TW201325263A - 多個屏障的測試器具以及利用其的測試方法 - Google Patents

Abstract

一種測試器具，包括：一第一屏障結構；一第二屏障結構；一間隙，其設置在該第一屏障結構與該第二屏障結構之間；至少一隔離器，其設置於該間隙中，該隔離器被組態以將該第一屏障結構耦接至該第二屏障結構；以及一測試器具台，其設置在該第二屏障結構中，且被組態以具有耦接至其之音響裝置。該第一屏障結構、該第二屏障結構、該間隙、以及該至少一隔離器會作用且有效地減輕該測試器具之振動，且對於在該測試器具台之該音響裝置提供聲音隔離，以避免來自該測試器具外之聲音或振動能量。

Description

多個屏障的測試器具以及利用其的測試方法

本發明有關一種測試器具，以及更特別有關於一種測試器具，其被組態以測試音響裝置。

在這許多年來，各種音響裝置(例如，麥克風與接收器)被廣泛地使用。在這些裝置中，不同電性組件在一殼體或組裝容納在一起。例如，麥克風典型地包括：一振動膜(diaphragm)與背板(還有其他組件)，且此等組件在一殼體中設置在一起。其他型式音響裝置例如接收器可以包括其他型式組件。

音響裝置可以使用於各種形式環境中，且具有各種型式裝置或設置於各種型式裝置中。例如，麥克風與擴音器可以使用於各種裝置中：助聽器、個人電腦、以及可攜式電子裝置。須要此等裝置在預定服務範圍中提供可靠服務。例如，在助聽器內典型地須要麥克風，以便於其服務範圍中操作。

在最後組裝成最終裝置之前，經常必須對此等音響裝置實施各種測試。例如，可以實施各種測試，以判斷此等裝置是否可以適當地操作。有關於此舉例而言，可以藉由起動此等裝置且測試其操作與頻率響應，以測試麥克風。

與此先前測試環境有關之問題是，在測試期間存在噪音與振動。此噪音與振動會影響測試結果，例如會造成不準確之測試結果。不幸的是，先前之測試器具經常不足以避免此種問題。因此，測試經常提供不準確測試結果，以使得實際上有瑕疵之裝置被釋出。此種先前測試方式造成使用者之不滿。

本發明揭示一測試器具可以包括：多個屏障結構、殼體、或次殼體，以屏障被測試裝置，而防止振動與噪音。如同在此所使用，此名詞「屏障結構」是指一種結構、殼體、或類似配置，其包括測試器具台，其圍繞其他屏障結構。此屏障結構各較佳為密封(當關閉時)，且在一例中為中空矩形箱形結構。然而，應瞭解，此屏障結構可以有許多形狀(除了矩形與正方形之外，可以有圓柱形或圓形)，且此結構可以具有各種尺寸。亦應瞭解，各種接線或其他導電體可以經由此屏障結構延伸，以耦接此待測試結構，且允許測試發生。

在許多此等實施例中，可以使用一種減振材料將此等屏障結構彼此實體地隔離，其僅提供相鄰屏障結構間之耦接。在一例中，使用黏且彈性聚合物基板作為減振材料，而使用於多個屏障之間。

在其他此等實施例中，此測試器具包括：一第一屏障結構；一第二屏障結構、在第一屏障結構與第二屏障結構間之間隙；至少一隔離器，其設置於此間隙中，該隔離器被組態將第一屏障結構耦接至第二屏障結構；以及一測試器具台，其設置在第二屏障結構中且被組態以具有耦接至其的音響裝置。此第一屏障結構、此第二屏障結構、此間隙、以及此至少一隔離器會作用且有效於減輕此器具之振動，且對於在此測試器具台之音響裝置提供聲音隔離，以避免來自器具外之聲音及/或振動能量。在此等例中，「振動能量」是指：耦接於測試器具中而來自環境或來自機器之任何機械能量。

在其他觀點中，測試器具包括兩個或更多個屏障結構。此第一屏障結構為外部屏障結構，且此屏障結構至少部份地圍繞或包圍一內部屏障結構。在此內部屏障結構中為一安裝機構或測試器具台，在此處設置各種待測試音響裝置。內部屏障結構與測試器具台一起形成測試器具之內部核心。當此測試器具是在開啟位置時，此內部核心牢固地固定(例如，藉由一機械機構)，以便提供一個一致位置，用於將此被測試部份插入此測試器具或從其移除。當此測試器具關閉而開始測試時，此內部核心僅經由此減振材料裝附於外部屏障結構(且撓性佈線以提供電性連接)，且此對被測試裝置提供最大聲音隔離。此減振材料吸收振動且會作用以將此被測試裝置隔離以防止測試器具或環境之振動。可以使用任何數目之屏障結構以圍繞此內部核心。

