CN102968946B - 显示面板的检测电路 - Google Patents
显示面板的检测电路 Download PDFInfo
- Publication number
- CN102968946B CN102968946B CN201210529943.4A CN201210529943A CN102968946B CN 102968946 B CN102968946 B CN 102968946B CN 201210529943 A CN201210529943 A CN 201210529943A CN 102968946 B CN102968946 B CN 102968946B
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- electrically connected
- terminals
- terminal
- display panel
- control
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000001514 detection method Methods 0.000 title claims abstract description 40
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims abstract description 87
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 15
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 16
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 15
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 8
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 238000003698 laser cutting Methods 0.000 description 5
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 4
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 3
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 2
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 2
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 description 1
- 239000010408 film Substances 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
- 238000010998 test method Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Control Of Indicators Other Than Cathode Ray Tubes (AREA)
- Electroluminescent Light Sources (AREA)
- Liquid Crystal (AREA)
Abstract
一种显示面板的检测电路，其具有第一测试部、第二测试部、第三测试部、多个第一多工器、多个第一开关单元与第二多工器。所述的第一测试部、第二测试部与第三测试部分别电性连接至多个第一多工器，而这些第一多工器的输出端分别电性连接至显示面板的多条数据线。接着，通过分别导通这些第一多工器、这些第一开关单元和/或该第二多工器，以选择由第一测试部、第二测试部或第三测试部输出检测讯号给显示面板进行检测程序。
Description
技术领域
本发明涉及一种检测电路，特别是涉及一种显示面板的检测电路。
背景技术
在目前显示面板(display panel)的制造过程中，会通过一个检测程序来检测显示面板的阵列基板中各个像素的驱动电路运作是否正确。举例来说，在所述的驱动电路的周围设置有检测用的电路布线，一般来说，可区分有环状短路布线(short-ring layout)与杆状短路布线(shorting-bar layout)两种。
所述的检测程序主要利用将检测讯号通过检测电路布线输入至所述的驱动电路，以驱动显示面板中的各像素进行测试。接着，于检测完显示面板后，利用激光切割工艺将所述的检测电路布线切断，然而所述的检测程序需要增加激光切割工艺。
发明内容
本发明提出一种显示面板的检测电路可提供薄膜探针与金属探针进行检测，以对显示面板进行异常拦检与修复，并且无需增加激光切割工艺，亦可简化检测程序。
