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WO2024117440A1 - 피드백 제어 시스템 및 그 제어 방법 - Google Patents

피드백 제어 시스템 및 그 제어 방법 Download PDF

Info

Publication number
WO2024117440A1
WO2024117440A1 PCT/KR2023/010495 KR2023010495W WO2024117440A1 WO 2024117440 A1 WO2024117440 A1 WO 2024117440A1 KR 2023010495 W KR2023010495 W KR 2023010495W WO 2024117440 A1 WO2024117440 A1 WO 2024117440A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
value
boundary
factor
average value
module
Prior art date
Application number
PCT/KR2023/010495
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
김용섭
이기홍
조준연
김진욱
Original Assignee
엘에스일렉트릭 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority claimed from KR1020220162468A external-priority patent/KR20240079504A/ko
Priority claimed from KR1020220162467A external-priority patent/KR20240079503A/ko
Application filed by 엘에스일렉트릭 주식회사 filed Critical 엘에스일렉트릭 주식회사
Priority to CN202380074524.2A priority Critical patent/CN120112865A/zh
Publication of WO2024117440A1 publication Critical patent/WO2024117440A1/ko

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    • G—PHYSICS
    • G05—CONTROLLING; REGULATING
    • G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
    • G05B19/00—Programme-control systems
    • G05B19/02—Programme-control systems electric
    • G05B19/418—Total factory control, i.e. centrally controlling a plurality of machines, e.g. direct or distributed numerical control [DNC], flexible manufacturing systems [FMS], integrated manufacturing systems [IMS] or computer integrated manufacturing [CIM]
    • G—PHYSICS
    • G05—CONTROLLING; REGULATING
    • G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
    • G05B6/00—Internal feedback arrangements for obtaining particular characteristics, e.g. proportional, integral or differential
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06Q—INFORMATION AND COMMUNICATION TECHNOLOGY [ICT] SPECIALLY ADAPTED FOR ADMINISTRATIVE, COMMERCIAL, FINANCIAL, MANAGERIAL OR SUPERVISORY PURPOSES; SYSTEMS OR METHODS SPECIALLY ADAPTED FOR ADMINISTRATIVE, COMMERCIAL, FINANCIAL, MANAGERIAL OR SUPERVISORY PURPOSES, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G06Q10/00—Administration; Management
    • G06Q10/06—Resources, workflows, human or project management; Enterprise or organisation planning; Enterprise or organisation modelling

Definitions

  • the present invention relates to a feedback control system, and more specifically, to a feedback control system and a control method that can improve the completeness of a product by automatically feeding back factors that affect the manufacturing results of a product.
  • the completeness or quality of the manufactured product may change. Additionally, the various factors may include factors due to the environment in which the product is produced. The completeness or quality of the manufactured product may also change depending on the environmental factors that can affect the manufacturing process.
  • Korean Patent Document No. 10-2030667 discloses an automatic circuit breaker test device. Specifically, an automatic breaker testing device is disclosed that can improve the reliability of test results and prevent damage to the breaker by performing a test on the breaker using a tester unit.
  • control device can compare the control results of the manufacturing process with the manufacturing process sequence conditions and generate a feedback command to adjust the arrangement of parts to achieve the desired effect.
  • the automatic circuit breaker test device disclosed in the prior literature only provides a method for correcting errors in the manufacturing process.
  • the prior literature does not provide a method for maintaining uniform quality of manufactured products on the premise that there are no errors in the manufacturing process.
  • Japanese Patent Publication No. 2021-190325 discloses a system for inspecting the draw-out characteristics of a circuit breaker. Specifically, an inspection system that detects abnormalities in an inspection device using data acquired in a process prior to inspection of a circuit breaker and an inspection process is disclosed.
  • the prior literature discloses a drawing characteristic inspection system that first measures the resistance between electrodes of a completed circuit breaker and then inspects the drawing characteristics of only the circuit breakers that were determined to be faulty during the measurement to check for abnormalities.
  • the system for inspecting the draw-out characteristics of a circuit breaker disclosed in the above-described prior literature requires a plurality of inspection processes to be performed to determine whether or not there is an abnormality. That is, in the drawing characteristic inspection system, the drawing characteristic test is performed only after the inter-electrode resistance test is performed first. Therefore, various facilities are required to perform multi-step inspection.
  • the present invention is intended to solve the above problems, and the purpose of the present invention is to provide a feedback control system and a control method that can reflect product manufacturing results in real time in the manufacturing process.
  • Another object of the present invention is to provide a feedback control system and a control method that can automatically reflect product manufacturing results in the manufacturing process.
  • Another object of the present invention is to provide a feedback control system and a control method that can maintain the quality of manufactured products above a certain level.
  • Another object of the present invention is to provide a feedback system and a control method that can reflect the manufacturing results of continuously manufactured products in the manufacturing process.
  • Another object of the present invention is to provide a feedback control system and a control method that can adjust the manufacturing process and standards for evaluating product quality to suit its characteristics.
  • a manufacturing unit that manufactures a product by reflecting preset parameter values; a test unit connected to the production unit to receive the manufactured product, apply a test current to the product to test the product, and detect the result; and a parameter value adjustment unit configured to adjust the parameter value using the result detected by the test unit, wherein the result is information about the time it takes for the product to perform a preset operation when the test current is applied.
  • a feedback control system is provided, wherein the parameter value adjustment unit compares the average value of the results of the plurality of products with a preset boundary value and adjusts the parameter value using the result.
  • it includes an average value calculation unit that is electrically connected to the test unit, receives the results, and calculates an average value of the results of the plurality of products, wherein the average value calculation unit calculates the average value of the results for each of the plurality of products.
  • a grouping module for classifying the sets into a plurality of sets including a set number of the products and grouping the sets into a plurality of groups each including a preset number of the sets;
  • a feedback control system may be provided, including an average value calculation module that calculates the average value of the results for each group in which the plurality of products are grouped by the grouping module.
  • the production unit is configured to sequentially manufacture a plurality of products
  • the grouping module excludes any one set including the product manufactured first among the plurality of sets included in any one grouped group. And, among the plurality of sets included in another group that follows the one group, one set containing the product manufactured first is added to the one group, thereby defining a new group.
  • a feedback control system may be provided.
  • the factor value adjustment unit includes an average value comparison module that compares the average value calculated for each group and the preset boundary value;
  • a feedback control system may be provided, including a factor value calculation module that calculates the factor value using a magnitude relationship between the average value calculated by the average value comparison module and the boundary value.
  • the preset boundary value includes an upper boundary value and a lower boundary value that is less than the upper boundary value
  • the factor value operation module reduces the result when the calculated average value exceeds the upper boundary value.
  • a feedback control system may be provided that calculates the factor value as much as possible and, when the calculated average value is less than the lower limit value, calculates the factor value to increase the result.
  • it includes a boundary value calculation unit configured to calculate a boundary value using the mode of the results of the plurality of products detected by the test unit, and the boundary value calculation unit is configured to calculate a boundary value for each of the groups in which the plurality of products are grouped.
  • a feedback control system may be provided, including a boundary value calculation module that calculates the boundary value using the mode.
  • the boundary value calculation module calculates the largest value among the plurality of modes for the plurality of groups as the upper limit value, and calculates the lowest value among the plurality of modes for the plurality of groups as the lower limit value.
  • a feedback control system may be provided that calculates a plurality of upper limit values and a plurality of lower limit values depending on the number of defective products that do not satisfy preset standards and are included in a single group.
  • the boundary value calculation unit includes an average value trend calculation module that calculates information about the trend of the average value for each of the plurality of groups; and a factor value resetting module that calculates the factor value using information about the trend of the average value, wherein the factor value resetting module is configured to reduce the average value when the information about the trend of the average value increases.
  • a feedback control system may be provided that calculates a factor value and, when information about a trend of the average value indicates a decrease, calculates the factor value so that the average value increases.
  • the manufacturing unit manufactures a product according to preset factor values; (b) applying a test current to the product in which the test unit is manufactured to test and evaluate the product; (c) an average value calculation unit calculating an average value for test results of a plurality of products; (d) a factor value adjusting unit adjusting the factor value using the calculated average value; and (e) manufacturing the product according to the adjusted factor value by the manufacturing unit.
  • a control method of a feedback control system is provided.
  • step (b) includes: (b1) applying the test current to the product by a test current application module; (b2) a result detection module detecting information about the operating time of the product by the applied test current; and (b3) transmitting the information detected by the result detection module to the average value calculation unit.
  • a control method of a feedback control system may be provided.
  • step (c) includes: (c1) a grouping module classifying the plurality of products into a plurality of sets; (c2) grouping the plurality of classified sets into a plurality of groups by the grouping module; (c3) calculating, by an average value calculation module, the average value for the test results of the plurality of products each included in the plurality of groups; and (c4) transmitting the average value calculated by the average value calculation module to the factor value adjustment unit, wherein step (c2) includes (c21) storing a plurality of the sets according to the order in which the grouping module was manufactured.
  • a control method of a feedback control system may be provided.
  • step (d) includes: (d1) comparing the average value calculated by the average value comparison module with a preset boundary value; (d2) a factor value calculation module calculating the factor value according to the magnitude relationship between the average value and the boundary value; and (d3) transmitting the factor value calculated by the factor value calculation module to the production unit.
  • a control method of a feedback control system may be provided.
  • the boundary value includes an upper boundary value and a lower boundary value that is less than the upper boundary value, and step (d2) is performed when the average value exceeds the upper boundary value. calculating the argument value so that the argument value is reduced; and (d22) when the average value is less than the lower limit value, calculating the factor value so that the factor value calculation module increases the factor value.
  • a control method of a feedback control system may be provided.
  • step (c') a boundary value calculation unit calculates a boundary value using test results of a plurality of products
  • step (c') (c1') a boundary value calculation module calculating a boundary value using a mode of test results of a plurality of grouped products; (c2') comparing the average value calculated by an average value trend calculation module with the boundary value; and (c3') a step of the factor value resetting module adjusting the factor value according to a comparison result between the average value and the boundary value.
  • the boundary value calculation module calculates a plurality of boundary values according to their frequency, and in step (c1'), (c11') the boundary value calculation module detects a defective product that does not meet a preset standard. calculating the largest value among the plurality of boundary values of the group included as an upper boundary value and calculating the smallest value as a lower boundary value; and (c12') calculating, by the boundary value calculation module, the upper limit value and the lower limit value, respectively, according to the number of defective products included in each group. It can be.
  • step (c12') includes: (c121') when the number of defective products is a first number, the boundary value calculation module calculates a first upper boundary value and a first lower boundary value; (c122') When the number of defective products is a second number, the boundary value calculation module sets a second upper limit value that exceeds the first upper limit value and a second lower limit value that is less than the first lower limit value. calculating step; and (c123') when the number of defective products is a third number, the boundary value calculation module sets a third upper limit value that exceeds the second upper limit value and a third lower limit value that is less than the second lower limit value.
  • a control method of a feedback control system may be provided, including the step of calculating .
  • step (c2') includes: (c21') the average value trend calculation module comparing the average value of each of a plurality of groups with the boundary value; And (c22') a step of calculating, by the average value trend calculation module, a trend of the plurality of average values as one of increase, decrease, and maintenance.
  • the boundary value calculation module calculates a plurality of boundary values of the test results of the plurality of grouped products according to their frequency, and the step (c3') is performed on the plurality of boundary values for which the average value was calculated (c31').
  • the parameter value resetting module calculates the parameter value so that the size of the parameter value is reduced; and (c32') when the average value is less than the smallest value among the plurality of calculated boundary values, the parameter value reset module calculating the factor value to increase the size of the factor value.
  • a feedback control system comprising: A control method may be provided.
  • step (c3') when the trend of the average value calculated by the average value trend calculation module (c33') is an increase, the parameter value reset module calculates the parameter value so that the size of the parameter value decreases. steps; (c34') when the trend of the average value calculated by the average value trend calculation module is a decrease, the parameter value resetting module calculates the factor value so that the size of the factor value increases; and (c35') when the trend of the average value calculated by the average value trend calculation module is maintained, the parameter value reset module calculating the factor value so that the size of the factor value is maintained.
  • a feedback control system comprising: A control method may be provided.
  • the boundary value calculation unit calculates the largest value among the plurality of boundary values of the group including defective products that do not meet the preset standard as the upper boundary value, and calculates the smallest value as the lower boundary value
  • the step (d2) includes: (d21) when the average value exceeds the upper limit value, the factor value calculation module calculates the factor value to decrease the factor value; and (d22) when the average value is less than the lower limit value, calculating the factor value so that the factor value calculation module increases the factor value.
  • a control method of a feedback control system may be provided.
  • the feedback control system and its control method according to an embodiment of the present invention can reflect the manufacturing results of the product in the manufacturing process in real time.
  • the feedback control system includes a manufacturing unit.
  • the production unit is connected to the transfer unit, allowing products to be manufactured continuously. At least some of the products manufactured in the production department are moved to the testing department and subjected to test current.
  • the test unit can detect information about the operation results of the product according to the application of the test current.
  • the information detected by the test unit is transmitted to the average value calculation unit.
  • the average value calculation unit calculates the average value of the information detected by the test unit, that is, information about a plurality of products.
  • the calculated average value is transmitted to the factor value adjustment unit.
  • the factor value adjustment unit compares the calculated average value with a preset boundary value.
  • the preset boundary value may include an upper boundary value and a lower boundary value.
  • the factor value adjustment unit calculates the factor value by comparing the calculated average value with the upper limit value and the lower limit value.
  • the factor value adjustment unit calculates the factor value so that the average value decreases. If the calculated average value is less than the lower limit value, the factor value adjustment unit calculates the factor value so that the average value increases.
  • the calculated authorization value is transmitted to the production department and can be applied to products manufactured later.
  • the feedback control system and its control method according to an embodiment of the present invention can automatically reflect the manufacturing results of the product in the manufacturing process.
  • the average value calculation unit calculates the average value for each continuously manufactured product, and each calculated average value is transmitted to the factor value adjustment unit.
  • the factor value adjustment unit compares a plurality of continuously calculated average values with the upper limit value and the lower limit value, respectively, and then calculates the factor value in real time.
  • the calculated factor values can be delivered to the production department and applied to product manufacturing.
  • the newly calculated factor value can be automatically reflected in the newly manufactured product.
  • the feedback control system and its control method according to an embodiment of the present invention can maintain the quality of manufactured products at a certain level or higher.
  • the feedback control system includes a boundary value calculation unit.
  • the boundary value calculation unit calculates the boundary value using the mode value among the information detected by the test unit. Specifically, the boundary value calculation unit calculates the boundary value using a mode among test results in each group in which a plurality of products are grouped.
  • the boundary value may include an upper boundary value and a lower boundary value.
  • the boundary value calculation unit may calculate the highest value among the plurality of mode values as the upper boundary value and the lowest value as the lower boundary value.
  • the boundary value calculation unit may calculate a plurality of boundary values according to the number of defective products included in a single group.
  • the boundary value calculation unit may calculate a plurality of upper limit values and a plurality of lower limit boundary values. Accordingly, the area between the upper limit value with the largest value and the lower limit boundary value with the smallest value may be divided into a plurality of areas.
  • the boundary value calculation unit includes an average value trend calculation module that calculates the trend of the average value.
  • the average value trend calculation module calculates information about the trend of the average value of continuously manufactured products as either increasing, decreasing, or maintaining.
  • the parameter value reset module can adjust the parameter value in the form of increase, decrease, or maintenance according to information about the trend of the calculated average value. At this time, the parameter value reset module may adjust the parameter value so that the average value is located in the plurality of areas.
  • the manufactured product can be manufactured so that its average value is maintained between the maximum value of the upper limit value and the minimum value of the lower limit value. Accordingly, the quality of the manufactured product can be maintained at a certain level.
  • the feedback control system and its control method according to an embodiment of the present invention can reflect the manufacturing results of continuously manufactured products in the manufacturing process.
  • the average calculation unit includes a grouping module.
  • the grouping module classifies a plurality of products into a plurality of sets including a preset number of products. Additionally, the grouping module groups a plurality of sets into a plurality of groups including a preset number of sets.
  • the grouping module includes the first manufactured product among the sets included in the group following the group, excluding any one set containing the earliest manufactured product among the sets included in any one group.
  • a group is redefined by adding a set to a group.
  • each group is continuously updated in such a way that one set produced first is excluded and another set produced last is added.
  • products manufactured continuously may be continuously included in any one of a plurality of groups defined continuously. Accordingly, the status of products belonging to one set or group can be continuously reflected in the manufacturing process.
  • the feedback control system and its control method can adjust the standards for adjusting the manufacturing process and evaluating the quality of the product according to its characteristics.
  • the argument value calculation module or the argument value resetting module calculates the argument values in group units.
  • the calculated factor values are transmitted to the production department and can be applied to products produced later.
  • the production unit may manufacture products corresponding to the preset number of sets by applying preset factor values, and manufacture products after the preset number of sets by applying newly calculated factor values.
  • the newly calculated factor value may be reflected after a predetermined time has elapsed. Therefore, changes in product test results due to newly calculated parameter values can be calculated more clearly.
  • the boundary value calculation unit also newly calculates the boundary value on a group basis. At this time, the boundary value calculation unit calculates the boundary value according to the number of defective products included in a single group.
  • the boundary value newly calculated by the boundary value calculation unit can be applied on a group basis. Accordingly, frequent adjustment of the boundary value can be prevented and the evaluation criteria for the test results of the product can become clearer.
  • the calculation and application timing may be configured differently depending on the characteristics of the calculated parameter values and boundary values.
  • FIG. 1 is a block diagram showing the configuration of a feedback control system according to an embodiment of the present invention.
  • FIG. 2 is a conceptual diagram showing the connection relationship between the production unit, transfer unit, and testing unit in the feedback control system of FIG. 1.
  • FIG. 3 is an exemplary diagram illustrating the concepts of product, set, and group used in the feedback control system of FIG. 1.
  • FIG. 4 is a block diagram showing the flow of information formed between each component of the feedback control system of FIG. 1.
  • FIG. 5 is an exemplary diagram illustrating a process in which a factor value calculated by the feedback control system of FIG. 1 is applied.
  • FIG. 6 is a diagram illustrating boundary values used in the feedback control system of FIG. 1.
  • FIG. 7 is a diagram illustrating a process in which the boundary value of FIG. 6 is calculated.
  • Figure 8 is a flowchart showing the flow of a control method of a feedback control system according to an embodiment of the present invention.
  • FIG. 9 is a flowchart showing the detailed flow of step S100 in the control method of the feedback control system of FIG. 8.
  • FIG. 10 is a flowchart showing the detailed flow of step S200 in the control method of the feedback control system of FIG. 8.
  • FIG. 11 is a flowchart showing the detailed flow of step S300 in the control method of the feedback control system of FIG. 8.
  • FIG. 12 is a flowchart showing the detailed flow of step S400 in the control method of the feedback control system of FIG. 8.
  • FIG. 13 is a flowchart showing the detailed flow of step S410 in the control method of the feedback control system of FIG. 12.
  • FIG. 14 is a flowchart showing the detailed flow of step S420 in the control method of the feedback control system of FIG. 12.
  • FIG. 15 is a flowchart showing the detailed flow of step S430 in the control method of the feedback control system of FIG. 12.
  • FIG. 16 is a flowchart showing the detailed flow of step S500 in the control method of the feedback control system of FIG. 8.
  • FIG. 17 is a flowchart showing the detailed flow of step S520 in the control method of the feedback control system of FIG. 16.
  • FIG. 18 is a flowchart showing the detailed flow of step S600 in the control method of the feedback control system of FIG. 8.
  • FIG. 19 is a flowchart showing the detailed flow of step S700 in the control method of the feedback control system of FIG. 8.
  • conducting means that one or more members are connected to each other to transmit current or electrical signals.
  • electricity may be formed in a wired form using a conductor member, or in a wireless form such as Bluetooth, Wi-Fi, or RFID.
  • electrification may include the meaning of “communication.”
  • the configuration of the feedback control system 10 according to an embodiment of the present invention is shown as an example.
  • the feedback control system 10 according to an embodiment of the present invention can perform a production process for the product P.
  • the feedback control system 10 may store information about the factor value (a) that may affect the quality of the produced product (P).
  • the feedback control system 10 can adjust the quality of the produced product (P) by adjusting the factor value (a).
  • the feedback control system 10 can detect information related to the quality of the produced product P.