現在參考以下詳細說明與所附圖式，以便獲得對本發明更完整理解。

熟習此技術人士瞭解，在此等圖式中所說明元件是為了簡單且明確，且應進一步瞭解，某些行動/步驟可以所發生特定順序說明或描述，而熟習此技術人士瞭解，實際上並不須要特定順序。亦應瞭解，除非另外說明之特定意義，在此所說明名詞與用語具有在各相對應查詢與研究領域中之一般意義。

現在參考圖1至4，以說明測試器具100之一例。此測試器具100包括：一第一屏障結構102與一第二屏障結構104。此第一屏障結構102包括：一第一屏障上半部110與一第一屏障下半部112；此第二屏障結構104包括：一第二屏障上半部114與一第二屏障下半部116。隔離器118連接此第一屏障結構102與第二屏障結構104。一測試器具台(於圖1-5中未顯示)設置於第二屏障結構104中。可以將待測試裝置例如麥克風與擴音器，設置於此測試器具台上。

屏障結構102與104可以由金屬例如鐵或鋼構成，亦可以使用其他例子之材料。一空氣間隙106設置介於第一屏障結構102與第二屏障結構104之間。應瞭解，可以將其他材料設置介於此兩個屏障結構102與104之間，或可以使用真空介於此兩個屏障結構之間。

應瞭解，此第一屏障結構102提供一外部屏障，且此屏障至少部份地包圍或圍繞此第二與內部屏障結構104。此第二屏障結構104之底部部份116與測試器具台一起形成內部核心。為了開啟此測試器具100，將各上半部去除(一起或一個一個地)，以曝露在內部核心中之測試器具台，且允許使用者將裝置設置在測試器具台或測試器具台上。

當此測試器具100是在開啟位置時，此內部核心牢固地固定，以便提供一個一致位置，用於將此被測試部份插入此測試器具100中或從其移除。當將此測試器具100關閉而開始測試時，此內部核心104僅經由此隔離器18裝附於外殼體102(且撓性佈線以提供電性連接)，且此對被測試裝置提供最大隔離。換句話說，此來自測試器具100外之測試器具100振動及/或聲音能量會被防止以免影響此被測試裝置(或實質上減少或去除)。此隔離器118提供用於防震之墊，且屏障結構102與104間之空氣(或真空或其他材料)提供用於在內部核心中被測試裝置之聲音隔離，以防止不想要之聲音能量。在其他方面，屏障結構102與104可以屏蔽被測試部份以防止電磁幅射，因為電磁幅射會不利地影響測試。

在一例中，隔離器118是由黏且彈性聚合物構成，且可以形成圓柱體形狀或任何其他方便結構，亦可以使用其他材料。可以使用具有足夠寬度之空氣間隙，以避免屏障彼此接觸。亦可使用其他尺寸。應瞭解，此空氣間隙可以填滿或部份填滿另一種材料，例如可以使用黏且彈性聚合物或真空。

現在參考圖5至8，以說明測試器具500之另一例。此測試器具500包括：一第一屏障結構502、一第二屏障結構504、以及一第三屏障結構505。此第一屏障結構502包括：一第一屏障上半部510與一第一屏障下半部512。此第二屏障結構504包括：一第二屏障上半部514與一第二屏障下半部516。此第三屏障結構505包括：一第三屏障上半部515與一第三屏障下半部517。隔離器518連接此第一屏障結構502與第二屏障結構504。隔離器518亦連接此第二屏障結構504與第三屏障結構505。一測試器具台(於圖5-8中未顯示)設置於第三屏障結構505中。可以將待測試裝置例如麥克風與擴音器，置於此測試器具台上。

屏障結構502、504、以及505可以由金屬例如鐵或鋼構成，亦可以使用其他例子之材料。一空氣間隙506設置介於第一屏障結構502與第二屏障結構504之間。一空氣間隙509設置介於第二屏障結構504與第三屏障結構505之間。應瞭解，可以將其他材料設置介於此兩個屏障結構502與504之間、以及屏障結構504與505之間，或可以真空置於以上屏障結構之間。

應瞭解，此第一屏障結構502為一外部屏障結構，且此屏障結構至少部份地包圍或圍繞此第二屏障結構504。因此，此第二屏障結構504至少部份地包圍或圍繞此第三屏障結構505。此第三屏障結構505之下部517與測試器具台一起形成內部核心。當此測試器具500是在開啟位置時，此內部核心牢固地固定，以便提供一個一致位置，用於將此被測試部份插入此測試器具或從其移除。當此測試器具500關閉而開始測試時，此內部核心505僅經由此隔離器518裝附於屏障結構504(且撓性佈線以提供電性連接)，第二屏障結構504僅經由隔離器518連接至第一屏障結構502，且此配置對此被測試裝置提供最大隔離。換句話說，此測試器具500之振動由隔離器518吸收或實質上吸收，藉由空氣間隙506與509以及屏障結構以避免或實質上避免此來自測試器具100外之聲音能量進入內部核心中。更特定而言，隔離器518提供用於防震之墊，且屏障結構502與504間之空氣(或其他材料)提供對於此在內部核心中被測試裝置之隔離，以隔離會影響測試器具500之振動，以及來自測試器具外之聲音能量。在其他方面，屏障結構502、504、以及505亦可屏蔽被測試部份以防止電磁幅射，因為電磁幅射會不利地影響測試。

