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WO2005011544A1 - Verfahren, vorrichtung und system zur bestimmung eines systemparameters eines laserstrahl-behandlungssystems - Google Patents

Verfahren, vorrichtung und system zur bestimmung eines systemparameters eines laserstrahl-behandlungssystems Download PDF

Info

Publication number
WO2005011544A1
WO2005011544A1 PCT/EP2004/007733 EP2004007733W WO2005011544A1 WO 2005011544 A1 WO2005011544 A1 WO 2005011544A1 EP 2004007733 W EP2004007733 W EP 2004007733W WO 2005011544 A1 WO2005011544 A1 WO 2005011544A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
treatment
system parameter
target
examination
laser beam
Prior art date
Application number
PCT/EP2004/007733
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
Manfred Dick
Hartmut Vogelsang
Original Assignee
Carl Zeiss Meditec Ag
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Carl Zeiss Meditec Ag filed Critical Carl Zeiss Meditec Ag
Priority to US10/565,511 priority Critical patent/US8303577B2/en
Publication of WO2005011544A1 publication Critical patent/WO2005011544A1/de

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    • A61F2009/00878Planning
    • A61F2009/0088Planning based on wavefront

Definitions

  • the invention relates to a method for determining actual values and / or deviations from target values of at least one system parameter of a treatment system for treating an eye with a laser beam and to means for carrying out the method.
  • Laser surgery of the cornea of the human eye is an established method for the treatment of visual defects that are caused by deviations in the shape of the cornea from the ideal shape.
  • a treatment laser for example an excimer laser, is used to remove material from the cornea, e.g. removed ablatively.
  • spot scanning systems in which a treatment laser beam of the treatment system or the corresponding treatment laser beam spot is moved over the cornea by means of a deflection device, also referred to as a scanning unit, in accordance with a predetermined ablation program and causes ablation at predetermined locations.
  • the lasers used are primarily characterized by a small effective spot diameter, which allows small areas on the cornea to be ablated and thus locally to modify the refractive power of the cornea and the eye.
  • This treatment method allows individual corrections, which are also called “Customized Ablation”. These corrections include not only the spherocylindrical correction of vision defects, but also the correction of corneal irregularities, in particular also spatially very small artifacts, and higher aberrations, ie in particular also higher order aberrations of the eye characterized by high spatial frequencies.
  • a measurement of the corneal topography or an examination of the eye using an aberrometer is first carried out in order to detect the irregularities or aberrations.
  • ablation programs are then calculated before the operation by means of appropriate programs, which are based, among other things, on empirical values for the ablation behavior of the cornea and determine the guidance of the treatment laser beam and its intensity as a function of time. Material is then unloaded from the cornea with the treatment laser beam emitted and guided by the treatment system in accordance with the calculated ablation program.
  • the ablation depths within the cornea are usually only a fraction of the ablation depths that are necessary for the correction of the low-order refraction, in particular a sphero-cylindrical correction. While spherical-cylindrical corrections require approx. 12 ⁇ m ablation per diopter on a 6 mm treatment pupil, the correction of higher aberrations will result in the necessary local changes in refractive power even with slight ablation, i.e. mostly achieved with one or a few laser pulses.
  • the stability and the device side Quality of the calibration of the laser system and the deflection device is important.
  • the treatment systems are therefore adjusted accordingly to maintain the specified values of the system parameters both at the factory and later during maintenance work. Two methods are known for this.
  • the treatment system which has a treatment laser, is used to treat a predetermined test film on which an appropriate pattern is created, in accordance with an ablation program specially designed for this test.
  • Local breakthrough thresholds in the test film allow the pulse energy of the treatment laser to be readjusted.
  • this method can approximately determine the half-width of the spot diameter of the treatment laser beam.
  • control information about the quality of the scanner system of the treatment system can be obtained.
  • predetermined spherical-cylindrical PMMA lenses can be ablated with an ablation program for spherical-cylindrical correction.
  • the refractive power of the lenses thus obtained can, for. B. by a focal length determination, for example by means of a so-called lens meter, determined down to about 0J diopter and compared with an expected target value for the refractive power.
  • the pulse energy is then readjusted for calibration.
  • the pulse energy or fluence of the treatment laser is also measured online during the treatment, which permits readjustment to improve the success of the treatment during the ablation procedure of the treatment.
  • the methods do not allow a determination of further system parameters of the treatment system, which can have a considerable influence on the accuracy requirements mentioned at the outset, in particular for "customized ablation".
  • only indirect control over the ablation behavior of the treatment system is obtained from the measurement of the energy.
  • the real progress of the ablation during the treatment cannot be measured, so that one has to rely on empirical values for the adjustment. Therefore, fluctuations in system parameters during treatment still limit the precision of the treatment.
  • the present invention is therefore based on the object of creating a method with which an actual value of a system parameter or a deviation from a target value of the system parameter of a system for treating an eye with laser radiation can be determined, and to provide a corresponding treatment device.
  • the object is achieved by a method for determining an actual value of at least one system parameter or a deviation from a target value of at least one System parameters of an eye treatment system by means of a treatment laser beam emitted by the eye treatment system, wherein a surface of a calibration body is ablated with at least one partial beam of the treatment laser beam according to a predetermined ablation program, the surface ablated by the treatment laser beam is examined by means of aberrometry and / or profilometry, and from at Examination determined examination data, the actual value of the system parameter or the deviation from the target value of the system parameter is determined.
  • a system parameter determination device for determining at least one actual value of a system parameter or a deviation from a target value of at least one system parameter of an eye treatment system by means of a treatment laser beam emitted by the system, with a device for examining at least a section of a discharged one Surface of an ablated calibration body with aberrometry and / or profilometry, and an evaluation device connected to the examination device, which determines the actual value of the system parameter or the deviation from the target value of the system parameter from the examination data determined during the examination.
  • An eye treatment system is understood to mean a system which comprises a treatment laser for delivering a treatment laser beam, a deflection device for deflecting the treatment laser beam and a control device which controls the delivery and positioning of the treatment laser beam in space and time.
  • an eye treatment system which has a treatment laser for delivering a treatment laser beam, a deflection device for deflecting the treatment laser beam, a control device which controls the delivery and positioning of the treatment laser beam in space and time, a holder for one with at least one partial beam of the Treatment laser beam for ablation calibrated body, and a system parameter determination device according to the invention for determining at least one actual value or a deviation from a target value of at least one system parameter of the eye treatment system.
  • the eye treatment system in the sense of the invention can in principle be designed for any treatment of the eye.
  • the invention is particularly suitable for treatment systems for ablative correction of the cornea of the eye.
  • a system parameter is understood to mean any parameter that describes the state and / or the function of the treatment system.
  • system parameters Serve directly physically measurable quantities and / or also empirically or operationally defined quantities.
  • system parameters can include parameters related to properties of the treatment laser beam and parameters related to the . Include deflection of the treatment laser beam.
  • the system parameters can relate in particular to the physical state of the treatment system, for example the adjustment of the treatment laser and / or the deflection device, the function, for example properties of the laser beam emitted, or also control parameters or a control program of the control device.
  • the system parameter is selected from the group: centering and / or position of the deflection device in relation to a device for tracking the eye movement; the mean total fluence and / or energy and / or power of the treatment laser beam; the half-width of the treatment laser beam; Information about the spot shape of the treatment laser beam; the energy distribution in the treatment spot, in particular hot spots therein; the characteristics of the transition zone between optically active and inactive ablation zone and their relationship to the beam parameters; the short and long-term stability or fluctuations of the total fluence and / or energy and / or power of the treatment laser beam; the short and long term drift of the deflection device; the deviations from the optimal working distance, the efficiency of the extraction or removal of flue gas that arises from the ablated material during ablation; the temperature stability and the dependency of the system parameters on other environmental parameters.
  • the device for tracking the eye movement can in particular be an “eye track
  • the actual value or the deviation of the actual value from the target value of the system parameter is not checked directly, but indirectly via the ablation of a calibration body.
  • the method is based, among other things, on the fact that deviations in the actual values of certain system parameters result in certain characteristic changes in the local optical properties, in particular in the topography or shape of the surface, of the ablated calibration body, which can be detected by means of aberrometry and / or profilometry are.
  • Actual values of the system parameter or deviations of the system parameter from a corresponding target value can be determined from the examination data of the aberrometry and / or the profilometry, ie aberrometry and / or topography data, for example, by using known relationships between system parameters and ablation profiles.
  • the ablation depth as a function of the laser fluence or the shape and depth of the transition zone or the shape deviations of certain higher aberrations generated in the calibration body as a function of the spot shape may be mentioned as examples.
  • the calibration body Before the ablation, the calibration body has a precisely determined surface suitable for carrying out the method and, at least in the area of possible ablations, a predetermined ablation behavior.
  • the optical properties of the calibration body are preferably selected as a function of the examination method used for the examination of the surface.
  • the calibration body can be transparent to the optical radiation used in the aberrometer, but when using certain methods for profilometry, it is preferably absorbent or reflective.
  • the calibration body is held in the holder for the calibration body illuminated with at least one partial beam of the treatment laser beam during ablation with the treatment laser beam or its partial beam.
  • the calibration body can, if necessary, be contained in a holder which can be inserted mechanically precisely and reproducibly into the holder and thus the beam path of the treatment laser beam or the partial beam.
  • the system parameter determination device according to the invention can also have a holder for the calibration body, in which the calibration body is held during the ablation. The system parameter determination device can then be used for any treatment systems.
  • a predetermined ablation pattern with given system parameters of the eye treatment system is unloaded on the calibration body in accordance with a predetermined ablation program.
  • the ablation can be carried out with the treatment laser beam or even only a partial beam of the treatment laser beam.
  • the partial beam it must of course be ensured that it is known how the properties of the partial beam depend on those of the treatment laser beam. This can be achieved using a suitable beam splitter, for example.
  • the ablation can not only cause a change in its shape, but also local changes in the refractive index due to laser-induced changes in the material of the calibration body.
  • the treatment laser beam is processed in accordance with an ablation program, i.e. a predetermined temporal and local intensity profile of the treatment laser beam on the calibration body or eye, controlled.
  • the ablation program or the specified ablation pattern can, on the one hand, be an ablation program or pattern intended only for the examination, which is based on specially defined theoretical and / or real aberration and / or topography and / or wavefront data was calculated and allows a particularly good examination and evaluation of the data recorded in the aberrometry or profilometry, for example topography and / or wavefront data, in particular with simultaneous examination with respect to several system parameters simultaneously.
  • the ablation pattern can include any surface profiles, for example a sphere, a cylinder, individual spots in a given geometry, series of excimer laser spots in a given geometry or higher-order aberrations.
  • the ablation program is designed in such a way to generate a surface profile on the calibration body during ablation which, when examined with optical aberrometry or with profilometry, higher-order aberrations, i.e. with high spatial frequencies.
  • an ablation program provided for the treatment can also be used, so that the quality achievable on the basis of the current state of the laser system can be checked and, if necessary, readjusted or used to adapt the ablation profiles immediately before the operation.
  • the system parameter determination device has the examination device, which in particular can comprise an aberrometer and / or a profilometer.
  • Aberrometry of the calibration body is understood to mean in particular the detection of the deflection of rays or bundles of rays when they pass through the calibration body as a function of the location of the passage or the local deflection of a wavefront when they pass through the calibration body, for example by means of an aberrometer. Since, in addition to changing the shape of the calibration body, depending on the material used for the calibration body, in principle If the local refractive index changes due to laser-induced changes in the material parameters, such changes are preferably also detected during the examination.
  • Profilometry is understood to mean any method that allows the surface profile of the ablated calibration body to be recorded at least in a part of the ablated surface.
  • Topography systems in particular can be used as a profilometer.
  • the examination device can further comprise, in particular, a measurement data processing device by means of which the recorded data can be evaluated.
  • the measurement data processing device can be provided as a unit of the aberrometer or profilometer which is separate from the treatment system and combined with measurement data acquisition, or can also be integrated into the treatment system.
  • the measurement data processing device for an aberrometer reconstructs the wavefront from the acquired wavefront measurement data, for example.
  • the actual value of the system parameter or a deviation from a target value is determined from the examination data.
  • the examination device is connected to an evaluation device via a corresponding data connection.
  • the evaluation device can in particular have a data processing device which is programmed to carry out the method.
  • the evaluation device can represent a separate unit or can be integrated in the examination device or in the treatment system.
  • An advantage over the conventional methods is that by examining the calibration bodies using spatially high-resolution three-dimensional methods, namely aberrometry or profilometry, it is possible for the first time to record the three-dimensional ablation behavior not only integrally, but with a high lateral resolution. Only then can small and sensitive disturbances in the values of the system parameters be avoided that would otherwise be lost in an integral measurement, for example the Fluence.
  • the examination of calibration bodies, whose ablated surfaces cause higher aberrations and / or high spatial frequencies in an optical image, for example, using aberrometry and / or profilometry is significantly more sensitive to deviations from the spot shape, spot size, or drift of the deflection device from corresponding target values than that Investigation of the refractive power of simple ablated PMMA lenses, for example by means of a lens meter or the examination of two-dimensional patterns on fluence paper or foil. The monitoring of the system parameters is therefore more precise.
  • the invention can also be used to document the condition at least before or even during treatment with very little effort, so that a doctor can easily prove a correct setting later.
  • the calibration body can in principle have any shape as long as the surface of the calibration body to be ablated and examined is known with sufficient accuracy prior to ablation and preferably corresponds to a predetermined shape.
  • a plate-shaped calibration body is used for the ablation in the area to be ablated.
  • such calibration bodies In the unloaded state, such calibration bodies have no aberrations during an examination and therefore allow simple determination of the system parameters. In addition, they are very easy and inexpensive to manufacture with a sufficiently well defined surface.
  • a calibration body which has a spherical shape at least in the area to be ablated and examined.
  • the curvature in this area preferably corresponds to the mean corneal curvature of the eye.
  • a calibration body which has an at least partially ablated surface area with the shape of the corneal section of the eye to be treated.
  • a body can be examined, for example, by examining the eye of a patient with aberrometry or profilometry and corresponding pre-ablation of the patient Calibration body are obtained before its use for system parameter determination.
  • This shape of the calibration body allows a particularly accurate and low-error transfer of the ablation results from the calibration body to the cornea.
  • the ablation program used can be checked by examining the quality of the calibration body preloaded with the ablation program intended for treatment.
  • the material of the calibration body can in principle be chosen as long as it can be reproducibly ablated.
  • the material is preferably optically homogeneous at least before the ablation in the range of the wavelength used for the examination.
  • gelatin can be used as a very inexpensive material. Because of the advantageous ablation behavior and the simple manufacture, however, it is preferred that a polymethyl methacrylate calibration body is used as the calibration body.
  • the treatment laser beam should generally not penetrate the examination device. It is therefore preferred that a calibration body is used which is not transmissive for a wavelength of an optical radiation used in the aberrometry or profilometry for the measurement. The calibration body then allows little or no treatment radiation to enter the examination device.
  • PMMA polymethyl methacrylate
  • PMMA is used, which is characterized in that it is at a wavelength in the range of 193 nm, i.e. the wavelength of excimer lasers used in typical treatment systems is opaque.
  • a filter is used to separate the treatment laser beam and the optical radiation used for the examination. It is therefore advantageous for the system parameter determination device according to the invention to assign a filter that is opaque to optical radiation with the polarization and / or wavelength of the treatment laser beam in the beam path of the examination device in front of a photodetector of the examination device.
  • the filter can have a wavelength-specific and / or - when using a polarized treatment laser beam - polarization-specific effects and is in particular transparent to the optical radiation used for the examination.
  • the calibration body or the holder for the calibration body can in principle be arranged as desired. However, it is preferred that the calibration body is arranged in the examination in the working plane of the treatment system or in a plane equivalent or conjugate to it.
  • An equivalent level is understood to mean a level in which the treatment laser beam or the partial beam has essentially the same properties as in the working plane.
  • a beam deflection can be provided in the beam path of the treatment system, which deflects the treatment laser beam or only a partial beam to the equivalent plane, the beam covering the same optical path length. This then results in the ablation profiles that reproduce particularly precisely during the treatment and values of the system parameter determined therefrom.
  • the holder is in a
  • Treatment beam path of the treatment system is movable in and out of this. If it is arranged in the treatment beam path, the holder is particularly preferably arranged in the working plane of the treatment system.
  • the holder can in particular be held, pivoted or moved on a carrier. In this way, the calibration body can be brought very easily and precisely into the treatment beam path and in particular into the later working plane of the treatment system.
  • the holder can be moved manually or, preferably, by a drive. The is particularly preferred
  • the examination device with the holder is mounted as a unit on or on a carrier of the treatment system and can be moved into and out of the treatment beam path.
  • the examination device with the aberrometer and / or profilometer and the holder can in particular be pivoted or shifted.
  • the calibration body can be held very simply and precisely in the examination device or the aberrometer and / or profilometer, which can increase the accuracy of the examination.
  • This arrangement ensures a very precise alignment of the examination device and holder, and thus also the calibration body in the holder, with one another even when used repeatedly, so that alignment or adjustment errors are very easily avoided.
  • the examination device with the holder can be moved manually or, preferably, by a drive.
  • the drive can particularly preferably be controlled by the control device of the treatment system, so that the examination device with the holder can be moved automatically into and out of the treatment beam path.
  • the method according to the invention can be carried out independently of a treatment, for example for factory calibration, for checking during maintenance or for calibration before treatment. However, it is particularly expedient to carry out the method during treatment of the eye.
  • the system parameter can be determined continuously or alternately with individual treatment sub-steps. In this case, depending on the frequency of the examination, in particular the detection frequency of the aberrometer. or the profilometer, the actual values of the system parameter or the deviations from the target value of the system parameter in appropriate time intervals. In particular, fluctuations in the system parameters during treatment can be determined, for example drift of the deflection device, fluence fluctuations, etc.
  • a deflection device e.g. is arranged with a mirror movable between two positions so that the treatment laser beam falls on the eye or on the calibration body. In this way, the calibration body need not be moved. Furthermore, the treatment laser beam can be used for treatment without being weakened. In principle, confirmation of the linkage device, e.g. the movement of the mirror, done manually. An automatic drive is for use during treatment. The deflection is then preferably synchronized with the delivery of the treatment laser beam. The same ablation program can then be carried out essentially synchronously on the cornea and on the calibration body. It is particularly easy to use a mirror that is rotatably mounted on the mirror, since it is mechanically and structurally simple to deflect.
  • the treatment laser beam is divided and the calibration body is ablated with one partial beam and the eye is treated with the other partial beam.
  • a beam splitter in the treatment beam path of the treatment system, which splits a partial beam from the treatment laser beam for ablation of the calibration body and which is held in the holder arranged outside the treatment beam path. In this way, the system parameters can be checked during treatment.
  • the optical properties of the beam splitter should be taken into account insofar as they have an influence on the properties of the partial beam.
  • a semi-transparent mirror can be used as a beam splitter.
  • the aforementioned deflection device and / or the beam splitter is arranged behind focusing optics or the deflection device of the treatment system. In this way, system parameters for the focusing optics and the deflection device can also be determined. Furthermore, when using a beam splitter, the partial beam of the treatment laser beam used for the ablation of the calibration body can easily be controlled according to the same ablation program as the treatment laser beam treating the eye.
  • the surface of the calibration body can be examined using a separate examination device that is independent of the treatment system.
  • the aberrometer or profilometer of the examination device can be integrated into the treatment system; in particular, the aberrometer and / or profilometer can be firmly connected to the treatment system. It is particularly preferred that the aberrometer and / or as a profilometer for the examination device can be used in the treatment system for examining the eye, since this results in a particularly compact treatment system which is also constructed inexpensively.
  • This embodiment is particularly advantageous in combination with a calibration body holder which can be moved into and out of the treatment beam path.
  • a measuring beam bundle which is used for examining the calibration body, is coupled collinearly to the treatment laser beam or a partial beam divided therefrom into the beam path of the treatment laser beam or the partial beam for ablation of the calibration body.
  • a measuring beam path of the examination device is at least partially collinear with a beam path of the treatment laser beam.
  • any aberrometric method or any aberrometer can be used in the examination device according to the invention.
  • the examination device In order to determine aberrations of even higher orders in a particularly simple and reliable manner, it is preferred, however, that in order to examine the ablation state of the ablated calibration body, data of a wavefront influenced by the ablated calibration body or a change in the wavefront are recorded and evaluated.
  • the examination device it is preferred for the examination device to comprise an aberrometer based on wavefront data.
  • any suitable aberrometer can be used for this.
  • the aberrometer can work interferometrically and have, for example, a Twyman Green sensor.
  • aberrometers with geometrically operating sensors for example Tscherning aberrometers or systems which operate according to the retinoscope principle, are preferably used.
  • the aberrometer can also do one.
  • such aberrometers have a very high resolution and high detection frequency.
  • any profilometry method or device can be used.
  • the examination device comprises an optically operating profilometer.
  • profilometry methods or profilometers allow rapid, contactless determination of height profiles or topography data.
  • placido ring topography devices of ophthalmology or other optical surface profilometers can be used as profilometers.
  • an actual value and / or a deviation from a corresponding target value for at least two system parameters are determined from the same examination data. These can be selected in particular from the list of system parameters mentioned above. Accordingly, it is preferred in the system parameter determination device according to the invention that the evaluation device is designed to determine the actual value and / or the deviation from a corresponding target value from the same examination data for at least two system parameters. The determination on the basis of the same examination data can be carried out essentially simultaneously, so that no additional time is required. Particularly preferably, the actual values or the deviations from corresponding target values for more than two system parameters can be determined accordingly in the preferred embodiments and developments of the invention described above and below in relation to a system parameter.
  • the actual value of the system parameter can be determined absolutely from the examination data, for which purpose preferably theoretical or empirically determined relationships can be used. This actual value can then be compared with a predetermined target value.
  • the deviation of the actual value of the system parameter from the target value or the deviations of the actual values of the system parameters from the target values is determined on the basis of a comparison of the examination data with corresponding reference data.
  • the system parameter determination device it is expedient in the system parameter determination device according to the invention to design the evaluation device for determining the deviation of the actual value of the system parameters from the target value or the deviations of the actual values of the system parameters from the target values by comparing the examination data with corresponding reference data.
  • Such a comparison is usually easier to carry out since the absolute target values do not necessarily have to be known explicitly.
  • An actual value can be determined absolutely for one system parameter and a deviation from a target value for another system parameter.
  • the reference data are given by corresponding theoretical values or by data that are previously determined on a given treatment system, in which the system parameters have the desired values, by ablation and measurement of a calibration body.
  • This solution is based on fixed ablation patterns, e.g. possible with certain ablation data for well-defined higher aberration terms.
  • a reference body is advantageously examined after application of a predetermined ablation pattern with aberrometry and / or profilometry, and the examination data obtained are used as reference data.
  • the reference body has been obtained by ablation of a body corresponding to the calibration body with a treatment system in which the system parameters have the predetermined target values.
  • the reference body can be obtained directly by ablation or by taking an impression of a previously unloaded body. In this way, the reference data can easily be generated anew.
  • Corresponding reference bodies can in particular be used for different calibration bodies. Furthermore, peculiarities of the aberrometer and / or profilometer are easily taken into account.
  • a reference body can be used which has a predetermined reference ablation pattern.
  • the reference body can be moved into a measuring beam path of the examination device.
  • This reference body can be introduced into the examination device and measured or examined at any time and very simply manually or, preferably, automatically.
