[go: up one dir, main page]

RU2002114852A - METHOD FOR PROTECTING ANGLES OF THREE-DIMENSIONAL MICROMECHANICAL STRUCTURES ON A SILICON PLATE IN DEPTH ANISOTROPIC ETCHING - Google Patents

METHOD FOR PROTECTING ANGLES OF THREE-DIMENSIONAL MICROMECHANICAL STRUCTURES ON A SILICON PLATE IN DEPTH ANISOTROPIC ETCHING

Info

Publication number
RU2002114852A
RU2002114852A RU2002114852/28A RU2002114852A RU2002114852A RU 2002114852 A RU2002114852 A RU 2002114852A RU 2002114852/28 A RU2002114852/28 A RU 2002114852/28A RU 2002114852 A RU2002114852 A RU 2002114852A RU 2002114852 A RU2002114852 A RU 2002114852A
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
etching
elements
angles
longitudinal
transverse
Prior art date
Application number
RU2002114852/28A
Other languages
Russian (ru)
Other versions
RU2220475C1 (en
Inventor
Леонид Владимирович Соколов
Владимир Михайлович Школьников
Original Assignee
Научно-исследовательский институт авиационного оборудовани
Научно-исследовательский институт авиационного оборудования
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Научно-исследовательский институт авиационного оборудовани, Научно-исследовательский институт авиационного оборудования filed Critical Научно-исследовательский институт авиационного оборудовани
Priority to RU2002114852A priority Critical patent/RU2220475C1/en
Application granted granted Critical
Publication of RU2220475C1 publication Critical patent/RU2220475C1/en
Publication of RU2002114852A publication Critical patent/RU2002114852A/en

Links

Landscapes

  • ing And Chemical Polishing (AREA)

Claims (1)

Способ защиты углов трехмерных микромеханических структур на кремниевой пластине (100), которую подвергают анизотропному травлению в водном растворе КОН, включающий формирование масочного рисунка с элементами защиты углов, примыкающими к основной части топологической маски вблизи точки пересечения сторон защищаемого чипа на пластине и продолжающимися за пределы основной части маски, травление масочного рисунка на пластине в анизотропном травителе, при этом для защиты выпуклого угла чипа формируют хотя бы один Т-образный маскирующий элемент защиты угла, содержащий продольную и поперечную части, у которого ширина поперечной части меньше высоты продольной части, отличающийся тем, что Т-образные маскирующие элементы защиты углов формируют на основе металлизированной структуры V-Cu'-Cu'', а каждый из Т-образных симметрично расположенных элементов выполняют из двух полосок - продольной вдоль направления [110] и поперечной, расположенной в поперечном направлении под прямым углом к продольной полоске, а в оптимальном режиме травления (при температуре кипения) размеры Т-образных элементов выполняют в соотношениях как 5,1<В/Ш<9,1 для интервалов отношений конструктивных параметров формируемой микромеханической структуры 0,44<b/a<0,73 и 30,6<h/a 103<36,6, при этом травление проводят до тех пор, пока Т-образные элементы не отравятся до границы исходной топологической области жесткого центра преобразователя, что соответствует моменту самосовмещения топологических слоев преобразователя и выхода на заданную глубину травления, а в основании объемной фигуры жесткого центра сформирован при этом правильный многоугольник.A method for protecting the angles of three-dimensional micromechanical structures on a silicon wafer (100), which is subjected to anisotropic etching in an aqueous KOH solution, including the formation of a mask pattern with corner protection elements adjacent to the main part of the topological mask near the point of intersection of the sides of the protected chip on the wafer and extending beyond the main parts of the mask, etching the mask pattern on the plate in the anisotropic etchant, at least one T-shaped masking element is formed to protect the convex angle of the chip an angle protection element containing a longitudinal and transverse part, in which the width of the transverse part is less than the height of the longitudinal part, characterized in that the T-shaped masking elements of the corner protection are formed on the basis of the metallized structure V-Cu'-Cu '', and each of T- symmetrically arranged elements are made of two strips - longitudinal along the [110] direction and transverse, located in the transverse direction at right angles to the longitudinal strip, and in the optimal etching mode (at boiling point) the dimensions of T-shaped elements are performed in ratios of 5.1 <H / W <9.1 for intervals of relations of structural parameters of the formed micromechanical structure of 0.44 <b / a <0.73 and 30.6 <h / a 10 3 <36.6, the etching is carried out until the T-shaped elements are poisoned to the boundary of the initial topological region of the hard center of the transducer, which corresponds to the moment of self-alignment of the topological layers of the transducer and reaching the specified etching depth, and a regular polygon is formed at the base of the volume figure of the hard center .
RU2002114852A 2002-06-05 2002-06-05 Method for protecting corners of three-dimensional micromechanical structures on silicon wafers during deep anisotropic etching RU2220475C1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2002114852A RU2220475C1 (en) 2002-06-05 2002-06-05 Method for protecting corners of three-dimensional micromechanical structures on silicon wafers during deep anisotropic etching