在一例中，隔離器518是由黏且彈性聚合物構成，且可以形成圓柱體形狀或任何其他方便結構，亦可以使用其他材料。可以使用具有足夠寬度之空氣間隙，以避免屏障彼此接觸。亦可使用其他尺寸。應瞭解，此空氣間隙可以另一種材料填滿或部份填滿，例如可以使用黏且彈性聚合物或真空將其填滿。

現在參考圖9至15，以說明測試器具900之另一例。此測試器具900包括：一第一屏障結構902與一第二屏障結構904。此第一屏障結構902包括：一第一屏障上半部910與一第一屏障下半部912。此第二屏障結構904包括：一第二屏障上半部914與一第二屏障下半部916。隔離器918連接此第一屏障結構902與第二屏障結構904。一測試器具台930設置於第二屏障結構904中。在此測試器具台930或其上設置待測試裝置(未圖示)，其例如為麥克風或擴音器。連接器932將外部測試源(例如：電壓或電流源)耦接至待測試裝置。應瞭解，可以提供從連接器至測試器具台930之各種內部電性連接，但為了簡單起見，在此處並未顯示此等連接。

屏障結構902與904可以由鋼或鐵構成，亦可以使用其他例子之材料。一空氣間隙906設置介於第一屏障結構902與第二屏障結構904之間。應瞭解，可以將其他材料設置介於此兩個屏障結構902與904，或可以使用真空介於此兩個屏障結構之間。

應瞭解，此第一屏障結構902為一外部屏障結構，且此屏障結構至少部份地包圍或圍繞此第二與內部屏障結構904。當此測試器具900是在開啟位置時，此測試器具台930牢固地固定，以便提供一個一致位置，用於將此被測試部份插入此測試器具或從其移除。此屏障結構904之下半部916與測試器具台930一起形成內部核心。當此測試器具關閉且開始測試時，此內部核心僅經由此隔離器918裝附於外部屏障結構902(且撓性佈線以提供電性連接)，且此提供用於測試裝置之最大隔離。換句話說，防止此測試器具900振動及/或來自此測試器具900外之聲音能量影響此測試裝置。事實上，隔離器918提供用於防止振動之墊，且屏障結構902與904間之空氣(或其他材料)間隙提供對於此在內部核心中被測試裝置之聲音隔離，以防止非所欲之聲音能量。在其他方面，屏障結構902與904亦可屏蔽測試部份防止電磁幅射，因為其亦會不利地影響測試。

在一例中，隔離器918是由黏且彈性聚合物構成，且可以形成圓柱體形狀或任何其他方便結構，亦可以使用其他材料。在其他例中，空氣間隙906大約為一英寸寬。亦可使用其他尺寸。應瞭解，此空氣間隙可以另一種材料例如黏且彈性聚合物或真空填滿或部份填滿。

現在參考圖16，以說明用於測試音響裝置方法之一例。在步驟1602，開啟此測試器具。此測試器具包括：一第一屏障結構；一第二屏障結構；在第一屏障結構與第二屏障結構間之間隙；至少一隔離器，其設置於此間隙中，該隔離器被組態將第一屏障結構耦接至第二屏障結構；以及一測試器具台，其設置在第二屏障結構中且被組態以具有耦接至其的音響裝置。

在步驟1604，將至少一待測試裝置耦接至測試器具台。在步驟1606，將此測試器具關閉，且測試至少一裝置。在此方面，第一屏障結構、第二屏障結構、間隙、以及至少一隔離器會作用且有效地減輕測試器具之振動，且對於在測試器具台之至少一音響裝置提供聲音隔離，以避免來自測試器具外之聲音能量。

