[go: up one dir, main page]

RU2017126225A - Способ и устройство для контроля шин на производственной линии - Google Patents

Способ и устройство для контроля шин на производственной линии Download PDF

Info

Publication number
RU2017126225A
RU2017126225A RU2017126225A RU2017126225A RU2017126225A RU 2017126225 A RU2017126225 A RU 2017126225A RU 2017126225 A RU2017126225 A RU 2017126225A RU 2017126225 A RU2017126225 A RU 2017126225A RU 2017126225 A RU2017126225 A RU 2017126225A
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
images
point
surface area
light radiation
indicated
Prior art date
Application number
RU2017126225A
Other languages
English (en)
Other versions
RU2017126225A3 (ru
RU2696343C2 (ru
Inventor
Винченцо БОФФА
Валериано БАЛЛАРДИНИ
ТОЦЦИ Джузеппе КАЗАДИО
Бартоломео МОНТРУККИО
Original Assignee
Пирелли Тайр С.П.А.
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Пирелли Тайр С.П.А. filed Critical Пирелли Тайр С.П.А.
Publication of RU2017126225A publication Critical patent/RU2017126225A/ru
Publication of RU2017126225A3 publication Critical patent/RU2017126225A3/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2696343C2 publication Critical patent/RU2696343C2/ru

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M17/00—Testing of vehicles
    • G01M17/007—Wheeled or endless-tracked vehicles
    • G01M17/02—Tyres
    • G01M17/027—Tyres using light, e.g. infrared, ultraviolet or holographic techniques
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/30—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring roughness or irregularity of surfaces
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8851—Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
    • G01N21/952—Inspecting the exterior surface of cylindrical bodies or wires
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
    • G01N21/954—Inspecting the inner surface of hollow bodies, e.g. bores
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T7/00—Image analysis
    • G06T7/0002—Inspection of images, e.g. flaw detection
    • G06T7/0004—Industrial image inspection
    • G06T7/001—Industrial image inspection using an image reference approach
    • H—ELECTRICITY
    • H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N23/00—Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof
    • H04N23/56—Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof provided with illuminating means
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8806—Specially adapted optical and illumination features
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
    • G01N21/956—Inspecting patterns on the surface of objects
    • G01N21/95607—Inspecting patterns on the surface of objects using a comparative method
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T2207/00—Indexing scheme for image analysis or image enhancement
    • G06T2207/10—Image acquisition modality
    • G06T2207/10024—Color image
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T2207/00—Indexing scheme for image analysis or image enhancement
    • G06T2207/10—Image acquisition modality
    • G06T2207/10028—Range image; Depth image; 3D point clouds
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T2207/00—Indexing scheme for image analysis or image enhancement
    • G06T2207/10—Image acquisition modality
    • G06T2207/10141—Special mode during image acquisition
    • G06T2207/10152—Varying illumination
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T2207/00—Indexing scheme for image analysis or image enhancement
    • G06T2207/20—Special algorithmic details
    • G06T2207/20212—Image combination
    • G06T2207/20224—Image subtraction

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Tires In General (AREA)
  • Tyre Moulding (AREA)

Claims (34)