  • the feedback control system 10 can adjust the factor value (a) using the sensed information. Accordingly, the quality of the product P manufactured and produced by the feedback control system 10 can be maintained constant.
  • the feedback control system 10 includes a configuration for manufacturing the product P.
  • the feedback control system 10 may be configured excluding the configuration for manufacturing product P.
  • the feedback control system 10 may be applied to a line that produces an arbitrary product (P) and may be configured to adjust the factor value (a) according to the production results of the product (P).
  • the product (P) may be of any form that can be manufactured automatically or manually.
  • the product (P) may be equipped as a circuit breaker.
  • the factor value (a) may include an arbitrary value that may affect the time (T) required for tripping when overcurrent is applied to the product (P).
  • the factor value (a) may include any factors that affect the time (T) required for tripping, such as the manufacturing environment of the product (P), the material of the product (P), and the resulting resistance value. You can.
  • the factor value (a) is the physical properties of the bimetal, foreign substances remaining on the bimetal, etc., the condition of the welding area (for example, the presence of burrs, etc.), the temperature, humidity, and The influence of arbitrary factors such as contact status with the terminal when overcurrent is applied can be reflected.
  • the time (T) required for tripping may increase. Additionally, if the factor value (a) is reduced, the time (T) required for tripping may be reduced.
  • the feedback control system 10 can analyze the quality trend of the product (P) according to the adjustment of the factor value (a) and readjust the factor value (a) using this. . Therefore, the factor value (a) can be applied to the product (P) by reflecting the status of the product (P) that changes in real time or the influence of the surrounding environment.
  • the feedback control system 10 includes a manufacturing unit 100, a transfer unit 200, a testing unit 300, an average value calculation unit 400, a factor value adjustment unit 500, a boundary value calculation unit 600, and a database. Includes part 700.
  • the production unit 100 substantially performs the role of manufacturing the product P.
  • the production department 100 may receive authorization for information related to conditions necessary for manufacturing the product P.
  • the production unit 100 can manufacture the product P according to the authorized information.
  • the production unit 100 is connected to the transfer unit 200.
  • the production unit 100 may be electrically connected to the transfer unit 200.
  • the product P manufactured in the production unit 100 may be delivered to the testing unit 300 by the transfer unit 200.
  • the production unit 100 is electrically connected to the printing value adjustment unit 500.
  • the manufacturing unit 100 may receive the adjusted printing value (a) from the printing value adjusting unit 500.
  • the manufacturing unit 100 includes a manufacturing information input module 110 and a manufacturing process performance module 120.
  • the manufacturing information input module 110 receives information related to various factors for manufacturing the product P.
  • the production information input module 110 may receive an input value (a).
  • the manufacturing information input module 110 is electrically connected to the manufacturing process performance module 120.
  • the manufacturing information input module 110 may transmit the input parameter value (a) to the manufacturing process execution module 120.
  • the production information input module 110 is electrically connected to the factor value adjustment unit 500.
  • the production information input module 110 may receive the print value (a) calculated by the print value adjustment unit 500.
  • the production information input module 110 may be provided in any form capable of inputting, storing, and outputting information.
  • the production information input module 110 may be configured to include means for calculation, such as a CPU or microprocessor, and means for storage, such as SSD, HDD, RAM, or ROM.
  • the production information input module 110 can be electrically connected to an external terminal to receive an input value (a).
  • the production information input module 110 may include a button or a touch screen, and may be configured to receive the input value (a) from the operator.
  • the manufacturing process execution module 120 manufactures the product (P) corresponding to the received parameter value (a).
  • the manufacturing process execution module 120 is electrically connected to the manufacturing information input module 110.
  • the manufacturing process performance module 120 can manufacture an arbitrary product (P) corresponding to the received factor value (a).
  • the manufactured product P may be equipped with a circuit breaker.
  • the product P manufactured by the manufacturing process performance module 120 is delivered to the test unit 300 by the transfer unit 200.
  • the manufacturing process performance module 120 is connected to the transfer unit 200.
  • the transfer unit 200 transfers the product P manufactured by the production unit 100 to the outside.
  • the transfer unit 200 is connected to the production unit 100 and the outside, respectively.
  • the transfer unit 200 may be provided in any shape capable of transporting the manufactured product (P). In one embodiment, the transfer unit 200 may be provided in the form of a conveyor belt.
  • the transfer unit 200 may be composed of a plurality of lines. Some of the plurality of lines may be connected to the outside through the production unit 100 and the testing unit 300. The product (P) moved along the partial line may be moved to the outside after going through a testing process by the test unit 300.
  • Other lines among the plurality of lines may connect the production unit 100 and the outside, respectively.
  • the product (P) moved along the other line can be moved directly to the outside without a testing process.
  • the transfer unit 200 includes a test line 210 and a passing line 220.
  • the test line 210 constitutes a portion of the plurality of lines constituting the transfer unit 200.
  • the test line 210 connects the production unit 100, the test unit 300, and the outside.
  • the product P manufactured in the production unit 100 passes through the test unit 300 along the test line 210 and may be moved to the outside after undergoing a testing process.
  • Test line 210 is connected to pass line 220.
  • the test line 210 and the pass line 220 are configured in the form of a bypass line, so that the product (P) manufactured in the production unit 100 is connected to the test line 210 or the pass line 220. It can be moved to the outside by passing through.
  • the passing line 220 constitutes another line among the plurality of lines constituting the transfer unit 200.
  • the passing line 220 connects the production unit 100 and the outside.
  • the product P manufactured in the production unit 100 passes through the passing line 220 and can be moved to the outside without undergoing a testing process.
  • the number of products (P) passing through the test line 210 and the passing line 220 may be configured at a predetermined ratio.
  • the three products P pass through the test unit 300 along the test line 210 and are then moved to the outside. Additionally, the two products (P) are moved to the outside along the passing line 220, bypassing the test section 300. That is, in the above embodiment, the ratio between the number of products (P) that pass the test unit 300 and the number of products (P) that do not pass the test unit 300 may be determined to be 3:2.
  • the predetermined ratio may change depending on the speed at which the production unit 100 produces the product P or the speed of the transfer unit 200.
  • the average value calculation unit 400, the factor value adjustment unit 500, the boundary value calculation unit 600, and the database unit 700 which will be described below, are electrically connected to each other so that the calculated information can be transmitted to each other. there is.
  • the average value calculating unit 400, the factor value adjusting unit 500, the boundary value calculating unit 600, and the database unit 700 are directly or indirectly connected to the manufacturing unit 100 and the testing unit 300 to enable electricity to be sensed. Information or calculated information can be exchanged.
  • the test unit 300 tests whether the product P manufactured in the production unit 100 is manufactured to the expected quality.
  • the results of the test unit 300 testing the product P are transmitted to the average value calculation unit 400 and used as basis data for adjusting the factor value a.
  • the test unit 300 is connected to the production unit 100 and the outside by the transfer unit 200.
  • the product P manufactured in the production unit 100 passes through the test unit 300 along the test line 210, is tested, and then can be moved to the outside.
  • the test unit 300 is electrically connected to the average value calculation unit 400.
  • the results of the test unit 300 testing the product P may be transmitted to the average value calculation unit 400.
  • the test unit 300 may be provided in any form capable of testing the quality of the manufactured product (P).
  • the test unit 300 is configured to apply an overcurrent to the product (P) and detect the time (T) required for the product (P) to trip as a result. You can.
  • the test unit 300 includes a test current application module 310 and a result detection module 320.
  • the test current application module 310 applies a test current to the product P passing through the test unit 300.
  • the test current applied by the test current application module 310 may be an overcurrent.
  • the test current application module 310 may apply a test current to each product P moved to the test unit 300.
  • the result detection module 320 detects the operation result of the product P by the test current applied by the test current application module 310.
  • the result detection module 320 can detect arbitrary information related to the operation results of the product P.
  • the result detection module 320 may detect information about the time required for tripping (T) according to the application of overcurrent.
  • the operation result detected by the result detection module 320 is transmitted to the average value calculation unit 400.
  • the result detection module 320 is electrically connected to the average value calculation unit 400.
  • the average value calculation unit 400 calculates the average value (m) using the test result detected by the result detection module 320.
  • the average value calculation unit 400 may calculate the average value (m) using the test results detected by the result detection module 320 for a plurality of products (P).
  • the calculated average value (m) is the trip time (T) of the plurality of products (P) passing through the test unit 300. ) may be the average.
  • the average value calculating unit 400 may receive the test result detected by the result detection module 320.
  • the average value calculation unit 400 is electrically connected to the result detection module 320.
  • the average value (m) calculated by the average value calculation unit 400 may be transmitted to the factor value adjustment unit 500.
  • the average value calculating unit 400 is electrically connected to the factor value adjusting unit 500.
  • the average value calculation unit 400 may be provided in any form capable of inputting, calculating, and outputting information.
  • the average value calculation unit 400 may be configured to include means for calculation, such as a CPU or microprocessor.
  • the average value calculation unit 400 includes a grouping module 410 and an average value calculation module 420.
  • the grouping module 410 groups a plurality of products (P) according to predetermined rules.
  • the average value calculation unit 400 may calculate the average value (m) for each group grouped by the grouping module 410.
  • the average value (m) of a plurality of products (P) can be calculated with regularity.
  • the risk of the factor value (a) being calculated incorrectly can be excluded.
  • the grouping module 410 groups a plurality of products (P) is shown as an example.
  • a plurality of products (P) are first classified into sets (S).
  • six products (P) are classified into one set (S).
  • a plurality of sets (S) are grouped into a single group (G).
  • six sets (S) are grouped into one group (G).
  • the number of products (P) classified into one set (S) or the number of sets (S) grouped into one group (G) can be changed.
  • the grouping module 410 redefines the group (G) as a unit of the set (S).
  • a group (G) is defined, including one set (S) of the product (P) manufactured first and five sets (S) manufactured subsequently.
  • the grouping module 410 can be configured to continuously redefine the group (G) as a unit of the set (S) by shifting.
  • the average value (m) can be calculated for each newly defined group (G) in units of sets (S). Accordingly, a problem that may occur when the average value (m) is calculated in units of products (P), that is, excessive data, can be prevented. In addition, problems that may occur when the average value (m) is calculated in units of groups (G) defined sequentially rather than in a shift method, that is, a situation in which it is difficult to measure the state of the product (P) in real time, can also be prevented.
  • the result of grouping a plurality of products (P) by the grouping module 410 is transmitted to the average value calculation module 420.
  • the grouping module 410 is electrically connected to the average value calculation module 420.
  • the average value calculation module 420 calculates the average value (m) using the test results detected by the result detection module 320 and the grouped results by the grouping module 410.
  • the average value calculation module 420 is electrically connected to the result detection module 320 and the grouping module 410, respectively.
  • the average value calculation module 420 can receive the detected test results and grouped results.
  • the average value calculation module 420 may calculate the average value (m) of the test results for each group (G).
  • the calculated average value (m) for each group (G) is transmitted to the factor value adjustment unit 500, the boundary value calculation unit 600, and the database unit 700.
  • the factor value adjustment unit 500 calculates the factor value (a) using the calculated average value (m), that is, the average value (m) for each group (G). In other words, the factor value adjusting unit 500 substantially performs the role of adjusting the factor value (a) according to the test results.
  • the factor value adjustment unit 500 may receive the average value (m) calculated by the average value calculation unit 400, that is, the average value (m) for each group (G).
  • the factor value adjustment unit 500 is electrically connected to the average value calculation unit 400.
  • the factor value adjustment unit 500 may receive the boundary value B calculated by the boundary value calculation unit 600. Additionally, the factor value adjustment unit 500 may receive information related to resetting the factor value (a) calculated by the boundary value calculation unit 600. The factor value adjustment unit 500 is electrically connected to the boundary value calculation unit 600.
  • the factor value adjusting unit 500 may compare the average value (m) with the boundary value (B). In one embodiment, the factor value adjusting unit 500 may calculate the magnitude relationship between the average value (m) and the boundary value (B). The factor value adjusting unit 500 may calculate the factor value (a) using the size relationship between the calculated average value (m) and the boundary value (B).
  • the printing value (a) calculated by the printing value adjusting unit 500 may be transmitted to the manufacturing information input module 110 of the manufacturing unit 100.
  • the printing value adjusting unit 500 is electrically connected to the manufacturing unit 100.
  • the factor value (a) calculated by the factor value adjustment unit 500 may be transmitted to the database unit 700 and stored.
  • the factor value adjustment unit 500 is electrically connected to the database unit 700.
  • the factor value adjustment unit 500 may be provided in any form capable of inputting, calculating, and outputting information.
  • the factor value adjustment unit 500 may be configured to include means for calculation, such as a CPU or a microprocessor.
  • the factor value adjustment unit 500 includes an average value comparison module 510 and a factor value calculation module 520.
  • the average value comparison module 510 compares the calculated average value (m), that is, the average value (m) for each group (G) and the boundary value (B). The result compared by the average value comparison module 510 is transmitted to the factor value calculation module 520 and used to calculate the factor value (a).
  • the boundary value B is a first upper boundary value (BH1), a first lower boundary value (BL1), a second upper boundary value (BH2), a second lower boundary value (BL2), and a third upper boundary value. It may include a boundary value (BH3) and a third lower limit boundary value (BL3).
  • the average value comparison module 510 may compare the calculated average value (m) with a plurality of boundary values (BH1, BL1, BH2, BL2, BH3, BL3). Accordingly, the presence or absence of abnormalities in a plurality of products (P) belonging to the group (G) is calculated according to the relative size relationship between the average value (m) and the plurality of boundary values (BH1, BL1, BH2, BL2, BH3, BL3). It can be. A detailed description of this will be provided later.
  • the average value comparison module 510 is electrically connected to the factor value calculation module 520.
  • the factor value calculation module 520 calculates the factor value (a) using the size relationship between the calculated average value (m) and the boundary value (B).
  • the factor value calculation module 520 is electrically connected to the average value comparison module 510.
  • the factor value calculation module 520 determines the factor value (a) to decrease the factor value (a). Calculate a). That is, the factor value calculation module 520 calculates the factor value (a) so that the tripping time (T) required by test current application is reduced.
  • the factor value operation module 520 increases the factor value (a). Calculate. That is, the factor value calculation module 520 calculates the factor value (a) so that the tripping time (T) according to the application of the test current increases.
  • the factor value calculation module 520 may calculate the factor value (a) using information on whether to reset the factor value calculated by the boundary value calculation unit 600.
  • the factor value (a) calculated by the factor value calculation module 520 is transmitted to the manufacturing unit 100 and used by the manufacturing process performance module 120 to manufacture the product (P).
  • the factor value calculation module 520 is electrically connected to the production information input module 110.
  • the factor value (a) newly calculated by the factor value calculation module 520 may be configured to be reflected in the set (S) produced after the preset number of sets (S).
  • the three sets (S) to be produced first include the preset factor value ( a0) can be applied.
  • the newly calculated factor value (a) can be applied to the set (S) produced after the three sets (S).
  • the newly calculated factor value (a) is reflected in the set (S) produced after the production of the three sets (S) is completed.
  • the three sets (S) located at the highest priority are preset factor values (a0), that is, according to the factor value (a) in (a) of FIG. 5. It will be understood that the factor value (a) that is manufactured and then newly calculated, that is, the factor value (a) in (b) of FIG. 5, is applied.
  • the factor value calculation module 520 may transmit the calculated factor value (a) to the boundary value calculation unit 600.
  • the factor value calculation module 520 is electrically connected to the boundary value calculation unit 600.
  • the boundary value calculating unit 600 calculates the boundary value (B), which is the standard for adjusting the factor value (a) by the factor value adjusting unit 500.
  • the boundary value calculation unit 600 may calculate the boundary value (B) using the trend of the average value (m) calculated from the plurality of groups (G).
  • the boundary value calculation unit 600 may receive the calculated average value (m).
  • the boundary value calculation unit 600 is electrically connected to the average value calculation unit 400.
  • the boundary value B calculated by the boundary value calculation unit 600 may be transmitted to the factor value adjustment unit 500.
  • the boundary value calculating unit 600 is electrically connected to the factor value adjusting unit 500.
  • the boundary value B calculated by the boundary value calculation unit 600 may be transmitted to the database unit 700 and stored.
  • the boundary value calculation unit 600 is electrically connected to the database unit 700.
  • the boundary value calculation unit 600 may be provided in any form capable of inputting, calculating, and outputting information.
  • the boundary value calculation unit 600 may be configured to include means for calculation, such as a CPU or microprocessor.
  • the boundary value calculation unit 600 includes a boundary value calculation module 610, an average value trend calculation module 620, and a factor value reset module 630.
  • the boundary value calculation module 610 calculates the boundary value (B) using the mode of the test results of each group (G) including a plurality of sets (S).
  • the mode may be singular for each group (G). Additionally, while the feedback control system 10 is operating, the group G is continuously redefined and the average value m is calculated. Accordingly, it will be appreciated that the modes may be calculated continuously depending on the operation of the feedback control system 10.
  • the boundary value B may be divided into a plurality of boundary values BH1, BL1, BH2, BL2, BH3, and BL3.
  • the boundary value calculation module 610 may calculate each boundary value (BH1, BL1, BH2, BL2, BH3, BL3) based on a predetermined standard.
  • the boundary value calculation module 610 may calculate a plurality of boundary values (BH1, BL1, BH2, BL2, BH3, BL3) according to the number of defective products (D) included in each group (G).
  • a defective product (D) can be defined as a product (P) that does not meet the preset standards expected when manufactured normally.
  • the boundary value calculation module 610 can sort the calculated average values according to number or size and use them to calculate a plurality of boundary values (BH1, BL1, BH2, BL2, BH3, BL3).
  • the boundary value calculation module 610 sets the largest value among the plurality of modes as the first upper limit. As the boundary value (BH1), the smallest value is calculated as the first lower boundary value (BL1).
  • the factor value adjustment unit 500 determines that the product (P) belonging to the corresponding group (G) is “normal.” “It can be judged that it is. In the above case, the factor value adjusting unit 500 may calculate the factor value (a) so that the value is maintained.
  • the boundary value calculation module 610 sets the largest value among the plurality of modes as the second upper limit. As the boundary value (BH2), the smallest value is calculated as the second lower boundary value (BL2).
  • the factor value The adjustment unit 500 may determine that the product P belonging to the corresponding group G is “cautionary.” In the above case, the factor value adjusting unit 500 may calculate the factor value (a) so that the value decreases or increases.
  • the boundary value calculation module 610 sets the largest value among the plurality of modes as the third upper limit. As the boundary value (BH3), the smallest value is calculated as the third lower limit boundary value (BL3).
  • the factor value The adjustment unit 500 may determine that the product (P) belonging to the corresponding group (G) is “serious.” In the above case, the factor value adjusting unit 500 may calculate the factor value (a) so that the value decreases or increases by a greater extent.
  • the factor value adjusting unit 500 may perform an operation on the factor value (a) excluding the corresponding average value (m).
  • the average value trend calculation module 620 calculates information on the trend of changes in the plurality of average values (m) calculated for each group (G).
  • the average value trend calculation module 620 can use the calculated information to calculate information about the increase or decrease in the average value (m) according to the increase or decrease in the factor value (a). Accordingly, it will be understood that the average value trend calculation module 620 may also be referred to as a factor value (a) trend calculation module.
  • the average value trend calculation module 620 calculates the change trend of the plurality of average values (m) calculated for the plurality of groups (G) as one of increasing, decreasing, or maintaining.
  • the trend of the average value (m) calculated by the average value trend calculation module 620 is transmitted to the factor value reset module 630 and used to calculate information on whether to increase, decrease, or maintain the factor value (a). do.
  • the factor value reset module 630 calculates information for resetting the factor value (a) using information about the trend of the calculated average value (m).
  • the factor value reset module 630 may reset the factor value (a) so that the factor value (a) is increased, decreased, or maintained.
  • a case may be considered where the factor value (a) and the average value (m) are proportional, that is, as the factor value (a) increases, the average value (m) increases.
  • the factor value reset module 630 readjusts the factor value (a) so that the factor value (a) decreases ((a) in FIG. 6). If the trend of the calculated average value (m) is decreasing, the factor value reset module 630 readjusts the factor value (a) so that the factor value (a) increases ((b) in FIG. 6). Furthermore, if the trend of the calculated average value (m) is maintained, the factor value reset module 630 readjusts the factor value (a) so that the factor value (a) is maintained ((c) in FIG. 6).
  • an inversely proportional relationship between the factor value (a) and the average value (m) can be considered, that is, the average value (m) decreases as the factor value (a) increases.
