TW517392B - Manufacturing method of thin film transistor flat panel display - Google Patents
Manufacturing method of thin film transistor flat panel display Download PDFInfo
- Publication number
- TW517392B TW517392B TW090117932A TW90117932A TW517392B TW 517392 B TW517392 B TW 517392B TW 090117932 A TW090117932 A TW 090117932A TW 90117932 A TW90117932 A TW 90117932A TW 517392 B TW517392 B TW 517392B
- Authority
- TW
- Taiwan
- Prior art keywords
- layer
- gate
- electrode
- pattern
- conductive layer
- Prior art date
Links
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims abstract description 44
- 239000010409 thin film Substances 0.000 title claims abstract description 22
- 238000005530 etching Methods 0.000 claims abstract description 13
- 238000009413 insulation Methods 0.000 claims abstract description 8
- 239000010410 layer Substances 0.000 claims description 210
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 38
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 31
- 239000011241 protective layer Substances 0.000 claims description 27
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 15
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 claims description 15
- 239000010703 silicon Substances 0.000 claims description 15
- 239000004575 stone Substances 0.000 claims description 9
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 claims description 3
- 235000014676 Phragmites communis Nutrition 0.000 claims 2
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims 2
- 241000283973 Oryctolagus cuniculus Species 0.000 claims 1
- 201000001883 cholelithiasis Diseases 0.000 claims 1
- 235000013601 eggs Nutrition 0.000 claims 1
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 9
- 229910021417 amorphous silicon Inorganic materials 0.000 abstract description 6
- 238000002161 passivation Methods 0.000 abstract description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- -1 nitride nitride Chemical class 0.000 description 3
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical compound [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 2
- 150000004767 nitrides Chemical class 0.000 description 2
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 1
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 1
