second inspection pixel block (720)).
  • the inspection device (100) can determine that the inspection target image is a good image if there are no defective pixels in the inspection target image and no more remaining inspection pixel blocks exist.
  • the inspection device (100) may store a defective image included in the inspection target image in the first image storage unit (e.g., the first image storage unit (131) of FIG. 2) in operation 461.
  • the first image storage unit e.g., the first image storage unit (131) of FIG. 2
  • the inspection device (100) may store a good product image included in the inspection target image in a second image storage unit (e.g., the second image storage unit (133) of FIG. 2) in operation 463.
  • a second image storage unit e.g., the second image storage unit (133) of FIG. 2
  • the inspection device (100) can store identification information indicating the inspection target image in the image storage unit (130).
  • the identification information can include, for example, a serial number of the inspection target image, an inspection result of the inspection target image, or an inspection date.
  • the inspection device (100) can easily identify the trend of the jig status according to the inspection date.
  • the inspection device (100) can easily identify whether follow-up measures for the jig have been performed according to the inspection date.
  • the inspection device (100) can visually output the inspection results using a display provided in the inspection device (100).
  • the inspection device (100) can display information indicating the serial number of the inspection target image and the inspection results using the display.
  • the inspection device (100) can output the inspection result audibly through a speaker provided in the inspection device (100).
  • the inspection device (100) can output the serial number of the inspection target image and information indicating the inspection result through the speaker.
  • FIG. 5 illustrates an operation of an inspection device (e.g., the inspection device (100) of FIG. 1) according to one embodiment of the present invention to convert RGB values of a reference image (510) (e.g., the reference image (220) of FIG. 2) or an inspection target image (e.g., the inspection target image (240) of FIG. 2).
  • a reference image e.g., the reference image (220) of FIG. 2
  • an inspection target image e.g., the inspection target image (240) of FIG. 2
  • FIG. 5 illustrates an operation of an inspection device (e.g., the inspection device (100) of FIG. 1) according to one embodiment of the present invention to convert RGB values of a reference image (510) (e.g., the reference image (220) of FIG. 2) or an inspection target image (e.g., the inspection target image (240) of FIG. 2).
  • the operations illustrated in FIG. 5 and below do not represent actual operations performed by the inspection device (100), but rather visually represent a series of processes by which the inspection
  • the illustrated operation represents operation 330 of FIG. 3.
  • the inspection device (100) can extract color values for a reference image (510).
  • the reference image (510) can be composed of an R (red) component, a G (green) component, and a B (blue) component.
  • (a) illustrates an image in which a reference image (510) includes all of the R (red) component, the G (green) component, and the B (blue) component.
  • (b) illustrates that the inspection device (100) separates and extracts the R (red) component (512), G (green) component (513), and B (blue) component (514) from the reference image (510).
  • (c) illustrates an image in which the inspection device (100) synthesizes the R (red) component (512) and the B (blue) component (514) by removing the G (green) component (513) from the reference image (510).
  • the image generated by synthesizing the R (red) component (512) and the B (blue) component (514) from the reference image (510) will be referred to as a converted reference image (511).
  • the inspection device (100) can generate an image by synthesizing the R (red) component and the B (blue) component by removing the G (green) component from at least one inspection target image included in the inspection target image (240).
  • the image generated by synthesizing the R (red) component and the B (blue) component from the inspection target image will be referred to as a converted inspection target image (e.g., the converted inspection target image (611) of FIG. 6).
  • the inspection device (100) may divide the conversion reference image (511) into at least two matching block areas to match the conversion reference image (511).
  • the block areas may be configured, for example, in units of predetermined pixel blocks.
  • the inspection device (100) may divide the conversion reference image (511) into four matching block areas.
  • the matching block areas may include, for example, a first reference image block (511a), a second reference image block (511b), a third reference image block (511c), or a fourth reference image block (511d).
  • the inspection device (100) may divide the conversion target inspection image (611) into at least two matching block areas in order to match the conversion target inspection image (611) and the conversion reference image (511).
  • the block areas may be configured, for example, in units of predetermined pixel blocks.
  • the inspection device (100) may divide the conversion target inspection image (611) into four matching block areas.
  • the matching block areas may include, for example, a first inspection target image block (e.g., a first inspection target image block (611a) of FIG. 6), a second inspection target image block (e.g., a second inspection target image block (611b) of FIG. 6), a third inspection target image block (e.g., a third inspection target image block (611c) of FIG. 6), or a fourth inspection target image block (e.g., a fourth inspection target image block (611d) of FIG. 6).
  • a first inspection target image block e.g., a first inspection target image block (611a) of FIG. 6
  • the inspection device (100) can reduce the resources required to detect a defect by generating a conversion reference image (511) and a conversion inspection target image (611).
  • FIG. 6 illustrates an operation of an inspection device (e.g., the inspection device (100) of FIG. 1) according to one embodiment of the present disclosure to rotate and align a transformation inspection target image (611) with respect to a transformation reference image (511).
  • an inspection device e.g., the inspection device (100) of FIG. 1
  • FIG. 6 illustrates an operation of an inspection device (e.g., the inspection device (100) of FIG. 1) according to one embodiment of the present disclosure to rotate and align a transformation inspection target image (611) with respect to a transformation reference image (511).
  • the illustrated operation represents operation 340 of FIG. 3 or operations 443 to 445 of FIG. 4.
  • (a) illustrates a state in which the transformation reference image (511) and the transformation inspection target image (611) are not aligned.
  • (b) illustrates a state in which the center points of the transformation reference image (511) and the transformation inspection target image (611) correspond.
  • the inspection device (100) can correspond the center points of the conversion reference image (511) and the conversion inspection target image (611).
  • the inspection device (100) can correspond the center point 1 (515) of the conversion reference image (511) and the center point 2 (615) of the conversion inspection target image (611).
  • the inspection device (100) can cover the conversion reference image (511) and the conversion inspection target image (611).
  • (c) illustrates that the inspection device (100) rotates the transformation inspection target image (611) in a predetermined direction.
  • the inspection device (100) can rotate the inspection target image.
  • the inspection device (100) can rotate the inspection target image in a predetermined direction while the reference image is fixed.
  • the predetermined direction can include, for example, a clockwise direction or a counterclockwise direction.
  • the inspection device (100) can rotate the inspection target image by a predetermined angle unit.
  • the inspection device (100) can rotate the conversion inspection target image (611) in 1° units.
  • the inspection device (100) can rotate the conversion inspection target image (611) in 1° units until any one of the corners of the conversion inspection target image (611) becomes less than a predetermined distance from any one of the corners of the adjacent conversion reference image (511).
  • the inspection device (100) can rotate the conversion inspection target image (611) in 0.1° units.
  • the inspection device (100) can rotate the inspection target image in 0.1° units until any one of the corners of the conversion inspection target image (611) corresponds to any one of the corners of the adjacent conversion reference image (511).
  • FIG. 7 illustrates an operation of an inspection device (e.g., inspection device (100) of FIG. 1) according to one embodiment of the present disclosure to invert and align a transformation inspection target image (611) with respect to a transformation reference image (511).
  • an inspection device e.g., inspection device (100) of FIG. 1
  • FIG. 7 illustrates an operation of an inspection device (e.g., inspection device (100) of FIG. 1) according to one embodiment of the present disclosure to invert and align a transformation inspection target image (611) with respect to a transformation reference image (511).
  • the illustrated operation represents operation 340 of FIG. 3 or operation 449 of FIG. 4.
  • (a) illustrates a case where the outlines of the transformation inspection target image (611) and the transformation reference image (511) do not match.
  • the inspection device (100) can determine whether the outline of the conversion inspection target image (611) and the outline of the conversion reference image (511) match.
  • the inspection device (100) can calculate the characteristic value for each block constituting the segmented conversion inspection target image (611) and the conversion reference image (511).
  • the inspection device (100) can calculate the characteristic value for each block of the segmented conversion inspection target image (511).
  • the inspection device (100) can calculate the characteristic value for each block of the segmented conversion inspection target image (611).
  • the inspection device (100) can match the conversion inspection target image (611) to the conversion reference image (511) using matching inspection image data based on the calculated characteristic value for each block.
  • the inspection device (100) can determine whether a characteristic value indicating a first reference image block (511a) and a characteristic value indicating a second inspection target image block (611b) match.
  • the inspection device (100) can detect that a characteristic value indicating a first reference image block (511a) and a characteristic value indicating a second inspection target image block (611b) do not match.
  • the inspection device (100) can determine whether a characteristic value indicating a second reference image block (511b) and a characteristic value indicating a first inspection target image block (611a) match.
  • the inspection device (100) can detect that a characteristic value indicating a second reference image block (511b) and a characteristic value indicating a first inspection target image block (611a) do not match.
  • the inspection device (100) can determine whether a characteristic value indicating a third reference image block (511c) and a characteristic value indicating a fourth inspection target image block (611d) match.
  • the inspection device (100) can detect that a characteristic value indicating a third reference image block (511c) and a characteristic value indicating a fourth inspection target image block (611d) do not match.
  • the inspection device (100) can determine whether the characteristic value indicating the fourth reference image block (511d) and the characteristic value indicating the third inspection target image block (611c) match.
  • the inspection device (100) can detect that the characteristic value indicating the fourth reference image block (511d) and the characteristic value indicating the third inspection target image block (611c) do not match.
  • the inspection device (100) can flip the transformation inspection target image (611) up and down or left and right.
  • (b) illustrates a case where the outlines of the transformation inspection target image (611) and the transformation reference image (511) match.
  • the inspection device (100) can determine whether the outline of the transformation inspection target image (611) and the outline of the transformation reference image (511) match.
  • the inspection device (100) can determine whether a characteristic value indicating a first reference image block (511a) and a characteristic value indicating a first inspection target image block (611a) match.
  • the inspection device (100) can detect that a characteristic value indicating a first reference image block (511a) and a characteristic value indicating a first inspection target image block (611a) match.
  • the inspection device (100) can determine whether a characteristic value indicating a second reference image block (511b) and a characteristic value indicating a second inspection target image block (611b) match.
  • the inspection device (100) can detect that a characteristic value indicating a second reference image block (511b) and a characteristic value indicating a second inspection target image block (611b) match.
  • the inspection device (100) can determine whether the characteristic value indicating the third reference image block (511c) and the characteristic value indicating the third inspection target image block (611c) match.
  • the inspection device (100) can detect that the characteristic value indicating the third reference image block (511c) and the characteristic value indicating the third inspection target image block (611c) match.
  • the inspection device (100) can determine whether the characteristic value indicating the fourth reference image block (511d) and the characteristic value indicating the fourth inspection target image block (611d) match.
  • the inspection device (100) can detect that the characteristic value indicating the fourth reference image block (511d) and the characteristic value indicating the fourth inspection target image block (611d) match.
  • the inspection device (100) can perform an operation of comparing the conversion inspection target image (611) and the conversion reference image (511).
  • the inspection device (100) flips the converted inspection target image up and down or left and right, even if the user inserts the inspection target pressure-sensitive film in the wrong direction, the inspection device (100) can match the converted inspection target image (611) with the converted reference image (511).
  • an image in which the outlines of the conversion inspection target image (611) and the conversion reference image (511) match may be defined as a judgment target image (700).
  • the inspection device (100) may analyze the color values of the judgment target image (700) to determine whether a defective pixel exists in the inspection target image.
  • FIG. 8 illustrates an operation of an inspection device (100) setting an inspection performance area of a judgment target image (700) according to one embodiment of the present disclosure.
  • the inspection device (100) can set an area to perform an inspection.
  • the area to perform the inspection can be designated by a user.
  • the area can include a plurality of inspection pixel blocks.
  • the plurality of inspection pixel blocks may include a first inspection pixel block (710), a second inspection pixel block (720), or a third inspection pixel block (730).
  • a first inspection pixel block (710) a second inspection pixel block (720), or a third inspection pixel block (730).
  • an area excluding the first to third inspection pixel blocks (710, 720, 730) will be defined as a remaining target inspection area.
  • the plurality of inspection pixel blocks may further include an area on which an inspection is to be performed according to a user's setting.
  • the plurality of inspection pixel blocks may have different resolutions. In one example, the plurality of inspection pixel blocks may have a resolution in the range of 100 dpi to 600 dpi. In addition, the plurality of inspection pixel blocks may have a wider range of resolutions depending on the user's settings.
  • the first inspection pixel block (710) may be expressed at a resolution of 600 dpi.
  • the second inspection pixel block (720) may be expressed at a resolution of 400 dpi.
  • the third inspection pixel block (730) may be expressed at a resolution of 200 dpi.
  • the residual target inspection area can be expressed at a resolution of 100 dpi.
  • the inspection device (100) can perform inspection on a plurality of inspection pixel blocks according to a preset priority.
  • the priority can be determined by a user's setting.
  • the inspection device (100) can perform inspection in the order of high-resolution area to low-resolution area.
  • the inspection device (100) can perform inspection in the order of first inspection pixel block (710), second inspection pixel block (720), third inspection pixel block (730), and remaining target inspection area.
  • the inspection device (100) sets the inspection priority for a plurality of inspection pixel blocks having different resolutions, the amount of computation required for inspection can be reduced.
  • the inspection time can be shortened as the inspection device (100) sets the inspection priority for a plurality of inspection pixel blocks having different resolutions.
  • FIG. 9 illustrates a pass/fail judgment operation of a judgment target image (700) by an inspection device (100) according to one embodiment of the present disclosure.
  • the size of a grid composing the judgment target image (700) may vary depending on a plurality of inspection pixel blocks (e.g., the first inspection pixel block to the third inspection pixel block (710, 720, 730)).
  • a unit grid any one of the grids composing the first inspection pixel block to the third inspection pixel block (710, 720, 730) will be referred to as a unit grid.
  • the illustrated operation represents operation 350 of FIG. 3.
  • the inspection device (100) can detect a color value indicating a unit grid of a judgment target image (700).
  • the color value indicating the unit grid may be expressed as a combination of an R value and a B value.
  • the inspection device (100) can compare a color value indicating a unit grid of a judgment target image (700) with a color value indicating a unit grid of a conversion reference image (e.g., a conversion reference image (511) of FIG. 5) corresponding to the unit grid.
  • the inspection device (100) can compare a color density of a color value indicating a unit grid of a judgment target image (700) with a color density of a color value indicating a unit grid of the conversion reference image (511).
  • the inspection device (100) can determine that the corresponding unit grid of the judgment target image (700) is defective.
  • the inspection device (100) can determine that the corresponding unit grid of the judgment target image (700) is good.
  • the inspection device (100) can detect a predetermined pressure that must be applied so that the color density per unit grid of the judgment target image (700) becomes the same as the color density per unit grid of the conversion reference image (511).
  • the predetermined pressure can be expressed in units of, for example, kg (kilogram).
  • the inspection device (100) may determine that the corresponding unit grid of the judgment target image (700) is defective if the predetermined pressure exceeds a preset threshold level. For example, the inspection device (100) may determine that the corresponding unit grid is defective if the predetermined pressure to be applied exceeds +1.0 kg or is less than -1.0 kg.
  • the inspection device (100) may determine that the corresponding unit grid of the judgment target image (700) is good if the predetermined pressure is below a preset threshold level. For example, the inspection device (100) may determine that the corresponding unit grid is good if the predetermined pressure to be applied is within a range of +1.0 kg to -1.0 kg.
  • the inspection device (100) determines that the corresponding unit grid is good. That is, if the difference in the color density exceeds +20% or is less than -20% compared to the color density indicating the unit grid of the conversion reference image (511), the inspection device (100) will determine that the corresponding unit grid is defective.
  • the threshold range may satisfy various ranges depending on the setting.
  • each numerical value shown in the table and unit grid may be defined as follows for convenience of explanation.
  • the color density difference (d) When the color density difference (d) is -20 or less, it may be expressed as -20.
  • the color density difference (d) is greater than -20 and less than or equal to -10, it may be expressed as -10.
  • the color density difference (d) When the color density difference (d) is greater than -10 and less than or equal to +10, it may be expressed as 0.
  • the color density difference (d) is greater than +10 and less than or equal to 20 may be expressed as +10.
  • the inspection device (100) When the color density difference (d) of the corresponding unit grid indicates -20 or -20, the inspection device (100) may determine that the corresponding unit grid is defective. If the color density difference (d) of the corresponding unit grid indicates -10, 0, or +10, the inspection device (100) can determine that the corresponding unit grid is a good product.
  • the inspection device (100) can perform inspection first on the first inspection pixel block (710).
  • the inspection device (100) can first inspect a unit grid in which a defect occurs frequently within the first inspection pixel block (710). This will be described in detail in FIG. 10.
  • the inspection device (100) can perform an inspection of the 1-1 region (711) included in the first inspection pixel block (710).
  • the inspection device (100) can detect a difference between a color density indicating a unit grid constituting the 1-1 region (711) and a color density of a unit grid constituting a corresponding conversion reference image (511).
  • the inspection device (100) detects that the color density difference of the unit grids constituting the 1-1 region (711) is -10, 0, +10, it can determine that the unit grids constituting the 1-1 region (711) are good.
  • the inspection device (100) determines that the unit grids constituting the first inspection pixel block (710) are good, it can perform an inspection on the second inspection pixel block (720).
  • the inspection device (100) can perform an inspection on the second inspection pixel block (720).
  • the inspection device (100) can first inspect a unit grid in which a defect occurs frequently within the second inspection pixel block (720).
  • the inspection device (100) can perform an inspection of a 2-1 area (721) included in a second inspection pixel block (720).
  • the inspection device (100) can detect a difference between a color density indicating a unit grid constituting the 2-1 area (721) and a color density of a unit grid constituting a corresponding conversion reference image (511).
  • the inspection device (100) detects that the color density difference of the unit grids constituting the 2-1 region (721) is -20 or +20, it can determine that the unit grids constituting the 2-1 region (721) are defective. If the inspection device (100) determines that a defective unit grid exists in the second inspection pixel block (720), it can stop the inspection. The inspection device (100) can determine that the judgment target image (700) is a defective image. The inspection device (100) can store the judgment target image (700) in a second image storage unit (e.g., the second image storage unit (233) of FIG. 2).
  • a second image storage unit e.g., the second image storage unit (233) of FIG.
  • the inspection device (100) can continue to perform inspection even if there is a defective unit grid in the second inspection pixel block (720) according to the settings. In this case, the inspection device can perform inspection on the third inspection pixel block (730).
  • the inspection device (100) can perform an inspection of a 3-1 area (731) included in a third inspection pixel block (730).
  • the inspection device (100) can detect a difference between a color density indicating a unit grid constituting the 3-1 area (731) and a color density of a unit grid constituting a corresponding conversion reference image (511).
  • the inspection device (100) detects that the color density difference of the unit grids constituting the 3-1 region (731) is -20 or +20, it can determine that the unit grids constituting the 3-1 region (731) are defective. If the inspection device (100) determines that a defective unit grid exists in the third inspection pixel block (730), it can stop the inspection. The inspection device (100) can determine that the judgment target image (700) is a defective image. The inspection device (100) can store the judgment target image (700) in a second image storage unit (e.g., the second image storage unit (233) of FIG. 2).
  • a second image storage unit e.g., the second image storage unit (233) of FIG.
  • the inspection device (100) may continue to perform inspection even if there is a defective unit grid within the third inspection pixel block (730) according to the settings. In this case, the inspection device may perform inspection on the remaining target inspection area (e.g., the remaining target inspection area of FIG. 8).
  • the inspection device (100) can reduce the resources and time required to perform the inspection by preferentially performing the inspection on a plurality of inspection pixel blocks.
  • the inspection time can be shortened as the inspection device (100) stops the inspection as soon as it detects a defective unit grid.
  • the inspection device (100) detects a defective unit grid
  • the area where a defect occurs in the jig can be collectively checked by performing an inspection on the entire area of the judgment target image (700).
  • FIG. 10 illustrates an operation of an inspection device (100) according to one embodiment of the present disclosure to record the frequency of occurrence of defects for each unit grid of a judgment target image (700).
  • the frequency of occurrence of defects in a unit grid is exemplarily illustrated in an arbitrary area (e.g., 1-2 area (712)) included in a part of the first inspection pixel block (710).
  • the inspection device (100) can record the frequency of occurrence of defects not only for the 1-2 area (712) but also for all areas of the judgment target image (700) (e.g., the first inspection pixel block (710), the second inspection pixel block (720), the third inspection pixel block (730), or the remaining target inspection areas).
  • the inspection device (100) recording the frequency of occurrence of defects for the 1-2 area (712) will be described.
  • the inspection device (100) can record the frequency of occurrence of defects for each unit grid of the judgment target image (700).
  • the inspection device (100) can perform the same operation on a plurality of inspection pixel blocks (e.g., a first inspection pixel block (710), a second inspection pixel block (720), a third inspection pixel block (730), or a remaining target inspection area).
  • the first-second region (712) may include at least a plurality of unit lattices.
  • the at least a plurality of unit lattices may include lattice 1-1 (S 11 ), lattice 1-2 (S 12 ), lattice 1-3 (S 13 ), lattice 1-4 (S 14 ), and lattice 1-5 (S 15 ).
  • the at least a plurality of unit lattices may include lattices 2-1 to 2-7 (S 21 , S 22 , S 23 , S 24 , S 25 , S 26 , S 27 ).
  • the at least a plurality of unit lattices may include lattices 3-1 to 3-8 (S 31 , S 32 , S 33 , S 34 , S 35 , S 36 , S 37 , S 38 ).
  • the at least plurality of unit lattices may include lattices 4-1 to 4-8 (S 41 , S 42 , S 43 , S 44 , S 45 , S 46 , S 47 , S 48 ).
  • the at least plurality of unit lattices may include lattices 5-1 to 5-8 (S 51 , S 52 , S 53 , S 54 , S 55 , S 56 , S 57 , S 58 ).
  • the at least plurality of unit lattices may include lattices 6-1 to 6-8 (S 61 , S 62 , S 63 , S 64 , S 65 , S 66 , S 67 , S 68 ).
  • the at least plurality of unit lattices may include lattices 7-1 to 7-7 (S 71 , S 72 , S 73 , S 74 , S 75 , S 76 , S 77 ).
  • the at least plurality of unit lattices may include lattices 8-1 to 8-5 (S 81 , S 82 , S 83 , S 84 , S 85 ).
