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JPS59109844A - 反射光測定装置 - Google Patents

反射光測定装置

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Publication number
JPS59109844A
JPS59109844A JP22227983A JP22227983A JPS59109844A JP S59109844 A JPS59109844 A JP S59109844A JP 22227983 A JP22227983 A JP 22227983A JP 22227983 A JP22227983 A JP 22227983A JP S59109844 A JPS59109844 A JP S59109844A
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JP
Japan
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light
sample
light source
reflected light
shield
Prior art date
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Pending
Application number
JP22227983A
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English (en)
Inventor
アルバ−ト・ブランステイング
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Bayer Corp
Original Assignee
Miles Laboratories Inc
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Filing date
Publication date
Application filed by Miles Laboratories Inc filed Critical Miles Laboratories Inc
Publication of JPS59109844A publication Critical patent/JPS59109844A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • G01J3/02Details
    • GPHYSICS
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    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
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    • G01J3/02Details
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    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/47Scattering, i.e. diffuse reflection
    • G01N21/4738Diffuse reflection, e.g. also for testing fluids, fibrous materials
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    • G01N21/47Scattering, i.e. diffuse reflection
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    • G01N2021/478Application in testing analytical test strips
    • GPHYSICS
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    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2201/00Features of devices classified in G01N21/00
    • G01N2201/06Illumination; Optics
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    • G01N2201/00Features of devices classified in G01N21/00
    • G01N2201/08Optical fibres; light guides
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  • Pathology (AREA)
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 本発明は光反射率計用の光学的読取ヘッドに関し、更に
詳しくは、試験具を照射し、反射光を測定するための光
学的読取ヘッドに関する。
〔発明の技術的背景とその問題点〕
かつては問題にさえならなかった新たな問題を仰r決す
るために、より複雑・粘巧な分析方法及び分析具が要求
される第一線の先端技術として、生化学が注目され始め
てから、それ以来、分析化学技術は非常に大きな進歩を
とげてきた。その上、特に医療業者には、高精度な分析
結果を迅速に得なければならないという切実な要望かあ
り、その要望にこたえろべく分析化学の発展が促されて
きた。また、更に、醸造・化学製品製造業によっても、
分析化学は、その発達に拍車がかけられてきた。
このような増大する技術的要望を満足せしめるべく、溶
液化学技術、自動制御装置や所謂゛′浸漬−読取”型の
試薬帯片等の多くの分析手法、分析試薬組成物及び装置
が開発されてきた。
特に、試薬帯片からなる試験具は、廉価であり、使い易
く、しかも迅速に分析結果が得られるという理由で、多
くの分析用途、特に生物学的流体の化学分析に広く用い
られている。例えば、医学分野において、尿もしくは血
液等の体液試料中に試薬試験具を単に浸漬し、色変化又
は試験具の反射光もしくは吸収光の光偕変化等の検知可
能な信号を観測することによって多くの生理学的機能を