  • the examination data of the reference body obtained in this way then represent the reference data for comparison with the data of the body unloaded before or during the treatment.
  • a new calibration body if the method is carried out cyclically, and reference data for the current cycle are determined from examination data from a previous cycle.
  • the evaluation device it is preferred for the evaluation device to be designed to determine reference data for the current cycle from examination data from a previous cycle in the case of cyclical acquisition of examination data.
  • the target values of the system parameters or otherwise the actual values can be used for the determination either with a corresponding correction of the system parameters.
  • Different ways can be followed for comparing the examination data of the currently generated and measured calibration bodies with either the reference data or the examination data of the measured reference body.
  • modal or zonally reconstructed wavefront representations or topography elevation data e.g. difference methods, differential methods, torque methods or other generally known mathematical methods and their combinations are suitable for comparing the measured data and those determined during the examination with the reference data and determine deviations in the system parameters for the treatment system from the deviations and, if necessary, determine them quantitatively.
  • the determined deviation of the system parameters from target values can then be output.
  • the method or the device can be passed on for the calibration of a system for treating an eye.
  • the system parameter determination device has a correction value determination device which, depending on the determined actual value of the system parameter or the actual values of the system parameters and / or the deviation of the system parameter from the target value or the deviations of the system parameters from the target values determines at least one correction parameter for the treatment system that is suitable for reducing deviations from a target state or a target function.
  • the system parameter determination device or the control device has a correction value determination device which, depending on the determined actual value of the system parameter or the actual values of the system parameters and / or the deviation of the system parameter from the target Value or the deviations of the system parameters from the target values determined at least one correction parameter for the treatment system, which is suitable for reducing deviations from a target state or a target function.
  • the correction parameters can in particular be manipulated variables for control devices of the treatment system, by means of which corresponding system parameters can be changed.
  • the target state can relate, for example, to corresponding target values of the system parameters, to the target function by forming a predetermined ablation pattern.
  • a defined calibration state of the treatment system can be set in the factory. However, the factory calibration status can also be restored when or after using the treatment system.
  • At least one corresponding one Setting an adjusting device of the treatment system is changed in order to reduce deviations from a target state or a target function.
  • the actuating device " can in particular be electrical and / or optical and / or mechanical and / or electromechanical and / or optomechanical actuating device of the treatment system. A simple calibration can thus take place. Overall, regulation is also possible A deviation of the system parameter from a target value can in principle be eliminated manually by an operator by means of a corresponding correction on the treatment system.
  • the evaluation device can be connected to the control device and evaluation and / or the control device can be designed such that, based on the actual value of the system parameter or the deviation of the system parameter from the target value, the setting of the treatment system is automatically reduced to reduce the deviation between actual and target value can be changed.
  • a readjustment of the system parameter is achieved in this way by adjusting devices or settings of the treatment system. In particular when testing and readjusting during the treatment, a high stability of the system parameters against fluctuations and / or drift can be achieved, which can significantly increase the precision of the actual treatment.
  • the aim of the readjustment is to achieve a predetermined ablation on the cornea of the eye. It is therefore alternatively or additionally preferred in the method according to the invention that in order to achieve a predetermined ablation profile, a program or at least one parameter value for the program for changing the position and / or intensity of the treatment laser beam over time in accordance with the actual value and / or the deviation of the system parameter is changed from the target value.
  • the treatment system is therefore not necessarily matched in relation to, for example, the function of the treatment laser and / or the deflection device, but the ablation program is suitably set so that the desired ablation profile on the cornea is obtained with the system parameters currently available.
  • the evaluation device is connected to the control device and for the control device to be designed in such a way that, based on the actual value and / or the deviation of the system parameter from the target value, a program or at least one parameter value for the program for changing the position and / or intensity of the treatment laser beam over time can be changed in order to achieve a predetermined ablation profile.
  • the evaluation device can output corresponding correction values to the control device. This change can take place in particular in that values of parameters of a control program as a function of the actual value or the deviation of the system parameter from the target value and the desired ablation profile. This can be based on theoretically or empirically determined relationships between the ablation profile and the system parameters. For example, a known dependency of the ablation depth on the treatment laser fluence or the shape and depth of the transition zone or the shape deviations of certain higher aberrations generated in the calibration body or the eye can be used as a function of the spot shape.
  • the two last-mentioned embodiments of the invention with a readjustment of system parameters and a change in the ablation program can also be combined.
  • This calibration method which can be integrated into the treatment system, increases the precision of the treatment system and relieves the operator of time-consuming manual calibration work with the exclusion of subjective evaluation errors, such as can occur, for example, when assessing fluence papers or films.
  • the actual ablation of the calibration body determined during the treatment can preferably be used directly in order to obtain conclusions about the ablation state achieved on the cornea of the patient.
  • the ablation can thus be controlled dynamically until the optimal target ablation on the calibration body is reached, which also leads to optimal treatment of the patient in the case of largely known relationships between the body and the corneal ablation.
  • the target ablation for the calibration body in this procedure is the target ablation which was determined before the treatment and which is converted to the conditions of the body.
  • the explained aspects of the present invention relate to the characterization, calibration / adjustment and control of laser systems in refractive laser surgery possible using aberrometry.
  • the present invention can also be used for any other therapeutic method of (laser) surgery in which biological material is to be removed and for which equivalent methods of material removal are used.
  • the method is not limited to measuring and using aberration data, but can also be modified in such a way that topography data (or profilometry data) is used.
  • a profilometer can be used in the examination device 8 instead of an aberrometer.
  • FIG. 1 is a schematic representation of a treatment system and a system parameter determination device according to a first preferred embodiment of the invention
  • FIG. 2 shows a schematic illustration of an aberrometer of the system parameter determination device in FIG. 1, FIG.
  • FIG. 4 shows measured aberrations in the form of profile height values in a gray value representation when a deflection device of the treatment system in FIG. 1 is decentered compared to an eye movement tracking device of the treatment system in FIG. 1,
  • FIG. 5 shows measured aberrations in the form of profile height values in a gray value representation when a deflection device of the treatment system in FIG. 1 is decentered compared to an eye movement tracking device of the treatment system in FIG. 1 and corresponding values of Zernike coefficients
  • FIG. 6 shows results of simulations for aberrations on ablated calibration bodies when the axes of a deflection device of the treatment system in FIG. 1 are rotated relative to their desired positions with representations of profile heights as gray values, corresponding Zernike coefficients and respective angles of rotation,
  • FIG. 9 shows a schematic illustration of a treatment system with an integrated system parameter determination device according to a third preferred embodiment of the invention.
  • FIG. 10 is a schematic partial representation of a treatment system with a system parameter determination device having a movable aberrometer according to a fifth preferred embodiment of the invention.
  • FIG. 11 shows a schematic partial illustration of a treatment system with a system parameter determination device which has a movable calibration body holder according to a sixth preferred embodiment of the invention
  • FIG. 12 shows a schematic partial illustration of a treatment system with a system parameter determination device according to an eleventh preferred embodiment of the invention
  • FIG. 13 shows a schematic illustration of a treatment system with a system parameter determination device according to a twelfth preferred embodiment of the invention
  • FIG. 14 is a schematic illustration of a treatment system with a system parameter determination device according to a thirteenth preferred embodiment of the invention.
  • FIG. 15 shows a schematic partial illustration of the treatment system with the system parameter determination device in FIG. 14.
  • a treatment system 1 for refractive laser surgery of the eye with an excimer laser 2 which controllably emits a treatment laser beam 3, an adjustable focusing optics 4 for focusing the treatment laser beam 3 emitted by the excimer laser 2, a deflection device 5 which deflects the treatment laser beam 3 in accordance with predetermined deflection signals to a device (not shown) for Tracking an eye movement and a control device 6 which is operated with the excimer laser 2, the focusing optics 4, the device for tracking the eye movement and the deflection device 5 are connected via corresponding signal lines and are designed to emit corresponding control signals to steep devices (not shown) as a function of a predetermined ablation program and movement data of the eye movement tracking device.
  • Treatment systems of this type are known in principle, so that the treatment system is not described in more detail below.
  • An example of such a treatment system is the MEL 70 excimer laser system from Carl Zeiss Meditec AG, Jena, Germany.
  • a system parameter determination device 7 is provided for determining actual values of system parameters of the treatment system 1 or deviations of these parameters from target values, also referred to as a system parameter determination device for simplification, which includes an examination device 8 and an evaluation device 9.
  • the holder 10 can be viewed associated with the treatment system 1.
  • the excimer laser 2 can be designed as an ArF excimer laser with a wavelength of 193 nm, which emits the treatment laser beam 3, for example in the form of pulses of predetermined duration and intensity, as a function of corresponding control signals from the control device 6.
  • the focusing optics 4 has an adjustable focal length and / or position for focusing the treatment laser beam 3 into a working plane. Although it is shown schematically in the figures by only one lens, it actually comprises further lenses and possibly also beam-limiting devices such as, for example, diaphragms. Actuators (not shown) which can be controlled via corresponding signals are provided for setting the focusing optics 4.
  • the deflection device 5 has two beam deflecting or deflecting elements, for example mirrors, which can be deflected by corresponding actuators and which deflect the focused treatment laser beam 3 in two directions.
  • the system parameter determination device 7 or the examination device 8 has an aberrometer 12, which is shown schematically in more detail in FIG. 2, and also has a measurement data processing device 13 in addition to the optical devices.
  • the aberrometer 12 is used to determine aberration by examining wavefronts by means of a Shack-Hartmann sensor 20.
  • a measuring light source 14, in the example a superluminescent diode, generates a measuring beam 15, which is converted into an essentially parallel measuring beam 15 with an essentially planar wavefront via an illumination optics 16, and, in the example via a beam deflection 17 that is not fundamentally necessary, to one to be examined , ablated calibration body 11 is steered, which sits in a holder 18 of the aberrometer.
  • the holder 18 is designed like the holder 10 for receiving a mounted calibration body 11.
  • the measuring beam 15 with its essentially flat wavefront passes through the calibration body 11 in the holder 10, is thereby deformed and then imaged on the Hartmann shack sensor via sensor optics 19.
  • the parallel measuring beam 15 passes through the processed, transparent calibration body 11, aberrations occur which are physically unambiguously linked to the optical path difference which varies locally in a plane of the calibration body 11 orthogonally to the central direction of the measuring beam 15, i.e. the surface topography of the calibration body 11.
  • the Hartmann shack sensor 20 is formed in the exemplary embodiment by a microlens field 21 and a CCD camera 22, which detects the measuring beam 15 imaged by the microlens field 21 on the photodetector surface of the CCD camera 22 and converts it into a corresponding intensity image in the form of a field of Implemented intensity values.
  • the sensor optics 19 is designed and arranged such that the photodetector field of the CCD camera 22 is conjugated to an ablated surface of the calibration body 11.
  • the sensor optics 19 is implemented as an imaging telescope.
  • the intensity image captured by the CCD camera 22 is then transmitted via a corresponding data connection to the measurement data processing device 13, the computer-assisted analysis of the intensity images according to well-known methods and the aberrations determined as examination data.
  • the measurement data processing device 13 has a corresponding input interface, a microprocessor with a memory in which, among other things, a corresponding measurement data processing program is stored, and an output interface 23 via which the examination data are output.
  • the evaluation device 9 is connected to the output interface 23 of the aberrometer 12 or the measurement data processing device 13 in order to use the examination data to obtain actual values of system parameters and / or deviations of the system parameter values from target values determine and output this via an interface 24.
  • it has a memory (not shown in FIG. 1) in which reference data are stored for comparison with determined examination data.
  • the evaluation device 9 can in principle be integrated with the measurement data processing device 13 in the sense that the corresponding functions are provided by software modules that run on the same microprocessor that is connected to a memory and suitable interfaces. In the example realized here, however, separate devices are provided, so that the evaluation device 9 also has input and output interfaces, a memory and a microprocessor which interacts with the interfaces and the memory and is suitably programmed to carry out the corresponding step of the method.
  • a transparent PMMA calibration body 11 in the holder 10 is ablated with the treatment laser beam 3 according to a predetermined ablation program stored in the control device 6, by pulsing the treatment laser beam 3 according to a time program
  • Surface areas of the calibration body 11 is guided.
  • a calibration body 11 can also be used, the refractive index of which can be changed locally by laser irradiation, e.g. a calibration body made of UV-modifiable material.
  • the calibration body is a plane-parallel plate; but it can also be spherically preformed.
  • the ablation program is chosen so that the ablated calibration body 11 causes suitable higher aberrations, which are characterized by high spatial frequencies and possibly lacking rotational symmetry.
  • the ablated calibration body 11 is then manually removed from the holder 10 and inserted into the holder 18 of the aberrometer 12. A wavefront analysis of the ablated surface of the calibration body 11 is then carried out. Corresponding aberrations from the intensity images of the Shack-Hartmann sensor 20 are determined in the measurement data processing device 13 as examination data.
  • the examination data are then transmitted to the evaluation device 9, where actual values of system parameters and / or deviations of the system parameter values from target values are determined from the examination data and output via the interface 24.
  • Eye movement tracking device or spot size especially the Spot diameter can be used.
  • the test body can also be ablated online with a coupled-out portion of the beam used for the treatment.
  • the system parameters are determined from a comparison between the measured test data, i.e. the actual aberrations, the ablated calibration body 11 and reference data for the target aberrations in the case of correct calibration, which were determined in connection with the ablation program and the shape of the non-ablated calibration body 11 and are stored in the evaluation device 9 for carrying out the comparison.
  • the calibration status of the treatment system 1 can now be concluded directly. If the actual values of the system parameters determined from the aberrations of the calibration body 11 do not or only slightly, i.e. the system is in a safe operating state and ablation can be carried out precisely by a difference less than a predetermined threshold value, depending on the target values of the factory calibration.
  • the treatment system 1 to be tested can be, for example, the MEL 80 excimer laser system from Carl Zeiss Meditec AG, Jena, Germany. This is then used to generate a specific ablation profile on mounted PMMA calibration bodies, which are positioned in a defined manner in the ablation beam of the treatment system.
  • the ablated calibration body is then inserted into a test eye unit, which is connected in a defined manner to an aberrometer, e.g. a WASCA Wavefront Analyzer from Carl Zeiss Meditec AG, Jena, Germany, can be installed.
  • an aberrometer e.g. a WASCA Wavefront Analyzer from Carl Zeiss Meditec AG, Jena, Germany
  • the test eye unit has the holder 18 for the calibration body 1, which is arranged such that the calibration body is held in a position relative to the aberrometer 12 after the test eye unit has been installed, in which position an eye to be examined is otherwise positioned. From the measurement of the ablated, transparent calibration body, the aberrations caused by the ablation are increased.
  • FIG. 3 shows graphical representations of a typical theoretically determined and a measured cross section through the center of the test specimen for a Zemike coma term Z (3.1) generated by excimer laser ablation in a PMMA calibration specimen.
  • the noisy curve gives the measurement of the surface by means of optical profilometry and the smooth curve the section through the representation of the theoretically predetermined Zernike polynomial Z (3J) (notation according to Malacara, "Optical Shop Testing", 2nd edition, according to Wiley, 1992 ).
  • FIG. 4 shows the data of the PMMA calibration bodies measured with the abovementioned aberrometer for two different centerings.
  • the neutral position of the deflection device of the treatment system during the ablation was not in agreement with the eye movement tracking device, which shows a comparison with the correctly adjusted system (right picture).
  • the spherical aberration of the first order i.e. with the Zernike coefficient Z (40).
  • FIG 5 shows gray height representations in the middle of the surface topography determined by means of wavefront analysis.
  • the aberrations or Zemicke coefficients determined from the wavefront analysis or surface topography are given as values for the optical path length difference according to Malarca notation in units of nanometers.
  • the ablated calibration body for the centered position in FIG. 5 the uppermost grayscale height representation of the measured wavefront (Figure 1), essentially shows a pure Z (40) aberration term.
  • the other images 2-5 in FIG. 5 show decentrations that always lead to a well-defined superposition of the spherical aberration Z (40) with essentially one dominant coma term each, in the example Z (3, -1) or Z (3 , 1) leads.
  • decentrations in the range significantly below 500 ⁇ m were chosen for the cases shown. Even such small decentrations result in clearly distinguishable decompositions according to Zernike coefficients. So the process is very sensitive. All four decentration cases can thus be clearly differentiated.
  • the examination of the calibration bodies and the representation of the examination results in the form of Zernike coefficients of a development according to Zernike polynomials allow conclusions to be drawn unambiguously from the aberration components.
  • Knowing or eliminating such misalignments is of particular importance for patient-specific corrections or "customized ablation". This is because when correcting higher-order visual defects and localized corneal defects, the ablation must be carried out not only with precise centering, but also with the correct axis, ie in the correct direction orthogonal to the optical axis of the cornea. So-called “limus trackers” are used for this purpose, for example, which recognize blood vessels and other structures on the iris and control the deflection device accordingly.
  • Figure 6 shows an example of the sensitivity of higher aberrations to rotation.
  • the results of simulations for the aberrations on ablated calibration bodies when the axes are rotated relative to their target positions are shown.
  • the upper line shows gray value height representations of the surface topography determined by means of wavefront analysis, including aberrations or Zernike coefficients determined from the wavefront analysis or surface topography as values for the optical path length difference according to Malacara notation and in the last line the respective rotation angles at the Measurement or ablation.
  • Another example shows the sensitivity of the method according to the invention for determining the variation in fluence (cf. FIG. 7).
  • an ablation program was used which, with correct values of the system parameters, leads to a not completely regular target Ablation pattern leads, ie it is not a completely regular pattern, for example one that leads to a pure aberration term centered on the mathematical center of the correction data, but a different pattern with respect to the original treatment axis is unloaded onto a PMMA body.
  • the upper diagram and the upper table show the results of ablation with a fluence which was about a factor of 1.8 above the fluence, which led to the values of the lower diagram and the lower table.
  • a variation of the fluence not only leads to a general variation of the wavefront amplitude or the same absolute or relative change in the corresponding Zernike coefficients or the ablation depth with constant contributions of certain aberrations. Rather, the composition of the aberrations or Zernike coefficients also varies in the sense that some Zernike coefficients assume values that are to be interpreted as zero within the expected accuracy, so that they make no contribution to the sum of the aberrations. The change in composition proves to be well-defined and reproducible.
  • the Zernike coefficient of the Z (6.2) component at high fluence compared to the Zernike coefficient at low fluence vary by a factor of approximately 3, the Z (6.0) - coefficient by a factor of around 10, the Z (4,4) coefficient by a factor of around 6 and the Z (4,2) coefficient finally by a factor of around 2.
  • the relationships between the wavefront aberrations measured for the ablated calibration body and the system parameters can be dependent to a certain extent on the particular features of the treatment system used, which are in particular also due to the design. If necessary, they must be examined and determined in the individual case for the system under consideration. Corrective measures are now initiated with the specific deviations of the system parameters.
  • the centering and axial position between the eye movement tracking device (“eye tracker” or “limus tracker”) and the deflection device can be manually corrected by suitable adjusting devices or elements or electronic control in the factory or by the service technician on site ,
  • the values of the system parameters can also be obtained other than through the analysis of Zernike coefficients.
  • a differential analysis of the wave fronts can also be used for various system parameters. Defined rules can also be set up for this, which relate certain wavefronts or ablation patterns to specific system parameters.
  • the actual values of these system parameters are determined directly from the comparison between target and actual values for the ablation profile of the ablated calibration body 11 achieved by the ablation in the form of topography data, for example " Elevation Maps ","êtnkasten “and the like, which are obtained from the aberrations determined by means of the aberrometer 12 by modal reconstruction or else by zonal reconstruction of the wavefront by means of numerical integration according to methods known to the person skilled in the art.
  • Elevation Maps ",”featurenkasten "and the like
  • the difference in refractive index between the two media air and PMMA must be taken into account.
  • L represents the local thickness of the calibration body, which leads directly to the shape of the ablated surface of the PMMA calibration body 11.
  • the overall system of treatment system 25 and system parameter determination device 26 shown in a highly schematic manner in FIG. 8 differs from the overall system of the first embodiment of treatment system 1 with holder 10 and system parameter determination device 7 by a modified control device 27 of treatment system 25, a modified evaluation device 28 of the system parameter determination device 26 and a data connection 29 between the evaluation device 28 and the control device 27. Since the other components are unchanged, the same reference numerals are used for them and the explanation of the embodiment applies.
  • the evaluation device 28 has been modified compared to the evaluation device 9 in such a way that it automatically determines values for correction parameters or corresponding manipulated variables of the treatment system 25 from the examination data of the aberrometer 12 and outputs these to the treatment system via the data connection 29, for which it does not have one in the figures has shown correction value determination device.
  • it can have a corresponding program module for this, which determines the corresponding calculations depending on the structure, properties and manipulated variables of the treatment system.
  • the control device 27 of the treatment system 25 has an interface for receiving the values for the correction parameters or the manipulated variables and is further configured to change the manipulated variables in accordance with the received correction values, for which purpose a corresponding program module can also be provided here.
  • the evaluation device can alternatively also be designed to emit corresponding control signals and the control device to process the control signals.
  • the measurement data processing device 13 of the aberrometer 12 only provides the examination data, in the example wavefront data or aberrations determined therefrom, for example in the form of Zernike coefficients and / or height data, which are output to the evaluation device 28. This is where the actual values of the system parameters are first determined and from this the target-actual deviations are determined. Correction values for suitable correction parameters or manipulated variables of the treatment system 25 are then derived from the target-actual deviations of the system parameters, for which purpose a corresponding procedure and corresponding data about the treatment system 25 are used. These correction values are transmitted to the control device 27 in the treatment system 25 via the data connection 29.
  • the control device 27 provides the necessary steep signals for the control or regulation of control devices of the optical or electronic components of the treatment system, with which the system parameters are changed.
  • a suitable specification of the target values and the procedure for determining the correction values of the correction parameters e.g. the factory calibration or system status can be reset automatically.
  • manipulated variables for actuating devices of the focusing optics 4 in the example for shifting an imaging lens system, can be used to change the system parameters working distance and astigmatism correction of the laser beam, ie its beam shape.
  • manipulated variables for mechanical / electrical actuating devices for modifying the deflection device 5 for Adjusting devices for the excimer laser head for regulating the fluence and for adjusting devices for an electro-mechanical regulation of laser beam attenuators of the treatment system 25, not shown in the figures can be changed.
  • the evaluation device in particular can be designed as a separate module.
  • This has the advantage that different aberrometers and treatment systems can be used and device-typical variants for the respective aberrometer and / or the respective treatment system can be taken into account via a corresponding hardware and / or software adaptation of the module.
  • the evaluation device 28 can also be integrated in the control device 27 or alternatively in the measurement data processing device 13. A separate unit is then no longer required, and it may even be sufficient to provide corresponding program modules.
  • the overall system consisting of treatment system and system parameter determination device differs from the overall system consisting of treatment device 1 with holder 10 and system parameter determination device 7 of the first exemplary embodiment in that the system parameter determination device 7 is integrated into the treatment system 30 in a common housing ,
  • This embodiment is interesting because most treatment systems for refractive corneal surgery today are equipped with aberrometers and / or profilometers or topography systems for carrying out patient-specific corrections ("Customized Ablation").
  • An aberrometer or profilometer can be used, for example, after providing appropriate means, for example providing a holder corresponding to the holder 18 in the form of a test eye unit and optionally providing a program module for the measurement data processing device 13, in order to: Measure aberrations of calibration bodies.
  • An on-site service technician can now use this tool to examine calibration bodies generated on-site with the treatment system.
