JPS59109844A - 反射光測定装置 - Google Patents
反射光測定装置Info
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- JPS59109844A JPS59109844A JP22227983A JP22227983A JPS59109844A JP S59109844 A JPS59109844 A JP S59109844A JP 22227983 A JP22227983 A JP 22227983A JP 22227983 A JP22227983 A JP 22227983A JP S59109844 A JPS59109844 A JP S59109844A
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- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明は光反射率計用の光学的読取ヘッドに関し、更に
詳しくは、試験具を照射し、反射光を測定するための光
学的読取ヘッドに関する。
詳しくは、試験具を照射し、反射光を測定するための光
学的読取ヘッドに関する。
かつては問題にさえならなかった新たな問題を仰r決す
るために、より複雑・粘巧な分析方法及び分析具が要求
される第一線の先端技術として、生化学が注目され始め
てから、それ以来、分析化学技術は非常に大きな進歩を
とげてきた。その上、特に医療業者には、高精度な分析
結果を迅速に得なければならないという切実な要望かあ
り、その要望にこたえろべく分析化学の発展が促されて
きた。また、更に、醸造・化学製品製造業によっても、
分析化学は、その発達に拍車がかけられてきた。
るために、より複雑・粘巧な分析方法及び分析具が要求
される第一線の先端技術として、生化学が注目され始め
てから、それ以来、分析化学技術は非常に大きな進歩を
とげてきた。その上、特に医療業者には、高精度な分析
結果を迅速に得なければならないという切実な要望かあ
り、その要望にこたえろべく分析化学の発展が促されて
きた。また、更に、醸造・化学製品製造業によっても、
分析化学は、その発達に拍車がかけられてきた。
このような増大する技術的要望を満足せしめるべく、溶
液化学技術、自動制御装置や所謂゛′浸漬−読取”型の
試薬帯片等の多くの分析手法、分析試薬組成物及び装置
が開発されてきた。
液化学技術、自動制御装置や所謂゛′浸漬−読取”型の
試薬帯片等の多くの分析手法、分析試薬組成物及び装置
が開発されてきた。
特に、試薬帯片からなる試験具は、廉価であり、使い易
く、しかも迅速に分析結果が得られるという理由で、多
くの分析用途、特に生物学的流体の化学分析に広く用い
られている。例えば、医学分野において、尿もしくは血
液等の体液試料中に試薬試験具を単に浸漬し、色変化又
は試験具の反射光もしくは吸収光の光偕変化等の検知可
能な信号を観測することによって多くの生理学的機能を
監視することができる。これらの試験具の多くは、仮令
、定量的でないとしても、少なくとも半定量的な検知可
能な信号を・与える。例えば、予め定めた時間の後、そ
の信号を測定することによって、分析者は試験試料中に
特定成分が存在するか否かについて明確な情報を得るこ
とができるばかりか、その成分の存在量を推定すること
もできる。すなわち、医者は、このような試験具によっ
て、疾病もしくは身体の機能不全を正確に、かつ、手軽
に診11rすることができる。
く、しかも迅速に分析結果が得られるという理由で、多
くの分析用途、特に生物学的流体の化学分析に広く用い
られている。例えば、医学分野において、尿もしくは血
液等の体液試料中に試薬試験具を単に浸漬し、色変化又
は試験具の反射光もしくは吸収光の光偕変化等の検知可
能な信号を観測することによって多くの生理学的機能を
監視することができる。これらの試験具の多くは、仮令
、定量的でないとしても、少なくとも半定量的な検知可
能な信号を・与える。例えば、予め定めた時間の後、そ
の信号を測定することによって、分析者は試験試料中に
特定成分が存在するか否かについて明確な情報を得るこ
とができるばかりか、その成分の存在量を推定すること
もできる。すなわち、医者は、このような試験具によっ
て、疾病もしくは身体の機能不全を正確に、かつ、手軽
に診11rすることができる。
現在使用されているこのような試験具には、例えば、C
LINISTI通、 MULTISTIガ5’、