  • the inspection device (100) determines that a unit grid is defective, it can record the location of the unit grid where the defect occurred. As the inspection device (100) repeatedly performs the inspection, it can accumulate and record the location of the unit grid where the defect occurred.
  • the inspection device (100) may record that a defect frequency occurred 11 times in grid 2-4 (S 24 ).
  • the inspection device (100) may record that a defect frequency occurred 5 times in grid 3-7 (S 37 ).
  • the inspection device (100) can record that a defect frequency occurred once in grid 4-3 (S 43 ).
  • the inspection device (100) can record that a defect frequency occurred three times in grid 5-5 (S 55 ).
  • the inspection device (100) may record that a defect frequency occurred 7 times in grid 6-1 (S 61 ).
  • the inspection device (100) may record that a defect frequency occurred 9 times in grid 6-4 (S 64 ).
  • the inspection device (100) may record that a defect frequency occurred 6 times in grid 7-7 (S 77 ).
  • the inspection device (100) may record that a defect frequency occurred 22 times in grid 8-5 (S 85 ).
  • the inspection device (100) can record that the defective frequency occurred 0 times for the remaining grids in the 1-2 region (712). For convenience of explanation, it will be assumed that the defective frequency occurred 0 times for all remaining regions except the 1-2 region (712) in the first inspection pixel block (710).
  • the above-described defect frequency is provided as an example, and the inspection device (100) can cumulatively record the defect occurrence frequency for the unit grid where a defect occurs.
  • the inspection device (100) when performing an inspection, can preferentially inspect a unit grid with a high frequency of defect occurrence.
  • the inspection device (100) can perform inspection in the order of grid 8-5 (S 85 ) (grid with a defect frequency of 22), grid 2-4 (S 24 ) (grid with a defect frequency of 11), grid 6-4 (S 64 ) (grid with a defect frequency of 9), grid 6-1 (S 61 ) (grid with a defect frequency of 7), grid 7-7 (S 77 ) (grid with a defect frequency of 6), grid 3-7 (S 37 ) (grid with a defect frequency of 5), grid 5-5 (S 55 ) (grid with a defect frequency of 3), and grid 4-3 (S 43 ) (grid with a defect frequency of 1) in the first-second region (712). If the above inspection device (100) determines that the unit grid in which the defective frequency occurred at least once is good, it can perform an inspection on the remaining unit grids of the first inspection pixel block (710).
  • the inspection device (100) determines that all of the unit grids constituting the first inspection pixel block (710) are good, it can perform an inspection on the second inspection pixel block (720).
  • the inspection device (100) can perform an inspection on the second inspection pixel block (720) in the same manner. That is, although not shown, the inspection device (100) can perform an inspection in the order of unit grids having a high frequency of defect occurrence among the unit grids constituting the second inspection pixel block (720).
  • the inspection device (100) when the inspection device (100) detects a unit grid that is judged to be defective among the unit grids forming the second inspection pixel block (720), the inspection device (100) can record the location where the defective unit grid occurred.
  • the inspection device (100) can stop the inspection and store the judgment target image (700) in the first image storage unit (e.g., the first image storage unit (231) of FIG. 2).
  • the inspection device (100) determines that all of the unit grids constituting the second inspection pixel block (720) are good, it can perform an inspection on the third inspection pixel block (730).
  • the inspection device (100) can perform an inspection on the third inspection pixel block (730) in the same manner. That is, although not shown, the inspection device (100) can perform an inspection in the order of unit grids having a high frequency of defect occurrence among the unit grids constituting the third inspection pixel block (730).
  • the inspection device (100) when the inspection device (100) detects a unit grid that is judged to be defective among the unit grids forming the third region (73), the inspection device (100) can record the location where the defective unit grid occurred.
  • the inspection device (100) can stop the inspection and store the judgment target image (700) in the first image storage unit (e.g., the first image storage unit (231) of FIG. 2).
  • the inspection device (100) performs an inspection on the first inspection pixel block (710), the second inspection pixel block (720), the third inspection pixel block (730), and the remaining target inspection area, and if all unit grids are judged to be good, it can determine that the judgment target image (700) on which the inspection was performed is a good image.
  • the inspection device (100) can store the judgment target image (700) in a second image storage unit (e.g., the second image storage unit (233) of FIG. 2).
  • the inspection device (100) records the frequency of occurrence of defects in the unit grids constituting the plurality of inspection pixel blocks, inspection can be performed preferentially on the unit grids with a high frequency of occurrence of defects. As a result, the inspection device (100) can reduce the amount of computation required to perform the inspection. The inspection device (100) can shorten the time required to perform the inspection.
  • An inspection device (100) may include an image input unit (120) configured to scan a pressure-sensitive film, which is mounted on a jig of a pressing equipment as a target of flatness inspection, and on which a pattern image according to pressure distribution is marked, to obtain an inspection target image, and a control unit (110) configured to determine whether the inspection target image is defective.
  • an image input unit (120) configured to scan a pressure-sensitive film, which is mounted on a jig of a pressing equipment as a target of flatness inspection, and on which a pattern image according to pressure distribution is marked, to obtain an inspection target image
  • a control unit (110) configured to determine whether the inspection target image is defective.
  • the control unit (110) may be configured to match the inspection target image to a preset inspection reference image using matching inspection image data acquired in response to each of a plurality of matching pixel block areas dividing the inspection target image, select a target inspection pixel block to be subject to a defect inspection from among a plurality of inspection pixel blocks included in the inspection target image in response to the inspection target image and the inspection reference image being matched, and compare characteristic values of a target reference pixel block matched to the target inspection pixel block and the target inspection pixel block on a pixel basis from among a plurality of reference pixel blocks included in the inspection reference image to determine whether the inspection target image is defective.
  • the above target inspection pixel block is a remaining inspection pixel block having the highest priority among the remaining inspection pixel blocks for which defective inspection has not been performed among the plurality of inspection pixel blocks, and each of the plurality of inspection pixel blocks in the inspection target image can correspond one-to-one with each of the plurality of reference pixel blocks included in the inspection reference image after the matching.
  • control unit (110) may be configured to process the inspection target image as defective in response to a contrast value between the characteristic values of pixels included in the target inspection pixel block and the characteristic values of pixels included in the target reference pixel block not being within an error range.
  • the characteristic value may be a color density value of the corresponding pixel or a pressure value of the corresponding pixel corresponding to the pressure distribution.
  • control unit (110) may be configured to determine that the inspection target image matches the inspection reference image in response to all matching inspection image data acquired corresponding to the plurality of matching pixel block areas being one-to-one matched with all matching inspection image data acquired corresponding to the plurality of matching pixel block areas dividing the preset inspection reference image.
  • control unit (110) may be configured to determine a match between the inspection target image, which is rotated or flipped left and right, and the inspection reference image in response to a failure in matching between the inspection target image and the inspection reference image.
  • control unit (110) may be configured to assign a priority for determining the order in which to perform a defect inspection on the plurality of inspection pixel blocks, based on a user's selection or a possibility of detecting a defect, to each inspection pixel block.
  • control unit (110) may be configured to remove green values of pixels included in a target matching pixel block to obtain the matching inspection image data.
  • control unit (110) may be configured to determine a pixel among the pixels included in the target inspection pixel block to determine whether or not it is defective based on the resolution.
  • control unit (110) may be configured to increase a defective count value corresponding to pixels included in a target inspection pixel block that causes the inspection target image to be judged as defective.
  • An inspection device (100) may include an image storage unit (130) configured to include a first storage area for storing an inspection target image determined to be defective or a second storage area for storing an inspection target image determined to be normal.
  • An inspection device (100) may include an image input unit (120) configured to scan a pressure-sensitive film, which is mounted on a jig of a pressing equipment as a target of flatness inspection, and on which a pattern image according to pressure distribution is marked, to obtain an inspection target image, and a control unit (110) configured to determine whether the inspection target image is defective.
  • an image input unit (120) configured to scan a pressure-sensitive film, which is mounted on a jig of a pressing equipment as a target of flatness inspection, and on which a pattern image according to pressure distribution is marked, to obtain an inspection target image
  • a control unit (110) configured to determine whether the inspection target image is defective.
  • the control unit (110) may be configured to match the inspection target image to a preset inspection reference image using matching inspection image data acquired in response to each of a plurality of matching pixel block areas dividing the inspection target image, select a target inspection pixel block to be subject to a defect inspection from among a plurality of inspection pixel blocks included in the inspection target image in response to the inspection target image and the inspection reference image being matched, and compare characteristic values of a target reference pixel block matched to the target inspection pixel block and the target inspection pixel block on a pixel basis from among a plurality of reference pixel blocks included in the inspection reference image to determine whether the inspection target image is defective.
  • the above control unit (110) can be configured to stop the inspection and process the inspection target image as defective if the contrast value between the characteristic values of the pixels included in the target inspection pixel block and the characteristic values of the pixels included in the target reference pixel block exceeds a preset error range.
  • control unit (110) may be configured to align the center of the reference image with the center of the inspection target image, and rotate the inspection target image at a predetermined angle to align it with the reference image.
  • control unit (110) may be configured to invert the inspection target image left and right and align it with the reference image.
  • the inspection target data may include at least a plurality of areas.
  • the control unit (110) may be configured to compare, in order, a high-resolution area included in the at least a plurality of areas with a low-resolution area included in the plurality of areas.
  • control unit (110) may be configured to inspect in descending order from a section in which the maximum number of defective pixels is detected within one area included in the plurality of areas.
  • control unit (110) may be configured to determine a defective pixel if a difference between a color value of a pixel constituting the reference image and a color value of a pixel constituting the inspection target image exceeds a preset threshold value.
  • control unit (110) may be configured to determine a defective pixel if a difference between the color density of a pixel constituting the reference image and the color density of a pixel constituting the inspection target image exceeds a preset threshold value.
  • a method for inspecting the flatness of a pressing equipment may include an operation of scanning a pressure-sensitive film, which is mounted on the jig and has a pattern image marked according to a pressure distribution, to obtain an inspection target image, an operation of matching the inspection target image to a preset inspection reference image using matching inspection image data acquired in correspondence with each of a plurality of matching pixel block areas dividing the inspection target image, an operation of selecting a target inspection pixel block to be inspected for defects from among a plurality of inspection pixel blocks included in the inspection target image in response to the inspection target image and the inspection reference image being matched, and an operation of comparing characteristic values of a target reference pixel block matched to the target inspection pixel block from among a plurality of reference pixel blocks included in the inspection reference image on a pixel basis to determine whether the inspection target image is defective.
  • the above target inspection pixel block is a remaining inspection pixel block having the highest priority among the remaining inspection pixel blocks for which defective inspection has not been performed among the plurality of inspection pixel blocks, and each of the plurality of inspection pixel blocks in the inspection target image can correspond one-to-one with each of the plurality of reference pixel blocks included in the inspection reference image after the matching.
  • a method for inspecting the flatness of a pressing facility may include an operation of processing the inspection target image as defective in response to a contrast value between characteristic values of pixels included in the target inspection pixel block and characteristic values of pixels included in the target reference pixel block not being within an error range.
  • the characteristic value may be a color density value of the corresponding pixel or a pressure value of the corresponding pixel corresponding to the pressure distribution.
  • a method for inspecting the flatness of a pressing equipment may include an operation of determining that the inspection target image matches the inspection reference image in response to all matching inspection image data acquired corresponding to the plurality of matching pixel block regions being one-to-one matched with all matching inspection image data acquired corresponding to the plurality of matching pixel block regions dividing the inspection reference image, and an operation of determining a matching of an updated inspection target image obtained by rotating or left-right flipping the inspection target image with the inspection reference image in response to a failure in matching the inspection target image and the inspection reference image.
  • a method for inspecting the flatness of a pressing equipment may include an operation of determining a pixel among pixels included in the target inspection pixel block to be judged as defective based on a resolution.
  • a method for inspecting the flatness of a pressing facility may include an operation of increasing a defective count value corresponding to pixels included in a target inspection pixel block that cause the inspection target image to be judged as defective.
  • first e.g., a first
  • second e.g., a second
  • functionally e.g., a third component
  • module used in various embodiments of this document may include a unit implemented in hardware, software or firmware, and may be used interchangeably with terms such as logic, logic block, component, or circuit, for example.
  • a module may be an integrally configured component or a minimum unit of the component or a part thereof that performs one or more functions.
  • a module may be implemented in the form of an application-specific integrated circuit (ASIC).
  • ASIC application-specific integrated circuit
  • Various embodiments of the present document may be implemented as software (e.g., a program) including one or more instructions stored in a storage medium (e.g., an internal memory or an external memory) that can be read by a machine.
  • a processor of the machine may call at least one instruction among the one or more instructions stored from the storage medium and execute it. This enables the machine to operate to perform at least one function according to the at least one instruction called.
  • the one or more instructions may include code generated by a compiler or code that can be executed by an interpreter.
  • the machine-readable storage medium may be provided in the form of a non-transitory storage medium.
  • non-transitory only means that the storage medium is a tangible device and does not include a signal (e.g., an electromagnetic wave), and this term does not distinguish between cases where data is stored semi-permanently and cases where it is stored temporarily in the storage medium.
  • a signal e.g., an electromagnetic wave
  • the method according to various embodiments disclosed in the present document may be provided as included in a computer program product.
  • the computer program product may be traded between a seller and a buyer as a commodity.
  • the computer program product may be distributed in the form of a machine-readable storage medium (e.g., a compact disc read only memory (CD-ROM)), or may be distributed online (e.g., downloaded or uploaded) via an application store (e.g., Play StoreTM) or directly between two user devices (e.g., smart phones).
  • an application store e.g., Play StoreTM
  • at least a part of the computer program product may be at least temporarily stored or temporarily generated in a machine-readable storage medium, such as a memory of a manufacturer's server, a server of an application store, or an intermediary server.
  • each component e.g., a module or a program of the above-described components may include a single or multiple entities, and some of the multiple entities may be separately arranged in other components. According to various embodiments, one or more of the components or operations of the above-described components may be omitted, or one or more other components or operations may be added. Alternatively or additionally, the multiple components (e.g., a module or a program) may be integrated into one component. In such a case, the integrated component may perform one or more functions of each of the multiple components identically or similarly to those performed by the corresponding component of the multiple components before the integration.
  • the operations performed by the module, program, or other component may be executed sequentially, in parallel, repeatedly, or heuristically, or one or more of the operations may be executed in a different order, omitted, or one or more other operations may be added.

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Abstract

본 개시에서의 실시예는 지그 장치의 평탄도를 검사하기 위한 검사 장치에 관한 것이다. 이를 위한 검사 장치는, 평탄도 검사 대상인 압착 설비의 지그에 안착하여 압력 분포에 따른 패턴 이미지가 마킹된 감압 필름을 스캔하여 검사 대상 이미지를 획득하도록 구성된 이미지 입력부 및 검사 대상 이미지에 대한 불량 여부를 판정하도록 구성된 제어부를 포함할 수 있다. 그 밖의 다양한 실시예가 가능하다.

Description

지그의 평탄도를 검사하기 위한 장치 및 방법
본 개시(disclosure)는 감압필름을 이미지 처리하여 지그의 평탄도를 검사하기 위한 장치와 그를 포함하는 방법에 관한 것이다.
생산 설비 시스템은 전자 장치를 구성하는 부품의 대량 생산을 위하여 도입되고 있다. 지그(jig) 장치는 생산 설비 시스템의 일 예일 수 있다. 지그 장치는 부품을 가공하거나, 또는 조립할 때에 부품의 위치를 고정하거나 의도한 위치로 가이드할 수 있다.
지그 장치는 압착 설비 내에서 성형될 부품을 고정시키기 위해 마련될 수 있다. 지그 장치는 반복적인 동작으로 인해 임의의 지점에서 마모가 발생하여 평탄도가 저하될 수 있다. 지그 장치는, 평탄도가 임계 수준 미만이면, 부품에 가해지는 압력이 균일하게 유지되지 않거나, 또는 부품이 틀어진 채로 고정될 수 있다. 이로 인해, 부품의 품질 신뢰도가 저하되는 것을 방지하기 위해서는, 지그 장치가 일정 수준 이상의 평탄도를 유지할 수 있어야 한다.
검사자는, 지그 장치의 평탄도를 검사하기 위해, 지그 장치에 의해 압착된 감압필름을 육안으로 평가할 수 있다. 이러한 검사 방식은 검사자의 주관에 의해 양부가 평가됨으로 인하여 객관적이면서 일정한 신뢰도가 보장되기 어려울 수 있다. 또한, 평가에 사용된 감압필름을 관리하기가 용이하지 않을 수 있다.
본 개시의 일 실시예는, 감압필름의 색상 값을 분석하여 지그 장치의 평탄도를 검사할 수 있는 장치 및 그를 포함하는 방법을 제공할 수 있다.
본 개시의 일 실시예에 따른 검사 장치는 평탄도 검사 대상인 압착 설비의 지그에 안착하여 압력 분포에 따른 패턴 이미지가 마킹된 감압 필름을 스캔하여 검사 대상 이미지를 획득하도록 구성된 이미지 입력부를 포함할 수 있다. 검사 장치는 검사 대상 이미지에 대한 불량 여부를 판정하도록 구성된 제어부를 포함할 수 있다. 제어부는 검사 대상 이미지를 분할하는 복수의 매칭 픽셀 블록 영역들 각각에 대응하여 획득한 매칭 검사 이미지 데이터를 사용하여 검사 대상 이미지를 미리 설정된 검사 기준 이미지에 매칭하도록 구성될 수 있다. 제어부는 검사 대상 이미지와 검사 기준 이미지가 매칭됨에 응답하여 검사 대상 이미지에 포함된 복수의 검사 픽셀 블록들 중에서 불량 검사를 진행할 대상 검사 픽셀 블록을 선택하도록 구성될 수 있다. 제어부는 검사 기준 이미지에 포함된 복수의 기준 픽셀 블록들 중에서 대상 검사 픽셀 블록에 매칭된 대상 기준 픽셀 블록과 대상 검사 픽셀 블록을 픽셀 단위로 특성 값을 비교하여 검사 대상 이미지에 대한 불량 여부를 결정하도록 구성될 수 있다. 대상 검사 픽셀 블록들은 복수의 검사 픽셀 블록들 중에서 불량 검사가 이루어지지 않은 잔여 검사 픽셀 블록들 중에서 가장 높은 우선 순위를 갖는 잔여 검사 픽셀 블록일 수 있다. 검사 대상 이미지에서 복수의 검사 픽셀 블록들 각각은 매칭 이후에 검사 기준 이미지에 포함된 복수의 기준 픽셀 블록들 각각과 일대일 대응될 수 있다.
본 개시의 일 실시예에 따른 검사 방법은 상기 지그에 안착하여 압력 분포에 따른 패턴 이미지가 마킹된 감압 필름을 스캔하여 검사 대상 이미지를 획득하는 동작, 상기 검사 대상 이미지를 분할하는 복수의 매칭 픽셀 블록 영역들 각각에 대응하여 획득한 매칭 검사 이미지 데이터를 사용하여 상기 검사 대상 이미지를 미리 설정된 검사 기준 이미지에 매칭하는 동작, 상기 검사 대상 이미지와 상기 검사 기준 이미지가 매칭됨에 응답하여 상기 검사 대상 이미지에 포함된 복수의 검사 픽셀 블록들 중에서 불량 검사를 진행할 대상 검사 픽셀 블록을 선택하는 동작 및 상기 검사 기준 이미지에 포함된 복수의 기준 픽셀 블록들 중에서 상기 대상 검사 픽셀 블록에 매칭된 대상 기준 픽셀 블록과 상기 대상 검사 픽셀 블록을 픽셀 단위로 특성 값을 비교하여 상기 검사 대상 이미지에 대한 불량 여부를 결정하는 동작을 포함할 수 있다. 상기 대상 검사 픽셀 블록은 상기 복수의 검사 픽셀 블록들 중에서 불량 검사가 이루어지지 않은 잔여 검사 픽셀 블록들 중에서 가장 높은 우선 순위를 갖는 잔여 검사 픽셀 블록일 수 있다. 상기 검사 대상 이미지에서 상기 복수의 검사 픽셀 블록들 각각은 상기 매칭 이후에 상기 검사 기준 이미지에 포함된 상기 복수의 기준 픽셀 블록들 각각과 일대일 대응될 수 있다.
본 개시의 일 실시예에 따르면, 감압필름의 색상 값으로 지그 장치의 평탄도를 분석하여 데이터 평가의 객관성 및 신뢰도가 증가할 수 있다.
본 개시의 일 실시예에 따르면, 감압필름을 디지털 데이터로 저장하여 보관의 편리성을 제공할 수 있다.
본 개시에서 이루고자 하는 기술적 과제는 앞에서 언급한 기술적 과제로 제한되지 않으며, 당해 기술분야의 통상의 지식을 가진 자에 의해 본 개시의 예시적 실시예들로부터 앞에서 언급되지 않은 다른 기술적 과제들이 도출될 수 있다.
본 개시의 예시적 실시예들에서 얻을 수 있는 효과는 이하의 기재로부터 본 개시의 예시적 실시예들이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 명확하게 도출되고 이해될 수 있다. 즉, 본 개시의 예시적 실시예들을 실시함에 따른 의도하지 아니한 효과들 역시 본 개시의 예시적 실시예들로부터 당해 기술분야의 통상의 지식을 가진 자에 의해 도출될 수 있다.
도 1은, 본 개시의 일 실시예에 따른, 검사 장치의 블록도이다.
도 2는, 본 개시의 일 실시예에 따른, 검사 장치가 감압필름을 이미지 처리하는 것을 도시한 것이다.
도 3은, 본 개시의 일 실시예에 따른, 검사 장치가 검사를 수행하기 위한 제어 순서도이다.
도 4는, 본 개시의 일 실시예에 따른, 검사 장치가 검사를 수행하기 위한 제어 순서도이다.
도 5는, 본 개시의 일 실시예에 따른, 검사 장치가 기준 이미지 또는 검사 대상 이미지의 RGB 값을 변환하는 동작을 도시한 것이다.
도 6은, 본 개시의 일 실시예에 따른, 검사 장치가 변환 기준 이미지에 대하여 변환 검사 대상 이미지를 회전하여 정렬하는 동작을 도시한 것이다.