因此，本发明实施例的显示面板的检测电路，包括有第一测试部、第二测试部、第三测试部、多个第一多工器、多个第一开关单元与第二多工器。所述的第一测试部具有多个第一切换端、第一致能端、多个第一控制端、以及多个第一数据端。这些第一切换端电性连接至这些第一多工器的第一输入端，其中每一第一多工器包含多个输出端、多个第一输入端，以及第二输入端，这些第一多工器的输出端分别电性连接至显示面板的多条数据线。所述的第二测试部具有多个第二切换端、第二致能端、多个第二控制端、以及第二数据端，其中这些第二切换端电性连接至这些第一多工器的第一输入端。所述的第三测试部具有多个第三切换端、第三致能端、以及第三数据端，其中这些第三切换端电性连接至这些第一多工器的第一输入端。这些第一开关单元分别电性连接至这些第一多工器，这些第一开关单元用以选择这些测试部其中之一。该第二多工器分别电性连接至这些第一控制端、这些第二控制端与这些第一多工器。
为使本发明的上述和其他目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举实施例，并结合附图详细说明如下。
附图说明
图1为本发明第一实施例的检测电路的细部示意图。
图2为本发明第二实施例的检测电路的细部示意图。
图3为本发明第三实施例的检测电路的细部示意图。
附图符号说明
100、300、400 检测电路
110 第一测试部
111 第一切换端
113 第一致能端
115 第一控制端
117 第一数据端
120 第二测试部
121 第二切换端
123 第二致能端
125 第二控制端
127 第二数据端
130 第三测试部
131 第三切换端
133 第三致能端
135 参考电位
137 第三数据端
140 第一多工器
141 输出端
143 第一输入端
145 第二输入端
390、490 保护单元
391、491 第一端
393、493 控制端
395、495 第二端
170 第一开关单元
180 第二多工器
200 显示面板
具体实施方式
请参照图1，图1为本发明第一实施例的检测电路的细部示意图。如图1所示，本发明实施例的检测电路100电性连接于显示面板200。所述的检测电路100包括有第一测试部(由多个第一切换端111、一第一致能端113、多个第一控制端115与多个第一数据端117所组成)、第二测试部(由多个第二切换端121、一第二致能端123、多个第二控制端125与一第二数据端127所组成)、第三测试部(由多个第三切换端131、一第三致能端133与一第三数据端137所组成)、多个第一多工器140、多个第一开关单元170与第二多工器180。在此图中，这些第一切换端111是以同一个虚框来框选表示；这些第一控制端115是以同一个虚框来框选表示；这些第一数据端117是以同一个虚框来框选表示；这些第二切换端121是以同一个虚框来框选表示；这些第二控制端125是以同一个虚框来框选表示；这些第三切换端131是以同一个虚框来框选表示。
第一测试部电性连接于显示面板200。第一测试部用以接收一讯号产生装置(未绘示)所提供的数据讯号、控制讯号与致能讯号。在利用第一测试部测试显示面板200时，讯号产生装置所产生的数据讯号可以是模拟用于显示面板200的一驱动集成电路(IC)所输出的驱动讯号。第二测试部电性连接于显示面板200与薄膜探针(图中未示)。第二测试部用以接收薄膜探针提供的数据讯号、控制讯号与致能讯号，以对显示面板200中的像素阵列进行检测程序。举例来说，薄膜探针可针对显示面板200中特定位置的像素进行点亮，以测试各像素是否正常，进而提供测试人员对异常的像素进行修复工作。第三测试部电性连接于显示面板200与金属探针(图中未示)。第三测试部用以接收金属探针提供的数据讯号、控制讯号与致能讯号，以对显示面板200中的像素阵列进行检测程序。举例来说，金属探针可传送讯号至显示面板200，以检测其显示红色、绿色、蓝色、黑画面、白画面与灰画面是否正常。
如图1所示，每一第一多工器140包含多个输出端141、多个第一输入端143与一第二输入端145。所述的第一多工器140的输出端141分别电性连接至显示面板200的多条数据线，多个第一多工器140的多个第一输入端143彼此分别电性连接。所述的第一多工器140可由多个N型或P型薄膜晶体管来组成。在此例中，每一第一多工器140是由多个N型薄膜晶体管来组成。此外，所述的第一切换端111电性连接于这些第一多工器140的第一输入端143。所述的第二切换端121电性连接于这些第一多工器140的第一输入端143。而所述的第三切换端131亦电性连接于这些第一多工器140的第一输入端143。
这些第一开关单元170分别电性连接至这些第一多工器140的第二输入端145、第三测试部的第三致能端133、第三测试部的第三数据端137、第二测试部的第二致能端123、第一测试部的第一致能端113。本实施例的每一第一开关单元170是由一N型薄膜晶体管来实现，然本发明并不以此为限，本领域的技术人员应知每一第一开关单元170可由一N型或一P型薄膜晶体管来实现。具体地，每一第一开关单元170具有第一端、第二端与控制端。每一第一开关单元170的第一端电性连接至其中一第一多工器140的第二输入端145。每一第一开关单元170的第二端电性连接至第三测试部的第三数据端137。每一第一开关单元170的控制端电性连接至第一测试部的第一致能端113、第二测试部的第二致能端123与第三测试部的第三致能端133。由图1可知，第一多工器140的数目必须和第一开关单元170的数目相等。