DIASTIX■。
LINISTI通、 MULTISTIガ5’、
DIASTIX■。
DEXTRO8TIX■等の商標の、Miles La
boratories、 IncのArnes部門から
入手可能な製品かある。これら試験具は、通7常、特定
の試料成分の存在下で色変化を呈する特定な試薬、即ち
反応性試藝と、該試薬系を担持する支持体マ) IJラ
ックス例えば、吸収性の紙)とから成る。
boratories、 IncのArnes部門から
入手可能な製品かある。これら試験具は、通7常、特定
の試料成分の存在下で色変化を呈する特定な試薬、即ち
反応性試藝と、該試薬系を担持する支持体マ) IJラ
ックス例えば、吸収性の紙)とから成る。
特定のマ) IJラックス相持された反応試薬系に依っ
て、これら試験具はグルコース、ケトン幹部、ビリルビ
ン、ウロビリノーケ゛ン、潜血、亜硝酸塩その他の物質
の存否を検出することができる。試験具を試料と接触せ
しめてから一定時間が経過した時点で観察される特定の
色変化及び色強度は試料中の特定成分の存否及びその成
分濃度を示す。
て、これら試験具はグルコース、ケトン幹部、ビリルビ
ン、ウロビリノーケ゛ン、潜血、亜硝酸塩その他の物質
の存否を検出することができる。試験具を試料と接触せ
しめてから一定時間が経過した時点で観察される特定の
色変化及び色強度は試料中の特定成分の存否及びその成
分濃度を示す。
これらの試験具及びそれらの反応試薬系の幾つかは米国
特許第3,123,443号(CLINISTIX■)
;同第3,212,855号(KETO8TIX■);
同第3,184,668号、同第3,164,534号
及び同第2,981,606号(DIASTIX■)、
並びに、同第3,298,789号、同第3,092,
465号、同第3,164,534号及び同第2.98
1,606号(DEXTRO3TIX■)に開示されて
いる。
特許第3,123,443号(CLINISTIX■)
;同第3,212,855号(KETO8TIX■);
同第3,184,668号、同第3,164,534号
及び同第2,981,606号(DIASTIX■)、
並びに、同第3,298,789号、同第3,092,
465号、同第3,164,534号及び同第2.98
1,606号(DEXTRO3TIX■)に開示されて
いる。
化学反応試薬を手で取扱うことを不要とし、しかも読出
しがプログラムとして編組された自動制御装置が開発さ
れるや、測定信頼度の要因となる分析者の主観が実質的
に排除されるようになり、また試験の再現性も改善され
、その結果、これら試験具の用途は大巾に拡大されるよ
うになった。
しがプログラムとして編組された自動制御装置が開発さ
れるや、測定信頼度の要因となる分析者の主観が実質的
に排除されるようになり、また試験の再現性も改善され
、その結果、これら試験具の用途は大巾に拡大されるよ
うになった。
反射率計としては、光源と、対照光源によって照射され
た着色表面の反射光を測定することによって色値を求め
ろ光電管もしくは感知手段とを使用するものが多く用い
られている。しかしなから、信頼できる読取値を得るた
めには、正反射光の効果を可及的に小さくするように、
光源と感知手段とをうまく配設する必要がある。
た着色表面の反射光を測定することによって色値を求め
ろ光電管もしくは感知手段とを使用するものが多く用い
られている。しかしなから、信頼できる読取値を得るた
めには、正反射光の効果を可及的に小さくするように、
光源と感知手段とをうまく配設する必要がある。
正反射光の不都合な効果、例えば、試料の形状及び/又
は光源の色温度に依存するような正反射光の効果を可及
的に除去し、拡散反射率を測定するように設計された機
器にあっては、従来より、米国特許第3,604,81
5号及び第3,907,503号に記載されている如く
、光を試料面に直角に照射し、試料面の法線に対して4
5度の角度で反射する光を集光する方法がとられてきた
。当然、このような試料面の法線に対して45度の角度
で光照射し、集光角を試料面の法線方向とする逆の位筒
関係にすることもできる。しかしなから、かかる位置間
。
は光源の色温度に依存するような正反射光の効果を可及
的に除去し、拡散反射率を測定するように設計された機
器にあっては、従来より、米国特許第3,604,81
5号及び第3,907,503号に記載されている如く
、光を試料面に直角に照射し、試料面の法線に対して4
5度の角度で反射する光を集光する方法がとられてきた
