[go: up one dir, main page]

TWI599781B - 使用不同作業系統測試電子產品之系統 - Google Patents

使用不同作業系統測試電子產品之系統 Download PDF

Info

Publication number
TWI599781B
TWI599781B TW105124105A TW105124105A TWI599781B TW I599781 B TWI599781 B TW I599781B TW 105124105 A TW105124105 A TW 105124105A TW 105124105 A TW105124105 A TW 105124105A TW I599781 B TWI599781 B TW I599781B
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
port
switching
computer
tested
pin
Prior art date
Application number
TW105124105A
Other languages
English (en)
Other versions
TW201809691A (zh
Inventor
張倍銘
許世傑
張世傑
黃偉隆
Original Assignee
致伸科技股份有限公司
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 致伸科技股份有限公司 filed Critical 致伸科技股份有限公司
Priority to TW105124105A priority Critical patent/TWI599781B/zh
Priority to US15/292,586 priority patent/US10061673B2/en
Application granted granted Critical
Publication of TWI599781B publication Critical patent/TWI599781B/zh
Publication of TW201809691A publication Critical patent/TW201809691A/zh

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/22Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
    • G06F11/26Functional testing
    • G06F11/263Generation of test inputs, e.g. test vectors, patterns or sequences ; with adaptation of the tested hardware for testability with external testers
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/26Testing of individual semiconductor devices
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2801Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
    • G01R31/2806Apparatus therefor, e.g. test stations, drivers, analysers, conveyors
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851Testing of integrated circuits [IC]
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317Testing of digital circuits
    • G01R31/3181Functional testing
    • G01R31/319Tester hardware, i.e. output processing circuits
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317Testing of digital circuits
    • G01R31/3181Functional testing
    • G01R31/319Tester hardware, i.e. output processing circuits
    • G01R31/31903Tester hardware, i.e. output processing circuits tester configuration
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/22Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
    • G06F11/26Functional testing
    • G06F11/273Tester hardware, i.e. output processing circuits
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/22Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
    • G06F11/26Functional testing
    • G06F11/273Tester hardware, i.e. output processing circuits
    • G06F11/2733Test interface between tester and unit under test
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F13/00Interconnection of, or transfer of information or other signals between, memories, input/output devices or central processing units
    • G06F13/14Handling requests for interconnection or transfer
    • G06F13/36Handling requests for interconnection or transfer for access to common bus or bus system
    • G06F13/362Handling requests for interconnection or transfer for access to common bus or bus system with centralised access control
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F9/00Arrangements for program control, e.g. control units
    • G06F9/06Arrangements for program control, e.g. control units using stored programs, i.e. using an internal store of processing equipment to receive or retain programs
    • G06F9/44Arrangements for executing specific programs
    • G06F9/4401Bootstrapping
    • G06F9/4406Loading of operating system
    • G06F9/4408Boot device selection
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02PCLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
    • Y02P90/00Enabling technologies with a potential contribution to greenhouse gas [GHG] emissions mitigation
    • Y02P90/30Computing systems specially adapted for manufacturing

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Software Systems (AREA)
  • Computer Security & Cryptography (AREA)
  • Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)