第二多工器180具有多个输出端、多个第一输入端与一第二输入端。此第二多工器180的这些输出端分别电性连接至对应的这些第一开关单元170的第一端，以及第一测试部的这些第一数据端117，第二多工器180的第二输入端电性连接至第二测试部的第二数据端127，而第二多工器180的这些第一输入端分别电性连接至第一测试部的这些第一控制端115与第二测试部的这些第二控制端125。具体地，第二多工器180电性连接至这些第一多工器140的第二输入端145、第一测试部的这些第一控制端115、第一测试部的这些第一数据端117、第二测试部的这些第二控制端125与第二测试部的第二数据端127。所述的第二多工器180可由多个N型或P型薄膜晶体管所组成。在此例中，第二多工器180是由多个N型薄膜晶体管所组成。具体地，第二多工器180中的每一晶体管皆具有第一端、第二端与控制端。第二多工器180中的这些晶体管的第一端分别电性连接至这些第一开关单元170的第一端。第二多工器180中的这些晶体管的第二端皆电性连接至第二测试部的第二数据端127。第二多工器180中的这些晶体管的控制端分别电性连接至第一测试部的这些第一控制端115与第二测试部的这些第二控制端125。另外，第二多工器180中的这些晶体管的第一端亦分别电性连接至第一测试部的这些第一数据端117。
以下将说明检测电路100的动作原理。请再参照图1，当欲利用薄膜探针(图中未示)来对显示面板200进行测试时，便可将薄膜探针电性连接于第二测试部的这些第二切换端121、第二致能端123、这些第二控制端125与第二数据端127，以利用第二数据端127来传送数据讯号，并利用第二致能端123传送致能讯号来关闭这些第一开关单元170，以及利用这些第二控制端125传送多个控制讯号(控制讯号的数目实质上相等于第一多工器140的数目，在此例中，控制讯号的数目为六个)来决定第二多工器180中的晶体管有哪些要导通，以进一步决定数据讯号要传送到哪些第一多工器140。此外，还利用这些第二切换端121传送多个选择讯号(在此例为三个)至这些第一多工器140，以控制第一多工器140将其所接收到的数据讯号从选定的输出端141输出至显示面板200。其中，第二切换端121的数目实质上等于第一多工器140的输出端141数目。藉此，便可利用薄膜探针对显示面板200进行所需的检测程序。
当欲利用金属探针(图中未示)来对显示面板200进行测试时，便可将金属探针电性连接于第三测试部的这些第三切换端131、第三致能端133与第三数据端137，以利用第三数据端137来传送数据讯号，并利用第三致能端133传送致能讯号来导通这些第一开关单元170，以及利用这些第三切换端131传送多个选择讯号(在此例为三个)至这些第一多工器140，以控制第一多工器140将其所接收到的数据讯号从选定的输出端141输出至显示面板200。其中，第三切换端131的数目实质上等于第一多工器140的输出端141数目。藉此，便可利用金属探针对显示面板200进行所需的检测程序。
当欲测试显示面板200在电性连接至所需的驱动集成电路后，其是否能根据驱动集成电路所输出的讯号而正常地执行对应的操作时，便可将讯号产生装置(未绘示)电性连接至第一测试部的这些第一切换端111、第一致能端113、这些第一控制端115与这些第一数据端117，以利用这些第一数据端117来传送多个数据讯号(在此例为六个)，并利用第一致能端113传送致能讯号来关闭这些第一开关单元170，以及利用这些第一控制端115传送多个控制讯号(在此例为六个)来关闭第二多工器180中的所有晶体管。其中，第一数据端117的数量与第一控制端115的数量实质上与第二多工器180的晶体管的数量相同。此外，还利用这些第一切换端111传送多个选择讯号(在此例为三个)至这些第一多工器140，以控制第一多工器140将其所接收到的数据讯号从选定的输出端141输出至显示面板200。藉此，便可检测出显示面板200在电性连接至所需的驱动集成电路后，其是否能根据驱动集成电路所输出的讯号而正常地执行对应的操作。从以上说明可知，本发明的实施例于检测完显示面板200后无需额外的激光切割(laser cut)工艺，就可将显示面板200所需的驱动集成电路焊接(BONDING)上去。
接下来，请参照图2，图2为本发明第二实施例的检测电路的细部示意图。如图2所示，本发明第二实施例与第一实施例不同之处在于：第二实施例具有保护单元390，其余部分与第一实施例相同，以下不再赘述。
保护单元390具有多个第一端391、一控制端393与一第二端395。保护单元390的这些第一端391分别电性连接至第二多工器180中的这些晶体管的控制端。保护单元390的控制端393电性连接至这些第一开关单元170的控制端。保护单元390的第二端395电性连接至一参考电位135。如图2所示，保护单元390可由多个第二开关单元来组成。保护单元390中的每一第二开关单元包含第一端、第二端与控制端，且每一第二开关单元的第一端电性连接至保护单元390中对应的第一端，每一第二开关单元的控制端电性连接至保护单元390中对应的控制端，而每一第二开关单元的第二端电性连接至保护单元390中对应的第二端。保护单元390中的每一第二开关单元皆可为N型或P型薄膜晶体管。在此例中，保护单元390中的每一第二开关单元皆以一N型薄膜晶体管来实现，所述参考电位135可为低电压准位例如是-30V。当欲利用第三测试部的第三数据端137传送数据，因而利用第三测试部的第三致能端133传送致能讯号来导通这些第一开关单元170时，为避免第二多工器180中各晶体管的控制端因未电性连接任何讯号造成电平浮动而导致误动作，便可通过第三测试部的第三致能端133传送致能讯号来导通该保护单元390中的所有晶体管，并将参考电位135电性连接至低电压，以确保第二多工器180中的各晶体管保持在关闭状态。藉此，可避免检测电路300因第二多工器180的误动作而影响其检测结果。