- 239000004576 sand Substances 0.000 description 1
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10D—INORGANIC ELECTRIC SEMICONDUCTOR DEVICES
- H10D30/00—Field-effect transistors [FET]
- H10D30/01—Manufacture or treatment
- H10D30/021—Manufacture or treatment of FETs having insulated gates [IGFET]
- H10D30/031—Manufacture or treatment of FETs having insulated gates [IGFET] of thin-film transistors [TFT]
- H10D30/0312—Manufacture or treatment of FETs having insulated gates [IGFET] of thin-film transistors [TFT] characterised by the gate electrodes
- H10D30/0316—Manufacture or treatment of FETs having insulated gates [IGFET] of thin-film transistors [TFT] characterised by the gate electrodes of lateral bottom-gate TFTs comprising only a single gate
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
- G02F1/1333—Constructional arrangements; Manufacturing methods
- G02F1/1345—Conductors connecting electrodes to cell terminals
- G02F1/13458—Terminal pads
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10D—INORGANIC ELECTRIC SEMICONDUCTOR DEVICES
- H10D30/00—Field-effect transistors [FET]
- H10D30/01—Manufacture or treatment
- H10D30/021—Manufacture or treatment of FETs having insulated gates [IGFET]
- H10D30/031—Manufacture or treatment of FETs having insulated gates [IGFET] of thin-film transistors [TFT]
- H10D30/0321—Manufacture or treatment of FETs having insulated gates [IGFET] of thin-film transistors [TFT] comprising silicon, e.g. amorphous silicon or polysilicon
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
- G02F1/136—Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
- G02F1/1362—Active matrix addressed cells
- G02F1/136227—Through-hole connection of the pixel electrode to the active element through an insulation layer
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
- G02F1/136—Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
- G02F1/1362—Active matrix addressed cells
- G02F1/136231—Active matrix addressed cells for reducing the number of lithographic steps
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Nonlinear Science (AREA)
- Mathematical Physics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Thin Film Transistor (AREA)
- Liquid Crystal (AREA)
Description
517392