Description

使用不同作業系統測試電子產品之系統
本發明係關於一種測試電子產品之系統,尤其是關於使用不同的作業系統測試電子產品之系統。
在電腦周邊產品的生產過程中,有時需要使用不同的作業系統來對產品進行測試。例如,使用微軟公司的Windows作業系統進行產品的軔體(firmware)的更新,另外使用蘋果公司的Mac作業系統進行其它項目的測試。
此二種不同的作業系統被安裝於不同的電腦。在先前技術中,測試人員於被測試產品與二部電腦之間連接一個USB切換器。切換器先連接於一部電腦。測試人員目視電腦螢幕顯示的測試流程來判斷測試是否完成。當該部電腦的測試完成時,測試人員使用切換器將產品連接到另一部電腦,使得產品可接受另一部電腦的測試。
於先前技術的測試系統中,需要經由人工依據所進行的測試的進度來判斷是否將受測產品連接到另一部電腦進行後續測試。以人工及手動切換的方式需要大量的人力進行測試流 程,不僅人力成本高,也無法提昇測試的速度。
本發明之主要目的在提供一種提昇測試速度之電子裝置之測試系統。
於一較佳實施例中,本發明提供一種使用不同作業系統測試電子產品之系統,該系統包括一第一作業系統以及一第二作業系統且該第一作業系統與該第二作業系統不同,該系統包括一主電腦,具有該第一作業系統,一第一切換連接埠以及一第一資料連接埠;一從級電腦,具有該第二作業系統,一第二切換連接埠以及一第二資料連接埠,其中該第一切換連接埠連接於該第二切換連接埠;以及一切換裝置,連接於該主電腦之該第一切換連接埠,該主電腦之該第一資料連接埠,該從級電腦之該第二資料連接埠以及一待測產品,其中,該主電腦之該第一資料連接埠經由該切換裝置電性連接於該待測產品並對該待測產品進行測試,當該主電腦完成該測試時,該主電腦使該第一切換連接埠產生一第一通知,並使該第一切換連接埠產生一切換訊號予該切換裝置而使該切換裝置將該從級電腦之該第二資料連接埠電性連接於該待測產品,該從級電腦之該第二切換連接埠於偵測到該第一通知後,對該待測產品進行測試。
較佳者,該切換裝置係一繼電器。該繼電器包括二常閉端,二常開端以及二共端,該二常閉端連接於該主電腦之該第一資料連接埠,該二常開端連接於該從級電腦之該第二資料連接埠,以及該二共端連接於該待測產品。該繼電器更包括一驅動電路。
較佳者,該第一切換連接埠與該第二切換連接埠係RS-232連接埠。該第一切換連接埠之一第6號接腳與該第二切換連接埠之一第4號接腳連接,該第一切換連接埠之一第4號接腳 與該第二切換連接埠之一第6號接腳連接,以及該第一切換連接埠之一第7號接腳與該繼電器之該驅動電路連接。當該主電腦完成該測試時,該主電腦使該第一切換連接埠之該第4號接腳產生一高電位狀態而形成該第一通知,以及該主電腦使該第一切換連接埠之該第7號接腳轉換為一高電位狀態而形成該切換通知。當該從級電腦對該待測產品完成測試後,該從級電腦使該第二切換連接埠產生一第二通知,該主電腦於偵測到該第二通知時,解除該從級電腦與該待測產品之電性連接。該從級電腦使該第二切換連接埠之該第4接腳轉變為一高電位狀態而形成該第二通知,且該主電腦經由該第一切換連接埠之該第6號接接腳偵測到該高電位狀態後,使該第一切換連接埠之該第7號接腳轉變為一低電位狀態而使該繼電器之該二常閉端與該二共端連接,而解除該從級電腦與該待測產品之電性連接。
100‧‧‧系統
10‧‧‧主電腦
11‧‧‧第一作業系統
12‧‧‧第一切換連接埠
13‧‧‧第一資料連接埠
20‧‧‧從級電腦
21‧‧‧第二作業系統
22‧‧‧第二切換連接埠
23‧‧‧第二資料連接埠
30‧‧‧繼電器
31D+,31D-‧‧‧常閉端
32D+,32D-‧‧‧常開端
DUT_D+,DUT_D-‧‧‧共端
33‧‧‧驅動電路
40‧‧‧待測產品
41‧‧‧通用串列埠
12-4、12-6、12-7、22-4、22-6‧‧‧接腳
圖1係本發明系統之一較佳實施例方塊示意圖。
圖2係本發明系統之繼電器與主電腦及從級電腦之RS-232連接埠之連接示意圖。
請參照圖1,圖1表示了本發明系統之一較佳實施例之方塊示意圖。於圖1中,本案系統100包括一主電腦10,一從級電腦20以及一切換裝置30。於本實施例中,切換裝置30為一繼電器。主電腦10安裝有第一作業系統11,從級電腦20安裝有第二作業系統21。主電腦10包括第一切換連接埠12以及第一資料連接埠13。從級電腦20包括第二切換連接埠22以及第二資料連接埠23。繼電器30連接於主電腦10之第一切換連接埠12及第 一資料連接埠13,從級電腦20之第二切換連接埠22及第二資料連接埠23,以及待測產品40之通訊介面41,例如通用串列埠(USB)。此外,主電腦10的第一切換連接埠12與與從級電腦20之第二切換連接埠22連接一起。