此外，从以上说明可知，保护单元390的每一第二开关单元还可以包含串接多个第二开关单元，其中每一第二开关单元包含一第一端、一第二端以及一控制端，其中这些第二开关单元的控制端电性连接至保护单元390的控制端，并且所述串接多个第二开关单元其中的一第一端与所述串联多个第二开关单元其中另一第二端分别电性连接至保护单元390的其中一第一端391与保护单元390的第二端395，其余所述串接多个第二开关的第一端电性连接至其余所述串接多个第二开关第二端。
接着，请参照图3，图3为本发明第三实施例的检测电路的细部示意图。如图3所示，本发明第三实施例与第二实施例不同之处在于：第三实施例的保护单元490中具有更多的第二开关单元，其余部分与第二实施例相同，以下不再赘述。而如此图所示，此保护单元490具有多个第一端491、一控制端493与一第二端495。而此保护单元490包含有多个第二开关单元，每一第二开关单元包含一第一端、一第二端以及一控制端。此外，在保护单元490的其中一第一端491与保护单元490的第二端495之间串接至少二个第二开关单元。
综上所述，本发明的显示面板的检测电路通过布线规画、开关配置与讯号控制，使检测电路可提供薄膜探针进行电性连接，以测试与修复显示面板的异常问题，进而降低显示面板的制造成本，并且检测电路还可提供金属探针进行电性连接，以传送讯号至显示面板，进而点亮显示面板并检测其显示红色、绿色、蓝色、黑画面、白画面与灰画面是否正常。另外，于检测完显示面板后，本发明实施例通过控制开关的状态，避免显示面板受到检测电路的影响，因此无需额外的激光切割工艺，进而简化检测程序与提升显示面板的产能。
虽然本发明已以实施例揭示如上，然其并非用以限定本发明，本领域的技术人员，在不脱离本发明的精神和范围的前提下，可作若干的更动与润饰，因此本发明的保护范围是以本发明的权利要求为准。
Claims (10)
1.一种显示面板的检测电路，该显示面板具有多条数据线，包括：
多个第一多工器，每一第一多工器包含多个输出端，多个第一输入端，以及一第二输入端，这些第一多工器的这些输出端分别电性连接至该显示面板的多条数据线；
一第一测试部，具有多个第一切换端、一第一致能端、多个第一控制端以及多个第一数据端，这些第一切换端分别电性连接至多个第一多工器的这些第一输入端；
一第二测试部，具有多个第二切换端、一第二致能端、多个第二控制端以及一第二数据端，这些第二切换端分别电性连接至这些第一多工器的这些第一输入端；
一第三测试部，具有多个第三切换端、一第三致能端以及一第三数据端，这些第三切换端分别电性连接至这些第一多工器的这些第一输入端；
多个第一开关单元，分别电性连接至这些第一多工器，用以选择这些测试部其中之一；及
一第二多工器，分别电性连接至这些第一控制端、这些第二控制端与这些第一多工器的这些第二输入端，
其中每一这些第一开关单元具有一第一端、一第二端与一控制端，这些第一开关单元的第一端电性连接至这些第一多工器的第二输入端，这些第一开关单元的第二端电性连接至该第三测试部的第三数据端，这些第一开关单元的控制端电性连接至该第一测试部的第一致能端、该第二测试部的第二致能端与该第三测试部的第三致能端，用以选择这些测试部其中之一，并且
其中该第二多工器具有多个输出端、多个第一输入端与一第二输入端，该第二多工器的这些输出端分别电性连接至对应的这些第一开关单元的第一端，该第二多工器的该第二输入端电性连接至该第二测试部的第二数据端，该第二多工器的这些第一输入端分别电性连接至该第一测试部的第一控制端与该第二测试部的第二控制端。
2.如权利要求1的显示面板的检测电路，其中该第二多工器的这些输出端分别电性连接至该第一测试部的第一数据端。
3.如权利要求1的显示面板的检测电路，还包含一保护单元，该保护单元具有电性连接至该第二多工器的这些第一输入端的多个第一端，电性连接至这些第一开关单元的控制端的一控制端，以及电性连接至一参考电位的一第二端。
4.如权利要求3的显示面板的检测电路，其中该保护单元包含多个第二开关单元，每一第二开关单元包含一第一端电性连接至该保护单元中对应的第一端、一第二端电性连接至该保护单元中的该第二端以及一控制端电性连接至该保护单元的该控制端。
5.如权利要求3的显示面板的检测电路，其中该保护单元包含多个第二开关单元，每一第二开关单元包含一第一端电性连接至该保护单元中对应的第一端、一第二端电性连接至该保护单元中的该第二端以及一控制端电性连接至该保护单元的该控制端，且在该保护单元的其中一第一端与该保护单元的该第二端之间串接至少二个第二开关单元。
6.如权利要求3的显示面板的检测电路，其中该参考电位为一低电位。
7.如权利要求1的显示面板的检测电路，其中该第三测试部的第三致能端提供一第三致能讯号导通这些第一开关单元，用以切换该第三测试部检测该显示面板。
8.如权利要求1的显示面板的检测电路，其中该第二测试部的第二致能端提供一第二致能讯号关闭这些第一开关单元，并且该第二测试部的第二控制端提供多个第二控制讯号导通该第二多工器，用以切换该第二测试部检测该显示面板。
9.如权利要求2的显示面板的检测电路，其中该第一测试部设置有驱动集成电路时，这些第一开关单元与该第二多工器为关闭。
10.如权利要求2的显示面板的检测电路，其中该第一测试部的第一致能端提供一第一致能讯号关闭这些第一开关单元，并且该第一测试部的第一控制端提供多个第一控制讯号关闭该第二多工器，用以切换该第一测试部检测该显示面板。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| TW101130688A TWI435093B (zh) | 2012-08-23 | 2012-08-23 | 顯示面板的檢測電路 |
