[go: up one dir, main page]

RU2051376C1 - Способ фотометрического определения дефектов и устройство для его осуществления - Google Patents

Способ фотометрического определения дефектов и устройство для его осуществления Download PDF

Info

Publication number
RU2051376C1
RU2051376C1 SU5040192/25A SU5040192A RU2051376C1 RU 2051376 C1 RU2051376 C1 RU 2051376C1 SU 5040192/25 A SU5040192/25 A SU 5040192/25A SU 5040192 A SU5040192 A SU 5040192A RU 2051376 C1 RU2051376 C1 RU 2051376C1
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
cavity
integrating
laser
radiation
defect
Prior art date
Application number
SU5040192/25A
Other languages
English (en)
Inventor
Юрий Николаевич Крылов
By]
Евгений Александрович Соколов
Раиса Александровна Татарченко
Николай Павлович Казаков
Владимир Григорьевич Костюткин
Original Assignee
Гомельский государственный университет им.Франциска Скорины
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Гомельский государственный университет им.Франциска Скорины filed Critical Гомельский государственный университет им.Франциска Скорины
Priority to SU5040192/25A priority Critical patent/RU2051376C1/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2051376C1 publication Critical patent/RU2051376C1/ru

Links

Images

Landscapes

  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Abstract

Использование: для фотометрического распознавания дефектов прозрачных плоских оптических деталей, например пластин интерферометров, заготовок фотошаблонов. Сущность изобретения: измеряют интегральные интенсивности диффузно рассеянных назад и диффузно рассеянных вперед компонент лазерного излучения от освещаемого лазерным лучом контролируемого участка, по значениям этих интенсивностей и по их отношению судят о наличии дефекта, который определяется с помощью фотометрического устройства, содержащего лазер, фотометрические узлы с интегрирующими полостями с отверстиями и фотоприемниками для регистрации диффузных компонент и измерительный блок. 2 с. и 3 з. п. ф-лы, 3 ил.