  • the treatment system 1 with the holder 10 and the integrated system parameter determination device 7 is therefore modified in such a way that the evaluation device 9 is replaced by the evaluation device 28 with the correction value determination device.
  • the evaluation device is implemented by a corresponding program module for the measurement data processing device 13 in the form of additional software.
  • System parameters and correction parameters are determined by means of the program module, which runs in the measurement data processing device.
  • the overall system consisting of treatment system and system parameter determination device according to the third or fourth exemplary embodiment is modified with regard to the handling of the calibration body.
  • the aberrometer 12 and the holder 18 can be moved into the treatment beam path, but alternatively pivoting can be provided.
  • 10 shows the treatment system 46 and in particular the deflection device 5 only partially. Optics 31, 32, 33 and 34 of the deflection device 5 are shown in a housing 35 of the treatment system 1.
  • the beam deflector 17 in the aberrometer 12 is designed as a dichroic reflecting mirror, the permeable by an appropriate coating for the optical radiation of the treatment laser beam, but the optical radiation of the measuring beam 15 is reflective, so that ablation without moving the beam deflection is "possible. A possible weakening of the treatment laser beam 3 by the beam deflection 17 can then be taken into account when determining the actual values of the system parameters from the examination data.
  • the aberrometer 12 with the holder 18 and the calibration body 11 for ablation which may be contained therein, is moved or swiveled under the treatment laser beam 3 in a defined manner.
  • this process takes place manually or in another preferred embodiment according to the invention, e.g. through electric motor drive.
  • This arrangement has the advantage that the progress of the ablation on the calibration body can be tracked with the detection frequency of the aberrometer.
  • the system parameter determination device of the previous exemplary embodiment is modified in such a way that the aberrometer 12 is equipped with a different beam deflection 17, which can be moved manually or automatically into and out of the treatment beam path.
  • An eighth embodiment of the system parameter determination device differs from the system parameter determination device of the fifth to seventh exemplary embodiment by a magazine in which a number of calibration bodies, if any, are stored.
  • a rotating or swiveling interchangeable turret can be provided as the magazine, from which an operator can reload a calibration body.
  • a ninth embodiment of the invention differs from the previously described exemplary embodiments in that the calibration body, with any version, can be exchanged via an electrically, preferably automatically, controlled changing device, for example with an electric motor drive.
  • a tenth embodiment differs from the fifth preferred embodiment of the invention in that the entire aberrometer 12 cannot be moved in order to move the calibration body 11 held therein under the treatment laser beam 3, but only the calibration body 11 alternately for ablation under the treatment laser beam 3 and for Investigation, in the example by means of a wavefront measurement, into the measuring beam 15 of the Aberrometer 11 is transferred.
  • the entire aberrometer 12 cannot be moved in order to move the calibration body 11 held therein under the treatment laser beam 3, but only the calibration body 11 alternately for ablation under the treatment laser beam 3 and for Investigation, in the example by means of a wavefront measurement, into the measuring beam 15 of the Aberrometer 11 is transferred.
  • a holder 36 for an optionally mounted calibration body 11 is attached to the system parameter determination device 7 or the treatment system 46, which lies between an ablation position in which the calibration body held in the holder 36 for ablation lies in the treatment beam path , and a measuring position in which the calibration body held in the holder 36 can be manually moved back and forth, in particular pivoted or displaced, for examination in the examination device 8, in the example the aberrometer 12, in particular in a measuring beam path.
  • the system parameter determination device does not otherwise differ from the system parameter determination device 7 of the fifth exemplary embodiment. Treatment system 46 is unchanged.
  • the holder 36 can be moved via a drive, preferably electrically controlled.
  • a treatment system 37 with an integrated system parameter determination device 39 according to an eleventh embodiment is partially shown in FIG. 12 and differs from the fifth embodiment in that the treatment laser beam 3 can be directed via a movable deflecting mirror 38 onto a calibration body 11 held in the system parameter determination device 39. As a result, the holder or the calibration body 11 and the examination device do not have to be moved to determine the system parameters.
  • the system parameter determination device 39 differs from the system parameter determination device 7 of the fifth exemplary embodiment in that the measuring beam path is linear.
  • the explanations apply correspondingly to all components of the system parameter determination device 39 except for the beam deflection 17.
  • the treatment system 37 has the same components as the treatment system 1, the deflection device 5 in particular being designed as in the fifth exemplary embodiment. The same reference numerals are therefore used for the same components.
  • the deflecting mirror 38 can be moved between a treatment position, in which it is arranged neither in the treatment nor in the measurement beam path and thus allows treatment of an eye 40, and an ablation and measurement position.
  • the deflecting mirror 38 can be moved linearly, but in other exemplary embodiments it can also be pivotable or rotatable.
  • the deflection mirror 38 In the ablation and measurement position, the deflection mirror 38 is arranged at the intersection of the treatment beam path and the measurement beam path. By means of a corresponding coating, it reflects optical radiation from the treatment laser beam 3 and transmits optical radiation from the measuring beam 15, so that during the ablation a detection of the ablation progress with the detection frequency of the aberrometer 12 is possible.
  • the movement of the deflection mirror 38 between the treatment position and the ablation and measurement position takes place manually in the exemplary embodiment shown.
  • the movement can take place by means of a corresponding drive.
  • a separate mirror can also be used for fading in the measuring beam, for example between the calibration body and the deflection mirror 38.
  • a twelfth exemplary embodiment shown schematically in FIG. 13 differs from the third to eleventh exemplary embodiments in that the control device 27 and the evaluation device 28 of the second exemplary embodiment are used instead of the control device 6 and the evaluation device 9, these likewise being connected via a data line 29 , Automatic calibration is thus possible, as in the second exemplary embodiment.
  • the evaluation device can also be integrated into the control device or the measurement data processing device of the examination device 8 or of the aberrometer 12.
  • FIG. 14 A treatment system with an integrated system parameter determination device according to a thirteenth embodiment is shown in FIG. 14. It allows the measurement, tracking and control of the ablation during the treatment of the eye.
  • the holder 18 for the calibration body 11 is not movable. Instead, the treatment laser beam 3 is split into two partial beams by a beam splitter 41, so that one partial beam 42 is used to treat the eye and the other partial beam 43 is used to ablate the calibration body 11.
  • the treatment system corresponds to the treatment system of the twelfth exemplary embodiment except for the beam splitter 41 and possibly the housing; likewise, the system parameter determination device 44 is identical to the holder 18 and the evaluation device 45 of the system parameter determination device of the twelfth exemplary embodiment.
  • the same reference numerals are therefore used for the same components, and the previously mentioned explanations for these components also apply here.
  • the evaluation device 45 differs from the evaluation device 28 in two features. On the one hand, it takes into account when determining the correction values in the evaluation device 45 or in its correction value determination device that the Treatment laser beam 3 is divided into two partial beams. On the other hand, the evaluation device 45 determines actual values of system parameters from the progress of the ablation. During the treatment and the simultaneous determination of actual values of the system parameters, examination data are acquired for the calibration body 11, for example by measuring the wavefront deformation and evaluating the data to form wavefront data, with a predetermined detection frequency of the aberrometer of the twelfth exemplary embodiment. From these, actual values of the system parameters are then determined with the same frequency, which in turn supply correction values of correction parameters with the same frequency, with which the control device 27 controls the control devices of the treatment system accordingly.
  • reference data for the ablation progress are therefore determined, which is based on the ablation profile recorded at least indirectly in the previous cycle via the examination data when the target values required in the previous cycle when determining the correction values are present the system parameters are to be expected.
  • Actual values of the system parameters in the current cycle are then determined from a comparison of the examination data in the current cycle and the reference data thus determined from the examination data of the previous cycle.
  • the evaluation device 45 is therefore designed for the cyclical determination of actual values of at least one system parameter or deviations of at least one system parameter as a function of examination data corresponding to an ablation profile determined in a previous cycle and examination data of a current cycle.
  • the evaluation device 45 can alternatively also be integrated into the control device 27 or the measurement data processing device 13.
  • a concrete representation of a part of a treatment system according to this exemplary embodiment can, as shown in FIG the treatment system 37 of the eleventh embodiment can be constructed.
  • the deflection mirror 38 is then replaced by the beam splitter 41.
  • the beam splitting can assume different values to be determined in the system parameter determination and the determination of the correction value and is only to be defined once for a special arrangement.
  • the entire system for controlling the ablation is then designed and calibrated for this beam splitting ratio.
  • the ablation is controlled in a modified form.
  • the control device 27 and the evaluation device 45 are modified compared to the thirteenth exemplary embodiment.
  • the ablation progress is determined locally, at least indirectly, by determining the surface profile of the calibration body over the surface.
  • the description of the area obtained by ablation is not only about height data but also as a polynomial decomposition, e.g. can be broken down into Zemike polynomials.
  • the modified evaluation device is now designed such that the achieved actual ablation profile with the correction values is output to the modified control device.
  • This not only adjusts the adjusting devices according to the correction values, as in the previous exemplary embodiment, but also carries out a comparison of the actual ablation profile with the target ablation profile of the calibration body 11, which is to be achieved by the treatment and is determined before the treatment Ablation profile of the eye was determined by.
  • the ablation program is modified using a suitable program module so that the actual ablation of the calibration body 11 approximates the target ablation of the calibration body 11 as well as possible.
  • a desired target ablation profile of the eye can be achieved very precisely and quickly.
  • the ablation program is controlled dynamically and based on the currently determined actual ablation of the calibration body. It can therefore be unloaded at those locations on the cornea where no optimal target or Target surface is reached.

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Abstract

Bei einem Verfahren zur Bestimmung eines Ist-Wertes wenigstens eines Systemparameters oder eine Abweichung von einem Soll-Wert wenigstens eines Systemparameters eines Systems (l; 25; 37; 46) zur Behandlung eines Auges (40) mittels eines von dem System (1; 25; 37; 46) abgegebenen Behandlungslaserstrahls (3), wird eine Oberfläche eines Kalibrierkörpers (11) mit wenigstens einem Teilstrahls des Behandlungslaserstrahls (3) mit einem vorgegebenen Ablationsprogramm abladiert. Die von dem Behandlungslaserstrahl (3) abladierte Oberfläche wird mittels Aberrometrie und/oder Profilometrie untersucht und aus bei der Untersuchung ermittelten Untersuchungsdaten wird der Ist-Wert des Systemparameters oder die Abweichung von dem Soll-Wert des Systemparameters bestimmt.

Description

Verfahren, Vorrichtung und System zur Bestimmung eines Systemparameters eines Laserstrahl-Behandlungssystems
Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zur Bestimmung von Ist-Werten und/oder Abweichungen von Soll-Werten wenigstens eines Systemparameters eines Behandlungssystems zur Behandlung eines Auges mit einem Laserstrahl und auf Mittel zur Durchführung des Verfahrens.
Die Laserchirurgie der Hornhaut des menschlichen Auges stellt ein etabliertes Verfahren zur Behandlung von Sehfehlern dar, die durch Abweichungen der Form der Hornhaut des Auges von der Idealform bedingt sind. Dabei wird mit einem Behandlungslaser, beispielsweise einem Excimer-Laser, von der Hornhaut Material z.B. ablativ entfernt.
Zur Durchführung der Behandlung können insbesondere sogenannte Spotscanning-Systeme verwendet werden, bei denen ein Behandlungslaserstrahl des Behandlungssystems bzw. der entsprechende Behandlungslaserstrahlfleck mittels einer auch als Scan-Einheit bezeichneten Ablenkeinrichtung entsprechend einem vorgegebenen Ablationsprogramm über die Hornhaut bewegt wird und an vorgegebenen Stellen eine Ablation bewirkt. Die verwendeten Laser zeichnen sich in erster Linie durch einen kleinen effektiven Spotdurchmesser aus, der es erlaubt, kleine Flächen auf der Hornhaut zu ablatieren und damit lokal die Brechkraft der Hornhaut und des Auges zu modifizieren.
Diese Behandlungsmethode läßt patientenindividuelle Korrekturen zu, die auch als "Customized Ablation" bezeichnet werden. Diese Korrekturen umfassen nicht nur die sphärozylindrische Korrektur von Sehfehlern, sondern auch die Korrektur von Hornhautirregularitäten, insbesondere auch räumlich sehr kleinen Artefakten, und höheren Aberrationen, d.h. insbesondere auch durch hohe Raumfrequenzen charakterisierten Abbildungsfehlem höherer Ordnung, des Auges. Zur Behandlung wird zunächst eine Messung der Hornhauttopographie bzw. eine Untersuchungen des Auges mittels Aberrometem durchgeführt, um die Irregularitäten bzw- Aberrationen zu erfassen.
Für die jeweilige Korrektur werden dann vor der Operation mittels entsprechender Programme Ablationsprogramme berechnet, die unter anderem auf Erfahrungswerten für das Ablationsverhalten der Hornhaut basieren und als Funktion der Zeit die Führung des Behandlungslaserstrahls und dessen Intensität festlegen. Mit dem von dem Behandlungs- system entsprechend dem berechneten Ablationsprogramm abgegebenen und geführten Behandlungslaserstrahl wird dann Material von der Hornhaut abladiert.
Die Abtragstiefen innerhalb der Hornhaut betragen bei der Korrektur von Aberrationen höherer Ordnungen in der Regel nur einen Bruchteil der Abtragstiefen, die für die Korrektur der Refraktion niedriger Ordnung, insbesondere einer sphärozylindrische Korrektur, nötig sind. Während bei sphärozylindrischen Korrekturen ca. 12 μm Abtrag pro Dioptrie auf einer 6 mm Behandlungspupille nötig sind, werden bei der Korrektur höherer Aberrationen die nötigen lokalen Brechkraftänderungen bereits bei geringem Abtrag, d.h. meist schon mit einem oder wenigen Laserpulsen erreicht.
Bei sphärozylindrischen Korrekturen können sich daher Schwankungen von Systemparametern des Behandlungssystems, beispielsweise der Behandlungslaserparameter (wie z.B. der Fluence des Lasers), während der Ablation statistisch herausmitteln, so daß eine besonders genaue Einhaltung der Werte der Systemparameter zwar wünschenswert, aber nicht kritisch ist. Bei der Korrektur höherer Aberrationen dagegen kann, bedingt durch die geringe Anzahl der Behandlungslaserpulse, von einem statistischen Ausgleich bei Schwankungen von Systemparametern des Behandlungssystems während der Ablation und damit eine Glättung des Ablationsmusters auf der Hornhaut in der Regel nicht mehr ausgegangen werden. Die genaue Einhaltung vorgegebener Werte der Systemparameter ist daher bei der Korrektur kleinster Details auf der Hornhaut und/oder der Behandlung von Sehfehlern, die höheren Aberrationen entsprechen und die durch hohe Raumfrequenzen charakterisiert sind, kritisch.
Für die Qualität der Behandlung ist deshalb geräteseitig neben der Standardisierung der Behandlungsatmosphäre und der Präzision und Schnelligkeit einer Einrichtung zur Verfolgung von Augenbewegungen während der Behandlung, bei der es sich beispielsweise um einen sog. "Eye Tracker" handeln kann, insbesondere auch die Stabilität und die Qualität der Kalibrierung des Lasersystems und der Ablenkeinrichtung wichtig. Die Behandlungssysteme werden deshalb zur Einhaltung der vorgegebenen Werte der Systemparameter sowohl werksseitig als auch später bei Wartungsarbeiten entsprechend abgeglichen. Hierzu sind im Wesentlichen zwei Verfahren bekannt.
Beim sogenannten Fluencetest wird mit dem Behandlungssystem, das einen Behandlungslaser besitzt, nach einem speziell für diesen Test ausgelegten Ablationsprogramm eine vorgegebene Testfolie behandelt, auf der ein entsprechendes Muster entsteht. Lokale Durchbruchschwellen in der Testfolie gestatten dabei eine Nachregelung der Pulsenergie des Behandlungslasers. Mit diesem Verfahren kann zum einen näherungsweise die Halbwertsbreite des Spotdurchmessers des Behandlungslaserstrahls bestimmt werden. Zum anderen können Kontrollinformationen über die Qualität des Scannersystems des Behandlungssystems erhalten werden.
Bei einem anderen Verfahren können vorgegebene sphärozylindrische PMMA-Linsen mit einem Ablationsprogramm zur sphärozylindrischen Korrektur abladiert werden. Die Brechkraft der so erhaltenen Linsen kann, z. B. durch eine Brennweitenbestimmung, beispielsweise mittels eines sog. Lensmeters, bis auf ca. 0J Dioptrie genau bestimmt und mit einem erwarteten Soll-Wert für die Brechkraft verglichen werden. Zur Kalibrierung wird dann die Pulsenergie nachgeregelt.
Bei bekannten Behandlungsverfahren wird während der Behandlung auch die Pulsenergie bzw. Fluence des Behandlungslasers online gemessen, was eine Nachregulierung zur Verbesserung der Behandlungserfolge während der Ablationsprozedur der Behandlung gestattet.
Die Verfahren erlauben jedoch nicht eine Bestimmung weiterer Systemparameter des Behandlungssystems, die bei den eingangs genannten Genauigkeitsanforderungen, insbesondere für eine "Customized Ablation" einen erheblich Einfluß haben können. Weiter wird nur eine indirekte Kontrolle über das Ablationsverhalten des Behandlungssystems aus der Messung der Energie erhalten. Der reale Ablationsfortschritt bei der Behandlung kann nicht gemessen werden, so daß man bei der Nachstellung auf Erfahrungswerte angewiesen ist. Deshalb begrenzen Fluktuationen der Systemparameter während der Behandlung immer noch die Präzision der Behandlung.
Der vorliegenden Erfindung liegt daher die Aufgabe zugrunde, ein Verfahren zu schaffen, mit der ein Ist-Wert eines Systemparameters oder eine Abweichung von einem Soll-Wert des Systemparameters eines Systems zur Behandlung eines Auges mit Laserstrahlung bestimmbar ist, sowie eine entsprechende Behandlungsvorrichtung bereitzustellen.
Die Aufgabe wird gelöst durch ein Verfahren zur Bestimmung eines Ist-Wertes wenigstens eines Systemparameters oder einer Abweichung von einem Soll-Wert wenigstens eines Systemparameters eines Augenbehandlungs-Systems mittels eines vom Augenbehandlungs- Syste abgegebenen Behandlungslaserstrahls, wobei eine Oberfläche eines Kalibrierkörpers mit wenigstens einem Teilstrahl des Behandlungslaserstrahis gemäß einem vorgegebenen Ablationsprogramm abladiert wird, die von dem Behandlungslaserstrahl abladierte Oberfläche mittels Aberrometrie und/oder Profilometrie untersucht, und aus bei der Untersuchung ermittelten Untersuchungsdaten der Ist-Wert des Systemparameters oder die Abweichung von dem Soll-Wert des Systemparameters bestimmt wird.
Die Aufgabe wird weiter gelöst durch eine Systemparameterbestimmungsvorrichtung zur Bestimmung wenigstens eines Ist-Wertes eines Systemparameters oder einer Abweichung von einem Soll-Wert wenigstens eines Systemparameters eines Augenbehandlungs-Systems mittels eines von dem System abgegebenen Behandlungslaserstrahls, mit einer Einrichtung zur Untersuchung wenigstens eines Abschnitts einer abladierten Oberfläche eines abladierten Kalibrierkörpers mit Aberrometrie und/oder Profilometrie, und einer mit der Untersuchungseinrichtung verbundenen Auswerteeinrichtung, die aus den bei der Untersuchung ermittelten Untersuchungsdaten den Ist-Wert des Systemparameters oder die Abweichung von dem Soll-Wert des Systemparameters bestimmt.
Unter einem Augenbehandlungs-System wird dabei ein System verstanden, das einen Behandlungslaser zur Abgabe eines Behandlungslaserstrahls, eine Ablenkeinrichtung zur Ablenkung des Behandlungslaserstrahls sowie eine Steuereinrichtung, welche die Abgabe und Positionierung des Behandlungslaserstrahls räumlich und zeitlich steuert, umfaßt.
Weiter wird die Aufgabe gelöst durch ein Augenbehandlungs-System, das einen Behandlungslaser zur Abgabe eines Behandlungslaserstrahls, eine Ablenkeinrichtung zur Ablenkung des Behandlungslaserstrahls, eine Steuereinrichtung, welche die Abgabe und Positionierung des Behandlungslaserstrahls räumlich und zeitlich steuert, einen Halter für einen mit wenigstens einem Teilstrahl des Behandlungslaserstrahls zur Ablation beaufschlagten Kalibrierkörper, sowie eine erfindungsgemäße Systemparameterbestimmungsvorrichtung zur Bestimmung wenigstens eines Ist-Wertes oder eine Abweichung von einem Soll-Wert wenigstens eines Systemparameters des Augenbehandlungs-Systems umfaßt.
Das Augenbehandlungs-System im Sinne der Erfindung kann grundsätzlich für beliebige Behandlungen des Auges ausgelegt sein. Die Erfindung eignet sich jedoch insbesondere für Behandlungssysteme zur ablativen Korrektur der Hornhaut des Auges.
Unter einem Systemparameter wird jeder Parameter verstanden, der den Zustand und/oder die Funktion des Behandlungssystems beschreibt. Als Systemparameter können insbesondere physikalisch unmittelbar erfaßbare Größen und/oder auch empirisch bzw. operational definierte Größen dienen.
Weiter können die Systemparameter Parameter in Bezug auf Eigenschaften des Behandlungslaserstrahls und Parameter in Bezug auf die . Ablenkung des Behandlungslaserstrahls umfassen. Dabei können die Systemparameter insbesondere den physikalischen Zustand des Behandlungssystems, beispielsweise die Justierung des Behandiungslasers und/oder der Ablenkeinrichtung, die Funktion, beispielsweise Eigenschaften des abgegebenen' Laserstrahls, oder auch Steuerungsparameter oder ein Steuerprogramm der Steuereinrichtung betreffen.
Liegen als Untersuchungsdaten Topographie- und/oder Aberrometriedaten, insbesondere Wellenfrontdaten des abladierten Kalibrierkörpers, vor, ist es bevorzugt, daß der Systemparameter ausgewählt ist aus der Gruppe: Zentrierung und/oder Lage der Ablenkeinrichtung bezogen auf eine Einrichtung zur Verfolgung der Augenbewegung; die mittlere Gesamtfluence und/oder -Energie und/oder -Leistung des Behandlungslaserstrahls; die Halbwertsbreite des Behandlungslaserstrahls; Angaben über die Spotform des Behandlungslaserstrahls; die Energieverteilung im Behandlungs-Spot, insbesondere Hotspots darin; die Ausprägung der Übergangszone zwischen optisch aktiver und inaktiver Ablationszone und deren Beziehung zu den Strahlparametern; die Kurz- und Langzeitstabilität bzw. Fluktuationen der Gesamtfluence und/oder -Energie und/oder -Leistung des Behandlungslaserstrahls; die Kurz- und Langzeitdrift der Ablenkeinrichtung; die Abweichungen vom optimalen Arbeitsabstand, die Effizienz der Absaugung bzw. -Entfernung von Rauchgas, das bei der Ablation aus dem abladierten Material entsteht; die Temperaturstabilität und die Abhängigkeit der Systemparameter von anderen Umgebungsparametern. Bei der Einrichtung zur Verfolgung der Augenbewegung kann es sich insbesondere um "eye tracker" oder eine Limus-Erkennung, bei der die Bewegung von Äderchen im Auge verfolgt wird, handeln.