1. Способ контроля шин на линии изготовления шин, включающий:
выполнение шины (200), подлежащей контролю;
освещение участка поверхности шины посредством первого светового излучения, падающего под скользящим углом, и получение первого изображения участка поверхности, освещенного посредством первого светового излучения, при этом первое изображение является двумерным;
освещение в основном указанного участка поверхности в момент времени, отличающийся от момента времени освещения этого участка поверхности посредством первого излучения, посредством второго светового излучения, падающего под скользящим углом, и получение второго изображения в основном указанного участка поверхности, освещенного посредством второго светового излучения, при этом второе изображение является двумерным; при этом для каждой точки (Р, Р') указанного участка поверхности, по меньшей мере, 75% от соответствующей суммарной силы света первого и второго световых излучений, падающих в данной точке, соответственно поступает из двух полупространств, которые противоположны по отношению к оптической плоскости (107), проходящей через перпендикуляр к поверхности шины в указанной каждой точке;
- обработку первого и второго изображений, при этом первое и второе изображения сравнивают друг с другом для получения информации о профиле высот указанного участка поверхности.
2. Способ по п.1, при котором сравнение первого и второго изображений включает вычисление разности между первым и вторым изображениями.
3. Способ по п.1 или 2, при котором сравнение первого и второго изображений включает вычисление разностного изображения, в котором каждый пиксель соответствует величине, характеризующей разность значений, поставленных в соответствие соответствующим пикселям на первом и втором изображениях.
4. Способ по любому из пп.1-3, при котором обработка первого и второго изображений включает обнаружение возможного наличия дефектов на участке поверхности.
5. Способ по любому из пп.1-4, при котором для каждой точки указанного участка поверхности, по меньшей мере, 90% от соответствующей суммарной силы света первого и второго световых излучений, падающих в данной точке, соответственно поступает из указанных двух противоположных полупространств.
6. Способ по любому из пп.1-5, при котором, по меньшей мере, 75% от соответствующей суммарной силы света первого и второго световых излучений, падающих в каждой точке указанного участка поверхности, образует с плоскостью, касательной к поверхности шины в указанной каждой точке, первый угол падения с амплитудой, которая меньше или равна 55°.
7. Способ по любому из пп.1-6, при котором, по меньшей мере, 75% от соответствующей суммарной силы света первого и второго световых излучений, падающих в каждой точке указанного участка поверхности, образует с плоскостью, касательной к поверхности шины в указанной каждой точке, первый угол падения, имеющий амплитуду, которая больше или равна 10°.
8. Способ по любому из пп.1-7, при котором по меньшей мере, 75% от соответствующей суммарной силы света первого и второго световых излучений, падающих в каждой точке указанного участка поверхности, образует с базовой плоскостью (116), ортогональной к оптической плоскости (107) в указанной каждой точке и проходящей через перпендикуляр к поверхности в указанной каждой точке, второй угол падения, который по абсолютной величине меньше или равен 45°.
9. Способ по любому из пп.1-8, включающий освещение указанного участка поверхности в момент времени, отличающийся от моментов времени освещения этого участка поверхности посредством первого и второго излучений, посредством третьего светового излучения, отличающегося от первого и второго излучений, и получение третьего изображения указанного участка поверхности, освещенного посредством третьего светового излучения, при этом третье изображение является двумерным и третье световое излучение является рассеянным.
10. Способ по п.9, дополнительно включающий обработку третьего изображения для обнаружения возможного наличия дефектов участка поверхности, при этом при обработке используется информация, полученная из указанного сравнения между первым и вторым изображениями.
11. Способ по любому из пп.1-10, при котором первое и второе цифровые изображения состоят из соответствующего множества первых и вторых линейных изображений последовательности линейных участков поверхности, смежных или частично наложенных друг на друга, при этом первые и вторые линейные изображения получают на каждом линейном участке из последовательности линейных участков, освещаемых соответственно посредством первого и второго световых излучений последовательно и с чередованием.
12. Способ по п.11, при котором третье цифровое изображение состоит из множества третьих линейных изображений указанной последовательности линейных участков поверхности, при этом третьи линейные изображения получают на каждом линейном участке из указанной последовательности линейных участков, освещаемых посредством третьего светового излучения, последовательно с чередованием с указанным получением соответствующих первых и вторых линейных изображений.
13. Способ по п.11 или 12, при котором последовательность линейных участков получают посредством вращения шины вокруг ее оси.
14. Способ по любому из пп.1-13, при котором перед сравнением первого и второго изображений друг с другом осуществляют выравнивание первого и второго изображений друг относительно друга.
15. Способ по любому из пп.1-14, при котором задержка времени при получении двух пикселей, принадлежащих каждой паре соответствующих пикселей первого и второго изображений, составляет менее 0,5 миллисекунды.
16. Устройство (1) для контроля шин на линии изготовления шин, содержащее:
опору (102) для шины (200);
первый источник (108) света и второй источник (109) света, выполненные с возможностью излучения соответственно первого и второго световых излучений для освещения по существу одного и того же участка поверхности шины, и систему (105) обнаружения, выполненную с возможностью получения первого и второго изображений в основном указанного участка поверхности, освещенного соответственно посредством первого и второго световых излучений, при этом первое и второе изображения представляют собой двумерные изображения;
блок (140) управления и контроля, выполненный с возможностью:
- попеременного включения первого источника света и второго источника света; и
- включения системы обнаружения для получения первого и второго изображений синхронно с включением соответственно первого и второго источников;
блок обработки данных, выполненный с возможностью:
- получения первого и второго цифровых изображений от системы обнаружения;
- обработки первого и второго изображений, при этом первое и второе изображения сравнивают друг с другом для получения информации о профиле высот указанного участка поверхности;
причем первое световое излучение и второе световое излучение падают под скользящим углом; и
для каждой точки указанного участка поверхности, по меньшей мере, 75% от соответствующей суммарной силы света первого и второго световых излучений, падающих в данной точке, соответственно поступает из двух полупространств, которые противоположны по отношению к оптической плоскости (107), проходящей через перпендикуляр к поверхности шины в указанной каждой точке.
17. Устройство по п.16, содержащее третий источник (110) света, выполненный с возможностью излучения третьего светового излучения для освещения указанного участка поверхности, при этом система обнаружения выполнена с возможностью получения третьего изображения, причем блок управления и контроля выполнен с возможностью включения третьего источника света в момент времени, отличающийся от тех моментов времени, когда участок поверхности освещается посредством первого и второго излучений, и приведения в действие указанной системы обнаружения для получения третьего изображения синхронно с включением третьего источника.
18. Устройство по п.16 или 17, в котором система обнаружения содержит линейную камеру, имеющую осевую линию объектива.
19. Устройство по любому из пп.16-18, содержащее систему для определения углового положения указанной опоры, при этом блок управления и контроля выполнен с возможностью избирательного включения первого источника света, второго источника света и третьего источника света и приведения в действие системы обнаружения в зависимости от сигнала углового положения опоры, передаваемого системой определения углового положения.
20. Устройство по любому из пп.16-19, содержащее элемент для обеспечения перемещения, выполненный с возможностью приведения во вращение опоры (102) и, следовательно, шины (200), вокруг ее оси вращения, при этом блок (140) управления и контроля выполнен с возможностью приведения в действие элемента для обеспечения перемещения.
RU2017126225A 2014-12-22 2015-12-14 Способ и устройство для контроля шин на производственной линии RU2696343C2 (ru)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
ITMI2014A002215 2014-12-22
ITMI20142215 2014-12-22
PCT/IB2015/059575 WO2016103103A1 (en) 2014-12-22 2015-12-14 Method and apparatus for checking tyres in a production line