本發明係有關於一種平面顯示器之製作方法,特別曰 有關於一種薄膜電晶體液晶顯示器的製造方法。 疋 第1 A圖至第1 d圖顯示習知用於液晶顯示器之薄膜曰 體的製造方法。參照第1 A圖,首先,定義形成一閘極電^ 2於一透明基板1之上,再形成一絕緣層3覆蓋閘極電極2 °。 接著’依序形成非晶矽(amorph〇us silicon)層40和氮化 矽層5 0於絕緣層3之上。參照第1 B圖,定義蝕刻氮化石夕層 5 0 ’以形成一 |虫刻終止層(e t c h i n g s t 〇 p p e r ) 5。參照第 1 C圖’再形成一摻雜矽層6 (例如摻入n型雜質的非晶石夕層) 於餘刻終止層5和非晶矽層4 〇之上。參照第1 D圖,接著幵^ 成一導電層,再定義蝕刻導電層而形成源/汲極電極7、8 ,最後形成一保護層9。在蝕刻過程中,部分導電層與摻 雜矽層6會被蝕刻移除,而蝕刻終止層5係用以保護非晶石夕 層4 0免於遭受蝕刻破壞。 儘管有上述之傳統方法用以製作薄膜電晶體,但是薄 膜電晶體的製程方法仍然有改進之空間。 本發明之目的為提出一種薄膜電晶體之製造方法,僅 僅需要四道光罩的製程,藉以簡化薄膜電晶體的製作方法 為達成上述目的,本發明提出之一種薄膜電晶體平面 顯示器之製造方法,其主要之特徵為:利用第1道光罩定 義非晶石夕層/閘極絕緣層/第一導電層之圖案;利用第2道 光罩形成保護層(passivation layer)與島狀餘刻終止層 (etching stopper );利用第3道光罩定義源極/汲極 (Source/Drain);再利用最後一道光罩定義形成晝素電極
0632-5850TWF2;D89055;Chen.p t c 第4頁 517392 ----^ 案號 mm 7932 ^ η 五、發明說明(2) 曰 修正 例 。各種較佳之製造流程將於下列第一實施例至第五實施 予以詳細說明。 實施例一: 第2 Α〜2D圖係顯示本·發明第一實施例之製造流程上視 圖。第3 A〜3 D圖係顯示本發明第一實施例之製造流程剖面 圖。第3A〜3D圖中,第I區係為薄膜電晶體所在之區域, 對應於第2A〜2D圖中沿A-A,方向之剖面;第π區係閘極墊 (gate pad)結構所在之區域,對應於第2a〜2d圖中沿B-B, 方向之剖面。以下將參照第2A〜2D圖及第3A〜31)圖說明本發 明之製造方法。 參照第2A圖及第3A圖,首先,依序形成一第一導電層 、一絕緣層102、及一半導體層1〇3於一透明基板1〇〇上 。再定義半導體層103、第一絕緣層1〇2、及第一導電層 1〇1之圖案,以形成一掃描線DL、一閘極,DLp、以及一閘 ,DLg。閘極墊DLp形成於掃描線儿之一端,且閘極DLg自 知描線DL之一側延伸而出,且閘極DLg之半導體層1〇3係作 為薄膜電晶體之通道層。一般而言,基板1〇〇可為玻璃基 板或是石英基板,半導體層1〇3可為非晶矽層,第一絕緣 層102可為氧化矽層,且第一導電層1〇1為導電層,形成一 閉極電極。 參妝第2 B圖及第3 B圖’接著,形成一保護層j 〇 4,覆 蓋於上述掃描線DL、閘極DLg、閘極墊DLp及基板1〇〇上。 再定義保護層104的圖案’於閘極❿上形成第一開口〇pl 和第二開口〇P2,於閘極墊DLp第三開口〇p3,使半導體層 517392 修正 _ 案號 90117932 五、發明說明(3) 保護層104係由氮化石夕(他)或是有機 N分子物質所構成。 =2C圖及第3C圖’依序形成—推雜石夕層1〇5及一 石t:二 6於基板1〇0上。定義第二導電層106及摻雜 石夕層1 0 5的圖案,以形成一作垆綠ς τ 从 口未 y風1口唬綠、並於閘極DLg上形成 一源極S和一汲極D,源極S與汲極D之間定羞一 (channel)110,並於其中露出半導體層1〇3我马一 n 源/汲極(S、D)之摻雜矽層i 05分別透過第一和第二開 。口(opl iP2)與閘極DLg之半導體層1〇3構成電性接觸。信 號線S L係垂直於掃描線D L。 介於第一開口〇Ρ1和第二開口op2間之保護層1〇4,係 作為一蝕刻終止層(etching stop ;或稱為島狀蝕刻終止 層is),在定義蝕刻第二導電層106及摻雜層1〇5時,係用 以保護閘極DLg中之半導體層1〇3 (即通道層)免於遭到蝕 刻破壞。在此實施例中,上述摻雜矽層丨〇5係為n型摻雜矽 層,且第二導電層係為導電層。 / 參照第2D圖及第3D圖,蝕刻閘極墊DLp中之半導體層 103及第一絕緣層1〇2,使閘極墊j)Lp之第一導電層暴露 在第三開口 0P3中。接著,一透明電極1〇7形成在基板丨⑽ 上,且覆蓋源極S、汲極D與閘極墊DLp。最後,定義透明 電極107的圖形,以分別形成一耦接汲極D之晝素電極層pL ’與一覆蓋源極S與信號線SL之虛擬信號線層^,且透明 電極107與閘極墊DLp中之第一導電層ι〇1構成電性接觸。 在此實施例中,透明電極1 〇 7係為I το層。值得注意的 是:源/汲極(S、D)之第二導電層ι〇6在通道11〇中各具"有
0632-5850TW2;D89055;Chen.ptc 第6頁 517392 --------案號 9011793?二__年月日_修正 ___ 五、發明說明(4) 一側壁’而透明電極丨〇 7係覆蓋第二導電層丨〇 6在通道1 1 〇 中的側壁。 實施例二: 本發明第二實施例之製程上視圖與第2A〜2D圖示者相 同。第4A〜4D圖係顯示本發明第二實施例之製造流程剖面 圖。第一實施例與第二實施例最大的不同在於在半導體層 1 0 3上更形成一絕緣層2 〇 2,用以保護半導體層1 0 3。在第 二實施例中,與第一實施例相同之名詞使用相同的標號。