Erfindungsgemäß wird der Ist-Wert oder die Abweichung des Ist-Wertes von dem Soll-Wert des Systemparameters nicht direkt, sondern indirekt über die Ablation eines Kalibrierkörpers überprüft. Das Verfahren basiert unter anderem darauf, daß Abweichungen der Ist-Werte bestimmter Systemparameter bestimmte charakteristische Veränderungen in den lokalen optischen Eigenschaften, insbesondere in der Topographie bzw. Form der Oberfläche, des abladierten Kalibrierkörpers zur Folge haben, die mittels Aberrometrie- und/oder Profilometrie erfaßbar sind. Aus den Untersuchungsdaten der Aberrometrie und/oder der Profilometrie, d.h. Aberrometrie und/oder Topographiedaten, können Ist-Werte des Systemparameters oder Abweichungen des Systemparameters von einem entsprechenden Soll-Wert bestimmt werden, indem beispielsweise bekannte Zusammenhänge zwischen Systemparametern und Ablationsprofilen verwendet werden.
Für die oben genannten Systemparameter ist deren (auch kombinierter) Einfluß auf das erzielte Ablationsprofil bekannt. Als Beispiel sei die Ablation stiefe als Funktion der Laserfluence oder die Form und Tiefe der Übergangszone bzw. die Formabweichungen bestimmter, im Kalibierkörper erzeugter höherer Aberrationen, als Funktion der Spotform genannt.
Der Kalibrierkörper besitzt vor der Ablation eine genau bestimmte, für die Durchführung des Verfahrens geeignete Oberfläche und zumindest im Bereich möglicher Ablationen ein vorgegebenes Ablationsverhalten. Die optischen Eigenschaften des Kalibrierkörpers werden vorzugsweise in Abhängigkeit von der für die Untersuchung der Oberfläche verwendeten Untersuchungsmethode gewählt. Beispielsweise kann der Kalibrierkörper bei Verwendung von Aberrometern transparent für die bei dem Aberrometer verwendete optische Strahlung sein, bei Verwendung bestimmter Verfahren zur Profilometrie dagegen vorzugsweise absorbierend oder reflektierend.
Im Halter für den mit wenigstens einen Teilstrahl des Behandlungslaserstrahls beleuchteten Kalibrierkörper wird der Kalibrierkörper während der Ablation mit dem Behandlungslaserstrahl oder dessen Teilstrahl gehalten. Der Kalibrierkörper kann dabei gegebenenfalls in einer Fassung gefaßt sein, die mechanisch genau und reproduzierbar in den Halter und damit den Strahlengang des Behandlungslaserstrahls oder des Teilstrahls eingesetzt werden kann. Alternativ oder zusätzlich kann auch die erfindungsgemäße Systemparameterbestimmungs- vorrichtung einen Halter für den Kalibrierkörper aufweisen, in dem der Kalibrierkörper während der Ablation gehalten ist. Die Systemparameterbestimmungsvorrichtung ist dann für beliebige Behandlungssysteme einsetzbar.
Zur Überprüfung des Systemparameters wird auf dem Kalibrierkörper gemäß einem vorgegebenen Ablationsprogramm ein vorgegebenes Ablationsmuster bei gegebenen Systemparametern des Augenbehandlungs-Systems abladiert.
Die Ablation kann mit dem Behandlungslaserstrahl oder auch nur einem Teilstrahl des Behandlungslaserstrahls erfolgen. Bei Verwendung des Teilstrahls ist natürlich sicherzustellen, daß es bekannt ist, wie die Eigenschaften des Teilstrahls von denen des Behandlungs- laserstrahls abhängen. Dies kann z.B. durch einen geeigneten Strahlteiler erreicht werden. Die Ablation kann dabei, je nach Material des Kalibrierkörpers, nicht nur eine Änderung dessen Form, sondern auch lokale Änderungen des Brechungsindex durch laserinduzierte Änderungen des Materials des Kalibrierkörpers bewirken.
Zur Erzielung eines vorgegebenen Ablationsmusters am Kalibrierkörper oder Auge wird der Behandlungslaserstrahl gemäß einem Ablationsprogramm, d.h. einem vorgegebenen zeitlichen und örtlichen Intensitätsverlauf des Behandlungslaserstrahls auf dem Kalibrierkörper bzw. Auge, gesteuert.
Bei dem Ablationsprogramm bzw. dem vorgegebenen Ablationsmuster kann es sich zum einen um ein nur für die Prüfung vorgesehenes Ablationsprogramm bzw. -muster handeln, das auf der Basis von speziell festgelegten theoretischen und/oder realen Aberrations- und/oder Topographie- und/oder Wellenfrontdaten berechnet wurde und eine besonders gute Untersuchung und Auswertung der bei der Aberrometrie oder Profilometrie erfaßten Daten, beispielsweise Topographie- und/oder Wellenfrontdaten, insbesondere bei gleichzeitiger Untersuchung in Bezug auf mehrere Systemparameter gleichzeitig, erlaubt. Das Ablationsmuster kann beliebige Oberflächenprofile, beispielsweise eine Sphäre, einen Zylinder, Einzelspots in vorgegebener Geometrie, Serien von Excimer-Laserspots in vorgegebener Geometrie oder Aberrationen höherer Ordnung, umfassen. Insbesondere ist es bevorzugt, daß das Ablationsprogramm derart ausgelegt ist, bei der Ablation ein Oberflächenprofil auf dem Kalibrierkörper zu erzeugen, das bei Untersuchung mit optischer Aberrometrie oder mit Profilometrie Aberrationen höherer Ordnung, d.h. mit hohen Raumfrequenzen zeigt.
Es kann jedoch auch ein für die Behandlung vorgesehenes Ablationsprogramm benutzt werden, so daß unmittelbar vor der Operation die aufgrund des aktuellen Zustands des Lasersystems erreichbare Qualität überprüft und ggf. nachreguliert oder zu einer Anpassung der Ablationsprofile genutzt werden kann.
Wenigstens ein Teil der abladierten Oberfläche des Kalibrierkörpers wird dann mittels Aberrometrie und/oder Profilometrie untersucht. Die erfindungsgemäße Systemparameter- bestimmungsvorrichtung verfügt hierzu über die Untersuchungseinrichtung, die insbesondere ein Aberrometer und/oder ein Profilometer umfassen kann.
Unter Aberrometrie des Kalibrierkörpers wird dabei insbesondere die Erfassung der Ablenkung von Strahlen oder Strahlenbündeln bei Durchtritt durch den Kalibrierkörper in Abhängigkeit vom Ort des Durchtritts bzw. der lokalen Ablenkung einer Wellenfront bei Durchtritt durch den Kalibrierkörper z.B. mittels eines Aberrometers verstanden. Da neben der Änderung der Form des Kalibrierkörpers grundsätzlich, je nach verwendetem Material des Kalibrierkörpers, noch eine Änderung des lokalen Brechungsindex durch laserinduzierte Änderung der Materialparameter auftreten kann, werfen bei der Untersuchung vorzugsweise auch solche Änderungen erfaßt.
Unter Profilometrie wird jedes Verfahren verstanden, das eine Erfassung des Oberflächenprofils des abladierten Kalibrierkörpers wenigstens in einem Teil der abladierten Oberfläche erlaubt. Als Profilometer können insbesondere Topographiesysteme verwendet werden.
Die Untersuchungseinrichtung kann weiter insbesondere eine Meßdatenverarbeitungs- einrichtung umfassen, mittels derer die erfaßten Daten ausgewertet werden können. Die Meßdatenverarbeitungseinrichtung kann dabei je nach Anwendung als von dem Behandlungssystem getrennte, mit einer Meßdatenerfassung zusammengefaßte Einheit des Aberrometers oder Profilometers vorgesehen werden oder auch in das Behandlungssystem integriert sein. Die Meßdatenverarbeitungseinrichtung für ein Aberrometer rekonstruiert beispielsweise aus den erfaßten WellenfrontMeßdaten die Wellenfront.
Aus den Untersuchungsdaten wird der Ist-Wert des Systemparameters oder eine Abweichung von einem Soll-Wert ermittelt. Hierzu ist die Untersuchungseinrichtung über eine entsprechende Datenverbindung mit einer Auswerteeinrichtung verbunden.
Bei Ermittlung wenigstens eines Ist-Wertes eines System parameters werden Daten erhalten, die den momentanen Zustand des Systems genau definieren und so eine einfache Korrektur an dem Behandlungssystem ermöglichen. Bei einer Ermittlung der Abweichung genügt es grundsätzlich, daß die Abweichung einen vorgegebenen Schwellwert überschreitet, vorzugsweise wird die Abweichung jedoch auch quantitativ ermittelt.
Zur Durchführung der Ist-Wertbestimmung oder zur Ermittlung der Abweichungen kann die Auswerteeinrichtung insbesondere eine Datenverarbeitungseinrichtung aufweisen, die zur Durchführung des Verfahrens programmiert ist. Die Auswerteeinrichtung kann dabei eine separate Einheit darstellen oder in die Untersuchungseinrichtung oder in das Behandlungssystem integriert sein.
Ein Vorteil gegenüber den herkömmlichen Verfahren liegt darin, daß es durch die Untersuchung der Kalibrierkörper mittels räumlich hochauflösender dreidimensionaler Verfahren, nämlich der Aberrometrie oder der Profilometrie, erstmals möglich ist, das dreidimensionale Ablationsverhalten nicht nur integral, sondern mit einer hohen lateralen Auflösung zu erfassen. Erst damit können auch kleine und empfindliche Störungen der Werte der Systemparameter registriert werden, die sonst in einer integralen Messung, beispielsweise der Fluence, untergehen würden.
Die Untersuchung von Kalibrierkörpern, deren abladierte Oberflächen zu beispielsweise höhere Aberrationen und/oder hohe Raumfrequenzen bei einer optischen Abbildung bewirken, mittels Aberrometrie und/oder Profilometrie ist deutlich empfindlicher gegen Abweichungen von Spotform, Spotgröße, oder Drift der Ablenkeinrichtung von entsprechenden Soll-Werten als die Untersuchung der Brechkraft von einfachen abladierten PMMA-Linsen z.B. mittels Lensmetem oder die Untersuchung von zweidimensionalen Mustern auf Fluencepapier - oder folie. Die Überwachung der Systemparameter ist also genauer.
Die Erfindung kann weiter dazu verwendet werden, mit sehr geringem Aufwand den Zustand wenigstens vor oder sogar während einer Behandlung zu dokumentieren, so daß ein Arzt eine korrekte Einstellung später leicht nachweisen kann.
Der Kalibrierkörper kann grundsätzlich beliebige Form aufweisen, solange die zu ablatierende und zu untersuchende Oberfläche des Kalibrierkörpers vor der Ablation hinreichend genau bekannt ist und vorzugsweise einer vorgegebenen Form entspricht. Bei einer Ausführungsform des erfindungsgemäßen Verfahrens ist es bevorzugt, daß zur Ablation ein im zu ablatierenden Bereich plattenförmiger Kalibrierkörper verwendet wird. Solche Kalibrierkörper weisen im nicht abladierten Zustand keine Aberrationen bei einer Untersuchung auf und erlauben daher eine einfache Bestimmung der Systemparameter. Darüber hinaus sind sie sehr einfach und kostengünstig mit einer hinreichend genau definierten Oberfläche herstellbar.
Alternativ ist es - insbesondere bei einer Verwendung bei Behandlungen im Bereich der refraktiven Laserchirurgie des Auges bzw. der Hornhaut - bevorzugt, daß ein Kalibrierkörper verwendet wird, der wenigstens im zu ablatierenden und zu untersuchenden Bereich eine kugelförmige Gestalt besitzt. Die Krümmung in diesem Bereich entspricht dabei vorzugsweise der mittleren Hornhautkrümmung des Auges. Es ergeben sich so sehr leicht auf die Behandlung eines Auges übertragbare Ergebnisse. Insbesondere können auch Informationen über Parameter des Behandlungssystems in einer Richtung parallel zu der Richtung des Behandlungslaserstrahls erhalten werden.
Um eine besonders präzise Behandlung zu ermöglichen, ist es bevorzugt, daß ein Kalibrierkörper verwendet wird, der einen wenigstens teilweise zu ablatierenden Oberflächenbereich mit der Form des zu behandelnden Hornhautabschnitts des Auges aufweist. Ein solcher Körper kann beispielsweise durch Untersuchung des Auges eines Patienten mit Aberrometrie oder Profilometrie und entsprechende Vor-Ablation des Kalibrierkörpers vor dessen Verwendung zur Systemparameterbestimmung erhalten werden. Diese Form des Kalibrierkörpers erlaubt eine besonders genaue und fehlerarme Übertragung der Ablationsergebnisse von dem Kalibrierkörper auf die Hornhaut. Weiter kann so das verwendete Ablationsprogramm überprüft werden, indem die Güte des mit dem zur Behandlung vorgesehenen Ablationsprogramm vorablad ierten Kalibrierkörpers untersucht wird.
Das Material des Kalibrierkörpers kann grundsätzlich beliebig gewählt werden, soweit es reproduzierbar ablatierbar ist. Insbesondere bei Verwendung von Aberrometrie ist das Material vorzugsweise wenigstens vor der Ablation optisch homogen im Bereich der zur Untersuchung verwendeten Wellenlänge. Insbesondere kann als sehr kostengünstiges Material Gelatine verwendet werden. Wegen des vorteilhaften Ablationsverhaltens und der einfach Herstellung ist es jedoch bevorzugt, daß als Kalibrierkörper ein Polymethylmethacrylat-Kalibrierkörper verwendet wird.
Damit die Untersuchungsdaten unverfälscht bleiben, sollte der Behandlungslaserstrahl in der Regel nicht in die Untersuchungseinrichtung eindringen. Es ist daher bevorzugt, daß ein Kalibrierkörper verwendet wird, der für eine Wellenlänge einer bei der Aberrometrie oder Profilometrie zur Messung benutzten optischen Strahlung nicht transmittierend ist. Der Kalibrierkörper läßt dann nur geringe oder keine Behandlungsstrahlung in die Untersuchungseinrichtung eintreten. Vorzugsweise wird Polymethylmethacrylat (PMMA) verwendet, das sich dadurch auszeichnet, daß es bei einer Wellenlänge im Bereich von 193 nm, d.h. der Wellenlänge von Excimer-Lasem, die in typischen Behandlungssystemen verwendet werden, undurchlässig ist.
Alternativ ist es bevorzugt, daß ein Filter zur Separation des Behandlungslaserstrahls und der zur Untersuchung verwendeten optischen Strahlung verwendet wird. Es ist deshalb für die erfinduήgsgemäße Systemparameterbestimmungsvorrichtung vorteilhaft, einen für optische Strahlung mit der Polarisation und/oder Wellenlänge des Behandlungslaserstrahls undurchlässigen Filter im Strahlengang der Untersuchungseinrichtung vor einem Photodetektor der Untersuchungseinrichtung zuzuordnen. Der Filter kann dabei wellenlängenspezifisch und/oder - bei Verwendung eines polarisierten Behandlungslaserstrahls - polarisationsspezifisch wirken und ist insbesondere für die zur Untersuchung verwendete optische Strahlung durchlässig.
Der Kalibrierkörper bzw. der Halter für den Kalibrierkörper kann grundsätzlich beliebig angeordnet sein. Es ist jedoch bevorzugt, daß der Kalibrierkörper bei der Untersuchung in der Arbeitsebene des Behandlungssystems oder einer dazu gleichwertigen bzw. konjugierten Ebene angeordnet ist. Unter einer gleichwertigen Ebene wird dabei eine Ebene verstanden, in der der Behandlungslaserstrahl oder der Teilstrahl im Wesentlichen die gleichen Eigenschaften aufweist wie in der Arbeitsebene. Beispielsweise kann im Strahlengang des Behandlungssystems eine Strahlumlenkung vorgesehen sein, die den Behandlungslaserstrahl oder nur einen Teilstrahl zur gleichwertigen Ebene umlenkt, wobei der Strahl dabei die gleiche optische Weglänge zurücklegt. Es ergeben sich dann die Verhältnisse bei der Behandlung besonders genau wiedergebende Ablationsprofile und daraus ermittelte Werte des Systemparameters.
Für eine Ausführungsform der erfindungsgemäßen Systemparameterbestimmungsvorrichtung bzw. des erfindungsgemäßen Systems ist es dazu bevorzugt, daß der Halter in einen
Behandlungsstrahlengang des Behandlungssystems hinein und aus diesem heraus bewegbar ist. Besonders bevorzugt ist der Halter, wenn er im Behandlungsstrahlengang angeordnet ist, in der Arbeitsebene des Behandlungssystems angeordnet. Der Halter kann dabei insbesondere, an einem Träger gehalten, geschwenkt oder verschoben werden. Auf diese Weise kann der Kalibrierkörper sehr einfach und genau in den Behandlungsstrahlengang und insbesondere in die spätere Arbeitsebene des Behandlungssystems gebracht werden. Der Halter kann dabei manuell oder, vorzugsweise, durch einen Antrieb bewegt werden. Besonders bevorzugt ist der
Antrieb durch die Steuereinrichtung des Behandlungssystems steuerbar, so daß der Halter automatisch in den Behandlungsstrahlengang hinein und aus diesem heraus verbracht werden kann.
Alternativ ist es zur Anordnung des Kalibrierkörpers im Behandlungsstrahlengang bei dem erfindungsgemäßen Behandlungssystem bevorzugt, daß die Untersuchungseinrichtung mit dem Halter als Einheit an oder auf einem Träger des Behandlungssystems gelagert und in den Behandlungsstrahlengang hinein und aus diesem heraus bewegbar ist. Die Untersuchungseinrichtung mit dem Aberrometer und/oder Profilometer und dem Halter kann dabei insbesondere geschwenkt oder verschoben werden. Auf diese Weise kann der Kalibrierkörper sehr einfach und genau in der Untersuchungseinrichtung bzw. dem Aberrometer und/oder Profilometer gehalten werden, was die Genauigkeit der Untersuchung erhöhen kann. Diese Anordnung stellt auch bei mehrfacher Verwendung eine sehr genaue Ausrichtung von Untersuchungseinrichtung und Halter, und somit auch Kalibrierkörper in dem Halter, zueinander sicher, so daß Ausrichtungs- bzw. Justierfehler sehr einfach vermieden sind. Die Untersuchungseinrichtung mit dem Halter kann dabei manuell oder, vorzugsweise, durch einen Antrieb bewegt werden. Besonders bevorzugt ist der Antrieb durch die Steuereinrichtung des Behandlungssystems steuerbar, so daß die Untersuchungseinrichtung mit dem Halter automatisch in den Behandlungsstrahlengang hinein und aus diesem heraus bewegbar ist. Grundsätzlich kann das erfindungsgemäße Verfahren unabhängig von einer Behandlung beispielsweise zur werksseitigen Kalibrierung, zur Kontrolle bei der Wartung oder zur Kalibrierung vor der Behandlung durchgeführt werden. Besonders günstig ist es jedoch, das Verfahren während einer Behandlung des Auges durchzuführen. Dabei kann die Ermittlung des Systemparameters kontinuierlich oder alternierend mit einzelnen Behandlungsteilschritten erfolgen. In diesem Fall liegen abhängig von der Frequenz der Untersuchung, insbesondere der Erfassungsfrequenz des Aberrometers . bzw. des Profilometers, in entsprechenden Zeitabständen die Ist-Werte des Systemparameters bzw. die Abweichungen von dem Soll-Wert des Systemparameters vor. Damit sind insbesondere Schwankungen der Systemparameter während der Behandlung bestimmbar, beispielsweise Drift der Ablenkeinrichtung, Fluencefluktuationen, etc..
Zur Erfassung der Halter in den Behandlungsstrahlengang hinein- und wieder herausbewegt werden. Mechanisch einfacher ist es, den Behandlungslaserstrahl alternierend auf das Auge und auf den Kalibrierkörper zu lenken. Bei dem erfindungsgemäßen System ist es dazu bevorzugt, daß eine Ablenkeinrichtung z.B. mit einem zwischen zwei Stellungen bewegbaren Spiegel so angeordnet ist, daß der Behandlungslaserstrahl auf das Auge oder auf den Kalibrierkörper fällt. Auf diese Weise braucht der Kalibrierkörper nicht bewegt zu werden. Weiter kann der Behandlungslaserstrahl ungeschwächt zur Behandlung verwendet werden. Grundsätzlich kann die Bestätigung der Anlenkeinrichtung, z.B. die Bewegung des Spiegels, manuell erfolgen. Zur Verwendung während der Behandlung ist ein automatischer Antrieb. Vorzugsweise ist dann die Ablenkung mit der Abgabe des Behandlungslaserstrahls synchronisiert. Das gleiche Ablationsprogramm kann dann auf der Hornhaut und auf dem Kalibrierkörper im Wesentlichen synchron durchgeführt werden. Besonders einfach fällt die Verwendung eines Spiegels, der Spiegel drehbar gelagert ist, da so eine mechanisch und konstruktiv einfache Ablenkung erfolgt.
Bei einer anderen Ausführungsform des erfindungsgemäßen Verfahrens ist es bevorzugt, daß der Behandlungslaserstrahl aufgeteilt wird und mit dem einem Teilstrahl der Kalibrierkörper abladiert und mit dem anderen Teilstrahl das Auge behandelt wird. Bei dem erfindungsgemäßen System ist es zweckmäßig, dazu einen Strahlteiler im Behandlungsstrahlengang des Behandlungssystems anzuordnen, der ein Teilstrahl aus dem Behandlungslaserstrahl zur Ablation des Kalibrierkörpers abteilt und der in dem außerhalb des Behandlungsstrahlengangs angeordneten Halter gehaltenen ist. Auf diese Weise ist eine Prüfung der Systemparameter während der Behandlung möglich. Bei der Ermittlung des Systemparameters sollten dabei die optischen Eigenschaften des Strahlteilers, soweit sie Einfluß auf die Eigenschaften des Teilstrahls haben, berücksichtigt werden. Als Strahlteiler kann ein halbdurchlässiger Spiegel verwendet werden. Dabei ist es besonders bevorzugt, daß die erwähnte Ablenkeinrichtung und/oder der Strahlteiler hinter einer Fokussieroptik oder der Ablenkeinrichtung des Behandlungssystems angeordnet ist. Auf diese Weise können auch Systemparameter für auf die Fokussieroptik und die Ablenkeinrichtung ermittelt werden. Weiterhin kann bei Verwendung eines Strahlteilers der für die Ablation des Kalibrierkörpers benutzte Teilstrahl des Behandlungslaserstrahls einfach nach dem gleichen Ablationsprogramm wie der das Auge behandelnde Behandlungslaserstrahl gesteuert werden.
Die Untersuchung der Oberfläche des Kalibrierkörpers kann grundsätzlich mit einer von dem Behandlungssystem unabhängigen, separaten Untersuchungseinrichtung erfolgen. Um die Baugröße zu minimieren kann man das Aberrometer bzw. Profilometer der Untersuchungseinrichtung in das Behandlungssystem integrieren; insbesondere kann das Aberrometer und/oder Profilometer fest mit dem Behandlungssystem verbunden sein. Besonders bevorzugt ist es, daß das Aberrometer und/oder als Profilometer für die Untersuchungseinrichtung in dem Behandlungssystem zur Untersuchung des Auges verwendbar ist, da sich so ein besonders kompaktes Behandlungssystem ergibt, das gleichzeitig kostengünstig aufgebaut ist. Diese Ausführungsform ist besonders vorteilhaft in Kombination mit einem Kalibrierkörperhalter, der in den Behandlungsstrahlengang hinein und aus diesem heraus bewegbar ist.