。当然、このような試料面の法線に対して45度の角度
で光照射し、集光角を試料面の法線方向とする逆の位筒
関係にすることもできる。しかしなから、かかる位置間
。
係を得るには、機器要素の配列をやや複雑にせざるを得
す、所望位置に首尾よく光を伝達せしめるのに光学ファ
イバーの使用を必要とすることさえあった。
す、所望位置に首尾よく光を伝達せしめるのに光学ファ
イバーの使用を必要とすることさえあった。
その他、米国特許第4,279,514 号に記載の
如き、法線に対して45度角に置かれた複数の光源を使
用し、試料の法線方向の反射光を集光する方法も提案さ
れている。
如き、法線に対して45度角に置かれた複数の光源を使
用し、試料の法線方向の反射光を集光する方法も提案さ
れている。
以上の、幾何学的配置関係は、これまで反射光を測定す
る上で最も大切なことであると考えられてきた。例えば
[反射光測定の絶対的方法(Absolute Met
hods for Reflection (Meas
urements) Jと題する国際照明委員会(In
ternational Comm5sionon I
llumination )の刊行物、CIE N14
4 (TC−2、3)1979を参照されたい。
る上で最も大切なことであると考えられてきた。例えば
[反射光測定の絶対的方法(Absolute Met
hods for Reflection (Meas
urements) Jと題する国際照明委員会(In
ternational Comm5sionon I
llumination )の刊行物、CIE N14
4 (TC−2、3)1979を参照されたい。
特に、本発明は試薬パッド(試料)を照射し、非正反射
光の測定を得るための、小型で、高い信頼性を有し、か
つ、安価な光学ヘッド構成体を提供することを目的とす
る。理想的には反射率計の全外形寸法をポケットもしく
は手さげ袋に入れて運ぶことができるように出来るだけ
小さくすることである。
光の測定を得るための、小型で、高い信頼性を有し、か
つ、安価な光学ヘッド構成体を提供することを目的とす
る。理想的には反射率計の全外形寸法をポケットもしく
は手さげ袋に入れて運ぶことができるように出来るだけ
小さくすることである。
本発明によると、光源から1つ以上の光検出器に通る迷
走光を可及的″に少なくする遮光器(lighttra
p )か設けられた、試薬パッドを照射し、非正反射光
の測定を得るための光学ヘッドが開示される。
走光を可及的″に少なくする遮光器(lighttra
p )か設けられた、試薬パッドを照射し、非正反射光
の測定を得るための光学ヘッドが開示される。
本発明の内容をなす装置は、少なくとも1つの光源と;
少なくとも1つの検出器(例えば光電管と;試料台と;
検出器占試料との間に配設された遮光器を有することを
特徴とする。
少なくとも1つの検出器(例えば光電管と;試料台と;
検出器占試料との間に配設された遮光器を有することを
特徴とする。
本発明の更なる利点及び特徴は、以下の詳細な説明及び
参照される添付図面から当業者に明らかになるであろう
。
参照される添付図面から当業者に明らかになるであろう
。
図面の第1図は反射率測定用の装置lOを表わす。この
装N10は光源12と;試料台14と;反射光検出器1
6とを有する。照射軸13は試料18面の法線軸15と
平行になっている。また光検出軸17は法線軸15と4
5度の角をなす。従って、試料台14によって保持され
た試料18からの光反射率は、光源12を用いて試料1
8を照射し、検出器16を用いてその反射光を検出する
ことによって測定される。
装N10は光源12と;試料台14と;反射光検出器1
6とを有する。照射軸13は試料18面の法線軸15と
平行になっている。また光検出軸17は法線軸15と4
5度の角をなす。従って、試料台14によって保持され
た試料18からの光反射率は、光源12を用いて試料1
8を照射し、検出器16を用いてその反射光を検出する
ことによって測定される。
一般に、第1図の装置10は、試験具、即ち試料18上
に試料窓20 (例えば、ガラス窓)が設けられた構成
を有する。また、反射率測定装置10には、関心のある
スペクトル領域を選択するべく、反射光検出器16の前
方に分光フィルター22が配設される。更に、光源12
からの光を試料18上に集めるためにレンズ23を用い
ることも出来る0 本発明によれば、反射率測定装置10の検出器16と試
料18の間には遮光器24が配設される。