| TW101130688 | 2012-08-23 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN102968946A CN102968946A (zh) | 2013-03-13 |
| CN102968946B true CN102968946B (zh) | 2015-07-08 |
Family
ID=47799066
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN201210529943.4A Active CN102968946B (zh) | 2012-08-23 | 2012-12-10 | 显示面板的检测电路 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN102968946B (zh) |
| TW (1) | TWI435093B (zh) |
Families Citing this family (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| TWI547933B (zh) | 2014-11-27 | 2016-09-01 | 友達光電股份有限公司 | 液晶顯示器及其測試電路 |
| TWI562108B (en) | 2016-03-02 | 2016-12-11 | Au Optronics Corp | Display panel and method for verifying driving lines thereon |
| TWI587258B (zh) * | 2016-06-27 | 2017-06-11 | 友達光電股份有限公司 | 具有檢測電路的面板結構及面板檢測電路 |
| CN106057111B (zh) * | 2016-08-09 | 2019-09-13 | 武汉华星光电技术有限公司 | 测试电路及液晶面板 |
| CN106970296B (zh) * | 2017-05-31 | 2019-07-19 | 友达光电（苏州）有限公司 | 显示面板、测试装置与测试方法 |
| CN110675788A (zh) * | 2018-07-03 | 2020-01-10 | 上海和辉光电有限公司 | 一种显示面板测试组件及显示面板 |
| CN109243348B (zh) * | 2018-11-09 | 2021-09-14 | 惠科股份有限公司 | 量测讯号电路及其量测方法 |
| CN110910758B (zh) * | 2019-12-17 | 2022-06-03 | 厦门天马微电子有限公司 | 显示基板、显示模组及其控制方法 |
| CN113811938B (zh) * | 2020-03-31 | 2023-12-19 | 京东方科技集团股份有限公司 | 显示基板及其测试方法 |
| EP4016509A4 (en) | 2020-05-19 | 2022-10-26 | BOE Technology Group Co., Ltd. | DISPLAY PANEL, DISPLAY APPARATUS, TESTING METHOD, AND CRACK DETECTION METHOD |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN1804708A (zh) * | 2006-01-16 | 2006-07-19 | 友达光电股份有限公司 | 显示装置及其像素测试方法 |
| CN101241281A (zh) * | 2007-02-07 | 2008-08-13 | 中华映管股份有限公司 | 主动元件阵列基板 |
| CN101609635A (zh) * | 2009-07-24 | 2009-12-23 | 友达光电（苏州）有限公司 | 液晶面板测试模组及液晶面板失效模式分析方法 |
| CN102385828A (zh) * | 2011-08-12 | 2012-03-21 | 友达光电股份有限公司 | 阵列测试垫与源极驱动电路设置相异侧的液晶显示面板 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100909781B1 (ko) * | 2002-12-31 | 2009-07-29 | 엘지디스플레이 주식회사 | 액정표시장치용 어레이 기판의 검사장치 및 검사방법 |
-
2012
- 2012-08-23 TW TW101130688A patent/TWI435093B/zh active
- 2012-12-10 CN CN201210529943.4A patent/CN102968946B/zh active Active
Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN1804708A (zh) * | 2006-01-16 | 2006-07-19 | 友达光电股份有限公司 | 显示装置及其像素测试方法 |
| CN101241281A (zh) * | 2007-02-07 | 2008-08-13 | 中华映管股份有限公司 | 主动元件阵列基板 |