Um einen sehr kompakten Aufbau zu erzielen, ist es besonders bevorzugt, daß ein Meßstrahlenbündel, das zur Untersuchung des Kalibrierkörpers verwendet wird, kollinear zu dem Behandlungslaserstrahl oder einem davon abgeteilten Teilstrahl in den Strahlengang des Behandlungslaserstrahls bzw. des Teilstrahls zur Ablation des Kalibrierkörpers eingekoppelt wird. Bei dem erfindungsgemäßen Behandlungssystem verläuft dann ein Meßstrahlengang der Untersuchungseinrichtung wenigstens teilweise kollinear zu einem Strahlengang des Behandlungslaserstrahls.
Erfindungsgemäß kann grundsätzlich ein beliebiges Aberrometrieverfahren bzw. in der Untersuchungseinrichtung ein beliebiges Aberrometer verwendet werden. Um besonders einfach und zuverlässig Aberrationen auch höherer Ordnungen zu ermitteln, ist es jedoch bevorzugt, daß zur Untersuchung des Ablationszustandes des abladierten Kalibrierkörpers Daten einer mittels des abladierten Kalibrierkörpers beeinflußten Wellenfront bzw. eine Veränderung der Wellenfront erfaßt und ausgewertet werden. Bei der erfindungsgemäßen Systemparameterbestimmungsvorrichtung ist es dazu bevorzugt, daß die Untersuchungseinrichtung ein auf der Basis von Wellenfrontdaten arbeitendes Aberrometer umfaßt. Grundsätzlich können hierzu beliebige geeignete Aberrometer verwendet werden. Beispielsweise kann das Aberrometer interferometrisch arbeiten und z.B. einen Twyman- Green-Sensor aufweisen. Vorzugsweise werden jedoch Aberrometer mit geometrisch arbeitenden Sensoren, beispielsweise Tscherning-Aberrometer oder Systeme, die nach dem Skiaskop-Prinzip arbeiten, verwendet. Auch kann das Aberrometer einen. Shack-Hartmann- Sensor aufweisen. Solche Aberrometer verfügen neben einem einfachen Aufbau über eine sehr hohe Auflösung und hohe Erfassungsfrequenz.
Grundsätzlich können beliebige Profilometrie-Verfahren bzw. -Vorrichtung verwendet werden. Es ist jedoch bei dem erfindungsgemäßen Verfahren bevorzugt, daß für die Profilometrie ein optisch arbeitendes Verfahren verwendet wird bei der Systemparameter- bestimmungsvorrichtung bzw. dem Behandlungssystem, die Untersuchungseinrichtung ein optisch arbeitendes Profilometer umfaßt. Solche Profilometrie-Verfahren bzw. Profilometer erlauben eines schnelle berührungslose Ermittlung von Höhenprofilen bzw. Topographie-Daten. Als Profilometer können insbesondere Placido-Ring Topographiegeräte der Ophthalmologie oder andere optische Oberflächen-Profilometer verwendet werden.
Für eine genaue Überwachung ist es vorteilhaft, wenn mit nur einer Messung gleichzeitig Angaben über mehrere der Systemparameter gewonnen werden. Es ist deshalb bei dem erfindungsgemäßen Verfahren bevorzugt, daß aus den gleichen Untersuchungsdaten jeweils ein Ist-Wert und/oder eine Abweichung von einem entsprechenden Soll-Wert für wenigstens zwei Systemparameter ermittelt werden. Diese können insbesondere aus der obengenannten Liste der Systemparameter ausgewählt sein. Entsprechend ist es bei der erfindungsgemäßen Systemparameterbestimmungsvorrichtung bevorzugt, daß die Auswerteeinrichtung dazu ausgebildet ist, aus den gleichen Untersuchungsdaten für wenigstens zwei Systemparameter jeweils einen die Ist-Wert und/oder die Abweichung von einem entsprechenden Soll-Wert zu ermitteln. Die Ermittlung auf der Basis der gleichen Untersuchungsdaten kann dabei im Wesentlichen gleichzeitig erfolgen, so daß kein zusätzlicher zeitlicher Aufwand entsteht. Besonders bevorzugt können die Ist-Werte bzw. die Abweichungen von entsprechenden Soll- Werten für mehr als zwei Systemparameter bei den zuvor und im Folgenden in Bezug auf einen Systemparameter beschriebenen bevorzugten Ausführungsformen und Weiterbildungen der Erfindung entsprechend ermittelt werden.
Um zeitlich variierende System parameter zu erfassen, werden vorzugsweise alle entscheidenden Systemparameter des Behandlungssystems wiederholt zu aufeinanderfolgenden Zeiten bestimmt. Die Ermittlung des Ist-Wertes des Systemparameters bzw. von Ist-Werten der Systemparameter und/oder insbesondere der Abweichung von dem Soll-Wert bzw. der Abweichungen der Systemparameter von Soll-Werten kann auf unterschiedliche Art und Weise erfolgen.
Zum einen kann der Ist-Wert des Systemparameters jeweils absolut aus den Untersuchungsdaten ermittelt werden, wozu vorzugsweise theoretische oder empirisch ermittelte Beziehungen verwendet werden können. Dieser Ist-Wert kann dann mit einem vorgegebenen Soll-Wert verglichen werden.
Alternativ ist es möglich, daß die Abweichung des Ist-Wertes des Systemparameters von dem Soll-Wert bzw. der Abweichungen der Ist-Werte der Systemparameter von den Soll-Werten auf der Basis eines Vergleichs der Untersuchungsdaten mit entsprechenden Referenzdaten ermittelt wird. Dazu ist es bei der erfindungsgemäßen Systemparameterbestimmungs- Vorrichtung zweckmäßig die Auswerteeinrichtung zur Ermittlung der Abweichung des Ist-Wertes Systemparameters von dem Soll-Wert bzw. der Abweichungen der Ist-Werte der Systemparameter von den Soll-Werten durch Vergleich der Untersuchungsdaten mit entsprechenden Referenzdaten auszubilden. Ein solcher Vergleich ist meist einfacher durchzuführen, da die absoluten Soll-Werte nicht unbedingt explizit bekannt sein müssen. Auch können für einen Systemparameter ein Ist-Wert absolut und für einen anderen Systemparameter eine Abweichung von einem Soll-Wert ermittelt werden.
Bei einer bevorzugten Ausführungsform der Erfindung sind die Referenzdaten durch entsprechende theoretische Werte oder durch Daten gegeben, die zuvor an einem vorgegebenen Behandlungssystem, bei dem die Systemparameter die Soll-Werte haben, durch Ablation und Vermessung eines Kalibrierkörpers bestimmt werden. Diese Lösung ist mit fest vorgegebenen Ablationsmustern, z.B. mit bestimmten Ablationsdaten für wohldefinierte höhere Aberrationsterme, möglich. Bei der erfindungsgemäßen Systemparameterbestimmungs- vorrichtung ist es diesbezüglich bevorzugt, daß diese einen Speicher zur Speicherung der Referenzdaten aufweist.
Bei einer Ausführungsform des erfindungsgemäßen Verfahren ist wird vorteilhafterweise ein Referenzkörper nach Anwendung eines vorgegebenen Ablationsmusters mit Aberrometrie und/oder Profilometrie untersucht, und die erhaltenen Untersuchungsdaten werden als Referenzdaten verwendet. Dabei ist es zweckmäßig, daß der Referenzkörper durch Ablation eines dem Kalibrierkörper entsprechenden Körpers mit einem Behandlungssystem erhalten worden ist, bei dem die Systemparameter die vorgegebenen Soll-Werte aufweisen. Der Referenzkörper kann dabei direkt durch Ablation erhalten worden sein oder durch Abformung eines zuvor abladierten Körpers. Auf diese Weise können die Referenzdaten einfach jeweils neu gebildet werden. Insbesondere können für verschiedene Kalibrierkörper entsprechende Referenzkörper verwendet werden. Weiter werden so Eigenheiten des Aberrometers und/oder Profilometers einfach berücksichtigt.
Bei der erfindungsgemäßen Systemparameterbestimmungsvorrichtung und dem erfindungsgemäßen Behandlungssystem kann mit Gewinn ein Referenzkörper verwendet werden, der ein vorgegebenes Referenzablationsmuster aufweist. Der Referenzkörper ist dabei in einen Meßstrahlengang der Untersuchungseinrichtung bewegbar. Dieser Referenzkörper kann jederzeit und sehr einfach manuell oder, vorzugsweise, automatisch in die Untersuchungseinrichtung eingebracht und gemessen bzw. untersucht werden. Die so gewonnenen Untersuchungsdaten des Referenzkörpers stellen dann die Referenzdaten für den Vergleich mit den Daten des vor oder während der Behandlung abladierten Körpers dar. In Anwendungen, bei denen während einer Behandlung laufend die Ist-Werte und/oder Abweichungen von Soll-Werten der Systemparameter ermittelt werden, kann darauf verzichtet werden, zur Erzielung einer hohen Genauigkeit für jede neue Bestimmung einen neuen Kalibrierkörper einzusetzen, wenn das Verfahren zyklisch durchgeführt wird, und aus Untersuchungsdaten eines vorhergehenden Zyklus Referenzdaten für den aktuellen Zyklus ■ ermittelt werden. Bei der erfindungsgemäßen Systemparameterbestimmungsvorrichtung ist es dazu bevorzugt, daß die Auswerteeinrichtung dazu ausgebildet ist, bei zyklischer Erfassung von Untersuchungsdaten aus Untersuchungsdaten eines vorhergehenden Zyklus Referenzdaten für den aktuellen Zyklus zu ermitteln. Zur Ermittlung können neben dem Ablationsprogramm zwischen zwei Zyklen entweder bei entsprechender Korrektur der Systemparameter die Soll- Werte der Systemparameter oder sonst die Ist-Werte verwendet werden.
Für den Vergleich der Untersuchungsdaten der aktuell erzeugten und gemessenen Kalibrierkörper entweder mit den Referenzdaten oder den Untersuchungsdaten des gemessenen Referenzkörpers, können unterschiedliche Wege beschritten werden. Je nach der Art der Datensätze, z.B. modal oder zonal rekonstruierte Wellenfrontdarstellungen oder Topographie-Höhendaten, eignen sich z.B. Differenzmethoden, Differentialmethoden, Momentenmethoden oder andere allgemein bekannte mathematische Verfahren und deren Kombinationen, um die gemessenen und bei der Untersuchung ermittelten Daten mit den Referenzdäten zu vergleichen und aus den Abweichungen Abweichungen der Systemparameter für das Behandlungssystem festzustellen und ggf. quantitativ zu ermitteln. Die ermittelte Abweichung der Systemparameter von Soll-Werten kann dann ausgegeben werden. Das Verfahren bzw. die Vorrichtung kann zur Kalibrierung eines Systems zur Behandlung eines Auges weitergeleitet werden. Dazu ist es bevorzugt, daß in Abhängigkeit von dem ermittelten Ist-Wert des System parameters bzw. den ermittelten Ist-Werten der Systemparameter und/oder der Abweichung des Systemparameters von dem Soll-Wert bzw. den Abweichungen der Systemparameter von den Soll-Werten wenigstens ein Korrekturparameter für das Behandlungssystem ermittelt wird, der dazu geeignet ist, Abweichungen von einem Soll- Zustand oder einer Soll-Funktion zu reduzieren. Die Systemparameterbestimmungsvorrichtung verfügt dazu über eine Korrekturwertermittlungseinrichtung die, in Abhängigkeit von dem ermittelten Ist-Wert des Systemparameters bzw. der Ist-Werte der Systemparameter und/oder der Abweichung des Systemparameters von dem Soll-Wert bzw. den Abweichungen der Systemparameter von den Soll-Werten wenigstens einen Korrekturparameter für das Behandlungssystem ermittelt, der dazu geeignet ist, Abweichungen von einem Soll-Zustand oder einer Soll-Funktion zu reduzieren. Bei dem Behandlungssystem ist es bevorzugt, daß die Systemparameterbestimmungsvorrichtung oder die Steuereinrichtung eine Korrektur- wertermittlungseinrichtung aufweist, die in Abhängigkeit von dem ermittelten Ist-Wert des Systemparameters bzw. der Ist-Werte der System parameter und/oder der Abweichung des Systemparameters von dem Soll-Wert bzw. den Abweichungen der Systemparameter von den Soll-Werten wenigstens einen Korrekturparameter für das Behandlungssystem ermittelt, der dazu geeignet ist, Abweichungen von einem Soll-Zustand oder einer Soll-Funktion zu reduzieren. Bei den Korrekturparametern kann es sich insbesondere um Stellgrößen für Stelleinrichtungen des Behandlungssystems handeln, mittels derer entsprechende Systemparameter änderbar sind. Der Soll-Zustand kann beispielsweise durch entsprechende Soll-Werte der Systemparameter, die Soll-Funktion durch die Bildung eines vorgegebenen Ablationsmusters betreffen. Beispielsweise kann ein definierter Kalibrierungszustand des Behandlungssystems im Werk eingestellt werden. Es kann aber auch der werksseitige Kalibrierungszustand bei oder nach der Benutzung des Behandlungssystems wieder hergestellt werden.
Es ist dann bei dem erfindungsgemäßen Verfahren weiter bevorzugt, daß in Abhängigkeit von dem ermittelten Ist-Wert des Systemparameters bzw. den ermittelten Werten der Systemparameter oder dessen Abweichung von dem Soll-Wert bzw. den Abweichungen der Systemparameter von den Soll-Werten wenigstens eine entsprechende Einstellung einer Stelleinrichtung des Behandlungssystems verändert wird, um Abweichungen von einem Soll- Zustand oder einer Soll-Funktion zu reduzieren. Bei der Stelleinrichtung " kann es sich insbesondere elektrische und/oder optische und/oder mechanische und/oder elektromechanische und/oder optomechanische Stelleinrichtung des Behandlungssystems handeln. Es kann so eine einfach Kalibrierung erfolgen. Insgesamt ist so auch eine Regelung möglich Eine Abweichung des System parameters von einem Soll-Wert kann grundsätzlich manuell von einer Bedienperson durch eine entsprechende Korrektur an dem Behandlungssystem beseitigt werden.
Für eine automatische Regelung ist es bevorzugt, auf der Basis des Ist-Werts des Systemparameters bzw. der Ist-Werte der Systemparameter oder der Abweichung des Systemparameters von dem Soll-Wert bzw. den Abweichungen der Systemparameter von den Soll-Werten die Einsteilung des Behandlungssystems automatisch zur Verringerung der Abweichung zwischen Ist- und Soll-Wert bzw. der Abweichungen zwischen Ist- und Soll-Werten zu ändern. Dazu kann die Auswerteeinrichtung mit der Steuereinrichtung verbunden und Auswerte- und/oder die Steuereinrichtung derart ausgebildet sein, daß auf der Basis des Ist- Wertes des Systemparameters bzw. der Abweichung des Systemparameters von dem Soll- Wert die Einstellung des Behandlungssystems automatisch zur Verringerung der Abweichung zwischen Ist- und Soll-Wert änderbar ist. Es wird so eine Nachregelung des Systemparameters durch Stelleinrichtungen oder Einstellungen des Behandlungssystems erreicht. Insbesondere bei einer Prüfung und Nachregelung während der Behandlung kann so eine hohe Stabilität der Systemparameter gegenüber Schwankungen und/oder Drift erreicht werden, was die Präzision der eigentlichen Behandlung wesentlich erhöhen kann.
Das Ziel der Nachregelung besteht darin, eine vorgegebene Ablation auf der Hornhaut des Auges zu erreichen. Es ist daher bei dem erfindungsgemäßen Verfahren alternativ oder ergänzend bevorzugt, daß zur Erzielung eines vorgegebenen Ablationsprofils ein Programm oder wenigstens ein Parameterwert für das Programm zur zeitlichen Änderung der Lage und/oder Intensität des Behandlungslaserstrahls entsprechend dem Ist-Wert und/oder der Abweichung des Systemparameters von dem Soll-Wert verändert wird. Es wird also nicht unbedingt das Behandlungssystem in Bezug beispielsweise die Funktion des Behandlungslasers und/oder der Ablenkeinrichtung abgestimmt, sondern das Ablationsprogramm wird geeignet so eingestellt, daß mit den aktuell vorhandenen Systemparametern das gewünschte Ablationsprofil auf der Hornhaut erhalten wird. Bei dem erfindungsgemäßen Behandlungssystem ist es dazu bevorzugt, daß die Auswerteeinrichtung mit der Steuereinrichtung verbunden und die Steuereinrichtung derart ausgebildet ist, daß auf der Basis des Ist-Wertes und/oder der Abweichung des Systemparameters von dem Soll-Wert ein Programm oder wenigstens ein Parameterwert für das Programm zur zeitlichen Änderung der Lage und/oder Intensität des Behandlungslaserstrahls zur Erzielung eines vorgegebenen Ablationsprofils änderbar ist. Insbesondere kann die Auswerteeinrichtung hierzu entsprechende Korrekturwerte an die Steuereinrichtung abgeben. Diese Änderung kann insbesondere dadurch erfolgen, daß Werte von Parametern eines Steuerprogramms in Abhängigkeit von dem Ist-Wert bzw. der Abweichung des Systemparameters von dem Soll-Wert und dem gewünschten Ablationsprofil verändert werden. Basis hierfür können theoretisch oder empirisch ermittelte Zusammenhänge zwischen dem Ablationsprofil und den Systemparametern sein. Beispielsweise ist kann eine an und für sich bekannte Abhängigkeit der Ablationstiefe von der Behandlungslaserfluence oder die Form und Tiefe der Übergangszone bzw. die Formabweichungen bestimmter, im Kalibrierkörper bzw. dem Auge erzeugter höherer Aberrationen als Funktion der Spotform hierfür ausgenutzt werden.
Die beiden zuletzt genannten Ausführungsformen der Erfindung mit einer Nachstellung von Systemparametern und Änderung des Ablationsprogramms können auch kombiniert werden. Das hat den Vorteil, daß man sich bei den einzustellenden System parametem auf die relevantesten Systemparameter und/oder auf diejenigen Systemparameter beschränken kann, deren Einstellung technisch mit geringem Aufwand möglich ist, und Abweichungen der Ist- Werte anderer Systemparameter von entsprechenden Soll-Werten durch eine Anpassung des Ablationsprogramms Rechnung trägt.
Diese in das Behandlungssystem integrierbare Kalibriermethode erhöht die Präzision des Behandlungssystems und entlastet den Operateur von aufwendigen manuellen Kalibrierarbeiten bei Ausschluß von subjektive Bewertungsfehlern, wie sie beispielsweise bei der Begutachtung von Fluence-Papieren oder -Folien auftreten können.
Bevorzugt kann direkt die während der Behandlung bestimmte Ist-Ablation des Kalibrierkörpers verwendet werden, um Rückschlüsse auf den erreichten Ablationszustand auf der Cornea des Patienten zu erhalten. Die Ablation kann damit dynamisch gesteuert werden bis zum Erreichen der optimalen Zielablation auf dem Kalibrierkörper, die bei weitgehend bekannten Verhältnissen zwischen der Körper- und der Hornhautablation auch zu einer optimalen Behandlung des Patienten führt. Als Soll-Ablation für den Kalibrierkörper bei dieser Vorgehensweise eignet sich die vor der Behandlung festgelegte Soll-Ablation, die auf die Verhältnisse des Körpers umgerechnet wird.
Die erläuterten Gesichtspunkte der vorliegenden Erfindung bezogen sich auf die mittels Aberrometrie mögliche Charakterisierung, Kalibrierung/Einstellung und Steuerung von Lasersystemen in der refraktiven Laserchirurgie. Die vorliegende Erfindung ist jedoch auch für beliebige andere therapeutische Verfahren der (Laser-) Chirurgie verwendbar, bei denen biologisches Material entfernt werden soll und für die äquivalent Verfahren des Materialabtrags benutzt werden. Außerdem ist das Verfahren, wie oben erläutert, nicht auf eine Messung und Verwendung von Aberrationsdaten begrenzt, sondern kann auch so abgewandelt werden, daß Topographiedaten (bzw. Profilometriedaten) benutzt werden. Dazu kann in der Untersuchungseinrichtung 8 statt eines Aberrometers ein Profilometer verwendet werden.
Die Erfindung wird nachfolgend beispielhaft anhand der Zeichnungen noch näher erläutert. Es zeigen:
Fig. 1 eine schematische Darstellung eines Behandlungssystems und einer Systemparameterbestimmungsvorrichtung nach einer ersten bevorzugten Ausführungsform der Erfindung,
Fig. 2 eine schematische Darstellung eines Aberrometers der Systemparameter- bestimmungsvorrichtung in Fig. 1 ,
Fig. 3 graphische Darstellungen eines typischen theoretisch ermittelten und eines gemessenen Querschnitts für einen mittels Excimer-Laserablation eines PMMA-Kalibrierkörpers erzeugten Zernike-Koma-Terms,
Fig. 4 gemessene Aberrationen in Form von Profilhöhenwerten in einer Grauwertdarstellung bei einer Dezentrierung einer Ablenkeinrichtung des Behandlungssystems in Fig. 1 gegenüber einer Augenbewegungsverfolgungseinrichtung des Behandlungssystems in Fig. 1 ,
Fig. 5 gemessene Aberrationen in Form von Profilhöhenwerten in einer Grauwertdarstellung bei einer Dezentrierung einer Ablenkeinrichtung des Behandlungssystems in Fig. 1 gegenüber einer Augenbewegungsverfolgungseinrichtung des Behandlungssystems in Fig. 1 sowie entsprechende Werte von Zernike-Koeffizienten,
Fig. 6 Ergebnisse von Simulationen für Aberrationen an abladierten Kalibrierkörpern bei Verdrehung der Achsen einer Ablenkeinrichtung des Behandlungssystems in Fig. 1 gegenüber ihren Soll-Lagen mit Darstellungen von Profilhöhen als Grauwerten, entsprechenden Zernike- Koeffizienten und jeweiligen Drehwinkeln,
Fig. 7 Ergebnisse von Messungen des Einflusses von Fluence-Änderungen auf Aberration mit Darstellungen von Profilhöhen als Grauwerten, und entsprechenden Zernike-Koeffizienten, Fig. 8 eine schematische Darstellung eines Behandlungssystems und einer Systemparameterbestimmungsvorrichtung nach einer zweiten bevorzugten Ausführungsform der Erfindung,
Fig. 9 eine schematische Darstellung eines Behandlungssystems mit einer integrierten Systemparameterbestimmungsvorrichtung nach einer dritten bevorzugten Ausführungsform der Erfindung,
Fig. 10 eine schematische teilweise Darstellung eines Behandlungssystems mit einer Systemparameterbestimmungsvorrichtung, die ein bewegbares Aberrometer aufweist, nach einer fünften bevorzugten Ausführungsform der Erfindung,
Fig. 11 eine schematische teilweise Darstellung eines Behandlungssystems mit einer Systemparameterbestimmungsvorrichtung, die einen bewegbaren Kalibrierkörperhalter aufweist, nach einer sechsten bevorzugten Ausführungsform der Erfindung,
Fig. 12 eine schematische teilweise Darstellung eines Behandlungssystems mit einer Systemparameterbestimmungsvorrichtung nach einer elften bevorzugten Ausführungsform der Erfindung,
Fig. 13 eine schematische Darstellung eines Behandlungssystems mit einer Systemparameterbestimmungsvorrichtung nach einer zwölften bevorzugten Ausführungsform der Erfindung,
Fig. 14 eine schematische Darstellung eines Behandlungssystems mit einer Systemparameterbestimmungsvorrichtung nach einer dreizehnten bevorzugten Ausführungsform der Erfindung, und
Fig. 15 eine schematische teilweise Darstellung des Behandlungssystems mit der Systemparameterbestimmungsvorrichtung in Fig. 14.
