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TW492006B - Sensing method of non-volatile ferroelectric memory - Google Patents

Sensing method of non-volatile ferroelectric memory Download PDF

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TW492006B
TW492006B TW090101580A TW90101580A TW492006B TW 492006 B TW492006 B TW 492006B TW 090101580 A TW090101580 A TW 090101580A TW 90101580 A TW90101580 A TW 90101580A TW 492006 B TW492006 B TW 492006B
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
level
line
capacitor
logic
logic voltage
Prior art date
Application number
TW090101580A
Other languages
English (en)
Inventor
Jin-Shi Lin
Chi-Ming Weng
Original Assignee
Macronix Int Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Macronix Int Co Ltd filed Critical Macronix Int Co Ltd
Priority to TW090101580A priority Critical patent/TW492006B/zh
Priority to US09/788,373 priority patent/US6396730B1/en
Application granted granted Critical
Publication of TW492006B publication Critical patent/TW492006B/zh

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    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/22Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using ferroelectric elements

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  • Computer Hardware Design (AREA)
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Description

492006 A7 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 五、發明說明( 發明領域: 本發明係有關於一種非揎 邛輝發性鐵電記憶體, 關於一種感測鐵電記憶體資料之方法。 ,疋有 發明背景: 在鐵電材料中會顯現出一 ^ ^ ^ 禋磁滯現象疋廣為人知的,即 使*外加電壓被移除,鐵電材 W j从诉符在原先的極化 方向作為非揮發性記憶體材料, 寸利用鐵電材料這種現象鐵 電1憶體是利用齊聚兩種極化方向,代表數位資料,“〇,, 和1 。貝料之判讀乃施以電場於鐵電電容兩板間,因不 同的極化方向呈現不同電容值,不同電性值,經由感測元 件讀出資料“ 0,,或“ 1,,。 參閱第一圖,為鐵電材料磁滯曲線,其中橫座標代表施 加於鐵電材料上之電場強度,縱座標代表鐵電材料之極化 狀態。