監視することができる。これらの試験具の多くは、仮令
、定量的でないとしても、少なくとも半定量的な検知可
能な信号を・与える。例えば、予め定めた時間の後、そ
の信号を測定することによって、分析者は試験試料中に
特定成分が存在するか否かについて明確な情報を得るこ
とができるばかりか、その成分の存在量を推定すること
もできる。すなわち、医者は、このような試験具によっ
て、疾病もしくは身体の機能不全を正確に、かつ、手軽
に診11rすることができる。
現在使用されているこのような試験具には、例えば、C
LINISTI通、  MULTISTIガ5’、  
DIASTIX■。
DEXTRO8TIX■等の商標の、Miles La
boratories、 IncのArnes部門から
入手可能な製品かある。これら試験具は、通7常、特定
の試料成分の存在下で色変化を呈する特定な試薬、即ち
反応性試藝と、該試薬系を担持する支持体マ) IJラ
ックス例えば、吸収性の紙)とから成る。
特定のマ) IJラックス相持された反応試薬系に依っ
て、これら試験具はグルコース、ケトン幹部、ビリルビ
ン、ウロビリノーケ゛ン、潜血、亜硝酸塩その他の物質
の存否を検出することができる。試験具を試料と接触せ
しめてから一定時間が経過した時点で観察される特定の
色変化及び色強度は試料中の特定成分の存否及びその成
分濃度を示す。
これらの試験具及びそれらの反応試薬系の幾つかは米国
特許第3,123,443号(CLINISTIX■)
;同第3,212,855号(KETO8TIX■);
同第3,184,668号、同第3,164,534号
及び同第2,981,606号(DIASTIX■)、
並びに、同第3,298,789号、同第3,092,
465号、同第3,164,534号及び同第2.98
1,606号(DEXTRO3TIX■)に開示されて
いる。
化学反応試薬を手で取扱うことを不要とし、しかも読出
しがプログラムとして編組された自動制御装置が開発さ
れるや、測定信頼度の要因となる分析者の主観が実質的
に排除されるようになり、また試験の再現性も改善され
、その結果、これら試験具の用途は大巾に拡大されるよ
うになった。
反射率計としては、光源と、対照光源によって照射され
た着色表面の反射光を測定することによって色値を求め
ろ光電管もしくは感知手段とを使用するものが多く用い
られている。しかしなから、信頼できる読取値を得るた
めには、正反射光の効果を可及的に小さくするように、
光源と感知手段とをうまく配設する必要がある。
正反射光の不都合な効果、例えば、試料の形状及び/又
は光源の色温度に依存するような正反射光の効果を可及
的に除去し、拡散反射率を測定するように設計された機
器にあっては、従来より、米国特許第3,604,81
5号及び第3,907,503号に記載されている如く
、光を試料面に直角に照射し、試料面の法線に対して4
5度の角度で反射する光を集光する方法がとられてきた
。当然、このような試料面の法線に対して45度の角度
で光照射し、集光角を試料面の法線方向とする逆の位筒
関係にすることもできる。しかしなから、かかる位置間
  。
係を得るには、機器要素の配列をやや複雑にせざるを得
す、所望位置に首尾よく光を伝達せしめるのに光学ファ
イバーの使用を必要とすることさえあった。
その他、米国特許第4,279,514  号に記載の
如き、法線に対して45度角に置かれた複数の光源を使
用し、試料の法線方向の反射光を集光する方法も提案さ
れている。
以上の、幾何学的配置関係は、これまで反射光を測定す
る上で最も大切なことであると考えられてきた。例えば
[反射光測定の絶対的方法(Absolute Met
hods for Reflection (Meas
urements) Jと題する国際照明委員会(In
ternational Comm5sionon I
llumination )の刊行物、CIE N14
4 (TC−2、3)1979を参照されたい。
〔発明の目的〕
特に、本発明は試薬パッド(試料)を照射し、非正反射
光の測定を得るための、小型で、高い信頼性を有し、か
つ、安価な光学ヘッド構成体を提供することを目的とす
る。理想的には反射率計の全外形寸法をポケットもしく
は手さげ袋に入れて運ぶことができるように出来るだけ
小さくすることである。
〔発明の概要〕
本発明によると、光源から1つ以上の光検出器に通る迷
走光を可及的″に少なくする遮光器(lighttra
p )か設けられた、試薬パッドを照射し、非正反射光
の測定を得るための光学ヘッドが開示される。
本発明の内容をなす装置は、少なくとも1つの光源と;
少なくとも1つの検出器(例えば光電管と;試料台と;
検出器占試料との間に配設された遮光器を有することを
特徴とする。
本発明の更なる利点及び特徴は、以下の詳細な説明及び
参照される添付図面から当業者に明らかになるであろう
図面の第1図は反射率測定用の装置lOを表わす。この
装N10は光源12と;試料台14と;反射光検出器1
6とを有する。照射軸13は試料18面の法線軸15と
平行になっている。また光検出軸17は法線軸15と4
5度の角をなす。従って、試料台14によって保持され
た試料18からの光反射率は、光源12を用いて試料1
8を照射し、検出器16を用いてその反射光を検出する
ことによって測定される。
一般に、第1図の装置10は、試験具、即ち試料18上
に試料窓20 (例えば、ガラス窓)が設けられた構成
を有する。また、反射率測定装置10には、関心のある
スペクトル領域を選択するべく、反射光検出器16の前
方に分光フィルター22が配設される。更に、光源12
からの光を試料18上に集めるためにレンズ23を用い
ることも出来る0 本発明によれば、反射率測定装置10の検出器16と試
料18の間には遮光器24が配設される。
遮光器24の形状は詳細な限定を受けるものではないが
、遮光器24の器壁が直接光源12によって照射される
ことがないように、光源12から試料18に至る光透過
路26より大きくする。上述の通り、遮光器24の目的
は迷走光が検出器16に至るのを防止することにある。
好ましくは、遮光器24は暗黒色塗料で塗付され、所望
ならば遮光器24には迷走光の遮光を助けるバッフルを
設けることもできる。
第2図は本発明の反射率測定装置の別の態様を示す模式
図である。こ゛の反射率測定装置30は光源32と、試
料台34と、検出器36とから成る。
光源32と検出器36の両者は同一平面38上に互に近
接して装着されている。また、試料台34は光照射軸と
光検出軸35を含む平面に関して釣26度の角度で配設
されている。
試料台34は試料4oを試料窓42と呼応した位置に保