Publications (3)

Publication Number Publication Date
RU2017126225A true RU2017126225A (ru) 2019-01-24
RU2017126225A3 RU2017126225A3 (ru) 2019-06-03
RU2696343C2 RU2696343C2 (ru) 2019-08-01

Family

ID=52597076

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2017126225A RU2696343C2 (ru) 2014-12-22 2015-12-14 Способ и устройство для контроля шин на производственной линии

Country Status (9)

Country Link
US (1) US10697857B2 (ru)
EP (1) EP3237837B1 (ru)
JP (1) JP6691541B2 (ru)
KR (1) KR102596252B1 (ru)
CN (1) CN107278261B (ru)
BR (1) BR112017013327B1 (ru)
MX (1) MX375000B (ru)
RU (1) RU2696343C2 (ru)
WO (1) WO2016103103A1 (ru)

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP3237834B1 (en) 2014-12-22 2020-02-19 Pirelli Tyre S.p.A. Apparatus for controlling tyres in a production line
JP6917371B2 (ja) * 2015-12-16 2021-08-11 ピレリ・タイヤ・ソチエタ・ペル・アツィオーニ タイヤを検査するための方法およびデバイス
US11346792B2 (en) * 2017-12-20 2022-05-31 Pirelli Tyre S.P.A. Method and apparatus for checking tyres in a process and a plant for making tyres for vehicle wheels
EP3869176A1 (de) * 2020-02-21 2021-08-25 Continental Reifen Deutschland GmbH Verfahren zum prüfen von reifen
JP7516832B2 (ja) 2020-04-17 2024-07-17 住友ゴム工業株式会社 タイヤの測定方法及びタイヤの表示方法
KR102388751B1 (ko) 2020-10-22 2022-04-20 (주)레이텍 테라헤르츠 투과 영상기술을 이용한 타이어 내부 결함 검사장치