In Fig. 1 umfaßt ein Behandlungssystem 1 zur refraktiven Laserchirurgie des Auges; mit einem Excimer-Laser 2, der steuerbar ein Behandlungslaserstrahl 3 abgibt, einer einstellbaren Fokussieroptik 4 zur Fokussierung des von dem Excimer-Laser 2 abgegebenen Behandlungslaserstrahls 3, einer Ablenkeinrichtung 5, die den Behandlungslaserstrahl 3 entsprechend vorgegebener Ablenksignale ablenkt einer (nicht gezeigten) Einrichtung zur Verfolgung einer Augenbewegung und einer Steuereinrichtung 6, die mit dem Excimer-Laser 2, der Fokussieroptik 4, der Einrichtung zur Verfolgung der Augenbewegung und der Ablenkeinrichtung 5 über entsprechende Signalleitungen verbunden und zur Abgabe entsprechender Steuersignale an (nicht gezeigte) Steileinrichtungen in Abhängigkeit von einem vorgegebenen Ablationsprogramm und Bewegungsdaten der Augenbewegungs- Verfolgungseinrichtung ausgebildet ist. Behandlungssysteme dieser Art sind grundsätzlich bekannt, so daß das Behandlungssystem im Folgenden nicht näher beschrieben wird. Ein Beispiel für ein solches Behandlungssystem ist das MEL 70 Excimer-Lasersystem der Carl Zeiss Meditec AG, Jena, Deutschland.
Weiter ist eine Systemparameterbestimmungsvorrichtung 7 zur Bestimmung von Ist-Werten von Systemparametern des Behandlungssystems 1 oder Abweichungen dieser Parameter von Soll- Werten, zur Vereinfachung auch als Systemparameterbestimmungsvorrichtung bezeichnet, vorgesehen, die eine Untersuchungseinrichtung 8 und eine Auswerteeinrichtung 9 umfaßt.
Ein Halter 10 für einen in einer in den Figuren nicht gezeigten Fassung gefaßten Kalibrierkörper 11 ist im Behandlungsstrahlengang des Behandlungssystems 1 angeordnet. Der Halter 10 kann dem Behandlungssystem 1 zugeordnet angesehen werden.
Der Excimer-Laser 2 kann es als ArF-Excimer-Laser mit einer Wellenlänge von 193 nm ausgebildet werden, der den Behandlungslaserstrahl 3, beispielsweise in Form von Pulsen vorgegebener Dauer und Intensität, in Abhängigkeit von entsprechenden Steuersignalen der Steuereinrichtung 6 abgibt.
Die Fokussieroptik 4 besitzt zur Fokussierung des Behandlungslaserstrahls 3 in eine Arbeitsebene eine verstellbare Brennweite und/oder Lage. Obwohl sie in den Figuren schematisch nur durch eine Linse dargestellt ist, umfaßt sie tatsächlich weitere Linsen und gegebenenfalls auch strahlbündelbegrenzenden Einrichtungen wie beispielsweise Blenden. Zur Einstellung der Fokussieroptik 4 sind über entsprechende Signale ansteuerbare (nicht dargestellte) Stellantriebe vorgesehen.
Die Ablenkeinrichtung 5 weist zwei durch entsprechende Stellantriebe auslenkbare strahlum- bzw. -ablenkende Elemente, beispielsweise Spiegel, auf, die den fokussierten Behandlungslaserstrahl 3 in zwei Richtungen ablenken.
Die Systemparameterbestimmungsvorrichtung 7 bzw. die Untersuchungseinrichtung 8 verfügt über ein Aberrometer 12, das in Fig. 2 genauer schematisch gezeigt ist, und neben den optischen Einrichtungen auch eine Meßdatenverarbeitungseinrichtung 13 besitzt. Das Aberrometer 12 ist zur Ermittlung von Aberration über eine Untersuchung von Wellenfronten mittels eines Shack-Hartmann-Sensors 20 ausgebildet. Eine Meßlichtquelle 14, im Beispiel eine Superlumineszendiode, erzeugt ein Meßstrahlenbündel 15, das über eine Beleuchtungsoptik 16 in ein im wesentlichen paralleles Meßstrahlenbündel 15 mit einer im wesentlichen ebenen Wellenfront umformt, und, im Beispiel über eine nicht grundsätzlich notwendige Strahlumlenkung 17, auf einen zu untersuchenden, abladierten Kalibrierkörper 11 gelenkt wird, der in einem Halter 18 des Aberrometers sitzt.
Der Halter 18 ist dabei wie der Halter 10 zur Aufnahme eines gefaßten Kalibrierkörpers 11 ausgebildet.
Das Meßstrahlenbündel 15 mit seiner im wesentlichen ebenen Wellenfront durchläuft den Kalibrierkörper 11 im Halter 10, wird dadurch verformt und dann über eine Sensoroptik 19 auf den Hartmann-Shack-Sensor abgebildet. Bei dem Durchlaufen des parallelen Meßstrahlenbündels 15 durch den bearbeiteten, transparenten Kalibrierkörper 11 entstehen Aberrationen, die mit dem in einer Ebene des Kalibrierkörpers 11 orthogonal zu der mittleren Richtung des Meßstrahlenbündels 15 lokal variierenden optischen Wegunterschied, also der Oberflächentopographie des Kalibrierkörpers 11 physikalisch eindeutig verknüpft sind.
Der Hartmann-Shack-Sensor 20 ist im Ausführungsbeispiel durch ein Mikrolinsenfeld 21 und eine CCD-Kamera 22 gebildet, die das von dem Mikrolinsenfeld 21 auf die Photodetektorfläche der CCD-Kamera 22 abgebildete Meßstrahlenbündel 15 erfaßt und in ein entsprechendes Intensitätsbild in Form eines Feldes von Intensitätswerten umsetzt.
Die Sensoroptik 19 ist dabei so ausgebildet und angeordnet, daß das Photodetektorfeld der CCD-Kamera 22 zu einer abladierten Oberfläche des Kalibrierkörpers 11 konjugiert liegt. Im Beispiel ist die Sensoroptik 19 als abbildendes Teleskop realisiert.
Das von der CCD-Kamera 22 erfaßte Intensitätsbild wird dann über eine entsprechende Datenverbindung zur Meßdatenverarbeitungseinrichtung 13 übermittelt, die rechnergestützte die Intensitätsbilder nach hinlänglich bekannten Methoden analysiert und die Aberrationen als Untersuchungsdaten bestimmt. Die Meßdatenverarbeitungseinrichtung 13 verfügt dazu über eine entsprechende Eingangsschnittstelle, einen Mikroprozessor mit einem Speicher, in dem unter anderem ein entsprechendes Meßdatenverarbeitungprogramm gespeichert ist, und eine Ausgabeschnittstelle 23, über die die Untersuchungsdaten ausgegeben werden.
Die Auswerteeinrichtung 9 ist mit der Ausgabeschnittstelle 23 des Aberrometers 12 bzw. der Meßdatenverarbeitungseinrichtung 13 verbunden, um aus den Untersuchungsdaten Ist-Werte von Systemparametern und/oder Abweichungen der Systemparameterwerte von Soll-Werten zu ermitteln und diese über eine Schnittstelle 24 auszugeben. Insbesondere weist sie im vorliegenden Ausführungsbeispiel einen (in Fig. 1 nicht gezeigten) Speicher auf, in dem Referenzdaten zum Vergleich mit ermittelten Untersuchungsdaten gespeichert sind.
Die Auswerteeinrichtung 9 kann grundsätzlich mit der Meßdatenverarbeitungseinrichtung 13 in dem Sinne integriert sein, daß die entsprechenden Funktionen durch Softwaremodule bereitgestellt werden, die auf dem gleichen Mikroprozessor ablaufen, der mit einem Speicher und geeigneten Schnittstellen verbunden ist. Im hier realisierten Beispiel sind jedoch getrennte Einrichtungen vorgesehen, so daß die Auswerteeinrichtung 9 ebenfalls über Ein- und Ausgabeschnittstellen, einen Speicher und einen mit den Schnittstellen und dem Speicher zusammenarbeitenden Mikroprozessor verfügt, der zur Durchführung des entsprechenden Schritts des Verfahrens geeignet programmiert ist.
Zur Durchführung des erfindungsgemäßen Verfahrens nach einer ersten bevorzugten Ausführungsform der Erfindung wird ein transparenter PMMA-Kalibrierkörper 11 im Halter 10 mit dem Behandlungslaserstrahl 3 nach einem vorgegebenen, in der Steuereinrichtung 6 gespeicherten Ablationsprogramm abladiert, indem der Behandlungs-Laserstrahl 3 nach einem Zeitprogramm gepulst über entsprechende Oberflächenbereiche des Kalibrierkörpers 11 geführt wird. Alternativ kann auch ein Kalibrierkörper 11 verwendet werden, dessen Brechzahl durch Laserbestrahlung lokal verändert werden kann, z.B. ein Kalibrierkörper aus UV-modifizierbarem Material. Der Kalibrierkörper ist in einer einfachen Realisierung eine planparallele Platte; er kann aber auch sphärisch vorgeformt sein.
Das Ablationsprogramm ist dabei so gewählt, daß der abladierte Kalibrierkörper 11 geeignete höhere Aberrationen bewirkt, die durch hohe Raumfrequenzen und gegebenenfalls fehlende Rotationssymmetrie charakterisiert sind.
Der abladierte Kalibrierkörper 11 wird dann manuell dem Halter 10 entnommen und in den Halter 18 des Aberrometers 12 eingesetzt. Danach wird eine Wellenfrontanalyse der abladierten Oberfläche des Kalibrierkörpers 11 durchgeführt. Dabei werden in der Meßdaten- verarbeitungseinrichtung 13 als Untersuchungsdaten entsprechende Aberrationen aus den Intensitätsbildern des Shack-Hartmann-Sensors 20 ermittelt.
Die Untersuchungsdaten werden dann an die Auswerteeinrichtung 9 übermittelt, wo aus den Untersuchungsdaten Ist-Werte von Systemparametern und/oder Abweichungen der Systemparameterwerte von Soll-Werten ermittelt und über die Schnittstelle 24 ausgegeben werden. Als Parameterkombination können Parameter der
Augenbewegungsverfolgungseinrichtung oder die Spotgröße, insbesondere der Spotdurchmesser, herangezogen werden. Auch kann die Ablation des Prüfkörpers mit einem ausgekoppelten Anteil des für die Behandlung verwendeten Strahls online erfolgen.
Die Bestimmung der Systemparameter erfolgt aus einem Vergleich zwischen den gemessenen Untersuchungsdaten, d.h. den Ist-Aberrationen, des abladierten Kalibrierkörpers 11 und Referenzdaten für die Soll-Aberrationen bei richtiger Kalibrierung, die in Verbindung mit dem Ablationsprogramm und der Form des nicht abladierten Kalibrierkörpers 11 ermittelt wurden, und zur Durchführung des Vergleichs in der Auswerteeinrichtung 9 gespeichert sind.
Zwischen den verschiedenen möglichen Abweichungen zwischen den Soll- und Ist- Untersuchungsdaten bzw. -Aberrationen und den Systemparametern wie z.B. Fluence, Spotform, Offset der Ablenkeinrichtung 5 etc. bestehen eindeutige Zusammenhänge. Diese Zusammenhänge können theoretisch oder aber auch empirisch ermittelt werden.
Aus den so gewonnenen Ergebnissen für die Ist-Werte der Systemparameter kann nun direkt auf den Kalibrierungszustand des Behandlungssystems 1 geschlossen werden. Weichen die aus den Aberrationen des Kalibrierkörpers 11 bestimmten Ist-Werte der Systemparameter nicht oder nur gering, d.h. um einen Differenzbetrag kleiner als ein jeweils vorgegebener Schwellwert, von den Soll-Werten der werksseitigen Kalibrierung ab, ist das System in einem sicheren Betriebszustand und Ablationen können zielgenau durchgeführt werden.
Andernfalls kann aus den bestimmten Abweichungen der Ist-Werte der Systemparameter von den Soll-Werten der Systemparametern abgeleitet werden, daß das Behandlungssystem 1 nicht korrekt kalibriert ist.
Es ist nun möglich, aus der Kenntnis der einzelnen Ist-Werte der Systemparameter auch Werte für Korrekturparameter abzuleiten, die in vorgegebene Justier- oder Stellvorschriften, z.B. zur Nachregelung der Ablenkeinrichtung 5 oder der Fokussieroptik 4, eingehen, mit denen die Abweichungen vom eigentlichen gewünschten Kalibrierungszustand behoben werden. Die Zusammenhänge zwischen den Werten der Korrekturparameter und den Abweichungen der Systemparameter von ihren Soll-Werten können, je nach Art des Systemparameters, deduktiv mittels theoretisch-physikalischer Überlegungen oder auch empirisch bestimmt werden. Die Abweichungen eines Ist-Wertes eines gegebenen Systemparameters von dem Soll-Wert wird durch Verändern eines damit zusammenhängenden, definierten Satzes von Korrekturparametern für Justiereinrichtungen oder Einstellungen von Regelparametern etc. behoben. Die Rückführung der Ist-Werte bestimmter Systemparameter auf die Soll-Werte erfolgt in diesem Ausführungsbeispiel durch manuelle Einstellungen der verschiedenen Komponenten von Technikern. Diese Methode eignet sich z.B. für die werkseitige Kalibrierung des Systems im Werk. Außerdem können diese Verfahren auch von Servicetechnikern zur Nachkalibrierung eingesetzt werden.
Bei dem zu prüfenden Behandlungssystem 1 kann es sich beispielsweise um das MEL 80 Excimer-Lasersystem der Carl Zeiss Meditec AG, Jena, Deutschland handeln. Dieses wird dann dazu benutzt, um auf gefaßten PMMA-Kalibrierkörpem, die in dem Ablationstrahls des Behandlungssystems in definierter Weise positioniert werden, ein bestimmtes Ablationsprofil zu erzeugen. Der abladierte Kalibrierkörper wird dann in eine Testaugeneinheit eingesetzt, die in definierter Weise an ein Aberrometer, z.B. ein WASCA Wavefront Analyzer der Carl Zeiss Meditec AG, Jena, Deutschland, montierbar ist.
Die Testaugeneinheit weist dabei den Halter 18 für den Kalibrierkörper 1 auf, der so angeordnet ist, daß der Kalibrierkörper nach Montage der Testaugeneinheit relativ zum Aberrometer 12 in einer Lage gehalten ist, in der sonst ein zu untersuchendes Auge positioniert ist. Aus der Messung des abladierten, transparenten Kalibrierkörpers erhöht man die durch die Ablation verursachten Aberrationen.
Fig. 3 zeigt graphische Darstellungen eines typischen theoretisch ermittelten und eines gemessenen Querschnitts durch das Zentrum des Prüfkörpers für einen mittels Excimer- Laserablation in einem PMMA-Kalibrierkörper erzeugten Zemike-Koma-Term Z(3,1). Die verrauschte Kurve gibt die Messung der Oberfläche mittels optischer Profilometrie und die glatte Kurve den Schnitt durch die Darstellung des theoretisch vorgegebenen Zernike-Polynoms Z(3J ) (Notation nach Malacara, „Optical Shop Testing", 2. Aufl., nach Wiley, 1992).
Im folgenden wird an drei Beispielen demonstriert, auf welcher Basis Systemparameter aus Aberrationen ableitbar sind. Alle genannten Aberrationen sind dabei in einer Moden- Entwicklung nach Zernike-Polynomen durch Zernike-Koeffizienten dargestellt, die als Funktionen der Systemparameter aufgefaßt werden. Die angegebenen Werte für die Zernike- Koeffizienten entsprechen dabei optischen Weglängendifferenzen gemäß Malacara-Notation.
Als erstes Beispiel ist die Dezentrierung zwischen einer Augenbewegungs- Verfolgungseinrichtung ("eye tracking"- System) und einer Nuilage der Ablenkeinrichtung 5 für die Behandlungslaserstrahlablenkung gewählt. Fig. 4 zeigt die mit dem oben genannten Aberrometer gemessenen Daten der PMMA- Kalibrierkörper für zwei verschiedene Zentrierungen. Im linken Bild war die Nuilage der Ablenkeinrichtung des Behandlungssystems bei der Ablation nicht in Übereinstimmung mit der Augenbewegungsverfolgungseinrichtung, was ein Vergleich mit dem korrekt justierten System (rechtes Bild) unmittelbar zeigt.
Die Grundlage des Vergleichs ist in der Bildsequenz in Fig. 5 anhand der Aberrationen dritter und vierter Ordnung für Kalibrierkörper veranschaulicht, die mit verschiedenen Dezentrierungen abladiert wurden.
Für die mit dem oben genannten Behandlungssystem zu erzeugenden Soll-Ablationen auf dem Kalibrierkörper wurde die sphärische Aberration erster Ordnung, d.h. mit dem Zernike- Koeffizienten Z(40), gewählt.
Von oben nach unten sind in Fig. 5 verschiedene Dezentrierungen gezeigt. Für einen festen Analysedurchmesser sind die für die Aberrationen der abladierten Kalibrierkörper Zernike- Amplituden einer Entwicklung nach Zemike-Polynomen bestimmt worden.
Fig. 5 zeigt in der Mitte Grau-Höhendarstellungen der mittels Wellenfrontanalyse bestimmte Oberflächentopographie. Rechts daneben sind die aus der Wellenfrontanalyse bzw. der Oberflächentopographie ermittelten Aberrationen bzw. Zemicke-Koeffizienten als Werte für die optische Weglängendifferenz nach Malarca Notation in Einheiten von Nanometern angegeben.
Der abladierte Kalibrierkörper für die zentrierte Position, in Fig. 5 die oberste Graustufen- Höhendarstellung der gemessenen Wellenfront (Bild 1), zeigt im wesentlichen einen reinen Z(40) Aberrationsterm.
Die anderen Bilder 2-5 in Fig. 5 zeigen Dezentrierungen, die immer zu einer wohldefinierten Superposition der sphärischen Aberration Z(40) mit im Wesentlichen jeweils einem dominierenden Koma-Term, im Beispiel Z(3,-1 ) bzw. Z(3,1 ) führt. Dabei ist darauf hinzuweisen, daß für die gezeigten Fälle Dezentrierungen im Bereich deutlich unterhalb von 500 μm gewählt wurden. Selbst so geringe Dezentrierungen ergeben sich eindeutig unterscheidbare Zerlegungen nach Zernike-Koeffizienten. Das Verfahren ist also sehr empfindlich. Alle vier Dezentrierungsfälle können somit eindeutig unterschieden werden. Insbesondere erlaubt es die Untersuchung der Kalibrierkörper und die Darstellung der Untersuchungsergebnisse in Form von Zernike-Koeffizienten einer Entwicklung nach Zernike-Polynomen, eindeutig von den Aberrationsanteilen auf die Dezentrierung zu schließen. Die Kenntnis bzw. Beseitigung solcher Dejustierungen ist von besonderer Bedeutung bei patientenspezifischen Korrekturen bzw. der "Customized Ablation". Denn bei Korrekturen von Sehfehlern höherer Ordnung und von lokalisierten Hornhautfehlern muß die Ablation nicht nur mit genauer Zentrierung, sondern auch mit der korrekten Achse, d.h. in der korrekten Richtung orthogonal zu der optische Achse der Hornhaut, erfolgen. Dazu werden beispielsweise sogenannte "Limus-Tracker" verwendet, die Blutgefäße und andere Strukturen auf der Iris erkennen und die Ablenkeinrichtung entsprechend steuern.
Fig. 6 zeigt ein Beispiel für die Empfindlichkeit höherer Aberrationen gegen Drehung. Dargestellt sind die Ergebnisse von Simulationen für die Aberrationen an abladierten Kalibrierkörpern bei Verdrehung der Achsen gegenüber ihren Soll-Lagen. In der oberen Zeile sind Grauwert-Höhendarstellungen der mittels Wellenfrontanalyse bestimmte Oberflächentopographie abgebildet, darunter aus der Wellenfrontanalyse bzw. der Oberflächentopographie ermittelte Aberrationen bzw. Zernike-Koeffizienten als Werte für die optische Weglängendifferenz nach Malacara-Notation und in der letzten Zeile die jeweiligen Drehwinkel bei der Messung oder Ablation.
Geringe Dejustierungen, zum Beispiel eine Drift, zwischen der Abstimmung zwischen der Augenbewegungsverfolgungseinrichtung z.B. eines (Limus-Tracker) und der Ablenkeinrichtung führen zu Drehungen der Ablationsmuster in den abladierten Kalibrierkörpern, die sofort an der Entwicklung der Zerlegung der Zernike-Koeffizienten erkannt werden können. Die Koeffizienten Z(4,4) und Z(4,-4) hängen stark vom Drehwinkel ab, wobei jeweils wenigstens einer der Koeffizienten einen Betrag aufweist, der den Betrag der anderen Koeffizienten bei weitem übersteigt. Diese Empfindlichkeit kann durch Erhöhung der benutzten Aberrationen noch deutlich gegenüber dem gezeigten Beispiel erhöht werden.
Natürlich können in beiden Beispielen jeweils unterschiedliche Zernike-Koeffizienten gewählt werden können, die relativ sensitiv von einem speziellen Systemparameter, aber praktisch nicht von einem anderen Systemparameter abhängen. So hängen in dem ersten Beispiel (Fig. 5) die Koeffizienten Z(3,-1) Z(3J) und Z(4,0) von dem Wert der Dezentrierung ab, während bei dem zweiten Beispiel (Fig. 6) die Zernike-Koeffizienten Z(4,4) und Z(4,-4), aber nicht Z(4,0), von dem Wert der Drehung der Achse abhängen. Auf diese Weise können diese Systemparameter gleichzeitig, d.h. insbesondere basierend auf dem gleichen Satz von Untersuchungsdaten, unabhängig voneinander mit hoher Genauigkeit bestimmt werden.
Ein weiteres Beispiel zeigt die Empfindlichkeit des erfindungsgemäßen Verfahrens zur Bestimmung der Variation der Fluence (vgl. Fig. 7). Hierbei wurde ein Ablationsprogramm verwendet, das bei korrekten Werten der Systemparameter zu einem nicht völlig regulären Soll- Ablationsmuster führt, d.h. es wird kein völlig reguläres Muster, beispielsweise eines das zu einem reinen, auf das mathematische Zentrum der Korrekturdaten zentrierten Aberrationsterm führt, sondern ein im Bezug zur ursprünglichen Behandlungsachse anderes Muster auf einem PMMA-Körper abladiert.
In Fig. 7 sind Ergebnisse für die Ablation mit zwei verschiedenen Fluence-Werten gezeigt. Das obere Diagramm und die obere Tabelle zeigen Resultate bei einer Ablation mit einer Fluence, die etwa um den Faktor 1 ,8 über der Fluence lag, die zu den Werten des unteren Diagramms und der unteren Tabelle führte.