持している。また、遮光器44は試料窓42と隘接した
位置に設けられる。光透過路46は遮光器44と比較し
て口径が小さなものとする。
このようにして、光源32からの光は光透過路46Et
び窩42を通過し、試料4oを照射することになる。試
料40からの反射光は光透過路46に戻って検出器36
に至る。1982年11月1日に出願された米国特許出
願第438,010号に於いて強調した通り、光源32
と検出器36を互に近接させて同一平面上に置くと、よ
り安価な構成が望まれる装置全体の価格を低減せしめる
ばかりでなく、装置の小型化を容易ならしめる。
第1図に示した遮光器24の場合と同様に、第2図中の
遮光器44を暗黒色塗料で被覆することができ、また迷
走光のドラッグもしくは制止を促進すべく遮光器44に
パンフルを設けることもできる。第2図において、遮光
器44は傾斜壁47−47を有するように描かれている
。この傾斜壁47−47もまた、迷走光を抑制する上で
助けとなる。また、検出器36に至る迷走光の透過を更
に出来る限り少なくするため、光透過路46内に絞りも
しくはバッフルを設けてもよい。
用いる光源12.32及び検出器16.36は特定のも
のに限定されるものではない。好ましい光源の1つとし
ては、アメリカ合衆国、カルフォルニア州、ハルオーア
ルドのヒユーレット・ノやツカード(Hewlett 
−Packard )社製の発光ダイオード(LED 
)モジュールHLMP −3950が挙けられる。
しかしながら、この光源は適切な如何なる白熱光源もし
くは非白熱光源であってもよく、また、所望ならば、集
光のため、第1図及び第2図に示されるイ”−6fラル
・レンズ(integral 1ens )  23 
48のようなレンズを有していてもよい。更に、試料へ
の照射光を拡散゛せしめるべく、光源をつや消ししても
よく、また拡散手段と併用することもできる。好適な検
出器としては、アメリカ合衆国、ロード・アイランド州
、クランストンのチェリー・セミコンダクター・コーポ
レーション(CherrySerniconducto
r Corp、 )社製の積分比側光電流増巾器付の光
ダイオードセンサーかある。
第3図及び第4図の棒グラフは、第1図に示した光学読
取ヘッドで測定された相対的光電流(A)と、遮光器を
有していない同様の光学読取ヘッドで測定された相対的
光電流(B)とを比較して示す。第3図から明らかな通
り、本発明の光学読取ヘッドを用いると、より多くのス
ループット(遮光器を有しない光学読取ヘッドに比較し
て30%過犬な光電流)か得られる。
第4図は光学読取ヘッドの試料窓に掻傷がある場合の相
対的光電流を示す。第4図から明らかな辿り、遮光器か
存在する場合には、試料窓上の掻傷はさほど大きな要因
とはならなくなる。
遮光器の効果を比較する方法の一つに、遮光器を有する
ものと有しないものによって反射率を測定し、得られた
反射率の値を暗色パッドの反射率と比較する方法がある
。”暗色“ (即ち、暗黒色)パッドに対して認められ
た反射率の値は5.18%である。第1図で示された遮
光器24と同様の遮光器を使用すると、反射率4.77
%の値か得られた。一方、遮光器のない同様の反射率測
定装置では、反射率の値は6.55%となった。
光学ヘッドの構成体に用いる材料は限定されず、適切な
如何なる不透明材料(例えば、金属もしくはプラスチッ
クス)を使用してもよい。しかしながら、好ましくは、
光学読取ヘッドはアクリロニトリル−ブタジェン−子チ
レン共重合体、ポリメチルメタクリレート、ポリスチレ
ン、ポリエチレン等の注型黒色プラスチックから成る。
上述の通り、遮光器の形状は種々の態様をとることがで
きるが、遮光器の表面は用いる光源によって直接照射を
受けるものであってはならない。
本発明の装置には、複数の光源2、複数の検出器、光源
と検出器の位置の逆転、照射光波長がそれぞれ異なる(
複数の)光源の使用、照射用光源もしくは検出される反
射光を制限するフィルターの使用等を始めとして、当業
者の為し得る範囲の多くの変形態様が含まれると理解す
べきである。
本発明の精神及び範囲から逸脱しない限り、上述の通り
、本発明には、他の多くの変更態様及び変形態様を含み
得ることは明白である。
〔発明の効果〕
本発明に係る遮光器を用いると、小型で、安価で、しか
も高い信頼性を有する反射率測定装置を構成することが
できる。事実、本発明を利用するならば、現在用いられ
ているMiles LaboratoriesのAme
s部門製グルコメーター” GLUCOMETER” 
 反射率光度計の寸法の約1/3の大きさに、光学読取
ヘッドを構成することが出来ることが見い出されている
。また、寸法が約1/3に減少するばがり”c’e<、
本’+明の光学読取ヘッドはグルフメータ反射率光度計
に用いられている光学読取ヘッドに比べて価格を約20
%節減する。測定信頼度を何ら低下せしめることなく、
実質的に寸法と価格の低減を達成することができるのは
、ひとえに、本発明の新規な解決方法として用いられる
遮光器の存在による。
以上の説明から明らかな通り、本発明は上記目的の全て
を達成するのに適するばかりか、本発明に係る系固有の
性質から自明な他の様々な利点を有している。光源=4
L<は試料から発生する迷走光は、便利で、単純で、比
軸的安価で、現実的で、効果的で、しかも、高い信頼性
を有する方法によって、可及的に減少せしめられる。
【図面の簡単な説明】
第1図は、光照射軸が試料面法線と平行であり、光検出
軸が試料面法線と45度の角に配置された本発明の装置
の、−都市「面表示された模式的側14j図である。 第2図は、光照射軸と光検出軸とが同一平面にあり、試
料が該軸と角<S)をなしている本発明の装置の別の態
様の、一部断面表示された極式的側面図である。 第3図は、第1は1に示した態様と同様な構成の、遮光
器を有する光学読取ヘッドの相対的光電流(A、)と、
遮光器を有しない光学読取ヘッドの相対的光重、流の)
を示す棒グラフである。 第4図は、読取ヘッドに掻傷のついた試料窓が存在する
ときの、第1図に示した構成と同様の、遮光器を有する
光学読取ヘッドを用いて得られた相対的光電流(A>と
、遮光器を有しない光学読取ヘッドの相対的光電流(J
3)を示す棒グラフである。 10.30・・・反射率測定装置、12.32・・・光
源、13.35・・・光照射軸、14..34・・・試
料台、15・・・試料面法線軸、16.36・・・反射
光検出器、17.35・・・光検出軸、18.40・・
・試料、20゜42・・・試料窓、22・・・分光フィ
ルター、23.48・・・レンズ、24.44・・・遮
光器、26.46・・・光透過路、38・・・平面、4
7・・・傾斜壁。 B 八     8