Family Cites Families (86)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4606634A (en) 1984-07-27 1986-08-19 Owens-Illinois, Inc. System for detecting selective refractive defects in transparent articles
EP0189551B1 (de) * 1984-12-14 1988-10-26 Flachglas Aktiengesellschaft Verfahren und Vorrichtung zum Prüfen von transparenten Materialbahnen, insbesondere Flachglasbändern
US4634879A (en) 1985-03-21 1987-01-06 General Electric Company Method and system for determining surface profile information
FR2642164B1 (fr) 1989-01-26 1991-04-12 Saint Gobain Cinematique Contr Controle d'objets a forte cadence
JPH07237270A (ja) 1994-02-28 1995-09-12 Shimadzu Corp タイヤ判別装置
US7603894B2 (en) * 2000-09-08 2009-10-20 Automotive Technologies International, Inc. Self-powered tire monitoring system
DE19534716C2 (de) 1995-09-19 1999-06-17 Autronic Bildverarbeitung Einrichtung zum Erfassen von Fehlstellen auf einer glatten Oberfläche
US5703680A (en) 1996-01-16 1997-12-30 The Goodyear Tire & Rubber Company Method for dynamic interference pattern testing
US5802201A (en) * 1996-02-09 1998-09-01 The Trustees Of Columbia University In The City Of New York Robot system with vision apparatus and transparent grippers
JPH09277806A (ja) 1996-04-18 1997-10-28 Toyota Motor Corp タイヤ種別判別方法及び装置
US6075883A (en) * 1996-11-12 2000-06-13 Robotic Vision Systems, Inc. Method and system for imaging an object or pattern
US5987978A (en) 1997-04-02 1999-11-23 Assembly Technology & Test Ltd. Apparatus for testing tire tread depth
US6327374B1 (en) * 1999-02-18 2001-12-04 Thermo Radiometrie Oy Arrangement and method for inspection of surface quality
JP4514007B2 (ja) 1999-12-28 2010-07-28 株式会社ブリヂストン 被検体の外観形状検査方法及び装置
ATE504825T1 (de) * 2000-04-28 2011-04-15 Electro Scient Ind Inc Gerichtete beleuchtung und verfahren zur erkennung dreidimensionaler information
JP4589555B2 (ja) 2001-03-23 2010-12-01 株式会社ブリヂストン 照明装置
JP4717285B2 (ja) * 2001-08-24 2011-07-06 キヤノン株式会社 走査光学装置及びそれを用いた画像形成装置
JP2003240521A (ja) * 2002-02-21 2003-08-27 Bridgestone Corp 被検体の外観・形状検査方法とその装置、及び、被検体の外観・形状検出装置
DE10319099B4 (de) 2003-04-28 2005-09-08 Steinbichler Optotechnik Gmbh Verfahren zur Interferenzmessung eines Objektes, insbesondere eines Reifens
ATE301828T1 (de) 2003-09-04 2005-08-15 Snap On Equip Srl Unico Socio Punktweises optisches abtasten der beschaffenheit eines luftreifens eines fahrzeugrades (an radauswuchtmaschine)
US7436504B2 (en) 2003-09-10 2008-10-14 Shear Graphics, Llc Non-destructive testing and imaging
US6934018B2 (en) 2003-09-10 2005-08-23 Shearographics, Llc Tire inspection apparatus and method
JP2005337957A (ja) 2004-05-28 2005-12-08 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 基板検査装置
DE102004050355A1 (de) 2004-10-15 2006-04-27 Steinbichler Optotechnik Gmbh Verfahren und Vorrichtung zum Prüfen der Oberfläche eines Reifens
JP4881584B2 (ja) * 2005-06-28 2012-02-22 株式会社ブリヂストン 凹凸図形検査のためのマスターデータの作成方法
DE102005031490A1 (de) * 2005-07-04 2007-02-01 Massen Machine Vision Systems Gmbh Kostengünstige multi-sensorielle Oberflächeninspektion
US7495231B2 (en) * 2005-09-08 2009-02-24 Agilent Technologies, Inc. MALDI sample plate imaging workstation
US7177740B1 (en) * 2005-11-10 2007-02-13 Beijing University Of Aeronautics And Astronautics Method and apparatus for dynamic measuring three-dimensional parameters of tire with laser vision