に試料窓20 (例えば、ガラス窓)が設けられた構成
を有する。また、反射率測定装置10には、関心のある
スペクトル領域を選択するべく、反射光検出器16の前
方に分光フィルター22が配設される。更に、光源12
からの光を試料18上に集めるためにレンズ23を用い
ることも出来る0 本発明によれば、反射率測定装置10の検出器16と試
料18の間には遮光器24が配設される。
遮光器24の形状は詳細な限定を受けるものではないが
、遮光器24の器壁が直接光源12によって照射される
ことがないように、光源12から試料18に至る光透過
路26より大きくする。上述の通り、遮光器24の目的
は迷走光が検出器16に至るのを防止することにある。
、遮光器24の器壁が直接光源12によって照射される
ことがないように、光源12から試料18に至る光透過
路26より大きくする。上述の通り、遮光器24の目的
は迷走光が検出器16に至るのを防止することにある。
好ましくは、遮光器24は暗黒色塗料で塗付され、所望
ならば遮光器24には迷走光の遮光を助けるバッフルを
設けることもできる。
ならば遮光器24には迷走光の遮光を助けるバッフルを
設けることもできる。
第2図は本発明の反射率測定装置の別の態様を示す模式
図である。こ゛の反射率測定装置30は光源32と、試
料台34と、検出器36とから成る。
図である。こ゛の反射率測定装置30は光源32と、試
料台34と、検出器36とから成る。
光源32と検出器36の両者は同一平面38上に互に近
接して装着されている。また、試料台34は光照射軸と
光検出軸35を含む平面に関して釣26度の角度で配設
されている。
接して装着されている。また、試料台34は光照射軸と
光検出軸35を含む平面に関して釣26度の角度で配設
されている。
試料台34は試料4oを試料窓42と呼応した位置に保
持している。また、遮光器44は試料窓42と隘接した
位置に設けられる。光透過路46は遮光器44と比較し
て口径が小さなものとする。
持している。また、遮光器44は試料窓42と隘接した
位置に設けられる。光透過路46は遮光器44と比較し
て口径が小さなものとする。
このようにして、光源32からの光は光透過路46Et
び窩42を通過し、試料4oを照射することになる。試
料40からの反射光は光透過路46に戻って検出器36
に至る。1982年11月1日に出願された米国特許出
願第438,010号に於いて強調した通り、光源32
と検出器36を互に近接させて同一平面上に置くと、よ
り安価な構成が望まれる装置全体の価格を低減せしめる
ばかりでなく、装置の小型化を容易ならしめる。
び窩42を通過し、試料4oを照射することになる。試
料40からの反射光は光透過路46に戻って検出器36
に至る。1982年11月1日に出願された米国特許出
願第438,010号に於いて強調した通り、光源32
と検出器36を互に近接させて同一平面上に置くと、よ
り安価な構成が望まれる装置全体の価格を低減せしめる
ばかりでなく、装置の小型化を容易ならしめる。
第1図に示した遮光器24の場合と同様に、第2図中の
遮光器44を暗黒色塗料で被覆することができ、また迷
走光のドラッグもしくは制止を促進すべく遮光器44に
パンフルを設けることもできる。第2図において、遮光
器44は傾斜壁47−47を有するように描かれている
。この傾斜壁47−47もまた、迷走光を抑制する上で
助けとなる。また、検出器36に至る迷走光の透過を更
に出来る限り少なくするため、光透過路46内に絞りも
しくはバッフルを設けてもよい。
遮光器44を暗黒色塗料で被覆することができ、また迷
走光のドラッグもしくは制止を促進すべく遮光器44に
パンフルを設けることもできる。第2図において、遮光
器44は傾斜壁47−47を有するように描かれている
。この傾斜壁47−47もまた、迷走光を抑制する上で
助けとなる。また、検出器36に至る迷走光の透過を更
に出来る限り少なくするため、光透過路46内に絞りも
しくはバッフルを設けてもよい。
用いる光源12.32及び検出器16.36は特定のも
のに限定されるものではない。好ましい光源の1つとし
ては、アメリカ合衆国、カルフォルニア州、ハルオーア
ルドのヒユーレット・ノやツカード(Hewlett
−Packard )社製の発光ダイオード(LED
)モジュールHLMP −3950が挙けられる。
のに限定されるものではない。好ましい光源の1つとし
ては、アメリカ合衆国、カルフォルニア州、ハルオーア
ルドのヒユーレット・ノやツカード(Hewlett
