SU725048A1 - Устройство дл измерени динамических параметров микросхем - Google Patents

Description

1

Изобретение относитс  к электроизмерительной технике и может быть использовано дл  измерени  динамических параметров микросхем.

Известны устройства, содержащие генератор испытательных сигналов, формирователь образцовой задержки, программатор, блок сравнени , согласующий элемент, пороговый элемент и элемент регистрации 1.

Недостатком известных устройств  вл етс  низка  точность измерени .

Наиболее близким к изобретению по технической сущности  вл етс  устройство дл  измерени  динамических параметров микросхем , содержащее элементы И-НЕ, монтажный элемент ИЛИ-НЕ, нечетное число последовательно соединенных инверторов, парафазный элемент, переключатель и ключи 2.

Недостаток этого устройства также заключаетс  в низкой точности измерени . Кроме того, дл  проведени  измерени  с помощью этого устройства требуетс  значительное врем .

Цель изобретени  - повышение точности и уменьшение времени измерени .

Эта цель достигаетс  тем, что в известное устройство, содержащее цепь из нечетного числа последовательно соединенных инверторов, выход последнего из которых

соединен с входом парафазного элемента, инвертирующий выход которого через переключатель подключен к первым входам первого и второго элементов И-НЕ, вторые

входы которых соответственно через первый и второй ключи соединены с общей шиной устройства, неинвертирующий выход парафазногО элемента соединен с входом контролируемого элемента, инвертирующий выход этого элемента - с третьим входом второго элемента И-НЕ, при этом выходы первого и второго элементов И-НЕ св заны с входами монтажного элемента ИЛИ- НЕ, введены управл емый элемент задержки , блок . индикации и. блок управлени . При этом вход управл емого элемента задержки соединен с выходом монтажного элемента ИЛИ-НЕ, а выход - с входом цепи последовательно соединенных инверторов , выход последнего из которых подключен к входу блока управлени , выход которого соединен с входом блока индикации и управл ющим входом управл емого элемента задержки.

На чертеже приведена структурна  схема устройства.

Устройство содержит элементы И-НЕ 1, 2, блок 3 индикации, монтажный элемент ИЛИ-НЕ 4, управл емый элемент 5 задержки , блок 6 управлени , цепь последевательно соединенных инверторов 7, парафазный элемент 8, переключатель 9 и ключи 10, п; -

Работает устройство следующим образом. ,. .начМЬм-измерений динамических 5 :, -йараметров . контролируемого элемента 12 пройзвод т начальную зстановку периода повторени  импульсов То устройства, представл ющего собой кольцевой генератор. Дл  этого замыкают ключ 10, нереключа- Ш тель 9 устанавливают в верхнее ноложение, а управл емый элемент 5 задержки с помощью блока 6 управлени  устанавливают в режим максимальной задержки.

Измерение времени задержки распростра- 15 нени  информации igp при включении контролируемого элемента 12 провод т при разомкнутом ключе 10. В этом случае элементы И-НЕ 1, 2 и монтажный элемент ИЛИ-НЕ 4 реагируют на отрицательный 20 фронт сигнала с выхода контролируемого элемента и на положительный фронт сигнала с инвертирующего выхода парафазного элемента 8. Таким образом, устройство половину периода повторени  импульсов 25 замкнуто через контролируемый элемент 12 и половину периода повторени  импульсов - мину  его, в результате чего период повторени  импульсов в устройстве увеличиваетс .30

Так как период повторени  импульсов стал больще Го, то блок 6 управлени  формирует управл ющие импульсы, которые переключают управл емый элемент 5 задержки до тех пор, пока в устройстве не 35 установитс  начальный период повторени  импульсов 7о. Блок 3 индикации производит подсчет управл ющих импульсов и выдает результат измерени  4° в цифровой форме.

Аналогично происходит измерение времени задержки распространени  информации

выключении контролируемого элемента 12 с той лишь разницей, что в этом слу- 45 чае замыкают ключ 11, а переключатель 9 устанавливают в нижнее положение. При этом элемент И-НЕ 1 и монтажный элемент ИЛИ-НЕ 4 реагируют на отрицательный фронт сигнала с инвертирующего вы- 50

хода парафазного элемента 8 и на положительный фронт сигнала с выхода контролируемого элемента.

Устройство позвол ет автоматизировать процесс измерени  с высокой точностью динамических /параметров микросхем.

Устройство может быть использовано как в качестве отдельного прибора дл  измерени  динамических параметров, так и в качестве блока дл  автоматических классификаторов интегральных схем.

Claims (2)

1.Авторское свидетельство СССР № 505972, кл. G 01R 31/28,1973 (прототип).

2.Измеритель динамических параметров микросхем, черт. ЩИ2.702.000СХЭ, 1973 (прототип).