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TWI445922B - 圓度檢測裝置 - Google Patents

圓度檢測裝置 Download PDF

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Publication number
TWI445922B
TWI445922B TW98112928A TW98112928A TWI445922B TW I445922 B TWI445922 B TW I445922B TW 98112928 A TW98112928 A TW 98112928A TW 98112928 A TW98112928 A TW 98112928A TW I445922 B TWI445922 B TW I445922B
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TW
Taiwan
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disposed
rotating shaft
hole
base
detecting device
Prior art date
Application number
TW98112928A
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English (en)
Other versions
TW201038916A (en
Inventor
Zih Wei Wang
Original Assignee
Hon Hai Prec Ind Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hon Hai Prec Ind Co Ltd filed Critical Hon Hai Prec Ind Co Ltd
Priority to TW98112928A priority Critical patent/TWI445922B/zh
Publication of TW201038916A publication Critical patent/TW201038916A/zh
Application granted granted Critical
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  • A Measuring Device Byusing Mechanical Method (AREA)

Description

圓度檢測裝置
本發明涉及一種圓度檢測裝置。
目前測量圓形工件表面形狀誤差如圓度(又稱真圓度),一般需要用大型的精密圓度儀進行測量,然而大型精密圓度儀的結構複雜,成本高,不適合大量的配置。
有鑒於此,有必要提供一種低成本且結構簡單的圓度檢測裝置。
一種圓度檢測裝置,其包括一基座,一轉軸,一測微表,以及一定位裝置,所述轉軸可轉動地設置在所述基座上,所述測微表對應所述轉軸設置在所述基座上並與所述轉軸間隔一定距離,所述定位裝置設置在所述轉軸上以固定一待檢測工件。
相較於先前技術,該圓度檢測裝置採用安裝在一轉軸上的定位裝置固定待檢測工件,並通過與所述轉軸對應設置的測微表檢測所述待檢測工件的圓度,其結構簡單,成本低。
100‧‧‧圓度檢測裝置
110‧‧‧基座
112‧‧‧底板
114‧‧‧側壁
116‧‧‧收容空間
112a‧‧‧軸孔
114a‧‧‧通孔
120‧‧‧轉軸
130‧‧‧測微表
132‧‧‧讀數計
134‧‧‧桿體
136‧‧‧探頭
140‧‧‧定位裝置
142‧‧‧彈簧
144‧‧‧固定桿
146‧‧‧定位銷
200‧‧‧待檢測工件
圖1係本發明圓度檢測裝置的立體示意圖;圖2係沿圖1的圓度檢測裝置II-II線所得的剖視圖;圖3係圖1圓度檢測裝置的使用狀態圖。
下面將結合附圖對本發明實施方式作進一步的詳細說明。
請參閱圖1,本發明較佳實施方式提供的一種圓度檢測裝置100。該圓度檢測裝置100包括一基座110,一轉軸120,一測微表130,以及一定位裝置140。所述轉軸120可轉動地設置在所述基座110上。所述測微表130對應所述轉軸120設置在所述基座110上並與所述轉軸120間隔一定距離。所述定位裝置140設置在所述轉軸120上用以固定待檢測工件。
所述基座110包括一底板112以及一由該底板112邊緣沿垂直於該底板112的方向延伸出的側壁114。本實施方式中,所述底板112為圓形,所述側壁114環繞所述底板112形成一圓形的收容空間116。在所述底板112中心位置設置有一軸孔112a,用以使轉軸120容置於其中。所述側壁114上開設有一垂直於該側壁114並貫穿該側壁114的通孔114a。所述通孔114a用以設置所述測微表130。
所述轉軸120的一端可轉動地設置在所述基座110的軸孔112a內,用以通過定位裝置140帶動待檢測工件轉動。可以理解,為了降低所述轉軸120與軸孔112a的側壁之間的摩擦對測量結果造成的影響,可在所述轉軸120與所述軸孔112a的側壁之間設置一滾動軸承(圖未示)。
所述測微表130設置在所述基座110的側壁114上,其包括一讀數計132,一桿體134以及一探頭136。所述讀數計132用以讀取待檢測工件表面變化的數值,該讀數計132內設置有計量裝置。所述桿體134連接在所述讀數計132上,並穿過所述通孔114a固設在所 述基座110的側壁114上,所述桿體134為一中空的桿狀物。所述探頭136與讀數計132內的計量裝置相連接,並由所述桿體134的端部伸出,測量時該探頭136直接抵持在待檢測工件的表面上,以探測待檢測工件表面的變化,並將該變化直接傳輸至讀數計132由所述讀數計132將其轉化為具體的變化數值顯現給使用者。
所述定位裝置140設置在所述轉軸120鄰近所述基座110的一端用以支撐待檢測工件。請參閱圖1及圖2,本實施方式中,所述定位裝置140包括多個彈簧142以及多個固定桿144以及可伸縮地設置在所述固定桿144內的定位銷146。所述固定桿144等間隔地螺接在所述轉軸120上,所述定位銷146可伸縮的設置在所述固定桿144的外端。所述彈簧142套設在所述固定桿144上,並抵持在所述定位銷146的端部及所述轉軸120上。
請參閱圖3,使用時,將一環形的待檢測工件200通過所述定位裝置140定位在所述轉軸120的端部並容置在所述基座110的收容空間116內,其中,所述定位裝置140的定位銷146在所述彈簧142的作用下抵持在所述環形待檢測工件200的內壁上,由於所述定位裝置140的定位銷146可以在所述固定桿144內滑動,因此所述定位銷146與所述彈簧142一同構成一自定心結構,可以對所述環形待檢測工件200進行自動定心。當所述待檢測工件200定位完畢後,調整所述測微表130使所述測微表130的探頭136抵持在所述待檢測工件200的外表面上。接著,旋轉所述轉軸120帶動所述待檢測工件200轉動,在轉動過程中,所述待檢測工件200表面形狀的變化便可通過所述測微表130讀出,從而可方便的測量所述待檢測工件200的圓度。
本發明圓度檢測裝置100結構簡單,可方便的對環形待檢測工件進行圓度測量,此外,該圓度檢測裝置100還可對環形待檢測工件的表面粗糙度進行測量。
可以理解,在所述定位裝置140的定位銷146的端部可設置一摩擦片,以增大定位銷146與待檢測工件之間的摩擦力。
可以理解,為了防止所述測微表130在測量時自身發生位移,可以在所述基座110的側壁114的頂端設置一垂直貫穿至所述通孔114a的螺栓孔(圖未示),並在該螺栓孔中設置螺栓抵持在所述測微表130的桿體134上,從而固定所述測微表130。
綜上所述,本發明確已符合發明專利之要件,遂依法提出專利申請。惟,以上所述者僅為本發明之較佳實施方式,自不能以此限制本案之申請專利範圍。舉凡熟悉本案技藝之人士爰依本發明之精神所作之等效修飾或變化,皆應涵蓋於以下申請專利範圍內。
100‧‧‧圓度檢測裝置
110‧‧‧基座
112‧‧‧底板
114‧‧‧側壁
116‧‧‧收容空間
112a‧‧‧軸孔
114a‧‧‧通孔
120‧‧‧轉軸
130‧‧‧測微表
132‧‧‧讀數計
134‧‧‧桿體
136‧‧‧探頭
140‧‧‧定位裝置

