[go: up one dir, main page]

TW201342043A - 測試裝置 - Google Patents

測試裝置 Download PDF

Info

Publication number
TW201342043A
TW201342043A TW101120029A TW101120029A TW201342043A TW 201342043 A TW201342043 A TW 201342043A TW 101120029 A TW101120029 A TW 101120029A TW 101120029 A TW101120029 A TW 101120029A TW 201342043 A TW201342043 A TW 201342043A
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
connector
signal
pin
capacitor
electrically connected
Prior art date
Application number
TW101120029A
Other languages
English (en)
Inventor
Tai-Chen Wang
Rui Wu
Liang Wang
zhi-yong Zhao
xiao-wei Fu
Chun-Liu Luo
Original Assignee
Hongfujin Prec Ind Wuhan
Hon Hai Prec Ind Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hongfujin Prec Ind Wuhan, Hon Hai Prec Ind Co Ltd filed Critical Hongfujin Prec Ind Wuhan
Publication of TW201342043A publication Critical patent/TW201342043A/zh

Links

Landscapes

  • Details Of Connecting Devices For Male And Female Coupling (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Abstract

一種測試裝置,包括用於連接電子設備的PS/2介面的第一連接器、用於連接PS/2設備的PS/2介面的第二連接器及測試電路,測試電路包括第一及第二電阻、第一及第二電容,第一電容的第一端透過第一電阻與第一連接器相連,並與第二連接器相連,第二電容的第一端透過第二電阻與第一連接器相連,並與第二連接器相連,第一及第二電容的第二端均接地,第一電容的第一及第二端分別設有一用於導出第一訊號的訊號導出端,第二電容的第一及第二端分別設有一用於導出第二訊號的訊號導出端。

