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TW425553B - Memory circuit with faster reset operation - Google Patents

Memory circuit with faster reset operation Download PDF

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Publication number
TW425553B
TW425553B TW088107470A TW88107470A TW425553B TW 425553 B TW425553 B TW 425553B TW 088107470 A TW088107470 A TW 088107470A TW 88107470 A TW88107470 A TW 88107470A TW 425553 B TW425553 B TW 425553B
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
bit line
circuit
sense amplifier
pairs
potential
Prior art date
Application number
TW088107470A
Other languages
English (en)
Inventor
Shinya Fujioka
Yasuharu Sato
Original Assignee
Fujitsu Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
Application granted granted Critical
Publication of TW425553B publication Critical patent/TW425553B/zh

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    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/34Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
    • G11C11/40Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
    • G11C11/401Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
    • G11C11/4063Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing
    • G11C11/407Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing for memory cells of the field-effect type
    • GPHYSICS
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    • G11C7/06Sense amplifiers; Associated circuits, e.g. timing or triggering circuits
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Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Dram (AREA)
  • Static Random-Access Memory (AREA)

Description

4 2 5 b 5 3 A7 B7 經濟部智慧財產局工消費合作社印製 五、發明説明(1 ) 本發明係與動態RAM(DRAM)之類的記憶體電路有關 ,特別係有關具有重設操作速度較快之位元線的記憶體電 路。 對於DRAM—類記憶體裝置之容量與速度的需求不斷 提高。舉例而言,分頁模式與脈衝模式已被提出以提高速 度》近來亦有人提出降低隨機存取循環,這涉及行位址及 列位址的改變。實例之‘一為快循環RAM(FCRAM,Fujitsu 之註冊商標),其隨機存取作業之循環時間較短,該技術 揭露 1998年 6 月 15 日之 Nikkei Electronics,第 163-171 頁, 以及 1998年之 SYMPOSIUM ON VLSI CIRCUITS,DIGSET OF TECHNICAL PAPERS,第 22-25 頁》 第1圖為傳統記憶體裝置之電路圖。在第1圖之記憶體 裝置中,感應放大器SA、位元線箝位與短路電路BLR, 以及行閘CLG位於第一位元線對BL0與/BL0及第二位元線 對BL1與/BL1之間,這些位元線在行方向上並行配置。感 應放大器SA、位元線箝位與短路電路BLR及行閘CLG由 第一及第二位元線對BL0、/BL0、BL1與/BL1共用,並透 過導通位於第一位元線對與第二位元線對之間的第一與第 二位元線傳輸閘BLT0與BLT1之一的方式與第一位元線對 或第二位元線對連接》 . 第一與第二晶胞陣列CM0與CM1配置於左側與右側, 而字元線WL0與WL1即配置於此,且記憶體晶胞MC0與 MCI位於字元線與位元線的交叉位置。多數個第1囷中所 示的電路在字元線的方向上成行配置》 (請先W讀背面之注意事項再填寫本頁) -裝. 訂 線 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS > A4規格(210X297公釐) A7 I五 經濟部智慧財度局貝工消費合作社印製 425553 • B7_ ---------------- 發明説明(2) 第1圊中之感測放大器SA包含N通道電晶體N1、N2、 N3以及p通道電晶體PI、p2、P3 ’當電晶艘1^1隨著1'1側的 感剛放大器啟動信號lez而動作時’感測放大器啟動’將 節點nsa的電壓降為接地電麽Vss ’或者當電晶體P1隨著P ‘側的感測放大器啟動信號lex而動作時’感測放大器啟動 ,將節點psa的電壓提高矣内部電源供應器電壓Vii°透過 啟動感測放大器’位元線對被堪動並放大至接地電壓Vss 與内部電源供應器電壓vii。 位元線轉換閘BLTO與BLT1包含N通道電晶艘N10、