於本較佳實施例中,第一切換連接埠12與第二切換連接埠皆為RS-232連接埠。第一資料連接埠13與第二資料連接埠為USB埠。
請參照圖2,圖2表示了本系統之繼電器30與主電腦10之RS-232埠12及從級電腦20之RS-232埠22之連接示意圖。本實施例所使用之RS-232介面包括9個接腳。主電腦10之RS-232埠12之6號接腳12-6藉由,例如,導線,與從級電腦20之RS-232埠22之第4號22-4接腳連接。此外,RS-232埠12之4號接腳12-4與RS-232埠22之第6號接腳22-6連接。其它未被描述的RS-232埠12與RS-232埠22的接腳則未互相連接。於本實施例中,繼電器30為雙刀雙擲型態的繼電器。亦即,繼電器30包括2個共端DUT-及DUT+,2個常閉端31D+,31D-,以及2個常閉端32D+,32D-。此外,繼電器30還包括一驅動電路33。於本例中之驅動電路33係一光耦合器電路。於另一實施例中,亦可使用達靈頓IC做為驅動電路。在繼電器40未被改變狀態的情況中,常閉端32D+,32D-與共端DUT_D-及DUT_D+連接。
繼電器30的二常閉端31D+,31D-連接至主電腦10的第一資料連接埠13。繼電器30的二常開端32D+,32D-連接至從級電腦20的第二資料連接埠23。繼電器30的共端DUT_D+,DUT_D-則連接至待測產品40的USB連接埠41。
以下說明本案系統的操作方式。在主電腦10與從級電腦20內部分別設置有程式,以執行本案系統相關運作的控制。本系統的主電腦10係指執行第一個測試作業的電腦,而另一電腦則被定義為從級電腦20。在初始狀態中,由於主電腦10與繼電器30的二常閉端31D+,31D-連接,因此表示主電腦10係與待測產 品40電性連接在一起。此時,主電腦10可對待測產品40進行測試。當主電腦10的測試完成後,主電腦10產生一第一通知給從級電腦20。亦即,主電腦10將其RS-232埠12的4號接腳12-4的電位轉為高電位,並維持此高電位的狀態一段時間,例如1000毫秒,而形成該第一通知。此外,主電腦10也產生一切換訊號予繼電器30。亦即,主電腦10轉換RS-232埠12的7號接腳12-7為高電位狀態而形成該切換訊號。7號接腳12-7的高電位被傳送至繼電器30的驅動電路33而令驅動電路33產生激磁作用,使繼電器30的共端DUT_D+,DUT_D-切換至與常開端32D+,32D-連接。這表示原本與主電腦10連接之待測產品40已經被切換至與從級電腦20連接。由於從級電腦20的RS-232埠22的6號接腳與RS-232埠12的4號接腳連接,因此從級電腦20可偵測到其RS-232埠12的4號接腳呈現高電位狀態。從級電腦20藉由RS-232埠12的4號接腳的高電位狀態得知主電腦10已切換待測產品40的連接,因此從級電腦20可進行對待測產品40的測試。
當從級電腦20也完成測試後,從級電腦20產生一第二通知給主電腦10。亦即,從級電腦20將RS-232埠22的4號接腳22-4轉變為高電位而形成該第二通知。由於主電腦10的RS-232埠12的6號接腳12-6連接於RS-232埠22的4號接腳22-4,因此主電腦10可偵測到RS-232埠12的6號接腳12-6處於高電位狀態,因此主電腦10可知從級電腦20已經完成測試。之後主電腦10將RS-232埠12的7號接腳12-7轉為低電位狀態,以解除繼電器30的激磁狀態,令繼電器10的二常閉端31D+,31D再次與共端DUT_D+,DUT_D-連接。亦即使主電腦10解除從級電腦20與待測產品40的電性連接,而由主電腦10再次與待測產品40電性連接。
由以上的描述可知,本發明使用低成本的RS-232埠,依據RS-232埠既有的接腳的通訊定義,將主/從電腦的RS-232埠的特定接腳連接一起,使得主/從電腦能夠自動互相溝通。此外, 同時將主電腦10的RS-232的特定接腳與繼電器30連接,因此主電腦10只需改變接腳的高/低電位狀態即可切換與待測產品40電性連接的電腦,達成在測試期間,執行測試的電腦主動與待測產品連接,免除了使用人工切換的不便,以提昇測試速度。
以上所述僅為本發明之較佳實施例,並非用以限定本發明之申請專利範圍,因此凡其它未脫離本發明所揭示之精神下所完成之等效改變或修飾,均應包含於本案之申請專利範圍內。
100‧‧‧系統
10‧‧‧主電腦
11‧‧‧第一作業系統
12‧‧‧第一切換連接埠
13‧‧‧第一資料連接埠
20‧‧‧從級電腦
21‧‧‧第二作業系統
22‧‧‧第二切換連接埠
23‧‧‧第二資料連接埠
30‧‧‧繼電器
40‧‧‧待測產品
41‧‧‧通用串列埠