Description

Изобретение относится к оптическому определению дефектов и загрязнений оптических деталей, а конкретно к их фотометрической идентификации, и может быть использовано при определении оптической чистоты плоскопараллельных прозрачных оптических деталей, например пластин интерферометров, подложек фотошаблонов.
Известен способ контроля дефектов [1] включающий направление оптического излучения на полосу прозрачного материала, регистрацию интенсивностей зеркально отраженного и прошедшего компонент излучений.
Устройство для контроля дефектов прозрачных полос материалов [1] содержит источник оптического излучения и два фотоприемника для регистрации отраженного и прошедшего излучений.
Известные способ и устройство позволяют выявить оптические неоднородности на поверхности и в глубине тонкого прозрачного материала, в частности загрязнения поверхности или трещины. Однако дефекты, вызывающие рассеяние оптического излучения (пузыри, царапины, точки и т.д.), выявляются недостаточно надежно и практически не идентифицируются, т.е. неразличимы между собой, что обусловлено как слабой чувствительностью указанных компонент оптического излучения к этим дефектам, так и недостаточной информативностью зарегистрированных интенсивностей прошедшего и зеркально отраженных компонент излучений для различения типов дефектов.
Наиболее близок к заявляемому способ фотометрического определения дефектов [2] по которому контролируемый образец облучают лазерным пучком и регистрируют интегральную интенсивность диффузно рассеянной назад компоненты лазерного излучения. Это позволяет определять наличие или отсутствие дефекта (дефекты на контролируемом образце по изменению интегральной интенсивности диффузно рассеянной назад компоненты лазерного излучения.
Однако указанная величина недостаточно информативна при определении (идентификации) типов дефектов, вызывающих рассеяние оптического излучения, которые, как показали исследования, удовлетворяют требованиям оптической чистоты прозрачных оптических деталей, например, по ГОСТ 1141-76, согласно которому необходимо определить такие дефекты, как пузыри, царапины, точки и т. д. Одному и тому же изменению или одинаковым численным значениям интегральной интенсивности диффузно рассеянной назад компоненты лазерного излучения могут соответствовать разнотипные дефекты. Это не позволяет достоверно и точно определять типы дефектов, вызывающих светорассеяние и характеризующих оптическую чистоту прозрачных деталей.
Наиболее близким к заявляемому является устройство для фотометрического определения дефектов [2] реализующее упомянутый способ и содержащее лазер, установленные последовательно по ходу излучения первую и вторую интегрирующие полости, каждая из которых содержит входное и выходное отверстия и отверстия для размещения фотоприемников, электрически соединенных с измерительным блоком. Первая фотометрическая полость с фотоприемником и светоделителем обеспечивает возможность измерения интегральной интенсивности подающего излучения, а вторая интегрирующая полость с фотоприемником интегральной интенсивности диффузно-рассеянной назад компоненты лазерного излучения, благодаря чему известное устройство в целом используется для измерения коэффициента поглощения контролируемого образца, а в части (вторая полость) для оценки наличия или отсутствия дефектов на его поверхности.
Оно не позволяет однозначно определить тип дефекта согласно требованиям к оптической чистоте прозрачной детали. Кроме того, для прозрачной детали часть внешнего света проникает во вторую интегрирующую полость через выходное отверстие, внося дополнительную погрешность в измерение упомянутой интегральной интенсивности, что также препятствует достоверной и точной оценке типов дефектов, например таких, как точки, пузыри, шлифовочные царапины, а также снижает достоверность и точность выявления дефектов прозрачных образцов, поскольку упомянутые дефекты обладают слабым светорассеянием назад.
Согласно изобретению повышается достоверность и точность определения типов дефектов, характеризующих оптическую чистоту прозрачных оптических деталей, обеспечивает возможность идентификации (распознавания) большого числа дефектов.
На фиг. 1 схематически изображено предлагаемое устройство для фотометрического определения дефектов с четырьмя фотоприемниками; на фиг. 2 устройство в виде фотометрической головки; на фиг. 3 устройство с интегрирующими полостями в виде сферических сегментов.
Устройство для фотометрического определения дефектов содержит лазер 1, фотометрический узел 2, образованный интегрирующей полостью 3 и фотоприемником 4, фотометрический узел 5, образованный интегрирующей полостью 6 и фотоприемником 7, дополнительные фотоприемники 8, 9, измерительный блок 10, полость 11 для размещения контролируемого образца 12.
Интегрирующие полости 6 и 3 последовательно установлены по ходу лазерного излучения. Каждая из них имеет входное и выходное отверстия, отверстие для размещения фотоприемника, а интегрирующая полость 6 дополнительное отверстие для вывода зеркально отраженной компоненты. Полость 11 размещена между входным отверстием 13 второй по ходу излучения интегрирующей полости 3 и выходным отверстием 14 первой по ходу излучения интегрирующей полости 6. Полость 11 открыта со стороны отверстий 13, 14 и со стороны конца для ввода образца 12 (для плоской детали она выполнена в виде узкой щели). Фотоприемник 4 размещен в отверстии полости 3, фотоприемник 7 -в отверстии полости 6, фотоприемник 8 на выходе выходного отверстия полости 3 в оптической ловушке 15 напротив рассеивающего элемента 16, а фотоприемник 9 на выходе дополнительного отверстия для вывода зеркально отраженной компоненты в оптической ловушке 17 напротив рассеивающего элемента 18. Стенки ловушки 17, 15 покрыты поглощающим свет составом. Для нормирования соотношения интенсивностей в ловушке 15 расположен нейтральный светофильтр 19. Фотометрические узлы 2,5 жестко соединены перемычкой 20, в которой выполнена полость 11, Лазер 1 установлен в изолирующем корпусе 21. Контролируемый образец 12 устанавливают в держателе 22, механически связанном с узлом 23 сканирования, который может быть выполнен в виде двухкоординатного стола и блока управления. В рабочем состоянии образец 12 вводят в полость 11.