도 7은, 본 개시의 일 실시예에 따른, 검사 장치가 변환 기준 이미지에 대하여 변환 검사 대상 이미지를 반전하여 정렬하는 동작을 도시한 것이다.
도 8은, 본 개시의 일 실시예에 따른, 검사 장치가 판정 대상 이미지의 검사 수행 영역을 설정하는 동작을 도시한 것이다.
도 9는, 본 개시의 일 실시예에 따른, 검사 장치가 판정 대상 이미지의 양불 판정 동작을 도시한 것이다.
도 10은, 본 개시의 일 실시예에 따른, 검사 장치가 판정 대상 이미지의 단위 격자 별로 불량 발생 빈도를 기록하는 동작을 도시한 것이다.
도면의 설명과 관련하여, 동일 또는 유사한 구성요소에 대해서는 동일 또는 유사한 참조 부호가 사용될 수 있다.
이하에서는 도면을 참조하여 본 개시의 실시예에 대하여 본 개시가 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자 (이하 '당업자'라 칭함)가 용이하게 실시할 수 있도록 상세히 설명한다. 그러나 본 개시는 여러 가지 상이한 형태로 구현될 수 있으며 여기에서 설명하는 실시예에 한정되지 않는다. 도면의 설명과 관련하여, 동일하거나 유사한 구성요소에 대해서는 동일하거나 유사한 참조 부호가 사용될 수 있다. 또한, 도면 및 관련된 설명에서는, 잘 알려진 기능 및 구성에 대한 설명이 명확성과 간결성을 위해 생략될 수 있다.
본 문서에서 사용되는 용어는 본 개시에서의 기능을 고려하면서 가능한 현재 널리 사용되는 일반적인 용어들을 선택하였으나, 이는 당업자의 의도 또는 판례, 새로운 기술의 출현 등에 따라 달라질 수 있다. 따라서 본 문서에서 사용되는 용어는 단순한 용어의 명칭이 아닌, 그 용어가 가지는 의미와 본 개시의 전반에 걸친 내용을 토대로 정의되어야 한다.
본 문서의 다양한 실시예들에서 어떤 부분이 어떤 구성요소를 "포함"한다고 할 때, 이는 특별히 반대되는 기재가 없는 한 다른 구성요소를 제외하는 것이 아니라 다른 구성요소를 더 포함할 수 있음을 의미할 수 있다.
도 1은, 본 개시의 일 실시예에 따른, 검사 장치(100)의 블록도이다.
도 1을 참조하면, 본 문서에서 언급되는 검사 장치(100)란, 지그 (jig)의 평탄도가 임계 범위 내에 있는지 검사하기 위한 장치로 이해될 수 있다. 상기 지그는 압착 장치에 적용될 수 있다. 다만, 이에 한정되지 않고, 상기 지그는 산업 시스템 전반에 적용될 수 있다.
일 예에 따르면, 검사 장치(100)는 지그에 투입되어 압착된 검사 대상 용지의 색상 값을 기반으로 하여 지그의 평탄도를 검사할 수 있다. 일 예로, 상기 검사 대상 용지는 마이크로 필름으로 구현될 수 있다. 상기 검사 대상 용지는, 예를 들어, 투명한 재질의 합성 수지로 제조될 수 있다. 이하, 상기 마이크로 필름은 '감압필름'으로 지칭할 것이다.
일 예에 따르면, 검사 장치(100)는 기준이 되는 감압필름과 검사 대상이 되는 감압필름을 비교 또는 대조하여 지그의 평탄도를 검출할 수 있다. 상기 기준이 되는 감압필름은 상기 지그의 평탄도가 최대인 상태에서 가압한 필름을 의미할 수 있다. 이하, 상기 기준이 되는 감압필름을 '기준 감압필름(예: 도 2의 기준 감압필름(210))'이라고 지칭할 것이다. 상기 지그의 지속적이고, 반복적인 사용으로 인해, 상기 지그는 특정 지점에서 마모 또는 뒤틀림이 발생할 수 있다. 이로 인해, 상기 지그의 평탄도는 감소할 수 있다. 이하, 상기 지그의 평탄도가 기준치에 해당하는지 확인하기 위해 사용되는 적어도 하나 이상의 감압필름을 '대상 감압필름(예: 도 2의 대상 감압필름(230))'이라고 지칭할 것이다. 상기 검사 장치(100)는 상기 대상 감압필름(230)을 검사하여 상기 대상 감압필름(230)이 양품인지, 또는 불량인지 판단할 수 있다.
일 예에 따르면, 검사 장치(100)는 제어부(110), 이미지 입력부(120), 이미지 저장부(130), 통신부(140) 또는 출력부(150)를 포함할 수 있다. 상기 검사 장치(100)는 도시된 구성 이외에도 필요에 의해 추가적인 구성 요소를 포함할 수 있거나, 또는 도시된 구성 중 적어도 일부가 생략될 수 있다.
일 예에 따르면, 이미지 입력부(120)는 검사 장치(100)로 투입된 감압필름을 디지털 데이터로 변환할 수 있다. 일 예로, 상기 이미지 입력부(120)는 촬상 장치로 구현될 수 있다. 상기 이미지 입력부(120)는, 예를 들어, 카메라, 스캐너 또는 비전 시스템 (vision system)으로 구현될 수 있다. 본 문서에서는 상기 이미지 입력부(120)가 스캐너로 구현된 경우를 일 예로 설명한다. 하지만, 이에 한정되는 것은 아니며, 언급된 촬상 장치 중 어느 하나로 구현되는 경우에도 마찬가지로 이해될 수 있다.
일 예로, 이미지 입력부(120)는 기준 감압필름(210)을 스캐닝하여 디지털 데이터로 변환할 수 있다. 상기 기준 감압필름(210)을 스캐닝하여 획득한 디지털 데이터는 '기준 데이터'(예: 도 2의 기준 이미지(220))로 지칭할 수 있다.
일 예로, 이미지 입력부(120)는 대상 감압필름(230)을 스캐닝하여 디지털 데이터로 변환할 수 있다. 상기 대상 감압필름(230)을 스캐닝하여 획득한 디지털 데이터는 '검사 대상 데이터'(예: 도 2의 검사 대상 이미지(240))로 지칭할 수 있다.
일 예에 따르면 이미지 입력부(120)는 기준 이미지(220) 또는 검사 대상 이미지(240)를 생성하는 과정에서, 색 변환 (RGB 변환) 동작을 수행할 수 있다. 상기 색 변환 동작은 제어부(110)에 의해서도 수행될 수 있다.
일 예에 따르면, 이미지 저장부(130)는 기준 이미지(220) 또는 검사 대상 이미지(240)를 저장하기 위한 저장 영역을 포함할 수 있다. 일 예로, 상기 이미지 저장부(130)는 메모리 (memory)로 구현될 수 있다. 상기 이미지 저장부(130)는 휘발성 메모리 또는 비휘발성 메모리를 포함할 수 있다.
일 예에 따르면, 이미지 저장부(130)에는 기준 이미지(220)가 저장될 수 있다. 검사 장치(100)는 상기 이미지 저장부(130)에 저장된 기준 이미지(220)를 기반으로 검사 대상 이미지(240)와 비교를 통해 양부를 검사할 수 있다.
일 예에 따르면, 이미지 저장부(130)는 제1 이미지 저장부(예: 도 2의 제1 이미지 저장부(131)) 또는 제2 이미지 저장부(예: 도 2의 제2 이미지 저장부(133))를 포함할 수 있다. 상기 제1 이미지 저장부(131)는 검사 대상 이미지(240) 중 불량으로 판단된 이상(abnormal) 이미지를 저장할 수 있다. 상기 제2 이미지 저장부(131)는 검사 대상 이미지(240) 중 양품으로 판단된 정상(normal) 이미지를 저장할 수 있다.
일 예에 따르면, 이미지 저장부(130)가 마련됨으로써, 검사 장치(100)는 검사 일자에 따른 검사 대상 이미지(240)의 검사 결과를 용이하게 보관할 수 있다. 이로 인해, 사용자는 지그에서 하자가 발생한 날짜를 용이하게 파악하고, 하자에 따른 대응을 신속하게 할 수 있다.
일 예에 따르면, 통신부(140)는 다른 장치와 내부적으로 또는 외부적으로 통신하기 위해 마련될 수 있다. 상기 통신부(140)는 상기 다른 장치와 직접(예: 유선) 통신 또는 무선 통신 채널을 수립하거나, 또는 수립된 통신 채널을 통한 통신 수행을 지원할 수 있다. 일 예로, 상기 통신부(140)는, 이미지 입력부(120)(예: 카메라, 스캐너, 비전 시스템) 또는 출력부(150)(예: 표시부, 음성 출력부)가 검사 장치(100)에 포함되지 않고 별도로 마련된 경우, 이미지 입력부(120) 또는 출력부(150)와의 연결을 지원할 수 있다. 일 예로, 상기 통신부(140)는 검사 장치(100)와 별도로 마련된 장치(예: 이미지 입력부 또는 출력부))를 연결하기 위해 마련될 수 있다.
일 예에 따르면, 통신부(140)는 무선 통신 모듈(예: 셀룰러 통신 모듈, 근거리 무선 통신 모듈, 또는 GNSS(global navigation satellite system) 통신 모듈) 또는 유선 통신 모듈(예: LAN(local area network) 통신 모듈, 또는 전력선 통신 모듈)을 포함할 수 있다. 이들 통신 모듈 중 해당하는 통신 모듈은 제 1 네트워크(예: 블루투스, WiFi(wireless fidelity) direct 또는 IrDA(infrared data association)와 같은 근거리 통신 네트워크) 또는 제 2 네트워크(예: 레거시 셀룰러 네트워크, 5G 네트워크, 차세대 통신 네트워크, 인터넷, 또는 컴퓨터 네트워크(예: LAN 또는 WAN)와 같은 원거리 통신 네트워크)를 통하여 외부 장치 또는 서버와 통신할 수 있다. 이런 여러 종류의 통신 모듈들은 하나의 구성요소(예: 단일 칩)로 통합되거나, 또는 서로 별도의 복수의 구성요소들(예: 복수 칩들)로 구현될 수 있다.
일 예에 따르면, 출력부(150)는 검사 장치(100)가 수행한 검사 결과를 시각적으로 또는 청각적으로 출력하기 위해 마련될 수 있다.
일 예로, 출력부(150)는 검사 장치(100)가 수행한 검사 결과를 시각적으로 출력하기 위한 표시 장치(예: 디스플레이)를 포함할 수 있다. 상기 출력부(150)는 검사 장치(100)에 투입된 대상 감압필름(230)의 일련번호와 상기 대상 감압필름(230)의 양품 및/또는 불량 여부를 나타내는 정보를 표시할 수 있다.
일 예로, 출력부(150)는 검사 장치(100)가 수행한 검사 결과를 청각적으로 출력하기 위한 음향 출력 장치(예: 스피커)를 포함할 수 있다. 상기 출력부(150)는 검사 장치(100)에 투입된 대상 감압필름(230)의 일련번호와 상기 대상 감압필름(230)의 양품 및/또는 불량 여부를 알리는 정보를 음성으로 송출할 수 있다.
일 예에 따르면, 제어부(110)는 검사 장치(100)의 동작에 대한 전반적인 동작을 제어할 수 있다.
일 예로, 제어부(110)는 이미지 입력부(120)로 입력된 이미지의 색 변환(예: RGB 변환)을 수행할 수 있다. 상기 제어부(110)는 기준 이미지(220)를 R(red) 성분, G(green) 성분 또는 B(blue) 성분으로 분할할 수 있다. 상기 제어부(110)는 기준 이미지(220)에 포함된 G 성분을 제거할 수 있다. 상기 제어부(110)는 기준 이미지(220)에 포함된 G 성분을 제거함으로써, 연산 처리량을 줄임으로써 검사 속도를 높일 수 있다. 상기 제어부(110)는 기준 이미지(220)에 포함된 G 성분을 제거함으로써, 검사 수행 과정에서 발생하는 노이즈를 제거하여 검출 능력을 향상시킬 수 있다. 상기 제어부(110)는 동일한 방식으로 검사 대상 이미지(240)에 포함된 G 성분을 제거할 수 있다.
일 예로, 제어부(110)는 픽셀 단위로 이루어진 기준 이미지(220) 및/또는 검사 대상 이미지(240)를 소정의 픽셀 블록 단위로 분할할 수 있다. 상기 제어부(110)는 기준 이미지(220) 및/또는 검사 대상 이미지(240)에서 기 설정된 영역에 대하여 상이한 해상도로 분할할 수 있다. 예를 들어, 상기 제어부(110)는 기준 감압필름(210) 및/또는 대상 감압필름(230)의 특정 영역을 고해상도로 변환하여 기준 이미지(220) 및/또는 검사 대상 이미지(240)를 획득하도록 이미지 입력부(120)를 제어할 수 있다. 상기 제어부(110)는 기준 감압필름(210) 및/또는 대상 감압필름(230)의 특정 영역을 제외한 나머지 영역을 상대적으로 해상도가 낮은 저해상도로 변환하여 기준 이미지(220) 및/또는 검사 대상 이미지(240)를 획득하도록 이미지 입력부(120)를 제어할 수 있다. 상기 제어부(110)가 상기 특정 영역에 대하여 고해상도의 기준 이미지(220) 및/또는 검사 대상 이미지(240)를 획득함으로써, 상기 특정 영역에 대한 검사를 다른 영역에 비해 세부적으로 수행할 수 있다.
일 예로, 제어부(110)는 기준 이미지(220)와 검사 대상 이미지(240)를 비교할 수 있다. 상기 제어부(110)는 상기 검사 대상 이미지(240)의 픽셀을 상기 기준 이미지(220)에서 대응하는 픽셀과 비교할 수 있다. 예를 들어, 상기 제어부(110)는 상기 검사 대상 이미지(240)를 구성하는 픽셀의 색상 값을 상기 기준 이미지(220)에서 대응하는 픽셀의 색상 값과 비교할 수 있다.
일 예로, 제어부(110)는 상기 검사 대상 이미지(240)의 양부를 판단할 수 있다. 상기 제어부(110)는 상기 검사 대상 이미지(240)의 특정 픽셀이 상기 기준 이미지(240)에서 대응하는 픽셀과 기 설정된 임계값을 초과하는 정도의 차이가 발생하면, 불량이라 판단할 수 있다. 이하, 판단 방법과 관련하여, 도 9에서 상세히 기술한다.
일 예로, 제어부(110)는 검사 대상 이미지(240)의 검사 결과에 따라 상기 검사 대상 이미지(240)를 이미지 저장부(130)에 저장할 수 있다. 예를 들어, 상기 제어부(110)는 검사 대상 이미지(240) 중 불량으로 판단된 데이터를 제1 이미지 저장부(131)에 저장할 수 있다. 상기 제어부(110)는 상기 검사 대상 이미지(240) 중 양품으로 판단된 데이터를 제2 이미지 저장부(133)에 저장할 수 있다.
일 예로, 제어부(110)는 검사 대상 이미지(240)의 검사 결과를 출력부(150)로 출력할 수 있다. 예를 들어, 상기 제어부(110)는 상기 검사 대상 이미지(240)의 일련 번호와 검사 결과를 표시부를 통해 표시할 수 있다. 상기 제어부(11)는 상기 검사 대상 이미지(240)의 일련 번호와 검사 결과를 음향 출력부를 통해 출력할 수 있다.
그 외에도 제어부(110)는 검사 장치(100)가 검사를 수행하는데 필요한 제반 동작을 제어할 수 있다. 이와 관련하여, 도 3 이하에서 상세히 기술한다.
도 2는, 본 개시의 일 실시예에 따른, 검사 장치(예: 도 1의 검사 장치(100))가 감압필름(210, 230)을 처리하는 것을 도시한 것이다.
도 2를 참조하면, 검사 장치(100)는 기준 감압필름(210)과 대상 감압필름(230)을 이미지 처리할 수 있다. 상기 검사 장치(100)는 기준 감압필름(210)과 대상 감압필름(230)을 디지털 데이터로 변환할 수 있다.
일 예에 따르면, 기준 감압필름(210)은 검사 장치(100)가 지그의 평탄도를 판단하기 위해 필요한 레퍼런스로 이해될 수 있다. 상기 기준 감압필름(210)은 지그의 평탄도가 양호한 상태인 경우에 상기 지그에 투입되어 압착된 감압필름을 의미할 수 있다. 상기 검사 장치(100)는 기준 감압필름(210)을 기준으로 압착된 대상 감압필름(230)을 비교하여 상기 대상 감압필름(230)이 지시하는 상태(예: 색상 값)로부터 지그의 평탄도를 유추할 수 있다.
일 예에 따르면, 기준 감압필름(210)은 적어도 하나 이상의 감압필름을 포함할 수 있다. 일 예로, 상기 기준 감압필름(210)은 기준 감압필름#1(211-1)을 포함할 수 있다. 검사 장치(100)는 하나의 기준 감압필름(예: 기준 감압필름#1(211-1))과 복수 개의 대상 감압필름(230)을 비교함으로써, 지그의 평탄도를 객관적으로 평가할 수 있다. 도시되지는 않았지만, 기준 감압필름(210)은 상기 기준 감압필름#1(211-1) 외의 기준 감압필름을 더 포함할 수 있다. 일 예로, 복수 개의 기준 감압필름을 포함함으로써, 검사 장치(100)는 기준 감압필름(210)에 포함된 어느 하나의 감압필름과 복수 개의 대상 감압필름(230)을 비교할 수 있다.
일 예에 따르면, 기준 감압필름#1(211-1)은 사용자가 육안으로 확인하여 소정의 평탄도를 만족함을 지시하는 감압필름으로 이해될 수도 있다.
일 예에 따르면, 대상 감압필름(230)은 검사 장치(100)가 기준 감압필름(210)과 비교할 대상으로 이해될 수 있다. 상기 대상 감압필름(230)은 지그의 평탄도를 검사하기 위해 사용되는 감압필름으로 이해될 수 있다. 상기 검사 장치(100)는 기준 감압필름(210)을 기준으로 압착된 대상 감압필름(230)을 비교하여 상기 대상 감압필름(230)이 지시하는 상태(예: 색상 값)로부터 지그의 평탄도를 유추할 수 있다.
일 예에 따르면, 대상 감압필름(230)은 적어도 하나 이상의 감압필름을 포함할 수 있다.
일 예에 따르면, 대상 감압필름(230)은 n개(n은 1보다 크거나 같은 정수이다.)의 감압 필름을 포함할 수 있다. 일 예로, 상기 대상 감압필름(230)은 대상 감압필름#k(231-k)을 포함할 수 있다. k는 1보다 크거나 같은 정수이다. 일 예로, 상기 대상 감압필름(230)은 대상 감압필름#n(231-n)을 포함할 수 있다. 일 예로, 상기 대상 감압필름(230)은 n개의 대상 감압 필름(231-1 내지 231-n) 중 적어도 두 개의 대상 감압 필름들의 조합을 포함할 수 있다.
일 예에 따르면, 검사 장치(100)는 기준 감압필름(210) 및/또는 대상 감압필름(230)에 대하여 이미지 처리를 수행할 수 있다. 상기 검사 장치(100)는 상기 기준 감압필름(210) 및/또는 상기 대상 감압필름(230)에 대한 이미지 처리를 수행하여 디지털 데이터를 획득할 수 있다. 상기 검사 장치(100)에 포함된 이미지 입력부(예: 도 1의 이미지 입력부(120))는 투입된 기준 감압필름(210) 및/또는 대상 감압필름(230)을 스캔하여 디지털 데이터로 변환될 수 있다. 상기 이미지 입력부(120)는 상기 기준 감압필름(210)을 기준 이미지(220)로 변환할 수 있다. 상기 이미지 입력부(120)는 상기 대상 감압필름(230)을 검사 대상 이미지(240)로 변환할 수 있다. 상기 기준 이미지(220)는 상기 기준 감압필름(210)이 디지털 이미지로 변환된 데이터로 이해될 수 있다. 상기 검사 대상 이미지(240)는 상기 대상 감압필름(230)이 디지털 이미지로 변환된 데이터로 이해될 수 있다.
일 예로, 검사 장치(100)는 기준 감압필름#1(211-1)을 기준 이미지#1(221-1)로 변환할 수 있다.
일 예에 따르면, 기준 이미지(220)는 실재하는 기준 감압필름(210)에 대한 이미지 처리하지 않고 생성될 수 있다. 즉, 상기 기준 이미지(220)는 사용자에 의해 생성될 수 있다. 일 예로, 상기 기준 이미지(220)는 지그의 평탄도가 목표한 기준치를 달성한 상태를 가정하고, 상기 지그에 의해 압착된 기준 감압필름(210)의 이미지가 가지는 특성 값(예: 색상 값, 명도, 채도, 휘도)을 기반으로 생성된 디지털 데이터로 이해될 수 있다.
일 예로, 검사 장치(100)는 n개의 대상 감압필름(231-1 내지 231-n)을 n개의 대상 이미지(241-1 내지 241-n)로 변환할 수 있다. 상기 검사 장치(100)는 대상 감압필름#1(231-1)을 대상 이미지#1(241-1)로 변환할 수 있다. 상기 검사 장치(100)는 대상 감압필름#2(231-2)을 대상 이미지#2(241-2)로 변환할 수 있다. 상기 검사 장치(100)는 대상 감압필름#3(231-3)을 대상 이미지#3(241-3)로 변환할 수 있다. 상기 검사 장치(100)는 대상 감압필름#k(231-k)을 대상 이미지#k(241-k)로 변환할 수 있다. 상기 검사 장치(100)는 대상 감압필름#n(231-n)을 대상 이미지#n(241-n)로 변환할 수 있다.
일 예에 따르면, 검사 장치(100)는 픽셀 단위로 기준 감압필름(210) 및/또는 대상 감압필름(230)을 기준 이미지(220) 및/또는 검사 대상 이미지(240)로 변환할 수 있다. 상기 검사 장치(100)는 기준 감압필름(210) 및/또는 대상 감압필름(230)의 기 설정된 영역에 대응하여 상이한 해상도에 따른 기준 이미지(220) 및/또는 검사 대상 이미지(240)로 변환할 수 있다.