參照第2A圖及第4A圖,於基板1 〇〇上依序形成一第一 導電層101、一第一絕緣層102、一半導體層103、及一第 二絕緣層2 0 2,並定義其圖案,以形成一掃描線DL、一閘 極塾D L ρ、以及一閘極D L g。在此實施例中,第二絕緣層 2 0 2可為氮化矽層。 蒼照第2 B圖及第4 B圖,形成一保護層1 〇 4覆蓋掃描線 DL、閘極DLg、閘極墊DLp及基板1〇〇上。再定義保護層1〇4 及第二絕緣層2 0 2的圖案,於閘極D L g上形成第一開口 〇 ρ 1 和第一開口 op2 ’於閘極墊DLp第三開口〇p3,使半導體芦 103由第一開口opl、第二開口0P2以及第三開口 〇p3中露曰出 參照第2C圖及第4C圖’依序形成一摻雜石夕声ι〇5及一 第二導電層106於基板100上。定義第二導電層及摻雜 矽層1 0 5的圖案,以形成一信號線SL,並於閘極DLg上^成 一源極S和一汲極D,源極S與沒極d之間定義為一通道 (channel)llO,並於其中露出第二絕緣層2〇2。
517392
口 op 1和第二開口 〇 P2間的保護層丨〇 4和第二絕緣層2 〇 2,係 作為一蝕刻終止層(etch st〇p ;或稱為島狀蝕刻終止層IS ),用以保護閘極DLg之半導體層1〇3 (即通道層)免於遭到 餘刻破壞。
參照第2D圖及第4D圖,先定義閘極墊DLp之半導體層 103及第一絕緣層1 〇2的圖案,移除第三開口〇p3中的半導 體層103與第一絕緣層1〇2,以露出閘極墊DLp中之第一導 電層101。接著,於基板1〇〇上形成透明電極1〇7,且覆蓋 源極S、汲極D與閘極墊DLp。最後,定義透明電極1 07的圖 形’形成一耗接汲極D之晝素電極層pl,以及一覆蓋源極s 與倍號線S L之虛擬信號線層f S,且透明電極1 〇 7並與閘極 塾DLp之第一導電層1 〇 1構成電性接觸。 在此實施例中,在半導體層丨〇 3上更形成一層薄氮化 石夕(即第二絕緣層2 〇 2 ),藉以避免半導體層丨〇 3長期曝露於 空氣中而氧化。 實施例三: 第5A〜5D圖係顯示本發明第三實施例之製程上視圖。 第6 A〜6 D圖係顯示本發明第三實施例之製造流程剖面圖。 第6A〜6D圖中,第I區係為薄膜電晶體所在之區域5對應 於第5A〜51)圖中沿A-A,方向之剖面;第π區係閘極墊(gate pad)結構所在之區域,對應於第5A〜5D圖中沿B-B,方向 之剖面。以下將參照第5A〜5D圖及第6A〜6D圖說明本發明應 用於平面顯示器之薄膜電晶體的製造方法。 參照第5A圖及第6A圖,與第5B圖及第6B圖,於基板 100上以第一導電層101、第一絕緣層1〇2、半導體層1〇3、
0632-5850TWF2;D89055;Chen.p t c 第8頁 /外2
再於ώ疋義#描線DL、閉極墊DLp以及間極DLg。 ;3極DLg與閘極墊DLp上分別形成第一、第二、第三 - T於:丄;、?3,使半導體層103露出。其製造流程與第 只匕例所述相同,故在此不予以贅述。 ^ ^ ^ ^ ^ ^ 4A ^ ^ . π _ ^電“06。接者,疋義第二導電層106及 之圖案’於閘極上方形成一島狀結構,並另 Μ 1 ης 破線SL。彳§號線SL係垂直於掃描線儿,且摻雜石夕 層105係透過第一、笛一 p曰”,. 。、 y
體層m構成ί性接口(°ρ1、Όρ2)與閘祕g之半導
參照第5D圖及第6D圖,先定義閘極墊DLp中之半導體 曰103及第絕緣層1〇2之圖案,使第一導電層1〇1暴露於 甲1極墊DLp之第三開口op3中。再於基板1〇〇上形成一透明 電極1 0J,其覆盍第二導電層丨〇 6。之後,定義透明電極 =7、第二導電層1〇6、與摻雜矽層1〇5之圖案,以於島狀 結構中形成一源極S與一汲極])。源極與汲極之間定義為一 通道110,且通道110位於閘極儿忌正上方。此外,透明電 極107形成一晝素電極PL,並與汲極1)相連接。透明電極 107亦覆蓋信號線SL及閘極])1^中之源極3。此外,透明電 極107亦覆蓋閘極墊DLp,並經由第三開口〇p3與閘極墊儿 中之第一導電層101接觸。 在此實施例中,透明電極丨07係為IT〇層,且透明電極 107不覆蓋通道110中的第二導電層1〇6側壁,因此可縮小 薄膜電晶體内的通道尺寸。 ' 實施例四:
517392 一 —_案號 90117932 _年月日_____ —_ 五、發明說明(7) 第7 A〜7 D圖係顯示本發明第四實施例之製程上視圖。 第8 A〜8 D圖係顯示本發明第四實施例之製造流程剖面圖 。第8A〜8D圖中,第I區係為薄膜電晶體所在之區域,對 應於第7 A〜7 D圖中沿A - A ’方向之剖面;第π區係閘極墊 (gate pad)結構所在之區域,對應於第7A〜7D圖中沿 B-B’方向之剖面。以下將參照第7A〜7D圖及第8A〜8D圖說明 本實施例。 參照第7A圖及第8A圖,與第7B圖及第8B圖,於基板 100上以第一導電層101、第一絕緣層1〇2、半導體層1〇3、 及保護層1 04 ’定義掃描線dl、閘極墊j)Lp以及閘極DLg。 再於閘極DLg與閘極墊DLp上分別形成第一、第二、第三開 口 opl、op2、op3,使半導體層103露出,其製造流程與^ 一實施例所述者相同,故在此不予以贅述。此外,半導體 層103上可更形成一第二絕緣層(未圖示),以保護半導體一 層 1 0 3。 參照第7C圖及第8C圖,於保護層1〇4上形成一第二 電層106,並定義出信號線儿之圖形,信號線以係垂 描線DL。 详 層103接觸°透日月電之第二部份τκ2係形:」晝素