Nil、N12與N13,並在轉換控制信號Blt0與Bltl的控制下 將對應的位元線對連接炱感測放大器SA以及位元線箝位 與短路電路BLR。 在位元線箝位與短路電路BLR中,N通道電晶體N4、 N5與N6根據位元線重設信號bre動作’其中電晶體N1使位 元線對短路,同時電晶體N5與N6將位元線對之電位限制 於預先充電電位vii/2,亦即内部電源供應器電歷Vii的二 分之一。行閘CLG包含N通道電晶體N14與N15,它們根據
行選擇信號cl將位元線對連接至資料匯流排線對DB與/DB 〇 根據前述傳統記憶體裝置之操作,位元線轉換閘BLTO 與BLT1在重設狀態下動作’位元線箝位電路BLR之電晶 體N4 —N6由位元線重設信號bre操作’該信號使位元線對 短路,並將位元線對之電位設定於位元線預先充電電位 Vii/2。若記憶體晶胞MCO在此被選定,則位元線轉換閘 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) -----^---1---裝-----.I訂-----丨線 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部智慧財產局S工消費合作社印製 4 255 5 3 A? ___B7___ 五、發明説明(3 ) 側不再動作,位元線箝位與短路電路BRL重設,使電晶體 N4、N5、N6不動作,字元線WLO被驅動,且第一位元線 對BLO與/BLO之間會根據儲存於記憶體晶胞MCO中的電荷 而形成極小的電位差。隨後感測放大器啟動信號les上升 *而lex下降,啟動感測放大器SA,將位元線對BLO與BL1之 間的極小電位差被放大,使一條位元線的電位提升至内部 電源供應器電壓Vii,而另一條位元線的電位降低至接地 電位Vss »位元線對BLO與/BLO根據行選擇信號cl連接至 資料匯流排線對DB與/DB,而讀取信號經由讀取放大器與 輸出電路輸出,此部分圃中未顯示。當字元線WLO電位降 低而記憶體晶胞MCO再次被寫入,感測放大器SA被抑制 ,同時位元線轉換閘BLT1側再次動作,且位元線箝位與 短路電路BLR之電晶體根據位元線重設信號bre動作,並 使位元線對BLO與/BLO及BL1與/BL1短路並將其電位限制 於預先充電電位Vii/2 » 在第1圖之記憶體裝置組態中,左右位元線對共用一 個感測放大器SA,且位元線轉換器閘BLTO與BLT1將一組 位元線對連接至感測放大器S A »此外,用以重設位元線 的位元線箝位與短路電路BLR鄰接感測放大器SA,且由 左右位元線對所共用。因此,在相當長的位元線對連接至 感測放大器或記憶體裝置之感測放大器SA之行數較少時 ,此組態可提供相當的佈線效率。因為一對記憶體晶陣列 CMO、CM1可共用感測放大器行。 然而,位元線箝位與短路電路BLR係透過位元線轉換 本紙張尺度適用中國國家橾準(CNS ) A4規格(210X297公釐) I I I I I I 裝 I I i I 訂 I ί 線 ί請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) A7 B7 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 五、發明説明(4 ) 閘BLTO與BLT1連接至位元線對,因而位元線轉換器閘之 電晶體N10-N13之導通電阻使位元線對之重設操作的時間 增長。漫長的重設操作時間使隨機存取操作的循環時間延 長。 • 第2圖為傳統記憶體裝置的另一個實例。第1圖中的標 號用於第2圖的相同元件上。在第2圖之習知技術中,左右 位元線對BLO與/BLO以友BL1與/BL1在行方向上配置’與 第1圖之習知技術相同,它們共用感測放大器SA。因此’ 位元線轉換器閘BLTO與BLT1分別位於感測放大器SA與各 位元線對之間。與感測放大器類似,行閘CLG亦由兩位元 線對共用。 在第2圏之習知技術中,各位元線對配有位元線箝位 與短路電路BLR為位元線重設電路,以便提高操作速度’ 並將位元線對短路且將電位重設於預先充電電位Vii/2。 易言之,位元線箝位與短路電路BLRO連接至右側位元線 對BLO與/BLO ,根據重設信號bltl將所連接之位元線對BLO 與/BLO短路,並將位元線對之電位侷限於預先充電電位 Vii/2 »同樣地,位元線箝位與短路電路BLRI連接至左位 元線對BL1與/BL1,根據重設信號bltO將所連接之位元線 對BL1與/BL1短路,並將位元線對之電位侷限於預先充電 電位Vii/2。個別位元線箝位與短路電路BLRO、BLR1包含 用以短路N4與N24的N通道電晶體以及用以箝位N5與N6以 及N25與N26的N通道電晶體。 在第2圖之習知技術中,相同的控制信號bltl控制右 本紙張尺度通用中國國家標準(CNS > A4規格(210X297公釐) (请先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) .裝· 訂 線. 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 425553 * A7 _______B7 五、發明説明(5 ) 位元線箝位與短路電路BLRO與左位元線轉換閘BLT1,而 相同的控制信號bltO控制左位元線箝位與短路電路BLR1 與右位元線轉換閘BLT。因此,位元線箝位與短路電路 BLR0與BLR1可直接將相對應的位元線對短路並將其電位 •揭限於預先充電電位而不需經過位元線轉換閘。如此一來 ’重設操作時間可小於第1圖中之習知技術。
然而,只有在非選定位元線長時間維持在預先充電電 位(内部電源Vii)且預先充電電位由於記憶體裝置之基體的 接面洩漏而下降’使重設狀態下的位元線對之間的短路操 作無法將位元線對設定於預先充電電位Vii/2(内部電源的 一半)時’才需要前述位元線箝位與短路電路BLRO、BLR1 之由電路體N5與N6以及N25與N26所構成之箝位電路。因 此’短路電路主要用以重設位元線對,且位元線箝位電路 之操作不致大幅影響位元線對之操作D 另一方面,在第2圈的習知技術中,由用以重設位元 線之位元線箝位電路與短路電路構成之電路BLR〇與BLR1 針對各位元線對而配置。因此,若在記憶體裝置中,由於 位元線對之長度減少而使位元線對之重設操作的速度提高 ’則針對各位元線對配置箝位電路的做法不利於集積度的 提高。亦言之,箝位電路對提高位元線對之重設操作速度 的提高無甚助益,若針對各位元線對配置箝位電路,重設 操作的速度不會改善,反而會影響區域效率。 特別是在前述之具有較短的隨機存取循環時間的 FCRAM中’位元線對被分段而縮短,以減少感測放大器Sa 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS >八4規格(21〇χ297公釐) I. 