假如使用鐵電材料填充於電容兩極板間,由磁滯曲 線可看出’流經電容之電流大小是根據先前施加於鐵電電 容之電壓所造成之極化狀態,也就是說,假如最初施加於 鐵電電容之電壓為0伏特,鐵電電容之極化狀態可能在A 點或D點,假設極化狀態是在a點,當於鐵電電容之兩極 板間施加一高於強制電壓(Coercive Voltage)(即第一圖 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) -------------------訂---------線# (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 492006 A7 B7 五、發明說明() 中B點)之轉換電壓’會轉換鐵電電容之極化狀態,在此 情形下,鐵電電容將會釋放所儲存之電荷並轉換到另一種 極化狀態(即第一圖中C點)’當移除施加於鐵電電容之 電壓,鐵電電容會維持在相同極化狀態並轉移至D點,而 不會回到A點之極化狀態,若此時施加正電壓於鐵電電容 上,鐵電電容極化狀態僅會造成微小之改變,若施加負電 壓於鐵電電容上,此時鐵電電容極化狀態會從D點轉移至 E點,當移除施加於鐵電電容之電壓,鐵電電容會維持在 相同極化狀態並從E點轉移至A點,因此,A點和D點可 代表當施加於鐵電電容之電壓為〇伏特時,兩種不同之邏 輯狀態。 非揮發性半導體鐵電記憶體可以不同之極化狀態來記 錄0或1,且這種極化狀態不會因記憶體外加電源之消失 而被破壞或消失,參閱第二圖,傳統2T/2C (兩電晶體/兩 鐵電電容)之鐵電記憶體電路包括字元線201 (Word line)、位元線202和203(Bit line)、一驅動鐵電電容之電 容驅動線208 ( Plate line )和包括兩電晶體204和205和 兩鐵電電容206和207之記憶胞200(Memory cell)。 當要檢視記憶包200所儲存之資料時,一般有兩種方 式’一種為電容驅動線方式(Plate line driven),一種為 位元線驅動方式(B i t 1 i n e d r i v e η )。例如,假設鐵電電容 207之極化狀態位於第一圖中之d點,而鐵電電容206之 3 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公爱) ------------0W----l·---訂---------線-φ- (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 492006 A7 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 五、發明說明( 極化狀態位於笛_闰φ夕Δ '第圖中之Α點,在電容驅動線方式中,如 第三圖所示之時序圖,纟T1 _ ,字元線2gi數入—高電位 以打開電晶體2G4和2G5,接著於T2輪人—高電位於電容 驅動線208上,此時鐵電電容所儲存之極化狀態將被 改變,由第—圖中之Α點轉變成C點,而鐵電電容斯所 儲存之極化狀態由D·點移至C點,鐵電電容所儲存之 電荷將大量被轉移至位元線2〇2,造成位元線2〇2 變化’而鐵電電容207所儲存之電荷僅有小量被轉移至位 疋線203,因此很明顯造成位元,線2Qm3間有電壓差 存在’此時於T3打開感應放大器(圖中未展示出 夂化而頊出所儲存資料,接著於T4與T5做一寫回動 將所儲存資料回復。 ’ 另一方面,在位元線驅動方式中,如第四圖所示之時 序圖,在T1時先預先充電位元線2〇2和2〇3至高電位,並 假設鐵電電容207之極化狀態位於第一圖中之D點,並 ^ 而姜线
電電容206之極化狀態位於第一圖中之A點,此時,於U 將一高電位施於字元線201上以打開電晶體2〇4和2〇5, 由於電容驅動線208為低電位,因此會造成鐵電電容2〇6 所儲存之極化狀態將被改變,由第一圖中之A點轉變成◦ 點,而鐵電電容207所儲存之極化狀態由〇點移至^點, 同時,位元線202和203會開始分別對鐵電電容2〇6和 進行充電,由於鐵電電容206涉及極化方向改變,因此鐵 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) ------------ΛΚ.-----r---訂--------- (請先閱讀背面之注咅?事項再填寫本頁) A7 五、發明說明() 〜 電電容206且古^ 、有較大電各值,而鐵電電容2〇7極化方 改變’因此鐵雷雷 電谷207具有較小電容值,位元線2〇2和 2 0 3之間將有雷朽兰六 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 位差存在,此時於T3將感應放大器打開(圖 #展示出)即可感測出電位差變化,而讀出所儲存資料y 接著於T4對電容驅動線2〇8進行充電以進行資料寫回動 作’並於T5進行放電,以進行下一讀取週期。 