0632-5850TWF2;D89055;Chen.p t c 第10頁 多照第7D圖及第8D圖’於基板1〇〇上依序形成一穆 !105及-透明電極1〇7 ’ i覆蓋問極DLg與信號線儿。爯 定義透明電極107及摻雜層1〇5之圖案,於閘極上方 汲極D與一源極S,汲極D與源極s間形成一通 〇。〜 ’透明電極107之第—部份m係覆蓋信號線认,且與卜 S相連,源極S中之摻雜石夕層i 〇5經由第__開、^ 517392
極P L ’且與》及極D相連,々必αδ· 。t,及極D之摻雜矽層1 0 5經由第二開 口 op2與半V體層1 03構成電性連接。 最後+,移除第三開口中之半導體層1〇3及第一絕緣層 102,以露出閘極墊DLp中之第一導電層1〇1。 實施例五: 曰 第9A〜9C圖係顯示本發明第五實施例之製程上視圖。 第ljA〜10C圖係顯示本發明第五實施例之製造流程剖面圖 第1 0 A 1 0 C圖中,第I區係為薄膜電晶體所在之區域,
對應於第9A〜9C圖中沿A —A,方向之剖面;區係閘極墊 (gate pad)結構所在之區域,對應於第9A〜9C圖中沿b — b, 方向之剖面。以下將參照第9a〜9C圖及第1〇A〜1〇c圖說明本 發明之製造方法。 參照第9A圖及第l〇A圖,首先,依序形成一第一導電 層101、一第一絕緣層1〇2、及一半導體層1〇3於一基板1〇〇 上。再定義半導體層103、第一絕緣層1〇2、及第一導電層 1 01之圖案,以形成一掃描線、一閘極、以及一閘 極DLg。閘極墊DLp形成於掃描線DL之一端,且閘極DLg自 掃描線DL之一側延伸而出。閘極DLg上之半導體層丨03係作 為薄膜電晶體之通道層。 參照第9B圖及第10B圖,於基板1〇〇上依序形成一保護❶ 層104與一第二導電層1〇6,再定義第二導電層1〇6及保護 層1 04的圖案,使其覆蓋掃描線j)L、閘極DLg及閘極墊DLp 。第二導電層106及保護層1〇4於基板1〇〇上更形成一訊號 線SL,且訊號線SL係垂直掃描線DL。此外,去除部分之第 導電層1 06及保護層1 〇 4,於閘極DLg上形成第一開口 〇P 1
517392 _案號 90117932 Λ_L· 修正 曰 五、發明說明(9) 和第二開口〇p2,於閘極墊D 三開口 ⑴由第一開口。。l、,二開口。…以及第三開口吏二體二 參照第9C圖及第10C圖,於基板1〇〇上形成一掺雜砂展 3一05和一透明電極1〇7,摻雜矽層3〇5經由第—開口ο"和^ Π:Ρ2與半導體層1〇3電性連接。再定義蝕刻透明電極 1 一〇7及^雜石夕層3 0 5的圖案,在間極DLg上方形成一源極3與 及極D。源極s與汲極D間定義為一通道11〇。透明電極 1 -的一部份T1係位於信號線讥之上,透明電極1 07的第 ::H:T2係覆蓋源極s,透明電極1〇7的第三部份η則形成 :電極PL ’且覆蓋沒極D。最後,移除第三開口〇p3中 體層,及第-絕緣層1〇2,使問極塾心之第〆導 電層1 0 1露出。 ㈣ϊΐ上述實施例一至實施例i,本發明提出新穎的薄 =曰曰體平面顯示器之製造方法’僅僅需要應用4道光罩 :衣程枓實施例五僅需3道光罩)。主要製程包含:⑴形 成第一導電層/閘極絕緣層/非晶矽層;(2)形成保蠖廣 (passivation)與蝕刻終止層(etching st〇ppa)”.°(3)形 ^源極/汲極(Source/Drain) ; (4)形成晝素電極’;如此町 簡化薄膜電晶體平面顯示器之製作過程。 雖然本發明已以較佳實施例揭露如上,铁A 用以 :定本發明,任何熟悉本項技藝者1不脫離:精 神:範圍β ’當可做些許之更動和潤飾,因此本發明之保 4 圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。
517392 _案號90117932_年月日_i±^_ 圖式簡單說明 為讓本發明之上述目的、特徵、和優點能更明顯易懂 ,下文特舉較佳實施例,並配合所附圖式,做詳細說明如 下: 第1 A〜1 D圖顯示平面顯示器中薄膜電晶體之傳統製造 流程剖面圖; 第2A〜2D圖係顯示本發明第一實施例之製造流程上視 圖, 第3 A〜3D圖係顯示本發明第一實施例之製造流程剖面 圖, 第4A〜4D圖係顯示本發明第二實施例之製造流程剖面 ♦ 圖, 第5 A〜5D圖係顯示本發明第三實施例之製造流程上視 圖, 第6 A〜6D圖係顯示本發明第三實施例之製造流程剖面 圖, 第7 A〜7D圖係顯示本發明第四實施例之製造流程上視 圖, 第8A〜8D圖係顯示本發明第四實施例之製造流程剖面 圖; 第9 A〜9C圖係顯示本發明第五實施例之製造流程上視 V 圖;及 第1 0A〜1 0C圖係顯示本發明第五實施例之製造流程剖 面圖。 符號說明: 1〜透明基板; 2〜閘極電極;