Claims (9)

  1. 一種使用不同作業系統測試電子產品之系統,該系統包括一第一作業系統以及一第二作業系統且該第一作業系統與該第二作業系統不同,該系統包括:一主電腦,具有該第一作業系統,一第一切換連接埠以及一第一資料連接埠;一從級電腦,具有該第二作業系統,一第二切換連接埠以及一第二資料連接埠,其中該第一切換連接埠連接於該第二切換連接埠;以及,一切換裝置,連接於該主電腦之該第一切換連接埠,該主電腦之該第一資料連接埠,該從級電腦之該第二資料連接埠以及一待測產品,其中,該主電腦之該第一資料連接埠經由該切換裝置電性連接於該待測產品並對該待測產品進行測試,當該主電腦完成該測試時,該主電腦使該第一切換連接埠產生一第一通知,並使該第一切換連接埠產生一切換訊號予該切換裝置而使該切換裝置將該從級電腦之該第二資料連接埠電性連接於該待測產品,該從級電腦之該第二切換連接埠於偵測到該第一通知後,對該待測產品進行測試。
  2. 如申請專利範圍第1項之系統,其中該切換裝置係一繼電器。
  3. 如申請專利範圍第2項之系統,其中該繼電器包括二常閉端,二常開端以及二共端,該二常閉端連接於該主電腦之該第一資料連接埠,該二常開端連接於該從級電腦之該第二資料連接埠,以及該二共端連接於該待測產品。
  4. 如申請專利範圍第3項之系統,其中該繼電器更包括一驅動電路。
  5. 如申請專利範圍第4項之系統,其中該第一切換連接埠與該第二切換連接埠係RS-232連接埠。
  6. 如申請專利範圍第5項之系統,其中該第一切換連接埠之一第6號接腳與該第二切換連接埠之一第4號接腳連接,該第一切換連 接埠之一第4號接腳與該第二切換連接埠之一第6號接腳連接,以及該第一切換連接埠之一第7號接腳與該繼電器之該驅動電路連接。
  7. 如申請專利範圍第6項之系統,其中當該主電腦完成該測試時,該主電腦使該第一切換連接埠之該第4號接腳產生一高電位狀態而形成該第一通知,以及該主電腦使該第一切換連接埠之該第7號接腳轉換為一高電位狀態而形成該切換通知。
  8. 如申請專利範圍第6項之系統,其中,當該從級電腦對該待測產品完成測試後,該從級電腦使該第二切換連接埠產生一第二通知,該主電腦於偵測到該第二通知時,解除該從級電腦與該待測產品之電性連接。
  9. 如申請專利範圍第8項之系統,其中該從級電腦使該第二切換連接埠之該第4接腳轉變為一高電位狀態而形成該第二通知,且該主電腦經由該第一切換連接埠之該第6號接接腳偵測到該高電位狀態後,使該第一切換連接埠之該第7號接腳轉變為一低電位狀態而使該繼電器之該二常閉端與該二共端連接,而解除該從級電腦與該待測產品之電性連接。
TW105124105A 2016-07-29 2016-07-29 使用不同作業系統測試電子產品之系統 TWI599781B (zh)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
TW105124105A TWI599781B (zh) 2016-07-29 2016-07-29 使用不同作業系統測試電子產品之系統
US15/292,586 US10061673B2 (en) 2016-07-29 2016-10-13 Testing system using different operating systems to test electronic products

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
TW105124105A TWI599781B (zh) 2016-07-29 2016-07-29 使用不同作業系統測試電子產品之系統

Publications (2)

Publication Number Publication Date
TWI599781B true TWI599781B (zh) 2017-09-21
TW201809691A TW201809691A (zh) 2018-03-16

Family

ID=60719640

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW105124105A TWI599781B (zh) 2016-07-29 2016-07-29 使用不同作業系統測試電子產品之系統

Country Status (2)

Country Link
US (1) US10061673B2 (zh)
TW (1) TWI599781B (zh)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111443261A (zh) * 2020-05-07 2020-07-24 西安华傲通讯技术有限责任公司 用于电缆测试的主从系统及方法
TWI835624B (zh) * 2023-04-12 2024-03-11 祥碩科技股份有限公司 測試系統以及測試方法