  • the factor value reset module 630 readjusts the factor value (a) so that the factor value (a) increases. If the trend of the calculated average value (m) is decreasing ((b) in FIG. 6), the factor value reset module 630 readjusts the factor value (a) so that the factor value (a) decreases. Furthermore, if the trend of the calculated average value (m) is maintained ((c) in FIG. 6), the factor value reset module 630 readjusts the factor value (a) so that the factor value (a) is maintained.
  • Information calculated by the factor value reset module 630 that is, information for resetting the factor value (a), is transmitted to the factor value adjustment unit 500 and the database unit 700.
  • the database unit 700 receives and stores each piece of information calculated by the average value calculation unit 400, the factor value adjustment unit 500, and the boundary value calculation unit 600.
  • the database unit 700 can map and store each received information by group (G).
  • each group (G) may include information about the specifications of the product (P).
  • the information stored in the database unit 700 can be used to adjust the factor value (a) according to the characteristics of the product (P).
  • the database unit 700 may include any means capable of inputting, storing, and outputting information.
  • the database unit 700 may include a CPU, microprocessor, HDD, SSD, RAM, ROM, SD, Micro SD, etc.
  • the database unit 700 includes an average value storage module 710, a factor value storage module 720, and a boundary value storage module 730.
  • the average value storage module 710 receives and stores the result of grouping a plurality of products (P) calculated by the average value calculation unit 400 and the average value (m) for each group (G).
  • the average value storage module 710 is electrically connected to the average value calculation unit 400.
  • the factor value storage module 720 receives and stores information related to resetting the factor value (a) calculated by the factor value adjusting unit 500 and the factor value (a) calculated by the boundary value calculating unit 600.
  • the factor value storage module 720 is electrically connected to the factor value adjustment unit 500 and the boundary value calculation unit 600, respectively.
  • the boundary value storage module 730 receives and stores the boundary value B calculated by the boundary value calculation unit 600.
  • the boundary value storage module 730 is electrically connected to the boundary value calculation unit 600.
  • the boundary value calculation unit 600 operates on a first upper limit value (BH1), a first lower limit value (BL1), a second upper limit value (BH2), a second lower limit value (BL2), and a third lower limit value (BL2).
  • a plurality of boundary values B can be calculated, including the upper boundary value BH3 and the third lower boundary value BL3.
  • the boundary value storage module 730 can receive and store a plurality of calculated boundary values (BH1, BL1, BH2, BL2, BH3, and BL3).
  • control method of the feedback control system 10 according to an embodiment of the present invention is shown.
  • the control method of the feedback control system 10 according to the illustrated embodiment can be implemented by each configuration of the feedback control system 10 described above.
  • the feedback control system 10 can calculate the factor value (a) required for manufacturing using the test results for the manufactured product (P) and reflect it in the manufacturing process. there is.
  • the feedback control system 10 can adjust and reflect factors affecting the quality of the product P in real time.
  • the quality of the manufactured product (P) can be maintained uniformly, and the occurrence of defective products (D) can be minimized. In other words, it is possible to prevent deterioration in the quality of the product (P). Furthermore, the change in quality of the product (P) according to the adjustment of the factor value (a) is calculated as a trend, and the boundary value (B), which is the standard for adjusting the factor value (a), is also adjusted in real time, so the product The quality judgment criteria for (P) can also be adjusted to reflect the environment in which the product (P) is manufactured.
  • the control method of the feedback control system 10 includes a step (S100) in which the manufacturing unit 100 manufactures a product (P) according to a preset factor value (a0), a test unit (300) applying a test current to the manufactured product (P) to test and evaluate the product (P) (S200), the average value calculation unit 400 determines the average value (m) of the test results of the plurality of products (P) A step of calculating (S300), a step of the boundary value calculating unit 600 calculating the boundary value (B) using the test results of a plurality of products (P) (S400), and the average value calculated by the factor value adjusting unit 500.
  • step S100 a detailed flow of the step S100 in which the manufacturing unit 100 manufactures the product P according to the preset factor value a0 is shown.
  • the manufacturing unit 100 manufactures the product P using a preset printing value (a0), that is, a printing value (a) that has not been adjusted by the printing value adjusting unit 500.
  • the production information input module 110 receives a preset factor value (a0) (S110).
  • the production information input module 110 may receive a preset print value (a0) from the print value adjustment unit 500 or the database unit 700. In another embodiment, the production information input module 110 may receive a preset factor value (a0) from an operator through a terminal or the like. The manufacturing information input module 110 transmits the received preset parameter value (a0) to the manufacturing process execution module 120.
  • the manufacturing process performance module 120 manufactures the product P according to the input preset factor value a0. That is, the manufacturing process performance module 120 manufactures the product P according to a preset parameter value a0 that does not reflect the manufacturing result or quality of the product P.
  • step (S200) is a step (S200) in which the quality of the product (P) manufactured by the production unit 100 is tested and the test results are transmitted to the average value calculation unit 400.
  • the test current application module 310 applies a test current to the manufactured product (P) (S210).
  • the test current applied by the test current application module 310 may be an overcurrent.
  • the result detection module 320 detects information about the operating time (T) of the product (P) by the applied test current (S220).
  • the information detected by the result detection module 320 may be information about the time (T) at which the product (P) trips due to application of overcurrent.
  • the result detection module 320 transmits the sensed information to the average value calculation unit 400 (S230).
  • the product P can be continuously manufactured and tested. Accordingly, in this step (S200), a test may be performed on a plurality of products P that are manufactured continuously. Additionally, it will be understood that the test results detected in this step (S200) can also be detected in a plurality of products (P).
  • This step (S300) is a step (S300) of grouping a plurality of test results detected by the test unit 300 and using them to calculate the average value (m) for each group (G).
  • the grouping module 410 classifies a plurality of products (P) into a plurality of sets (S) (S310).
  • the plurality of products (P) may be classified to include six products (P) per set (S).
  • the grouping module 410 groups a plurality of sets (S) into a plurality of groups (G) (S320).
  • a plurality of sets (S) may be grouped to include six sets (S) per group (G).
  • the average value calculation module 420 calculates the average value (m) for the test results of the plurality of products (P) included in each of the plurality of groups (G) (S330). That is, the average value calculation module 420 calculates the average value (m) for each group (G) using test results for a plurality of products (P) included in each group (G).
  • the average value calculation module 420 transmits the calculated average value (m), that is, the average value (m) for each group (G), to the factor value adjustment unit 500 (S340).
  • step (S400) is a step (S400) in which the boundary value (B), which is a standard for judging the quality of the product (P), is calculated using the average value (m) calculated for each group (G).
  • the boundary value calculation module 610 calculates the boundary value (B) using the mode of test results of a plurality of grouped products (P) (S410). That is, the boundary value calculation module 610 calculates the boundary value (B) using test results with a high frequency of appearance among test results of products (P) included in each group (G). That is, the boundary value (B) is calculated using the size relationship between the modes of each of the different groups (G), each of which has a single mode.
  • the boundary value calculation module 610 sets the largest value among the plurality of boundary values (B) of the group (G) including the defective product (D) that does not meet the preset standard as the upper limit. Calculate with the boundary value (BH), and calculate the smallest value as the lower boundary value (BL) (S411).
  • the boundary value (B) calculated by the boundary value calculation module 610 may be configured in various ways depending on the number of defective products (D) included in the corresponding group (G).
  • the boundary value calculation module 610 calculates the upper limit value (BH) and the lower limit value (BL) according to the number of defective products (D) included in each group (G) (S412).
  • the boundary value calculation module 610 sets the first upper limit value (BH1) and the first lower limit according to the above-mentioned criteria. Calculate the boundary value (BL1) (S412a).
  • the first number may be one.
  • the boundary value calculation module 610 sets the second upper limit value (BH2) and the second lower limit boundary according to the above-mentioned criteria. Calculate the value (BL2) (S412b).
  • the second number may be two.
  • the second upper limit value BH2 may be calculated to exceed the first upper limit value BH1
  • the second lower limit value BL2 may be calculated to be less than the first lower limit value BL1. Accordingly, it will be understood that the difference between the first upper limit value BH1 and the first lower limit value BL1 is smaller than the difference between the second upper limit value BH2 and the second lower limit value BL2.
  • the boundary value calculation module 610 sets the third upper limit value (BH3) and the third lower limit according to the above-mentioned criteria. Calculate the boundary value (BL3) (S412c).
  • the third number may be three.
  • the third upper limit value BH3 may be calculated to exceed the second upper limit value BH2, and the third lower limit value BL3 may be calculated to be less than the second lower limit value BL2. Accordingly, it will be understood that the difference between the second upper limit value BH2 and the second lower limit value BL2 is smaller than the difference between the third upper limit value BH3 and the third lower limit value BL3.
  • the calculated boundary value (B) is transmitted to the average value trend calculation module 620.
  • the average value trend calculation module 620 compares the calculated average value (m) and the calculated boundary value (B) (S420).
  • the boundary value B may include first to third upper boundary values BH1, BH2, and BH3 and first to third lower boundary values BL1, BL2, and BL3. Accordingly, the average value trend calculation module 620 compares the calculated average value (m) with the first to third upper boundary values (BH1, BH2, BH3) and the first to third lower boundary values (BL1, BL2, BL3). You can.
  • the average value trend calculation module 620 compares the average value (m) of each of the plurality of groups (G) with the boundary value (B) (S421). At this time, the average value trend calculation module 620 may compare the trend of the calculated average value (m) or a plurality of average values (m) calculated multiple times with the calculated boundary value (B).
  • the average value trend calculation module 620 calculates one of increase, decrease, and maintenance of the plurality of calculated average values (m) (S422). The result calculated by the average value trend calculation module 620 is transmitted to the factor value reset module 630.
  • the factor value reset module 630 readjusts the factor value (a) according to the comparison result between the calculated average value (m) and the boundary value (B) (S430).
  • This step (S430) is a step (S430) in which the factor value reset module 630 calculates information on whether to increase, decrease, or maintain the factor value (a).
  • the factor value reset module 630 may calculate the factor value (a) by comparing the calculated average value (m) with a plurality of boundary values (B).
  • the parameter value reset module 630 reduces the size of the parameter value (a). Calculate the argument value (a) (S431).
  • the largest value among the calculated plurality of boundary values (B) may be defined as the upper boundary value (BH) among the upper boundary value (BH) and the lower boundary value (BL). That is, in this step (S431), if the average value (m) exceeds the upper limit value (BH), the parameter value reset module 630 sets the parameter value to adjust the average value (m) below the upper limit value (BH). Recalculate the factor value (a) so that the size of value (a) is reduced.
  • the parameter value reset module 630 calculates the parameter value (a) so that the size of the parameter value (a) increases ( S432).
  • the smallest value among the calculated plurality of boundary values (B) may be defined as the lower boundary value (BL) among the upper boundary value (BH) and the lower boundary value (BL). That is, in this step (S431), if the average value (m) exceeds the upper limit value (BH), the parameter value reset module 630 sets the parameter value to adjust the average value (m) below the upper limit value (BH). Recalculate the factor value (a) so that the size of value (a) increases.
  • the factor value reset module 630 may calculate the factor value (a) using the trend of the calculated average value (m).
  • the factor value reset module 630 adjusts the factor value so that the size of the factor value (a) decreases. Calculate (a) (S433).
  • the factor value (a) and the average value (m) are proportional, the increasing trend of the average value (m) can be alleviated, maintained, or adjusted to a decreasing trend by reducing the size of the factor value (a).
  • the parameter value reset module 630 calculates the parameter value (a) so that the size of the parameter value (a) increases ( S434).
  • the factor value (a) and the average value (m) are proportional, by increasing the size of the factor value (a), the decreasing trend of the average value (m) can be alleviated or adjusted to maintain or increase.
  • the parameter value reset module 630 calculates the parameter value (a) so that the size of the parameter value (a) is maintained. (S435).
  • the factor value (a) can also be adjusted to be maintained.
  • the factor value reset module 630 calculates the factor value (a) using the trend of the average value (m), the state before the change of the factor value (a), that is, the average value by the preset factor value (a0) (m) is preferably located between the upper boundary value (BH) and the lower boundary value (BL). More preferably, the average value (m) based on the preset factor value (a) is preferably located between the first upper boundary value (BH1) and the first lower boundary value (BL1).
  • the manufactured product (P) can be judged to be “normal”. am.
  • the process in which the factor value reset module 630 calculates the factor value (a) using the trend of the average value (m) is that the average value (m) is between the upper boundary value (BH) and the lower boundary value (BL). It will be understood that this is a process of adjusting the factor value (a) so that it is preferably positioned between the first upper limit value (BH1) and the first lower limit value (BL1).
  • the calculation result of the factor value reset module 630 may be transmitted to the production information input module 110, the factor value calculation module 520, or the factor value storage module 720.
  • step (S500) is a step (S500) in which the parameter value adjusting unit 500 calculates a new parameter value (a) based on the test results of each product (P) and the calculated boundary value (B).
  • the average value comparison module 510 compares the calculated average value (m) with the calculated boundary value (B) (S510). At this time, the average value (m) may be calculated in the average value calculation unit 400 and the boundary value (B) may be calculated in the boundary value calculation unit 600 and transmitted to the average value comparison module 510.
  • the factor value calculation module 520 calculates the factor value (a) according to the size relationship between the average value (m) and the boundary value (B) (S520).
  • the factor value calculation module 520 calculates the factor value (a) to decrease the factor value (a) (S521).
  • the factor value calculation module 520 calculates the factor value (a) so that the factor value (a) increases (S522).
  • the average value (m) is determined by the upper boundary value (BH) and lower boundary value (BL), that is, the parameter value reset module 630 calculates the parameter value (a) using the trend of the average value (m).
  • the process is such that the average value (m) is located between the upper boundary value (BH) and the lower boundary value (BL), preferably between the first upper boundary value (BH1) and the first lower boundary value (BL1). It will be understood that this is a process of adjusting (a).
  • the factor value calculation module 520 further uses the calculation result of the factor value reset module 630, that is, information to adjust the factor value (a) so that the factor value (a) increases, decreases, or is maintained.
  • the factor value (a) can be calculated.
  • the factor value calculation module 520 transmits the calculated factor value (a) to the manufacturing information input module 110 of the manufacturing unit 100 (S530).
  • step (S600) is a step (S600) in which the manufacturing unit 100 manufactures the product (P) by reflecting the factor value (a) calculated by reflecting the test results of the already manufactured product (P).
  • the production information input module 110 receives the factor value (a) calculated by the factor value adjustment unit 500 or the boundary value calculation unit 600 (S610).
  • the manufacturing process performance module 120 manufactures the product (P) according to the received factor value (a) (S620).
  • the manufacturing process execution module 120 performs manufacturing for a preset number of sets (S) according to a preset factor value (a0), and the sets (S) thereafter are manufactured according to the received factor value. Manufacturing can be carried out according to (a).
  • the product (P) manufactured by reflecting the newly calculated factor value (a) is also moved to the test unit 300 along the transfer unit 200, so that the test and the results can be detected.
  • the factor value (a) is calculated and fed back continuously and in real time during the process of manufacturing the product (P), so that it can be reflected in the manufacturing of the product (P). there is.
  • step (S700) in which the database unit 700 stores one or more of the calculated average value (m), factor value (a), and boundary value (B) is shown.
  • the database unit 700 calculates the average value (m) calculated by the average value calculation unit 400, the factor value (a) calculated by the factor value adjustment unit 500, and the boundary calculated by the boundary value calculation unit 600.
  • This is the step (S700) of receiving and storing the value (B).
  • the average value storage module 710 receives and stores the average value (m) calculated by the average value calculation module 420 (S710).
  • the factor value storage module 720 receives and stores the factor value (a) calculated by the factor value calculation module 520 or the factor value resetting module 630 (S720).
  • the boundary value storage module 730 receives and stores the boundary value (B) calculated by the boundary value calculation module 610 (S730).
  • the average value (m), factor value (a), and boundary value (B) stored in the database unit 700 may be mapped and stored to the serial number and specification of the product (P), respectively.
  • test current application module 320 result detection module
  • Boundary value calculation unit 610 Boundary value calculation module
  • Database unit 710 Average value storage module

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Abstract

피드백 제어 시스템 및 그 제어 방법이 개시된다. 본 발명의 일 측면에 따른 피드백 제어 시스템은 기 설정된 인자값을 반영하여 제품을 제작하는 제작부; 상기 제작부와 연결되어 제작된 상기 제품을 전달받고, 상기 제품에 시험 전류를 인가하여 상기 제품을 시험하고 그 결과를 감지하게 구성되는 시험부; 및 상기 시험부가 감지한 상기 결과를 이용하여 상기 인자값을 조정하게 구성되는 인자값 조정부를 포함하며, 상기 결과는 상기 시험 전류가 인가되어 상기 제품이 기 설정된 동작을 수행하는데 소요되는 시간에 대한 정보를 포함하고, 상기 인자값 조정부는, 복수 개의 상기 제품의 상기 결과의 평균값과 기 설정된 경계값을 비교하고, 그 결과를 이용하여 상기 인자값을 조정하게 구성될 수 있다.

Description

피드백 제어 시스템 및 그 제어 방법
본 발명은 피드백 제어 시스템에 관한 것으로, 보다 상세하게는, 제품의 제조 결과에 영향을 미치는 인자를 자동으로 피드백하여, 제품의 완성도를 향상시킬 수 있는 피드백 제어 시스템 및 그 제어 방법에 관한 것이다.
제품의 생산 또는 제조 과정에는 다양한 인자가 개입된다. 다양한 인자를 조정함에 따라, 제조된 제품의 완성도 또는 품질이 변경될 수 있다. 또한, 상기 다양한 인자들에는 제품이 생산되는 환경에 의한 인자가 포함될 수 있다. 제조 과정에 영향을 줄 수 있는 상기 환경에 의한 인자에 따라서도 제조된 제품의 완성도 또는 품질이 변경될 수 있다.
자동화된 설비의 운용에 있어, 제조된 제품은 균일한 품질 또는 성능을 갖는 것이 바람직하다. 일 예로, 외적인 조건에 의한 영향을 최소화하고, 상기 다양한 인자를 조정함으로써 제품 품질의 균일화를 꾀할 수 있다. 다만, 제품이 제조되는 라인 주변 환경의 외적인 조건을 완전히 통제하기는 결코 용이하지 않다.
따라서, 보다 통제가 용이한 내적인 인자, 즉 제품의 생산 또는 제조 과정 진행시 직접 조정할 수 있는 인자를 조정하여 제품의 완성도를 향상시킴이 일반적이다.
한국등록특허문헌 제10-2030667호는 차단기 자동 시험 장치를 개시한다. 구체적으로, 테스터부를 이용하여 차단기에 대한 테스트를 수행함으로써 테스트 결과에 대한 신뢰성을 향상시키고 차단기의 파손을 방지할 수 있는 차단기 자동 시험 장치를 개시한다.
상기 선행문헌은 목적하는 효과를 달성하기 위해, 제어 장치가 제조 공정의 제어 결과와 제조 공정 서열 조건을 비교하고, 부품들의 배치를 조정하기 위한 피드백 명령을 생성할 수 있음을 개시한다.
그런데, 상기 선행문헌이 개시하는 차단기 자동 시험 장치는 제조 공정에 오류가 있는 경우 이를 바로잡기 위한 방안만을 제공한다. 즉, 상기 선행문헌은 제조 공정에 오류가 없음을 전제로 제조된 제품의 품질을 균일하게 유지하기 위한 방안을 제공하지 못한다.
일본공개특허문헌 제2021-190325호는 회로 차단기의 인출 특성 검사 시스템을 개시한다. 구체적으로, 회로 차단기의 검사 이전의 공정 및 검사 공정에서 취득한 데이터를 활용하여 검사 장치의 이상을 검출하는 검사 시스템을 개시한다. 상기 선행문헌은 완성된 회로 차단기에 전극 간 저항을 먼저 측정한 후, 해당 측정시 오류 판정을 받은 회로 차단기만을 인출 특성을 검사하여 이상 여부를 검사하는 인출 특성 검사 시스템을 개시한다.
그런데, 상기 선행문헌이 개시하는 회로 차단기의 인출 특성 검사 시스템은 이상 여부 판정을 위해 복수 개의 검사 과정이 수행되어야만 한다. 즉, 상기 인출 특성 검사 시스템은 전극 간 저항에 대한 검사가 선수행된 후에야, 인출 특성에 대한 검사가 후행된다. 따라서, 다단계의 검사를 수행하기 위한 다양한 설비가 요구된다.