Claims (7)

  1. 一種圓度檢測裝置,其包括一基座,一轉軸,一測微表,以及一定位裝置,所述轉軸可轉動地設置在所述基座上,所述測微表對應所述轉軸設置在所述基座上並與所述轉軸間隔一定距離,所述定位裝置包括多個彈簧、多個固定桿、以及多個可伸縮地設置在所述固定桿內的定位銷,所述固定桿等間隔地螺接在所述轉軸上,所述定位銷可伸縮的設置在所述固定桿的外端,所述彈簧套設在所述固定桿上,並抵持在所述定位銷的端部及所述轉軸上,所述定位銷在所述彈簧的作用下抵持在待檢測工件的內壁上。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之圓度檢測裝置,其中:所述基座包括一底板以及一由該底板邊緣沿垂直於該底板的方向延伸出的側壁,在所述底板的中心位置設置有一軸孔,所述轉軸的一端可轉動地設置在所述軸孔內。
  3. 如申請專利範圍第2項所述之圓度檢測裝置,其中:所述基座的側壁上開設有一垂直於該側壁並貫穿該側壁的通孔,所述測微表穿過所述通孔設置在所述側壁上。
  4. 如申請專利範圍第3項所述之圓度檢測裝置,其中:所述測微表包括一讀數計、一桿體、以及一探頭,所述桿體連接在所述讀數計上,並穿過所述通孔固設在所述基座的側壁上,所述探頭與讀數計相連接,並由所述桿體的端部伸出。
  5. 如申請專利範圍第1項所述之圓度檢測裝置,其中:所述轉軸與所述軸孔的側壁之間設置一滾動軸承。
  6. 如申請專利範圍第1項所述之圓度檢測裝置,其中:每一所述定位銷的端 部設置有一摩擦片。
  7. 如申請專利範圍第4項所述之圓度檢測裝置,其中:所述基座的側壁的頂端設置有一垂直貫穿至所述通孔的螺栓孔,在所述螺栓孔中設置有螺栓,且所述螺栓抵持在所述測微表的桿體上。
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