Устройство работает следующим образом.
Излучаемый лазером 1 освещающий лазерный пучок через отверстие 14 падает на контролируемый образец. При наличии на контролируемом участке дефекта последний рассеивает лазерный пучок, причем часть его через отверстие 13 диффузно рассеивается вперед в полость 3, где интегрируется, а затем интенсивность излучения регистрируется фотоприемником 4, а часть диффузно рассеивается назад в полость 6, где излучение интегрируется, а затем регистрируется интегральная интенсивность излучения фотоприемником 7. Часть не рассеянного пучка, подчиняясь законам геометрической оптики, проходит через образец 12, сквозь интегрирующую полость 3 и ее выходное отверстие в оптическую ловушку 15, где рассеивается элементом 16 на фотоприемник 8, регистрирующий интенсивность этой компоненты, а часть зеркально отражается от образца и, пройдя сквозь дополнительное отверстие в полости 6, попадает в оптическую ловушку 17, попадает на рассеивающий элемент 18, который направляет излучение на фотоприемник 9, регистрирующий интенсивность зеркально отраженной компоненты излучения. Сигналы фотопримников 4, 7, 8, 9 регистрируются измерительным блоком 10, который может быть выполнен в виде набора регистрирующих приборов, специализированного вычислителя или системы обработки и отображения информации на базе ЭВМ. В последних случаях, измерительный блок производит определение отношения Iдн/Iдв, анализирует численные значения Iдн, Iдв, Iп, Iз, их отношения, по которым производится определение типа дефекта в автоматическом режиме. Так, при отсутствии дефекта Iдн и/или Iдв равны нулю. При наличии дефекта показания Iдн, Iдв не равны нулю. При однозначной идентификации типа дефекта измеренное отношение Iдн/Iдв попадает в интервал однозначной идентификации, например интервал 0,05-0,09 соответствует дефекту типа пузыря. При неоднозначной идентификации дефекта для оценки его типа используют Iп и Iз, измеренные фотоприемниками 8 и 9, затем смещают область зондирования на 0,3-2 диаметра лазерного пучка с помощью системы 23 сканирования, повторяют измерения Iп и Iз, оценивают изменения этих интенсивностей, производят по ним окончательную идентификацию дефекта. При необходимости перемещают контролируемый образец в полости 11 на новый участок, повторяя на нем поиск дефекта, а при его наличии идентификацию типа дефекта согласно вышеизложенному. При известности наличия дефекта на заданном участке система 23 сканирования обеспечивает позицирование дефекта напротив отверстий 13, 14 в полости 11. Полость 11 препятствует паразитной засветке со стороны интегрирующих полостей 3, 6 и внешнего излучения в них, а, благодаря расположению обеспечивает разделение Iдн и Iдв. За счет этого обеспечивается точное и достоверное определение типов дефектов прозрачных образцов.
Вариант выполнения устройства в виде фотометрической головки (фиг. 2) предназначен для идентификации однозначно идентифицируемых дефектов типа пузырь, точка и выявления других дефектов обработки. Фотометрическая головка выполнена в виде лазера 1, фотометрических узлов 2, 5 с интегрирующими полостями 3, 6 и фотоприемниками 4, 7, полости 11 для размещения контролируемого образца и оптических ловушек 15, 17, причем узлы 2 и 5 жестко соединены между собой скобой 24, образующей полость 11, а отдельно с корпусом 25, в котором установлен лазер, при этом оптические ловушки 15, 17 жестко соединены соответственно с узлами 2 и 5. Перемещается либо фотометрическая головка, либо исследуемый образец Регистрация Iдн и Iдв осуществляется фотоприемниками 4, 7, а их отношение измерительным блоком 10, электрически связанным с фотоприемниками. Ненужные в этом случае нерассеянные компоненты выводятся из полостей 3, 6 соответственно через выходное и дополнительное отверстия и поглощаются ловушками 15, 17.
В варианте устройства, изображенном на фиг. 3, фотометрические узлы 2, 5 совмещены и выполнены в виде фотометрического шара, разделенного параллельными перегородками 26 и 27 на две сферические сегментные полости 28 и 29, ограниченные указанными перегородками и полусферами 30 и 31. Фотоприемники 4, 7 установлены в отверстиях сегментных полостей 28 и 29. Полость 11 для размещения контролируемого образца 12 образована перегородками 26 и 27, в которых выполнены отверстия 14, 13, жесткой перемычкой 20. Отличие от варианта, изображенного на фиг. 1, состоит также в том, что введены две интегрирующие полости 32 и 33, каждая из которых содержит два отверстия. В отверстии полости 32 установлен фотоприемник 8, а в отверстии полости 33 фотоприемник 9. Входное отверстие полости 32 оптически сопряжено с выходным отверстием полости 28, а входное отверстие полости 33 с дополнительным отверстием для вывода зеркально отраженной компоненты из полости 29.
Интенсивности диффузно рассеянного вперед и назад излучения интегрируются соответственно сегментными полостями 28 и 29 и регистрируются фотоприемниками 4, 7, а диффузно не рассеянные компоненты интегрируются полостями 32 и 33 и регистрируются фотоприемниками 8 и 9. В остальном конструкция и работа данного варианта устройства аналогична варианту, изображенному на фиг. 1.
К достоинствам описываемого варианта следует отнести уменьшение габаритов фотометрических узлов, что позволяет при использовании интегрирующих полостей 32 и 33 не увеличивать габариты устройства. Применение полостей 32 и 33 позволяет повысить точность регистрации Iп, Iз.
Таким образом, предлагаемые способ и устройство обеспечивают возможность точной и достоверной оценки типа дефекта на количественном и качественном уровне, удовлетворяющем требованиям к оптической чистоте прозрачных деталей.