일 예에 따르면, 검사 장치(100)는 기준 이미지(220) 및/또는 검사 대상 이미지(240)로부터 픽셀 단위로 색상 값(예: RGB 값)을 도출할 수 있다.
일 예에 따르면, 검사 장치(100)는 기준 이미지(220) 및/또는 검사 대상 이미지(240)에 포함된 G (green) 값을 제거할 수 있다. 이로 인해, 상기 검사 장치(100)는 상기 검사 대상 이미지(240)의 양부를 판정하기 위한 연산량을 줄일 수 있다.
일 예에 따르면, 검사 장치(100)는 기준 이미지(220)와 검사 대상 이미지(240)를 픽셀 단위로 비교할 수 있다. 상기 검사 장치(100)는 픽셀 단위로 상기 기준 이미지(220)와 상기 검사 대상 이미지(240)의 색상 값 차이가 임계 수준을 초과하는지 여부를 통해 불량 픽셀이 존재하는지 여부를 확인할 수 있다. 상기 검사 장치(100)는 상기 불량 픽셀이 존재하는 검사 대상 이미지(240)를 불량 이미지(이상 이미지)로 결정할 수 있다. 상기 검사 장치(100)는 상기 불량 픽셀이 존재하지 않는 검사 대상 이미지(240)를 양품 이미지(정상 이미지)로 결정할 수 있다. 상기 불량 이미지를 '제1 이미지'로 지칭할 수 있다. 상기 양품 이미지를 '제2 이미지'로 지칭할 수 있다.
일 예에 따르면, 검사 장치(100)는 검사 결과에 따라 검사 대상 이미지(240)를 이미지 저장부(130)(예: 도 1의 이미지 저장부(130)로 저장할 수 있다. 상기 검사 장치(100)는 검사 결과에 따라 상기 검사 대상 이미지(240)를 상기 이미지 저장부(130)의 다른 공간에 분류하여 저장할 수 있다.
일 예에 따르면, 이미지 저장부(130)는 제1 이미지 저장부(131) 또는 제2 이미지 저장부(133)를 포함할 수 있다. 상기 제1 이미지 저장부(131)는 불량 이미지를 저장하는 공간으로 마련될 수 있다. 상기 제2 이미지 저장부(133)는 양품 이미지를 저장하는 공간으로 마련될 수 있다. 이하, 제1 이미지 저장부(131) 및 제2 이미지 저장부(133)에 저장된 대상 이미지들은 일 예로써 도시된 것에 불과하며, 검사 결과에 따라 다양한 경우를 포함할 수 있다. 본 도면에서는 대상 이미지#1(241-1), 대상 이미지#3(241-3) 및 대상 이미지#7(241-7)이 불량 이미지로 판단되었음을 가정하였고, 그 외의 나머지 대상 이미지들은 양품 이미지로 판단되었음을 가정하였다.
일 예로, 검사 장치(100)는 대상 이미지#1(241-1), 대상 이미지#3(241-3) 및 대상 이미지#7(241-7)를 제1 이미지 저장부(131)로 저장할 수 있다.
일 예로, 검사 장치(100)는 대상 이미지#2(241-2), 대상 이미지#4(241-4) 및 대상 이미지#5(241-5)를 제2 이미지 저장부(133)로 저장할 수 있다. 상기 검사 장치(100)는 그 외에도 양품 이미지로 판정된 대상 이미지를 제2 이미지 저장부(133)로 저장할 수 있다.
일 예에 따르면, 검사 장치(100)는 이미지 저장부(130)에 검사 대상 이미지(240)를 지시하는 식별 정보를 함께 저장할 수 있다. 상기 식별 정보는, 예를 들어, 상기 검사 대상 이미지(240)의 검사 일자 또는 검사 결과를 포함할 수 있다. 상기 검사 장치(100)는 상기 식별 정보를 저장함으로써, 사용자가 검사 일자에 따른 지그 상태의 추이를 용이하게 파악할 수 있다. 또한, 상기 검사 장치(100)는 상기 식별 정보를 저장함으로써, 사용자가 검사 일자에 따른 지그의 후속 조치가 수행되었는지 여부를 용이하게 파악할 수 있다. 상기 식별 정보는 이미지 저장부(130)가 아닌 상기 검사 장치(100)에 마련된 별도의 공간에 저장될 수도 있다. 상기 식별 정보가 상기 별도의 공간에 저장되는 경우, 소정의 파일 형식을 가진 문서로 저장될 수도 있다. 상기 검사 장치(100)는 상기 식별 정보를 저장함으로써, 지그 상태를 용이하게 파악할 수 있다.
도 3은, 본 개시의 일 실시예에 따른, 검사 장치(예: 도 1의 검사 장치(100))가 검사를 수행하기 위한 제어 순서도이다.
도 3을 참조하면, 검사 장치(100)가 검사를 수행하는데 필요한 제어 동작에 대하여 개괄적으로 도시한다. 상기 제어 동작은 필요에 따라 순서가 일부 변경되거나, 상기 제어 동작 중 적어도 일부가 생략되거나, 또는 상기 제어 동작 중 적어도 일부가 반복적으로 수행될 수 있다.
일 예에 따르면, 검사 장치(100)는 동작 310에서, 기준 이미지(예: 도 2의 기준 이미지#1(221-1))를 획득할 수 있다. 상기 검사 장치(100)는 기준 감압필름(예: 도 2의 기준 감압필름#1(211-1))으로부터 이미지 입력부(120)에 의해 생성된 상기 기준 이미지#1(221-1)를 획득할 수 있다. 상기 검사 장치(100)는 실재하는 감압 필름으로부터 기준 이미지(220)를 획득하지 않고, 기준 이미지#1(221-1)를 생성할 수도 있다.
일 예에 따르면, 검사 장치(100)는 동작 320에서, 검사 대상 이미지를 획득할 수 있다. 상기 검사 대상 이미지는, 예를 들어, 검사 대상 이미지(예: 도 2의 검사 대상 이미지(240))에 포함된 대상 이미지(예: 도 2의 대상 이미지#1 내지 #n(241-1 내지 241-n)) 중 적어도 하나일 수 있다. 상기 검사 장치(100)는 대상 감압필름으로부터 이미지 입력부(120)에 의해 생성된 상기 검사 대상 이미지를 획득할 수 있다. 상기 대상 감압필름은, 예를 들어, 대상 감압필름(예: 도 2의 대상 감압필름(230))에 포함된 대상 감압필름(예: 도 2의 대상 감압필름#1 내지 #n(231-1 내지 231-n)) 중 적어도 하나일 수 있다.
일 예에 따르면, 검사 장치(100)는 동작 330에서, 검사 대상 이미지(240)에 포함된 대상 이미지 중 적어도 하나를 복수의 블록 영역으로 분할할 수 있다. 상기 검사 장치(100)는 기준 이미지(220)를 복수의 블록으로 분할할 수 있다.
일 예에 따르면, 검사 장치(100)는 복수의 구간 영역으로 기준 이미지와 검사 대상 이미지를 변환할 수 있다. 일 예로, 상기 복수의 구간 영역은 1 픽셀로 설정될 수 있다. 다만, 이에 한정되지 않고, 상기 복수의 구간 영역은 사용자의 설정에 의해 다양하게 설정될 수 있다.
일 예에 따르면, 검사 장치(100)는 기준 이미지와 검사 대상 이미지를 매칭하기 위해 상기 기준 이미지와 상기 검사 대상 이미지를 적어도 두개 이상의 블록 영역으로 분할할 수 있다. 상기 분할된 블록 영역들을 매칭 블록 영역이라고 지칭할 것이다. 이하, 설명의 편의를 위해, 상기 검사 장치(100)는 기준 이미지와 검사 대상 이미지에 대해 4개의 블록 영역으로 분할하였음을 가정할 것이다. 이와 관련하여, 도 5 이하에서 상세히 설명한다.
일 예에 따르면, 검사 장치(100)는 기준 이미지를 4개의 매칭 블록 영역으로 분할할 수 있다. 상기 검사 장치(100)는 기준 이미지를 제1 기준 이미지 블록(예: 도 5의 제1 기준 이미지 블록(511a)), 제5 기준 이미지 블록(예: 도 5의 제2 기준 이미지 블록(511b)), 제3 기준 이미지 블록(도 5의 제3 기준 이미지 블록(511c)) 및 제4 기준 이미지 블록(예: 도 5의 제4 기준 이미지 블록(511d))으로 분할할 수 있다.
일 예에 따르면, 검사 장치(100)는 검사 대상 이미지를 4개의 매칭 블록 영역으로 분할할 수 있다. 상기 검사 장치(100)는 상기 검사 대상 이미지를 제1 검사 대상 이미지 블록(예: 도 6의 제1 검사 대상 이미지 블록(611a)), 제2 검사 대상 이미지 블록(예: 도 6의 제2 검사 대상 이미지 블록(611b)), 제3 검사 대상 이미지 블록(예: 도 6의 제3 검사 대상 이미지 블록(611c)) 및 제4 검사 대상 이미지 블록(예: 도 6의 제4 검사 대상 이미지 블록(611d))으로 분할할 수 있다.
일 예에 따르면, 검사 장치(100)는 분할된 검사 대상 이미지와 기준 이미지를 구성하는 각 블록 별 특성 값을 계산할 수 있다. 일 예로, 상기 검사 장치(100)는 분할된 검사 대상 이미지의 각 블록 별 특성 값을 계산할 수 있다. 상기 검사 장치(100)가 계산한 각 블록 별 특성 값은 상기 검사 대상 이미지와 상기 기준 이미지를 매칭하기 위한 데이터로 사용될 수 있다. 상기 데이터를 매칭 데이터라고 할 수 있다. 상기 매칭 데이터는, 예를 들어, 상기 분할된 검사 대상 이미지를 구성하는 각 블록 별 특성 값에 기반한 데이터인 매칭 검사 이미지 데이터를 포함할 수 있다. 상기 매칭 데이터는, 예를 들어, 상기 분할된 기준 이미지를 구성하는 각 블록 별 특성 값에 기반한 데이터인 매칭 기준 이미지 데이터를 포함할 수 있다.
일 예에 따르면, 검사 장치(100)는 매칭 검사 이미지 데이터를 사용하여 검사 대상 이미지를 기준 이미지에 매칭할 수 있다.
일 예에 따르면, 검사 장치(100)는 기준 이미지를 이미지 처리할 수 있다. 일 예로, 상기 검사 장치(100)는 상기 기준 이미지의 면적, 형상 또는 상기 기준 이미지를 구성하는 외곽선을 디지털 이미지로 변환할 수 있다. 상기 검사 장치(100)는 상기 기준 이미지의 픽셀 당 RGB값을 검출할 수 있다. 상기 검사 장치(100)는 상기 기준 이미지의 픽셀 당 RGB 값을 저장할 수 있다.
일 예에 따르면, 검사 장치(100)는 기준 이미지의 RGB 값 변환을 수행할 수 있다. 일 예로, 검사 장치(100)는 기준 이미지를 구성하는 색상 값에 포함된 G(green) 값을 제거할 수 있다. 상기 검사 장치(100)는 상기 G 값을 제거함으로써, 이미지 처리를 위한 연산량을 감소시킬 수 있다.
일 예에 따르면, 검사 장치(100)는 검사 대상 이미지를 이미지 처리할 수 있다. 일 예로, 상기 검사 장치(100)는 상기 검사 대상 이미지의 면적, 형상 또는 상기 검사 대상 이미지를 구성하는 외곽선을 디지털 이미지로 변환할 수 있다. 상기 검사 장치(100)는 상기 검사 대상 이미지의 픽셀 당 RGB값을 검출할 수 있다. 상기 검사 장치(100)는 상기 검사 대상 이미지의 픽셀 당 RGB 값을 저장할 수 있다.
일 예에 따르면, 검사 장치(100)는 검사 대상 이미지의 RGB 값 변환을 수행할 수 있다. 일 예로, 검사 장치(100)는 검사 대상 이미지를 구성하는 색상 값에 포함된 G(green) 값을 제거할 수 있다. 상기 검사 장치(100)는 상기 G 값을 제거함으로써, 이미지 처리를 위한 연산량을 감소시킬 수 있다.
일 예에 따르면, 검사 장치(100)는 동작 340에서, 기준 이미지와 검사 대상 이미지를 매칭할 수 있다. 상기 검사 장치(100)는 기준 이미지와 검사 대상 이미지에 대해 픽셀 별 검사를 수행하기 위해 상기 기준 이미지와 상기 검사 대상 이미지를 대응시킬 수 있다.
일 예에 따르면, 검사 장치(100)는 분할된 검사 대상 이미지를 구성하는 각 블록과 분할된 기준 이미지를 구성하는 각 블록의 특성 값을 기준으로 상기 검사 대상 이미지와 상기 기준 이미지를 매칭할 수 있다. 상기 검사 장치(100)는 매칭 검사 데이터를 사용하여 검사 대상 이미지를 기준 이미지에 매칭할 수 있다.
일 예에 따르면, 상기 검사 대상 이미지와 상기 기준 이미지가 매칭되지 않으면, 상기 검사 장치(100)는 상기 검사 대상 이미지를 회전하거나, 또는 좌우 반전하여 상기 검사 대상 이미지와 상기 기준 이미지를 매칭할 수 있다.
일 예에 따르면, 검사 장치(100)는 기준 이미지를 지정된 위치에 고정하고, 검사 대상 이미지를 상기 지정된 위치에 대응시킬 수 있다.
일 예로, 검사 장치(100)는 기준 이미지의 중심점(예: 도 5의 중심점 1(515))과 검사 대상 이미지의 중심점(예: 도 6의 중심점 2(615))을 대응시킬 수 있다. 상기 검사 장치(100)는 상기 중심점 1(515)과 상기 중심점 2(615)을 동일한 선상에 대응시켜 상기 기준 이미지와 상기 검사 대상 이미지를 포개어 지도록 배치할 수 있다. 포개어진 상기 기준 이미지와 상기 검사 대상 이미지의 모서리는 대응되지 않을 수 있다.
일 예로, 검사 장치(100)는 상기 검사 대상 이미지를 회전시킬 수 있다. 상기 검사 장치(100)는 상기 기준 이미지가 고정된 채로 상기 검사 대상 이미지를 소정의 방향으로 회전시킬 수 있다. 상기 소정의 방향은, 예를 들어, 시계 방향 또는 반시계 방향을 포함할 수 있다. 상기 검사 장치(100)는 상기 검사 대상 이미지를 소정의 각도 단위로 회전시킬 수 있다.
일 예로, 검사 장치(100)는 검사 대상 이미지를 1° 단위로 회전시킬 수 있다. 상기 검사 장치(100)는 상기 검사 대상 이미지의 모서리 중 어느 하나가 인접한 상기 기준 이미지의 모서리 중 어느 하나와 소정의 거리 미만이 될 때까지 상기 검사 대상 이미지를 1° 단위로 회전시킬 수 있다. 상기 검사 대상 이미지의 모서리 중 어느 하나와 인접한 상기 기준 이미지의 모서리 중 어느 하나가 소정의 거리 미만에 도달하면, 상기 검사 장치(100)는 상기 검사 대상 이미지를 0.1° 단위로 회전시킬 수 있다. 상기 검사 장치(100)는 상기 검사 대상 이미지의 모서리 중 어느 하나가 인접한 상기 기준 이미지의 모서리 중 어느 하나와 대응될 때까지 상기 검사 대상 이미지를 0.1° 단위로 회전시킬 수 있다.
일 예로, 검사 장치(100)는 검사 대상 이미지를 기준 이미지와 매칭할 수 있다. 상기 검사 장치(100)는 검사 대상 이미지의 윤곽선과 상기 기준 이미지의 윤곽선이 일치하는지 판단할 수 있다. 상기 검사 대상 이미지의 윤곽선과 상기 기준 이미지의 윤곽선이 일치하면, 상기 검사 장치(100)는 상기 검사 대상 이미지와 상기 기준 이미지를 비교하는 동작을 수행할 수 있다. 상기 검사 대상 이미지의 윤곽선과 상기 기준 이미지의 윤곽선이 일치하지 않으면, 상기 검사 장치(100)는 상기 검사 대상 이미지를 상하 또는 좌우로 반전할 수 있다. 이로 인해, 사용자의 잘못된 방향으로 검사 대상 감압필름을 투입한 경우에도, 상기 검사 장치(100)는 상기 검사 대상 이미지와 상기 기준 이미지를 매칭할 수 있다.
일 예에 따르면, 검사 장치(100)는 동작 350에서, 검사 대상 이미지의 불량 여부를 결정할 수 있다. 상기 검사 장치(100)는 기준 이미지와 검사 대상 이미지를 비교할 수 있다. 상기 검사 장치(100)는 정렬된 상기 기준 이미지와 상기 검사 대상 이미지를 픽셀 단위로 비교할 수 있다.
일 예에 따르면, 검사 장치(100)는 적어도 복수 개의 픽셀을 검사 수행 단위로 설정하여 검사를 수행할 수도 있다. 일 예로, 검사 장치(100)는 2x2개의 픽셀을 하나의 묶음으로 검사를 수행할 수도 있다. 상기 검사 장치(100)가 상기 적어도 복수 개의 픽셀을 검사 수행 단위로 설정하여 검사를 수행함으로써, 검사 속도를 증가시킬 수 있다.
일 예에 따르면, 검사 장치(100)는 상기 검사 대상 이미지의 지정된 영역을 우선적으로 검사를 수행할 수 있다. 상기 지정된 영역은, 예를 들어, 사용자에 의해 설정될 수 있다.
일 예로, 상기 지정된 영역은 복수의 검사 픽셀 블록들을 포함할 수 있다. 예를 들어, 상기 복수의 검사 픽셀 블록들은 제1 검사 픽셀 블록(예: 도 8의 제1 검사 픽셀 블록(710)), 제2 검사 픽셀 블록(예: 도 8의 제2 검사 픽셀 블록(720)) 또는 제3 검사 픽셀 블록(예: 도 8의 제3 검사 픽셀 블록(730))을 포함할 수 있다. 그 외에도, 상기 복수의 검사 픽셀 블록들은 설정에 따라 더 많은 영역을 포함할 수 있다. 상기 복수의 검사 픽셀 블록들 각각은 적어도 하나 이상의 픽셀로 구성될 수 있다.
일 예로, 복수의 검사 픽셀 블록들은 각각은 서로 다른 해상도를 가질 수 있다. 상기 해상도는, 예를 들어, 100 dpi (dots per inch) 내지 600 dpi의 범위를 가질 수 있다. 다만, 이에 한정되지 않고, 상기 복수의 검사 픽셀 블록들은 사용자의 설정에 의해 다양한 범위를 가질 수 있다.
일 예로, 제1 검사 픽셀 블록(710)은 600 dpi의 해상도로 표현될 수 있다.
일 예로, 제2 검사 픽셀 블록(720)은 400 dpi의 해상도로 표현될 수 있다.
일 예로, 제3 검사 픽셀 블록(730)은 200 dpi의 해상도로 표현될 수 있다.
일 예로, 검사 대상 이미지에서 제1 검사 픽셀 블록 내지 제3 검사 픽셀 블록(710, 720, 730)을 제외한 잔여 대상 검사 영역은 100 dpi의 해상도로 표현될 수 있다.
다시 말해, 동일한 넓이를 가지는 검사 픽셀 블록 내에서, 복수의 검사 픽셀 블록들은 서로 다른 크기의 단위 격자로 구성될 수 있다. 일 예로, 제1 검사 픽셀 블록(710)을 구성하는 단위 격자의 크기는 제2 검사 픽셀 블록(720)을 구성하는 단위 격자의 크기보다 실질적으로 작거나 같을 수 있다. 상기 제2 검사 픽셀 블록(720)을 구성하는 단위 격자의 크기는 제3 검사 픽셀 블록(730)을 구성하는 단위 격자의 크기보다 실질적으로 작거나 같을 수 있다.
일 예에 따르면, 검사 장치(100)는 복수의 검사 픽셀 블록들을 구성하는 단위 격자의 크기를 다르게 설정함으로써, 검사 수행에 드는 리소스를 절감할 수 있다. 상기 검사 장치(100)는 검사 픽셀 블록을 구성하는 단위 격자의 크기를 다르게 설정함으로써, 검사 수행에 드는 시간을 단축할 수 있다.
일 예에 따르면, 검사 장치(100)는 복수의 검사 픽셀 블록들에 대하여 기 설정된 우선 순위에 따라 검사를 수행할 수 있다. 상기 우선 순위는 사용자의 설정에 의해 결정될 수 있다.
일 예로, 검사 장치(100)는 복수의 검사 픽셀 블록들에 대하여 설정된 블록부터 검사를 수행할 수 있다.
일 예로, 검사 장치(100)는 고해상도를 가지는 영역(예: 제1 검사 픽셀 블록(710))에서 저 해상도를 가지는 영역(예: 검사 대상 이미지에서 제1 검사 픽셀 블록 내지 제3 검사 픽셀 블록(710, 720, 730)을 제외한 잔여 검사 대상 영역) 순서로 검사를 수행할 수 있다.
일 예에 따르면, 검사 장치(100)는 기준 이미지의 특정 픽셀을 지시하는 색상 값과 상기 특정 픽셀에 대응하는 검사 대상 이미지의 픽셀을 지시하는 색상 값을 비교할 수 있다. 예를 들어, 상기 색상 값의 차이가 기 설정된 임계 값을 초과하면, 상기 검사 장치(100)는 상기 픽셀이 불량 픽셀이라고 결정할 수 있다. 상기 검사 장치(100)는 상기 불량 픽셀을 포함하는 검사 대상 이미지를 불량 이미지로 결정할 수 있다. 예를 들어, 상기 색상 값의 차이가 기 설정된 임계 값을 초과하지 않으면, 상기 검사 장치(100)는 상기 픽셀이 양호 픽셀이라고 결정할 수 있다. 상기 검사 장치(100)는 상기 불량 픽셀을 포함하지 않는 검사 대상 이미지를 양품 이미지로 결정할 수 있다.
일 예에 따르면, 검사 장치(100)는 우선 순위로 지정된 검사 픽셀 블록 내에서 검사 대상 이미지에 불량 픽셀이 존재함을 확인하면, 검사를 중지할 수 있다. 상기 검사 장치(100)는 불량 픽셀이 존재함에 따라 검사를 중지함으로써, 검사 수행에 소요되는 시간을 단축할 수 있다. 일 예로, 상기 검사 장치(100)는 상기 검사 대상 이미지에 불량 픽셀이 존재함을 확인하더라도 모든 영역에 대한 검사를 수행할 수도 있다.