또한, 상기 선행문헌은 검사 이전의 공정 및 검사 공정에서 취득한 데이터를 축적할 뿐, 이를 활용하여 공정에 영향을 미치는 인자를 조정하기 위한 구체적인 방안을 제공하지 못한다.
더 나아가, 상기 선행문헌들은 시험 결과의 적합 여부를 판단하기 위한 기준을 산정하기 위한 조건 및 산정된 조건을 공정의 진행에 따라 추가 보정하여, 품질의 신뢰성을 제고하기 위한 방안에 대한 고찰이 없는 한계가 있다.
한국등록특허문헌 제10-2030667호 (2019.10.02.)
일본공개특허문헌 제2021-190325호 (2021.12.13.)
본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위한 것으로, 본 발명의 목적은 제품의 제작 결과를 제작 공정에 실시간으로 반영할 수 있는 피드백 제어 시스템 및 그 제어 방법을 제공하는 것이다.
본 발명의 다른 목적은 제품의 제작 결과를 제작 공정에 자동으로 반영할 수 있는 피드백 제어 시스템 및 그 제어 방법을 제공하는 것이다.
본 발명의 또 다른 목적은 제작되는 제품의 품질을 일정 수준 이상으로 유지할 수 있는 피드백 제어 시스템 및 그 제어 방법을 제공하는 것이다.
본 발명의 또 다른 목적은 연속적으로 제작되는 제품의 제작 결과를 제작 공정에 반영할 수 있는 피드백 시스템 및 그 제어 방법을 제공하는 것이다.
본 발명의 또 다른 목적은 제작 공정의 조정 및 제품의 품질을 평가하기 위한 기준을 그 특성에 맞춰 조정할 수 있는 피드백 제어 시스템 및 그 제어 방법을 제공하는 것이다.
본 발명의 과제들은 이상에서 언급한 과제들로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 과제들은 아래의 기재로부터 본 발명이 속하는 기술분야의 통상의 기술자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.
본 발명의 일 측면에 따르면, 기 설정된 인자값을 반영하여 제품을 제작하는 제작부; 상기 제작부와 연결되어 제작된 상기 제품을 전달받고, 상기 제품에 시험 전류를 인가하여 상기 제품을 시험하고 그 결과를 감지하게 구성되는 시험부; 및 상기 시험부가 감지한 상기 결과를 이용하여 상기 인자값을 조정하게 구성되는 인자값 조정부를 포함하며, 상기 결과는 상기 시험 전류가 인가되어 상기 제품이 기 설정된 동작을 수행하는데 소요되는 시간에 대한 정보를 포함하고, 상기 인자값 조정부는, 복수 개의 상기 제품의 상기 결과의 평균값과 기 설정된 경계값을 비교하고, 그 결과를 이용하여 상기 인자값을 조정하게 구성되는, 피드백 제어 시스템이 제공된다.
이때, 상기 시험부와 통전 가능하게 연결되어, 상기 결과를 전달받고, 복수 개의 상기 제품의 상기 결과의 평균값을 연산하게 구성되는 평균값 연산부를 포함하며, 상기 평균값 연산부는, 복수 개의 상기 제품을 각각 기 설정된 개수의 상기 제품을 포함하는 복수 개의 세트로 분류하고, 각각 기 설정된 개수의 상기 세트를 포함하는 복수 개의 그룹으로 상기 세트를 그룹화하는 그룹화 모듈; 및 상기 그룹화 모듈에 의해 복수 개의 상기 제품이 그룹화된 각 그룹별로 상기 결과의 평균값을 연산하는 평균값 연산 모듈을 포함하는, 피드백 제어 시스템이 제공될 수 있다.
또한, 상기 제작부는, 복수 개의 제품을 순차적으로 제작하게 구성되고, 상기 그룹화 모듈은, 그룹화된 어느 하나의 그룹에 포함되는 복수 개의 상기 세트 중 가장 먼저 제작된 제품을 포함하는 어느 하나의 세트를 제외하고, 상기 어느 하나의 그룹에 후행하는 다른 하나의 그룹에 포함되는 복수 개의 상기 세트 중 가장 먼저 제작된 제품을 포함하는 어느 하나의 세트를 상기 어느 하나의 그룹에 추가하여, 새로운 그룹을 정의하게 구성되는, 피드백 제어 시스템이 제공될 수 있다.
이때, 상기 인자값 조정부는, 그룹화된 상기 각 그룹별로 연산된 상기 평균값과 기 설정된 상기 경계값을 비교하는 평균값 비교 모듈; 및 상기 평균값 비교 모듈이 연산한 상기 평균값과 상기 경계값의 대소 관계를 이용하여 상기 인자값을 연산하는 인자값 연산 모듈을 포함하는, 피드백 제어 시스템이 제공될 수 있다.
또한, 기 설정된 상기 경계값은, 상한 경계값 및 상기 상한 경계값 미만인 하한 경계값을 포함하고, 상기 인자값 연산 모듈은, 연산된 상기 평균값이 상기 상한 경계값을 초과할 경우, 상기 결과가 감소되도록 상기 인자값을 연산하고, 연산된 상기 평균값이 상기 하한 경계값 미만일 경우, 상기 결과가 증가되도록 상기 인자값을 연산하는, 피드백 제어 시스템이 제공될 수 있다.
이때, 상기 시험부가 감지한 복수 개의 상기 제품의 상기 결과의 최빈값을 이용하여 경계값을 연산하게 구성되는 경계값 연산부를 포함하며, 상기 경계값 연산부는, 복수 개의 상기 제품이 그룹화된 상기 그룹 각각의 상기 최빈값을 이용하여 상기 경계값을 연산하는 경계값 연산 모듈을 포함하는, 피드백 제어 시스템이 제공될 수 있다.
또한, 상기 경계값 연산 모듈은, 복수 개의 상기 그룹에 대한 복수 개의 상기 최빈값 중 가장 큰 값을 상한 경계값으로 연산하고, 복수 개의 상기 그룹에 대한 복수 개의 상기 최빈값 중 가장 낮은 값을 하한 경계값으로 연산하며, 단수 개의 그룹에 포함되는, 기 설정된 기준을 만족하지 않는 불량 제품의 개수에 따라 상기 상한 경계값 및 상기 하한 경계값을 각각 복수 개 연산하는, 피드백 제어 시스템이 제공될 수 있다.
이때, 상기 경계값 연산부는, 복수 개의 상기 그룹 각각의 상기 평균값의 추세에 대한 정보를 연산하는 평균값 추세 연산 모듈; 및 상기 평균값의 추세에 대한 정보를 이용하여 상기 인자값을 연산하는 인자값 재설정 모듈을 포함하고, 상기 인자값 재설정 모듈은, 상기 평균값의 추세에 대한 정보가 증가일 경우, 상기 평균값이 감소되도록 상기 인자값을 연산하고, 상기 평균값의 추세에 대한 정보가 감소일 경우, 상기 평균값이 증가되도록 상기 인자값을 연산하는, 피드백 제어 시스템이 제공될 수 있다.
또한, 본 발명의 일 측면에 따르면, (a) 제작부가 기 설정된 인자값에 따라 제품을 제조하는 단계; (b) 시험부가 제조된 상기 제품에 시험 전류를 인가하여 상기 제품을 시험 평가하는 단계; (c) 평균값 연산부가 복수 개의 상기 제품의 시험 결과에 대한 평균값을 연산하는 단계; (d) 인자값 조정부가 연산된 상기 평균값을 이용하여 상기 인자값을 조정하는 단계; 및 (e) 상기 제작부가 조정된 상기 인자값에 따라 상기 제품을 제조하는 단계를 포함하는, 피드백 제어 시스템의 제어 방법이 제공된다.
이때, 상기 (b) 단계는, (b1) 시험 전류 인가 모듈이 상기 제품에 상기 시험 전류를 인가하는 단계; (b2) 결과 감지 모듈이 인가된 상기 시험 전류에 의해 상기 제품이 작동하는 시간에 대한 정보를 감지하는 단계; 및 (b3) 상기 결과 감지 모듈이 감지된 상기 정보를 상기 평균값 연산부에 전달하는 단계를 포함하는, 피드백 제어 시스템의 제어 방법이 제공될 수 있다.
또한, 상기 (c) 단계는, (c1) 그룹화 모듈이 복수 개의 상기 제품을 복수 개의 세트로 분류하는 단계; (c2) 상기 그룹화 모듈이 분류된 복수 개의 상기 세트를 복수 개의 그룹으로 그룹화하는 단계; (c3) 평균값 연산 모듈이 복수 개의 상기 그룹에 각각 포함되는 복수 개의 상기 제품의 시험 결과에 대한 상기 평균값을 각각 연산하는 단계; 및 (c4) 평균값 연산 모듈이 연산된 상기 평균값을 상기 인자값 조정부로 전달하는 단계를 포함하고, 상기 (c2) 단계는, (c21) 상기 그룹화 모듈이 제조된 순서에 따라 복수 개의 상기 세트를 기 설정된 개수로 그룹화하는 단계; 및 (c22) 상기 그룹화 모듈이 그룹화된 복수 개의 상기 세트 중 가장 먼저 제조된 일 세트를 제외하고, 가장 나중에 제조된 일 세트 이후에 제조된 다른 세트를 추가하여 새로운 그룹을 정의하는 단계를 포함하는, 피드백 제어 시스템의 제어 방법이 제공될 수 있다.
이때, 상기 (d) 단계는, (d1) 평균값 비교 모듈이 연산된 상기 평균값을 기 설정된 경계값과 비교하는 단계; (d2) 인자값 연산 모듈이 상기 평균값과 상기 경계값의 대소 관계에 따라 상기 인자값을 연산하는 단계; 및 (d3) 상기 인자값 연산 모듈이 연산된 상기 인자값을 상기 제작부에 전달하는 단계를 포함하는, 피드백 제어 시스템의 제어 방법이 제공될 수 있다.
또한, 상기 경계값은, 상한 경계값 및 상기 상한 경계값 미만인 하한 경계값을 포함하고, 상기 (d2) 단계는, (d21) 상기 평균값이 상기 상한 경계값을 초과할 경우, 상기 인자값 연산 모듈이 상기 인자값이 감소되도록 상기 인자값을 연산하는 단계; 및 (d22) 상기 평균값이 상기 하한 경계값 미만일 경우, 상기 인자값 연산 모듈이 상기 인자값이 증가되도록 상기 인자값을 연산하는 단계를 포함하는, 피드백 제어 시스템의 제어 방법이 제공될 수 있다.
이때, 상기 (c) 단계 이후 상기 (d) 단계 이전에, (c') 경계값 연산부가 복수 개의 상기 제품의 시험 결과를 이용하여 경계값을 연산하는 단계를 포함하고, 상기 (c') 단계는, (c1') 경계값 연산 모듈이 그룹화된 복수 개의 상기 제품의 시험 결과의 최빈값(mode)을 이용하여 경계값을 연산하는 단계; (c2') 평균값 추세 연산 모듈이 연산된 상기 평균값과 상기 경계값을 비교하는 단계; 및 (c3') 인자값 재설정 모듈이 상기 평균값과 상기 경계값의 비교 결과에 따라 상기 인자값을 조정하는 단계를 포함하는, 피드백 제어 시스템의 제어 방법이 제공될 수 있다.
또한, 상기 경계값 연산 모듈은, 상기 경계값을 그 빈도에 따라 복수 개 연산하고, 상기 (c1') 단계는, (c11') 상기 경계값 연산 모듈이 기 설정된 기준을 만족하지 않는 불량 제품을 포함하는 그룹의 복수 개의 상기 경계값 중 가장 큰 값을 상한 경계값으로 연산하고, 가장 작은 값을 하한 경계값으로 연산하는 단계; 및 (c12') 상기 경계값 연산 모듈이 각 그룹에 포함되는 상기 불량 제품의 개수에 따라, 상기 상한 경계값 및 상기 하한 경계값을 각각 연산하는 단계를 포함하는, 피드백 제어 시스템의 제어 방법이 제공될 수 있다.
이때, 상기 (c12') 단계는, (c121') 상기 불량 제품의 개수가 제1 개수일 경우, 상기 경계값 연산 모듈이 제1 상한 경계값 및 제1 하한 경계값을 연산하는 단계; (c122') 상기 불량 제품의 개수가 제2 개수일 경우, 상기 경계값 연산 모듈이 상기 제1 상한 경계값을 초과하는 제2 상한 경계값 및 상기 제1 하한 경계값 미만인 제2 하한 경계값을 연산하는 단계; 및 (c123') 상기 불량 제품의 개수가 제3 개수일 경우, 상기 경계값 연산 모듈이 상기 제2 상한 경계값을 초과하는 제3 상한 경계값 및 상기 제2 하한 경계값 미만인 제3 하한 경계값을 연산하는 단계를 포함하는, 피드백 제어 시스템의 제어 방법이 제공될 수 있다.
또한, 상기 (c2') 단계는, (c21') 상기 평균값 추세 연산 모듈이 복수 개의 그룹 각각의 상기 평균값을 상기 경계값과 비교하는 단계; 및 (c22') 상기 평균값 추세 연산 모듈이 복수 개의 상기 평균값의 추세를, 증가, 감소 및 유지 중 어느 하나로 연산하는 단계를 포함하는, 피드백 제어 시스템의 제어 방법이 제공될 수 있다.
이때, 상기 경계값 연산 모듈은, 그룹화된 복수 개의 상기 제품의 시험 결과의 경계값을 그 빈도에 따라 복수 개 연산하고, 상기 (c3') 단계는, (c31') 상기 평균값이 연산된 복수 개의 상기 경계값 중 가장 큰 값을 초과할 경우, 상기 인자값 재설정 모듈이 상기 인자값의 크기가 감소되도록 상기 인자값을 연산하는 단계; 및 (c32') 상기 평균값이 연산된 복수 개의 상기 경계값 중 가장 작은 값 미만일 경우, 상기 인자값 재설정 모듈이 상기 인자값의 크기가 증가되도록 상기 인자값을 연산하는 단계를 포함하는, 피드백 제어 시스템의 제어 방법이 제공될 수 있다.
또한, 상기 (c3') 단계는, (c33') 상기 평균값 추세 연산 모듈이 연산한 상기 평균값의 추세가 증가일 경우, 상기 인자값 재설정 모듈이 상기 인자값의 크기가 감소되도록 상기 인자값을 연산하는 단계; (c34') 상기 평균값 추세 연산 모듈이 연산한 상기 평균값의 추세가 감소일 경우, 상기 인자값 재설정 모듈이 상기 인자값의 크기가 증가되도록 상기 인자값을 연산하는 단계; 및 (c35') 상기 평균값 추세 연산 모듈이 연산한 상기 평균값의 추세가 유지일 경우, 상기 인자값 재설정 모듈이 상기 인자값의 크기가 유지되도록 상기 인자값을 연산하는 단계를 포함하는, 피드백 제어 시스템의 제어 방법이 제공될 수 있다.
이때, 상기 경계값 연산부는, 기 설정된 기준을 만족하지 않는 불량 제품을 포함하는 그룹의 복수 개의 상기 경계값 중 가장 큰 값을 상한 경계값으로 연산하고, 가장 작은 값을 하한 경계값으로 연산하고, 상기 (d2) 단계는, (d21) 상기 평균값이 상기 상한 경계값을 초과할 경우, 상기 인자값 연산 모듈이 상기 인자값이 감소되도록 상기 인자값을 연산하는 단계; 및 (d22) 상기 평균값이 상기 하한 경계값 미만일 경우, 상기 인자값 연산 모듈이 상기 인자값이 증가되도록 상기 인자값을 연산하는 단계를 포함하는, 피드백 제어 시스템의 제어 방법이 제공될 수 있다.
상기의 구성에 따라, 본 발명의 실시 예에 따른 피드백 제어 시스템 및 그 제어 방법은 제품의 제작 결과를 제작 공정에 실시간으로 반영할 수 있다.
피드백 제어 시스템은 제작부를 포함한다. 제작부는 이송부와 연결되어, 제품을 연속적으로 제작할 수 있다. 제작부에서 제작된 제품 중 적어도 일부는 시험부로 이동되어 시험 전류를 인가받는다. 시험부는 시험 전류의 인가에 따른 제품의 작동 결과에 대한 정보를 감지할 수 있다.
시험부가 감지한 정보는 평균값 연산부로 전달된다. 평균값 연산부는 시험부가 감지한 정보, 즉 복수 개의 제품에 대한 정보에 대한 평균값을 연산한다. 연산된 평균값은 인자값 조정부로 전달된다.
인자값 조정부는 연산된 평균값과 기 설정된 경계값을 비교한다. 기 설정된 경계값은 상한 경계값 및 하한 경계값을 포함할 수 있다. 인자값 조정부는 연산된 평균값을 상한 경계값 및 하한 경계값과 비교하여 인자값을 연산한다.
연산된 평균값이 상한 경계값을 초과할 경우, 인자값 조정부는 평균값이 감소되도록 인자값을 연산한다. 연산된 평균값이 하한 경계값 미만일 경우, 인자값 조정부는 평균값이 증가되도록 인자값을 연산한다. 연산된 인가값은 제작부로 전달되어, 이후 제작되는 제품에 적용될 수 있다.
따라서, 제품이 제작되는 공정과 함께 제품을 시험하고 그 결과에 따라 인자값을 연산하는 과정이 수행될 수 있다. 결과적으로, 제품의 제작 결과가 제품의 제작 공정에 실시간으로 반영될 수 있다.
또한, 상기의 구성에 따라, 본 발명의 실시 예에 따른 피드백 제어 시스템 및 그 제어 방법은 제품의 제작 결과를 제작 공정에 자동으로 반영할 수 있다.
상술한 바와 같이, 제작부는 연속적으로 제품을 제작한다. 평균값 연산부는 연속적으로 제작되는 제품 각각에 대한 평균값을 연산하고, 연산된 각 평균값은 인자값 조정부로 전달된다. 인자값 조정부는 연속적으로 연산된 복수 개의 평균값을 상한 경계값 및 하한 경계값과 각각 비교한 후, 인자값을 실시간으로 연산한다. 연산된 인자값은 제작부로 전달되어 제품 제작에 적용될 수 있다.
따라서, 제품의 제작 공정이 진행되는 동안 새로 연산된 인자값이 자동으로 새로 제작되는 제품에 반영될 수 있다.
또한, 상기의 구성에 따라, 본 발명의 실시 예에 따른 피드백 제어 시스템 및 그 제어 방법은 제작되는 제품의 품질을 일정 수준 이상으로 유지할 수 있다.
피드백 제어 시스템은 경계값 연산부를 포함한다. 경계값 연산부는 시험부가 감지한 정보 중 최빈값을 이용하여 경계값을 연산한다. 구체적으로, 경계값 연산부는 복수 개의 제품이 그룹화된 각 그룹에서의 시험 결과 중 최빈값을 이용하여 경계값을 연산한다.
상술한 바와 같이, 경계값은 상한 경계값 및 하한 경계값을 포함할 수 있다. 경계값 연산부는 복수 개의 최빈값 중 가장 높은 값을 상한 경계값으로, 가장 낮은 값을 하한 경계값으로 연산할 수 있다.
일 실시 예에서, 경계값 연산부는 단수 개의 그룹에 포함되는 불량 제품의 개수에 따라 복수 개의 경계값을 연산할 수 있다. 상기 실시 예에서, 경계값 연산부는 복수 개의 상한 경계값 및 복수 개의 하한 경계값을 연산할 수 있다. 이에 따라, 가장 큰 값을 갖는 상한 경계값과 가장 작은 값을 갖는 하한 경계값 사이의 영역은 복수 개로 구획될 수 있다.
이에 따라, 연산된 평균값은 구획된 복수 개의 영역, 가장 큰 값을 갖는 상한 경계값을 초과하는 영역 및 가장 작은 값을 갖는 하한 경계값 미만의 영역 중 어느 하나에 위치될 수 있다.
한편, 경계값 연산부는 평균값의 추세를 연산하는 평균값 추세 연산 모듈을 포함한다. 평균값 추세 연산 모듈은 연속적으로 제작되는 제품의 평균값의 추세에 대한 정보를 증가, 감소 또는 유지 중 어느 하나로 연산한다. 인자값 재설정 모듈은 연산된 평균값의 추세에 대한 정보에 따라 인자값을 증가, 감소 또는 유지의 형태로 조정할 수 있다. 이때, 인자값 재설정 모듈은 상기 복수 개의 영역에 평균값이 위치되도록 인자값을 조정할 수 있다.