裝 -—i 訂 線 (請先閲讀背面之注意Ϋ項再填寫本頁) 255 5 3 Α7 Β7 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 五、發明説明(6 ) 對位元線對之驅動掭作時間,並降低位元線對之重設操作 時間。因此’記憶體裝置中之感測放大器行數量與共用感 測放大器之位元線對數量同步增加β因此,在Fcram的 架構中’針對各位元線對配置箝位電路的做法(如第2圖所 示)將會降低區域效率《此外’位元線對共用位元線對短 路電路的做法(如第1圚所示)使位元線對重設時間難以降 低。 ’ 在FERAM中,降低循環時間導致更頻繁的重設操作 ’因而增加電力消耗。因此,吾人亦要求重設位元線之位 元線箝位電路與短路電路具有節約電力的特性β 因此’本發明之目的在於提供一種區域交率提高且位 元線對之重設操作時間縮短之記憶體電路。 本發明的另一個目的在於提供一種可使位元線對之重 設操作時間縮短且重設操作之電力消耗減少之記憶體電路 〇 本發明的再一個目的在於提供一種可縮短隨機存取循 環時間縮短且節省電力的記憶體電路。 為達成以上目的’本發明之記憶體電路具有多數條字 元線與多數位元線對,且記憶逋晶胞位於字元線與位元線 對之交又位置,該記憶體電路包含:感測放大器,由配置 於行方向上的第一位元線對與第二位元線對所共用,並放 大位元線對之電壓;第一與第二位元線轉換閘,分別位於 該感測放大器與第一及第二位元線對之間,並將被選定之 記憶體晶胞側的位元線對連接至該感測放大器;位元線箝 -----^------裝-- (請先Μ讀背面之注意事項再填寫本頁) -1Τ 線 本紙張尺度適用中國國家棵率(CNS ) Α4说格(2丨0X297公釐) 10 經濟部智慧財產局負工消費合作社印製 A7 B7_ 五、發明説明(7 ) 位器,位於該第一與第二位元線轉換閘之間,由該第一位 元線對與第二位元線對共用,並提供預先充電電位至位元 線對;與位元線短路電路,位於該第一與第二位元線對之 間,並將位元線對短路》 * 根據前述發明,涉及位元線短路操作之重設操作可高 速執行,因為位元線短路電路針對各位元線對而配置《此 外,由於位元線箝位器電路係由第一與第二位元線對所共 用,區域效率可提高。 前述發明之特徵還包含,該記憶體電路還包含第一内 部電源,其中該感測放大器將該等位元線對之一之電壓放 大至該第一内部電源電位;該第一與第二位元線轉換閘包 含位於該感測放大器與該第一與第二位元線對之間的轉換 電晶體,用以驅動轉換電晶體之轉換控制信號之電位被控 制在大於該第一内部電源電位的水準;該位元線箝位器包 含位於該預先充電電位接點與該等位元線對之間的箝位器 電晶體’用以驅動箝位器電晶體之箝位器控制信號之電位 被控制在小於轉換控制信號的水準。 根據以上發明,產生轉換控制信號所需電力消耗可減 少 〇 前述發明之特徵還包含,該記憶體電路還包含第一内 部電源,其中該感測放大器將該等位元線對之一之電壓放 大至該第一内部電源電位;該第一與第二位元線轉換閘包 含位於該感測放大器與該第一與第二位元線對之轉換電晶 體,用以驅動轉換電晶體之轉換控制信號被控制在大於該 本紙張尺度適用中國困家標準(CNS ) A4規格(210X297公ft ) -----^------t---------IT------,ii (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部智慧財產局員工消费合作社印製 4 ^55 5 3η ι" Α7 __—___Β7 五、發明説明(8 ) 第一内部電源電位的水準;該位元線短路電路包含位於該 等位元線對之間的短路電晶體,用以驅動短路電晶體之短 路控制信號被控制在小於轉換控制信號的水準。 根據以上發明,產生位元線短路信號所需電力消耗可 誠少。 為達成以上目的,第二個發明為一種記憶體電路,其 中第一級用以解碼指令 ',第二級用以啟動感測放大器,第 三級用以輸入與輸出資料,此三級電路係以管路方式配置 ’多數資料在感測放大器與第三級之間以並列方式傳送, 該記憶體電路包含:多數個子晶胞陣列,它們在字元方向 上被分割,並具有多數個記憶體晶胞,多數條字元線與多 數組位元線對’其中該子晶胞陣列包含··感測放大器,它 由行方向配置之第一位元線對與第二位元線對所共用,並 放大位元線對之電壓;第一與第二位元線轉換閘,位於感 測放大器與第一及第二位元線對之間,並將選定記憶體晶 胞之位元線對連接至感測放大器;位元線箝位器,位於第 一與第二位元線轉換閘之間,由第一位元線對與第二位元 線對所共用’並提供預先充電電位至位元線對;與位元線 短路電路’位於該第一與第二位元線對之間並將位元線對 短路。 第1圖為傳統記憶體裝置之電路圖; 第2圖為另一種傳統記憶體裝置之電路圖; 第3圖為本發明第一實施例之記憶饉裝置之電路囫; 第4囷為第3圖之記憶體裝置之操作波形囷; 本紙俵尺度適用中國國家標準(CNS > A4規格(210X2?7公釐) 12 I-----------赛------------i {請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部智蒽財產局員工消費合作社印製 ^25553 at _一 B7 五、發明説明(9 ) 第5圖為本發明第二實施例之記懷趙裝置之電路圖·, 第6圖為FCRAM之方塊圖: 第7圖為FCRAM之記憶體核心之部分電路圖; 第8圖為FCRAM之讀取操作之時序圖 -帛9圖為子位^線轉換解碍器與符位器控制電路之電 路圖; 第10圖為第9圖電路之操作時序圈. 第11圖為子位元線轉換解碼器與蒋位器控制電路之電 路圖(2); 第12圖為子位元線轉換解碼器與箝位器控制電路之電 路圖(3)。 以下參照画式說明本發明。然而,本發明之技術範_ 不限於此。 第3圖為本發明第一實施例之記憶體裝置之電路圈β 在第3圖之裝置中,第一位元線對BL0與/BL0以及第二位 元線對BL1與/BL1在行方向配置並共用感測放大器Sa、 位元線箝位器CLP以及行閘CLG。因此,.被共用的感測放 大器SA、位元線箝位器CLP與行閘CLG經由位元線轉換閘 BLT0與BLT1連接至第一位元與第二位元線對bl〇與/BL0 及BL1與/BL1。此外’位元線短路電路SH0與SH1分別位 於第一與第二位元線對。在第一位元線對BL0及/BL0與字 元線WL0的交叉位置具有電晶體與電容器構成的記憶體晶 胞MC0,而在第二位元線對BL1及/BL1與字元線WL1的交 又位置具有相同的記憶體晶胞MCI。 本紙張尺度適用中國國家榡準(CNS ) Α4規格(21〇X297公釐) 13 —---^--.