上述兩種讀取方式,在電容驅動線方式中,當要讀取 3己ί思胞2 0 0所儲在咨粗卩生 ' ^ 保存貝枓時,會先於Τ2區間内對電容驅動線 208進仃充電以拉升電容驅動線電位,由於電容驅動線2〇8 本身有電阻存在,且分別連接兩鐵電電容和,且 鐵電電容206# 2G7有—者具較大電容值,當要拉升電容 驅動線電位時通常要耗費較長之時間(因為T=R*C),因 此在以電容驅動線方式來讀取鐵電電容記憶體所儲存之資 料’ T2將是提升讀取速度之瓶頸,而對於以位元線驅動方 式來讀取鐵電電容記憶體所儲存之資料,雖然在讀取段並 不需要拉升電容驅動線電纟,但是在讀取完成後仍須在T4 區間中將電容驅動線電位拉升以寫回啟始所儲存之資料, 因此在整個讀取寫回週期仍有瓶頸存在。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 發明目的及概述: 在傳統2T/2C (兩電晶體/兩鐵電電容)或 5 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) 492006
五、發明說明( 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 曰曰體/-鐵電電容)4鐵電電容記憶體讀取寫回週期 ’不論是以電容驅動線方式或是位元線驅動方式,均會 ::鐵電電容之極化狀態被切換至另—個完全相反之極化 广而造成-種破壞性讀* ’此時為了防止資料之損 =通常需要再一儲存週期’以回復鐵電電容極化狀態, k種在母_次破壞讀出後所執行之再儲存動作,或是在讀 取週期時所進行之破壞讀出,均需對電容驅動線進行充電 乂進行貝料讀取寫回動作,將降低記憶體執行速度。 ^本發明主要目的是提供解決上述缺點之方法,本發明 提仏種新的感測時序圖來讀取鐵電記憶體資料,以降低 整個讀取與再寫入所需花費之時間。 在一個鐵電電容記憶胞内包括第一電晶體連接第一 鐵電電容,和第二電晶體連接第二鐵電電容,第一和第二 鐵電電容分別儲存互補之極化狀態,以定義出所儲存資 料’電容驅動線分別連接兩鐵電電容之一極板,一字元線 連接兩電晶體之閘極,第一位元線和第二位元線分別連接 第 電晶體和第二電晶體之源極或沒極,根據本發明偵測 兄憶胞方法,預充位元線到邏輯i位準,設定字元線和電 容驅動線到邏輯0位準,拉升字元線至邏輯1位準,接著 拉升電容驅動線至邏輯1位準後,再開啟感應放大器以檢 測出兩位元線之電壓差並讀出資料,接著移除電容驅動線 外加電壓,以回復鐵電電容原先儲存之極化狀態。 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) -----------------Γ---訂 --------線 ** (請先閱讀背面之注咅?事項再填寫本頁} 492006 A7 _B7_ 五、發明說明() 圖式簡單說明: (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 本發明的較佳實施例將於往後之說明文字中輔以下列 圖形做更詳細的闡述,其中為說明方便起見,各圖所示之 相同數字代表相同的裝置,其中: 弟一圖所不為鐵電電容之磁滞曲線圖, 第二圖所示為2T/2C之鐵電記憶體電路; 第三圖所示為以電容驅動線方式感測鐵電電容記憶體 之時序圖; 第四圖所示為以位元線驅動方式感測鐵電電容記憶體 之時序圖; 第五圖所示為根據本發明感測鐵電電容記憶體之時序 圖;以及 第六圖所示為根據本發明感測鐵電電容記憶體時之極 化狀態變遷圖。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 第七圖所示為根據本發明感測鐵電電容記憶體時之電 容變化圖。 圖號對照說明: 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 492006 A7 B7_ 五、發明說明() 2 0 0 記憶胞 2 0 1 字元線 2 0 2 2 0 3 位元線 204 205 電晶體 206 207 鐵電電容 2 0 8 電容驅動線 6 0 4 6 0 5 磁滯曲線 T1-T6 時間區間 發明詳細說明: 在不限制本發明之精神及應用範圍之下,以下即以 一感測2T/2C之鐵電記憶體電路實施例,介紹本發明之實 施;熟悉此領域技藝者,在瞭解本發明之精神後,當可應 用此方法於各種不同之鐵電記憶體電路中,藉由本發明之 檢測時序圖條件,來消除因電容驅動線對鐵電電容充電所 造成讀取速度降低之問題,本發明之應用當不僅限於以下 所述之實施例。 