DE102005058873A1 (de) * 2005-12-09 2007-06-14 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Vorrichtung und Verfahren zur Vermessung der Oberfläche eines Körpers
US7660509B2 (en) * 2006-05-24 2010-02-09 3M Innovative Properties Company Backlight asymmetric light input wedge
JP5481012B2 (ja) 2006-06-05 2014-04-23 吉郎 山田 表面検査装置
JP5019849B2 (ja) 2006-11-02 2012-09-05 株式会社ブリヂストン タイヤの表面検査方法および装置
JP2008153057A (ja) * 2006-12-18 2008-07-03 Citizen Electronics Co Ltd 光源ユニット、バックライトユニット及び表示装置
JP2008179131A (ja) * 2006-12-26 2008-08-07 Ricoh Co Ltd 画像処理方法及び画像処理装置
DE102007009040C5 (de) 2007-02-16 2013-05-08 Bernward Mähner Vorrichtung und Verfahren zum Prüfen eines Reifens, insbesondere mittels eines interferometrischen Messverfahrens
EP2172737B1 (en) 2007-08-06 2013-04-24 Kabushiki Kaisha Kobe Seiko Sho Tire shape measuring system
FR2925706B1 (fr) * 2007-12-19 2010-01-15 Soc Tech Michelin Dispositif d'evaluation de la surface d'un pneumatique.
BRPI0917910B1 (pt) 2008-08-26 2019-08-20 Kabushiki Kaisha Bridgestone Método e aparelho para detectar desigualdade de superfície de um objeto sob inspeção
CN101672627B (zh) 2008-09-08 2014-03-19 株式会社神户制钢所 轮胎形状检测装置及轮胎形状检测方法
FR2938330A1 (fr) * 2008-11-07 2010-05-14 Michelin Soc Tech Evaluation du relief de la surface d'un pneumatique par stereovision active
ITMI20082132A1 (it) * 2008-12-02 2010-06-03 Wide Eye S R L Dispositivo riflettente ad ampio angolo di visuale, ridotta distorsione e anamorfosi e ridotto sdoppiamento delle immagini riflesse, particolarmente per veicoli.
EP2211161B1 (en) 2009-01-22 2012-07-11 Snap-on Equipment Srl a unico socio Wheel diagnosis system
GB0903689D0 (en) 2009-03-03 2009-04-15 Sigmavision Ltd Vehicle tyre measurement
CL2009001393A1 (es) 2009-06-10 2011-07-08 Marcelo Alberto Olivares Godoy 31 5% Metodo para inspeccionar neumaticos de grandes dimensiones, que permite detectar in situ la condicion de este, que comprende las etapas de; calibrar un equipo de ultrasonido; determinar el espesor remanente de caucho; ejecutar un barrido ultrasonido sobre el neumatico; y recibir ecos de respuesta para obtener su condicion interna.
JP5371848B2 (ja) 2009-12-07 2013-12-18 株式会社神戸製鋼所 タイヤ形状検査方法、及びタイヤ形状検査装置
JP5518571B2 (ja) 2010-05-24 2014-06-11 株式会社ブリヂストン タイヤの外観検査装置及び外観検査方法
CN103026496B (zh) * 2010-06-11 2017-03-15 摩根阳光公司 单片式光伏太阳能集中器
US8542881B2 (en) 2010-07-26 2013-09-24 Nascent Technology, Llc Computer vision aided automated tire inspection system for in-motion inspection of vehicle tires
US9113046B2 (en) 2010-08-04 2015-08-18 Bridgestone Corporation Tire contour measurement data correction method and tire visual inspection device
US9121693B2 (en) * 2010-09-03 2015-09-01 Kabushiki Kaisha Bridgestone Method and apparatus for detecting shape of strip-shaped member and two-dimensional displacement sensor
JP5670161B2 (ja) 2010-11-25 2015-02-18 東洋ゴム工業株式会社 タイヤの検査装置
US8824878B2 (en) 2010-11-25 2014-09-02 Toyo Tire & Rubber Co., Ltd. Illumination device and inspection device of tire
JP5562278B2 (ja) * 2011-03-15 2014-07-30 株式会社神戸製鋼所 タイヤ形状検査装置、及びタイヤ形状検査方法
JP5726045B2 (ja) * 2011-11-07 2015-05-27 株式会社神戸製鋼所 タイヤ形状検査方法、及びタイヤ形状検査装置
ITMI20112253A1 (it) * 2011-12-13 2013-06-14 Pirelli Metodo per controllare la deposizione di semilavorati elementari in un processo di confezione di pneumatici per ruote di veicoli