−Packard )社製の発光ダイオード(LED
)モジュールHLMP −3950が挙けられる。
しかしながら、この光源は適切な如何なる白熱光源もし
くは非白熱光源であってもよく、また、所望ならば、集
光のため、第1図及び第2図に示されるイ”−6fラル
・レンズ(integral 1ens ) 23
。
くは非白熱光源であってもよく、また、所望ならば、集
光のため、第1図及び第2図に示されるイ”−6fラル
・レンズ(integral 1ens ) 23
。
48のようなレンズを有していてもよい。更に、試料へ
の照射光を拡散゛せしめるべく、光源をつや消ししても
よく、また拡散手段と併用することもできる。好適な検
出器としては、アメリカ合衆国、ロード・アイランド州
、クランストンのチェリー・セミコンダクター・コーポ
レーション(CherrySerniconducto
r Corp、 )社製の積分比側光電流増巾器付の光
ダイオードセンサーかある。
の照射光を拡散゛せしめるべく、光源をつや消ししても
よく、また拡散手段と併用することもできる。好適な検
出器としては、アメリカ合衆国、ロード・アイランド州
、クランストンのチェリー・セミコンダクター・コーポ
レーション(CherrySerniconducto
r Corp、 )社製の積分比側光電流増巾器付の光
ダイオードセンサーかある。
第3図及び第4図の棒グラフは、第1図に示した光学読
取ヘッドで測定された相対的光電流(A)と、遮光器を
有していない同様の光学読取ヘッドで測定された相対的
光電流(B)とを比較して示す。第3図から明らかな通
り、本発明の光学読取ヘッドを用いると、より多くのス
ループット(遮光器を有しない光学読取ヘッドに比較し
て30%過犬な光電流)か得られる。
取ヘッドで測定された相対的光電流(A)と、遮光器を
有していない同様の光学読取ヘッドで測定された相対的
光電流(B)とを比較して示す。第3図から明らかな通
り、本発明の光学読取ヘッドを用いると、より多くのス
ループット(遮光器を有しない光学読取ヘッドに比較し
て30%過犬な光電流)か得られる。
第4図は光学読取ヘッドの試料窓に掻傷がある場合の相
対的光電流を示す。第4図から明らかな辿り、遮光器か
存在する場合には、試料窓上の掻傷はさほど大きな要因
とはならなくなる。
対的光電流を示す。第4図から明らかな辿り、遮光器か
存在する場合には、試料窓上の掻傷はさほど大きな要因
とはならなくなる。
遮光器の効果を比較する方法の一つに、遮光器を有する
ものと有しないものによって反射率を測定し、得られた
反射率の値を暗色パッドの反射率と比較する方法がある
。”暗色“ (即ち、暗黒色)パッドに対して認められ
た反射率の値は5.18%である。第1図で示された遮
光器24と同様の遮光器を使用すると、反射率4.77
%の値か得られた。一方、遮光器のない同様の反射率測
定装置では、反射率の値は6.55%となった。
ものと有しないものによって反射率を測定し、得られた
反射率の値を暗色パッドの反射率と比較する方法がある
。”暗色“ (即ち、暗黒色)パッドに対して認められ
た反射率の値は5.18%である。第1図で示された遮
光器24と同様の遮光器を使用すると、反射率4.77
%の値か得られた。一方、遮光器のない同様の反射率測
定装置では、反射率の値は6.55%となった。
光学ヘッドの構成体に用いる材料は限定されず、適切な
如何なる不透明材料(例えば、金属もしくはプラスチッ
クス)を使用してもよい。しかしながら、好ましくは、
光学読取ヘッドはアクリロニトリル−ブタジェン−子チ
レン共重合体、ポリメチルメタクリレート、ポリスチレ
ン、ポリエチレン等の注型黒色プラスチックから成る。
如何なる不透明材料(例えば、金属もしくはプラスチッ
クス)を使用してもよい。しかしながら、好ましくは、
光学読取ヘッドはアクリロニトリル−ブタジェン−子チ
レン共重合体、ポリメチルメタクリレート、ポリスチレ
ン、ポリエチレン等の注型黒色プラスチックから成る。
上述の通り、遮光器の形状は種々の態様をとることがで
きるが、遮光器の表面は用いる光源によって直接照射を
受けるものであってはならない。
きるが、遮光器の表面は用いる光源によって直接照射を
受けるものであってはならない。
本発明の装置には、複数の光源2、複数の検出器、光源
と検出器の位置の逆転、照射光波長がそれぞれ異なる(
複数の)光源の使用、照射用光源もしくは検出される反
射光を制限するフィルターの使用等を始めとして、当業