以上已經說明本發明之較佳實施例，其包括發明人所知用於實施本發明之最佳模式。應瞭解，此等所說明實施例僅為典範，不應用於限制本發明之範圍。

100．．．測試器具

102．．．第一屏障結構

104．．．第二屏障結構

106．．．空氣間隙

110．．．第一屏障上半部

112．．．第一屏障下半部

114．．．第二屏障上半部

116．．．第二屏障下半部

118．．．隔離器

500．．．測試器具

502．．．第一屏障結構

504．．．第二屏障結構

505．．．第三屏障結構

506．．．空氣間隙

509．．．空氣間隙

510．．．第一屏障上半部

512．．．第一屏障下半部

514．．．第二屏障上半部

515．．．第三屏障上半部

516．．．第二屏障下半部

517．．．第三屏障下半部

518．．．隔離器

900．．．測試器具

902．．．第一屏障結構

904．．．第二屏障結構

906．．．空氣間隙

910．．．第一屏障上半部

912．．．第一屏障下半部

914．．．第二屏障上半部

916．．．第二屏障下半部

918．．．隔離器

930．．．測試器具台

932．．．連接器

圖1為根據本發明一實施例具有兩個屏障結構之測試器具之透視圖；

圖2為根據本發明一實施例之當圖1中測試器具關閉時之透視圖；

圖3為根據本發明一實施例之圖1與2中所示測試器具之透視圖與展開圖；

圖4為根據本發明一實施例之圖1至3中所示測試器具之前橫截面圖；

圖5為根據本發明另一實施例具有兩個屏障結構之測試器具之透視圖；

圖6為根據本發明另一實施例之當圖5測試器具關閉時之透視圖；

圖7為根據本發明另一實施例之圖5與6中所示測試器具之透視圖與展開圖；

圖8為根據本發明另一實施例之圖5至7中所示測試器具之前橫截面圖；

圖9為根據本發明還有另一實施例之測試器具之透視圖；

圖10為根據本發明還有另一實施例之圖9中測試器具之透視圖與展開圖；

圖11為根據本發明還有另一實施例之圖9與10中測試器具之側視圖；

圖12為根據本發明還有另一實施例之圖9至11中測試器具之前橫截面圖；

圖13為根據本發明還有另一實施例之圖9至12中測試器具之側視圖；

圖14為根據本發明還有另一實施例之圖9至13中測試器具之側視圖；

圖15為根據本發明還有另一實施例之圖9至14中測試器具之透視圖；

圖16為使用根據本發明一實施例之使用此測試器具之流程圖。

100．．．測試器具

110．．．第一屏障上半部

112．．．第一屏障下半部

114．．．第二屏障上半部

116．．．第二屏障下半部

118．．．隔離器

Claims (11)

1. 一種測試器具，包括：一第一屏障結構；一第二屏障結構；一間隙，其設置在該第一屏障結構與該第二屏障結構之間；至少一隔離器，其設置於該間隙中，該隔離器被組態以將該第一屏障結構耦接至該第二屏障結構；以及一測試器具台，其設置在該第二屏障結構中，且被組態以具有予以耦接的音響裝置；以致於該第一屏障結構、該第二屏障結構、該間隙、以及該至少一隔離器會作用且有效地減輕測試器具之振動，且對於在該測試器具台之該等音響裝置提供聲音隔離，以避免來自測試器具外之聲音或振動能量。
2. 如申請專利範圍第1項之測試器具，其中該至少一隔離器由黏且彈性聚合物製成。
3. 如申請專利範圍第1項之測試器具，更包括一第三屏障結構，其設置在該第二屏障結構中，且該第三屏障結構維持住該測試器具台。
4. 如申請專利範圍第1項之測試器具，其中該間隙包括一空氣間隙。
5. 如申請專利範圍第1項之測試器具，其中該第一屏障結構與該第二屏障結構由金屬製成。
6. 一種測試至少一音響裝置之方法，其包括以下步驟：開啟一種測試器具，該測試器具包括一第一屏障結構、一第二屏障結構、一間隙，其設置在該第一屏障結構與該第二屏障結構之間、至少一隔離器，其設置於該間隙中，該隔離器被組態以將該第一屏障結構耦接至該第二屏障結構、及一測試器具台，其設置在該第二屏障結構中，且被組態以具有予以耦接的音響裝置；耦接至少一待測試裝置至該測試器具台；以及測試該至少一待測試裝置，以致於該第一屏障結構、該第二屏障結構、該間隙、以及該至少一隔離器會作用且有效地減輕測試器具之振動，且對於在該測試器具台之該至少一音響裝置提供聲音隔離，以避免來自測試器具外之聲音或振動能量。
7. 如申請專利範圍第6項之方法，其中該至少一音響裝置包括一麥克風。
8. 如申請專利範圍第6項之方法，其中該至少一隔離器由黏且彈性聚合物製成。
9. 如申請專利範圍第6項之方法，更包括：一第三屏障結構，其設置在該第二屏障結構中，且該第三屏障結構維持住該測試器具台。
10. 如申請專利範圍第6項之方法，其中該間隙包括一空氣間隙。
11. 如申請專利範圍第6項之方法，其中該第一屏障結構與該第二屏障結構由金屬製成。