Description

測試裝置
本發明係關於一種測試裝置,尤指一種測試PS/2(personal system/2,個人系統/2)訊號的測試裝置。
為了保證電子設備(如電腦)的品質,測試人員需對電子設備進行各種測試。當對PS/2介面中傳輸的PS/2訊號進行測試時,測試人員通常是先打開電子設備的機箱,以在主機板上找到PS/2訊號的輸出點,然後在輸出點上焊接訊號線,以將PS/2訊號引出,訊號線還需透過10米線纜與PS/2設備(如滑鼠、鍵盤)相連,然後才能開始正式的測試。顯然,上述測試方法不僅過程繁瑣,而且多次焊接會對主機板造成損壞。
鑒於以上內容,有必要提供一種能使PS/2訊號的測試過程簡單且不會損壞主機板的測試裝置。
一種測試裝置,包括一用於連接一電子設備的PS/2介面的第一連接器、一用於連接一PS/2設備的PS/2介面的第二連接器及一測試電路,該測試電路包括一第一電阻、一第二電阻、一第一電容及一第二電容,該第一電容的第一端透過該第一電阻與該第一連接器的第一引腳電性相連,並與該第二連接器的第一引腳電性相連,該第二電容的第一端透過該第二電阻與該第一連接器的第二引腳電性相連,並與該第二連接器的第二引腳電性相連,該第一及第二電容的第二端接地,該第一電容的第一端設有一第一訊號導出端,該第一電容的第二端設有一第二訊號導出端,該第二電容的第一端設有一第三訊號導出端,該第二電容的第二端設有一第四訊號導出端,該第一及第二訊號導出端用於導出一第一訊號,該第三及第四輸出端用於導出一第二訊號。
本發明測試裝置透過設置該第一及第二連接器來與該電子設備上PS/2介面及該PS/2設備的PS/2介面相連,以接收該第一及第二訊號,並透過設置該第一及第二電阻來模擬負載,且透過在該第一電容的兩端設置該第一及第二訊號導出端來導出該第一訊號,還透過在該第二電容的兩端設置該第三及第四訊號導出端來導出該第二訊號,以配合一電子測試儀器完成對該第一及第二訊號的測試,從而使PS/2訊號的測試過程簡單且不會損壞該電子設備的主機板。
請一併參閱圖1至圖3,本發明測試裝置100用於測試一電子設備(如電腦)200的PS/2(personal system/2,個人系統/2)介面200與一PS/2設備(如滑鼠、鍵盤)500的PS/2介面520中傳輸的PS/2訊號,該測試裝置100的較佳實施方式包括一電路板110、一第一連接器120、一測試電路130及一第二連接器150。該第一連接器120及第二連接器150均與該電路板110相連,該測試電路130設於該電路板110上。該第一連接器120用於與該電子設備200的PS/2介面220相連。該第二連接器150用於與該PS/2設備500的PS/2介面520相連。在本實施方式中,該PS/2訊號包括一資料訊號、一時鐘訊號、一電源訊號及一接地訊號。由於電源訊號及接地訊號的電壓值均為定值,不需測量,故,本實施方式只對該PS/2訊號中的資料訊號及時鐘訊號進行測量。
如圖2所示,該第一連接器120包括一用於傳輸資料訊號的資料引腳121、一用於傳輸時鐘訊號的時鐘引腳122、一用於傳輸電源訊號的電源引腳125及一接地引腳126。該第二連接器150包括一用於傳輸資料訊號的資料引腳151、一用於傳輸時鐘訊號的時鐘引腳152、一用於傳輸電源訊號的電源引腳155及一接地引腳156。該測試電路130包括兩電阻R1、R2及兩電容C1、C2。該電容C1的第一端透過該電阻R1與該第一連接器120的資料引腳121電性相連,並與該第二連接器150的資料引腳151電性相連。該電容C2的第一端透過該電阻R2與該第一連接器120的時鐘引腳122電性相連,並與該第二連接器150的時鐘引腳152電性相連。該電容C1、C2的第二端均接地。該電容C1的第一端設有一訊號導出端131,該電容C1的第二端設有一訊號導出端132。該電容C2的第一端設有一訊號導出端135,該電容C2的第二端設有一訊號導出端136。該第一連接器120的電源引腳125與該第二連接器150的電源引腳155電性相連。該第一連接器120的接地引腳126與該第二連接器150的接地引腳156電性相連。
在本實施方式中,該第一連接器120為一PS/2公頭連接器,該電子設備200的PS/2介面為一母頭連接器,該第二連接器150為一PS/2母頭連接器,該PS/2設備的PS/2介面為一公頭連接器。該電阻R1、R2用於模擬10米線纜的負載。該電容C1、C2用於濾除雜訊。該訊號導出端131、132、135、136均為針腳,且均用於與一電子測試儀器(如圖3所示的示波器300)的探針相連。在其他實施方式中,該訊號導出端131、132、135、136均可為焊盤。
請再次參閱圖3,測試時,將該第一連接器120與該電子設備200的PS/2介面220相連,該第二連接器150與該PS/2設備500的PS/2介面520相連。此時,該第一連接器120的資料引腳121、時鐘引腳122、電源引腳125及接地引腳126分別與該電子設備200的PS/2介面220中相應的引腳相連,該第二連接器150的資料引腳151、時鐘引腳152、電源引腳155及接地引腳156分別與該PS/2設備500的PS/2介面520中相應的引腳相連,該電子設備200的PS/2介面220透過該第一連接器120、該測試電路130及該第二連接器150與該PS/2設備500的PS/2介面520進行通訊。再將該示波器300的兩探針320、360分別與兩訊號導出端131、132相連,即可對該電子設備200的PS/2介面220與該PS/2設備500的PS/2介面520中傳輸的資料訊號進行測量;將該示波器300的兩探針320、360分別與兩訊號導出端135、136相連,即可對該電子設備200的PS/2介面220與該PS/2設備500的PS/2介面520中傳輸的時鐘訊號進行測量,從而完成對該PS/2訊號的測試。
本發明測試裝置100透過設置該第一連接器120及該第二連接器150來連接該電子設備200的PS/2介面220及該PS/2設備500的PS/2介面520,並透過設置該電阻R1、R2來模擬負載,且透過在該電容C1的兩端設置該訊號導出端131、132來將該電子設備200的PS/2介面220與該PS/2設備500的PS/2介面520中傳輸的資料訊號導出給該示波器300,還透過在該電容C2的兩端設置該訊號導出端135、136來將該電子設備200的PS/2介面220與該PS/2設備500的PS/2介面520中傳輸的時鐘訊號導出給該示波器300,以完成對該PS/2訊號的測試,從而使該PS/2訊號的測試過程簡單且不會損壞該電子設備200中的主機板。
綜上所述,本發明確已符合發明專利的要件,爰依法提出專利申請。惟,以上所述者僅為本發明的較佳實施方式,本發明的範圍並不以上述實施方式為限,舉凡熟悉本案技藝的人士援依本發明的精神所作的等效修飾或變化,皆應涵蓋於以下申請專利範圍內。
100...測試裝置
110...電路板
120...第一連接器
121、151...資料引腳
122、152...時鐘引腳
125、155...電源引腳
126、156...接地引腳
130...測試電路
131、132、135、136...訊號導出端
150...第二連接器
200...電子設備
220、520...PS/2介面
300...示波器
320、360...探針
500...PS/2設備
R1、R2...電阻
C1、C2...電容
圖1係本發明測試裝置較佳實施方式的示意圖。
圖2係本發明測試裝置較佳實施方式的電路圖。
圖3係本發明測試裝置的較佳實施方式測試PS/2訊號時的示意圖。
100...測試裝置
110...電路板
120...第一連接器
150...第二連接器
R1、R2...電阻
C1、C2...電容

Claims (8)