Wie aus dem Vergleich zu erkennen ist, führt eine Variation der Fluence nicht nur zur einer generellen Variation der Wellenfront-Amplitude bzw. gleichen absoluten oder relativen Änderung der entsprechenden Zernike-Koeffizienten bzw. der Ablationstiefe bei gleichbleibender Beiträgen bestimmter Aberrationen. Vielmehr variiert auch die Zusammensetzung der Aberrationen bzw. Zernike-Koeffizienten in dem Sinne, daß einige Zernike-Koeffizienten Werte annehmen, die innerhalb der zu erwartenden Genauigkeit als Null zu interpretieren sind, so daß sie keinen Beitrag zu der Summe der Aberrationen leisten. Dabei erweist sich die Änderung der Zusammensetzung als wohldefiniert und reproduzierbar.
So variieren in dem in Fig. 7 gezeigten Beispiel der Zernike-Koeffizient des Z(6,2) Anteils bei hoher Fluence im Vergleich zu dem Zernike-Koeffizienten bei niedriger Fluence um einen Faktor von ca. 3, der Z(6,0)- Koeffizient um einen Faktor von etwas 10, der Z(4,4)-Koeffizient um einen Faktor von etwas 6 und der Z(4,2)-Koeffizient schließlich um einen Faktor von etwa 2.
Ähnliche Zusammenhänge zwischen den Abweichungen, die zwischen Ablationsmustern auf Kalibrierkörpern, die mit verschiedenen Werten eines Systemparameters abladiert wurden, auftreten, und den entsprechenden Ist-Werten des Systemparameters findet man auch bei der Variation anderer Systemparameter wie beispielsweise dem Arbeitsabstand und der Spotform, beispielsweise hervorgerufen durch die typische Asymmetrie der Strahlprofile bei Excimer- Lasern etc.
Die Relationen zwischen der für den abladierten Kalibrierkörper gemessenen Wellenfront- Aberrationen und den Systemparametern können in einem bestimmten Maß abhängig von den insbesondere auch bauartbedingten Eigenarten des jeweils benutzten Behandlungssystems sein. Gegebenenfalls müssen sie im Einzelfall für das jeweils betrachtete System untersucht und bestimmt werden. Mit den bestimmten Abweichungen der Systemparameter werden jetzt Korrekturmaßnahmen eingeleitet. In einem ersten Ausführungsbeispiel kann z.B. die Zentrierung und Achslage zwischen der Augenbewegungsverfolgungseinrichtung ("eye-tracker" bzw. "Limus-tracker") und der Ablenkeinrichtung durch geeignete Stelleinrichtungen bzw. -elemente oder elektronische Regelung im Werk oder vom Servicetechniker vor Ort manuell nachkorrigiert werden.
In anderen Ausführungsformen der Erfindung können die Werte der Systemparameter auch anders als über die Analyse von Zernike-Koeffizienten erhalten werden. So kann auch eine Differentialanalyse der Wellenfronten für verschiedenen Systemparameter benutzt werden. Auch hierfür können definierte Regeln aufgestellt werden, die bestimmte Wellenfronten bzw. Ablationsmuster in Relation zu bestimmten Systemparametern setzten.
Bei einer alternativen Ausführungsform des Verfahrens und damit auch der Auswerteeinrichtung 9 erfolgt die Ermittlung der Ist-Werte dieser Systemparameter direkt aus dem Vergleich zwischen Soll- und Ist-Werten für das durch die Ablation erreichte Ablationsprofil des abladierten Kalibrierkörpers 11 in Form von Topographiedaten, beispielsweise "Elevation- Maps", "Höhenkasten" und dergleichen, die aus den mittels des Aberrometers 12 bestimmten Aberrationen durch modale Rekonstruktion oder auch durch zonale Rekonstruktion der Wellenfront mittels numerischer Integration nach dem Fachmann bekannten Verfahren erhalten werden. Zur Umrechnung von Höhendaten der abladierten Kalibrierkörperoberfläche in Wellenfrontdaten, d.h. optische Wegdifferenzen und umgekehrt muß u.a. der Brechzahlunterschied zwischen den beiden Medien Luft und PMMA berücksichtigt werden. Die optische Weglänge OPL ist definiert als: OPL = n*L, woraus für die optische Weglängendifferenz DOPL zwischen PMMA und Luft DOPL = (nPMMA-nLuft) *L folgt. Hierbei stellt L die lokale Dicke des Kalibrierkörpers dar, die unmittelbar auf die Form der abladierten Oberfläche des PMMA-Kalibrierkörpers 11 führt.
Bei einer zweiten Ausführungsform der Erfindung unterscheidet sich das in Fig. 8 stark schematisch gezeigte Gesamtsystem aus Behandlungssystem 25 und Systemparameter- bestimmungsvorrichtung 26 von dem Gesamtsystem des ersten Ausführungsbeispiels aus Behandlungssystem 1 mit Halter 10 und Systemparameterbestimmungsvorrichtung 7 durch eine veränderte Steuereinrichtung 27 des Behandlungssystems 25, eine veränderte Auswerteeinrichtung 28 der Systemparameterbestimmungsvorrichtung 26 und eine Datenverbindung 29 zwischen der Auswerteeinrichtung 28 und der Steuereinrichtung 27. Da die anderen Komponenten unverändert sind, werden für sie die gleichen Bezugszeichen verwendet und es gelten die Erläuterung zur Ausführungsform. Die Auswerteeinrichtung 28 ist gegenüber der Auswerteeinrichtung 9 dahingehend abgeändert, daß sie aus den Untersuchungsdaten des Aberrometers 12 automatisch Werte für Korrekturparameter bzw. entsprechende Stellgrößen des Behandlungssystems 25 ermittelt und diese an das Behandlungssystem über die Datenverbindung 29 ausgibt, wozu sie über eine in den Figuren nicht gezeigte Korrekturwertermittlungseinrichtung verfügt. Insbesondere kann sie dazu ein entsprechendes Programmodul aufweisen, das die entsprechenden Berechnungen in Abhängigkeit von Aufbau, Eigenschaften und Stellgrößen des Behandlungssystems ermittelt.
Die Steuereinrichtung 27 des Behandlungssystems 25 weist eine Schnittstelle zum Empfang der Werte für die Korrekturparameter bzw. die Stellgrößen auf und ist weiter zur Veränderung der Stellgrößen entsprechend den empfangenen Korrekturwerten ausgebildet, wozu auch hier ein entsprechendes Programmmodul vorgesehen sein kann.
Während im vorliegenden Ausführungsbeispiel die Datenverbindung 29 vorgesehen ist, kann die Auswerteeinrichtung alternativ auch zur Abgabe entsprechender Steuersignale und die Steuereinrichtung zur Verarbeitung der Steuersignale ausgebildet sein.
Die Meßdatenverarbeitungseinrichtung 13 des Aberrometers 12 stellt wie im ersten Ausführungsbeispiel nur die Untersuchungsdaten, im Beispiel Wellenfrontdaten bzw. hieraus ermittelte Aberrationen z.B. in Form von Zernike-Koeffizienten und/oder Höhendaten, zur Verfügung, die an die Auswerteeinrichtung 28 ausgegeben werden. Dort findet zunächst die Bestimmung der Ist-Werte der Systemparameter und daraus die Ermittlung der Soll-Ist- Abweichungen statt. Aus den Soll-Ist-Abweichungen der Systemparameter werden dann Korrekturwerte für geeignete Korrekturparameter bzw. Stellgrößen des Behandlungssystems 25 abgeleitet, wozu eine entsprechende Prozedur und entsprechende Daten über das Behandlungssystem 25 verwendet werden. Diese Korrekturwerte werden über die Datenverbindung 29 an die Steuereinrichtung 27 im Behandlungssystem 25 übertragen. Die Steuereinrichtung 27 stellt die nötigen Steilsignale für die Steuerung oder Regelung von Stelleinrichtungen der optischen oder elektronischen Komponenten des Behandlungssystems zur Verfügung, mit denen die Systemparameter verändert werden. Bei geeigneter Vorgabe der Soll-Werte und der Prozedur zur Ermittlung der Korrekturwerte der Korrekturparameter kann so z.B. der werkseitige Kalibrierungs- bzw. Systemzustand automatisch wieder eingestellt werden.
Im vorliegenden Ausführungsbeispiel können insbesondere Stellgrößen für Stelleinrichtungen der Fokussieroptik 4, im Beispiel zur Verschiebung eines abbildenden Linsensystems verwendet werden, um die Systemparameter Arbeitsabstand und Astigmatismuskorrektur des Laserstrahls, d.h. dessen Strahlform, zu ändern. Weiter können Stellgrößen für mechanische/elektrische Stelleinrichtungen zur Modifikation der Ablenkeinrichtung 5, für Stelleinrichtungen für den Excimer-Laserkopf zur Regulierung der Fluence und für Stelleinrichtungen für eine elektro-mechanische Regulierung von in den Figuren nicht gezeigten Laserstrahlabschwächern des Behandlungssystems 25 verändert werden. Die bei dem im ersten Ausführungsbeispiel geschilderten Verfahren durch eine Bedienperson notwendige Ermittlung der Korrekturwerte bzw. Werte für die Korrekturparameter oder Stellgrößen und die entsprechende Einstellung des Behandlungssystems 1 kann nun automatisch durchgeführt werden, so daß im Ergebnis ein Verfahren zur Bestimmung der Ist- Werte der Systemparameter und zur automatischen Kalibrierung des Behandlungssystems 25 realisiert ist.
Bei dem beschriebenen zweiten Ausführungsbeispiel kann insbesondere die Auswerteeinrichtung als separates Modul ausgeführt sein. Dies hat den Vorteil, daß verschiedene Aberrometer und Behandlungssysteme benutzt werden können und für das jeweilige Aberrometer und/oder das jeweilige Behandlungssystem gerätetypische Varianten über eine entsprechende Hardware- und/oder Software-Anpassung des Modul berücksichtigt werden können.
In anderen Ausführungsbeispielen kann die Auswerteeinrichtung 28 aber auch in die Steuereinrichtung 27 oder alternativ in die Meßdatenverarbeitungseinrichtung 13 integriert sein. Eine separate Einheit entfällt dann, vielmehr kann es sogar genügen, entsprechende Programmodule bereitzustellen.
Bei einem dritten, in Fig. 9 veranschaulichten Ausführungsbeispiel unterscheidet sich das Gesamtsystem aus Behandlungssystem und Systemparameterbestimmungsvorrichtung von dem Gesamtsystem aus Behandlungsvorrichtung 1 mit Halter 10 und Systemparameter- bestimmungsvorrichtung 7 des ersten Ausführungsbeispiels dadurch, das die Systemparameterbestimmungsvorrichtung 7 in das Behandlungssystem 30 einem gemeinsamen Gehäuse integriert ist. • Diese Ausführungsform ist interessant, da die meisten Behandlungssysteme für refraktive Hornhautchirurgie heute mit Aberrometern und/oder Profilometern bzw. Topographiesystemen zur Durchführung von patientenspezifischen Korrekturen ("Customized Ablation") ausgestattet sind. Ein Aberrometer oder Profilometer kann beispielsweise nach Bereitstellung entsprechender Mittel, beispielsweise Bereitstellung eines dem Halter 18 entsprechenden Halters in Form einer Testaugeneinheit und gegebenenfalls Bereitstellung eines Programmmoduls für die Meßdatenverarbeitungseinrichtung 13, dazu benutzt werden, um die Aberrationen von Kalibrierkörpern zu messen. Ein Servicetechniker vor Ort kann jetzt dieses Mittel nutzen, um mit dem Behandlungssystem vor Ort erzeugte Kalibrierkörper zu untersuchen.
Zur Integration in das Behandlungssystem eignen sich z.B. Aberrometer, die wie das Aberrometer in Fig. 2 aufgebaut sind. Aber auch andere Aberrometer nach anderen Funktionsweisen wie z.B. Aberrometer nach Tscheming oder solche, die auf Skiaskopie basieren, sind tauglich. Zur Integration kann darüber hinaus auch auf komplette handelsübliche Produkte, beispielsweise den oben genannten WASCA Wavefront Analyzer, oder speziell angepaßte OEM-Produkte zurückgegriffen werden.
Bei einem vierten Ausführungsbeispiel ist das Behandlungssystem 1 mit dem Halter 10 und der integrierten Systemparameterbestimmungsvorrichtung 7 daher dahingehend modifiziert, daß die Auswerteeinrichtung 9 durch die Auswerteeinrichtung 28 mit der Korrekturwertermittlungseinrichtung ersetzt ist. Die Auswerteeinrichtung ist jedoch durch eine entsprechendes Programmodul für die Meßdatenverarbeitungseinrichtung 13 in Form von Zusatzsoftware realisiert. Mittels des Programmoduls, das in der Meßdaten- verarbeitungseinrichtung abläuft, werden Systemparameter und Korrekturparameter ermittelt. Diese erlauben es dem Techniker vor Ort schnelle und umfassende, insbesondere durch die Korrekturparameter wohldefinierte Veränderungen am Behandlungssystem vorzunehmen. Das erhöht die Sicherheit und Genauigkeit, mit der Behandlungssysteme überprüft und optimal eingestellt werden können.
Bei einem fünften Ausführungsbeispiel der Erfindung ist das Gesamtsystem aus Behandlungssystem und Systemparameterbestimmungsvorrichtung nach dem dritten oder vierten Ausführungsbeispiel in Bezug auf die Handhabung des Kalibrierkörpers verändert.
Während dort der Kalibrierkörper 11 manuell zur Ablation in den Halter 10 und zur Vermessung in den Halter 18 gesetzt wurde, ist nun wenigstens das Aberrometer 12 mit dem Halter 18 relativ zu dem ansonsten dem Behandlungssystem 1 entsprechenden Behandlungssystem 46 bewegbar am Behandlungssystem so gehalten, daß ein in dem Halter 18 gehaltener Kalibrierkörper zur Ablation in den Behandlungsstrahlengang des Behandlungssystems 46, d.h. in den Behandlungslaserstrahl 3, bewegbar ist.
In dem in Fig. 10 gezeigten Beispiel sind das Aberrometer 12 und der Halter 18 in den Behandlungsstrahlengang verfahrbar, alternativ kann jedoch ein Verschwenken vorgesehen sein. Dabei zeigt Fig. 10 das Behandlungssystem 46 und insbesondere die Ablenkeinrichtung 5 nur teilweise. Von der Ablenkeinrichtung 5 sind Optiken 31, 32, 33 und 34 in einem Gehäuse 35 des Behandlungssystems 1 gezeigt. Die Strahlumlenkung 17 in dem Aberrometer 12 ist als dichroitischer Umlenkspiegel ausgeführt, der durch eine entsprechende Beschichtung für die optische Strahlung des Behandlungslaserstrahls durchlässig aber die optische Strahlung des Meßstrahlenbündels 15 reflektierend ist, so daß eine Ablation ohne Bewegung der Strahlumlenkung möglich" ist. Eine etwaige Schwächung des Behandlungslaserstrahls 3 durch die Strahlumlenkung 17 kann dann bei der Ermittlung der Ist-Werte der Systemparameter aus den Untersuchungsdaten berücksichtigt werden.
Zur Bestimmung der Werte der Systemparameter wird das Aberrometer 12 mit dem Halter 18 und dem darin gehaltenen, gegebenenfalls gefaßten Kalibrierkörper 11 für die Ablation definiert unter den Behandlungslaserstrahl 3 gefahren oder geschwenkt. Dieser Vorgang erfolgt bei diesem Ausführungsbeispiel manuell oder in einer anderen bevorzugten erfindungsgemäßen Ausführungsform automatisiert, z.B. durch elektromotorischen Antrieb. Diese Anordnung hat den Vorteil, daß der Ablationsfortschritt auf dem Kalibrierkörper mit der Erfassungsfrequenz des Aberrometers verfolgt werden kann.
Bei sechsten bzw. siebten Ausführungsformen ist die Systemparameter- bestimmungsvorrichtung des vorhergehenden Ausführungsbeispiels dahingehend modifiziert, daß das Aberrometer 12 mit einer anderen Strahlumlenkung 17 ausgestattet, die manuell bzw. automatisiert in und aus dem Behandlungsstrahlengang bewegbar ist.
Eine achte Ausführungsform der Systemparameterbestimmungsvorrichtung unterscheidet sich von der Systemparameterbestimmungsvorrichtung des fünften bis siebten Ausführungsbeispiels durch ein Magazin, in dem mehrere, gegebenenfalls gefaßte Kalibrierkörper bevorratet werden. Als Magazin kann insbesondere ein dreh- bzw. schwenkbarer Wechselrevolver vorgesehen sein, aus dem eine Bedienperson einen Kalibrierkörper nachladen kann.
Eine neunte Ausführungsform der Erfindung unterscheidet sich von den zuvor beschriebenen Ausführungsbeispielen dadurch, daß der Kalibrierkörper, mit etwaiger Fassung über eine elektrisch, vorzugsweise automatisch, gesteuerte Wechseleinrichtung, beispielsweise mit einem elektromotorischen Antrieb, wechselbar ist.
Eine zehnte Ausführungsform unterscheidet sich von der fünften bevorzugten Ausführungsform der Erfindung dadurch, daß nicht das gesamte Aberrometer 12 bewegbar ist, um den darin gehaltenen Kalibrierkörper 11 unter den Behandlungslaserstrahl 3 zu bewegen, sondern nur der Kalibrierkörper 11 wechselweise zur Ablation unter den Behandlungslaserstrahl 3 und zur Untersuchung, im Beispiel mittels einer Wellenfrontmessung, in das Meßstrahlenbündel 15 des Aberrometers 11 transferiert wird. Dazu ist, wie Fig. 11 zeigt, ein Halter 36 für einen, gegebenenfalls gefaßten, Kalibrierkörper 11 an der Systemparameterbestimmungsvorrichtung 7 bzw. dem Behandlungssystem 46 angebracht, der zwischen einer Ablationslage, in der der in dem Halter 36 gehaltene Kalibrierkörper zur Ablation im Behandlungsstrahlengang liegt, und einer Meßlage, in der der in dem Halter 36 gehaltene Kalibrierkörper zur Untersuchung in der Untersuchungseinrichtung 8, im Beispiel dem Aberrometer 12, insbesondere in einem Meßstrahlengang, manuell hin- und herbewegbar, insbesondere schwenk- oder verschiebbar ist. Die Systemparameterbestimmungsvorrichtung unterscheidet sich ansonsten nicht von der Systemparameterbestimmungsvorrichtung 7 des fünften Ausführungsbeispiels. Das Behandlungssystem 46 ist unverändert.
Bei einer Modifikation des zehnten Ausführungsbeispiels ist der Halter 36 über einen Antrieb, vorzugsweise elektrisch gesteuert, bewegbar.
Ein Behandlungssystem 37 mit einer integrierten Systemparameterbestimmungsvorrichtung 39 nach einer elften Ausführungsform ist teilweise in Fig. 12 gezeigt und unterscheidet sich von dem fünften Ausführungsbeispiel dadurch, daß der Behandlungslaserstrahl 3 über einen bewegbaren Umlenkspiegel 38 auf einen in der Systemparameterbestimmungsvorrichtung 39 gehaltenen Kalibrierkörper 11 lenkbar ist. Der Halter bzw. der Kalibrierkörper 11 und die Untersuchungseinrichtung müssen dadurch zur Systemparameterbestimmung nicht bewegt werden.
Die Systemparameterbestimmungsvorrichtung 39 unterscheidet sich von der Systemparameter- bestimmungsvorrichtung 7 des fünften Ausführungsbeispiels dabei dadurch, daß der Meßstrahlengang linear verläuft. Für alle Komponenten der Systemparameter- bestimmungsvorrichtung 39 bis auf die Strahlumlenkung 17 gelten die Erläuterungen entsprechend. Das Behandlungssystem 37 weist die gleichen Komponenten wie das Behandlungssystem 1 auf, wobei insbesondere die Ablenkeinrichtung 5 wie in dem fünften Ausführungsbeispiel ausgebildet ist. Es werden daher für gleiche Komponenten die gleichen Bezugszeichen verwendet.
Der Umlenkspiegel 38 ist zwischen einer Behandlungslage, in der er weder in dem Behandiungs- noch in dem Meßstrahlengang angeordnet ist und so eine Behandlung eines Auges 40 erlaubt, und einer Ablations- und Meßlage bewegbar. Im Beispiel ist der Umlenkspiegel 38 linear verschiebbar, er kann in anderen Ausführungsbeispielen aber auch schwenk- oder drehbar sein. In der Ablations- und Meßlage ist der Umlenkspiegel 38 am Schnittpunkt von Behandlungsstrahlengang und Meßstrahlengang angeordnet. Durch eine entsprechende Beschichtung reflektiert er optische Strahlung des Behandlungslaserstrahls 3 und transmittiert optische Strahlung des Meßstrahlenbündels 15, so daß während der Ablation eine Erfassung des Ablationsfortschritts mit der Erfassungsfrequenz des Aberrometers 12 möglich ist.
Die Bewegung des Umlenkspiegels 38 zwischen der Behandlungslage und der Ablations- und Meßlage erfolgt in dem gezeigten Ausführungsbeispiel manuell. In einer weiteren Abwandlung kann die Bewegung mittels eines entsprechenden Antriebs erfolgen. Alternativ kann auch ein separater Spiegel für die Einblendung des Meßstrahlenbündels beispielsweise zwischen Kalibrierkörper und Umlenkspiegel 38 verwendet werden.
Ein in Fig. 13 schematisch gezeigtes zwölftes Ausführungsbeispiel unterscheidet sich von dem dritten bis elften Ausführungsbeispiel dadurch, daß statt der Steuereinrichtung 6 und der Auswerteeinrichtung 9 die Steuereinrichtung 27 und die Auswerteeinrichtung 28 des zweiten Ausführungsbeispiels verwendet werden, wobei diese ebenfalls über eine Datenleitung 29 verbunden sind. Damit ist, wie in dem zweiten Ausführungsbeispiel, eine automatische Kalibrierung möglich. Auch hier kann die Auswerteeinrichtung auch hier in die Steuereinrichtung oder die Meßdatenverarbeitungseinrichtung der Untersuchungseinrichtung 8 bzw. des Aberrometers 12 integriert sein.
Ein Behandlungssystem mit einer integrierten Systemparameterbestimmungsvorrichtung nach einer dreizehnten Ausführungsform zeigt Fig. 14. Es erlaubt die Messung, Verfolgung und Kontrolle der Ablation während der Behandlung des Auges. Im Unterschied zu dem zwölften Ausführungsbeispiel in Fig. 13 ist der Halter 18 für den Kalibrierkörper 11 nicht beweglich. Statt dessen wird der Behandlungslaserstrahl 3 durch einen Strahlteiler 41 in zwei Teilstrahlen aufgeteilt, so daß der eine Teilstrahl 42 zur Behandlung des Auges und der andere Teilstrahl 43 zur Ablation des Kalibrierkörpers 11 verwendet wird. Das Behandlungssystem entspricht bis auf den Strahlteiler 41 und gegebenenfalls das Gehäuse dem Behandlungssystem des zwölften Ausführungsbeispiels; ebenso gleicht die Systemparameterbestimmungsvorrichtung 44 bis auf den Halter 18 und die Auswerteeinrichtung 45 der Systemparameterbestimmungsvorrichtung des zwölften Ausführungsbeispiels. Für gleiche Komponenten werden daher gleiche Bezugszeichen verwendet und es gelten die zuvor erwähnten Erläuterungen zu diesen Komponenten auch hier.