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI246597B (en) * 2004-11-05 2006-01-01 Ren-Yau Hu Safety automatic testing system
TW200728749A (en) * 2006-01-23 2007-08-01 Emine Technology Co Ltd PS/2 signal obtaining-device and method for displaying the PS/2 signal
TWI390407B (zh) * 2009-11-30 2013-03-21 Aten Int Co Ltd 多電腦切換器及其轉接器
TWM523900U (zh) * 2016-02-19 2016-06-11 Lanner Electronic Inc 伺服器之串列埠接頭傳輸控制切換母板

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4760330A (en) * 1986-06-06 1988-07-26 Northern Telecom Limited Test system with shared test instruments
US7363188B1 (en) * 2004-12-03 2008-04-22 Litepoint Corp. Apparatus and method for operating automated test equipment (ATE)
US7552370B2 (en) * 2006-03-31 2009-06-23 Robert Pochowski Application specific distributed test engine architecture system and method
JP5028304B2 (ja) * 2008-03-11 2012-09-19 株式会社日立製作所 仮想計算機システム及びその制御方法
TW201031937A (en) * 2009-02-20 2010-09-01 Aiconn Technology Corp Batch testing method for a SIP device and batch testing system thereof
US9190725B2 (en) * 2013-03-06 2015-11-17 Apple Inc. Test system having test stations with adjustable antennas
US9158662B1 (en) * 2013-10-17 2015-10-13 American Megatrends, Inc. Automated operating system installation on multiple drives
TWI569028B (zh) * 2014-05-02 2017-02-01 塞拉有限公司 除錯系統
WO2016066191A1 (en) * 2014-10-29 2016-05-06 Advantest Corporation Scheduler
US10277497B2 (en) * 2015-09-25 2019-04-30 Contec, Llc Systems and methods for testing electronic devices using master-slave test architectures

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI246597B (en) * 2004-11-05 2006-01-01 Ren-Yau Hu Safety automatic testing system
TW200728749A (en) * 2006-01-23 2007-08-01 Emine Technology Co Ltd PS/2 signal obtaining-device and method for displaying the PS/2 signal
TWI390407B (zh) * 2009-11-30 2013-03-21 Aten Int Co Ltd 多電腦切換器及其轉接器
TWM523900U (zh) * 2016-02-19 2016-06-11 Lanner Electronic Inc 伺服器之串列埠接頭傳輸控制切換母板

Also Published As

Publication number Publication date
TW201809691A (zh) 2018-03-16
US10061673B2 (en) 2018-08-28
US20180032417A1 (en) 2018-02-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US9123442B2 (en) Testing device
TWI810260B (zh) 自動usb主機偵測及埠組態
CN102968946B (zh) 显示面板的检测电路
CN109298266B (zh) 测试系统、测试方法、测试装置及存储介质
CN102479137A (zh) 检测测试设备通用串行总线端口的检测装置及检测方法
CN101895785A (zh) 一种便携式hdmi cec自动测试仪及其测试方法
US11360138B2 (en) Portable multi-function cable tester
TWI599781B (zh) 使用不同作業系統測試電子產品之系統
WO2016168013A1 (en) Bus interface system
CN111881074B (zh) 电子系统、主机端装置及控制方法
CN107678893A (zh) 使用不同操作系统测试电子产品的系统
JP2016212065A (ja) 基板検査装置、基板検査方法、及び基板検査プログラム
TW201616366A (zh) 可切換外接顯示埠的顯示電路
CN104615467A (zh) 一种烧录cpld固件的方法和系统
WO2017054655A1 (zh) Hdmi接口测试夹具及测试方法
WO2019109284A1 (zh) 调试器以及芯片调试方法
CN101661419A (zh) 多测试端口测试机台及其测试方法
TWI759380B (zh) 電路板的連接器插槽腳位導通檢測系統及其方法
US20190278724A1 (en) Keyboard-video-mouse switch, signal processing method, and non-transitory computer-readable storage medium
TWI796564B (zh) 電子裝置及其可熱插拔的儲存裝置
CN103838693A (zh) 数据传输的装置及移动终端
CN100461270C (zh) 光盘机测试系统
TWI837980B (zh) 具擴展性的傳輸線檢測系統及其方法
TW201516662A (zh) 切換裝置及檢測系統
CN110324078B (zh) 一种光接口差分信号故障检测系统及方法

Legal Events

Date Code Title Description
MM4A Annulment or lapse of patent due to non-payment of fees