따라서, 제작되는 제품은 그 평균값이 상한 경계값의 최대값과 하한 경계값의 최소값 사이로 유지되게 제작될 수 있다. 이에 따라, 제작되는 제품의 품질이 일정한 수준으로 유지될 수 있다.
또한, 상기의 구성에 따라, 본 발명의 실시 예에 따른 피드백 제어 시스템 및 그 제어 방법은 연속적으로 제작되는 제품의 제작 결과를 제작 공정에 반영할 수 있다.
일 실시 예에서, 평균값 연산부는 그룹화 모듈을 포함한다. 그룹화 모듈은 복수 개의 제품을 기 설정된 개수의 제품을 포함하는 복수 개의 세트로 분류한다. 또한, 그룹화 모듈은 복수 개의 세트를 기 설정된 개수의 세트를 포함하는 복수 개의 그룹으로 그룹화한다.
상술한 바와 같이, 제품은 연속적으로 제작된다. 그룹화 모듈은 어느 하나의 그룹에 포함되는 세트 중 가장 먼저 제작된 제품을 포함하는 어느 하나의 세트를 제외하고, 상기 어느 하나의 그룹에 후행하는 그룹에 포함되는 세트 중 가장 먼저 제작된 제품을 포함하는 어느 하나의 세트를 상기 어느 하나의 그룹에 추가하여 그룹을 재정의한다.
즉, 각 그룹은 가장 먼저 제작된 어느 하나의 세트가 제외되고, 가장 나중에 제작된 다른 하나의 세트가 추가되는 형태로 지속적으로 업데이트된다.
따라서, 연속적으로 제작되는 제품은 연속적으로 정의되는 복수 개의 그룹 중 어느 하나에 연속적으로 포함될 수 있다. 따라서, 어느 하나의 세트 또는 그룹에 속하는 제품의 상태가 제작 공정에 연속적으로 반영될 수 있다.
또한, 상기의 구성에 따라, 본 발명의 실시 예에 따른 피드백 제어 시스템 및 그 제어 방법은 제작 공정의 조정 및 제품의 품질을 평가하기 위한 기준을 그 특성에 맞춰 조정할 수 있다.
상술한 바와 같이, 인자값 연산 모듈 또는 인자값 재설정 모듈은 그룹 단위로 인자값을 연산한다. 연산한 인자값은 제작부로 전달되어 이후 제작되는 제품에 적용될 수 있다. 이때, 제작부는 기 설정된 개수의 세트만큼의 제품은 기 설정된 인자값을 적용하여 제작하고, 상기 기 설정된 개수의 세트 이후의 제품을 새로 연산된 인자값을 적용하여 제작할 수 있다.
즉, 새로 연산된 인자값은 소정의 시간이 경과된 후 반영될 수 있다. 따라서, 새로 연산된 인자값에 의한 제품의 시험 결과의 변화가 보다 명확하게 연산될 수 있다.
또한, 경계값 연산부 역시 그룹 단위로 경계값을 새로 연산한다. 이때, 경계값 연산부는 단수 개의 그룹 안에 포함되는 불량 제품의 개수에 따라 경계값을 연산한다.
즉, 경계값 연산부가 새로 연산한 경계값은 그룹 단위로 적용될 수 있다. 따라서, 경계값의 잦은 조정이 방지되어 제품의 시험 결과에 대한 평가 기준이 보다 명확해질 수 있다.
결과적으로, 연산되는 인자값 및 경계값의 특성에 따라, 연산 및 적용되는 시점이 상이하게 구성될 수 있다.
본 발명의 효과는 상기한 효과로 한정되는 것은 아니며, 본 발명의 상세한 설명 또는 청구범위에 기재된 발명의 구성으로부터 추론 가능한 모든 효과를 포함하는 것으로 이해되어야 한다.
도 1은 본 발명의 실시 예에 따른 피드백 제어 시스템의 구성을 도시하는 블록도이다.
도 2는 도 1의 피드백 제어 시스템의 구성 중 제작부, 이송부 및 시험부의 연결 관계를 도시하는 개념도이다.
도 3은 도 1의 피드백 제어 시스템에서 사용되는 제품, 세트 및 그룹의 개념을 도시하는 예시도이다.
도 4는 도 1의 피드백 제어 시스템의 각 구성 사이에 형성되는 정보의 흐름을 도시하는 블록도이다.
도 5는 도 1의 피드백 제어 시스템에 의해 연산된 인자값이 적용되는 과정을 도시하는 예시도이다.
도 6은 도 1의 피드백 제어 시스템에서 사용되는 경계값을 예시하는 도면이다.
도 7은 도 6의 경계값이 연산되는 과정을 예시하는 도면이다.
도 8은 본 발명의 실시 예에 따른 피드백 제어 시스템의 제어 방법의 흐름을 도시하는 순서도이다.
도 9는 도 8의 피드백 제어 시스템의 제어 방법 중 S100 단계의 세부 흐름을 도시하는 순서도이다.
도 10은 도 8의 피드백 제어 시스템의 제어 방법 중 S200 단계의 세부 흐름을 도시하는 순서도이다.
도 11은 도 8의 피드백 제어 시스템의 제어 방법 중 S300 단계의 세부 흐름을 도시하는 순서도이다.
도 12는 도 8의 피드백 제어 시스템의 제어 방법 중 S400 단계의 세부 흐름을 도시하는 순서도이다.
도 13은 도 12의 피드백 제어 시스템의 제어 방법 중 S410 단계의 세부 흐름을 도시하는 순서도이다.
도 14는 도 12의 피드백 제어 시스템의 제어 방법 중 S420 단계의 세부 흐름을 도시하는 순서도이다.
도 15는 도 12의 피드백 제어 시스템의 제어 방법 중 S430 단계의 세부 흐름을 도시하는 순서도이다.
도 16은 도 8의 피드백 제어 시스템의 제어 방법 중 S500 단계의 세부 흐름을 도시하는 순서도이다.
도 17은 도 16의 피드백 제어 시스템의 제어 방법 중 S520 단계의 세부 흐름을 도시하는 순서도이다.
도 18은 도 8의 피드백 제어 시스템의 제어 방법 중 S600 단계의 세부 흐름을 도시하는 순서도이다.
도 19는 도 8의 피드백 제어 시스템의 제어 방법 중 S700 단계의 세부 흐름을 도시하는 순서도이다.
이하, 첨부한 도면을 참고로 하여 본 발명의 실시 예에 대하여 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자가 용이하게 실시할 수 있도록 상세히 설명한다. 본 발명은 여러 가지 상이한 형태로 구현될 수 있으며 여기에서 설명하는 실시 예에 한정되지 않는다. 본 발명을 명확하게 설명하기 위해서 도면에서 설명과 관계없는 부분은 생략하였으며, 명세서 전체를 통하여 동일 또는 유사한 구성요소에 대해서는 동일한 참조부호를 붙였다.
본 명세서 및 청구범위에 사용된 단어와 용어는 통상적이거나 사전적인 의미로 한정 해석되지 않고, 자신의 발명을 최선의 방법으로 설명하기 위해 발명자가 용어와 개념을 정의할 수 있는 원칙에 따라 본 발명의 기술적 사상에 부합하는 의미와 개념으로 해석되어야 한다.
그러므로 본 명세서에 기재된 실시 예와 도면에 도시된 구성은 본 발명의 바람직한 일 실시 예에 해당하고, 본 발명의 기술적 사상을 모두 대변하는 것이 아니므로 해당 구성은 본 발명의 출원 시점에서 이를 대체할 다양한 균등물과 변형 예가 있을 수 있다.
이하의 설명에서는 본 발명의 특징을 명확하게 하기 위해, 일부 구성 요소들에 대한 설명이 생략될 수 있다.
이하의 설명에서 사용되는 "통전"이라는 용어는, 하나 이상의 부재가 서로 전류 또는 전기적 신호를 전달 가능하게 연결됨을 의미한다. 일 실시 예에서, 통전은 도선 부재 등에 의한 유선의 형태 또는 블루투스, Wi-Fi, RFID 등의 무선의 형태로 형성될 수 있다. 일 실시 예에서, 통전은 "통신"의 의미를 포함할 수 있다.
도 1 내지 도 3을 참조하면, 본 발명의 실시 예에 따른 피드백 제어 시스템(10)의 구성이 예시로서 도시된다. 본 발명의 실시 예에 따른 피드백 제어 시스템(10)은 제품(P)에 대한 생산 공정을 수행할 수 있다.
이때, 피드백 제어 시스템(10)은 생산된 제품(P)의 품질에 영향을 미칠 수 있는 인자값(a)에 대한 정보를 저장할 수 있다. 피드백 제어 시스템(10)은 인자값(a)을 조정하여 생산된 제품(P)의 품질을 조정할 수 있다.
또한, 피드백 제어 시스템(10)은 생산된 제품(P)의 품질과 관련된 정보를 감지할 수 있다. 피드백 제어 시스템(10)은 감지된 정보를 이용하여 인자값(a)을 조정할 수 있다. 이에 따라, 피드백 제어 시스템(10)에 의해 제조, 생산되는 제품(P)의 품질이 일정하게 유지될 수 있다.
이하의 설명에서는 피드백 제어 시스템(10)의 제품(P)을 제조하기 위한 구성을 포함하는 것을 전제하였다. 대안적으로, 피드백 제어 시스템(10)은 제품(P)을 제조하기 위한 구성을 제외하여 구성될 수 있다. 상기 실시 예에서, 피드백 제어 시스템(10)은 임의의 제품(P)을 생산하는 라인에 적용되어, 제품(P) 생산 결과에 따라 인자값(a)을 조정하게 구성될 수 있다.
제품(P)은 자동 또는 수동의 형태로 제조될 수 있는 임의의 형태일 수 있다. 일 실시 예에서, 제품(P)은 차단기(circuit breaker)로 구비될 수 있다. 상기 실시 예에서, 인자값(a)은 제품(P)에 과전류가 인가될 경우, 트립(trip)을 위해 소요되는 시간(T)에 영향을 미칠 수 있는 임의의 값을 포함할 수 있다.
일 실시 예에서, 인자값(a)은 제품(P)의 제조 환경, 제품(P)의 소재 및 이에 따른 저항값 등 트립을 위해 소요되는 시간(T)에 영향을 미치는 임의의 요소를 포함할 수 있다. 예를 들어, 인자값(a)은 바이메탈(bimetal)의 물성, 바이메탈 등에 잔류하는 이물질, 용접 부위의 상태(예를 들면, 버(burr) 등의 존재)), 제조 라인 주변의 온도, 습도 및 과전류 인가시 단자와의 접촉 상태 등 임의의 요소에 의한 영향을 반영할 수 있다.
일 실시 예에서, 인자값(a)이 증가되면 트립에 소요되는 시간(T)이 증가될 수 있다. 또한, 인자값(a)이 감소되면 트립에 소요되는 시간(T)이 감소될 수 있다.
더 나아가, 본 발명의 실시 예에 따른 피드백 제어 시스템(10)은 인자값(a) 조정에 따른 제품(P)의 품질의 경향을 분석하고, 이를 이용하여 인자값(a)을 재조정할 수 있다. 따라서, 인자값(a)은 실시간으로 변화하는 제품(P)의 상태 또는 주변 환경에 의한 영향을 반영하여 제품(P)에 적용될 수 있다.
이에 따라, 복수 개의 제품(P)의 품질의 균일성이 확보될 수 있다.
도시된 실시 예에서, 피드백 제어 시스템(10)은 제작부(100), 이송부(200), 시험부(300), 평균값 연산부(400), 인자값 조정부(500), 경계값 연산부(600) 및 데이터베이스부(700)를 포함한다.
제작부(100)는 제품(P)을 제작하는 역할을 실질적으로 수행한다. 제작부(100)는 제품(P) 제작에 필요한 조건과 관련된 정보를 인가받을 수 있다. 제작부(100)는 인가받은 정보에 상응하게 제품(P)을 제작할 수 있다.
제작부(100)는 이송부(200)와 연결된다. 일 실시 예에서, 제작부(100)는 이송부(200)와 통전 가능하게 연결될 수 있다. 제작부(100)에서 제작된 제품(P)은 이송부(200)에 의해 시험부(300)로 전달될 수 있다.
제작부(100)는 인자값 조정부(500)와 통전 가능하게 연결된다. 제작부(100)는 인자값 조정부(500)로부터 조정된 인자값(a)을 전달받을 수 있다.
도시된 실시 예에서, 제작부(100)는 제작 정보 입력 모듈(110) 및 제작 공정 수행 모듈(120)을 포함한다.
제작 정보 입력 모듈(110)은 제품(P)을 제작하기 위한 다양한 인자와 관련된 정보를 입력받는다. 일 실시 예에서, 제작 정보 입력 모듈(110)은 인자값(a)을 입력받을 수 있다.
제작 정보 입력 모듈(110)은 제작 공정 수행 모듈(120)과 통전 가능하게 연결된다. 제작 정보 입력 모듈(110)은 입력받은 인자값(a)을 제작 공정 수행 모듈(120)에 전달할 수 있다.
제작 정보 입력 모듈(110)은 인자값 조정부(500)와 통전 가능하게 연결된다. 제작 정보 입력 모듈(110)은 인자값 조정부(500)가 연산한 인자값(a)을 전달받을 수 있다.
제작 정보 입력 모듈(110)은 정보의 입력, 저장 및 출력이 가능한 임의의 형태로 구비될 수 있다. 일 실시 예에서, 제작 정보 입력 모듈(110)은 CPU, 마이크로프로세서(microprocessor) 등의 연산을 위한 수단과 SSD, HDD, RAM, ROM 등 저장을 위한 수단을 포함하여 구성될 수 있다.
도시되지는 않았으나, 제작 정보 입력 모듈(110)은 외부의 단말기와 통전 가능하게 연결되어 인자값(a)을 입력받을 수 있다. 또는, 제작 정보 입력 모듈(110)은 버튼 또는 터치 스크린 등을 포함하여, 작업자로부터 인자값(a)을 입력받게 구성될 수 있다.
제작 공정 수행 모듈(120)은 전달받은 인자값(a)에 상응하게 제품(P)을 제작한다. 제작 공정 수행 모듈(120)은 제작 정보 입력 모듈(110)과 통전 가능하게 연결된다.
제작 공정 수행 모듈(120)은 전달받은 인자값(a)에 대응되는 임의의 제품(P)을 제작할 수 있다. 일 실시 예에서, 제작되는 제품(P)이 차단기로 구비될 수 있음은 상술한 바와 같다.
제작 공정 수행 모듈(120)이 제작한 제품(P)은 이송부(200)에 의해 시험부(300)로 전달된다. 제작 공정 수행 모듈(120)은 이송부(200)와 연결된다.
이송부(200)는 제작부(100)가 제작한 제품(P)을 외부로 이송한다. 이송부(200)는 제작부(100) 및 외부와 각각 연결된다.
이송부(200)는 제작된 제품(P)을 이송할 수 있는 임의의 형태로 구비될 수 있다. 일 실시 예에서, 이송부(200)는 컨베이어 벨트(conveyor belt)의 형태로 구비될 수 있다.
이송부(200)는 복수 개의 라인으로 구성될 수 있다. 복수 개의 라인 중 일부 라인은 제작부(100)와 시험부(300)를 거쳐 외부를 연결할 수 있다. 상기 일부 라인을 따라 이동되는 제품(P)은 시험부(300)에 의한 시험 과정을 거친 후 외부로 이동될 수 있다.
복수 개의 라인 중 다른 라인은 제작부(100)와 외부를 각각 연결할 수 있다. 상기 다른 라인을 따라 이동되는 제품(P)은 시험 과정 없이 외부로 바로 이동될 수 있다.
도시된 실시 예에서, 이송부(200)는 시험 라인(210) 및 통과 라인(220)을 포함한다.
시험 라인(210)은 이송부(200)를 구성하는 복수 개의 라인 중 상기 일부 라인을 구성한다. 시험 라인(210)은 제작부(100), 시험부(300) 및 외부를 연결한다. 제작부(100)에서 제작된 제품(P)은 시험 라인(210)을 따라 시험부(300)를 통과하며 시험 과정을 거친 후 외부로 이동될 수 있다.
시험 라인(210)은 통과 라인(220)과 연결된다. 구체적으로, 시험 라인(210)과 통과 라인(220)은 바이패스(bypass) 라인의 형태로 구성되어, 제작부(100)에서 제작된 제품(P)은 시험 라인(210) 또는 통과 라인(220)을 통과하여 외부로 이동될 수 있다.
통과 라인(220)은 이송부(200)를 구성하는 복수 개의 라인 중 상기 다른 라인을 구성한다. 통과 라인(220)은 제작부(100)와 외부를 연결한다. 제작부(100)에서 제작된 제품(P)은 통과 라인(220)을 통과하며 시험 과정을 거치지 않고 외부로 이동될 수 있다.
이때, 시험 라인(210)과 통과 라인(220)을 통과하는 제품(P)의 개수는 소정의 비율로 구성될 수 있다.
즉, 도시된 실시 예에서, 세 개의 제품(P)은 시험 라인(210)을 따라 시험부(300)를 통과한 후 외부로 이동된다. 또한, 두 개의 제품(P)은 통과 라인(220)을 따라 시험부(300)를 우회하여 외부로 이동된다. 즉, 상기 실시 예에서, 시험부(300)를 통과하는 제품(P)의 개수와 시험부(300)를 통과하지 않는 제품(P)의 개수의 비는 3:2로 결정될 수 있다.
상기 소정의 비율은 제작부(100)가 제품(P)을 제작하는 속도 또는 이송부(200)의 속도에 따라 변경될 수 있다.
도 4를 참조하면, 이하에서 설명될 평균값 연산부(400), 인자값 조정부(500), 경계값 연산부(600) 및 데이터베이스부(700)는 서로 통전 가능하게 연결되어 연산한 정보를 서로에게 전달할 수 있다.
또한, 평균값 연산부(400), 인자값 조정부(500), 경계값 연산부(600) 및 데이터베이스부(700)는 직접 또는 간접으로 제작부(100) 및 시험부(300)와 통전 가능하게 연결되어 감지된 정보 또는 연산된 정보를 주고받을 수 있다.
시험부(300)는 제작부(100)에서 제작된 제품(P)이 예정된 품질로 제작되었는지 여부를 시험한다. 시험부(300)가 제품(P)을 시험한 결과는 평균값 연산부(400)로 전달되어, 인자값(a)을 조정하기 위한 근거 데이터로 활용된다.
시험부(300)는 이송부(200)에 의해 제작부(100) 및 외부와 연결된다. 제작부(100)에서 제작된 제품(P)은 시험 라인(210)을 따라 시험부(300)를 통과하며 시험된 후 외부로 이동될 수 있다.
시험부(300)는 평균값 연산부(400)와 통전 가능하게 연결된다. 시험부(300)가 제품(P)을 시험한 결과는 평균값 연산부(400)로 전달될 수 있다.
시험부(300)는 제작된 제품(P)의 품질을 시험할 수 있는 임의의 형태로 구비될 수 있다. 제품(P)이 차단기로 구비되는 실시 예에서, 시험부(300)는 제품(P)에 과전류를 인가하고, 제품(P)이 트립되기까지 소요되는 시간(T)을 결과로 감지하게 구성될 수 있다.
도시된 실시 예에서, 시험부(300)는 시험 전류 인가 모듈(310) 및 결과 감지 모듈(320)을 포함한다.
시험 전류 인가 모듈(310)은 시험부(300)를 통과하는 제품(P)에 시험 전류를 인가한다. 상술한 바와 같이, 일 실시 예에서 시험 전류 인가 모듈(310)이 인가하는 시험 전류는 과전류일 수 있다. 시험 전류 인가 모듈(310)은 시험부(300)로 이동된 각 제품(P)에 시험 전류를 인가할 수 있다.
결과 감지 모듈(320)은 시험 전류 인가 모듈(310)이 인가한 시험 전류에 의한 제품(P)의 작동 결과를 감지한다.
결과 감지 모듈(320)은 제품(P)의 작동 결과와 관련된 임의의 정보를 감지할 수 있다. 제품(P)이 차단기로 구비되고, 시험 전류가 과전류인 실시 예에서, 결과 감지 모듈(320)은 과전류 인가에 따른 트립 소요 시간(T)에 대한 정보를 감지할 수 있다.
결과 감지 모듈(320)이 감지한 작동 결과는 평균값 연산부(400)로 전달된다. 결과 감지 모듈(320)은 평균값 연산부(400)와 통전 가능하게 연결된다.