---^-------ΐτ------^ (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 425553 A7 B7 五、發明説明(10) ~一 第3圖t與第1、2圖相同的元件使用相同的標號。然 而’在第3圖的記憶裝置中,位元線短路電路sh〇、SH1配 置在各位元線對上’此與第1圊不同。右側位元線短路電 路SHO具有N通道電晶體N40,並由轉換控制信號bltl加以 控制’它控制左側位元線轉換閘BLT1 »左側位元線短路 電路SH1具有N通道電晶艘N41,它並由轉換控制信號blt〇 加以控制,它控制右側位元線轉換閘BLT0。 與第2圖不同者’在第3圖之記憶體裝置中,位元線箝 位器CLP針對第一與第二位元線對而配置,它包含電晶體 N5與N6,由來自轉換控制信號bltO與bltl的箝位器控制信 號(或位元線重設信號)brs加以控制,並將一對位元線對的 電位控制在預先充電電位Vii/2。感測放大器之結構與第1 、2圈相同。 第4圖為第3圖之記憶裝置之操作波形。第4圖用以說 明3囷之第一實施例的操作。以下說明記憶髏晶MC0之讀 取,其中左側晶胞陣列CM0儲存高電位。 在初始重設狀態下,轉換控制信號bltO與bltl為Η電位 ,此電位大於内部電源Vii,而轉換器控制信號bltO與bltl 所產生之箝位器控制信號brs亦為Η電位。因此,左側與右 侧位元線轉換閘BLTO與BLT1處於動作狀態,左側與右側 位元線短路電路SH0與SH1之電晶體N40與N41處於動作狀 態,而位元線箝位器CLP之電晶體N5與N6亦處於動作狀 態。因此,第一與第二位元線對被重設於預先充電電位 Vii/2,此為内部電源Vii的一半。 本紙張尺度適用中國囷家梯準(CNS ) A4規格(210X297公釐) —i n 111 n I I n I ^ (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部智慧財產局員工消贫合作社印製 14 425553 A7 B7_ 五、發明説明(n ) 接著,轉換控制信號bltl與箝位控制信號brs變成L電 位,左側位元線轉換閘BLT1變成不動作,右侧位元線短 路電路SHO之電晶體N40變成不動作,箝位電路CLP之電 晶體N5也變成不動作,而重設狀態終止》在此狀態中, *第一位元線對BLO與/BLO經由保持在動作狀態的位元線轉 換閘BLTO連接至感測放大器S A。 隨後右側晶胞陣列CMO之字元線WLO被驅動至Η電位 ,此電位大於内部電源Vii。因此,第一位元線對之位元 線BLO的電位隨著記憶趙晶胞MCO内部的充電量而小幅提 升,而另一條位元線/BLO保持在預先充電電位Vii/2。當 感測放大器啟動信號lex上升而lex下降,感測放大器驅動 器SAD動作,感測放大器SA啟動,位元線對BLO與/BLO之 間的微小電位差被放大,位元線BLO被驅動至内部電源電 位Vii而另一條位元線/BLO被驅動至接地電位Vss。回應於 行選擇信號cl,第一位元線對BLO與/BLO經由電晶體N14 、N15連接至資料匯流排線對DB與/DB,且讀取信號經由 讀取放大器與輸出電路輸出,它們連接至資料匯流排線DB 、/DB,但此處並未繪出。 當字元線WLO下降且記憶體晶胞MCO被重新寫入時, 感測放大器啟動信號lez下降而lex上升,感測放大器驅動 器SAD變成不動作,且感測放大器SA不動作。轉換控制 信號bltl與箝位器控制信號brs上升,左側位元線轉換閘 BLT1動作,短路電路SHO將第一位元線對短路,箝位電路 CLP將兩組位元線對之電位限制於預先充電電位Vii/2 »易 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4规格(210X297公釐) -----„---r---^-------1T------ii (諳先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部智慧財產局負工消費合作社印製 15 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 ^255 5 3 a? B7 五、發明説明(12 ) 言之,用以重設位元線之位元線短路電路與位元線箝位器 被啟動且兩組位元線對都被重設在預先充電電位Vii/2。 如前述,在第3圖所示之記憶體裝置中,用以短路位 元線對之位元線短路電路SHO或SH1位於各位元線對中, -因此位元線可被短路而不需經過位於位元線對之間的位元 線轉換閘BLTO與BLT1以及共用的感測放大器。因此,位 元線轉換閘BLTO與BLT1之電晶體N10 —N13之導電電阻所 引起之延遲不會發生,而位元線對之重設操作的速度可提 高。由於位元線箝位器CLP無法大幅提高位元線對之重設 操作的速度,它由第一與第二位元線對所共用,因而提高 區域效率。 第5圖為第二實施例之記憶裝置電路圖《第5圖顯示η 對第一與第二位元線對BLO與/BLO- BL2n-l與/BL2n-l, 其中各第一與第二位元線對共用感測放大器SA1 — SAn、 位元線箝位器CLP1 —CLPn以及行閘CLGl-CLGn »各第 一與第二位元線對具有專屬位元線短路電路SHO與SH1 — SH2n-2與 SH2n-l。位元線轉換閘 BLTO與BLTl-BLT2n-2 與BLT2n-l位於感測放大器SA1 — SAn以及第一與第二位 元線對之間。各控制信號與第3圖相同。 第5圖之第二實施例與第一實施例之差異在於,感測 放大器驅動器SAD之N通道電晶體N1與P通道電晶髋P1共 同配置於多數個感測放大器SA1 — San中。而共同配置的 感測放大器SAD分別使共用節點nsa與psa之電位變成接地 電位Vss與内部電源Vii,使多數個感測放大器SAI _ SAn 本紙浪尺度適用中國國家梯準(CNS ) A4規格(210X297公釐) 16 i I 訂 I (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) ^ 4255 5 3 at B7 經濟部智慧財度局員工消費合作社印製 五、發明説明(13 ) 被啟動。 如此一來,在第二實施例中,感測放大器堪動器sad 針對多數個感測放大器共同配置,這可提高區域效率。若 記憶體裝置具有少量的感測放大器SA,則感測放大器SA •之啟動速度可維持在夠快的水準上,即使感測放大器驅動 器如上所述地共同配置。 第6圖為具有較短隨機存取循環時間之FCraM的方塊 圖。若前述第一與第二實施例之記憶體裝置應用於記憶體 核心區域之組態被切割的FCRAM中,位元線對重設操作 減少且隨機存取之循環時間降低,位元線對之重設操作速 度可提高且改善區域效率。 