者の為し得る範囲の多くの変形態様が含まれると理解す
べきである。
と検出器の位置の逆転、照射光波長がそれぞれ異なる(
複数の)光源の使用、照射用光源もしくは検出される反
射光を制限するフィルターの使用等を始めとして、当業
者の為し得る範囲の多くの変形態様が含まれると理解す
べきである。
本発明の精神及び範囲から逸脱しない限り、上述の通り
、本発明には、他の多くの変更態様及び変形態様を含み
得ることは明白である。
、本発明には、他の多くの変更態様及び変形態様を含み
得ることは明白である。
本発明に係る遮光器を用いると、小型で、安価で、しか
も高い信頼性を有する反射率測定装置を構成することが
できる。事実、本発明を利用するならば、現在用いられ
ているMiles LaboratoriesのAme
s部門製グルコメーター” GLUCOMETER”
反射率光度計の寸法の約1/3の大きさに、光学読取
ヘッドを構成することが出来ることが見い出されている
。また、寸法が約1/3に減少するばがり”c’e<、
本’+明の光学読取ヘッドはグルフメータ反射率光度計
に用いられている光学読取ヘッドに比べて価格を約20
%節減する。測定信頼度を何ら低下せしめることなく、
実質的に寸法と価格の低減を達成することができるのは
、ひとえに、本発明の新規な解決方法として用いられる
遮光器の存在による。
も高い信頼性を有する反射率測定装置を構成することが
できる。事実、本発明を利用するならば、現在用いられ
ているMiles LaboratoriesのAme
s部門製グルコメーター” GLUCOMETER”
反射率光度計の寸法の約1/3の大きさに、光学読取
ヘッドを構成することが出来ることが見い出されている
。また、寸法が約1/3に減少するばがり”c’e<、
本’+明の光学読取ヘッドはグルフメータ反射率光度計
に用いられている光学読取ヘッドに比べて価格を約20
%節減する。測定信頼度を何ら低下せしめることなく、
実質的に寸法と価格の低減を達成することができるのは
、ひとえに、本発明の新規な解決方法として用いられる
遮光器の存在による。
以上の説明から明らかな通り、本発明は上記目的の全て
を達成するのに適するばかりか、本発明に係る系固有の
性質から自明な他の様々な利点を有している。光源=4
L<は試料から発生する迷走光は、便利で、単純で、比
軸的安価で、現実的で、効果的で、しかも、高い信頼性
を有する方法によって、可及的に減少せしめられる。
を達成するのに適するばかりか、本発明に係る系固有の
性質から自明な他の様々な利点を有している。光源=4
L<は試料から発生する迷走光は、便利で、単純で、比
軸的安価で、現実的で、効果的で、しかも、高い信頼性
を有する方法によって、可及的に減少せしめられる。
第1図は、光照射軸が試料面法線と平行であり、光検出
軸が試料面法線と45度の角に配置された本発明の装置
の、−都市「面表示された模式的側14j図である。 第2図は、光照射軸と光検出軸とが同一平面にあり、試
料が該軸と角<S)をなしている本発明の装置の別の態
様の、一部断面表示された極式的側面図である。 第3図は、第1は1に示した態様と同様な構成の、遮光
器を有する光学読取ヘッドの相対的光電流(A、)と、
遮光器を有しない光学読取ヘッドの相対的光重、流の)
を示す棒グラフである。 第4図は、読取ヘッドに掻傷のついた試料窓が存在する
ときの、第1図に示した構成と同様の、遮光器を有する
光学読取ヘッドを用いて得られた相対的光電流(A>と
、遮光器を有しない光学読取ヘッドの相対的光電流(J
3)を示す棒グラフである。 10.30・・・反射率測定装置、12.32・・・光
源、13.35・・・光照射軸、14..34・・・試
料台、15・・・試料面法線軸、16.36・・・反射
光検出器、17.35・・・光検出軸、18.40・・
・試料、20゜42・・・試料窓、22・・・分光フィ
ルター、23.48・・・レンズ、24.44・・・遮
光器、26.46・・・光透過路、38・・・平面、4
7・・・傾斜壁。 B 八 8
軸が試料面法線と45度の角に配置された本発明の装置
の、−都市「面表示された模式的側14j図である。 第2図は、光照射軸と光検出軸とが同一平面にあり、試
料が該軸と角<S)をなしている本発明の装置の別の態
様の、一部断面表示された極式的側面図である。 第3図は、第1は1に示した態様と同様な構成の、遮光
器を有する光学読取ヘッドの相対的光電流(A、)と、
遮光器を有しない光学読取ヘッドの相対的光重、流の)