  1. 一種測試裝置,包括一用於連接一電子設備的PS/2介面的第一連接器、一用於連接一PS/2設備的PS/2介面的第二連接器及一測試電路,該測試電路包括一第一電阻、一第二電阻、一第一電容及一第二電容,該第一電容的第一端透過該第一電阻與該第一連接器的第一引腳電性相連,並與該第二連接器的第一引腳電性相連,該第二電容的第一端透過該第二電阻與該第一連接器的第二引腳電性相連,並與該第二連接器的第二引腳電性相連,該第一及第二電容的第二端接地,該第一電容的第一端設有一第一訊號導出端,該第一電容的第二端設有一第二訊號導出端,該第二電容的第一端設有一第三訊號導出端,該第二電容的第二端設有一第四訊號導出端,該第一及第二訊號導出端用於導出一第一訊號,該第三及第四輸出端用於導出一第二訊號。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之測試裝置,其中該第一及第二連接器均包括一資料引腳、一時鐘引腳、一電源引腳及一接地引腳,該第一連接器的資料引腳作為其第一引腳,並透過該第一電阻與該第一電容的第一端電性相連,該第一連接器的時鐘引腳作為其第二引腳,並透過該第二電阻與該第二電容的第一端電性相連,該第一連接器的電源引腳與該第二連接器的電源引腳電性相連,該第一連接器的接地引腳與該第二連接器的接地引腳電性相連,該第二連接器的資料引腳作為其第一引腳與該第一電容的第一端電性相連,該第二連接器的時鐘引腳作為其第二引腳與該第二電容的第一端電性相連。
  3. 如申請專利範圍第2項所述之測試裝置,其中該第一訊號為資料訊號,該第二訊號為時鐘訊號。
  4. 如申請專利範圍第1項所述之測試裝置,其中該第一連接器為PS/2公頭連接器,該第二連接器為PS/2母頭連接器。
  5. 如申請專利範圍第1項所述之測試裝置,其中該第一及第二訊號導出端可與一電子測試儀器相連,以透過該電子測試儀器對該第一訊號進行測量,該第三及第四訊號導出端可與該電子測試儀器相連,以透過該電子測試儀器對該第二訊號進行測量。
  6. 如申請專利範圍第1項所述之測試裝置,其中該第一至第四訊號導出端均為針腳。
  7. 如申請專利範圍第1項所述之測試裝置,其中該第一至第四訊號導出端均為焊盤。
  8. 如申請專利範圍第1項所述之測試裝置,其中該第一及第二電阻用於模擬負載,該第一及第二電容用於濾除雜訊。
TW101120029A 2012-04-11 2012-06-04 測試裝置 TW201342043A (zh)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN2012101044031A CN103365752A (zh) 2012-04-11 2012-04-11 测试装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
TW201342043A true TW201342043A (zh) 2013-10-16

Family

ID=49367166

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW101120029A TW201342043A (zh) 2012-04-11 2012-06-04 測試裝置

Country Status (2)

Country Link
CN (1) CN103365752A (zh)
TW (1) TW201342043A (zh)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN114323626A (zh) * 2022-01-17 2022-04-12 广东博力威科技股份有限公司 连接器的可靠性测试装置及方法

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5085534B2 (ja) * 2005-04-27 2012-11-28 エイアー テスト システムズ 電子デバイスを試験するための装置
CN100383752C (zh) * 2005-11-02 2008-04-23 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 Rs232端口测试装置
CN101752013B (zh) * 2008-12-04 2013-03-20 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 测试装置
CN102403625A (zh) * 2010-09-08 2012-04-04 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 连接器组合

Also Published As

Publication number Publication date
CN103365752A (zh) 2013-10-23

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US8081004B2 (en) Testing card for peripheral component interconnect interfaces
CN109406839B (zh) 一种信号测试治具、系统及测试方法
TWI440864B (zh) 訊號測試裝置
CN107145416A (zh) 一种支持ocp接口的pcie信号测试方法及测试治具系统
CN102339251A (zh) 测试系统及其usb接口测试连接卡
CN112286744A (zh) 一种中央处理器物理信号电气特性测试装置、系统及方法
CN108107237A (zh) 一种Slimline接口的SATA信号测试治具及测试方法
CN108363648B (zh) 一种检测板内usb3.0信号的系统和方法
CN102650677A (zh) Pci-e信号测试装置
CN105652088B (zh) 外置接口接触阻抗的测试装置
CN102411528A (zh) Mxm接口测试连接卡及具有该测试连接卡的测试系统
TW201342043A (zh) 測試裝置
US9395808B2 (en) Identification system, physical apparatus, identification apparatus, and identification method of physical apparatus
CN104777360A (zh) 去嵌入的测试方法
CN101752013B (zh) 测试装置
US9622336B2 (en) Releasable probe connection
CN110764029A (zh) 一种单端检测pcba中连接器引脚是否虚焊的装置及方法
CN102141952A (zh) 系统管理总线测试装置
CN206292322U (zh) 一种连接器测量装置
CN103901249A (zh) 接口信号测试装置
CN103455400A (zh) 一种测试内存smi2信号的方法
TW201321762A (zh) 測試治具
TW201024756A (en) Testing apparatus
US20240385275A1 (en) Process and system for characterizing a fixture component of a test fixture
CN114252703B (zh) 移除治具板上传输线远端串扰影响的方法、装置、系统