接著說明第6圖之FCRAM的構造。首先,外部時鐘 CLOCK被送至時鐘輸入緩衝器1〇,並輸出内部時鐘他。 回應内部時鐘elk ’控制信號CNT、列位址Radd與行位址 Cadd輸入至對應的緩衝器11、12與13並被閂鎖。此外, 回應於内部時鐘elk ’資料由資料輸出接點DQ送出,且資 料由資料輸入接點Din被送入 控制信號CNT被送到指令解碼器14,指令在此解碼。 在初始狀態中,回應於控制信號CNT,由列位址接點Radd 送達之各種模式設定值由模式暫存器15加以閂鎖。在正常 操作中,當控制信號CNT由指令解瑪器14加以解碍且RAS 產生器16根據解瑪輸出偵知RAS啟動時,控制單元17控制 解碼器與其他元件之操作。因此,這些元件包含字元解碼 器30、位元線轉換解碼器31、感測放大器啟動電路32、1/4 {請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) -裝 ,ΤΓ 線 本紙張尺度通用中國國家標準(CNS ) Α4規格(210 X 297公釐) 17 經濟部智慧財產局員工消费合作社印製 4 2555 3 at _______B7 五、發明説明(14 ) 解碼器33、行解碼器34與行系統控制單元35。 列位址信號Radd由輸入緩衝器12加以閂鎖,並由字 元預解碼器19加以預先解碼β預先解碼信號被送到字元解 碼器30、位元線轉換解碼器3 1、感測放大器啟動電路32、 1 /4解碼器33與區塊解碼器2〇 〇行位址Cadd由輸入緩衝器13 加以閂鎖’並由行預解碼器22預先解碼。預先解碼信號被 送到感測放大器啟動電路32、1/4解碼器33、行解碼器34 、行系統控制單元35、讀取侧並列/串列轉換電路37與寫 入侧串列/並列轉換電路42。 FCRAM被區分為第一級1〇〇、第二級2〇〇與第三級3〇〇 ,第一級100用以解碼控制信號CNT與檢測操作模式,第 二級200用以解瑪行位址信號Rad(i、啟動字元線與感測放 大器並輸出資料至缓衝電路36以進行並列讀取與寫入,第 三級300利用並列/串列轉換電路37將並列輸入資料轉換至 讀取與寫入緩衝電路36中,並由資料輸出緩衝器3 8輸出資 料β第三級300包含一組電路,用以輸入資料至資料輸入 緩衝器44 ’將資料由串列形式轉換為並列形式,並將並列 資料送至讀取與寫入緩衝電路。第一' 第二與第三級1〇〇 、200與300具有管線結構,因而各級可獨立操作。 在記憶體核心40中,由電晶體與電容器(囷中未顯示) 構成之記憶趙晶胞位於位元線與次字元線SWL之交叉位 置。記憶體核心40(容後詳述)在列方向上(圖中的平行方 向)被區分為多數個子晶胞陣列SCM0、SCM1、SCM2,而 感測放大器SA亦針對各個次晶胞陣列而配置。因此,行 本紙張从適财關家標率(⑽)从胁(21()><297公庚) -----r--:---赛-------1T------線 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 18 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 4255 5 3 A7 ______B7 五、發明説明(15) 位址可用以選擇子晶胞陣列。主字元解碼器3〇根據列位址 選擇主字元線而在連接至主字元線的次字元線中,只有被 選定的子晶胞陣列會被啟動。如此一來,感測啟動電路僅 啟動對應於選定之子晶胞陣列中之選定次字元線的感測放 太器。 記憶體核心40中之讀取操作與一般DRAM相同。易言 之’屬於主字元線且位於選定之子晶胞陣列中的次字元線 會被啟動。經啟動之次字元線之記憶體中的資料會被讀取 ’並在感測放大器啟動時被放大且鎖定。感測放大器鎖定 之資料並列輸出至讀取/寫入緩衝器36以配合脈衝長度。 之後並列資料由並列/串列轉換電路37轉換為串列形式, 並持續由資料輸出緩衝器38輸出。並列/串列電路37根據 資料等待時間計數器24執行轉換操作。 並列/事列轉換電路37根據所設定之脈衝長度以串列 方式輸出所需的資料數量《舉例來說,就來自讀取/寫入 緩衝器3之並列4位元資料而言,1位元、2位元與4位元串 列輸出,以配合2位元行位址與脈衝長度1、2與4。 第二級200、記憶饉核心40與讀取/寫入緩衝器36構成 一個區塊》通常,一個記憶髏裝置中會配置多個區塊。因 此,各區塊具有區塊解碼器20,用以根據列位址信號產生 一個信號,標示該區塊是否被選定,且提供該信號至字元 解碼器30、位元線轉換閘解碼器31、感測放大器啟動電路 32與1/4解碼器33。 第7圖為FCRAM之記憶體核心的部分電路圊。第7圖 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) 19 -----r--.---M-------ir------^ (請先閲讀背面之注$項再填寫本頁) 425553 A7 B7_ 五、發明説明(16 ) 顯示記憶體核心之子陣列SCMO與SCM1,它們在字元方 向(水平方向)上被分隔。字元解碼器30包含由多數個子晶 胞陣列所共用的主字元解碼器30M以及位於各個子晶胞陣 列中之子字元解碼器30S。1/4解碼器33亦包含共用1/4解 ‘碼器33M與位於各個子晶胞陣列中之子1/4字元解碼器33S 。列位址raaz與rabz、字元驅動器重設信號wdr與主字元 區塊啟動信號mbkeO與1被送到主字元解碼器33M,而字 元驅動器重設信號WDR、列位址raq與區塊選擇信號bks被 送到主1/4字元解碼器33M。用以選定子晶胞陣列SCM之 行位址rabOz與rbalz被送到各個子1/4字元解碼器30S與主 字元線MWL,而子1/4字元解碼器33S被送到子字元解碼 器 30S。 因此,多數子晶胞陣列之字元方向由主字元解碼器 30M加以選定。各主字元線MWL選擇四個子字元解碼器 30S,而各子字元解碼器30S由子1/4字元解碼器33S之輸出 加以選定。然而,在第7圊中,主字元線MWL僅有一個子 字元解碼器SWD。當子1/4字元解碼器33S由行位址rbaOz 與rbalz加以選定時,被選定的輸出會送到子字元解碼器 30S。因此,只有被主字元線MWL與子1/4字元解碼器33S 所選定的子字元解碼器30S會驅動子字元線SWL»由於子 字元線SWL分配到各個子晶胞陣列SCM,驅動速度會提 向。 