| CN101609635A (zh) * | 2009-07-24 | 2009-12-23 | 友达光电（苏州）有限公司 | 液晶面板测试模组及液晶面板失效模式分析方法 |
| CN102385828A (zh) * | 2011-08-12 | 2012-03-21 | 友达光电股份有限公司 | 阵列测试垫与源极驱动电路设置相异侧的液晶显示面板 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CN102968946A (zh) | 2013-03-13 |
| TWI435093B (zh) | 2014-04-21 |
| TW201409044A (zh) | 2014-03-01 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN102968946B (zh) | 显示面板的检测电路 | |
| CN109841181B (zh) | 阵列基板、显示面板和显示装置 | |
| CN100428003C (zh) | 液晶显示面板及测试其的探针 | |
| KR101836760B1 (ko) | 드라이버 칩, 드라이버 보드 및 그의 테스트 방법, 및 디스플레이 디바이스 | |
| US20050270059A1 (en) | Display apparatus and inspection method | |
| TW437095B (en) | Substrate for photoelectric device, active matrix substrate and the inspection method of substrate for photoelectric device | |
| JP4290370B2 (ja) | ディスプレイを駆動する駆動デバイス及び駆動デバイスを含むディスプレイ装置 | |
| CN102830520B (zh) | 显示面板及其检测方法 | |
| US10818208B2 (en) | Source driver | |
| CN103345898B (zh) | 显示装置 | |
| CN103208264A (zh) | 一种用于阵列基板行驱动线路的测试方法 | |
| CN109872667B (zh) | 信号检测系统及显示装置 | |
| US20010028336A1 (en) | Semiconductor integrated circuit for driving liquid crystal panel | |
| CN103389455B (zh) | 驱动芯片的检测系统及检测方法 | |
| US20150168485A1 (en) | Circuit board testing system | |
| CN103927956B (zh) | 一种显示面板的驱动电路、显示面板和显示装置 | |
| CN108257541A (zh) | 显示基板、显示面板和显示装置 | |
| JP2017220965A (ja) | 太陽電池検査装置および太陽電池検査方法 | |
| JP2013058428A (ja) | コネクタ接続検査回路、表示装置、コネクタ接続検査方法及び表示装置の製造方法 | |
| TWI502207B (zh) | 用來測試面板上所連結之複數個訊號傳輸線之電性連接狀態的方法以及相關的積體電路與顯示面板模組 | |
| CN106228923B (zh) | 一种驱动电路、驱动方法及显示面板 | |
| TW201316015A (zh) | 電路測試介面及其測試方法 | |
| CN108257539B (zh) | Oled显示装置及其驱动芯片 | |
| JP2011038849A (ja) | 半導体集積回路 | |
| TW201000992A (en) | Detection circuit and method for LCD panel |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| C06 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| C10 | Entry into substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| C14 | Grant of patent or utility model | ||
| GR01 | Patent grant | ||
| TR01 | Transfer of patent right |
Effective date of registration: 20161220 Address after: Jiangsu Longteng economic and Technological Development Zone Kunshan Road No. 6 Patentee after: AU Optronics (Kunshan) Co., Ltd. Address before: Hsinchu City, Taiwan, China Patentee before: Youda Photoelectric Co., Ltd. |
|
| TR01 | Transfer of patent right |