一基本之2T/2C鐵電記憶體電路200如第二圖所述, 其中包括一電晶體204連接一鐵電電容206,和電晶體 205連接鐵電電容207,鐵電電容206和207分別儲存互 補之極化狀態,以定義出所儲存資料,電容驅動線208 分別連接兩鐵電電容之一極板,而兩電晶體 204和 205 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) -----------------r---訂---------線 脅 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 492006 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A7 B7 五、發明說明() 之源極或〉及極分別連接雨鐵電電谷之另一極板,一字元線 201連接兩電晶體之閘極,位元線202和位元線203分別 連接兩電晶體之源極或汲極。 參閱第五圖為本發明所使用之時序圖,在T1時,於 鐵電電容記憶體電路200内之字元線201和電容驅動線 208均設定成0伏特,而感應放大器(圖中未展示出)與 放電電路(圖中未展示出)均處於關閉狀態,此時一預充 電路(圖中未展示出)開始對位元線202和203預充至一 高電位,一般為5伏特,假設此時鐵電電容206之極化狀 態是位於第六圖之601點,而鐵電電容207之極化狀態是 位於第六圖中之602點,並將此時鐵電記憶體200所餘存 之資料定義為“1” 。 接著於第五圖時序圖中之T2,將預充電路(圖中未 展示出)關閉,讓位元線202和203處於浮動(fl〇ating ) 狀態,並將鐵電電容記憶體電路200内之字元線2〇 1外加 一高電位,一般為5伏特,以打開電晶體204和205,而 電容驅動線208保持在〇伏特,感應放大器(圖中未展示 出)與放電電路(圖中未展示出)依然是處於關閉狀態, 由於此時電晶體204和205被打開,鐵電電容206和鐵電 電容207將有一外加電壓橫跨其上,將改變兩鐵電電容之 極化狀態,其中鐵電電容206之極化狀態將沿著上磁滯曲 線604從第六圖之601點被轉移至圖中之603點,而鐵電 電容207之極化狀態,由於所施以之外加電壓高於強制電 壓(CoerciveVoltage)之轉換電壓,而將沿著圖中之下 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) -----r---^--------- (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁} 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 492006 A7 _B7_ 五、發明說明() 磁滯曲線605從602點被轉移至圖中之603點,其中第六 圖中之磁滯曲線斜率大小代表電容值,因此鐵電電容206 和 207沿著磁滯曲線變化之過程中會呈現出不同之電容 改變量,如鐵電電容206之電容改變量小於鐵電電容207 之電容改變量,因此位元線202之電壓下降幅度小於位元 線203,呈現出不同之電壓值。 接著於第五圖時序圖中之T3時,預充電路(圖中未 展示出)感應放大器(圖中未展示出)與放電電路(圖中 未展示出)均保持關閉,此時位元線202和203仍處於浮 動(floating)狀態,並將鐵電電容記憶體電路200内之 字元線201保持在一高電位,以使電晶體204和205維持 在導通狀態,此時於電容驅動線208上外加一高電位,一 般為5伏特,由於此時電晶體204和205已被打開,且位 元線202上之電壓小於5伏特,因此鐵電電容206上之橫 跨電壓掉至0伏特以下,但不超過轉換電壓,而將鐵電電 容206之極化狀態再沿著磁滯曲線604從第六圖中之603 點拉回601點,而鐵電電容207上之橫跨電壓也掉至〇 伏特以下,但不超過轉換電壓,因此也將鐵電電容 207 之極化狀態沿著磁滯曲線604從第六圖中之603點拉回 601點,此時位元線202和203依然會呈現不同之電壓大 小 〇 接著於第五圖時序圖中之T4時,預充電路(圖中未 展示出)與放電電路(圖中未展示出)依然保持關閉,而 感應放大器(圖中未展示出)被啟動,藉以偵測位元線 10 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) -----------------r---訂---------線 m (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 492006 A7 B7 五、發明說明( 202和203之電塵,並將電壓值較大者拉升至邏輯“ i ” 伏特,而將電壓值較小者降為邏輯“〇” 位準 位準 般為 般為0伏特,此時即讀出鐵電電容記憶體電路 200内所儲存之資斜’以本最佳實施例,位元線202為邏 輯“1”位準而位元線203邏輯0”位準,鐵電電容記憶 體電路20〇内之孚元線201仍保持在一高電位,電晶體 204和205導通,電容驅動線208依然處於高電位,由於 此時電晶體204和2〇5已被打開,且位元線202為邏輯 “1”位準即電塵為5伏特,因此鐵電電容206上之橫跨 ,因此鐵電電容206之極化狀態保持在第 元線203為邏輯“〇,,位準即電壓為〇 207上之橫跨電壓掉至0伏特以下 電壓掉至0伏特 六圖中6 0 1點,而位 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 伏特,因此鐵電電容 且超過轉換電麈,因此鐵電電谷207之極化狀態將沿著磁 滯曲線604從第六围中之601點拉回606點。 接著於第五ίΐ時序圖中之T5時,預充電路(圖中未 展示出)與放電電路(圖中未展示出)依然保持關閉,而 感應放大器(圖中未展不出)保持啟動狀態,鐵電電容記 憶體電路2〇〇内之孚元線201仍保持在一高電位,因此電 晶體204和205導通’此時移除電容驅動線208上之外加 電壓,由於此時電晶體204和205已被打開,且位元線 202為邏輯,,位準即電壓為5伏特,因此鐵電電容2〇6 上之橫跨電壓為5伏特,因此鐵電電容206之極化狀態將 從第六圖中601點沿著磁滯曲線604轉移至點603,而位 元線203為邏輯“0位準即電壓為0伏特,因此鐵電電 11 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) -----------------r---訂---------線 (請先閱讀背面之注咅心事項再填寫本頁) 492006 A7 B7 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 五、發明說明( 容207上之橫跨電塵掉為〇伏特,因此鐵電電容2〇7之極 化狀態將沿著磁滯曲線6〇5從第六圖中 〈606點回到602 點。 接著於第五圖時序圖中之T“夺,預充電⑬(圖中未 展示出)依然保持關閉,但啟動放電電路(圖中未展示出) 消除位元線202和203之邏輯位準’讓位元線2〇2和2〇3 保持0伏特,關閉感應放大器(圖中未展示出),鐵電電 容記憶體電路200内之字元線201仍保持在一高電位,電 晶體204和205導通,此時電容驅動線208上之外加電壓 為〇伏特,由於此時電晶體204和205已被打開,但位元 線202和203均為〇伏特,因此橫跨於鐵電電容2〇6和 207上之電壓均為0伏特,此時鐵電電容206之極化狀態 將從第六圖中603點沿著磁滯曲線604轉回至點601,而 鐵電電容207之極化狀態保持在第六圖中之602點。 本發明與傳統位元線驅動方式最大不同點在於,本發 明電容驅動線208被驅動之時間點是發生於T3時刻,也 就是當鐵電電容206與鐵電電容207之極化狀態均位於 第六圖 603點附近,且在驅動電容驅動線208之T3 p白匕 段,不像傳統之電容驅動線方式或位元線驅動方式,會涉 及鐵電電容極化狀態轉變,例如,在電容驅動線方式中, 於第三圖驅動電容驅動線208之T2階段,涉及鐵電電容 206之極化狀態轉變,因此讀取速度降低,而在位元線驅 動方式中,在第四圖驅動電容驅動線208之T4階段,涉 及鐵電電容206之極化狀態轉變,因此讀取速度會被降 12 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) -----------------r---訂---------線 - - (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 492006 A7 _B7_ 五、發明說明() 低。因為由磁滯曲線圖,斜率代表鐵電電容之大小,因此, 根據本發明當電容驅動線208在T3階段被驅動時,所連 接之鐵電電容大小是約如第七圖所示之直線70 1斜率大 小,且電容值大小幾乎未改變,由T = R * C其中T表時 間,R為電容驅動線208之電阻,C為電容驅動線208所 連鐵電電容電容值大小。當電容改變量減小,充電時間降 低,因此可提升讀取速度。 如熟悉此技術之人員所暸解的,以上所述僅為本發明 之較佳實施例而已,並非用以限定本發明之申請專利範 圍;凡其它未脫離本發明所揭示之精神下所完成之等效改 變或修飾,均應包含在下述之申請專利範圍内。 -----------------r---訂---------線 -響 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 13 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐)