Claims (5)

1. Способ фотометрического определения дефектов, заключающийся в том, что облучают контролируемый образец лазерным пучком, регистрируют интегральную интенсивность диффузно рассеянной назад компоненты лазерного излучения, отличающийся тем, что дополнительно регистрируют интегральную интенсивность диффузно рассеянной вперед компоненты лазерного излучения и по отношению этих компонент определяют тип дефекта контролируемого образца.
2. Способ по п. 1, отличающийся тем, что перед определением типа дефекта дополнительно регистрируют интенсивности нерассеянных контролируемым образцом компонент лазерного излучения.
3. Устройство для фотометрического определения дефектов, содержащее лазер, установленные последовательно по ходу излучения первую и вторую интегрирующие полости, каждая из которых содержит входное и выходное отверстия и отверстия для размещения фотоприемников, соединенных с измерительном блоком, отличающееся тем, что между выходным отверстием первой и входным отверстием второй интегрирующей полости выполнена полость для размещения контролируемого образца, а в первой интегрирующей полости выполнено дополнительное отверстие для вывода зеркально отраженной компоненты излучения.
4. Устройство по п.3, отличающееся тем, что в него введены два дополнительных фотоприемника, первый из которых размещен на выходе дополнительного отверстия для вывода зеркально отраженной компоненты излучения, первой интегрирующей полости, а второй фотоприемник установлен на выходе выходного отверстия второй интегрирующей полости, причем фотоприемники электрически соединены с измерительным блоком.
5. Устройство по пп. 3 и 4, отличающееся тем, что в него дополнительно введены две интегрирующие полости, каждая из которых содержит два отверстия, в одном из которых установлен дополнительный фотоприемник, а другое оптически сопряжено с дополнительным отверстием первой интегрирующей полости или с выходным отверстием второй интегрирующей полости.
SU5040192/25A 1992-04-28 1992-04-28 Способ фотометрического определения дефектов и устройство для его осуществления RU2051376C1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU5040192/25A RU2051376C1 (ru) 1992-04-28 1992-04-28 Способ фотометрического определения дефектов и устройство для его осуществления