일 예에 따르면, 검사 장치(100)는 복수의 검사 대상 이미지에 대한 검사를 반복적으로 수행함에 따라, 불량 픽셀이 나온 지점을 저장할 수 있다. 상기 검사 장치(100)는 상기 불량 픽셀이 나온 지점을 누적하여 저장할 수 있다. 상기 검사 장치(100)는 상기 불량 픽셀이 나온 지점이 많은 픽셀에 대하여 우선적으로 검사를 수행할 수 있다. 일 예로, 상기 검사 장치(100)는 제1 검사 픽셀 블록(710) 내에서 불량 픽셀이 발생하는 빈도가 높은 픽셀에 대해 우선적으로 검사를 수행할 수 있다.
일 예에 따르면, 검사 장치(100)는 동작 360에서, 검사 대상 이미지의 검사 결과에 따라 상기 검사 대상 이미지를 이미지 저장부(예: 도 1의 이미지 저장부(130))로 저장할 수 있다.
일 예로, 검사 장치(100)는 검사 대상 이미지에 포함된 불량 이미지를 제1 이미지 저장부(예: 도 2의 제1 이미지 저장부(131))로 저장할 수 있다. 상기 검사 장치(100)는 검사 대상 이미지에 포함된 양품 이미지를 제2 이미지 저장부(예: 도 2의 제2 이미지 저장부(133))로 저장할 수 있다.
도 4는, 본 개시의 일 실시예에 따른, 검사 장치(100)가 검사를 수행하기 위한 제어 순서도이다.
도 4를 참조하면, 도 3의 제어 순서도에 도시된 동작의 일부 또는 전부가 대응될 수 있다.
일 예에 따르면, 검사 장치(100)는 동작 310에서, 기준 이미지(예: 도 2의 기준 이미지#1(221-1))를 획득할 수 있다. 상기 검사 장치(100)는 기준 감압필름(예: 도 2의 기준 감압필름#1(211-1))으로부터 이미지 입력부(120)에 의해 생성된 상기 기준 이미지(221-1)를 획득할 수 있다. 상기 검사 장치(100)는 실재하는 감압 필름으로부터 기준 이미지(220)를 획득하지 않고, 기준 이미지#1(221-1)를 생성할 수도 있다.
일 예에 따르면, 검사 장치(100)는 동작 320에서, 검사 대상 이미지(예: 도 2의 검사 대상 이미지(예: 검사 대상 이미지(240)에 포함된 대상 이미지 중 적어도 하나)를 획득할 수 있다. 상기 검사 장치(100)는 대상 감압필름(예: 도 2의 대상 감압필름(230)에 포함된 대상 감압필름 중 적어도 하나)으로부터 이미지 입력부(120)에 의해 생성된 상기 검사 대상 이미지를 획득할 수 있다.
일 예에 따르면, 검사 장치(100)는 동작 330에서, 검사 대상 이미지(240)를 복수의 블록 영역으로 분할할 수 있다. 상기 검사 장치(100)는 기준 이미지(220)를 복수의 블록으로 분할할 수 있다.
일 예에 따르면, 검사 장치(100)는 기준 이미지를 4개의 블록 영역으로 분할할 수 있다. 상기 검사 장치(100)는 기준 이미지를 제1 기준 이미지 블록(예: 도 5의 제1 기준 이미지 블록(511a)), 제2 기준 이미지 블록(예: 도 5의 제2 기준 이미지 블록(511b)), 제3 기준 이미지 블록(예: 도 5의 제3 기준 이미지 블록(511c)) 및 제4 기준 이미지 블록(예: 도 5의 제4 기준 이미지 블록(511d))으로 분할할 수 있다.
일 예에 따르면, 검사 장치(100)는 검사 대상 이미지를 제1 검사 대상 이미지 블록(예: 도 6의 제1 검사 대상 이미지 블록(611a)), 제2 검사 대상 이미지 블록(예: 도 6의 제2 검사 대상 이미지 블록(611b)), 제3 검사 대상 이미지 블록(예: 도 6의 제3 검사 대상 이미지 블록(611c)) 및 제4 검사 대상 이미지 블록(예: 도 6의 제4 검사 대상 이미지 블록(611d))으로 분할할 수 있다.
일 예에 따르면, 검사 장치(100)는 분할된 검사 대상 이미지와 기준 이미지를 구성하는 각 블록 별 특성 값을 계산할 수 있다. 일 예로, 상기 검사 장치(100)는 분할된 검사 대상 이미지의 각 블록 별 특성 값을 계산할 수 있다.
일 예에 따르면, 검사 장치(100)는 동작 340에서, 기준 이미지와 검사 대상 이미지를 매칭할 수 있다.
일 예에 따르면, 검사 장치(100)는 기준 이미지와 검사 대상 이미지를 변환할 수 있다. 상기 검사 장치는 획득한 기준 이미지 및/또는 검사 대상 이미지를 픽셀 단위로 변환할 수 있다.
일 예에 따르면, 검사 장치(100)는 복수의 구간 영역으로 기준 이미지와 검사 대상 이미지를 변환할 수 있다. 일 예로, 상기 복수의 구간 영역은 1 픽셀로 설정될 수 있다. 다만, 이에 한정되지 않고, 상기 복수의 구간 영역은 사용자의 설정에 의해 다양하게 설정될 수 있다.
일 예에 따르면, 검사 장치(100)는 기준 이미지에 대해 이미지 처리할 수 있다. 일 예로, 상기 검사 장치(100)는 상기 기준 이미지의 면적, 형상 또는 상기 기준 이미지를 구성하는 외곽선을 디지털 이미지로 변환할 수 있다. 상기 검사 장치(100)는 상기 기준 이미지의 픽셀 당 RGB값을 검출할 수 있다. 상기 검사 장치(100)는 상기 기준 이미지의 픽셀 당 RGB 값을 저장할 수 있다.
일 예에 따르면, 검사 장치(100)는 검사 대상 이미지를 이미지 처리할 수 있다. 일 예로, 상기 검사 장치(100)는 상기 검사 대상 이미지의 면적, 형상 또는 상기 검사 대상 이미지를 구성하는 외곽선을 디지털 이미지로 변환할 수 있다. 상기 검사 장치(100)는 상기 검사 대상 이미지의 픽셀 당 RGB값을 검출할 수 있다. 상기 검사 장치(100)는 상기 검사 대상 이미지의 픽셀 당 RGB 값을 저장할 수 있다.
일 예에 따르면, 검사 장치(100)는 동작 340에서, 기준 이미지와 검사 대상 이미지를 매칭할 수 있다. 상기 검사 장치(100)는 상기 기준 이미지와 상기 검사 대상 이미지를 정렬할 수 있다. 상기 기준 이미지에 대해 상기 검사 장치(100)로 투입된 검사 대상 이미지를 비교하기 위해, 상기 검사 장치(100)는 상기 기준 이미지와 검사 대상 이미지를 정렬할 수 있다.
일 예에 따르면, 검사 장치(100)는 분할된 검사 대상 이미지를 구성하는 각 블록과 분할된 기준 이미지를 구성하는 각 블록의 특성 값을 기준으로 상기 검사 대상 이미지와 상기 기준 이미지를 매칭할 수 있다. 상기 검사 장치(100)는 매칭 검사 데이터를 사용하여 검사 대상 이미지를 기준 이미지에 매칭할 수 있다.
일 예에 따르면, 검사 대상 이미지와 기준 이미지가 매칭되지 않으면, 상기 검사 장치(100)는 상기 검사 대상 이미지를 회전하거나, 또는 좌우 반전하여 상기 검사 대상 이미지와 상기 기준 이미지를 매칭할 수 있다.
일 예에 따르면, 검사 장치(100)는 동작 441에서, 기준 이미지와 검사 대상 이미지에 대해 RGB 변환을 수행할 수 있다.
일 예로, 검사 장치(100)는 기준 이미지를 구성하는 색상 값에 포함된 G(green) 값을 제거할 수 있다. 상기 검사 장치(100)는 상기 G 값을 제거함으로써, 이미지 처리에 소모되는 연산량을 감소시킬 수 있다.
일 예로, 검사 장치(100)는 검사 대상 이미지를 구성하는 색상 값에 포함된 G(green) 값을 제거할 수 있다. 상기 검사 장치(100)는 상기 G 값을 제거함으로써, 이미지 처리에 소모되는 연산량을 감소시킬 수 있다.
일 예에 따르면, 검사 장치(100)는 동작 443에서, 기준 이미지의 중심점(예: 도 5의 중심점 1(515))과 검사 대상 이미지의 중심점(예: 도 6의 중심점 2(615))을 대응시킬 수 있다. 상기 검사 장치(100)는 상기 중심점 1(515)과 상기 중심점 2(615)을 동일한 선상에 대응시켜 상기 기준 이미지와 상기 검사 대상 이미지를 포개어 지도록 배치할 수 있다. 포개어진 상기 기준 이미지와 상기 검사 대상 이미지의 모서리는 대응되지 않을 수 있다.
일 예에 따르면, 상기 검사 장치(100)는 동작 445에서, 상기 검사 대상 이미지를 회전시킬 수 있다. 상기 기준 이미지와 상기 검사 대상 이미지의 모서리를 대응시키기 위해, 상기 검사 장치(100)는 상기 기준 이미지가 고정된 채로 상기 검사 대상 이미지를 소정의 방향으로 회전시킬 수 있다. 상기 소정의 방향은, 예를 들어, 시계 방향 또는 반시계 방향을 포함할 수 있다. 상기 검사 장치(100)는 상기 검사 대상 이미지를 소정의 각도 단위로 회전시킬 수 있다.
일 예로, 검사 장치(100)는 검사 대상 이미지를 1° 단위로 회전시킬 수 있다. 상기 검사 장치(100)는 상기 검사 대상 이미지의 모서리 중 어느 하나가 인접한 상기 기준 이미지의 모서리 중 어느 하나와 소정의 거리 미만이 될 때까지 상기 검사 대상 이미지를 1° 단위로 회전시킬 수 있다. 상기 검사 대상 이미지의 모서리 중 어느 하나와 인접한 상기 기준 이미지의 모서리 중 어느 하나가 소정의 거리 미만에 도달하면, 상기 검사 장치(100)는 상기 검사 대상 이미지를 0.1° 단위로 회전시킬 수 있다. 상기 검사 장치(100)는 상기 검사 대상 이미지의 모서리 중 어느 하나가 인접한 상기 기준 이미지의 모서리 중 어느 하나와 대응될 때까지 상기 검사 대상 이미지를 0.1° 단위로 회전시킬 수 있다.
일 예에 따르면, 검사 장치(100)는 동작 447에서, 검사 대상 이미지를 기준 이미지와 매칭할 수 있다. 상기 검사 장치(100)는 검사 대상 이미지의 윤곽선과 상기 기준 이미지의 윤곽선이 일치하는지 판단할 수 있다. 상기 검사 대상 이미지의 윤곽선과 상기 기준 이미지의 윤곽선이 일치하면, 상기 검사 장치(100)는 상기 검사 대상 이미지와 상기 기준 이미지를 비교하는 동작을 수행할 수 있다. 상기 검사 대상 이미지의 윤곽선과 상기 기준 이미지의 윤곽선이 일치하지 않으면, 상기 검사 장치(100)는 상기 검사 대상 이미지를 상하 또는 좌우로 반전할 수 있다. 이로 인해, 사용자의 잘못된 방향으로 검사 대상 감압필름을 투입한 경우에도, 상기 검사 장치(100)는 상기 검사 대상 이미지와 상기 기준 이미지를 매칭할 수 있다.
일 예에 따르면, 검사 장치(100)는 동작 350에서, 검사 대상 이미지의 불량 여부를 결정할 수 있다. 상기 검사 장치(100)는 기준 이미지와 검사 대상 이미지를 비교할 수 있다. 상기 검사 장치(100)는 정렬된 상기 기준 이미지와 상기 검사 대상 이미지를 픽셀 단위로 비교할 수 있다.
일 예에 따르면, 검사 장치(100)는 기준 이미지의 특정 픽셀을 지시하는 색상 값과 상기 특정 픽셀에 대응하는 검사 대상 이미지의 픽셀을 지시하는 색상 값을 비교할 수 있다. 예를 들어, 상기 색상 값의 차이가 기 설정된 임계 값을 초과하면, 상기 검사 장치(100)는 상기 픽셀이 불량 픽셀이라고 결정할 수 있다. 상기 검사 장치(100)는 상기 불량 픽셀을 포함하는 검사 대상 이미지를 불량 이미지로 결정할 수 있다. 예를 들어, 상기 색상 값의 차이가 기 설정된 임계 값을 초과하지 않으면, 상기 검사 장치(100)는 상기 픽셀이 양호 픽셀이라고 결정할 수 있다. 상기 검사 장치(100)는 상기 불량 픽셀을 포함하지 않는 검사 대상 이미지를 양품 이미지로 결정할 수 있다.
일 예에 따르면, 검사 장치(100)는 검사를 수행할 영역의 순서를 결정할 수 있다. 이로 인해, 상기 검사 장치(100)는 검사에 소요되는 시간을 단축하고, 검사 효율을 향상시킬 수 있다.
일 예에 따르면, 검사 장치(100)는 동작 451에서, 복수의 검사 픽셀 블록들 중 대상 검사 픽셀 블록을 결정할 수 있다. 대상 검사 픽셀 블록이란, 상기 검사 장치(100)가 검사 대상 이미지에서 우선적으로 검사를 수행할 특정 영역으로 설정된 블록으로 정의될 수 있다. 상기 검사 장치(100)는 검사 대상 이미지의 지정된 영역에 대해 우선적으로 검사를 수행할 수 있다. 상기 지정된 영역은, 예를 들어, 사용자에 의해 설정될 수 있다.
일 예로, 상기 지정된 영역은 복수의 검사 픽셀 블록을 포함할 수 있다. 예를 들어, 상기 복수의 검사 픽셀 블록들은 제1 검사 픽셀 블록(예: 도 8의 제1 검사 픽셀 블록(710)), 제2 검사 픽셀 블록(예: 도 8의 제2 검사 픽셀 블록(720)) 또는 제3 검사 픽셀 블록(예: 도 8의 제3 검사 픽셀 블록(730))을 포함할 수 있다. 그 외에도, 상기 복수의 검사 픽셀 블록은 설정에 따라 더 많은 영역을 포함할 수 있다. 상기 복수의 검사 픽셀 블록들 각각은 적어도 하나 이상의 픽셀로 구성될 수 있다.
일 예로, 복수의 검사 픽셀 블록들은 각각은 서로 다른 해상도를 가질 수 있다. 상기 해상도는, 예를 들어, 100 dpi (dots per inch) 내지 600 dpi의 범위를 가질 수 있다. 다만, 이에 한정되지 않고, 상기 복수의 검사 픽셀 블록들은 사용자의 설정에 의해 다양한 범위를 가질 수 있다.
일 예로, 제1 검사 픽셀 블록(710)은 600 dpi의 해상도로 표현될 수 있다.
일 예로, 제2 검사 픽셀 블록(720)은 400 dpi의 해상도로 표현될 수 있다.
일 예로, 제3 검사 픽셀 블록(730)은 200 dpi의 해상도로 표현될 수 있다.
일 예로, 검사 대상 이미지에서 제1 검사 픽셀 블록 내지 제3 검사 픽셀 블록(710, 720, 730)을 제외한 영역은 100 dpi의 해상도로 표현될 수 있다. 검사 대상 이미지에서 제1 검사 픽셀 블록 내지 제3 검사 픽셀 블록(710, 720, 730)을 제외한 영역은 잔여 대상 검사 영역이라고 정의될 수 있다.
일 예에 따르면, 검사 장치(100)는 복수의 검사 픽셀 블록들에 대하여 기 설정된 우선 순위에 따라 검사를 수행할 수 있다. 상기 우선 순위는 사용자의 설정에 의해 결정될 수 있다.
일 예로, 검사 장치(100)는 복수의 검사 픽셀 블록들에 대하여 설정된 영역부터 검사를 수행할 수 있다.
일 예로, 검사 장치(100)는 고해상도를 가지는 영역(예: 제1 검사 픽셀 블록(710))에서 저 해상도를 가지는 영역(예: 검사 대상 이미지에서 제1 검사 픽셀 블록 내지 제3 검사 픽셀 블록(710, 720, 730)을 제외한 영역) 순서로 검사를 수행할 수 있다.
예를 들어, 검사 장치(100)는 제1 검사 픽셀 블록(710)에 존재하는 픽셀에 대한 검사 수행이 끝나면, 제2 검사 픽셀 블록(720)에 존재하는 픽셀에 대한 검사를 수행할 수 있다. 상기 검사 장치(100)는 제2 검사 픽셀 블록(720)에 존재하는 픽셀에 대한 검사 수행이 끝나면, 제3 검사 픽셀 블록(730)에 존재하는 픽셀에 대한 검사를 수행할 수 있다. 상기 검사 장치(100)는 제3 검사 픽셀 블록(730)에 존재하는 픽셀에 대한 검사 수행이 끝나면, 나머지 영역에 존재하는 픽셀에 대한 검사를 수행할 수 있다.
일 예에 따르면, 검사 장치(100)는 동작 453에서, 불량 픽셀이 발생하는 빈도가 높은 픽셀을 우선으로 검사를 수행할 수 있다. 상기 검사 장치(100)는 복수의 검사 대상 이미지에 대한 검사를 반복적으로 수행함에 따라, 불량 픽셀이 나온 지점을 저장할 수 있다. 상기 검사 장치(100)는 상기 불량 픽셀이 나온 지점을 누적하여 저장할 수 있다. 상기 검사 장치(100)는 상기 불량 픽셀이 발생한 빈도가 높은 지점부터 검사를 수행할 수 있다. 이로 인해, 상기 검사 장치(100)는 상기 검사 대상 이미지의 불량 픽셀에 대응되는 지그의 위치를 지시함에 따라 사용자가 상기 지그의 하자 위치를 효과적으로 파악할 수 있다.
일 예에 따르면, 검사 장치(100)는 적어도 복수 개의 픽셀을 검사 수행 단위로 설정하여 검사를 수행할 수도 있다. 일 예로, 검사 장치(100)는 2x2개의 픽셀을 하나의 묶음으로 검사를 수행할 수도 있다. 상기 검사 장치(100)가 상기 적어도 복수 개의 픽셀을 검사 수행 단위로 설정하여 검사를 수행함으로써, 검사 속도를 증가시킬 수 있다. 하기에서는, 설명의 편의를 위해 검사 장치(100)가 하나의 픽셀 단위로 검사를 수행함을 가정하고 설명할 것이다.
일 예에 따르면, 검사 장치(100)는 동작 455에서, 검사 대상 이미지에 불량 픽셀이 존재하는지 감지할 수 있다. 상기 검사 장치(100)는 기준 이미지의 특정 픽셀을 지시하는 색상 값과 상기 특정 픽셀에 대응하는 검사 대상 이미지의 픽셀을 지시하는 색상 값을 비교할 수 있다. 예를 들어, 상기 색상 값의 차이가 기 설정된 임계 값을 초과하면, 상기 검사 장치(100)는 상기 픽셀이 불량 픽셀이라고 결정할 수 있다. 상기 검사 장치(100)는 상기 불량 픽셀을 포함하는 검사 대상 이미지를 불량 이미지로 결정할 수 있다. 예를 들어, 상기 색상 값의 차이가 기 설정된 임계 값을 초과하지 않으면, 상기 검사 장치(100)는 상기 픽셀이 양호 픽셀이라고 결정할 수 있다. 상기 검사 장치(100)는 상기 불량 픽셀을 포함하지 않는 검사 대상 이미지를 양품 이미지로 결정할 수 있다.
일 예에 따르면, 검사 장치(100)는 검사 대상 이미지에 불량 픽셀이 존재하는 것을 감지하면, 동작 457에서, 검사를 중지할 수 있다. 상기 검사 장치(100)는 상기 검사 이미지를 불량 이미지로 결정할 수 있다. 상기 검사 장치(100)가 불량 픽셀을 발견하는 경우 검사를 중지함으로써, 검사 수행에 소요되는 시간을 단축할 수 있다.
일 예에 따르면, 검사 장치(100)는 검사 대상 이미지에 검출한 불량 픽셀의 위치를 저장할 수 있다. 상기 검사 장치(100)는 픽셀의 위치에 따른 불량 발생 횟수를 누적시켜 저장할 수 있다.
일 예로, 검사 장치(100)가 복수의 픽셀 단위로 검사를 수행하는 경우, 상기 검사 장치(100)는 검사를 수행한 복수의 픽셀 단위에 해당하는 구간의 위치를 저장할 수 있다. 상기 검사 장치(100)는 구간의 위치에 따른 불량 발생 횟수를 누적시켜 저장할 수도 있다.
일 예에 따르면, 검사 대상 이미지의 임의의 영역에 불량 픽셀이 존재하지 않으면, 동작 459에서, 검사 장치(100)는 잔여 검사 픽셀 블록이 존재하는지 판단할 수 있다. 검사 해야 할 잔여 검사 픽셀 블록이 존재하면, 상기 검사 장치(100)는 다음 순서로 설정된 블록(예: 제2 검사 픽셀 블록(720))에 대하여 검사를 수행할 수 있다.
일 예에 따르면, 검사 장치(100)는 검사 대상 이미지에 불량 픽셀이 존재하지 않고, 잔여 검사 픽셀 블록이 더 이상 존재하지 않으면, 상기 검사 대상 이미지가 양품 이미지임을 결정할 수 있다.
일 예에 따르면, 검사 장치(100)는 검사 대상 이미지의 검사 결과에 따라 상기 검사 대상 이미지를 이미지 저장부(예: 도 1의 이미지 저장부(130))저장할 수 있다.
일 예에 따르면, 검사 장치(100)는 동작 461에서, 검사 대상 이미지에 포함된 불량 이미지를 제1 이미지 저장부(예: 도 2의 제1 이미지 저장부(131))로 저장할 수 있다.