평균값 연산부(400)는 결과 감지 모듈(320)이 감지한 시험 결과를 이용하여 평균값(m)을 연산한다. 평균값 연산부(400)는 복수 개의 제품(P)에 대해 결과 감지 모듈(320)이 감지한 시험 결과를 이용하여 평균값(m)을 연산할 수 있다.
시험 전류가 과전류이고 감지된 정보가 과전류 인가에 따른 트립 소요 시간(T)인 실시 예에서, 연산된 평균값(m)은 시험부(300)를 통과하는 복수 개의 제품(P)의 트립 시간(T)의 평균일 수 있다.
평균값 연산부(400)는 결과 감지 모듈(320)이 감지한 시험 결과를 전달받을 수 있다. 평균값 연산부(400)는 결과 감지 모듈(320)과 통전 가능하게 연결된다.
평균값 연산부(400)가 연산한 평균값(m)은 인자값 조정부(500)로 전달될 수 있다. 평균값 연산부(400)는 인자값 조정부(500)와 통전 가능하게 연결된다.
평균값 연산부(400)는 정보의 입력, 연산 및 출력이 가능한 임의의 형태로 구비될 수 있다. 일 실시 예에서, 평균값 연산부(400)는 CPU, 마이크로프로세서(microprocessor) 등의 연산을 위한 수단을 포함하여 구성될 수 있다.
도시된 실시 예에서, 평균값 연산부(400)는 그룹화 모듈(410) 및 평균값 연산 모듈(420)을 포함한다.
그룹화 모듈(410)은 복수 개의 제품(P)을 소정의 규칙에 따라 그룹화한다. 평균값 연산부(400)는 그룹화 모듈(410)에 의해 그룹화된 각 그룹별로 평균값(m)을 연산할 수 있다.
이에 따라, 복수 개의 제품(P)의 평균값(m)이 규칙성을 갖게 연산될 수 있다. 결과적으로, 복수 개의 제품(P)의 평균값(m)이 산개됨에 따라, 인자값(a)이 부정확하게 연산될 위험이 배제될 수 있다.
도 3을 참조하면, 그룹화 모듈(410)이 복수 개의 제품(P)을 그룹화하는 방법이 예로서 도시된다.
도 3의 (a)를 참조하면, 복수 개의 제품(P)은 먼저 세트(S)로 분류된다. 도시된 실시 예에서, 여섯 개의 제품(P)이 한 개의 세트(S)로 분류된다.
도 3의 (b)를 참조하면, 복수 개의 세트(S)는 단수 개의 그룹(G)으로 그룹화된다. 도시된 실시 예에서, 여섯 개의 세트(S)가 한 개의 그룹(G)으로 그룹화된다.
한 개의 세트(S)로 분류되는 제품(P)의 개수 또는 한 개의 그룹(G)으로 그룹화되는 세트(S)의 개수는 변경될 수 있다.
이때, 제작부(100) 및 이송부(200)가 작동됨에 따라, 복수 개의 제품(P)은 이송부(200)를 따라 계속 이동된다. 즉, 기 제작된 제품(P)은 외부로 이동되고, 새로 제작된 제품(P)은 이송부(200)로 새로 진입된다. 이에 따라, 세트(S) 또는 그룹(G)의 조정이 요구된다. 이를 위해, 그룹화 모듈(410)은 세트(S)의 단위로 그룹(G)을 재정의한다.
도 3의 (c)를 참조하면, 새로 제작된 제품(P)이 진입됨에 따라 그룹(G)이 재정의되는 과정이 예시로서 도시된다. 도시된 실시 예에서, 좌측으로 갈수록 최근에 제작된 제품(P)임이 이해될 것이다.
도 3의 (c)의 상측에서, 가장 먼저 제작된 제품(P)의 한 개의 세트(S) 및 이후 제작된 다섯 개의 세트(S)를 포함하여 그룹(G)이 정의된다.
도 3의 (c)의 하측에서, 가장 먼저 제작된 제품(P)의 한 개의 세트(S)가 이송부(200)에서 이탈되면, 상기 다섯 개의 세트(S) 및 가장 마지막에 제작된 한 개의 세트(S)를 포함하여 그룹(G)이 새로 정의된다.
즉, 그룹화 모듈(410)은 세트(S)의 단위로, 시프트(shift)의 방식으로 그룹(G)을 지속적으로 새로 정의하게 구성될 수 있다.
따라서, 세트(S) 단위로 새로 정의되는 그룹(G)마다 평균값(m)이 연산될 수 있다. 이에 따라, 제품(P) 단위로 평균값(m)이 연산될 경우 발생될 수 있는 문제점, 즉 데이터의 과다화가 방지될 수 있다. 또한, 시프트 방식이 아닌 순서대로 정의되는 그룹(G) 단위로 평균값(m)이 연산될 경우 발생될 수 있는 문제점, 즉 제품(P)의 상태를 실시간으로 측정하기 어려운 상황 또한 방지될 수 있다.
그룹화 모듈(410)에 의해 복수 개의 제품(P)이 그룹화된 결과는 평균값 연산 모듈(420)로 전달된다. 그룹화 모듈(410)은 평균값 연산 모듈(420)과 통전 가능하게 연결된다.
평균값 연산 모듈(420)은 결과 감지 모듈(320)이 감지한 시험 결과 및 그룹화 모듈(410)이 그룹화한 결과를 이용하여 평균값(m)을 연산한다.
평균값 연산 모듈(420)은 결과 감지 모듈(320) 및 그룹화 모듈(410)과 각각 통전 가능하게 연결된다. 평균값 연산 모듈(420)은 감지된 시험 결과 및 그룹화된 결과를 전달받을 수 있다.
평균값 연산 모듈(420)은 그룹화된 복수 개의 그룹(G)별로 시험 결과에 대한 평균값(m)을 연산할 수 있다. 연산된 각 그룹(G)에 대한 평균값(m)은 인자값 조정부(500), 경계값 연산부(600) 및 데이터베이스부(700)로 전달된다.
인자값 조정부(500)는 연산된 평균값(m), 즉 각 그룹(G)별 평균값(m)을 이용하여 인자값(a)을 연산한다. 즉, 인자값 조정부(500)는 시험 결과에 따라 인자값(a)을 조정하는 역할을 실질적으로 수행한다.
인자값 조정부(500)는 평균값 연산부(400)가 연산한 평균값(m), 즉 그룹(G)별 평균값(m)을 전달받을 수 있다. 인자값 조정부(500)는 평균값 연산부(400)와 통전 가능하게 연결된다.
인자값 조정부(500)는 경계값 연산부(600)가 연산한 경계값(B)을 전달받을 수 있다. 또한, 인자값 조정부(500)는 경계값 연산부(600)가 연산한 인자값(a)의 재설정과 관련된 정보를 전달받을 수 있다. 인자값 조정부(500)는 경계값 연산부(600)와 통전 가능하게 연결된다.
인자값 조정부(500)는 평균값(m)을 경계값(B)과 비교할 수 있다. 일 실시 예에서, 인자값 조정부(500)는 평균값(m)과 경계값(B)의 대소 관계를 연산할 수 있다. 인자값 조정부(500)는 연산된 평균값(m)과 경계값(B)의 대소 관계를 이용하여 인자값(a)을 연산할 수 있다.
인자값 조정부(500)가 연산한 인자값(a)은 제작부(100)의 제작 정보 입력 모듈(110)로 전달될 수 있다. 인자값 조정부(500)는 제작부(100)와 통전 가능하게 연결된다.
인자값 조정부(500)가 연산한 인자값(a)은 데이터베이스부(700)로 전달되어 저장될 수 있다. 인자값 조정부(500)는 데이터베이스부(700)와 통전 가능하게 연결된다.
인자값 조정부(500)는 정보의 입력, 연산 및 출력이 가능한 임의의 형태로 구비될 수 있다. 일 실시 예에서, 인자값 조정부(500)는 CPU, 마이크로프로세서(microprocessor) 등의 연산을 위한 수단을 포함하여 구성될 수 있다.
도시된 실시 예에서, 인자값 조정부(500)는 평균값 비교 모듈(510) 및 인자값 연산 모듈(520)을 포함한다.
평균값 비교 모듈(510)은 연산된 평균값(m), 즉 각 그룹(G)별 평균값(m)과 경계값(B)을 비교한다. 평균값 비교 모듈(510)이 비교한 결과는 인자값 연산 모듈(520)로 전달되어 인자값(a)을 연산하기 위해 활용된다.
후술될 바와 같이, 경계값(B)은 제1 상한 경계값(BH1), 제1 하한 경계값(BL1), 제2 상한 경계값(BH2), 제2 하한 경계값(BL2), 제3 상한 경계값(BH3) 및 제3 하한 경계값(BL3)을 포함할 수 있다.
평균값 비교 모듈(510)은 연산된 평균값(m)을 복수 개의 경계값(BH1, BL1, BH2, BL2, BH3, BL3)과 비교할 수 있다. 이에 따라, 해당 평균값(m)과 복수 개의 경계값(BH1, BL1, BH2, BL2, BH3, BL3)의 상대적인 대소 관계에 따라 해당 그룹(G)에 속하는 복수 개의 제품(P)의 이상 유무가 연산될 수 있다. 이에 대한 상세한 설명은 후술하기로 한다.
평균값 비교 모듈(510)이 연산한 평균값(m)과 경계값(B)의 대소 관계에 대한 정보는 인자값 연산 모듈(520)로 전달된다. 평균값 비교 모듈(510)은 인자값 연산 모듈(520)은 통전 가능하게 연결된다.
인자값 연산 모듈(520)은 연산된 평균값(m)과 경계값(B)의 대소 관계를 이용하여 인자값(a)을 연산한다. 인자값 연산 모듈(520)은 평균값 비교 모듈(510)과 통전 가능하게 연결된다.
구체적으로, 연산된 평균값(m)이 경계값(B) 중 상한 경계값(BH1, BH2, BH3)을 초과할 경우, 인자값 연산 모듈(520)은 인자값(a)이 감소되도록 인자값(a)을 연산한다. 즉, 인자값 연산 모듈(520)은 시험 전류 인가에 따른 트립 소요 시간(T)이 감소되도록 인자값(a)을 연산한다.
또한, 연산된 평균값(m)이 경계값(B) 중 하한 경계값(BL1, BL2, BL3) 미만일 경우, 인자값 연산 모듈(520)은 인자값(a)이 증가되도록 인자값(a)을 연산한다. 즉, 인자값 연산 모듈(520)은 시험 전류 인가에 따른 트립 소요 시간(T)이 증가되도록 인자값(a)을 연산한다.
또한, 인자값 연산 모듈(520)은 경계값 연산부(600)가 연산한 인자값 재설정 여부에 대한 정보를 이용하여 인자값(a)을 연산할 수 있다. 인자값 연산 모듈(520)이 연산하는 인자값(a)은 제작부(100)에 전달되어 제작 공정 수행 모듈(120)이 제품(P)을 제작하기 위해 활용된다. 인자값 연산 모듈(520)은 제작 정보 입력 모듈(110)과 통전 가능하게 연결된다.
이때, 도 5를 참조하면, 인자값 연산 모듈(520)이 새로 연산한 인자값(a)은 기 설정된 개수의 세트(S) 이후에 제작되는 세트(S)에 반영되게 구성될 수 있다.
즉, 도 5의 (a)를 참조하면, 인자값(a)이 새로 연산되어 제작 정보 입력 모듈(110)에 전달된 경우에도, 가장 먼저 제작될 세 개의 세트(S)에는 기 설정된 인자값(a0)이 적용될 수 있다. 새로 연산된 인자값(a)은 상기 세 개의 세트(S) 이후에 제작되는 세트(S)에 적용될 수 있다.
도 5의 (b)를 참조하면, 상기 세 개의 세트(S) 제작이 완료된 후 제작되는 세트(S)에는 새로 연산된 인자값(a)이 반영된다. 상기 상태에서 인자값(a)이 새로 연산될 경우, 가장 선순위에 위치되는 세 개의 세트(S)가 기 설정된 인자값(a0), 즉 도 5의 (a)에서의 인자값(a)에 따라 제작되고, 그 이후에 새로 연산된 인자값(a), 즉 도 5의 (b)의 인자값(a)이 적용됨이 이해될 것이다.
인자값 연산 모듈(520)은 연산된 인자값(a)을 경계값 연산부(600)에 전달할 수 있다. 인자값 연산 모듈(520)은 경계값 연산부(600)와 통전 가능하게 연결된다.
경계값 연산부(600)는 인자값 조정부(500)가 인자값(a)을 조정하는 기준이 되는 경계값(B)을 연산한다. 경계값 연산부(600)는 복수 개의 그룹(G)에서 산출된 평균값(m)의 추이를 이용하여 경계값(B)을 연산할 수 있다.
경계값 연산부(600)는 연산된 평균값(m)을 전달받을 수 있다. 경계값 연산부(600)는 평균값 연산부(400)와 통전 가능하게 연결된다.
경계값 연산부(600)가 연산한 경계값(B)은 인자값 조정부(500)로 전달될 수 있다. 경계값 연산부(600)는 인자값 조정부(500)와 통전 가능하게 연결된다.
경계값 연산부(600)가 연산한 경계값(B)은 데이터베이스부(700)에 전달되어 저장될 수 있다. 경계값 연산부(600)는 데이터베이스부(700)와 통전 가능하게 연결된다.
경계값 연산부(600)는 정보의 입력, 연산 및 출력이 가능한 임의의 형태로 구비될 수 있다. 일 실시 예에서, 경계값 연산부(600)는 CPU, 마이크로프로세서(microprocessor) 등의 연산을 위한 수단을 포함하여 구성될 수 있다.
도시된 실시 예에서, 경계값 연산부(600)는 경계값 연산 모듈(610), 평균값 추세 연산 모듈(620) 및 인자값 재설정 모듈(630)을 포함한다.
경계값 연산 모듈(610)은 복수 개의 세트(S)를 포함하는 각 그룹(G)의 시험 결과의 최빈값을 이용하여 경계값(B)을 연산한다.
즉, 상기 최빈값은 각 그룹(G)마다 단수 개일 수 있다. 또한, 피드백 제어 시스템(10)이 작동되는 동안 그룹(G)은 연속적으로 재정의되어 평균값(m)이 연산된다. 따라서, 상기 최빈값은 피드백 제어 시스템(10)의 작동에 따라 연속적으로 연산될 수 있음이 이해될 것이다.
상술한 바와 같이, 경계값(B)은 복수 개의 경계값(BH1, BL1, BH2, BL2, BH3, BL3)으로 구분될 수 있다. 이를 위해, 경계값 연산 모듈(610)은 각 경계값(BH1, BL1, BH2, BL2, BH3, BL3)을 소정의 기준으로 연산할 수 있다.
즉, 경계값 연산 모듈(610)은 각 그룹(G)에 포함된 불량 제품(D)의 개수에 따라 복수 개의 경계값(BH1, BL1, BH2, BL2, BH3, BL3)을 연산할 수 있다. 이때, 불량 제품(D)이란 정상적으로 제작되었을 때 기대되는 기 설정된 기준을 만족하지 못하는 제품(P)으로 정의될 수 있다.
경계값 연산 모듈(610)은 연산된 평균값을 개수 또는 크기에 따라 정렬하고, 이들을 이용하여 복수 개의 경계값(BH1, BL1, BH2, BL2, BH3, BL3)을 연산할 수 있다.
도 7의 (a)를 참조하면, 경계값 연산 모듈(610)은 한 개의 그룹(G)에 포함된 불량 제품(D)의 개수가 한 개일 경우, 복수 개의 최빈값 중 가장 큰 값을 제1 상한 경계값(BH1)으로, 가장 작은 값을 제1 하한 경계값(BL1)으로 연산한다.
따라서, 연산된 평균값(m)이 제1 상한 경계값(BH1) 이하 제1 하한 경계값(BL1) 이상일 경우, 인자값 조정부(500)는 해당 그룹(G)에 속하는 제품(P)이 "정상"인 것으로 판단할 수 있다. 상기의 경우, 인자값 조정부(500)는 그 값이 유지되도록 인자값(a)을 연산할 수 있다.
도 7의 (b)를 참조하면, 경계값 연산 모듈(610)은 한 개의 그룹(G)에 포함된 불량 제품(D)의 개수가 두 개일 경우, 복수 개의 최빈값 중 가장 큰 값을 제2 상한 경계값(BH2)으로, 가장 작은 값을 제2 하한 경계값(BL2)으로 연산한다.
따라서, 연산된 평균값(m)이 제1 상한 경계값(BH1) 초과 제2 상한 경계값(BH2) 이하 또는 제1 하한 경계값(BL1) 미만 제2 하한 경계값(BL2) 이상일 경우, 인자값 조정부(500)는 해당 그룹(G)에 속하는 제품(P)이 "주의"인 것으로 판단할 수 있다. 상기의 경우, 인자값 조정부(500)는 그 값이 감소 또는 증가되도록 인자값(a)을 연산할 수 있다.
도 7의 (c)를 참조하면, 경계값 연산 모듈(610)은 한 개의 그룹(G)에 포함된 불량 제품(D)의 개수가 세 개일 경우, 복수 개의 최빈값 중 가장 큰 값을 제3 상한 경계값(BH3)으로, 가장 작은 값을 제3 하한 경계값(BL3)으로 연산한다.
따라서, 연산된 평균값(m)이 제2 상한 경계값(BH2) 초과 제3 상한 경계값(BH3) 이하 또는 제2 하한 경계값(BL2) 미만 제3 하한 경계값(BL3) 이상일 경우, 인자값 조정부(500)는 해당 그룹(G)에 속하는 제품(P)이 "심각"인 것으로 판단할 수 있다. 상기의 경우, 인자값 조정부(500)는 그 값이 더 큰 폭으로 감소 또는 증가되도록 인자값(a)을 연산할 수 있다.
만약 연산된 평균값(m)이 제3 상한 경계값(BH3)을 초과하거나, 제3 하한 경계값(BL3) 미만일 경우, 그 편차가 너무 과다하여 의미 없는 데이터로 이해될 수 있다. 상기의 경우, 인자값 조정부(500)는 해당 평균값(m)을 제외하고 인자값(a)에 대한 연산을 수행할 수 있다.
평균값 추세 연산 모듈(620)은 각 그룹(G)별로 연산된 복수 개의 평균값(m)이 변화되는 추세에 대한 정보를 연산한다. 평균값 추세 연산 모듈(620)은 연산된 정보를 이용하여 인자값(a)의 증감에 따른 평균값(m)의 증감에 대한 정보를 연산할 수 있다. 따라서, 평균값 추세 연산 모듈(620)은 인자값(a) 추세 연산 모듈로 지칭될 수도 있음이 이해될 것이다.
평균값 추세 연산 모듈(620)은 복수 개의 그룹(G)에 대해 연산된 복수 개의 평균값(m)의 변화 추세를 증가, 감소 또는 유지 중 어느 하나로 연산한다. 평균값 추세 연산 모듈(620)이 연산한 평균값(m)의 추세는 인자값 재설정 모듈(630)로 전달되어 인자값(a)을 증가시킬지, 감소시킬지 또는 유지할지 여부에 대한 정보를 연산하기 위해 활용된다.
인자값 재설정 모듈(630)은 연산된 평균값(m)의 추세에 대한 정보를 이용하여 인자값(a)을 재설정하기 위한 정보를 연산한다. 인자값 재설정 모듈(630)은 인자값(a)이 증가되거나, 감소되거나 유지되도록 인자값(a)을 재설정할 수 있다.
이때, 평균값(m)의 추세에 따른 인자값(a)의 증가, 감소 또는 유지 여부는 인자값(a)과 평균값(m)의 관계에 따라 결정될 수 있다.
예를 들어, 인자값(a)과 평균값(m)이 비례 관계, 즉 인자값(a)이 증가됨에 따라 평균값(m)이 증가되는 경우를 고려해볼 수 있다.
연산된 평균값(m)의 추세가 증가일 경우, 인자값 재설정 모듈(630)은 인자값(a)이 감소되도록 인자값(a)을 재조정한다(도 6의 (a)). 연산된 평균값(m)의 추세가 감소일 경우, 인자값 재설정 모듈(630)은 인자값(a)이 증가되도록 인자값(a)을 재조정한다(도 6의 (b)). 더 나아가, 연산된 평균값(m)의 추세가 유지일 경우, 인자값 재설정 모듈(630)은 인자값(a)이 유지되도록 인자값(a)을 재조정한다(도 6의 (c)).