Claims (1)

  1. 492006 A8 B8 C8 D8 六、申請專利範圍 申請專利範圍: 1 · 一種用以感測一以一字元線,兩條位元線和一條電容驅 動線所驅動包含兩電晶體和兩鐵電電容之非揮發性鐵電電 容記憶體電路之方法,其中該兩條位元線連接至一感應放 大器,該方法至少包含下列步驟: 驅動該兩條位元線至邏輯電壓值“ 1”位準; 驅動該條電容驅動線至邏輯電壓值“ 1”位準;以及 開啟該感應放大器以讀出該兩條字元線之邏輯電壓值 差異。 2 ·如申請專利範圍第1項所述之方法,其中上述之驅動該兩 條位元線至邏輯電壓值“ 1”位準主要是使該兩鐵電電容從 不同之極化方向改變成同一極化方向。 3 ·如申請專利範圍第1項所述之方法,其中上述之驅動該條 電容驅動線至邏輯電壓值“ 1”位準主要是使該兩鐵電電容 從相同之極化方向改變成不同之極化方向。 4 ·如申請專利範圍第1項所述之方法,其中上述之開啟該感 應放大器以讀出該兩條字元線之邏輯電壓值差異,更包括 下列步驟: 比較該兩條位元線之邏輯電壓值高低; 拉升邏輯位準高之該條位元線至邏輯電壓值“ 1”位準;以 14 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Α4規格(210Χ297公釐) (請先Η-讀背面之注意事項再填寫本頁) 、1T 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 492006 A8 B8 C8 D8 六、申請專利範圍 及 降低邏輯位準低之該條位元線至邏輯電壓值“〇”位準。 5 · —種用以感測一以一字元線,兩條位元線和一條電容驅 動線所驅動包含兩電晶體和兩鐵電電容之非揮發性鐵電電 容記憶體電路之方法,其中該兩條位元線連接至一感應放 大器,該方法至少包含下列步驟: 預充該兩條位元線至邏輯電壓值“ 1 ”位準; 設定該字元線和該電容驅動線於邏輯電壓值“ 0 ”位 準; 將該字元線從邏輯電壓值“0”位準拉升至邏輯電壓值 “ 1”位準; 將該電容驅動線從邏輯電壓值“ 0 ”位準拉升至邏輯電 壓值“ 1”位準; 開啟該感應放大器以讀出該兩條字元線之邏輯電壓值 差異; (請先a讀背面之注意事項再填寫本頁) 該 位 值 壓 電 邏 從 線 區 容; 電準 壓 電 輯 邏 為 降 準 位 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 應線 感元 該字。 閉該準 關將位 ο 器 大 放 從 位 条 ” 1 兩“ 該值 對壓 並電 輯 放 行 進 線 元 邏 至 降 準 位 及值 以壓 ; 電 電6耳 兩 該 充 預 之 述 上 中 其 法 方 之 述 所 項 5 第 圍 利 專 請 中 如 15 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) 492006 A8 B8 C8 D8 申請專利範圍 條位元線至邏輯電壓值“1”位準後,讓該兩條位元線處於 浮動(floating)狀態。 7 ·如申請專利範圍第5項所述之方法,其中上述之將該字元 線從邏輯電壓值“ ”位準拉升至邏輯電壓值‘‘ 1,,位準 時,該電容驅動線仍保持在邏輯“0”位準。 8·如申請專利範圍第5項所述之方法,其中上述之將該電容 驅動線從邏輯電壓值“〇,,位準拉升至邏輯電壓值“i”位準 時’該感應放大器仍未啟動 、(木先M.讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 9·如申請專利範圍第5項所述之方法,其中上述之開啟該感 應放大备以頃出該兩條字元線之邏輯電壓值差異,更包括 下列步驟: 比較該兩條位元線之邏輯電壓值高低; 拉升邏輯位準高之該條位元線至邏輯電壓值“丨”位準;以 及 2 ? 降低邏輯位準低之該條位元線至邏輯電壓值“ 〇,,位準。 10·如申請專利範圍第5項所述之方法,其中上述之對該兩 條位凡線進行放電是指將該兩條位元邏輯 位準。 1干竭 υ 16 表纸張尺度適用中國國家襟準(CNS ) Α4規格(2l〇X297公釐)
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