일 예에 따르면, 검사 장치(100)는 동작 463에서, 검사 대상 이미지에 포함된 양품 이미지를 제2 이미지 저장부(예: 도 2의 제2 이미지 저장부(133))로 저장할 수 있다.
일 예에 따르면, 검사 장치(100)는 이미지 저장부(130)에 상기 검사 대상 이미지를 지시하는 식별 정보를 저장할 수 있다. 상기 식별 정보는, 예를 들어, 상기 검사 대상 이미지의 일련 번호, 상기 검사 대상 이미지의 검사 결과 또는 검사 일자를 포함할 수 있다. 상기 검사 장치(100)는 상기 식별 정보를 저장함으로써, 사용자가 검사 일자에 따른 지그 상태의 추이를 용이하게 파악할 수 있다. 또한, 상기 검사 장치(100)는 상기 식별 정보를 저장함으로써, 사용자가 검사 일자에 따른 지그의 후속 조치가 수행되었는지 여부를 용이하게 파악할 수 있다.
일 예에 따르면, 검사 장치(100)는 동작 470에서, 검사 결과를 출력할 수 있다. 상기 검사 장치(100)는 검사를 수행한 검사 대상 이미지가 양품 이미지인지, 또는 불량 이미지인지에 대한 정보를 출력할 수 있다. 이를 위해, 상기 검사 장치(100)는 출력부(예: 도 1의 출력부(150))를 포함할 수 있다. 상기 출력부(150)는 상기 검사 결과를 시각적으로 출력하기 위한 표시부(예: 디스플레이)를 포함할 수 있다. 상기 출력부(150)는 상기 검사 결과를 청각적으로 출력하기 위한 음향 출력부(예: 스피커)를 포함할 수 있다.
일 예로, 검사 장치(100)는 상기 검사 장치(100)에 마련된 디스플레이로 상기 검사 결과를 시각적으로 출력할 수 있다. 예를 들어, 상기 검사 장치(100)는 검사 대상 이미지의 일련번호와 검사 결과를 나타내는 정보를 상기 디스플레이로 표시할 수 있다.
일 예로, 검사 장치(100)는 상기 검사 장치(100)에 마련된 스피커로 상기 검사 결과를 청각적으로 출력할 수 있다. 예를 들어, 상기 검사 장치(100)는 검사 대상 이미지의 일련번호와 검사 결과를 알리는 정보를 상기 스피커로 출력할 수 있다.
도 5는, 일 실시예에 따른, 검사 장치(예: 도 1의 검사 장치(100))가 기준 이미지(510)(예: 도 2의 기준 이미지(220)) 또는 검사 대상 이미지(예: 도 2의 검사 대상 이미지(240))의 RGB 값을 변환하는 동작을 도시한 것이다. 설명의 편의를 위해, 도 5 이하에 도시된 동작은 검사 장치(100)가 실제로 동작을 수행하는 것이 아니라, 검사 장치(100)가 디지털 이미지로 변환된 데이터를 처리하는 일련의 과정을 시각적으로 표현한 것으로 이해될 수 있을 것이다.
도 5를 참조하면, 도시된 동작은 도 3의 동작 330을 나타낸 것이다.
일 예에 따르면, 검사 장치(100)는 기준 이미지(510)에 대하여 색상 값을 추출할 수 있다. 상기 기준 이미지(510)는 R(red) 성분, G(green) 성분 및 B(blue)성분으로 구성될 수 있다.
일 예에 따르면, (a)는 기준 이미지(510)가 R(red) 성분, G(green) 성분 및 B(blue)성분을 모두 포함한 이미지를 도시한 것이다.
일 예에 따르면, (b)는 검사 장치(100)가 기준 이미지(510)에 대하여 R(red) 성분(512), G(green) 성분(513) 및 B(blue) 성분(514)을 분리하여 추출한 것을 도시한 것이다.
일 예에 따르면, (c)는 검사 장치(100)가 기준 이미지(510)에 대하여 G(green) 성분(513)을 제거하여 R(red) 성분(512) 및 B(blue) 성분(514)을 합성한 이미지를 도시한 것이다. 이하, 상기 기준 이미지(510)에서 R(red) 성분(512) 및 B(blue) 성분(514)을 합성하여 생성된 이미지를 변환 기준 이미지(511)라고 지칭할 것이다.
일 예에 따르면, 검사 장치(100)는 검사 대상 이미지(240)에 포함된 적어도 하나 이상의 검사 대상 이미지들에 대하여도 G(green) 성분을 제거하여 R(red) 성분 및 B(blue) 성분을 합성한 이미지를 생성할 수 있다. 이하, 상기 검사 대상 이미지에서 R(red) 성분 및 B(blue) 성분을 합성하여 생성된 이미지를 변환 검사 대상 이미지(예: 도 6의 변환 검사 대상 이미지(611))라고 지칭할 것이다.
일 예에 따르면, 검사 장치(100)는 변환 기준 이미지(511)를 매칭하기 위해 상기 변환 기준 이미지(511)를 적어도 두개 이상의 매칭 블록 영역으로 분할할 수 있다. 상기 블록 영역은, 예를 들어, 소정의 픽셀 블록 단위로 구성될 수 있다. 일 예로, 검사 장치(100)는 상기 변환 기준 이미지(511)를 네 개의 매칭 블록 영역으로 분할할 수 있다. 상기 매칭 블록 영역은, 예를 들어, 제1 기준 이미지 블록(511a), 제2 기준 이미지 블록(511b), 제3 기준 이미지 블록(511c) 또는 제4 기준 이미지 블록(511d)를 포함할 수 있다.
일 예에 따르면, 검사 장치(100)는 변환 대상 검사 이미지(611)와 변환 기준 이미지(511)를 매칭하기 위해 상기 변환 대상 검사 이미지(611)를 적어도 두개 이상의 매칭 블록 영역으로 분할할 수 있다. 상기 블록 영역은, 예를 들어, 소정의 픽셀 블록 단위로 구성될 수 있다. 일 예로, 검사 장치(100)는 상기 변환 대상 검사 이미지(611)를 네 개의 매칭 블록 영역으로 분할할 수 있다. 상기 매칭 블록 영역은, 예를 들어, 제1 검사 대상 이미지 블록(예: 도 6의 제1 검사 대상 이미지 블록(611a)), 제2 검사 대상 이미지 블록(예: 도 6의 제2 검사 대상 이미지 블록(611b)), 제3 검사 대상 이미지 블록(예: 도 6의 제3 검사 대상 이미지 블록(611c)) 또는 제4 검사 대상 이미지 블록(예: 도 6의 제4 검사 대상 이미지 블록(611d))를 포함할 수 있다.
일 예에 따르면, 검사 장치(100)는 변환 기준 이미지(511) 및 변환 검사 대상 이미지(611)를 생성함으로써, 불량을 검출하는데 필요한 리소스를 감소할 수 있다.
도 6은, 본 개시의 일 실시예에 따른, 검사 장치(예: 도 1의 검사 장치(100))가 변환 기준 이미지(511)에 대하여 변환 검사 대상 이미지(611)를 회전하여 정렬하는 동작을 도시한 것이다.
도 6을 참조하면, 도시된 동작은 도 3의 동작 340 또는 도 4의 동작 443 내지 동작 445을 나타낸 것이다.
일 예에 따르면, (a)는 변환 기준 이미지(511)와 변환 검사 대상 이미지(611)가 정렬되지 않은 상태를 도시한 것이다.
일 예에 따르면, (b)는 변환 기준 이미지(511)와 변환 검사 대상 이미지(611)의 중심점이 대응된 상태를 도시한 것이다.
일 예에 따르면, 검사 장치(100)는 변환 기준 이미지(511)와 변환 검사 대상 이미지(611)의 중심점을 대응시킬 수 있다. 상기 검사 장치(100)는 상기 변환 기준 이미지(511)의 중심점 1(515)과 상기 변환 검사 대상 이미지(611)의 중심점 2(615)를 대응시킬 수 있다. 상기 검사 장치(100)는 상기 중심점 1(515)과 상기 중심점 2(615)를 대응시킴으로써, 상기 변환 기준 이미지(511)와 상기 변환 검사 대상 이미지(611)를 포갤 수 있다.
일 예에 따르면, (c)는 검사 장치(100)가 변환 검사 대상 이미지(611)를 소정의 방향으로 회전시키는 것을 도시한 것이다.
일 예에 따르면, 검사 장치(100)는 상기 검사 대상 이미지를 회전시킬 수 있다. 상기 기준 이미지와 상기 검사 대상 이미지의 모서리를 대응시키기 위해, 상기 검사 장치(100)는 상기 기준 이미지가 고정된 채로 상기 검사 대상 이미지를 소정의 방향으로 회전시킬 수 있다. 상기 소정의 방향은, 예를 들어, 시계 방향 또는 반시계 방향을 포함할 수 있다. 상기 검사 장치(100)는 상기 검사 대상 이미지를 소정의 각도 단위로 회전시킬 수 있다.
일 예로, 검사 장치(100)는 변환 검사 대상 이미지(611)를 1° 단위로 회전시킬 수 있다. 상기 검사 장치(100)는 상기 변환 검사 대상 이미지(611)의 모서리 중 어느 하나가 인접한 상기 변환 기준 이미지(511)의 모서리 중 어느 하나와 소정의 거리 미만이 될 때까지 상기 변환 검사 대상 이미지(611)를 1° 단위로 회전시킬 수 있다. 상기 변환 검사 대상 이미지(611)의 모서리 중 어느 하나와 인접한 상기 변환 기준 이미지(511)의 모서리 중 어느 하나가 소정의 거리 미만에 도달하면, 상기 검사 장치(100)는 상기 변환 검사 대상 이미지(611)를 0.1° 단위로 회전시킬 수 있다. 상기 검사 장치(100)는 상기 변환 검사 대상 이미지(611)의 모서리 중 어느 하나가 인접한 상기 변환 기준 이미지(511)의 모서리 중 어느 하나와 대응될 때까지 상기 검사 대상 이미지를 0.1° 단위로 회전시킬 수 있다.
도 7은, 본 개시의 일 실시예에 따른 검사 장치(예: 도 1의 검사 장치(100))가 변환 기준 이미지(511)에 대하여 변환 검사 대상 이미지(611)를 반전하여 정렬하는 동작을 도시한 것이다.
도 7을 참조하면, 도시된 동작은 도 3의 동작 340 또는 도 4의 동작 449를 나타낸 것이다.
일 예에 따르면, (a)는 변환 검사 대상 이미지(611)와 변환 기준 이미지(511)의 윤곽선이 일치하지 않은 경우를 도시한 것이다.
일 예에 따르면, 검사 장치(100)는 변환 검사 대상 이미지(611)의 윤곽선과 상기 변환 기준 이미지(511)의 윤곽선이 일치하는지 판단할 수 있다. 상기 검사 장치(100)는 분할된 변환 검사 대상 이미지(611)와 변환 기준 이미지(511)를 구성하는 각 블록 별 특성 값을 계산할 수 있다. 일 예로, 상기 검사 장치(100)는 분할된 변환 검사 대상 이미지(511)의 각 블록 별 특성 값을 계산할 수 있다. 상기 검사 장치(100)는 분할된 변환 검사 대상 이미지(611)의 각 블록 별 특성 값을 계산할 수 있다. 검사 장치(100)는 계산한 각 블록 별 특성 값에 기반한 매칭 검사 이미지 데이터를 사용하여 변환 검사 대상 이미지(611)를 변환 기준 이미지(511)에 매칭할 수 있다.
일 예로, 검사 장치(100)는 제1 기준 이미지 블록(511a)을 지시하는 특성 값과 제2 검사 대상 이미지 블록(611b)을 지시하는 특성 값이 일치하는지 판단할 수 있다. 상기 검사 장치(100)는 제1 기준 이미지 블록(511a)을 지시하는 특성 값과 제2 검사 대상 이미지 블록(611b)을 지시하는 특성 값이 일치하지 않음을 검출할 수 있다.
일 예로, 검사 장치(100)는 제2 기준 이미지 블록(511b)을 지시하는 특성 값과 제1 검사 대상 이미지 블록(611a)을 지시하는 특성 값이 일치하는지 판단할 수 있다. 상기 검사 장치(100)는 제2 기준 이미지 블록(511b)을 지시하는 특성 값과 제1 검사 대상 이미지 블록(611a)을 지시하는 특성 값이 일치하지 않음을 검출할 수 있다.
일 예로, 검사 장치(100)는 제3 기준 이미지 블록(511c)을 지시하는 특성 값과 제4 검사 대상 이미지 블록(611d)을 지시하는 특성 값이 일치하는지 판단할 수 있다. 상기 검사 장치(100)는 제3 기준 이미지 블록(511c)을 지시하는 특성 값과 제4 검사 대상 이미지 블록(611d)을 지시하는 특성 값이 일치하지 않음을 검출할 수 있다.
일 예로, 검사 장치(100)는 제4 기준 이미지 블록(511d)을 지시하는 특성 값과 제3 검사 대상 이미지 블록(611c)을 지시하는 특성 값이 일치하는지 판단할 수 있다. 상기 검사 장치(100)는 제4 기준 이미지 블록(511d)을 지시하는 특성 값과 제3 검사 대상 이미지 블록(611c)을 지시하는 특성 값이 일치하지 않음을 검출할 수 있다.
일 예에 따르면, 상기 변환 검사 대상 이미지(611)의 윤곽선과 상기 변환 기준 이미지(511)의 윤곽선이 일치하지 않음을 검출하면, 상기 검사 장치(100)는 상기 변환 검사 대상 이미지(611)를 상하 또는 좌우로 반전할 수 있다.
일 예에 따르면, (b)는 변환 검사 대상 이미지(611)와 변환 기준 이미지(511)의 윤곽선이 일치하는 경우를 도시한 것이다.
일 예에 따르면, 검사 장치(100)는 변환 검사 대상 이미지(611)의 윤곽선과 상기 변환 기준 이미지(511)의 윤곽선이 일치하는지 판단할 수 있다.
일 예로, 검사 장치(100)는 제1 기준 이미지 블록(511a)을 지시하는 특성 값과 제1 검사 대상 이미지 블록(611a)을 지시하는 특성 값이 일치하는지 판단할 수 있다. 상기 검사 장치(100)는 제1 기준 이미지 블록(511a)을 지시하는 특성 값과 제1 검사 대상 이미지 블록(611a)을 지시하는 특성 값이 일치함을 검출할 수 있다.
일 예로, 검사 장치(100)는 제2 기준 이미지 블록(511b)을 지시하는 특성 값과 제2 검사 대상 이미지 블록(611b)을 지시하는 특성 값이 일치하는지 판단할 수 있다. 상기 검사 장치(100)는 제2 기준 이미지 블록(511b)을 지시하는 특성 값과 제2 검사 대상 이미지 블록(611b)을 지시하는 특성 값이 일치함을 검출할 수 있다.
일 예로, 검사 장치(100)는 제3 기준 이미지 블록(511c)을 지시하는 특성 값과 제3 검사 대상 이미지 블록(611c)을 지시하는 특성 값이 일치하는지 판단할 수 있다. 상기 검사 장치(100)는 제3 기준 이미지 블록(511c)을 지시하는 특성 값과 제3 검사 대상 이미지 블록(611c)을 지시하는 특성 값이 일치함을 검출할 수 있다.
일 예로, 검사 장치(100)는 제4 기준 이미지 블록(511d)을 지시하는 특성 값과 제4 검사 대상 이미지 블록(611d)을 지시하는 특성 값이 일치하는지 판단할 수 있다. 상기 검사 장치(100)는 제4 기준 이미지 블록(511d)을 지시하는 특성 값과 제4 검사 대상 이미지 블록(611d)을 지시하는 특성 값이 일치함을 검출할 수 있다.
상기 변환 검사 대상 이미지(611)의 윤곽선과 상기 변환 기준 이미지(511)의 윤곽선이 일치하면, 상기 검사 장치(100)는 상기 변환 검사 대상 이미지(611)와 상기 변환 기준 이미지(511)를 비교하는 동작을 수행할 수 있다.
일 예에 따르면, 검사 장치(100)가 상하 또는 좌우로 변환 검사 대상 이미지를 반전함으로 인해, 사용자의 잘못된 방향으로 검사 대상 감압필름을 투입한 경우에도, 상기 검사 장치(100)는 상기 변환 검사 대상 이미지(611)와 상기 변환 기준 이미지(511)를 매칭할 수 있다.
이하, 변환 검사 대상 이미지(611)와 변환 기준 이미지(511)의 윤곽선이 일치한 경우의 이미지를 판정 대상 이미지(700)로 정의할 수 있다. 상기 검사 장치(100)는 상기 판정 대상 이미지(700)의 색상 값을 분석하여 검사 대상 이미지에 불량 픽셀이 존재하는지 판단할 수 있다.
도 8은, 본 개시의 일 실시예에 따른, 검사 장치(100)가 판정 대상 이미지(700)의 검사 수행 영역을 설정하는 동작을 도시한 것이다.
도 8을 참조하면, 검사 장치(100)는 검사를 수행할 영역을 설정할 수 있다. 상기 검사를 수행할 영역은 사용자에 의해 지정될 수 있다. 상기 영역은 복수의 검사 픽셀 블록들을 포함할 수 있다.
일 예에 따르면, 복수의 검사 픽셀 블록들은 제1 검사 픽셀 블록(710), 제2 검사 픽셀 블록(720) 또는 제3 검사 픽셀 블록(730)을 포함할 수 있다. 판정 대상 이미지(700)에서, 상기 제1 검사 픽셀 블록 내지 제3 검사 픽셀 블록(710, 720, 730)을 제외한 영역을 잔여 대상 검사 영역이라고 정의할 것이다. 도시된 것과 달리, 복수의 검사 픽셀 블록들은 사용자의 설정에 따라 검사를 수행할 영역을 더 포함할 수 있다.
일 예에 따르면, 복수의 검사 픽셀 블록들은 서로 다른 해상도를 가질 수 있다. 일 예로, 상기 복수의 검사 픽셀 블록들은 100 dpi 내지 600 dpi의 범위의 해상도를 가질 수 있다. 그 밖에도, 사용자의 설정에 따라 더 넓은 범위의 해상도를 가질 수도 있다.
일 예로, 제1 검사 픽셀 블록(710)은 600 dpi의 해상도로 표현될 수 있다.
일 예로, 제2 검사 픽셀 블록(720)은 400 dpi의 해상도로 표현될 수 있다.
일 예로, 제3 검사 픽셀 블록(730)은 200 dpi의 해상도로 표현될 수 있다.
일 예로, 잔여 대상 검사 영역은 100 dpi의 해상도로 표현될 수 있다.
일 예에 따르면, 검사 장치(100)는 복수의 검사 픽셀 블록들에 대하여 기 설정된 우선 순위에 따라 검사를 수행할 수 있다. 상기 우선 순위는 사용자의 설정에 의해 결정될 수 있다.
일 예로, 검사 장치(100)는 고해상도를 가지는 영역부터 저해상도를 가지는 영역 순으로 검사를 수행할 수 있다. 예를 들어, 상기 검사 장치(100)는 제1 검사 픽셀 블록(710), 제2 검사 픽셀 블록(720), 제3 검사 픽셀 블록(730) 및 잔여 대상 검사 영역의 순서로 검사를 수행할 수 있다.
일 예에 따르면, 검사 장치(100)가 서로 다른 해상도를 가지는 복수의 검사 픽셀 블록들에 대해 검사 순위를 설정함에 따라, 검사에 소요되는 연산량을 감축시킬 수 있다.
일 예에 따르면, 검사 장치(100)가 서로 다른 해상도를 가지는 복수의 검사 픽셀 블록들에 대해 검사 순위를 설정함에 따라, 검사에 소요되는 시간을 단축할 수 있다.
도 9는, 본 개시의 일 실시예에 따른, 검사 장치(100)가 판정 대상 이미지(700)의 양불 판정 동작을 도시한 것이다. 상기 판정 대상 이미지(700)를 구성하는 격자의 크기는 복수의 검사 픽셀 블록들(예: 제1 검사 픽셀 블록 내지 제3 검사 픽셀 블록(710, 720, 730))에 따라 상이할 수 있다. 설명의 편의를 위해, 상기 제1 검사 픽셀 블록 내지 제3 검사 픽셀 블록(710, 720, 730)을 구성하는 격자들 중 어느 하나를 단위 격자라고 지칭할 것이다.
도 9를 참조하면, 도시된 동작은 도 3의 동작 350을 나타낸 것이다.
일 예에 따르면, 검사 장치(100)는 판정 대상 이미지(700)의 단위 격자를 지시하는 색상 값을 검출할 수 있다. 일 예로, 상기 단위 격자를 지시하는 색상 값은 R값과 B값의 조합으로 표현될 수 있을 것이다.
일 예에 따르면, 검사 장치(100)는 판정 대상 이미지(700)의 단위 격자를 지시하는 색상 값과 상기 단위 격자와 대응하는 변환 기준 이미지(예: 도 5의 변환 기준 이미지(511))의 단위 격자를 지시하는 색상 값을 비교할 수 있다. 상기 검사 장치(100)는 판정 대상 이미지(700)의 단위 격자를 지시하는 색상 값의 색 농도와 상기 변환 기준 이미지(511)의 단위 격자를 지시하는 색상 값의 색 농도와 비교할 수 있다.
일 예로, 상기 판정 대상 이미지(700)의 단위 격자를 지시하는 색 농도가 상기 단위 격자와 대응하는 상기 변환 기준 이미지(511)의 단위 격자를 지시하는 색 농도와 임계 수준을 초과하는 차이가 발생하면, 상기 검사 장치(100)는 상기 판정 대상 이미지(700)의 해당 단위 격자를 불량이라고 판단할 수 있다.
일 예로, 상기 판정 대상 이미지(700)의 단위 격자를 지시하는 색 농도가 상기 단위 격자와 대응하는 상기 변환 기준 이미지(511)의 단위 격자를 지시하는 색 농도와 임계 수준 이하의 차이가 발생하면, 상기 검사 장치(100)는 상기 판정 대상 이미지(700)의 해당 단위 격자를 양호하다고 판단할 수 있다.
일 예에 따르면, 검사 장치(100)는 판정 대상 이미지(700)의 단위 격자 당 색 농도가 변환 기준 이미지(511)의 단위 격자 당 색 농도와 같아지기 위해 가압하여야 할 소정의 압력을 검출할 수 있다. 상기 소정의 압력은, 예를 들어, kg (kilogram) 단위로 표현될 수 있다.