0632-5850TWF2;D89055;Chen.p t c 第13頁 517392 案號90117932 年月 日 修正 圖式簡單說明 4 0〜非晶矽層; 5〜餘刻終止層; 7、8〜源/汲極電極; 1 0 0〜基板; 1 0 2〜第一絕緣層; DL〜掃描線; D L g〜閘極; 〇pi〜第一開口; op3〜第三開口; 106〜第二導電層; S〜源極;D〜汲極; 2 0 2〜第二絕緣層; 3 0 5〜摻雜層; 3〜絕緣層; 5 0〜氮化矽層; 6〜摻雜矽層; 9〜保護層; 101〜第一導電層; 103〜半導體層; D L p〜閘極塾; 1 0 4〜保護層; op2〜第二開口; 1 0 5〜摻雜矽層; SL〜信號線; 1 0 7〜透明電極; P L〜畫素電極; F S〜虛擬信號線層。
0632-5850TWF2;D89055;Chen.p t c 第14頁
Claims (1)
- 517392 案號 90117932以及 六 、申請專利範圍 -導電層之圖形’以形成—掃描線 極,上述閘極墊係形成於u閘極墊 、上知》描綠 U)形成一保護層,覆蓋於上述1之一端; 極與基板上; 4知私線、閘極墊、閘 (d)定義上述保護層之圖形, 一開口和一第二開口, 、上述閘極上形成一第 口· 於上述閘極墊上太V Λ、 口, 上方形成一第三開 (〇依序形成一摻雜矽層及一第二 上, —導電層於上述基板 (f)定義上述第二導電芦及上、, 上述閘極上方形成一島狀結曰構,且述推雜石夕層之圖案,於 上述第一和第二開〇而與二述閘極之=t 2石夕層分別透過 案,:上述第—導電層暴丄?述t 導電層以成及一透明電極於上述基板上,且覆蓋上述第二 Ο (i)定義上述透明電極、上述第二導電芦、及卜、十、换 二=層,於上述島狀結構中形成一源極和一曰没極,上述4 蛋/、及極之間定義為一通道,上述通道位於上述閘極^ ’方、 上述透明電極更形成一晝素電極,且耦接上述汲極。 8 ·如申請專利範圍第7項所述之製造方法,其中,於 步驟(a)中更形成一第二絕緣層,於步驟(b)中更定義上述 第二絕緣層之圖案,且於步驟(d)定義上述保護層圖案時 ’使上述半導體層表面暴露於上述第一、第二、盥筮二0 與第三開517392 曰 案號Qf)117的9 六、申請專利範圍 口中〇 9 ·如申晴專利範圍第 步驟⑴中,上述第二導電層員;斤述之製造方法,其中,於 c j )中,上述透明電極更 形成—信號線,且於步驟 號線。 成—虛擬信號線層覆蓋上述信 )〇· 一種薄膜電晶體液晶顧 (a) 提供一基板,依序士、’、為之製造方法,包括·· 緣層、及一半導體層於上/ 、一第一導電層、一第一絕 (b) 定義上述半導體層广板上J τΤ電層之圖帛,以形成—掃描〜第―絕緣層、及上述第 上述閘極墊係形成於上 A 4、一閘極墊、與一閘極 (C)形成一保護層,覆蓋T描線之—端; 極、與基板上; 现;上述掃描線、閘極墊、閘 (d) 定義上述保護層之圖案, 一開口和一第二開口, 一 於上述閘極上形成一第 ; 且於上述閘極塾上形成一第三開口 (e) 形成一第二導電層, ,於上述保護層上形成一仿啼姑我上述第二導電層之圖案 掃描線; "〜、、、’上述信號線係垂直上述 (f )依序形成一摻雜矽層 與上述保護層上,且上述摻二明電極於上述訊號線 口與上述閘極之半導體層連接f層紅由上述第一和第二開 (g)定義上述透明電極及上 上方定義形成一源極盥_兔# Y雜矽層,於上述閘極 及極,上述源極與汲極之間定義 第18頁 0632-5850TWF2;D89055;Chen.p t c 517392 MM %nm?. 在 曰 a_修正六、申請專利範圍 通道,上述透明電極更形成〆畫素電極,上述畫素雷 2與上述汲極相連接,且上述源極係與上述信號 連接;以及 &电Γΐ (h)定義蝕刻上述閘極墊中之爭導體層及第 ,使上述第一導電層暴露於上述第三開口中。 Η ·如申請專利範圍第1 〇項戶斤述之製造方法 以下步驟: 、於步驟(a)中更形成一第二絕緣層;於步驟(b)中定義上述第二絕緣層之圖案; 於步驟(d)定義上述保護層圖案時,使上述半導體層 表面暴露於上述第一、第二、與第三開口中;以及 於步驟(h)中,蝕刻上述閘極墊中之第二絕緣層、半斤 導體層、及第一絕緣層,使上述第一導電層暴露於上述第 三開口中。 、,包栝·· 1 2 · —種薄膜電晶體平面顯示器之製造方表/第〆、絕 (a)提供一基板,依序形成一第一導電廣 ^ 緣層、及一半導體層於上述基板上; 、及上述第 (b )定義上述半導體層、上述第一絕緣廣、與,閘極 一導電層之圖案,以形成一掃描線、一閘棰费 ,上述閘極墊係形成於上述掃描線之一端;$ >導電層 (c)於上述基板上依序形成一保護層與〆 ’並覆蓋上述閘極墊與閘極; 逆,於暴圈# / /第 絕緣層更包含 Ο (d)定義上述第二導電層及上述保護層 板上形成一信號線,於上述閘極上形成/ | 開 和0632-5850TWF2;D8905 5;Chen.p t c 第19頁 修正 曰 "、申 二開D,认U (於上述開極塾上形成一第三開口; 、上迷hZ形成一摻雜矽層和一透明電極於上h 和上述基板上,且上、?號線 及上述第二開口與上述半二由上述第— 圖案,於上述閘極上方形成 述通道ΐ述源極之間定義為-通道使上述佯護:Ϊ ’上述 電極2上ΐ述透明電極更形成-晝素在上 、/、上迷及極相連接。 上述晝素 更包含 絕緣層 更包含 -JjrLt:;?圍第12項所述之製造方法 ,以露出上述義:二^^ 以下^驟如申請專利範圍第13項所述之製造方法 於步驟(a)中更形成一第二絕緣層; 於步驟(b)中定義上述第二絕緣層之 · 於步驟(d)定義上述保護層圖案時,使:沛 表面暴露於上述第一、第二、與第三開口吏中迷體層 ”驟(g)中’餘刻上述閑極勢中之第二絕緣及 層,使上述第一導電層暴露於上述】 ^ \ δ / I 導體層、及第一絕緣 二開口中