を示す棒グラフである。 第4図は、読取ヘッドに掻傷のついた試料窓が存在する
ときの、第1図に示した構成と同様の、遮光器を有する
光学読取ヘッドを用いて得られた相対的光電流(A>と
、遮光器を有しない光学読取ヘッドの相対的光電流(J
3)を示す棒グラフである。 10.30・・・反射率測定装置、12.32・・・光
源、13.35・・・光照射軸、14..34・・・試
料台、15・・・試料面法線軸、16.36・・・反射
光検出器、17.35・・・光検出軸、18.40・・
・試料、20゜42・・・試料窓、22・・・分光フィ
ルター、23.48・・・レンズ、24.44・・・遮
光器、26.46・・・光透過路、38・・・平面、4
7・・・傾斜壁。 B 八 8
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、光源と;該光源からの放出光に曝して反射率を測定
すべき表面を有した試料を保持する手段と;試料表面か
らの反射光を検出する手段とから成る反射光測定装置で
あって:試料と反射光検出手段との間に遮光器が配設さ
れていることを特徴とする前記装↑4゜2、遮光器が光
バッフルを有する特許請求の範囲第1項記載の装置。 3、遮光器が試料を被覆する試料窓に隣接して設けられ
た特許請求の範囲第1項記載の装置。 4 光源が白熱灯である特許請求の範囲第1項記載の装
置。 5、 白熱灯かインテグラル・レンズを有する特許請求
の範囲第4項記載の装置。 6、 白熱灯が拡散用の半透明表面を有する特許請求の
範囲第4項記載の装置。 7 光源が発光タイオードである特許請求の範囲第1項
記載の装置。 8、 試料と反射光検出手段との間に分光フィルターが
配設さ壮た特許請求の範囲第1項記載の装置。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US44520382A | 1982-11-29 | 1982-11-29 | |
US445203 | 1982-11-29 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS59109844A true JPS59109844A (ja) | 1984-06-25 |
Family
ID=23767982
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP22227983A Pending JPS59109844A (ja) | 1982-11-29 | 1983-11-28 | 反射光測定装置 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
EP (1) | EP0110262A3 (ja) |
JP (1) | JPS59109844A (ja) |
AU (1) | AU538365B2 (ja) |
CA (1) | CA1201299A (ja) |
Families Citing this family (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FI75669C (fi) * | 1986-02-04 | 1988-07-11 | Vaisala Oy | Foerfarande foer maetning av transmission av ljus och apparatur foer tillaempning av foerfarandet. |
US4729657A (en) * | 1986-06-23 | 1988-03-08 | Miles Laboratories, Inc. | Method of calibrating reflectance measuring devices |
US5028139A (en) * | 1987-07-16 | 1991-07-02 | Miles Inc. | Readhead for reflectance measurement of distant samples |
US5122943A (en) * | 1991-04-15 | 1992-06-16 | Miles Inc. | Encapsulated light emitting diode and method for encapsulation |
US5611999A (en) * | 1995-09-05 | 1997-03-18 | Bayer Corporation | Diffused light reflectance readhead |