位元線轉換解碼器31為轉換器控制電路,它包含主位 元線轉換解碼器31M與子位元線轉換解碼器31S,以及主 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210 X 297公釐) 裝 —訂 务 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 20 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 4 255 5 3 a? B7 五、發明説明(17 ) 位元線轉換解碼器31M,它接收區塊選擇信號bks與位元 線重設信號blr並輸出主位元線轉換信號MBLT。子位元線 轉換解碼器31S接收主位元線轉換信號MBLT以及行位址 rbaOz與rbalz,並輸出轉換控制信號MtO與1。因此,僅有 ‘子陣列中的位元線轉換閘BLT0與BLT1動作。 轉換控制信號b 110與1亦被送到位元線短路電路S Η1與 SH0 »因此,當位元線轉換閘BLT0保持動作狀態而其他位 元線轉換閘BLT1變成不動作,位元線之電晶體短路電路 SH0變成不動作並終止位元線對之短路。另一方面,當位 元線轉換閘BLT1保持動作狀態而其他位元線轉換閘BLT0 變成不動作,位元線短路電路SH1之電晶體變成不動作》 來自子位元線轉換閘31S之信號被送到箝位控制電路 45,而箝位控制信號brs在位元線轉換閘BLT0與BLT1之一 啟動時產生。 感測放大器啟動電路32包含主感測放大器啟動電路 32M與子感測放大器啟動電路32S,而主感測放大器啟動 電路32M接收主字元區塊啟動信號mbkeO與mbkel、主位 元線轉換信號MBLT0與MBLT1以及啟動時序信號tsa,並 產生主啟動信號MLE。子感測放大器啟動電路32S接收主 啟動信號MLE與來自箝位控制電路45之輸出,並提供感 測放大器啟動信號lex與lez至子晶胞陣列之感測放大器列 9 在第7圖中,行閘與資料匯流排線對被省略。 如前述,FCRAM之記憶體核心之特徵在於,記憶體 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS > A4见格(2丨0X2?7公釐) 21 -----:------¾-------1T------0 (諳先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部智慧財產局*K工消費合作社印製 4255 5 3 A7 __B7 五、發明説明(18 ) 核心在字元方向上被分割為數個子晶胞陣列SCM,而僅 有被選定的子晶胞陣列中的子字元線SWL會被驅動。因 此’被選定的子晶胞陣列中的位元線轉換閘BLT被控制, 且僅有被選定的子晶胞陣列中的感測放大器列、箝位器列 ‘與短路電路列會被驅動》因此,字元線驅動速度極快,感 測放大器啟動速度極快’且重設速度極快。利用此構造, 涉及行位址改變之隨機存取循環時間可減少。 第8圊為FCRAM之操作時序圖e FCRAM之構造特徵 為(1)管路操作係分級執行,其中第一級用以接收列位址 、行位址以及控制信號,並執行指令解碼操作’而第二級 啟動並重設字元線與感測放大器,(2)記憶體核心區分為 多數個子晶胞陣列,且僅有經行位址選定之子晶胞陣列之 子字元線與感測放大器會被啟動,(3)多數組脈衝長度的 資料會在感測放大器與第三級之間批次傳送。 以下根第8圖說明讀取操作。在與讀取指令rEAD同 步的狀態下’列位址Radd與行位址Cadd以非多路調制的 方式同時提供,或者以多路調制的方式在很短的時間内連 續提供。第一級100接收這些位址與控制信號並將控制信 號解碼《根據解碼的結果,第二級2〇〇解碼列位址與行位 址,驅動(啟動)字元線並驅動(啟動)感測放大器。基於前 述的第二項特徵,字元線與感測放大器之啟動操作的速度 提高》 在第二級300中’由感測放大器加以放大並鎖定之資 料經由區塊匯流排以4位元形式輸出至讀取/寫入緩衝器37 本紙張用117®目家標準(CNS ) ( 2丨〇\297公着) " -"~ ---I 裝 訂 線 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本百) Α7 Β7 425553 五、發明説明(19 ) 並被鎖定。此位元資料並列輸出至並列/串列轉換電路37 。並列/串列轉換電路37根據預定的脈衝長度以串列方式 輸出所需的資料數量。在第8圖的例子中,脈衝長度設定 為2 ’因而2位元資料由資料輸出接點DQ以串列方式輪出 * 〇 當4位元資料由在各區塊中由讀取/寫入緩衝器37輸出 至區塊中之並列/串列轉換電路37時,重設操作(預先充電 操作)在區塊中自動開始。易言之,字元線被抑制,感測 放大器被抑制’位元線與資料匯流排之電位被重設(預先 充電)。此種重設(預先充電)操作由第6圓之自動重設電路 18開始。由於多位元資料輸出至第三級300之行系統電路 ’感測電路之啟動時間可縮短,無論脈衝為何種長度。因 此’與傳統DRAM不一樣的是,字元線與感測放大器之啟 動狀態不需維持到脈衝長度的所有資料都輪出為止,而下 一個讀取指令的字元線與感測大器之啟動操作可就此開始 。易言之,如第8圖所示,在第二級200中,下一個指令的 字元線與感測放大器之啟動操作在字元線與感測放大器針 對第一讀取指令進行重設時即可開始。 如前述,基於FCRAM之構造,循環時間tRC小於存取 時間tRAC。易言之,透過採用第一級1〇〇與第二級2〇〇之 管線結構’接收並解碼下一個循環之位址與控制信號的程 序可提前展開,且透過改善記憶體核心以及從記憶體核心 以批次方式輸出多數位元的方式可縮短字元線與感測放大 器之啟動時間。因此,隨機存取操作時間可縮短β 本紙張从適用中國國家棣準(CNS )⑽緣(21GX297公董) -----r-----^-------1T------0 (請先聞讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部智慧財產局员工消費合作社印製 23 五 經濟部智慧財產局員工消費合作杜印製 :55 5 3 a? _B7_ *發明説明(20 ) 如第7圊所示,在前述FCRAM構造中,透過在各位元 線對配置位元線短路電路以便使各位元線對短路的方式可 提高位元線對之重設操作速度,而透過第一與第二位元線 對共用箝位器CLP與感測放大器SA的方式使配置有感測 -放大器之區域的區域效率提高。 第9圖為子位元線轉換解碼器與箝位器控制電路之電 路圖。位於上方的子位元線轉換解碼器(控制控制電路)31S 包含P通道電晶體P21與P22,N通道電晶體N21、N22與N23 ,以及反相器46與47。子位元線轉換解碼器產生轉換控制 信號bltO »位於底部的子位元線轉換解碼器(轉換控制電路 )31S具有類似的構造,並產生轉換控制信號bltl。