다른 예로, 인자값(a)과 평균값(m)의 반 비례 관계, 즉 인자값(a)이 증가됨에 따라 평균값(m)이 감소되는 경우를 고려해볼 수 있다.
연산된 평균값(m)의 추세가 증가일 경우(도 6의 (a)), 인자값 재설정 모듈(630)은 인자값(a)이 증가되도록 인자값(a)을 재조정한다. 연산된 평균값(m)의 추세가 감소일 경우(도 6의 (b)), 인자값 재설정 모듈(630)은 인자값(a)이 감소되도록 인자값(a)을 재조정한다. 더 나아가, 연산된 평균값(m)의 추세가 유지일 경우(도 6의 (c)), 인자값 재설정 모듈(630)은 인자값(a)이 유지되도록 인자값(a)을 재조정한다.
인자값 재설정 모듈(630)이 연산한 정보, 즉 인자값(a)을 재설정하기 위한 정보는 인자값 조정부(500) 및 데이터베이스부(700)로 전달된다.
데이터베이스부(700)는 평균값 연산부(400), 인자값 조정부(500) 및 경계값 연산부(600)가 연산한 각 정보를 전달받아 저장한다. 데이터베이스부(700)는 전달받은 각 정보를 그룹(G)별로 매핑하여 저장할 수 있다. 상기 실시 예에서, 각 그룹(G)은 제품(P)의 사양(specification)에 대한 정보를 포함할 수 있다.
따라서, 데이터베이스부(700)에 저장된 정보는 제품(P)의 특성에 따라 인자값(a)을 조정하기 위해 활용될 수 있다.
데이터베이스부(700)는 정보의 입력, 저장 및 출력이 가능한 임의의 수단을 포함할 수 있다. 일 실시 예에서, 데이터베이스부(700)는 CPU, 마이크로프로세서 및 HDD, SSD, RAM, ROM, SD, Micro SD 등을 포함하여 구성될 수 있다.
도시된 실시 예에서, 데이터베이스부(700)는 평균값 저장 모듈(710), 인자값 저장 모듈(720) 및 경계값 저장 모듈(730)을 포함한다.
평균값 저장 모듈(710)은 평균값 연산부(400)가 연산한 복수 개의 제품(P)이 그룹화된 결과 및 각 그룹(G)별 평균값(m)을 전달받아 저장한다. 평균값 저장 모듈(710)은 평균값 연산부(400)와 통전 가능하게 연결된다.
인자값 저장 모듈(720)은 인자값 조정부(500)가 연산한 인자값(a) 및 경계값 연산부(600)가 연산한 인자값(a)의 재설정과 관련된 정보를 전달받아 저장한다. 인자값 저장 모듈(720)은 인자값 조정부(500) 및 경계값 연산부(600)와 각각 통전 가능하게 연결된다.
경계값 저장 모듈(730)은 경계값 연산부(600)가 연산한 경계값(B)을 전달받아 저장한다. 경계값 저장 모듈(730)은 경계값 연산부(600)와 통전 가능하게 연결된다.
상술한 바와 같이, 경계값 연산부(600)는 제1 상한 경계값(BH1), 제1 하한 경계값(BL1), 제2 상한 경계값(BH2), 제2 하한 경계값(BL2), 제3 상한 경계값(BH3) 및 제3 하한 경계값(BL3)을 포함하여 복수 개의 경계값(B)을 연산할 수 있다. 경계값 저장 모듈(730)은 연산된 복수 개의 경계값(BH1, BL1, BH2, BL2, BH3, BL3)을 각각 전달받아 저장할 수 있다.
도 8 내지 도 19를 참조하면, 본 발명의 실시 예에 따른 피드백 제어 시스템(10)의 제어 방법이 도시된다. 도시된 실시 예에 따른 피드백 제어 시스템(10)의 제어 방법은 상술한 피드백 제어 시스템(10)의 각 구성에 의해 구현될 수 있다.
상술한 바와 같이, 본 발명의 실시 예에 따른 피드백 제어 시스템(10)은 제작된 제품(P)에 대한 시험 결과를 이용하여 제작에 요구되는 인자값(a)을 연산하여 제작 공정에 반영할 수 있다. 즉, 피드백 제어 시스템(10)은 제품(P)의 품질에 영향을 주는 인자를 실시간으로 조정하여 반영할 수 있다.
따라서, 제작되는 제품(P)의 품질이 균일하게 유지될 수 있고, 불량 제품(D)의 발생이 최소화될 수 있다. 즉, 제품(P)의 품질 저하를 방지할 수 있다. 더 나아가, 인자값(a)의 조정에 따른 제품(P)의 품질의 변화가 추세로도 연산되어, 인자값(a)을 조정하는 기준이 되는 경계값(B) 또한 실시간으로 조정되므로, 제품(P)의 품질 판단 기준 또한 제품(P)이 제작되는 환경을 반영하여 조정될 수 있다.
도 8을 참조하면, 도시된 실시 예에 따른 피드백 제어 시스템(10)의 제어 방법은 제작부(100)가 기 설정된 인자값(a0)에 따라 제품(P)을 제조하는 단계(S100), 시험부(300)가 제조된 제품(P)에 시험 전류를 인가하여 제품(P)을 시험 평가하는 단계(S200), 평균값 연산부(400)가 복수 개의 제품(P)의 시험 결과에 대한 평균값(m)을 연산하는 단계(S300), 경계값 연산부(600)가 복수 개의 제품(P)의 시험 결과를 이용하여 경계값(B)을 연산하는 단계(S400), 인자값 조정부(500)가 연산된 평균값(m) 및 경계값(B)을 이용하여 인자값(a)을 조정하는 단계(S500), 제작부(100)가 조정된 인자값(a)에 따라 제품(P)을 제조하는 단계(S600) 및 데이터베이스부(700)가 연산된 평균값(m), 인자값(a) 및 경계값(B) 중 어느 하나 이상을 저장하는 단계(S700)를 포함한다.
도 9를 참조하면, 제작부(100)가 기 설정된 인자값(a0)에 따라 제품(P)을 제조하는 단계(S100)의 세부 흐름이 도시된다. 본 단계(S100)는 제작부(100)가 기 설정된 인자값(a0), 즉 인자값 조정부(500)에 의해 조정되지 않은 인자값(a)을 이용하여 제품(P)을 제작한다.
먼저, 제작 정보 입력 모듈(110)은 기 설정된 인자값(a0)을 전달받는다(S110).
일 실시 예에서, 제작 정보 입력 모듈(110)은 인자값 조정부(500) 또는 데이터베이스부(700)로부터 기 설정된 인자값(a0)을 전달받을 수 있다. 다른 실시 예에서, 제작 정보 입력 모듈(110)은 단말기 등을 통해 작업자로부터 기 설정된 인자값(a0)을 입력받을 수 있다. 제작 정보 입력 모듈(110)은 전달받은 기 설정된 인자값(a0)을 제작 공정 수행 모듈(120)에 전달한다.
제작 공정 수행 모듈(120)은 입력된 기 설정된 인자값(a0)에 따라 제품(P)을 제조한다. 즉, 제작 공정 수행 모듈(120)은 제품(P)의 제작 결과 또는 품질이 반영되지 않은 기 설정된 인자값(a0)에 따라 제품(P)을 제작한다.
도 10을 참조하면, 시험부(300)가 제조된 제품(P)에 시험 전류를 인가하여 제품(P)을 시험 평가하는 단계(S200)의 세부 흐름이 도시된다. 본 단계(S200)는 제작부(100)에 의해 제조된 제품(P)의 품질을 시험하고, 시험 결과를 평균값 연산부(400)에 전달하는 단계(S200)이다.
시험 전류 인가 모듈(310)은 제작된 제품(P)에 시험 전류를 인가한다(S210). 일 실시 예에서, 시험 전류 인가 모듈(310)이 인가하는 시험 전류는 과전류일 수 있다.
결과 감지 모듈(320)은 인가된 시험 전류에 의해 제품(P)이 작동하는 시간(T)에 대한 정보를 감지한다(S220). 제품(P)이 차단기로 구비되는 실시 예에서, 결과 감지 모듈(320)이 감지하는 정보는 과전류 인가에 의해 제품(P)이 트립되는 시간(T)에 대한 정보일 수 있다.
결과 감지 모듈(320)은 감지된 정보를 평균값 연산부(400)에 전달한다(S230).
이때, 제작부(100) 및 이송부(200)가 작동됨에 따라 제품(P)은 연속적으로 제조 및 시험될 수 있다. 이에, 본 단계(S200)에서, 연속적으로 제작되는 복수 개의 제품(P)에 시험이 수행될 수 있다. 또한, 본 단계(S200)에서 감지되는 시험 결과 또한 복수 개의 제품(P)에서 감지될 수 있음이 이해될 것이다.
도 11을 참조하면, 평균값 연산부(400)가 복수 개의 제품(P)의 시험 결과에 대한 평균값(m)을 연산하는 단계(S300)의 세부 흐름이 도시된다. 본 단계(S300)는 시험부(300)가 감지한 복수 개의 시험 결과를 그룹화하고, 이를 이용하여 각 그룹(G)별 평균값(m)을 연산하는 단계(S300)이다.
그룹화 모듈(410)은 복수 개의 제품(P)을 복수 개의 세트(S)로 분류한다(S310). 일 실시 예에서, 복수 개의 제품(P)은 한 개의 세트(S)당 여섯 개의 제품(P)을 포함하도록 분류될 수 있다.
또한, 그룹화 모듈(410)은 복수 개의 세트(S)를 복수 개의 그룹(G)으로 그룹화한다(S320). 일 실시 예에서, 복수 개의 세트(S)는 한 개의 그룹(G)당 여섯 개의 세트(S)를 포함하도록 그룹화될 수 있다.
평균값 연산 모듈(420)은 그룹화된 복수 개의 그룹(G)에 각각 포함되는 복수 개의 제품(P)의 시험 결과에 대한 평균값(m)을 각각 연산한다(S330). 즉, 평균값 연산 모듈(420)은 각 그룹(G)에 포함되는 복수 개의 제품(P)에 대한 시험 결과를 이용하여, 그룹(G)별 평균값(m)을 연산한다.
평균값 연산 모듈(420)은 연산된 평균값(m), 즉 각 그룹(G)별 평균값(m)을 인자값 조정부(500)로 전달한다(S340).
도 12를 참조하면, 경계값 연산부(600)가 복수 개의 제품(P)의 시험 결과를 이용하여 경계값(B)을 연산하는 단계(S400)의 세부 흐름이 도시된다. 본 단계(S400)는 그룹(G)별로 연산된 평균값(m)을 이용하여, 제품(P)의 품질을 판단하기 위한 기준이 되는 경계값(B)이 연산되는 단계(S400)이다.
먼저, 경계값 연산 모듈(610)은 그룹화된 복수 개의 제품(P)의 시험 결과의 최빈값을 이용하여 경계값(B)을 연산한다(S410). 즉, 경계값 연산 모듈(610)은 각 그룹(G)에 포함되는 제품(P)의 시험 결과 중 출현 빈도가 높은 시험 결과를 이용하여 경계값(B)을 연산한다. 즉, 경계값(B)은 각각 단수 개의 최빈값을 갖는 서로 다른 그룹(G) 각각의 최빈값의 대소 관계를 이용하여 연산된다.
구체적으로, 도 13을 참조하면, 경계값 연산 모듈(610)은 기 설정된 기준을 만족하지 않는 불량 제품(D)을 포함하는 그룹(G)의 복수 개의 경계값(B) 중 가장 큰 값을 상한 경계값(BH)으로 연산하고, 가장 작은 값을 하한 경계값(BL)으로 연산한다(S411).
상술한 바와 같이, 경계값 연산 모듈(610)이 연산하는 경계값(B)은 해당 그룹(G)에 포함되는 불량 제품(D)의 개수에 따라 다양하게 구성될 수 있다.
이에, 경계값 연산 모듈(610)은 각 그룹(G)에 포함되는 불량 제품(D)의 개수에 따라, 상한 경계값(BH) 및 하한 경계값(BL)을 각각 연산한다(S412).
구체적으로, 해당 그룹(G)에 포함되는 불량 제품(D)의 개수가 제1 개수일 경우, 경계값 연산 모듈(610)은 상술한 기준에 따라 제1 상한 경계값(BH1) 및 제1 하한 경계값(BL1)을 연산한다(S412a). 일 실시 예에서, 제1 개수는 한 개일 수 있다.
또한, 해당 그룹(G)에 포함되는 불량 제품(D)의 개수가 제2 개수일 경우, 경계값 연산 모듈(610)은 상술한 기준에 따라 제2 상한 경계값(BH2) 및 제2 하한 경계값(BL2)을 연산한다(S412b). 일 실시 예에서, 제2 개수는 두 개일 수 있다.
또한, 제2 상한 경계값(BH2)은 제1 상한 경계값(BH1)을 초과하고, 제2 하한 경계값(BL2)은 제1 하한 경계값(BL1) 미만으로 연산될 수 있다. 따라서, 제1 상한 경계값(BH1)과 제1 하한 경계값(BL1)의 차는 제2 상한 경계값(BH2)과 제2 하한 경계값(BL2)의 차보다 작음이 이해될 것이다.
더 나아가, 해당 그룹(G)에 포함되는 불량 제품(D)의 개수가 제3 개수일 경우, 경계값 연산 모듈(610)은 상술한 기준에 따라 제3 상한 경계값(BH3) 및 제3 하한 경계값(BL3)을 연산한다(S412c). 일 실시 예에서, 제3 개수는 세 개일 수 있다.
또한, 제3 상한 경계값(BH3)은 제2 상한 경계값(BH2)을 초과하고, 제3 하한 경계값(BL3)은 제2 하한 경계값(BL2) 미만으로 연산될 수 있다. 따라서, 제2 상한 경계값(BH2)과 제2 하한 경계값(BL2)의 차는 제3 상한 경계값(BH3)과 제3 하한 경계값(BL3)의 차보다 작음이 이해될 것이다.
연산된 경계값(B)은 평균값 추세 연산 모듈(620)로 전달된다.
평균값 추세 연산 모듈(620)은 연산된 평균값(m)과 연산된 경계값(B)을 비교한다(S420). 상술한 바와 같이, 경계값(B)은 제1 내지 제3 상한 경계값(BH1, BH2, BH3) 및 제1 내지 제3 하한 경계값(BL1, BL2, BL3)을 포함할 수 있다. 이에, 평균값 추세 연산 모듈(620)은 연산된 평균값(m)을 제1 내지 제3 상한 경계값(BH1, BH2, BH3) 및 제1 내지 제3 하한 경계값(BL1, BL2, BL3)과 비교할 수 있다.
구체적으로, 도 14를 참조하면, 평균값 추세 연산 모듈(620)은 복수 개의 그룹(G) 각각의 평균값(m)을 경계값(B)과 비교한다(S421). 이때, 평균값 추세 연산 모듈(620)은 연산된 평균값(m) 또는 복수 회에 걸쳐 연산된 복수 개의 평균값(m)의 추세와 연산된 경계값(B)을 비교할 수 있다.
또한, 평균값 추세 연산 모듈(620)은 연산된 복수 개의 평균값(m)의 증가, 감소 및 유지 중 어느 하나로 연산한다(S422). 평균값 추세 연산 모듈(620)이 연산한 결과는 인자값 재설정 모듈(630)로 전달된다.
인자값 재설정 모듈(630)은 연산된 평균값(m)과 경계값(B)의 비교 결과에 따라 인자값(a)을 재조정한다(S430). 본 단계(S430)는 인자값 재설정 모듈(630)이 인자값(a)을 증가시킬지, 감소시킬지 또는 유지할지 여부에 대한 정보를 연산하는 단계(S430)이다.
이하에서는 인자값(a)과 평균값(m)이 비례 관계임을 전제하여 설명한다. 인자값(a)과 평균값(m)이 반 비례 관계일 경우, 인자값 재설정 모듈(630)이 연산하는 인자값(a)의 증감 여부는 반대가 됨이 이해될 것이다.
일 실시 예에서, 인자값 재설정 모듈(630)은 연산된 평균값(m)과 복수 개의 경계값(B)을 비교하여 인자값(a)을 연산할 수 있다.
구체적으로, 도 15를 참조하면, 평균값(m)이 연산된 복수 개의 경계값(B) 중 가장 큰 값을 초과할 경우, 인자값 재설정 모듈(630)은 인자값(a)의 크기가 감소되도록 인자값(a)을 연산한다(S431).
이때, 연산된 복수 개의 경계값(B) 중 가장 큰 값은 상한 경계값(BH) 및 하한 경계값(BL) 중 상한 경계값(BH)으로 정의될 수 있다. 즉, 본 단계(S431)에서, 평균값(m)이 상한 경계값(BH)을 초과할 경우, 인자값 재설정 모듈(630)은 평균값(m)을 상한 경계값(BH) 이하로 조정하기 위해 인자값(a)의 크기가 감소되도록 인자값(a)을 재연산한다.
또한, 평균값(m)이 연산된 복수 개의 경계값(B) 중 가장 작은 값 미만일 경우, 인자값 재설정 모듈(630)은 인자값(a)의 크기가 증가되도록 인자값(a)을 연산한다(S432).
이때, 연산된 복수 개의 경계값(B) 중 가장 작은 값은 상한 경계값(BH) 및 하한 경계값(BL) 중 하한 경계값(BL)으로 정의될 수 있다. 즉, 본 단계(S431)에서, 평균값(m)이 상한 경계값(BH)을 초과할 경우, 인자값 재설정 모듈(630)은 평균값(m)을 상한 경계값(BH) 이하로 조정하기 위해 인자값(a)의 크기가 증가되도록 인자값(a)을 재연산한다.
또한, 일 실시 예에서, 인자값 재설정 모듈(630)은 연산된 평균값(m)의 추세를 이용하여 인자값(a)을 연산할 수 있다.
구체적으로, 도 15를 참조하면, 평균값 추세 연산 모듈(620)이 연산한 평균값(m)의 추세가 증가일 경우, 인자값 재설정 모듈(630)은 인자값(a)의 크기가 감소되도록 인자값(a)을 연산한다(S433).
즉, 인자값(a)과 평균값(m)이 비례 관계인 바, 인자값(a)의 크기를 감소시킴으로써 평균값(m)의 증가 추세가 완화되거나 유지 또는 감소 추세로 조정될 수 있다.
또한, 평균값 추세 연산 모듈(620)이 연산한 평균값(m)의 추세가 감소일 경우, 인자값 재설정 모듈(630)은 인자값(a)의 크기가 증가되도록 인자값(a)을 연산한다(S434).
즉, 인자값(a)과 평균값(m)이 비례 관계인 바, 인자값(a)의 크기를 증가시킴으로써 평균값(m)의 감소 추세가 완화되거나 유지 또는 증가 추세로 조정될 수 있다.
더 나아가, 평균값 추세 연산 모듈(620)이 연산한 평균값(m)의 추세가 유지일 경우, 인자값 재설정 모듈(630)은 인자값(a)의 크기가 유지되도록 인자값(a)을 연산한다(S435).
즉, 평균값(m)의 유지가 바람직한 상황이므로, 인자값(a) 또한 유지되도록 조정될 수 있다.
한편, 인자값 재설정 모듈(630)이 평균값(m)의 추세를 이용하여 인자값(a)을 연산할 경우, 인자값(a)의 변화 전 상태, 즉 기 설정된 인자값(a0)에 의한 평균값(m)은 상한 경계값(BH)과 하한 경계값(BL) 사이에 위치됨이 바람직하다. 더욱 바람직하게는, 기 설정된 인자값(a)에 의한 평균값(m) 은 제1 상한 경계값(BH1) 및 제1 하한 경계값(BL1) 사이에 위치됨이 바람직하다.
상술한 바와 같이, 제1 상한 경계값(BH1) 및 제1 하한 경계값(BL1) 사이에 위치되는 평균값(m)의 경우, 제작된 제품(P)이 "정상"인 것으로 판단될 수 있기 때문이다.
즉, 인자값 재설정 모듈(630)이 평균값(m)의 추세를 이용하여 인자값(a)을 연산하는 과정은, 평균값(m)이 상한 경계값(BH)과 하한 경계값(BL) 사이, 바람직하게는 제1 상한 경계값(BH1) 및 제1 하한 경계값(BL1) 사이에 위치되도록 인자값(a)을 조정하는 과정임이 이해될 것이다.