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
TW090117932A TW517392B (en) | 2001-07-23 | 2001-07-23 | Manufacturing method of thin film transistor flat panel display |
US10/200,831 US6531330B2 (en) | 2001-07-23 | 2002-07-22 | Method of fabricating thin film transistor flat panel display |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
TW090117932A TW517392B (en) | 2001-07-23 | 2001-07-23 | Manufacturing method of thin film transistor flat panel display |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
TW517392B true TW517392B (en) | 2003-01-11 |
Family
ID=21678833
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
TW090117932A TW517392B (en) | 2001-07-23 | 2001-07-23 | Manufacturing method of thin film transistor flat panel display |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6531330B2 (zh) |
TW (1) | TW517392B (zh) |
Families Citing this family (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100560398B1 (ko) * | 2003-10-30 | 2006-03-14 | 엘지.필립스 엘시디 주식회사 | 박막 트랜지스터 어레이 기판의 제조방법 |
TWI339442B (en) * | 2005-12-09 | 2011-03-21 | Samsung Mobile Display Co Ltd | Flat panel display and method of fabricating the same |
TWI294177B (en) * | 2005-12-30 | 2008-03-01 | Au Optronics Corp | Method for manufacturing pixel structure |
CN100380634C (zh) * | 2006-02-07 | 2008-04-09 | 友达光电股份有限公司 | 像素结构的制作方法 |
US20080024702A1 (en) * | 2006-07-27 | 2008-01-31 | Chunghwa Picture Tubes, Ltd. | Pixel structure and fabrication method thereof |
CN100463193C (zh) * | 2006-11-03 | 2009-02-18 | 北京京东方光电科技有限公司 | 一种tft阵列结构及其制造方法 |
KR20080060861A (ko) | 2006-12-27 | 2008-07-02 | 엘지디스플레이 주식회사 | 박막 트랜지스터 기판 및 이의 제조 방법 |
KR101448903B1 (ko) * | 2007-10-23 | 2014-10-13 | 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 | 반도체장치 및 그의 제작방법 |
TWI529949B (zh) * | 2008-11-28 | 2016-04-11 | 半導體能源研究所股份有限公司 | 半導體裝置和其製造方法 |
TWI469356B (zh) * | 2010-03-03 | 2015-01-11 | Au Optronics Corp | 薄膜電晶體及其製造方法 |
TWI427784B (zh) | 2010-07-16 | 2014-02-21 | Au Optronics Corp | 畫素結構的製造方法及有機發光元件的製造方法 |
KR101764450B1 (ko) * | 2011-07-05 | 2017-08-02 | 가부시키가이샤 제이올레드 | 유기 el소자 및 그 제조 방법 |
CN107591414B (zh) * | 2017-08-24 | 2020-07-21 | 深圳市华星光电技术有限公司 | 阵列基板及其制作方法 |