子位元 線轉換解碼器31S連接至升壓電源Vpp,其電位大於内部 電源Vii,而輸出之轉換控制信號bltO與bltl之振幅為接地 電源Vss至升壓電源Vpp。 箝位器控制電路45具有NAND閘50,其輸入節點連接 至子位元線轉換解碼器31S,以及反相器51。箝位器控制 電路連接至升壓電源Vpp,而箝位控制信號brs之振幅亦為 接地電源Vss至升壓電源Vpp。 位元線轉換解碼器31S之操作為,主轉換控制信號 MBLT0被送到P通道電晶體P21與N通道電晶體N23,而前 述行位址rbaOz與rbalz被送到N通道電晶體N21與N22。 第10圖為第9圖之電圖的操作時序圖。以下根據第10 圖說明其操作。 在重設狀態下,主轉換控制信號MBLT0為L電位,電 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4规格(2丨0X297公釐) -----------装--------’訂------ (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 24 經濟部智慧財產局負工消費合作社印製 4 2 55 5 3 Α7 Β7 五、發明説明(21 ) 晶體P21導通,電晶體N23不導通,而節點nl為Η電位。同 樣地,主轉換控制信號MBLT1為L電位,而節點112為11電 位。因此,轉換控制信號bltO與bltl為Η電位。易言之,位 元線轉換閘BLT0與BLT1處於動作狀態,而兩組位元線對 被短路且重設。由於節點nl為Η電位,反相器46之輸出變 成L電位,電晶體Ρ22導通,節點nl之Η電位被鎖定。由於 節點nl與η2為Η電位,箝位器控制電路45之ΝΑΝΑ閘50之 輸出變成L電位,箝位器控制信號brs變成Η電位,位元線 箝位器CLP被驅動,而位元線對被限制在預先充電電壓。 在啟動狀態下,選定側之主轉換控制信號MBLT1在 時間tl時維持在L電位《因此,對應的轉換控制信號bltl 維持在Η電位,而對應的位元線轉換閘BLT1在連接位元線 對至感測放大器SA時保持在操作狀態。非選定側之主轉 換控制信號MBLT0變成Η電位。回應於此,電晶體Ν23導 通’而若位址rbaOz與rbalz處於Η電位,電晶體Ν21與Ν22 導通且節點nl變成L電位。因此,轉換控制信號bltO變成L 電位,對應的位元線轉換閘BLT0變成不動作,且在對應 侧的位元線對與感測放大器S A的連接中斷。同時*箝位 器控制信號brs變成L電位,而位元線籍位器CLP被抑制。 由於轉換控制信號bltO為L電位,選定側之位元線對上的 位疋線短路電路變成不導通。 若位址rbaOz與rbalz之中至少有一個處於L電位,則 電晶體N21與N22之一會變成不導通,節點n2之Η電位會 由於閂鎖作用而保持,且輸出bltl保持在Η電位。易言之 本紙狀度適用中關家棣準(CNS )从胁(2iGxw公着) 25 ----r------^------ΤΓ------# (請先閔讀背面之注項再填寫本頁} 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 4 2 55 5 3 A7 _______B7_ 五、發明説明(22 ) ’在未被選定的子晶陣列SCM中,轉換控制信號不會被 驅動’而箝位器控制信號brs亦保持在Η電位。 在時間t2時,主轉換控制信號MBLT1變成Η電位。在 此’轉換控制信號bltl變成L電位,對應之位元線轉換閘 BLT1變成不動作,而位元線對與感測放大器δΑ之連接中
斷。同時’箝位器控制信號brs變成L電位,抑制箝位器CLP 〇 · 子位元線轉換解碼器31S連接至升壓電源Vpp,而轉 換控制信號bltO與bltl被驅動至升壓電泺電位Vpp。因此, 位元線轉換閘BLT之電晶艘閘之電位變成升壓電位Vpp, 而感測放大器SA可驅動一個位元線的電位至内部電源電 位Vii。箝位器控制信號BRS亦被驅動至升壓電源電位Vpp 〇 第Π圖為子位元線轉換解碼器與箝位器控制電路之另 一實例之電路圖。相同標號用以標示與第9圖相同的元件 。第11圊之實例與第9圖之電路的差異在於,箝位器控制 電路45不連接至升壓電源Vpp,而是連接至内部電源Vii, 其電壓小於Vpp ^其他構造完全相同。升壓電源Vpp係對 外部電源Vcc進行升壓所產生。利用升壓電源Vpp可產生 較低的電源Vii。因此,Vpp> Vcc,而Vpp> Vii。 位元線箝位器CLP用以將位元線對之電位限制於預先 充電電位Vii/2,此為内部電涿Vii的一半,而轉換器之閘 電壓不需要設定為升壓電位Vpp 因此,在第11囷的例子 中,較低的内部電源Vii被選定為箝位器控制電路45之電 本紙張尺度適用中國固家揉準(CNS ) A4規格(210X297公釐) 26 I---^------装------tr------i (請先聞讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 4255 5 3 A7 _____B7____ 五、發明説明(23 ) 源,使箝位器控制信號brs之Η電位為内部電源電位Vii * 此電位小於升壓電位Vpp,因此,電力消耗降低。這代表 升壓電源Vpp之電流消耗可減少。在FCRAM中,減少電 力消耗相當重要》易言之,對具有較短循環時間的FCRAM -而言’内部重設操作與主動操作之循環較短。這會提高整 體電力消耗。因此,對FCRAM而言*儘可能使用第II圓 之電路以降低電力消耗的做法相當重要。 第12圖為子位元線轉換解碼器與箝位器控制電路之另 一實例之電路囷。相同標號用以標示與第9圖相同的元件 。在第12圊中,用以產生位元線短路電路之控制信號bltO 與bltl之反相器60、61、62與63被加在子位元線轉換解碼 器31S中。反相器60至63係連接至内部電源Vii而非升壓電 源Vpp。因此,用於短路電路(SH)之控制信號bltO與bltl只 被驅動至内部電源電位Vii »因此,電力消耗可降低。就 位元線短路電路而言,第3圖中之電晶體N40與N41之閘電 壓可為内部電源電壓Vii以操作位元線對。 如前述,根據本發明,位元線短路電路位於各位元線 對且位元線箝位器針對位元線對而共同配置,位元線對之 重設操作速度可提高且區域效率可改善。 前述構造應用於FCRAM時可大幅降低FCRAM之循環 時間β 本紙張尺度適用中國國家梯準(CNS } Α4規格(2丨0X297公釐) 27 -----:------^------1Τ------i (請先Μ讀背面之注意事項再填寫本頁) 4 255 5 3 A7 _B7 五、發明説明(24) 元件標號對照 10… 時鐘輸入緩衝器 1卜· 緩衝器 •12·, 緩衝器 13·· 緩衝器 14- 指令解碼器 15- 模式暫存器 16·· RAS產生器 17- 控制單元 18·· 自動重設電路 19·· 字元預解碼器 20.