JP5882730B2 (ja) * 2011-12-28 2016-03-09 株式会社ブリヂストン 外観検査装置及び外観検査方法
JP2013242256A (ja) 2012-05-22 2013-12-05 Ricoh Elemex Corp 検査データ取得方法及び外観検査装置
BR112015001413B1 (pt) * 2012-07-31 2020-12-15 Pirelli Tyre S.P.A Métodos para segmentar a superfície de um pneu, e para detectar defeitos sobre uma superfície de um pneu, e, equipamento para segmentar a superfície de um pneu
MX352132B (es) * 2012-11-15 2017-11-08 Android Ind Llc Sistema y método para determinar la uniformidad de un neumático..
JP5969906B2 (ja) * 2012-11-29 2016-08-17 株式会社神戸製鋼所 計測方法及び計測装置
WO2014097133A1 (en) 2012-12-21 2014-06-26 Pirelli Tyre S.P.A. Method and apparatus for controlling tyres or related semi-finished products in a production line
DE102013207374A1 (de) * 2013-04-23 2014-10-23 Robert Bosch Gmbh Vorrichtung und Verfahren zum Erkennen von Beschriftungen auf Fahrzeugreifen
KR101500375B1 (ko) 2013-06-27 2015-03-10 현대자동차 주식회사 차체 도장 외관 검사장치
ITMI20131157A1 (it) 2013-07-10 2015-01-11 Pirelli Metodo e apparato per controllare pneumatici in una linea di produzione
US9091596B2 (en) * 2013-08-09 2015-07-28 Davis Instruments Corporation UV irradiance sensor with improved cosine response
GB201318824D0 (en) * 2013-10-24 2013-12-11 Wheelright Ltd Tyre condition analysis
JP5775132B2 (ja) * 2013-11-01 2015-09-09 株式会社ブリヂストン タイヤの検査装置
US9677897B2 (en) * 2013-11-13 2017-06-13 Elwha Llc Dead reckoning system for vehicles
GB201401352D0 (en) * 2014-01-27 2014-03-12 Pre Chasm Res Ltd Tyre tread depth and tyre condition determination
CN106104201B (zh) * 2014-04-07 2019-12-24 横滨橡胶株式会社 轮胎模具的刻印检查方法及装置
US9476569B2 (en) * 2014-05-20 2016-10-25 King Abdulaziz City for Science and Technology (KACST) Apparatus light pen and its use
JP6289283B2 (ja) * 2014-06-20 2018-03-07 株式会社ブリヂストン 円環状回転体の表面形状データの補正方法、及び、円環状回転体の外観検査装置
RU2709152C2 (ru) 2014-12-05 2019-12-16 Пирелли Тайр С.П.А. Способ и устройство для контроля шин в технологическом процессе и в установке для изготовления шин для колес транспортных средств
WO2016099655A1 (en) * 2014-12-16 2016-06-23 Bridgestone Americas Tire Operations, Llc Optical-based tread depth measuring device, system, and method
EP3237834B1 (en) * 2014-12-22 2020-02-19 Pirelli Tyre S.p.A. Apparatus for controlling tyres in a production line
CN107771341B (zh) 2015-06-30 2022-01-11 倍耐力轮胎股份公司 用于分析轮胎的表面的方法和设备
MX2017016138A (es) 2015-06-30 2018-03-01 Pirelli Metodo y aparato para detectar defectos sobre la superficie de neumaticos.
GB201517926D0 (en) 2015-10-09 2015-11-25 Wheelright Ltd Tyre condition analysis
ITUB20155721A1 (it) 2015-11-19 2017-05-19 Pirelli Metodo e linea di controllo di pneumatici per ruote di veicoli
JP6917371B2 (ja) 2015-12-16 2021-08-11 ピレリ・タイヤ・ソチエタ・ペル・アツィオーニ タイヤを検査するための方法およびデバイス
MX381679B (es) 2015-12-16 2025-03-12 Pirelli Tyre S P A Dispositivo y metodo para el analisis de neumaticos.
KR102737406B1 (ko) 2015-12-16 2024-12-03 피렐리 타이어 소시에떼 퍼 아찌오니 타이어를 검사하는 기기 및 방법
US10488302B2 (en) 2015-12-28 2019-11-26 Pirelli Tyre S.P.A. Device for checking tyres
CN108603814B (zh) 2015-12-28 2020-09-22 倍耐力轮胎股份公司 用于检查轮胎的设备和方法
CN108603813B (zh) 2015-12-28 2020-10-27 倍耐力轮胎股份公司 用于检查轮胎的设备
ITUA20163534A1 (it) 2016-05-18 2017-11-18 Pirelli Metodo e linea di controllo di pneumatici per ruote di veicoli