US10692799B2 (en) * | 2018-06-01 | 2020-06-23 | Innolux Corporation | Semiconductor electronic device |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6372535B1 (en) * | 1998-02-02 | 2002-04-16 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Manufacturing method of a thin film transistor |
KR100491141B1 (ko) * | 2001-03-02 | 2005-05-24 | 삼성에스디아이 주식회사 | 박막 트랜지스터 및 그의 제조방법과 이를 이용한 액티브매트릭스형 표시소자 및 그의 제조방법 |
-
2001
- 2001-07-23 TW TW090117932A patent/TW517392B/zh not_active IP Right Cessation
-
2002
- 2002-07-22 US US10/200,831 patent/US6531330B2/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US6531330B2 (en) | 2003-03-11 |
US20030017636A1 (en) | 2003-01-23 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
TW517392B (en) | Manufacturing method of thin film transistor flat panel display | |
JP4856810B2 (ja) | Oledディスプレイの画素素子構造とその製造方法 | |
US7507612B2 (en) | Flat panel display and fabrication method thereof | |
CN101267003B (zh) | 薄膜晶体管、使用该薄膜晶体管的显示装置及其制造方法 | |
CN112635571B (zh) | 薄膜晶体管及其制造方法及包括该薄膜晶体管的显示设备 | |
WO2013189160A1 (zh) | 阵列基板及其制作方法、显示装置 | |
TW200817801A (en) | Display device and method of manufacturing the same | |
CN101539697A (zh) | 一种薄膜晶体管液晶显示器像素结构及其制造方法 | |
TW200919731A (en) | Pixel structure and fabrication method thereof | |
TW299504B (zh) | ||
JP4462775B2 (ja) | パターン形成方法及びそれを用いた液晶表示装置の製造方法 | |
TW560076B (en) | Structure and manufacturing method of thin film transistor | |
CN101488479A (zh) | 薄膜晶体管阵列基板及其制造方法 | |
CN109148535A (zh) | 阵列基板及其制造方法、显示面板 | |
TW201019022A (en) | Method for forming pixel structure of transflective liquid crystal display device | |
TWI715344B (zh) | 主動元件基板及其製造方法 | |
TWI352841B (en) | Thin film transistor array panel and manufacturing | |
CN110718467B (zh) | 一种tft阵列基板的制作方法 | |
JP2007335780A (ja) | Tft基板及びその製造方法、これを用いた表示装置、並びに層間絶縁膜の評価方法 | |
CN108364963A (zh) | 一种阵列基板及其制作方法、显示面板和显示装置 | |
TW460901B (en) | Method for fabricating semiconductor device | |
US20060065894A1 (en) | Thin film transistor array panel and manufacturing method thereof | |
TW587309B (en) | Manufacturing method of CMOS thin film transistor | |
CN100371814C (zh) | 薄膜晶体管液晶显示器的像素电极接触点的制造方法 | |
CN114497079B (zh) | 薄膜晶体管、制作方法、驱动方法及显示面板 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
GD4A | Issue of patent certificate for granted invention patent | ||
MM4A | Annulment or lapse of patent due to non-payment of fees |