SU486226A1 - Method for quantitative registration of infrared microwave radiation - Google Patents
Method for quantitative registration of infrared microwave radiationInfo
- Publication number
- SU486226A1 SU486226A1 SU1837762A SU1837762A SU486226A1 SU 486226 A1 SU486226 A1 SU 486226A1 SU 1837762 A SU1837762 A SU 1837762A SU 1837762 A SU1837762 A SU 1837762A SU 486226 A1 SU486226 A1 SU 486226A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- radiation
- screen
- microwave radiation
- infrared
- led
- Prior art date
Links
Landscapes
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
Description
1one
Изобретееие относитьс к методам регистрации элек-грома1ПН1итнопо излучени и может использоватьс дл «эмерени структуры полей излучени ИК-лазер01в.The invention relates to methods for detecting electron-thrombin radiation and can be used to "measure the structure of the radiation fields of an IR laser."
Известен способ регистрации ИК-СВЧ-пзлучени путем фотометрирова;ни фотопленки с изображением пол люминесценции облученного ИК-СВЧ-излучением тонкого экрана из лю1Мйнофора с тaплoiвы м тушением, наход щегос в тер1мостате и равномерно облучеиноло ультрафиолетовым излучением.There is a known method of recording infrared microwave radiation by photometry, not a photo film showing the luminescence field of a thin screen from a microwave screen irradiated with infrared microwave radiation from a flame quenched, uniformly irradiated with ultraviolet radiation.
Цель изобретени - усморание процесса и увеличение точности определени ра спределени мощности ИК-СВЧ-излучени .The purpose of the invention is to reduce the process and increase the accuracy of determining the power distribution of IR-microwave radiation.
Это достигаетс тем, что по предлагаемому способу инфракрасным излучением эталонного источника, в качестве которого используют йветоДиод, сканируют по экрану, одно1временно измен напр жение на оветодиоде до совпадени ркостей люашнофорного экрана и опорного оветодиода, излучающе1Го в .видимой области спектра, а исследуемое излучение регистрируют по напр жению на эталонном инфракрасном оветодиоде.This is achieved by using the proposed method, infrared radiation from a reference source, which is used as a photodiode, is scanned across the screen, simultaneously changing the voltage on the vectortod until the luashophornic screen and reference photodiode coincide, and the radiation under study is recorded voltage on the reference infrared LED.
Введение дополнительного устройства регистрации позвол ет калибровать люминеоцентный экран и получать информацию о раопределении мощности излучени в проц ессе р ешис тр а ци и.The introduction of an additional recording device makes it possible to calibrate the luminescent screen and to obtain information on the determination of the radiation power in the process of reproduction.
Способ отличаетс от известного тем, чтоThe method differs from the known in that
излучение эталонного инфракрасного светодиода сканируетс по люминесцентному экрану , одновременно сравниваетс рисость этой лю-минесценции с ркостью а алиброванНого светодиода сравнени (видимого излучени ). При этом ультрафиолетовое излучение , вызывающее свечение люм инебцентното экрана, регулируют так, что при максимальном рабочем напр жении на эталонном инфракрасном светодиоде ркость люминесценции экрана и р кость светодиода сравне и совпадают. Далее на экран подают исследуемое ИК-СВЧ-нзлучение и последовательно в каждой заданной точке экрана доС11игают совпадени ркости экрана и ркости светодиода сравнени путем изменени на инфракрасном светодноде напр же1Ни , ло величине которого и суд т о мощнос- н ИК-СВЧизлучени в заданной точке экрана.The radiation of a reference infrared LED is scanned on a luminescent screen, while the brightness of this luminescence is compared with the brightness of an alized comparison LED (visible radiation). At the same time, the ultraviolet radiation that causes the luminescence of the translucent screen to be controlled is adjusted so that at the maximum operating voltage on the reference infrared LED, the screen luminescence brightness and the brightness of the LED are the same. Next, the IR infrared microwave radiation is applied to the screen and, successively, at each given point on the screen, the screen brightness and comparison LED brightness coincide by changing the direction of the infrared light at the specified point on the LED. .
На1пр 1жение на инфракрасно светодиоде регистрируетс на приборе, отградуированном в логарифм:ической шкале мощности излучени .Napravija on infrared LED is recorded on the instrument, calibrated in the logarithm: ical scale of the radiation power.
Способ позвол ет получить данные о распределении Иитенсивности за несколько секунд вместо нескольких чассв дл полей ИК-СВЧ-излучени достаточно простой с1ИМ1метр ИИ (iKpypOBoe п тно, ИНтерференционньге полосы и т. д). При этом направленноThe method allows to obtain data on the distribution of intensity in a few seconds instead of several hours for IR-microwave fields rather simple cIIM1meter AI (iKpypoe spot, interference band, etc.). At the same time
сканирСБани выбираю г в соответствии сscan I choose r in accordance with
сийШеприей картины распределени пол изл ,у че1ни , наблюдаемое визуально a-ia люмниесцеитиом экране.The gray pattern of the distribution of sex is, in a single, visually observed a-ia luminescence screen.
