SU146999A1 - Method for measuring microscopic objects - Google Patents
Method for measuring microscopic objectsInfo
- Publication number
- SU146999A1 SU146999A1 SU647261A SU647261A SU146999A1 SU 146999 A1 SU146999 A1 SU 146999A1 SU 647261 A SU647261 A SU 647261A SU 647261 A SU647261 A SU 647261A SU 146999 A1 SU146999 A1 SU 146999A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- optical image
- microscopic objects
- scale
- measuring microscopic
- microscopic
- Prior art date
Links
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Instruments For Measurement Of Length By Optical Means (AREA)
Description
Изнестный по авт. св. № 85114 способ нз.меренн микроскопических объектов и микроскопических линейных смеп1еиий, заключающ|и |с в том, что шкалу со сравнительно большой ценой делени проецируют с уменьп1ением в плоскость наблюдаемого объекта, не обеспечивает нысокой точности измерени Предлагаемый способ отличаетс тем, что неподвижное оптическое изображение шкалы совмещают с увеличенным в заданное чис.чо рач оптическим изображением наблюдаемого объекта- Указанное отличие позволило значительно повысить точность измерени Hard on auth. St. No. 85114, the method of measuring microscopic objects and microscopic linear mixtures, concluding that the scale with a relatively large division price is projected with a decrease in the plane of the observed object, does not provide a high accuracy of measurement. The proposed method differs in that a fixed optical image the scales are combined with the optical image of the observed object enlarged at a given number of hours. The indicated difference has significantly improved the measurement accuracy
Практически предлагаемый способ осуществл етс следующим образом . Вместо наблюдаемого объекта, вз того в натуре, используют его оптическое изображение, увеличенное в некоторое число раз, которое проецируют на жесткий экран с тонки.м рассеивающи.м слоем- На этот же экран проецируют неподвижное оптическое изображение шкалы.Practically, the proposed method is carried out as follows. Instead of the observed object taken in kind, its optical image, enlarged several times, which is projected onto a hard screen with a thin scattering layer, is used. A fixed optical image of the scale is projected onto the same screen.
Если предположить, что действительна цена одного делени Н1калы равна 0,1 мм, то после ее проецировани с у.меньшением в п тьдес т раз в плоскости оптического изображени цена делени шкалы станет в п тьдес т раз меньше, т. е. 0,002 мм- Теперь, если микроскопический объект величиной в 0,01 мм увеличить в двадцать раз, то в плоскости своего оптического изображени эта величина станет размеро.м 0,2 мм.If we assume that the actual price of a single H1 scale division is 0.1 mm, then after its projection with a reduction of fifty times in the plane of the optical image, the division value of the scale will become fifty times less, i.e. 0.002 mm- Now, if a microscopic object with a size of 0.01 mm is increased twenty times, then in the plane of its optical image this value will become a size of 0.2 mm.
Так как оба оптических изображени (шкалы и объекта) совмещаютс в одной плоскости жесткого экрана, то в поле зрени микроскопа одному делению объекта будет соответствовать в данном случае сто делений шкалы- Это обсто тельство позвол ет производить измерени микроскопических объектов и микроскопических линейных смещений с высокой точностью, в св зи с чем предлагаемый способ найдет широкое применение в промышленности.Since both optical images (scales and objects) are combined in one plane of a rigid screen, in the field of view of a microscope, one division of the object will correspond in this case to one hundred divisions of the scale. This circumstance allows to measure microscopic objects and microscopic linear displacements with high accuracy. Therefore, the proposed method will find wide application in industry.
№ 146999No. 146999
Предмет изобретени Subject invention
Способ измерени микроскопических объектов и микроскопических линейных смещений по авт. св. Лэ 85114, отличающийс тем, что, с целью повышени точности измерени , неподвижное оптическое изображение шкалы совмещают с увеличенным в заданное число ра-з оптическим изображением наблюдаемого объекта.A method for measuring microscopic objects and microscopic linear displacements according to ed. St. Le 85114, characterized in that, in order to improve the measurement accuracy, the fixed optical image of the scale is combined with the optical image of the observed object increased by a specified number of times.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| SU647261A SU146999A1 (en) | 1959-12-14 | 1959-12-14 | Method for measuring microscopic objects |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| SU647261A SU146999A1 (en) | 1959-12-14 | 1959-12-14 | Method for measuring microscopic objects |
Related Parent Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| SU85114 Addition |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| SU146999A1 true SU146999A1 (en) | 1961-11-30 |
Family
ID=48302414
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| SU647261A SU146999A1 (en) | 1959-12-14 | 1959-12-14 | Method for measuring microscopic objects |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| SU (1) | SU146999A1 (en) |
-
1959
- 1959-12-14 SU SU647261A patent/SU146999A1/en active
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| SU146999A1 (en) | Method for measuring microscopic objects | |
| Kreitlow et al. | Automatic evaluation of Young's fringes related to the study of in-plane-deformations by speckle techniques | |
| SU114821A1 (en) | Nonius for interferometric instruments | |
| US1348026A (en) | Machine for testing | |
| SU584179A1 (en) | Linear dimension measuring device | |
| SU60744A1 (en) | Device for counting angles in goniometers | |
| Herrey | Percentage points of H-distribution for computing confidence limits or performing t-tests by way of the mean absolute deviation | |
| SU457877A2 (en) | A method for measuring the magnitude and distribution of the radial clearance between the punch and the die hole in the assembled die | |
| GB286154A (en) | Vernier measuring instrument | |
| SU69658A1 (en) | Counting rule to determine exposure during filming | |
| GB1454275A (en) | Sighting discs particularly for surveying | |
| SU152074A1 (en) | Method of measuring electrical grandeur | |
| SU122925A1 (en) | Extensometer for measuring longitudinal strain | |
| SU392178A1 (en) | DEVICE FOR DETERMINATION OF Silkware | |
| SU662886A1 (en) | Digital meter of magnetic field parameters | |
| Ornstein et al. | Mechanical elimination of Brownian and other fortuitous deviations in measurements | |
| GB1552502A (en) | Apparatus for measuring samples | |
| SU373751A1 (en) | DEVICE FOR RESEARCH PROFESSIONAL | |
| WASHER et al. | Variation of resolving power and type of test pattern(used with aircraft mapping camera lenses) | |
| GB1200005A (en) | Micrometer screw gauges | |
| Jones | A Displacement Meter for Testing Unsteadiness in Motion Picture Projectors | |
| JPS5548601A (en) | Semi-automatic tester for dial gauge | |
| GB1237356A (en) | Calculator instrument | |
| Babbage | On a new Zenith Micrometer | |
| Phillips | Apparatus for the calibration of mirror extensometers of the Martens type |