일 예로, 검사 장치(100)는 상기 소정의 압력이 기 설정된 임계 수준을 초과하면, 상기 판정 대상 이미지(700)의 해당 단위 격자를 불량이라고 판단할 수 있다. 예를 들어, 상기 검사 장치(100)는 가하여야 할 소정의 압력이 +1.0kg를 초과하거나, 또는 -1.0kg 미만이면, 상기 해당 단위 격자를 불량이라고 판단할 수 있을 것이다.
일 예로, 검사 장치(100)는 상기 소정의 압력이 기 설정된 임계 수준 이하이면, 상기 판정 대상 이미지(700)의 해당 단위 격자를 양호하다고 판단할 수 있다. 예를 들어, 상기 검사 장치(100)는 가하여야 할 소정의 압력이 +1.0kg 내지 -1.0kg 범위 내에 존재하면, 상기 해당 단위 격자를 양품이라고 판단할 수 있을 것이다.
이하, 본 도면에서는, 변환 기준 이미지(511)의 단위 격자를 지시하는 색 농도와 판정 대상 이미지(700)의 단위 격자를 지시하는 색 농도의 차이가 상기 변환 기준 이미지(511)의 단위 격자를 지시하는 색 농도 대비 -20% 내지 +20%를 만족하면, 검사 장치(100)는 해당 단위 격자가 양호하다고 판단하는 것을 가정하여 설명할 것이다. 즉, 상기 색 농도의 차이가 상기 변환 기준 이미지(511)의 단위 격자를 지시하는 색 농도에 대비하여, +20%를 초과하거나, 또는 -20% 미만이면, 상기 검사 장치(100)는 해당 단위 격자가 불량이라고 판단할 것이다. 다만, 상기 임계 범위는 설정에 따라 다양한 범위를 만족할 수 있다.
일 예에 따르면, 표와 단위 격자에 도시된 각각의 수치는 설명의 편의를 위해 다음과 같이 정의될 수 있다. 색 농도 차이(d)가 -20 이하인 경우, -20으로 표기될 수 있다. 상기 색 농도 차이(d)가 -20 초과 -10 이하인 경우, -10으로 표기될 수 있다. 상기 색 농도 차이(d)가 -10 초과 +10 이하인 경우, 0으로 표기될 수 있다. 상기 색 농도 차이(d)가 +10 초과 20 이하인 경우, +10으로 표기될 수 있다. 상기 색 농도 차이(d)가 20 초과인 경우, +20으로 표기될 수 있다. 해당 단위 격자의 색 농도 차이(d)가 -20 또는 -20을 지시하면, 검사 장치(100)는 상기 해당 단위 격자에 대해 불량이라고 판단할 수 있다. 해당 단위 격자의 색 농도 차이(d)가 -10, 0 또는 +10을 지시하면, 검사 장치(100)는 상기 해당 단위 격자에 대해 양품이라고 판단할 수 있다.
일 예에 따르면, 검사 장치(100)는 제1 검사 픽셀 블록(710)에 대해 우선적으로 검사를 수행할 수 있다. 상기 검사 장치(100)는 제1 검사 픽셀 블록(710) 내에서도 불량이 발생하는 빈도가 높은 단위 격자를 먼저 검사할 수 있다. 관련하여, 도 10에서 상세히 설명한다.
일 예로, 검사 장치(100)는 제1 검사 픽셀 블록(710)에 포함된 제1-1 영역(711)의 검사를 수행할 수 있다. 검사 장치(100)는 상기 제1-1 영역(711)를 구성하는 단위 격자를 지시하는 색 농도와 대응하는 변환 기준 이미지(511)를 구성하는 단위 격자의 색 농도의 차이를 검출할 수 있다.
일 예로, 검사 장치(100)는 제1-1 영역(711)을 구성하는 단위 격자의 색 농도 차이가 -10, 0, +10임을 검출하면, 상기 제1-1 영역(711)을 구성하는 단위 격자가 양품임을 판단할 수 있다. 이하, 상기 검사 장치(100)는 제1 검사 픽셀 블록(710)를 구성하는 단위 격자가 양품임을 판단하면, 제2 검사 픽셀 블록(720)에 대한 검사를 수행할 수 있다.
일 예에 따르면, 검사 장치(100)는 제2 검사 픽셀 블록(720)에 대한 검사를 수행할 수 있다. 상기 검사 장치(100)는 상기 제2 검사 픽셀 블록(720) 내에서도 불량이 발생하는 빈도가 높은 단위 격자를 먼저 검사할 수 있다.
일 예로, 검사 장치(100)는 제2 검사 픽셀 블록(720)에 포함된 2-1영역(721)의 검사를 수행할 수 있다. 검사 장치(100)는 상기 2-1영역(721)를 구성하는 단위 격자를 지시하는 색 농도와 대응하는 변환 기준 이미지(511)를 구성하는 단위 격자의 색 농도의 차이를 검출할 수 있다.
일 예로, 검사 장치(100)는 2-1영역(721)을 구성하는 단위 격자의 색 농도 차이가 -20 또는 +20임을 검출하면, 상기 2-1영역(721)을 구성하는 단위 격자가 불량임을 판단할 수 있다. 상기 검사 장치(100)는 제2 검사 픽셀 블록(720) 내에 불량인 단위 격자가 존재함을 판단하면, 검사를 중지할 수 있다. 상기 검사 장치(100)는 판정 대상 이미지(700)가 불량 이미지임을 판단할 수 있다. 상기 검사 장치(100)는 상기 판정 대상 이미지(700)를 제2 이미지 저장부(예: 도 2의 제2 이미지 저장부(233))로 저장할 수 있다.
일 예로, 검사 장치(100)는 설정에 따라 제2 검사 픽셀 블록(720) 내에 불량인 단위 격자가 존재하더라도, 검사를 계속 수행할 수 있다. 이 경우, 상기 검사 장치는 제3 검사 픽셀 블록(730)에 대한 검사를 수행할 수 있다.
일 예로, 검사 장치(100)는 제3 검사 픽셀 블록(730)에 포함된 3-1영역(731)의 검사를 수행할 수 있다. 검사 장치(100)는 상기 3-1영역(731)를 구성하는 단위 격자를 지시하는 색 농도와 대응하는 변환 기준 이미지(511)를 구성하는 단위 격자의 색 농도의 차이를 검출할 수 있다.
일 예로, 검사 장치(100)는 3-1영역(731)을 구성하는 단위 격자의 색 농도 차이가 -20 또는 +20임을 검출하면, 상기 3-1영역(731)을 구성하는 단위 격자가 불량임을 판단할 수 있다. 상기 검사 장치(100)는 제3 검사 픽셀 블록(730) 내에 불량인 단위 격자가 존재함을 판단하면, 검사를 중지할 수 있다. 상기 검사 장치(100)는 판정 대상 이미지(700)가 불량 이미지임을 판단할 수 있다. 상기 검사 장치(100)는 상기 판정 대상 이미지(700)를 제2 이미지 저장부(예: 도 2의 제2 이미지 저장부(233))로 저장할 수 있다.
일 예로, 검사 장치(100)는 설정에 따라 제3 검사 픽셀 블록(730) 내에 불량인 단위 격자가 존재하더라도, 검사를 계속 수행할 수 있다. 이 경우, 상기 검사 장치는 잔여 대상 검사 영역(예: 도 8의 잔여 대상 검사 영역)에 대한 검사를 수행할 수 있다.
일 예에 따르면, 검사 장치(100)가 복수의 검사 픽셀 블록들에 대해 우선적으로 검사를 수행함으로써, 검사 수행에 소요되는 리소스와 시간을 줄일 수 있다.
일 예에 따르면, 검사 장치(100)가 불량인 단위 격자를 검출함과 동시에 검사를 중지함에 따라, 검사 시간을 단축할 수 있다.
일 예에 따르면, 검사 장치(100)가 불량인 단위 격자를 검출하더라도 판정 대상 이미지(700) 전체 영역에 대해 검사를 수행함에 따라, 지그에서 하자가 발생하는 영역에 대해 일괄적으로 확인할 수 있다.
도 10은, 본 개시의 일 실시예에 따른, 검사 장치(100)가 판정 대상 이미지(700)의 단위 격자 별로 불량 발생 빈도를 기록하는 동작을 도시한 것이다.
도 10을 참조하면, 제1 검사 픽셀 블록(710)의 일부에 포함된 임의의 영역(예: 1-2 영역(712))에서 단위 격자의 불량 발생 빈도를 예시적으로 도시한 것으로 이해될 수 있다. 검사 장치(100)는 상기 1-2 영역(712)뿐 아니라 판정 대상 이미지(700)의 모든 영역(예: 제1 검사 픽셀 블록(710), 제2 검사 픽셀 블록(720), 제3 검사 픽셀 블록(730) 또는 잔여 대상 검사 영역)에 대하여 불량 발생 빈도를 기록할 수 있다. 이하, 설명의 편의를 위해, 상기 검사 장치(100)가 상기 1-2 영역(712)에 대하여 불량 발생 빈도를 기록하는 동작에 대해 설명할 것이다.
일 예에 따르면, 검사 장치(100)는 판정 대상 이미지(700)의 단위 격자 별로 불량 발생 빈도를 기록할 수 있다. 상기 검사 장치(100)는 복수의 검사 픽셀 블록들(예: 제1 검사 픽셀 블록(710), 제2 검사 픽셀 블록(720), 제3 검사 픽셀 블록(730) 또는 잔여 대상 검사 영역)에 대하여 동일한 동작을 수행할 수 있다.
일 예에 따르면, 제1-2 영역(712)는 적어도 복수의 단위 격자를 포함할 수 있다. 일 예로, 상기 적어도 복수의 단위 격자는 격자 1-1(S11), 격자 1-2(S12), 격자 1-3(S13), 격자 1-4(S14), 격자 1-5(S15)를 포함할 수 있다. 일 예로, 상기 적어도 복수의 단위 격자는 격자 2-1 내지 격자 2-7(S21, S22, S23, S24, S25, S26, S27)를 포함할 수 있다. 일 예로, 상기 적어도 복수의 단위 격자는 격자 3-1 내지 격자 3-8(S31, S32, S33, S34, S35, S36, S37, S38)를 포함할 수 있다. 일 예로, 상기 적어도 복수의 단위 격자는 격자 4-1 내지 격자 4-8(S41, S42, S43, S44, S45, S46, S47, S48)를 포함할 수 있다. 일 예로, 상기 적어도 복수의 단위 격자는 격자 5-1 내지 격자 5-8(S51, S52, S53, S54, S55, S56, S57, S58)를 포함할 수 있다. 일 예로, 상기 적어도 복수의 단위 격자는 격자 6-1 내지 격자 6-8(S61, S62, S63, S64, S65, S66, S67, S68)를 포함할 수 있다. 일 예로, 상기 적어도 복수의 단위 격자는 격자 7-1 내지 격자 7-7(S71, S72, S73, S74, S75, S76, S77)를 포함할 수 있다. 일 예로, 상기 적어도 복수의 단위 격자는 격자 8-1 내지 격자 8-5(S81, S82, S83, S84, S85)를 포함할 수 있다.
일 예에 따르면, 검사 장치(100)는 단위 격자에 대해 불량이라고 판단하면, 상기 불량이 발생한 단위 격자의 위치를 기록할 수 있다. 상기 검사 장치(100)는 검사를 반복적으로 수행함에 따라, 불량이 발생한 단위 격자의 위치를 누적하여 기록할 수 있다.
일 예로, 검사 장치(100)는 격자 2-4(S24)에 불량 빈도가 11회 발생하였음을 기록할 수 있다.
일 예로, 검사 장치(100)는 격자 3-7(S37)에 불량 빈도가 5회 발생하였음을 기록할 수 있다.
일 예로, 검사 장치(100)는 격자 4-3(S43)에 불량 빈도가 1회 발생하였음을 기록할 수 있다.
일 예로, 검사 장치(100)는 격자 5-5(S55)에 불량 빈도가 3회 발생하였음을 기록할 수 있다.
일 예로, 검사 장치(100)는 격자 6-1(S61)에 불량 빈도가 7회 발생하였음을 기록할 수 있다.
일 예로, 검사 장치(100)는 격자 6-4(S64)에 불량 빈도가 9회 발생하였음을 기록할 수 있다.
일 예로, 검사 장치(100)는 격자 7-7(S77)에 불량 빈도가 6회 발생하였음을 기록할 수 있다.
일 예로, 검사 장치(100)는 격자 8-5(S85)에 불량 빈도가 22회 발생하였음을 기록할 수 있다.
일 예로, 검사 장치(100)는 제1-2 영역(712)의 나머지 격자에 대해 불량 빈도가 0회 발생하였음을 기록할 수 있다. 설명의 편의를 위해, 제1 검사 픽셀 블록(710)에서 상기 제1-2 영역(712)를 제외한 잔여 영역에 대하여는 모두 불량 빈도가 0회 발생하였다고 가정할 것이다.
상기 도시된 상기 불량 빈도는 예시적으로 나타낸 것이며, 검사 장치(100)는 불량이 발생하는 단위 격자에 대해 불량 발생 빈도를 누적적으로 기록할 수 있다.
일 예에 따르면, 검사 장치(100)는 검사를 수행함에 있어서, 불량 발생 빈도가 높은 단위 격자를 우선적으로 검사할 수 있다.
일 예로, 검사 장치(100)는 제1-2 영역(712)에서 격자 8-5(S85)(불량 빈도가 22인 격자), 격자 2-4(S24)(불량 빈도가 11인 격자), 격자 6-4(S64)(불량 빈도가 9인 격자), 격자 6-1(S61)(불량 빈도가 7인 격자), 격자 7-7(S77)(불량 빈도가 6인 격자), 격자 3-7(S37)(불량 빈도가 5인 격자), 격자 5-5(S55)(불량 빈도가 3인 격자) 및 격자 4-3(S43)(불량 빈도가 1인 격자) 순서로 검사를 수행할 수 있다. 상기 검사 장치(100)는 상기 적어도 1회 이상의 불량 빈도가 발생한 단위 격자가 양호하다고 판단하면, 제1 검사 픽셀 블록(710)의 나머지 단위 격자에 대하여 검사를 수행할 수 있다.
일 예에 따르면, 검사 장치(100)는 제1 검사 픽셀 블록(710)을 구성하는 단위 격자가 모두 양호하다고 판단하면, 제2 검사 픽셀 블록(720)에 대한 검사를 수행할 수 있다. 상기 검사 장치(100)는 제2 검사 픽셀 블록(720)에 대한 검사를 수행함에 있어서도 동일한 방식으로 검사를 수행할 수 있다. 즉, 도시되지는 않았지만, 상기 검사 장치(100)는 제2 검사 픽셀 블록(720)를 구성하는 단위 격자 중 불량 발생 빈도가 높은 단위 격자 순서로 검사를 수행할 수 있다.
일 예로, 검사 장치(100)는 제2 검사 픽셀 블록(720)을 구성하는 단위 격자 중 불량이라고 판단한 단위 격자를 검출하면, 상기 불량 단위 격자가 발생한 위치를 기록할 수 있다. 상기 검사 장치(100)는 검사를 중지하고, 판정 대상 이미지(700)를 제1 이미지 저장부(예: 도 2의 제1 이미지 저장부(231))로 저장할 수 있다.
일 예에 따르면, 검사 장치(100)는 제2 검사 픽셀 블록(720)을 구성하는 단위 격자가 모두 양호하다고 판단하면, 제3 검사 픽셀 블록(730)에 대한 검사를 수행할 수 있다. 상기 검사 장치(100)는 제3 검사 픽셀 블록(730)에 대한 검사를 수행함에 있어서도 동일한 방식으로 검사를 수행할 수 있다. 즉, 도시되지는 않았지만, 상기 검사 장치(100)는 제3 검사 픽셀 블록(730)를 구성하는 단위 격자 중 불량 발생 빈도가 높은 단위 격자 순서로 검사를 수행할 수 있다.
일 예로, 검사 장치(100)는 제3영역(73)을 구성하는 단위 격자 중 불량이라고 판단한 단위 격자를 검출하면, 상기 불량 단위 격자가 발생한 위치를 기록할 수 있다. 상기 검사 장치(100)는 검사를 중지하고, 판정 대상 이미지(700)를 제1 이미지 저장부(예: 도 2의 제1 이미지 저장부(231))로 저장할 수 있다.
일 예에 따르면, 검사 장치(100)는 제1 검사 픽셀 블록(710), 제2 검사 픽셀 블록(720), 제3 검사 픽셀 블록(730) 및 잔여 대상 검사 영역에 대한 검사를 수행하여 모든 단위 격자에 대하여 양호하다고 판단하면, 상기 검사를 수행한 판정 대상 이미지(700)가 양품 이미지임을 결정할 수 있다. 상기 검사 장치(100)는 상기 판정 대상 이미지(700)를 제2 이미지 저장부(예: 도 2의 제2 이미지 저장부(233))로 저장할 수 있다.
일 예에 따르면, 검사 장치(100)가 복수의 검사 픽셀 블록들을 구성하는 단위 격자의 불량 발생 빈도를 기록함에 따라, 불량 발생 빈도가 높은 단위 격자에 대해 우선적으로 검사를 수행할 수 있다. 이로 인해, 상기 검사 장치(100)는 검사를 수행하는데 필요한 연산량을 줄일 수 있다. 상기 검사 장치(100)는 검사를 수행하는데 소요되는 시간을 단축할 수 있다.
본 개시의 일 예에 따른 검사 장치(100)는 평탄도 검사 대상인 압착 설비의 지그에 안착하여 압력 분포에 따른 패턴 이미지가 마킹된 감압 필름을 스캔하여 검사 대상 이미지를 획득하도록 구성된 이미지 입력부(120) 및 상기 검사 대상 이미지에 대한 불량 여부를 판정하도록 구성된 제어부(110)를 포함할 수 있다. 상기 제어부(110)는 상기 검사 대상 이미지를 분할하는 복수의 매칭 픽셀 블록 영역들 각각에 대응하여 획득한 매칭 검사 이미지 데이터를 사용하여 상기 검사 대상 이미지를 미리 설정된 검사 기준 이미지에 매칭하고, 상기 검사 대상 이미지와 상기 검사 기준 이미지가 매칭됨에 응답하여 상기 검사 대상 이미지에 포함된 복수의 검사 픽셀 블록들 중에서 불량 검사를 진행할 대상 검사 픽셀 블록을 선택하고, 상기 검사 기준 이미지에 포함된 복수의 기준 픽셀 블록들 중에서 상기 대상 검사 픽셀 블록에 매칭된 대상 기준 픽셀 블록과 상기 대상 검사 픽셀 블록을 픽셀 단위로 특성 값을 비교하여 상기 검사 대상 이미지에 대한 불량 여부를 결정하도록 구성될 수 있다. 상기 대상 검사 픽셀 블록은 상기 복수의 검사 픽셀 블록들 중에서 불량 검사가 이루어지지 않은 잔여 검사 픽셀 블록들 중에서 가장 높은 우선 순위를 갖는 잔여 검사 픽셀 블록이고, 상기 검사 대상 이미지에서 상기 복수의 검사 픽셀 블록들 각각은 상기 매칭 이후에 상기 검사 기준 이미지에 포함된 상기 복수의 기준 픽셀 블록들 각각과 일대일 대응될 수 있다.
본 개시의 일 예에 따른 검사 장치(100)에서 상기 제어부(110)는 상기 대상 검사 픽셀 블록에 포함된 픽셀들의 특성 값과 상기 대상 기준 픽셀 블록에 포함된 픽셀들의 특성 값의 대비 값이 오차 범위 내에 존재하지 않음에 응답하여 상기 검사 대상 이미지를 불량 처리하도록 구성될 수 있다.
본 개시의 일 예에 따른 검사 장치(100)에서 상기 특성 값은 해당 픽셀의 색 농도 수치 또는 상기 압력 분포에 상응한 상기 해당 픽셀의 압력 수치일 수 있다.
본 개시의 일 예에 따른 검사 장치(100)에서 상기 제어부(110)는 상기 복수의 매칭 픽셀 블록 영역들에 대응하여 획득한 모든 매칭 검사 이미지 데이터가 상기 미리 설정된 검사 기준 이미지를 분할하는 복수의 매칭 픽셀 블록 영역들에 대응하여 획득한 모든 매칭 검사 이미지 데이터에 일대일 매칭됨에 응답하여 상기 검사 대상 이미지가 상기 검사 기준 이미지에 매칭된 것으로 판정하도록 구성될 수 있다.
본 개시의 일 예에 따른 검사 장치(100)에서 상기 제어부(110)는 상기 검사 대상 이미지와 상기 검사 기준 이미지의 매칭에 실패함에 응답하여 상기 검사 대상 이미지를 회전하거나, 좌우 반전한 갱신된 검사 대상 이미지와 상기 검사 기준 이미지의 매칭을 판정하도록 구성될 수 있다.
본 개시의 일 예에 따른 검사 장치(100)에서 상기 제어부(110)는 상기 복수의 검사 픽셀 블록들에 대한 불량 검사를 진행할 순서를 결정하는 우선 순위를 사용자의 선택 또는 불량 검출 가능성을 고려하여 검사 픽셀 블록 별로 할당하도록 구성될 수 있다.
본 개시의 일 예에 따른 검사 장치(100)에서 상기 제어부(110)는 상기 매칭 검사 이미지 데이터를 획득하기 위하여 대상 매칭 픽셀 블록에 포함된 픽셀들이 갖는 녹색 값을 제거하도록 구성될 수 있다.
본 개시의 일 예에 따른 검사 장치(100)에서 상기 제어부(110)는 상기 대상 검사 픽셀 블록에 포함된 픽셀들 중에서 불량 여부를 판단할 픽셀을 해상도를 기반으로 결정하도록 구성될 수 있다.
본 개시의 일 예에 따른 검사 장치(100)에서 상기 제어부(110)는 상기 검사 대상 이미지를 불량으로 판정하도록 하는 대상 검사 픽셀 블록에 포함된 픽셀들에 대응한 불량 카운트 값을 증가시키도록 구성될 수 있다.