· 區塊解碼器 22·· 行預解碼器 24·· 資料等待時間計數器 30·, 字元解碼器 31·· 位元線轉換解碼器 32- 感測放大器啟動電路 33.· 1/4解碼器 34.· 行解碼器 35·· 行系統控制器單元 經濟部智慧財產局貝工消費合作社印製 36…緩衝電路 37…讀取側並列/串列轉換 電路 38…輸出緩衝器 40···記憶艘核心 42…寫入側串列/並列轉換 電路 44…資料輸入緩衝器 46…反相器 47…反相器 50...NAND 閘 51…反相器 60…反相器 61…反相器 62…反相器 63…反相器 100·.第一級 200…第二級 300".第三級 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 28 本紙張尺度適用中囷圉家標準(CNS ) A4規格(2IOX297公釐)

Claims (1)

  1. 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 六、申請專利範圍 1. 一種記憶體電巧,具有多數條字元線與多數位元線對 ,且記憶體晶胞位於字元線與位元線對之交又位置, 該記憶體電路包含: 感測放大器,由配置於行方向上的第一位元線對 *與第二位元線對所共用,並放大位元線對之電壓; 第一與第二位元線轉換閘,分別位於該感測放大 器與第一及第二位元線對之間,並將被選定之記憶趙 晶胞侧的位元線對連接至該感測放大器; 位元線箝位器,位於該第_與第二位元線轉換閘 之間,由該第一位元線對與第二位元線對共用,並提 供預先充電電位至位元線對;與 位元線短路電路,位於該第一與第二位元線對之 間,並將位元線對短路。 2. 如申請專利範圍第1項之記憶體電路γ,還包含行閉,該 行閘由該第一與第二位元線對所共用’並提供該等位 元線對之信號至資料匯流排線對》 3·/如申請專利範圍第1或2項之記憶體電路,其中用以驅 動該感測放大器之感測放大器驅動器係用於多數個感 測放大器。 4.)如申請專利範圍第1或2項之記憶體電路,還包含第一 與第二轉換控制電路,可產生第一與第二轉換控制信 號,用以導通該第一與第二位元線轉換閘,其中該第 二與第一位元線短路電路根據該第一與第二轉換控制 信號進行操作。 本纸張尺度適用中國國家標準(CNS>A4規格(210 X 297公釐) 29 -------裝! —訂---------線 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) A8 B8 C8 D8 4255 5 3 六、申請專利範圍 5. 如申請專利範圍第丨或2項之記憶體電路,其中用以控 制該位元線箝位器之箝位器控制信號係根據用以控制 該第一與第二位元線短路電路之第一與第二短路控制 信號而產生》 6. 如申請專利範圍第之記憶體電路,還包含第一内部 電源,其中 該感測放大器牌該等位元線對之一之電壓放大至 該第一内部電源電位; 該第一與第二位元線轉換閘包含位於該感測放大 器與該第一與第二位元線對之間的轉換電晶體,用以 驅動轉換電晶艘之轉換控制信號之電位被控制在大於 該第一内部電源電位的水準; 該位元線箝位器包含位於該預先充電電位接點與 該等位元線對之間的箝位器電晶體,用以驅動箝位器 電晶體之箝位器控制信號之電位被控制在小於轉換控 制信號的水準》 7. 如申請專利範圍第1項記憶體電路,還包含第一内部電 源,其中 該感測放大器將該等位元線對之一之電麈放大至 該第一内部電源電位; 該第一與第二位元線轉換閘包含位於該感測放大 器與該第一與第二位元線對之轉換電晶體,用以驅動 轉換電晶體之轉換控制信號被控制在大於該第一内部 電源電位的水準; 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) -----1-------裝-----—訂---------線 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 30 " 4 255 5 3 gf C8 _____D8 六、申請專利範圍 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 該位元線短路電路包含位於該等位元線對之間的 短路電晶體,用以驅動短路電晶體之短路控制信號被 控制在小於轉換控制信號的水準。 8_ —種記憶體電路,其中第一級用以解碼指令,第二級 .用以啟動感測放大器,第三級用以輸入與輸出資料, 此三級電路係以管路方式配置,多數資料在感測放大 器與第二級之間以並列方式傳送,該記憶體電路包含 多數個子晶胞陣列,它們在字元方向上被分割, 並具有多數個記憶體晶胞,多數條字元線與多數組位 元線對, 其中該子晶胞降列包含: 感測放大器’它由行方向配置之第一位元線對與 第二位元線對所共用,並放大位元線對之電壓; 第一與第二位元線轉換閘’位於感測放大器與第 一及第二位元線對之間,並將選定記憶體晶胞之位元 線對連接至感測放大器; 經濟部智慧財產局員工消費合作社印制衣 位元線箝位器,位於第一與第二位元線轉換閘之 間’由第一位元線對與第二位元線對所共用,並提供 預先充電電位至位元線對;與 位元線短路電路,位於該第一與第二位元線對之 間並將位元線對巷短路。 9.如申請專利範圍第8項之記憶體電路,還包含行閘,它 由第一與第二位元線對共用,並提供該位元線對之信 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(21〇 x 297公釐) 31 A8 B8 C8 D8 六、申請專利範圍 號至資料匯流排線對。 10‘如申請專利範圍第8或9項之記憶體電路,其中用以控 制位元線轉換閘之轉換控制信號係由第一電壓所驅動 ’而用以控制位元線箝位器之箝位器控制信號係由小 * 於該第一電壓之電壓加以驅動》 11.如申請專利範圍第8或9項之記憶趙電路,其中用以控 制位元線轉換閘之轉換控制信號係由第一電壓所驅動 ’而用以控制位元線短路電路之短路控制信號係由小 於該第一電壓之電壓加以驅動。 -------------裝— (請先Μ讀背面之注意事項再填寫本買) 訂---------線 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 32 本纸張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐)
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