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU5040192/25A RU2051376C1 (ru) 1992-04-28 1992-04-28 Способ фотометрического определения дефектов и устройство для его осуществления

Publications (1)

Publication Number Publication Date
RU2051376C1 true RU2051376C1 (ru) 1995-12-27

Family

ID=21603233

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU5040192/25A RU2051376C1 (ru) 1992-04-28 1992-04-28 Способ фотометрического определения дефектов и устройство для его осуществления

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU2051376C1 (ru)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2156437C2 (ru) * 1996-07-09 2000-09-20 Стариков Сергей Владимирович Устройство для определения шероховатости поверхности
RU2180429C2 (ru) * 1996-07-09 2002-03-10 Стариков Сергей Владимирович Устройство для определения шероховатости поверхности
RU2217187C1 (ru) * 2002-05-16 2003-11-27 Ромашков Анатолий Петрович Устройство для определения коэффициента поглощения биологической тканью падающего на неё лазерного излучения
RU2217188C1 (ru) * 2002-05-16 2003-11-27 Ромашков Анатолий Петрович Устройство для определения коэффициента поглощения биологической тканью падающего на неё лазерного излучения

Non-Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
1. Патент ГДР N 267801, кл. G 01N 21/89, 1989. *
2. Авторское свидетельство СССР N 922597, кл. G 01N 21/55, 1980. *

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2156437C2 (ru) * 1996-07-09 2000-09-20 Стариков Сергей Владимирович Устройство для определения шероховатости поверхности
RU2180429C2 (ru) * 1996-07-09 2002-03-10 Стариков Сергей Владимирович Устройство для определения шероховатости поверхности
RU2217187C1 (ru) * 2002-05-16 2003-11-27 Ромашков Анатолий Петрович Устройство для определения коэффициента поглощения биологической тканью падающего на неё лазерного излучения
RU2217188C1 (ru) * 2002-05-16 2003-11-27 Ромашков Анатолий Петрович Устройство для определения коэффициента поглощения биологической тканью падающего на неё лазерного излучения

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2916637B2 (ja) 拡散分光反射率の測定装置
JP4623522B2 (ja) 光学検査装置のための読み取りヘッド
US5478750A (en) Methods for photometric analysis
CA1246891A (en) Photometric instruments, their use in methods of optical analysis, and ancillary devices therefor
US5986754A (en) Medical diagnostic apparatus using a Fresnel reflector
JP2006300950A (ja) ラテラルフローアッセイシステム及び方法
KR20190059307A (ko) 분석 테스트 장치
US7847946B2 (en) Verification apparatus and methods for optical inspection machine
US5039225A (en) Apparatus for measurement of reflection density
US4890926A (en) Reflectance photometer
JPH1038810A (ja) 単反射光線を最小限にするための読み取りヘッドを備えた反射分光器
KR20050035243A (ko) 광학적 측정 방법 및 그 장치
RU2051376C1 (ru) Способ фотометрического определения дефектов и устройство для его осуществления
EP0903571A2 (en) Apparatus and method for determining the concentration of specific substances
KR950014849A (ko) 콜로이드 매체의 박막에 의해 산란된 광도 측정용 검출기
JP3709429B2 (ja) 試験片分析装置及び試験片を用いる分析方法
JPS59109844A (ja) 反射光測定装置
FR2503369A1 (fr) Spectrophotometre a fluorescence
JPS61502418A (ja) 光学分析方法及び装置
JPS5995441A (ja) 反射光測定装置
CN112585449B (zh) 选择载玻片介质图像读取位置的方法和装置
RU2156437C2 (ru) Устройство для определения шероховатости поверхности
US6804007B2 (en) Apparatus for multiplexing two surface plasma resonance channels onto a single linear scanned array
US4240753A (en) Method for the quantitative determination of turbidities, especially of immune reactions
RU2180429C2 (ru) Устройство для определения шероховатости поверхности

Legal Events

Date Code Title Description
MM4A The patent is invalid due to non-payment of fees

Effective date: 20050429