인자값 재설정 모듈(630)의 연산 결과는 제작 정보 입력 모듈(110), 인자값 연산 모듈(520) 또는 인자값 저장 모듈(720)에 전달될 수 있다.
도 16을 참조하면, 인자값 조정부(500)가 연산된 평균값(m) 및 경계값(B)을 이용하여 인자값(a)을 조정하는 단계(S500)의 세부 흐름이 도시된다. 본 단계(S500)는 인자값 조정부(500)가 각 제품(P)의 시험 결과 및 연산된 경계값(B)에 근거하여 인자값(a)을 새로 연산하는 단계(S500)이다.
평균값 비교 모듈(510)은 연산된 평균값(m)을 연산된 경계값(B)과 비교한다(S510). 이때, 평균값(m)은 평균값 연산부(400)에서, 경계값(B)은 경계값 연산부(600)에서 연산되어 평균값 비교 모듈(510)에 전달될 수 있다.
인자값 연산 모듈(520)은 평균값(m)과 경계값(B)의 대소 관계에 따라 인자값(a)을 연산한다(S520).
구체적으로, 연산된 평균값(m)이 상한 경계값(BH)을 초과할 경우, 인자값 연산 모듈(520)은 인자값(a)이 감소되도록 인자값(a)을 연산한다(S521).
또한, 연산된 평균값(m)이 하한 경계값(BL)을 초과할 경우, 인자값 연산 모듈(520)은 인자값(a)이 증가되도록 인자값(a)을 연산한다(S522).
즉, 상기 과정 역시 평균값(m)이 상한 경계값(BH)과 하한 경계값(BL), 즉, 인자값 재설정 모듈(630)이 평균값(m)의 추세를 이용하여 인자값(a)을 연산하는 과정은, 평균값(m)이 상한 경계값(BH)과 하한 경계값(BL) 사이, 바람직하게는 제1 상한 경계값(BH1) 및 제1 하한 경계값(BL1) 사이에 위치되도록 인자값(a)을 조정하는 과정임이 이해될 것이다.
도시되지는 않았으나, 인자값 연산 모듈(520)은 인자값 재설정 모듈(630)의 연산 결과, 즉 인자값(a)이 증가, 감소 또는 유지되도록 인자값(a)을 조정하기 위한 정보를 더 이용하여 인자값(a)을 연산할 수 있다.
인자값 연산 모듈(520)은 연산된 인자값(a)을 제작부(100)의 제작 정보 입력 모듈(110)에 전달한다(S530).
도 18을 참조하면, 제작부(100)가 조정된 인자값(a)에 따라 제품(P)을 제조하는 단계(S600)의 세부 흐름이 도시된다. 본 단계(S600)는 제작부(100)가 기 제작된 제품(P)의 시험 결과를 반영하여 연산된 인자값(a)을 반영하여 제품(P)을 제조하는 단계(S600)이다.
제작 정보 입력 모듈(110)은 인자값 조정부(500) 또는 경계값 연산부(600)가 연산한 인자값(a)을 전달받는다(S610). 제작 공정 수행 모듈(120)은 전달받은 인자값(a)에 따라 제품(P)을 제조한다(S620).
이때, 상술한 바와 같이, 제작 공정 수행 모듈(120)은 기 설정된 개수의 세트(S)는 기 설정된 인자값(a0)에 따라 제조를 수행하고, 그 이후의 세트(S)는 전달받은 인자값(a)에 따라 제조를 수행할 수 있다.
새로 연산된 인자값(a)이 반영되어 제작된 제품(P) 또한 이송부(200)를 따라 시험부(300)로 이동되어 시험 및 그 결과가 감지될 수 있음이 이해될 것이다.
따라서, 본 발명의 실시 예에 따른 피드백 제어 시스템(10)은 제품(P)이 제작되는 공정 동안 인자값(a)이 연속적으로, 그리고 실시간으로 연산 및 피드백되어 제품(P) 제작에 반영될 수 있다.
도 19를 참조하면, 데이터베이스부(700)가 연산된 평균값(m), 인자값(a) 및 경계값(B) 중 어느 하나 이상을 저장하는 단계(S700)의 세부 흐름이 도시된다. 본 단계(S700)는 데이터베이스부(700)가 평균값 연산부(400)가 연산한 평균값(m), 인자값 조정부(500)가 연산한 인자값(a) 및 경계값 연산부(600)가 연산한 경계값(B)을 전달받아 저장하는 단계(S700)이다.
평균값 저장 모듈(710)은 평균값 연산 모듈(420)이 연산한 평균값(m)을 전달받아 저장한다(S710). 인자값 저장 모듈(720)은 인자값 연산 모듈(520) 또는 인자값 재설정 모듈(630)이 연산한 인자값(a)을 전달받아 저장한다(S720). 경계값 저장 모듈(730)은 경계값 연산 모듈(610)이 연산한 경계값(B)을 전달받아 저장한다(S730).
데이터베이스부(700)에 저장되는 평균값(m), 인자값(a) 및 경계값(B)은 각각 제품(P)의 일련번호(serial number), 사양(specification) 등과 매핑되어 저장될 수 있다.
본 발명의 실시 예에 대하여 설명하였으나, 본 발명의 사상은 본 명세서에 제시되는 실시 예에 의해 제한되지 아니하며, 본 발명의 사상을 이해하는 당업자는 동일한 사상의 범위 내에서, 구성요소의 부가, 변경, 삭제, 추가 등에 의해서 다른 실시 예를 용이하게 제안할 수 있을 것이나, 이 또한 본 발명의 사상범위 내에 든다고 할 것이다.
10: 피드백 제어 시스템 100: 제작부
110: 제작 정보 입력 모듈 120: 제작 공정 수행 모듈
200: 이송부 210: 시험 라인
220: 통과 라인 300: 시험부
310: 시험 전류 인가 모듈 320: 결과 감지 모듈
400: 평균값 연산부 410: 그룹화 모듈
420: 평균값 연산 모듈 500: 인자값 조정부
510: 평균값 비교 모듈 520: 인자값 연산 모듈
600: 경계값 연산부 610: 경계값 연산 모듈
620: 평균값 추세 연산 모듈 630: 인자값 재설정 모듈
700: 데이터베이스부 710: 평균값 저장 모듈
720: 인자값 저장 모듈 730: 경계값 저장 모듈
P: 제품 D: 불량 제품
S: 세트 G: 그룹
a: 인자값 a0: 기 설정된 인자값
m: 평균값 T: 시간
B: 경계값 BH1: 제1 상한 경계값
BL1: 제1 하한 경계값 BH2: 제2 상한 경계값
BL2: 제2 하한 경계값 BH3: 제3 상한 경계값
BL3: 제3 하한 경계값

Claims (20)

  1. 기 설정된 인자값을 반영하여 제품을 제작하는 제작부;
    상기 제작부와 연결되어 제작된 상기 제품을 전달받고, 상기 제품에 시험 전류를 인가하여 상기 제품을 시험하고 그 결과를 감지하게 구성되는 시험부; 및
    상기 시험부가 감지한 상기 결과를 이용하여 상기 인자값을 조정하게 구성되는 인자값 조정부를 포함하며,
    상기 결과는 상기 시험 전류가 인가되어 상기 제품이 기 설정된 동작을 수행하는데 소요되는 시간에 대한 정보를 포함하고,
    상기 인자값 조정부는,
    복수 개의 상기 제품의 상기 결과의 평균값과 기 설정된 경계값을 비교하고, 그 결과를 이용하여 상기 인자값을 조정하게 구성되는,
    피드백 제어 시스템.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 시험부와 통전 가능하게 연결되어, 상기 결과를 전달받고, 복수 개의 상기 제품의 상기 결과의 평균값을 연산하게 구성되는 평균값 연산부를 포함하며,
    상기 평균값 연산부는,
    복수 개의 상기 제품을 각각 기 설정된 개수의 상기 제품을 포함하는 복수 개의 세트로 분류하고, 각각 기 설정된 개수의 상기 세트를 포함하는 복수 개의 그룹으로 상기 세트를 그룹화하는 그룹화 모듈; 및
    상기 그룹화 모듈에 의해 복수 개의 상기 제품이 그룹화된 각 그룹별로 상기 결과의 평균값을 연산하는 평균값 연산 모듈을 포함하는,
    피드백 제어 시스템.
  3. 제2항에 있어서,
    상기 제작부는, 복수 개의 제품을 순차적으로 제작하게 구성되고,
    상기 그룹화 모듈은,
    그룹화된 어느 하나의 그룹에 포함되는 복수 개의 상기 세트 중 가장 먼저 제작된 제품을 포함하는 어느 하나의 세트를 제외하고,
    상기 어느 하나의 그룹에 후행하는 다른 하나의 그룹에 포함되는 복수 개의 상기 세트 중 가장 먼저 제작된 제품을 포함하는 어느 하나의 세트를 상기 어느 하나의 그룹에 추가하여, 새로운 그룹을 정의하게 구성되는,
    피드백 제어 시스템.
  4. 제2항에 있어서,
    상기 인자값 조정부는,
    그룹화된 상기 각 그룹별로 연산된 상기 평균값과 기 설정된 상기 경계값을 비교하는 평균값 비교 모듈; 및
    상기 평균값 비교 모듈이 연산한 상기 평균값과 상기 경계값의 대소 관계를 이용하여 상기 인자값을 연산하는 인자값 연산 모듈을 포함하는,
    피드백 제어 시스템.
  5. 제4항에 있어서,
    기 설정된 상기 경계값은,
    상한 경계값 및 상기 상한 경계값 미만인 하한 경계값을 포함하고,
    상기 인자값 연산 모듈은,
    연산된 상기 평균값이 상기 상한 경계값을 초과할 경우, 상기 결과가 감소되도록 상기 인자값을 연산하고,
    연산된 상기 평균값이 상기 하한 경계값 미만일 경우, 상기 결과가 증가되도록 상기 인자값을 연산하는,
    피드백 제어 시스템.
  6. 제1항에 있어서,
    상기 시험부가 감지한 복수 개의 상기 제품의 상기 결과의 최빈값을 이용하여 경계값을 연산하게 구성되는 경계값 연산부를 포함하며,
    상기 경계값 연산부는,
    복수 개의 상기 제품이 그룹화된 상기 그룹 각각의 상기 최빈값을 이용하여 상기 경계값을 연산하는 경계값 연산 모듈을 포함하는,
    피드백 제어 시스템.
  7. 제6항에 있어서,
    상기 경계값 연산 모듈은,
    복수 개의 상기 그룹에 대한 복수 개의 상기 최빈값 중 가장 큰 값을 상한 경계값으로 연산하고,
    복수 개의 상기 그룹에 대한 복수 개의 상기 최빈값 중 가장 낮은 값을 하한 경계값으로 연산하며,
    단수 개의 그룹에 포함되는, 기 설정된 기준을 만족하지 않는 불량 제품의 개수에 따라 상기 상한 경계값 및 상기 하한 경계값을 각각 복수 개 연산하는,
    피드백 제어 시스템.
  8. 제6항에 있어서,
    상기 경계값 연산부는,
    복수 개의 상기 그룹 각각의 상기 평균값의 추세에 대한 정보를 연산하는 평균값 추세 연산 모듈; 및
    상기 평균값의 추세에 대한 정보를 이용하여 상기 인자값을 연산하는 인자값 재설정 모듈을 포함하고,
    상기 인자값 재설정 모듈은,
    상기 평균값의 추세에 대한 정보가 증가일 경우, 상기 평균값이 감소되도록 상기 인자값을 연산하고,
    상기 평균값의 추세에 대한 정보가 감소일 경우, 상기 평균값이 증가되도록 상기 인자값을 연산하는,
    피드백 제어 시스템.
  9. (a) 제작부가 기 설정된 인자값에 따라 제품을 제조하는 단계;
    (b) 시험부가 제조된 상기 제품에 시험 전류를 인가하여 상기 제품을 시험 평가하는 단계;
    (c) 평균값 연산부가 복수 개의 상기 제품의 시험 결과에 대한 평균값을 연산하는 단계;
    (d) 인자값 조정부가 연산된 상기 평균값을 이용하여 상기 인자값을 조정하는 단계; 및
    (e) 상기 제작부가 조정된 상기 인자값에 따라 상기 제품을 제조하는 단계를 포함하는,
    피드백 제어 시스템의 제어 방법.
  10. 제9항에 있어서,
    상기 (b) 단계는,
    (b1) 시험 전류 인가 모듈이 상기 제품에 상기 시험 전류를 인가하는 단계;
    (b2) 결과 감지 모듈이 인가된 상기 시험 전류에 의해 상기 제품이 작동하는 시간에 대한 정보를 감지하는 단계; 및
    (b3) 상기 결과 감지 모듈이 감지된 상기 정보를 상기 평균값 연산부에 전달하는 단계를 포함하는,
    피드백 제어 시스템의 제어 방법.
  11. 제9항에 있어서,
    상기 (c) 단계는,
    (c1) 그룹화 모듈이 복수 개의 상기 제품을 복수 개의 세트로 분류하는 단계;
    (c2) 상기 그룹화 모듈이 분류된 복수 개의 상기 세트를 복수 개의 그룹으로 그룹화하는 단계;
    (c3) 평균값 연산 모듈이 복수 개의 상기 그룹에 각각 포함되는 복수 개의 상기 제품의 시험 결과에 대한 상기 평균값을 각각 연산하는 단계; 및
    (c4) 평균값 연산 모듈이 연산된 상기 평균값을 상기 인자값 조정부로 전달하는 단계를 포함하고,
    상기 (c2) 단계는,
    (c21) 상기 그룹화 모듈이 제조된 순서에 따라 복수 개의 상기 세트를 기 설정된 개수로 그룹화하는 단계; 및
    (c22) 상기 그룹화 모듈이 그룹화된 복수 개의 상기 세트 중 가장 먼저 제조된 일 세트를 제외하고, 가장 나중에 제조된 일 세트 이후에 제조된 다른 세트를 추가하여 새로운 그룹을 정의하는 단계를 포함하는,
    피드백 제어 시스템의 제어 방법.
  12. 제9항에 있어서,
    상기 (d) 단계는,
    (d1) 평균값 비교 모듈이 연산된 상기 평균값을 기 설정된 경계값과 비교하는 단계;
    (d2) 인자값 연산 모듈이 상기 평균값과 상기 경계값의 대소 관계에 따라 상기 인자값을 연산하는 단계; 및
    (d3) 상기 인자값 연산 모듈이 연산된 상기 인자값을 상기 제작부에 전달하는 단계를 포함하는,
    피드백 제어 시스템의 제어 방법.
  13. 제12항에 있어서,
    상기 경계값은, 상한 경계값 및 상기 상한 경계값 미만인 하한 경계값을 포함하고,
    상기 (d2) 단계는,
    (d21) 상기 평균값이 상기 상한 경계값을 초과할 경우, 상기 인자값 연산 모듈이 상기 인자값이 감소되도록 상기 인자값을 연산하는 단계; 및
    (d22) 상기 평균값이 상기 하한 경계값 미만일 경우, 상기 인자값 연산 모듈이 상기 인자값이 증가되도록 상기 인자값을 연산하는 단계를 포함하는,
    피드백 제어 시스템의 제어 방법.
  14. 제12항에 있어서,
    상기 (c) 단계 이후 상기 (d) 단계 이전에,
    (c') 경계값 연산부가 복수 개의 상기 제품의 시험 결과를 이용하여 경계값을 연산하는 단계를 포함하고,
    상기 (c') 단계는,
    (c1') 경계값 연산 모듈이 그룹화된 복수 개의 상기 제품의 시험 결과의 최빈값(mode)을 이용하여 경계값을 연산하는 단계;
    (c2') 평균값 추세 연산 모듈이 연산된 상기 평균값과 상기 경계값을 비교하는 단계; 및
    (c3') 인자값 재설정 모듈이 상기 평균값과 상기 경계값의 비교 결과에 따라 상기 인자값을 조정하는 단계를 포함하는,
    피드백 제어 시스템의 제어 방법.
  15. 제14항에 있어서,
    상기 경계값 연산 모듈은, 상기 경계값을 그 빈도에 따라 복수 개 연산하고,
    상기 (c1') 단계는,
    (c11') 상기 경계값 연산 모듈이 기 설정된 기준을 만족하지 않는 불량 제품을 포함하는 그룹의 복수 개의 상기 경계값 중 가장 큰 값을 상한 경계값으로 연산하고, 가장 작은 값을 하한 경계값으로 연산하는 단계; 및
    (c12') 상기 경계값 연산 모듈이 각 그룹에 포함되는 상기 불량 제품의 개수에 따라, 상기 상한 경계값 및 상기 하한 경계값을 각각 연산하는 단계를 포함하는,
    피드백 제어 시스템의 제어 방법.
  16. 제15항에 있어서,
    상기 (c12') 단계는,
    (c121') 상기 불량 제품의 개수가 제1 개수일 경우, 상기 경계값 연산 모듈이 제1 상한 경계값 및 제1 하한 경계값을 연산하는 단계;
    (c122') 상기 불량 제품의 개수가 제2 개수일 경우, 상기 경계값 연산 모듈이 상기 제1 상한 경계값을 초과하는 제2 상한 경계값 및 상기 제1 하한 경계값 미만인 제2 하한 경계값을 연산하는 단계; 및
    (c123') 상기 불량 제품의 개수가 제3 개수일 경우, 상기 경계값 연산 모듈이 상기 제2 상한 경계값을 초과하는 제3 상한 경계값 및 상기 제2 하한 경계값 미만인 제3 하한 경계값을 연산하는 단계를 포함하는,
    피드백 제어 시스템의 제어 방법.
  17. 제14항에 있어서,
    상기 (c2') 단계는,
    (c21') 상기 평균값 추세 연산 모듈이 복수 개의 그룹 각각의 상기 평균값을 상기 경계값과 비교하는 단계; 및
    (c22') 상기 평균값 추세 연산 모듈이 복수 개의 상기 평균값의 추세를, 증가, 감소 및 유지 중 어느 하나로 연산하는 단계를 포함하는,
    피드백 제어 시스템의 제어 방법.
  18. 제14항에 있어서,
    상기 경계값 연산 모듈은, 그룹화된 복수 개의 상기 제품의 시험 결과의 경계값을 그 빈도에 따라 복수 개 연산하고,
    상기 (c3') 단계는,
    (c31') 상기 평균값이 연산된 복수 개의 상기 경계값 중 가장 큰 값을 초과할 경우, 상기 인자값 재설정 모듈이 상기 인자값의 크기가 감소되도록 상기 인자값을 연산하는 단계; 및
    (c32') 상기 평균값이 연산된 복수 개의 상기 경계값 중 가장 작은 값 미만일 경우, 상기 인자값 재설정 모듈이 상기 인자값의 크기가 증가되도록 상기 인자값을 연산하는 단계를 포함하는,
    피드백 제어 시스템의 제어 방법.
  19. 제14항에 있어서,
    상기 (c3') 단계는,
    (c33') 상기 평균값 추세 연산 모듈이 연산한 상기 평균값의 추세가 증가일 경우, 상기 인자값 재설정 모듈이 상기 인자값의 크기가 감소되도록 상기 인자값을 연산하는 단계;
    (c34') 상기 평균값 추세 연산 모듈이 연산한 상기 평균값의 추세가 감소일 경우, 상기 인자값 재설정 모듈이 상기 인자값의 크기가 증가되도록 상기 인자값을 연산하는 단계; 및
    (c35') 상기 평균값 추세 연산 모듈이 연산한 상기 평균값의 추세가 유지일 경우, 상기 인자값 재설정 모듈이 상기 인자값의 크기가 유지되도록 상기 인자값을 연산하는 단계를 포함하는,
    피드백 제어 시스템의 제어 방법.
  20. 제19항에 있어서,
    상기 경계값 연산부는, 기 설정된 기준을 만족하지 않는 불량 제품을 포함하는 그룹의 복수 개의 상기 경계값 중 가장 큰 값을 상한 경계값으로 연산하고, 가장 작은 값을 하한 경계값으로 연산하고,
    상기 (d2) 단계는,
    (d21) 상기 평균값이 상기 상한 경계값을 초과할 경우, 상기 인자값 연산 모듈이 상기 인자값이 감소되도록 상기 인자값을 연산하는 단계; 및
    (d22) 상기 평균값이 상기 하한 경계값 미만일 경우, 상기 인자값 연산 모듈이 상기 인자값이 증가되도록 상기 인자값을 연산하는 단계를 포함하는,
    피드백 제어 시스템의 제어 방법.
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