Онособ позвол ет зйачителвдо повысить точйость измерений, как вместо олределеии мощности излучейи по величине почернени фотопленки (При регистрации теплового тушени лю1минофора ибпольэуетс сравнение люминесденции со стабильным источН HKOtM (€Ве ТОДИ ОДО М ) .It allows you to increase the accuracy of measurements, instead of the radiation power of the film blackening (When registering the heat extinguishing of luminophore, a comparison of luminescence with a stable source HKOtM (€ BE TODI ODO M) is obtained.
Предмет изобретени Subject invention
Способ количественной регистрации ИКСВЧ-излучени с помощью раз1мещенного в термостате экрана из люминофора с тепловым тущением, который одновременно Облучают посто нным ультрафиолетовым и исследуемым ИК-СВЧ-излучением, о т л и чающийс тем, что, с целью ускорени процесса и увеличени то1чности определени распределени мощности ИК-СВЧ-излучени по заданному направлению, соопветствующему сИ1Мметрии задачи, инфракрасным излученИем эталонного источника, в качестве «OTOpoi-o используют светодиод, сканируют но экрану, одновременно измен напр же1гие на светодноде до совпадени ркостей люминофорного экрана и опорного светодиода , излучающего в видимой области снектра, а нсследуемое излучен ие регистрируют по напр жению на эталонно1м иа1фракрасном светодиоде.The method of quantitative registration of ICS of the radiation using a screen made of a phosphor with thermal fatigue in the thermostat, which is simultaneously Irradiated with a constant ultraviolet and the IR-microwave radiation being studied, is so that, in order to accelerate the process and increase the accuracy of determining the distribution the power of infrared microwave radiation in a given direction, corresponding to the s1mmetry of the problem, infrared radiation from the reference source, as the “OTOpoi-o use an LED, scan the screen, simultaneously changing The voltages on the light diode to the coincidence of the brightness of the phosphor screen and the reference LED emitting in the visible region of the spectrum, and the radiation traced is recorded by the voltage on the reference infrared LED.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU1837762A SU486226A1 (en) | 1972-10-19 | 1972-10-19 | Method for quantitative registration of infrared microwave radiation |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU1837762A SU486226A1 (en) | 1972-10-19 | 1972-10-19 | Method for quantitative registration of infrared microwave radiation |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU486226A1 true SU486226A1 (en) | 1975-09-30 |
Family
ID=20529690
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU1837762A SU486226A1 (en) | 1972-10-19 | 1972-10-19 | Method for quantitative registration of infrared microwave radiation |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU486226A1 (en) |
-
1972
- 1972-10-19 SU SU1837762A patent/SU486226A1/en active
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
Bøtter-Jensen et al. | Advances in luminescence instrument systems | |
US4241738A (en) | Spectral photometer for medical use in determining skin coloration | |
US2503165A (en) | Photometric apparatus for quantitative spectroanalysis | |
KR910008473A (en) | Image generation using light emitting diode array | |
JPH0663841B2 (en) | Device and method for measuring fluorescence characteristics of sample | |
CN109283447B (en) | Photomultiplier tube linearity measuring method | |
EP0947855A3 (en) | Method and apparatus for simultaneous measurement of different radiations | |
EP0129242A1 (en) | Tensile tester | |
JPS6056242A (en) | fluorometer | |
US2078768A (en) | Method of and apparatus for measuring the energy of rays | |
JPH10186045A (en) | Radiation detecting device and its method | |
US4921351A (en) | Spectrophotometer comprising a xenon flashtube as a light source | |
US2544196A (en) | Photoelectric color analyzer | |
SU486226A1 (en) | Method for quantitative registration of infrared microwave radiation | |
US2690511A (en) | Comparative emission pyrometer | |
SU821912A1 (en) | Contact-free method of determining optical length between two semitransparant parallel surfaces | |
RU209618U1 (en) | Digital densitometer-brightness meter | |
SU870969A1 (en) | Method of measuring intensity meter absolute spectral sensitivity | |
SU1363549A1 (en) | Spectrofluorometric endoscope | |
SU646795A1 (en) | Method of determining parameters of a conductor | |
RU165992U1 (en) | AUTHENTICATION DEVICE FOR PROTECTIVE LABEL CONTAINING LUMINOPHOR | |
SU1732189A1 (en) | Temperature determining method | |
SU144047A1 (en) | Instrument for luminescence analysis | |
SU117115A1 (en) | Method for determining exposure time in electron beam devices | |
SU616534A1 (en) | Method of selecting photoelectronic multipliers for registering weak light fluxes in single-electron mode |