본 개시의 일 예에 따른 검사 장치(100)는 불량으로 판정된 검사 대상 이미지를 저장할 제1 저장 영역 또는 정상으로 판정된 검사 대상 이미지를 저장할 제2 저장 영역을 포함하도록 구성된 이미지 저장부(130)를 포함할 수 있다.
본 개시의 일 예에 따른 검사 장치(100)는 평탄도 검사 대상인 압착 설비의 지그에 안착하여 압력 분포에 따른 패턴 이미지가 마킹된 감압 필름을 스캔하여 검사 대상 이미지를 획득하도록 구성된 이미지 입력부(120) 및 상기 검사 대상 이미지에 대한 불량 여부를 판정하도록 구성된 제어부(110)를 포함할 수 있다. 상기 제어부(110)는 상기 검사 대상 이미지를 분할하는 복수의 매칭 픽셀 블록 영역들 각각에 대응하여 획득한 매칭 검사 이미지 데이터를 사용하여 상기 검사 대상 이미지를 미리 설정된 검사 기준 이미지에 매칭하고, 상기 검사 대상 이미지와 상기 검사 기준 이미지가 매칭됨에 응답하여 상기 검사 대상 이미지에 포함된 복수의 검사 픽셀 블록들 중에서 불량 검사를 진행할 대상 검사 픽셀 블록을 선택하고, 상기 검사 기준 이미지에 포함된 복수의 기준 픽셀 블록들 중에서 상기 대상 검사 픽셀 블록에 매칭된 대상 기준 픽셀 블록과 상기 대상 검사 픽셀 블록을 픽셀 단위로 특성 값을 비교하여 상기 검사 대상 이미지에 대한 불량 여부를 결정하도록 구성될 수 있다. 상기 제어부(110)는 대상 검사 픽셀 블록에 포함된 픽셀들의 특성 값과 상기 대상 기준 픽셀 블록에 포함된 픽셀들의 특성 값의 대비 값이 기 설정된 오차 범위를 초과하면, 검사를 중지하고, 상기 검사 대상 이미지를 불량 처리하도록 구성될 수 있다.
본 개시의 일 예에 따른 검사 장치(100)에서 상기 제어부(110)는 상기 기준 이미지의 중심과 상기 검사 대상 이미지의 중심을 일치시키고, 상기 검사 대상 이미지를 소정의 각도로 회전하며 상기 기준 이미지와 정렬하도록 구성될 수 있다.
본 개시의 일 예에 따른 검사 장치(100)에서 상기 제어부(110)는 상기 검사 대상 이미지를 좌우 반전하여 상기 기준 이미지와 정렬하도록 구성될 수 있다.
본 개시의 일 예에 따른 검사 장치(100)에서 상기 검사 대상 데이터는 적어도 복수개의 영역을 포함할 수 있다. 상기 제어부(110)는 상기 적어도 복수개의 영역에 포함된 고 해상도의 영역에서 상기 복수개의 영역에 포함된 저 해상도의 영역 순서로 비교하도록 구성될 수 있다.
본 개시의 일 예에 따른 검사 장치(100)에서 상기 제어부(110)는 상기 복수개의 영역에 포함된 일 영역 내에서 상기 불량 픽셀이 최대로 검출된 구간부터 내림차순으로 검사하도록 구성될 수 있다.
본 개시의 일 예에 따른 검사 장치(100)에서 상기 제어부(110)는 상기 기준 이미지를 구성하는 픽셀의 색상 값 및 상기 검사 대상 이미지를 구성하는 픽셀의 색상 값의 차이가 기 설정된 임계 값을 초과하면, 불량 픽셀로 판단하도록 구성될 수 있다.
본 개시의 일 예에 따른 검사 장치(100)에서 상기 제어부(110)는 상기 기준 이미지를 구성하는 픽셀의 색 농도 및 상기 검사 대상 이미지를 구성하는 픽셀의 색 농도의 차이가 기 설정된 임계 값을 초과하면, 불량 픽셀로 판단하도록 구성될 수 있다.
본 개시의 일 예에 따른 압착 설비의 평탄도를 검사하기 위한 방법은 상기 지그에 안착하여 압력 분포에 따른 패턴 이미지가 마킹된 감압 필름을 스캔하여 검사 대상 이미지를 획득하는 동작, 상기 검사 대상 이미지를 분할하는 복수의 매칭 픽셀 블록 영역들 각각에 대응하여 획득한 매칭 검사 이미지 데이터를 사용하여 상기 검사 대상 이미지를 미리 설정된 검사 기준 이미지에 매칭하는 동작, 상기 검사 대상 이미지와 상기 검사 기준 이미지가 매칭됨에 응답하여 상기 검사 대상 이미지에 포함된 복수의 검사 픽셀 블록들 중에서 불량 검사를 진행할 대상 검사 픽셀 블록을 선택하는 동작 및 상기 검사 기준 이미지에 포함된 복수의 기준 픽셀 블록들 중에서 상기 대상 검사 픽셀 블록에 매칭된 대상 기준 픽셀 블록과 상기 대상 검사 픽셀 블록을 픽셀 단위로 특성 값을 비교하여 상기 검사 대상 이미지에 대한 불량 여부를 결정하는 동작을 포함할 수 있다. 상기 대상 검사 픽셀 블록은 상기 복수의 검사 픽셀 블록들 중에서 불량 검사가 이루어지지 않은 잔여 검사 픽셀 블록들 중에서 가장 높은 우선 순위를 갖는 잔여 검사 픽셀 블록이고, 상기 검사 대상 이미지에서 상기 복수의 검사 픽셀 블록들 각각은 상기 매칭 이후에 상기 검사 기준 이미지에 포함된 상기 복수의 기준 픽셀 블록들 각각과 일대일 대응될 수 있다.
본 개시의 일 예에 따른 압착 설비의 평탄도를 검사하기 위한 방법은 상기 대상 검사 픽셀 블록에 포함된 픽셀들의 특성 값과 상기 대상 기준 픽셀 블록에 포함된 픽셀들의 특성 값의 대비 값이 오차 범위 내에 존재하지 않음에 응답하여 상기 검사 대상 이미지를 불량 처리하는 동작을 포함할 수 있다. 상기 특성 값은 해당 픽셀의 색 농도 수치 또는 상기 압력 분포에 상응한 상기 해당 픽셀의 압력 수치일 수 있다.
본 개시의 일 예에 따른 압착 설비의 평탄도를 검사하기 위한 방법은 상기 복수의 매칭 픽셀 블록 영역들에 대응하여 획득한 모든 매칭 검사 이미지 데이터가 상기 검사 기준 이미지를 분할하는 복수의 매칭 픽셀 블록 영역들에 대응하여 획득한 모든 매칭 검사 이미지 데이터에 일대일 매칭됨에 응답하여 상기 검사 대상 이미지가 상기 검사 기준 이미지에 매칭된 것으로 판정하는 동작 및 상기 검사 대상 이미지와 상기 검사 기준 이미지의 매칭에 실패함에 응답하여 상기 검사 대상 이미지를 회전하거나, 좌우 반전한 갱신된 검사 대상 이미지와 상기 검사 기준 이미지의 매칭을 판정하는 동작을 포함할 수 있다.
본 개시의 일 예에 따른 압착 설비의 평탄도를 검사하기 위한 방법은 상기 대상 검사 픽셀 블록에 포함된 픽셀들 중에서 불량 여부를 판단할 픽셀을 해상도를 기반으로 결정하는 동작을 포함할 수 있다.
본 개시의 일 예에 따른 압착 설비의 평탄도를 검사하기 위한 방법은 상기 검사 대상 이미지를 불량으로 판정하도록 하는 대상 검사 픽셀 블록에 포함된 픽셀들에 대응한 불량 카운트 값을 증가시키는 동작을 포함할 수 있다.
본 문서의 다양한 실시예들 및 이에 사용된 용어들은 본 문서에 기재된 기술적 특징들을 특정한 실시예들로 한정하려는 것이 아니며, 해당 실시예의 다양한 변경, 균등물, 또는 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다. 도면의 설명과 관련하여, 유사한 또는 관련된 구성요소에 대해서는 유사한 참조 부호가 사용될 수 있다. 아이템에 대응하는 명사의 단수 형은 관련된 문맥상 명백하게 다르게 지시하지 않는 한, 상기 아이템 한 개 또는 복수 개를 포함할 수 있다. 본 문서에서, “A 또는 B”, “A 및 B 중 적어도 하나”, “A 또는 B 중 적어도 하나”, “A, B 또는 C”, “A, B 및 C 중 적어도 하나”, 및 “A, B, 또는 C 중 적어도 하나”와 같은 문구들 각각은 그 문구들 중 해당하는 문구에 함께 나열된 항목들 중 어느 하나, 또는 그들의 모든 가능한 조합을 포함할 수 있다. “제 1”, “제 2”, 또는 “첫째” 또는 “둘째”와 같은 용어들은 단순히 해당 구성요소를 다른 해당 구성요소와 구분하기 위해 사용될 수 있으며, 해당 구성요소들을 다른 측면(예: 중요성 또는 순서)에서 한정하지 않는다. 어떤(예: 제 1) 구성요소가 다른(예: 제 2) 구성요소에, “기능적으로” 또는 “통신적으로”라는 용어와 함께 또는 이런 용어 없이, “커플드” 또는 “커넥티드”라고 언급된 경우, 그것은 상기 어떤 구성요소가 상기 다른 구성요소에 직접적으로(예: 유선으로), 무선으로, 또는 제 3 구성요소를 통하여 연결될 수 있다는 것을 의미한다.
본 문서의 다양한 실시예들에서 사용된 용어 “모듈”은 하드웨어, 소프트웨어 또는 펌웨어로 구현된 유닛을 포함할 수 있으며, 예를 들면, 로직, 논리 블록, 부품, 또는 회로와 같은 용어와 상호 호환적으로 사용될 수 있다. 모듈은, 일체로 구성된 부품 또는 하나 또는 그 이상의 기능을 수행하는, 상기 부품의 최소 단위 또는 그 일부가 될 수 있다. 예를 들면, 일실시예에 따르면, 모듈은 ASIC(application-specific integrated circuit)의 형태로 구현될 수 있다.
본 문서의 다양한 실시예들은 기기(machine)에 의해 읽을 수 있는 저장 매체(storage medium)(예: 내장 메모리 또는 외장 메모리)에 저장된 하나 이상의 명령어들을 포함하는 소프트웨어(예: 프로그램)로서 구현될 수 있다. 예를 들면, 기기의 프로세서는, 저장 매체로부터 저장된 하나 이상의 명령어들 중 적어도 하나의 명령을 호출하고, 그것을 실행할 수 있다. 이것은 기기가 상기 호출된 적어도 하나의 명령어에 따라 적어도 하나의 기능을 수행하도록 운용되는 것을 가능하게 한다. 상기 하나 이상의 명령어들은 컴파일러에 의해 생성된 코드 또는 인터프리터에 의해 실행될 수 있는 코드를 포함할 수 있다. 기기로 읽을 수 있는 저장 매체는, 비일시적(non-transitory) 저장 매체의 형태로 제공될 수 있다. 여기서, ‘비일시적’은 저장 매체가 실재(tangible)하는 장치이고, 신호(signal)(예: 전자기파)를 포함하지 않는다는 것을 의미할 뿐이며, 이 용어는 데이터가 저장 매체에 반영구적으로 저장되는 경우와 임시적으로 저장되는 경우를 구분하지 않는다.
일실시예에 따르면, 본 문서에 개시된 다양한 실시예들에 따른 방법은 컴퓨터 프로그램 제품(computer program product)에 포함되어 제공될 수 있다. 컴퓨터 프로그램 제품은 상품으로서 판매자 및 구매자 간에 거래될 수 있다. 컴퓨터 프로그램 제품은 기기로 읽을 수 있는 저장 매체(예: compact disc read only memory(CD-ROM))의 형태로 배포되거나, 또는 애플리케이션 스토어(예: 플레이 스토어TM)를 통해 또는 두 개의 사용자 장치들(예: 스마트 폰들) 간에 직접, 온라인으로 배포(예: 다운로드 또는 업로드)될 수 있다. 온라인 배포의 경우에, 컴퓨터 프로그램 제품의 적어도 일부는 제조사의 서버, 애플리케이션 스토어의 서버, 또는 중계 서버의 메모리와 같은 기기로 읽을 수 있는 저장 매체에 적어도 일시 저장되거나, 임시적으로 생성될 수 있다.
다양한 실시예들에 따르면, 상기 기술한 구성요소들의 각각의 구성요소(예: 모듈 또는 프로그램)는 단수 또는 복수의 개체를 포함할 수 있으며, 복수의 개체 중 일부는 다른 구성요소에 분리 배치될 수도 있다. 다양한 실시예들에 따르면, 전술한 해당 구성요소들 중 하나 이상의 구성요소들 또는 동작들이 생략되거나, 또는 하나 이상의 다른 구성요소들 또는 동작들이 추가될 수 있다. 대체적으로 또는 추가적으로, 복수의 구성요소들(예: 모듈 또는 프로그램)은 하나의 구성요소로 통합될 수 있다. 이런 경우, 통합된 구성요소는 상기 복수의 구성요소들 각각의 구성요소의 하나 이상의 기능들을 상기 통합 이전에 상기 복수의 구성요소들 중 해당 구성요소에 의해 수행되는 것과 동일 또는 유사하게 수행할 수 있다. 다양한 실시예들에 따르면, 모듈, 프로그램 또는 다른 구성요소에 의해 수행되는 동작들은 순차적으로, 병렬적으로, 반복적으로, 또는 휴리스틱하게 실행되거나, 상기 동작들 중 하나 이상이 다른 순서로 실행되거나, 생략되거나, 또는 하나 이상의 다른 동작들이 추가될 수 있다.

Claims (15)

  1. 검사 장치(100)에 있어서,
    평탄도 검사 대상인 압착 설비의 지그에 안착하여 압력 분포에 따른 패턴 이미지가 마킹된 감압 필름을 스캔하여 검사 대상 이미지를 획득하도록 구성된 이미지 입력부(120); 및
    상기 검사 대상 이미지에 대한 불량 여부를 판정하도록 구성된 제어부(110)를 포함하며,
    상기 제어부(110)가,
    상기 검사 대상 이미지를 분할하는 복수의 매칭 픽셀 블록 영역들 각각에 대응하여 획득한 매칭 검사 이미지 데이터를 사용하여 상기 검사 대상 이미지를 미리 설정된 검사 기준 이미지에 매칭하고,
    상기 검사 대상 이미지와 상기 검사 기준 이미지가 매칭됨에 응답하여 상기 검사 대상 이미지에 포함된 복수의 검사 픽셀 블록들 중에서 불량 검사를 진행할 대상 검사 픽셀 블록을 선택하고,
    상기 검사 기준 이미지에 포함된 복수의 기준 픽셀 블록들 중에서 상기 대상 검사 픽셀 블록에 매칭된 대상 기준 픽셀 블록과 상기 대상 검사 픽셀 블록을 픽셀 단위로 특성 값을 비교하여 상기 검사 대상 이미지에 대한 불량 여부를 결정하도록 구성되며,
    상기 대상 검사 픽셀 블록은 상기 복수의 검사 픽셀 블록들 중에서 불량 검사가 이루어지지 않은 잔여 검사 픽셀 블록들 중에서 가장 높은 우선 순위를 갖는 잔여 검사 픽셀 블록이고,
    상기 검사 대상 이미지에서 상기 복수의 검사 픽셀 블록들 각각은 상기 매칭 이후에 상기 검사 기준 이미지에 포함된 상기 복수의 기준 픽셀 블록들 각각과 일대일 대응되는, 검사 장치(100).
  2. 제1항에 있어서,
    상기 제어부(110)가,
    상기 대상 검사 픽셀 블록에 포함된 픽셀들의 특성 값과 상기 대상 기준 픽셀 블록에 포함된 픽셀들의 특성 값의 대비 값이 오차 범위 내에 존재하지 않음에 응답하여 상기 검사 대상 이미지를 불량 처리하도록 구성된, 검사 장치(100).
  3. 제2항에 있어서,
    상기 특성 값은 해당 픽셀의 색 농도 수치 또는 상기 압력 분포에 상응한 상기 해당 픽셀의 압력 수치인, 검사 장치(100).
  4. 제1항에 있어서,
    상기 제어부(110)가,
    상기 복수의 매칭 픽셀 블록 영역들에 대응하여 획득한 모든 매칭 검사 이미지 데이터가 상기 검사 기준 이미지를 분할하는 복수의 매칭 픽셀 블록 영역들에 대응하여 획득한 모든 매칭 검사 이미지 데이터에 일대일 매칭됨에 응답하여 상기 검사 대상 이미지가 상기 검사 기준 이미지에 매칭된 것으로 판정하도록 구성된, 검사 장치(100).
  5. 제1항에 있어서,
    상기 제어부(110)가,
    상기 검사 대상 이미지와 상기 검사 기준 이미지의 매칭에 실패함에 응답하여 상기 검사 대상 이미지를 회전하거나, 좌우 반전한 갱신된 검사 대상 이미지와 상기 검사 기준 이미지의 매칭을 판정하도록 구성된, 검사 장치(100).
  6. 제1항에 있어서,
    상기 제어부(110)가,
    상기 복수의 검사 픽셀 블록들에 대한 불량 검사를 진행할 순서를 결정하는 우선 순위를 사용자의 선택 또는 불량 검출 가능성을 고려하여 검사 픽셀 블록 별로 할당하도록 구성된, 검사 장치(100).
  7. 제1항에 있어서,
    상기 제어부(110)가,
    상기 매칭 검사 이미지 데이터를 획득하기 위하여 대상 매칭 픽셀 블록에 포함된 픽셀들이 갖는 녹색 값을 제거하도록 구성된, 검사 장치(100).
  8. 제1항에 있어서,
    상기 제어부(110)가,
    상기 대상 검사 픽셀 블록에 포함된 픽셀들 중에서 불량 여부를 판단할 픽셀을 해상도를 기반으로 결정하도록 구성된, 검사 장치(100).
  9. 제1항에 있어서,
    상기 제어부(110)가,
    상기 검사 대상 이미지를 불량으로 판정하도록 하는 대상 검사 픽셀 블록에 포함된 픽셀들에 대응한 불량 카운트 값을 증가시키도록 구성된, 검사 장치(100).
  10. 제1항에 있어서,
    불량으로 판정된 검사 대상 이미지를 저장할 제1 저장 영역 또는 정상으로 판정된 검사 대상 이미지를 저장할 제2 저장 영역을 포함하도록 구성된 이미지 저장부(130)를 포함하는, 검사 장치(100).
  11. 압착 설비에 포함된 지그의 평탄도를 검사하기 위한 방법에 있어서,
    상기 지그에 안착하여 압력 분포에 따른 패턴 이미지가 마킹된 감압 필름을 스캔하여 검사 대상 이미지를 획득하는 동작;
    상기 검사 대상 이미지를 분할하는 복수의 매칭 픽셀 블록 영역들 각각에 대응하여 획득한 매칭 검사 이미지 데이터를 사용하여 상기 검사 대상 이미지를 미리 설정된 검사 기준 이미지에 매칭하는 동작;
    상기 검사 대상 이미지와 상기 검사 기준 이미지가 매칭됨에 응답하여 상기 검사 대상 이미지에 포함된 복수의 검사 픽셀 블록들 중에서 불량 검사를 진행할 대상 검사 픽셀 블록을 선택하는 동작; 및
    상기 검사 기준 이미지에 포함된 복수의 기준 픽셀 블록들 중에서 상기 대상 검사 픽셀 블록에 매칭된 대상 기준 픽셀 블록과 상기 대상 검사 픽셀 블록을 픽셀 단위로 특성 값을 비교하여 상기 검사 대상 이미지에 대한 불량 여부를 결정하는 동작을 포함하고,
    상기 대상 검사 픽셀 블록은 상기 복수의 검사 픽셀 블록들 중에서 불량 검사가 이루어지지 않은 잔여 검사 픽셀 블록들 중에서 가장 높은 우선 순위를 갖는 잔여 검사 픽셀 블록이고,
    상기 검사 대상 이미지에서 상기 복수의 검사 픽셀 블록들 각각은 상기 매칭 이후에 상기 검사 기준 이미지에 포함된 상기 복수의 기준 픽셀 블록들 각각과 일대일 대응되는, 방법.
  12. 제11항에 있어서,
    상기 대상 검사 픽셀 블록에 포함된 픽셀들의 특성 값과 상기 대상 기준 픽셀 블록에 포함된 픽셀들의 특성 값의 대비 값이 오차 범위 내에 존재하지 않음에 응답하여 상기 검사 대상 이미지를 불량 처리하는 동작을 포함하고,
    상기 특성 값은 해당 픽셀의 색 농도 수치 또는 상기 압력 분포에 상응한 상기 해당 픽셀의 압력 수치인, 방법.
  13. 제11항에 있어서,
    상기 복수의 매칭 픽셀 블록 영역들에 대응하여 획득한 모든 매칭 검사 이미지 데이터가 상기 검사 기준 이미지를 분할하는 복수의 매칭 픽셀 블록 영역들에 대응하여 획득한 모든 매칭 검사 이미지 데이터에 일대일 매칭됨에 응답하여 상기 검사 대상 이미지가 상기 검사 기준 이미지에 매칭된 것으로 판정하는 동작; 및
    상기 검사 대상 이미지와 상기 검사 기준 이미지의 매칭에 실패함에 응답하여 상기 검사 대상 이미지를 회전하거나, 좌우 반전한 갱신된 검사 대상 이미지와 상기 검사 기준 이미지의 매칭을 판정하는 동작을 포함하는, 방법.
  14. 제11항에 있어서,
    상기 대상 검사 픽셀 블록에 포함된 픽셀들 중에서 불량 여부를 판단할 픽셀을 해상도를 기반으로 결정하는 동작을 포함하는, 방법.
  15. 제11항에 있어서,
    상기 검사 대상 이미지를 불량으로 판정하도록 하는 대상 검사 픽셀 블록에 포함된 픽셀들에 대응한 불량 카운트 값을 증가시키는 동작을 포함하는, 방법.
PCT/KR2024/000096 2023-02-24 2024-01-03 지그의 평탄도를 검사하기 위한 장치 및 방법 WO2024177270A1 (ko)

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