Die Auswerteeinrichtung 45 unterscheidet sich in zwei Merkmalen von der Auswerteeinrichtung 28. Zum einen berücksichtigt sie bei der Bestimmung der Korrekturwerte in der Auswerteeinrichtung 45 bzw. in deren Korrekturwertermittlungseinrichtung, daß der Behandlungslaserstrahl 3 in die zwei Teilstrahlen aufgeteilt ist. Zum anderen bestimmt die Auswerteeinrichtung 45 aus dem Fortgang der Ablation Ist-Werte von Systemparametern. Bei der Behandlung und der gleichzeitigen Bestimmung von Ist-Werten der Systemparameter werden für den Kalibrierkörper 11 Untersuchungsdaten, z.B. durch Messung der Wellenfrontverformung und Auswertung der Daten unter Bildung von Wellenfrontdaten, mit einer vorgegebenen Erfassungsfrequenz des Aberrometers des zwölften Ausführungsbeispiels erfaßt. Aus diesen werden dann mit der gleichen Frequenz Ist-Werte der Systemparameter bestimmt, die wiederum mit gleicher Frequenz Korrekturwerte von Korrekturparametern liefern, mit denen die Steuereinrichtung 27 die Stelleinrichtungen des Behandlungssystems entsprechend ansteuert.
Bei der somit zyklisch erfolgenden Bestimmung von Ist-Werte der Systemparameter werden daher Referenzdaten für den Ablationsfortschritt ermittelt, der ausgehend von dem in dem vorhergehenden Zyklus über die Untersuchungsdaten zumindest indirekt erfaßten Ablationsprofil bei Vorliegen der im vorhergehenden Zyklus bei der Ermittlung der Korrekturwerte vorausgesetzten Soll-Werte der Systemparameter zu erwarten ist. Aus einem Vergleich der Untersuchungsdaten in dem aktuellen Zyklus und den so aus den Untersuchungsdaten des vorhergehenden Zyklus ermittelten Referenzdaten werden dann Ist- Werte der Systemparameter in dem aktuellen Zyklus ermittelt. Die Auswerteeinrichtung 45 ist daher zur zyklischen Ermittlung von Ist-Werten wenigstens eines Systemparameters bzw. Abweichungen wenigstens eines Systemparameters in Abhängigkeit von einem in einem vorhergehenden Zyklus ermittelten Ablationsprofil entsprechenden Untersuchungsdaten und Untersuchungsdaten eines aktuellen Zyklus ausgebildet.
Die so erzielte Nachregelung von Systemparametern auf Soll-Werte mit der Erfassungsfrequenz des Aberrometers durch Ermittlung der entsprechenden Ist-Werte bzw. Abweichungen von Soll-Werten und hieraus der Korrekturwerte sowie die Nachstellung der entsprechenden Stelleinrichtungen während der Behandlung eines Patienten ermöglicht eine sehr genau den Vorgaben entsprechende Ablation des Auges erreicht wird. Feste Ablationsprogramme können also während der gesamten Behandlung bei konstant optimalen Systemparametern durchgeführt werden.
Die Auswerteeinrichtung 45 kann, wie in vorhergehenden Ausführungsbeispielen erwähnt, alternativ auch in die Steuereinrichtung 27 oder die Meßdatenverarbeitungseinrichtung 13 integriert werden.
Eine konkreter Darstellung eines Teils eines Behandlungssystems nach diesem Ausführungsbeispiel kann, wie in Fig. 15 gezeigt, hinsichtlich des Strahlenganges ähnlich wie das Behandlungssystem 37 des elften Ausführungsbeispiets aufgebaut sein. Der Umlenkspiegel 38 ist dann durch den Strahlteiler 41 ersetzt. Die Strahlteilung kann dabei verschiedene, bei der Systemparameterbestimmung und der Korrekturwertermittlung zu bestimmende Werte annehmen und ist für eine spezielle Anordnung lediglich einmal festzulegen. Das Gesamtsystem zur Steuerung der Ablation wird dann auf dieses Strahlteilungsverhältnis hin ausgelegt und kalibriert.
Bei einer vierzehnten Ausführungsform erfolgt die Steuerung der Ablation in modifizierter Form. Gegenüber dem dreizehnten Ausführungsbeispiel sind die Steuereinrichtung 27 und die Auswerteeinrichtung 45 modifiziert. Wie bereits erwähnt, wird bei der Ermittlung der Systemparameter während der Behandlung der Ablationsfortschritt durch Bestimmung des Oberflächenprofils des Kalibrierkörpers über die Fläche lokal zumindest indirekt ermittelt. Die Beschreibung der durch Ablation erhaltenen Fläche ist über reine Höhendaten aber auch als Polynomzerlegung, z.B. einer Zerlegung in Zemike-Polynomen, möglich. Die modifizierte Auswerteeinrichtung ist nun so ausgebildet, daß das erzielte Ist-Ablationsprofil mit den Korrekturwerten an die modifizierte Steuereinrichtung ausgegeben wird. Diese stellt nicht nur die Stelleinrichtungen entsprechend den Korrekturwerten, wie in dem vorhergehenden Ausführungsbeispiel, nach, sondern führt auch einen Vergleich des Ist-Ablationsprofils mit dem durch die Behandlung zu erreichenden, vor der Behandlung festgelegten Soll-Ablationsprofil des Kalibrierkörpers 11, das aus dem Soll-Ablationsrprofil des Auges ermittelt wurde, durch. Auf der Basis der nachgestellten Stelleinrichtungen und damit Systemparameter wird nun das Ablationsprogramm mittels eines geeignetes Programmmoduls so modifiziert, daß die Ist- Ablation des Kalibrierkörpers 11 sich möglichst gut der Soll-Ablation des Kalibrierkörpers 11 annähert.
Wurde, beispielsweise durch entsprechende empirische Untersuchungen, ein zuverlässiger Zusammenhang zwischen dem Ablationsverhalten des Auges bzw. der Hornhaut und dem des Kalibrierkörpers ermittelt, kann so sehr genau und schnell ein gewünschtes Soll-Ablationsprofil des Auges erzielt werden.
Bei dieser Ausführungsform ist es nicht mehr nötig, wie bisher mit festen Ablationsprogramme bzw. -algorithmen auf Erfahrungswerten für die Ablation basierend mit einem festen Ablationsprogramm zu abiatieren. Vielmehr erfolgt die Steuerung des Ablationsprogramms dynamisch und basierend auf der aktuell bestimmtem Ist-Ablation des Kalibrierkörpers. Es kann also an den Stellen der Hornhaut abladiert werden, an denen noch keine eine optimale Zielbzw. Solloberfläche erreicht ist.

Claims

Patentansprüche
1. Verfahren zur Bestimmung eines Ist-Wertes wenigstens eines Systemparameters oder einer Abweichung von einem' Soll-Wert wenigstens eines Systemparameters eines
Augenbehandlungs-Systems (1; 25; 37; 46) mittels eines vom Augenbehandlungs-Systems (1; 25; 37; 46) abgegebenen Behandlungslaserstrahls (3), wobei eine Oberfläche eines Kalibrierkörpers (11 ) mit wenigstens einem Teilstrahl des Behandlungslaserstrahls (3) gemäß einem vorgegebenen Ablationsprogramm abladiert wird, die von dem Behandlungslaserstrahl (3) abladierte Oberfläche mittels Aberrometrie und/oder Profilometrie untersucht, und aus bei der Untersuchung ermittelten Untersuchungsdaten der Ist-Wert des Systemparameters oder die Abweichung von dem Soll-Wert des Systemparameters bestimmt wird.
2. Verfahren nach Anspruch 1 , bei dem zur Ablation ein im zu ablatierenden Bereich plattenförmiger Kalibrierkörper (11) verwendet wird.
3. Verfahren nach Anspruch 1, bei dem ein Kalibrierkörper (11 ) verwendet wird, der wenigstens im zu ablatierenden und zu untersuchenden Bereich eine kugelförmige Gestalt besitzt.
4. Verfahren nach Anspruch 1, bei dem ein Kalibrierkörper verwendet wird, der einen wenigstens teilweise zu ablatierenden Oberflächenbereich mit der Form des zu behandelnden Hornhautabschnitts des Auges (40) aufweist.
5. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, bei dem als Kalibrierkörper (11) ein Polymethylmethacrylat-Kalibrierkörper verwendet wird.
6. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, bei dem ein Kalibrierkörper (11) verwendet wird, der für eine Wellenlänge einer bei der Aberrometrie oder Profilometrie zur Messung benutzten optischen Strahlung nicht transparent ist.
7. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, bei dem ein Filter zur Separation des Behandlungslaserstrahis und der zur Untersuchung verwendeten optischen Strahlung verwendet wird.
8. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, bei dem der Kalibrierkörper (11) bei der Untersuchung in der Arbeitsebene des Behandlungssystems (1; 25; 37; 46) oder einer dazu gleichwertigen Ebene angeordnet ist.
9. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei das Verfahren während einer Behandlung des Auges (40) durchgeführt wird.
10. Verfahren nach Anspruch 9, bei dem der Behandlungslaserstrahl (3) alternierend auf das Auge (40) und auf den Kalibrierkörper (11) gelenkt wird.
11. Verfahren nach Anspruch 9, bei dem der Behandlungslaserstrahl (3) aufgeteilt wird und bei dem mit dem einem Teil der Kalibrierkörper (11) abladiert und mit dem anderen Teil das Auge (40) behandelt wird.
12. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, bei dem ein Meßstrahlenbündel (15), das zur Untersuchung des Kalibrierkörpers (11) verwendet wird, kollinear zu dem Behandlungslaserstrahl (3) oder einem davon abgeteilten Teilstrahl (43) in den Strahlengang des Behandlungslaserstrahls bzw. des Teilstrahls zur Ablation des Kalibrierkörpers (11) eingekoppelt wird.
13. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, bei dem zur Untersuchung des Ablationszustandes des abladierten Kalibrierkörpers (11) mit Aberrometrie eine Erfassung und Auswertung von Daten in Bezug auf eine mittels des abladierten Kalibrierkörpers (11) beeinflußte Wellenfront bzw. eine Veränderung der Wellenfront durchgeführt wird.
14. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, bei dem für die Profilometrie ein optisch arbeitendes Verfahren verwendet wird.
15. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, bei dem die Ist-Werte bzw. die Abweichungen von entsprechenden Soll-Werten für wenigstens zwei Systemparameter aus den gleichen Untersuchungsdaten ermittelt werden.
16. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, bei dem die Abweichung des Ist- Wertes des Systemparameters von dem Soll-Wert bzw. der Abweichungen der Ist-Werte der Systemparameter von den Soll-Werten auf der Basis eines Vergleichs der Untersuchungsdaten mit entsprechenden Referenzdaten ermittelt wird.
17. Verfahren nach Anspruch 16, bei dem ein Referenzkörper mit einem vorgegebenen Ablationsmuster mit Aberrometrie und/oder Profilometrie untersucht wird und die erhaltenen
Untersuchungsdaten als Referenzdaten verwendet werden.
18. Verfahren nach Anspruch 16 oder 17, wobei das Verfahren zyklisch durchgeführt wird, und aus Untersuchungsdaten eines vorhergehenden Zyklus Referenzdaten für den aktuellen Zyklus ermittelt werden.
19. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, bei dem in Abhängigkeit von dem ermittelten Ist-Wert des Systemparameters bzw. den ermittelten Ist-Werten der Systemparameter und/oder der Abweichung des Systemparameters von dem Soll-Wert bzw. den Abweichungen der Systemparameter von den Soll-Werten wenigstens ein Wert für einen Korrekturparameter für das Behandlungssystem (1 ; 25; 37; 46) ermittelt wird, der dazu geeignet ist, wenigstens eine Abweichung von einem Soll-Zustand oder einer Soll-Funktion zu reduzieren.
20. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, bei dem in Abhängigkeit von dem ermittelten Ist-Wert des Systemparameters bzw. den ermittelten Ist-Werten der System parameter oder der Abweichung des Systemparameters von dem Soll-Wert bzw. den Abweichungen der System parameter von den Soll-Werten wenigstens eine entsprechende Einstellung einer Stelleinrichtung des Behandlungssystems (1; 25; 37; 46) verändert wird, um Abweichungen von einem Soll-Zustand oder einer Soli-Funktion zu reduzieren.
21. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, bei dem ein Programm zur zeitlichen Änderung der Lage und/oder Intensität des Behandlungslaserstrahls (3) zur Erzielung eines vorgegebenen Ablationsprofils oder wenigstens ein Parameterwert für das Programm entsprechend dem Ist-Wert des Systemparameters bzw. den Ist-Werten der Systemparameter und/oder der Abweichung des Systemparameters von dem Soll-Wert bzw. den Abweichungen der Systemparameter von den Soll-Werten verändert wird.
22. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, bei dem auf der Basis des Ist-Werts des Systemparameters bzw. der Ist-Werte der Systemparameter oder der Abweichung des
Systemparameters von dem Soll-Wert bzw. den Abweichungen der Systemparameter von den Soll-Werten die Einstellung des Behandlungssystems (1; 25; 37; 46) automatisch zur Verringerung der Abweichung zwischen Ist- und Soll-Wert bzw. der Abweichungen zwischen Ist- und Soll-Werten geändert wird.
23. Systemparameterbestimmungsvorrichtung zur Bestimmung wenigstens eines Ist-Wertes eines Systemparameters oder eine Abweichung von einem Soll-Wert wenigstens eines
Systemparameters eines Systems (1 ; 25; 37; 46) zur Behandlung eines Auges (40) mittels eines von dem System (1; 25; 37; 46) abgegebenen Behandlungslaserstrahls (3) mit einer Einrichtung (8) zur Untersuchung wenigstens eines Abschnitts einer abladierten Oberfläche eines abladierten Kalibrierkörpers (11) mit Aberrometrie und/oder Profilometrie, und einer mit der Untersuchungseinrichtung (8) verbundenen Auswerteeinrichtung (9; 28), mittels der aus den bei der Untersuchung ermittelten Untersuchungsdaten der Ist-Wert des Systemparameters oder die Abweichung von dem Soll-Wert des Systemparameters bestimmbar ist.
24. Systemparameterbestimmungsvorrichtung nach Anspruch 23, bei der ein für optische Strahlung mit der Polarisation und/oder Wellenlänge des Behandlungslaserstrahls undurchlässiges Filter im Strahlengang der Untersuchungseinrichtung vor einem Photodetektor der Untersuchungseinrichtung angeordnet ist.
25. Systemparameterbestimmungsvorrichtung nach Anspruch 23 oder 24, bei der die Untersuchungseinrichtung (8) ein auf der Basis von Wellenfrontdaten arbeitendes Aberrometer
(12) umfaßt.
26. Systemparameterbestimmungsvorrichtung nach Anspruch 25, bei der das Aberrometer (12) einen Hartmann-Shack-Sensor aufweist.
27. Systemparameterbestimmungsvorrichtung nach einem der Ansprüche 23 bis 26, bei der die Untersuchungseinrichtung ein optisch arbeitendes Profilometer umfaßt.
28. Systemparameterbestimmungsvorrichtung nach einem der Ansprüche 23 bis 27, bei der die Auswerteeinrichtung (9; 28) dazu ausgebildet ist, aus den gleichen Untersuchungsdaten für wenigstens zwei Systemparameter ein Ist-Wert und/oder eine Abweichung von einem entsprechenden Soll-Wert zu ermitteln.
29. Systemparameterbestimmungsvorrichtung nach einem der Ansprüche 23 bis 28, bei der die Auswerteeinrichtung (9; 28) zur Ermittlung der Abweichung des Ist-Wertes des
Systemparameters von dem Soll-Wert bzw. der Abweichungen der Ist-Werte der Systemparameter von den Soll-Werten durch Vergleich der Untersuchungsdaten mit entsprechenden Referenzdaten ausgebildet ist.
30. Systempara eterbestimmungsvorrichtung nach Anspruch 29, wobei die Systemparameterbestimmungsvorrichtung einen Speicher zur Speicherung der Referenzdaten aufweist.
31. Systemparameterbestimmungsvorrichtung nach Anspruch 29 oder 30, wobei die Systemparameterbestimmungsvorrichtung einen Referenzkörper aufweist, der ein vorgegebenes Referenzablationsmuster aufweist.
32. Systemparameterbestimmungsvorrichtung nach einem der Ansprüche 29 bis 31 , bei der die Auswerteeinrichtung dazu ausgebildet ist, bei zyklischer Erfassung von Untersuchungsdaten aus Untersuchungsdaten eines vorhergehenden Zyklus Referenzdaten für den aktuellen Zyklus zu ermitteln.
33. Systemparameterbestimmungsvorrichtung nach einem der Ansprüche 23 bis 32, bei der eine Korrekturwertermittlungseinrichtung vorgesehen ist, mittels derer in Abhängigkeit von dem ermittelten Ist-Wert des System parameters bzw. den ermittelten Ist-Werten der Systemparameter und/oder der Abweichung des Systemparameters von dem Soll-Wert bzw. den Abweichungen der Systemparameter von den Soll-Werten wenigstens ein Wert für einen Korrekturparameter für das Behandlungssystem (1 ; 25; 37; 46) ermittelt wird, der dazu geeignet ist, Abweichungen von einem Soll-Zustand oder einer Soll-Funktion zu reduzieren.
34. System zur Behandlung eines Auges (40), das einen Behandlungslaser zur Abgabe eines Behandlungslaserstrahls (3), eine Ablenkeinrichtung (5) zur Ablenkung des Behandlungslaserstrahls (3), eine Steuereinrichtung (6, 27), mittels derer die Abgabe und Positionierung des Behandlungslaserstrahls (3) räumlich und zeitlich steuerbar ist, einen Halter (10; 36) für einen mit wenigstens einem Teilstrahl eines von dem Behandlungssystem (1; 25; 37; 46) abgestrahlten Behandlungslaserstrahls (3) abladierbaren Kalibrierkörper (11 ), sowie eine Systemparameterbestimmungsvorrichtung (7; 26; 39) zur Bestimmung wenigstens eines Ist-Wertes eines Systemparameters des Systems (1; 25; 37; 46) oder eine Abweichung von einem Soll-Wert wenigstens eines Systemparameters des Systems (1 ; 25; 37; 46) nach einem der Ansprüche 23 bis 33 umfaßt.
35. System nach Anspruch 34, bei dem der Halter (10; 36) in einen Behandlungsstrahlengang des Behandlungssystems (1 ; 25; 37; 46) hinein und aus diesem heraus bewegbar ist.
36. System nach Anspruch 35, bei dem bei dem die Untersuchungseinrichtung (8) mit dem Halter (10; 36) als Einheit an oder auf einem Träger des Behandlungssystems (1 ; 25; 37; 46) gelagert und in den Behandlungsstrahlengang hinein und aus diesem heraus bewegbar ist.
37. System nach einem der Ansprüche 34 bis 37, bei dem eine Spiegeleinrichtung mit einem zwischen zwei Stellungen bewegbaren Spiegel (38) so angeordnet ist, daß der Behandlungslaserstrahl (3) entsprechend der Stellung des Spiegels (38) auf das Auge (40) oder auf den Kalibrierkörper (11 ) lenkbar ist.
38. System nach Anspruch 37, bei dem der Spiegel über einen Antrieb zwischen den beiden Stellungen hin und her bewegbar ist.
39. System nach Anspruch 38, bei dem die Bewegung des Spiegels mit der Abgabe des Behandlungslaserstrahls (3) synchronisiert ist.
40. System nach einem der Ansprüche 34 bis 39, bei dem ein Strahlteiler (41 ) im Behandlungsstrahlengang des Behandlungssystems (1; 25; 37; 46) angeordnet ist, mittels dem ein Teilstrahl (43) aus dem Behandlungslaserstrahl (3) zur Ablation des Kalibrierkörpers (11) abteilbar ist, der in dem außerhalb des Behandlungsstrahlengangs angeordneten Halter (18; 36) gehaltenen ist.
41. System nach einem der Ansprüche 37 bis 40, bei dem wenigstens der Spiegel (38) der Spiegeleinrichtung oder der Strahlteiler (41) hinter einer Fokussieroptik (4) oder der Ablenkeinrichtung (5) des Behandlungssystems (1 ; 25; 37; 46) angeordnet ist.
42. System nach einem der Ansprüche 34 bis 41 , bei dem das Aberrometer (12) bzw. Profilometer der Untersuchungseinrichtung (8) in das Behandlungssystem (1; 25; 37; 46) integriert ist.
43. System nach Anspruch 42, bei dem das Aberrometer (12) und/oder als Profilometer für die Untersuchungseinrichtung (8) in dem Behandlungssystem (1; 25; 37; 46) zur Untersuchung des Auges (40) verwendbar ist.
44. System nach einem der Ansprüche 34 bis 43, bei dem ein Meßstrahlengang der Untersuchungseinrichtung (8) wenigstens teilweise kollinear zu einem Strahlengang des
Behandlungslaserstrahls bzw. eines davon abgeteilten Teilstrahls (43) zur Ablation des Kalibrierkörpers (11 ) verläuft.
45. System nach einem der Ansprüche 34 bis 44, bei dem die Systemparameterbestimmungsvorrichtung (7; 26; 39) zur Bestimmung eines Ist-Wertes des Systemparameters oder einer Abweichung von einem Soll-Wert oder die Steuereinrichtung (6, 27) eine Korrekturwertermittlungseinrichtung aufweist, mittels derer in Abhängigkeit von dem ermittelten Ist-Wert des System parameters bzw. der Ist-Werte der System parameter und/oder der Abweichung des Systemparameters von dem Soll-Wert bzw. den Abweichungen der System parameter von den Soll-Werten wenigstens ein Wert für einen Korrekturparameter für das Behandlungssystem (1; 25; 37; 46) ermittelt wird, der dazu geeignet ist, Abweichungen von einem Soll-Zustand oder einer Soll-Funktion zu reduzieren.
46. System nach einem der Ansprüche 34 bis 45, bei dem die Auswerteeinrichtung (9; 28) mit der Steuereinrichtung (6, 27) verbunden und die Steuereinrichtung (6, 27) derart ausgebildet ist, daß auf der Basis des Ist-Wertes des Systemparameters bzw. der Abweichung des Systemparameters von dem Soll-Wert die Stellung wenigstens einer Stelleinrichtung des Behandlungssystems (1; 25; 37; 46) änderbar ist.
47. System nach einem der Ansprüche 34 bis 46, bei dem die Auswerteeinrichtung (9; 28) mit der Steuereinrichtung (6, 27) verbunden und die Steuereinrichtung (6, 27) derart ausgebildet ist, daß auf der Basis des Ist-Wertes des Systemparameters bzw. den Ist-Werten der Systemparameter und/oder der Abweichung des Systemparameters von dem Soll-Wert bzw. den Abweichungen der Systemparameter von den Soll-Werten ein Programm zur zeitlichen Änderung der Lage und/oder Intensität des Behandlungslaserstrahls (3) zur Erzielung eines vorgegebenen Ablationsprofils oder wenigstens ein Parameterwert für das Programm änderbar ist.
48. System nach einem der Ansprüche 34 bis 47, bei dem die Auswerteeinrichtung (9; 28) mit der Steuereinrichtung (6, 27) verbunden und Auswerte- und/oder die Steuereinrichtung (6, 27) derart ausgebildet sind, daß auf der Basis des Ist-Wertes des Systemparameters bzw. der Ist- Werte der Systemparameter oder der Abweichung des Systemparameters von dem Soll-Wert bzw. den Abweichungen der Systemparameter von den Soll-Werten die Einstellung des Behandlungssystems (1 ; 25; 37; 46) automatisch zur Verringerung der Abweichung zwischen Ist- und Soll-Wert bzw. der Abweichungen zwischen Ist- und Soli-Werten änderbar ist.
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