Also Published As

Publication number Publication date
CN107278261A (zh) 2017-10-20
WO2016103103A1 (en) 2016-06-30
BR112017013327A2 (pt) 2018-03-06
MX2017007772A (es) 2017-10-02
RU2017126225A3 (ru) 2019-06-03
CN107278261B (zh) 2020-08-28
JP2018505385A (ja) 2018-02-22
EP3237837A1 (en) 2017-11-01
US10697857B2 (en) 2020-06-30
KR20170097688A (ko) 2017-08-28
MX375000B (es) 2025-03-06
RU2696343C2 (ru) 2019-08-01
BR112017013327B1 (pt) 2022-05-24
US20170350793A1 (en) 2017-12-07
JP6691541B2 (ja) 2020-04-28
EP3237837B1 (en) 2020-02-19
KR102596252B1 (ko) 2023-10-31

Similar Documents

Publication Publication Date Title
RU2017126225A (ru) Способ и устройство для контроля шин на производственной линии
RU2018124784A (ru) Способ и устройство контроля шин
ES2942266T3 (es) Método de detección de defectos de superficie y dispositivo de detección de defectos de superficie
RU2018101232A (ru) Способ и устройство для анализа поверхности шины
RU2635845C2 (ru) Способ и установка для обнаружения, в частности, преломляющих дефектов
KR102311403B1 (ko) 타이어 상태 분석을 위한 방법 및 디바이스
MX373369B (es) Aparato y metodo para verificar neumaticos.
JP2016531280A5 (ru)
JP2014534568A5 (ru)
WO2012049381A3 (fr) Procede et dispositif de mesure optique
JP2017126870A5 (ru)
EP4254330A3 (en) Flaw detection device and flaw detection method
RU2009112208A (ru) Устройство оптического определения положения и (или) ориентации объектов и соответствующие способы определения
ITMI20091351A1 (it) Sistema di rilevamento ottico di difetti superficiali
US10697762B2 (en) Apparatus for controlling tyres in a production line
CN104535006B (zh) 一种利用透射式照明成像系统的瓶盖缝隙宽度估算方法
JP2017516075A5 (ru)
CN103439347A (zh) 一种瓶盖边缘缺陷检测方法与检测系统
JP5946705B2 (ja) 検査装置および検査方法
CN104390914A (zh) 一种绿色小药瓶机器视觉检测用光源系统
JP5959430B2 (ja) ボトルキャップの外観検査装置及び外観検査方法
WO2017061286A1 (ja) 滑走路照明灯の検査装置及び滑走路照明灯の検査方法
CN204255838U (zh) 一种绿色小药瓶机器视觉检测用光源系统
CN104010107B (zh) 线扫描相机图像采集系统的测试设备及方法
KR20230173095A (ko) 검사면 조명기기