US6089207A (en) * | 1998-03-02 | 2000-07-18 | Cummins Engine Company, Inc. | Throttle control response selection system |
US6538736B1 (en) * | 1999-12-01 | 2003-03-25 | Hach Company | Concentric spectrometer with mitigation of internal specular reflections |
WO2008020344A1 (en) * | 2006-08-18 | 2008-02-21 | Primus Special Projects (Pty) Ltd | A light detecting module for a sorter |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5346075A (en) * | 1976-10-08 | 1978-04-25 | Gen Corp | Automatic specimen analyzer |
JPS5717435B2 (ja) * | 1976-10-25 | 1982-04-10 |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2038603A1 (de) * | 1970-08-04 | 1972-02-10 | Boehringer Mannheim Gmbh | Vorrichtung und Verfahren fuer die Bestimmung der Farbtiefe von Indikatorteststreifen |
US4053235A (en) * | 1973-04-27 | 1977-10-11 | Cosar Corporation | Digital reflection densitometer system |
US3996476A (en) * | 1975-09-10 | 1976-12-07 | Scientific Technology Incorporated | Low noise photoelectric detector apparatus |
NL8002565A (nl) * | 1980-05-02 | 1981-12-01 | Stichting Inst Graf Tech | Densitometer. |
FI65143C (fi) * | 1981-12-23 | 1984-03-12 | Valtion Teknillinen | Maethuvud foer infraroedhygrometer |
-
1983
- 1983-08-25 CA CA000435316A patent/CA1201299A/en not_active Expired
- 1983-08-30 AU AU18525/83A patent/AU538365B2/en not_active Ceased
- 1983-11-18 EP EP83111545A patent/EP0110262A3/en not_active Withdrawn
- 1983-11-28 JP JP22227983A patent/JPS59109844A/ja active Pending
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5346075A (en) * | 1976-10-08 | 1978-04-25 | Gen Corp | Automatic specimen analyzer |
JPS5717435B2 (ja) * | 1976-10-25 | 1982-04-10 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP0110262A3 (en) | 1984-12-27 |
AU1852583A (en) | 1984-06-07 |
CA1201299A (en) | 1986-03-04 |
EP0110262A2 (en) | 1984-06-13 |
AU538365B2 (en) | 1984-08-09 |
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