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、光源と;該光源からの放出光に曝して反射率を測定
    すべき表面を有した試料を保持する手段と;試料表面か
    らの反射光を検出する手段とから成る反射光測定装置で
    あって:試料と反射光検出手段との間に遮光器が配設さ
    れていることを特徴とする前記装↑4゜2、遮光器が光
    バッフルを有する特許請求の範囲第1項記載の装置。 3、遮光器が試料を被覆する試料窓に隣接して設けられ
    た特許請求の範囲第1項記載の装置。 4 光源が白熱灯である特許請求の範囲第1項記載の装
    置。 5、 白熱灯かインテグラル・レンズを有する特許請求
    の範囲第4項記載の装置。 6、 白熱灯が拡散用の半透明表面を有する特許請求の
    範囲第4項記載の装置。 7 光源が発光タイオードである特許請求の範囲第1項
    記載の装置。 8、 試料と反射光検出手段との間に分光フィルターが
    配設さ壮た特許請求の範囲第1項記載の装置。
JP22227983A 1982-11-29 1983-11-28 反射光測定装置 Pending JPS59109844A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US44520382A 1982-11-29 1982-11-29
US445203 1982-11-29

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS59109844A true JPS59109844A (ja) 1984-06-25

Family

ID=23767982

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP22227983A Pending JPS59109844A (ja) 1982-11-29 1983-11-28 反射光測定装置

Country Status (4)

Country Link
EP (1) EP0110262A3 (ja)
JP (1) JPS59109844A (ja)
AU (1) AU538365B2 (ja)
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