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2002114852A RU2220475C1 (en) 2002-06-05 2002-06-05 Method for protecting corners of three-dimensional micromechanical structures on silicon wafers during deep anisotropic etching

Publications (2)

Publication Number Publication Date
RU2220475C1 RU2220475C1 (en) 2003-12-27
RU2002114852A true RU2002114852A (en) 2004-03-20

Family

ID=32066563

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2002114852A RU2220475C1 (en) 2002-06-05 2002-06-05 Method for protecting corners of three-dimensional micromechanical structures on silicon wafers during deep anisotropic etching

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU2220475C1 (en)

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2539767C1 (en) * 2013-10-03 2015-01-27 Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Национальный исследовательский университет "МИЭТ" Method of manufacturing deeply profiled silicon structures
RU2568977C1 (en) * 2014-08-05 2015-11-20 Федеральное государственное унитарное предприятие "Всероссийский научно-исследовательский институт автоматики им. Н.Л. Духова" (ФГУП "ВНИИА") Protection of angles of 3d micromechanical structures on silicon plate at deep anisotropic etching
RU2572288C1 (en) * 2014-09-30 2016-01-10 Открытое акционерное общество "Научно-исследовательский институт физических измерений" Method of manufacturing deep profiled silicon structures
RU2582903C1 (en) * 2015-02-25 2016-04-27 Федеральное государственное унитарное предприятие "Всероссийский научно-исследовательский институт автоматики им. Н.Л. Духова" (ФГУП "ВНИИА") Method for protection of angles of 3d micromechanical structures on silicon plate during deep anisotropic etching
RU2667327C1 (en) * 2017-08-22 2018-09-18 Акционерное общество "Научно-исследовательский институт физических измерений" Silicon micro-mechanical structures corners protecting method during the anisotropic etching

Also Published As

Publication number Publication date
RU2220475C1 (en) 2003-12-27

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN100562484C (en) A cantilever beam structure, manufacturing method and application
CN101584042A (en) Semiconductor chip shape alteration
US5282926A (en) Method of anisotropically etching monocrystalline, disk-shaped wafers
RU2002114852A (en) METHOD FOR PROTECTING ANGLES OF THREE-DIMENSIONAL MICROMECHANICAL STRUCTURES ON A SILICON PLATE IN DEPTH ANISOTROPIC ETCHING
CA2344242A1 (en) A middle armor block for a coastal structure and a method for placement of its block
US5338400A (en) Micromachining process for making perfect exterior corner in an etchable substrate
KR100912764B1 (en) Radiation sensor, wafer, sensor module and method for the production of a radiation sensor
EP1375416B1 (en) Micro-electro-mechanical device, in particular micro-actuator for hard-disk drive, and manufacturing process thereof
JP4117450B2 (en) Manufacturing method of semiconductor device
US6342667B1 (en) Thermal isolation structure for a micro thermopile and method for making the same
US6033489A (en) Semiconductor substrate and method of making same
US7767537B2 (en) Simplified method of fabricating isolated and merged trench capacitors
US20070059857A1 (en) Three-axis accelerometer
KR20030059159A (en) Electrode structure, and method for manufacturing thin-film structure
KR100732698B1 (en) Method for producing microstructures having various steps
CN115398063A (en) Radial wave-eliminating block and erection method
JPH072672Y2 (en) Revetment block
RU2667327C1 (en) Silicon micro-mechanical structures corners protecting method during the anisotropic etching
JP2004069405A (en) Force sensor and acceleration sensor using resistance element, and manufacturing method therefor
JPS644904Y2 (en)
JP3684507B2 (en) A gentle slope revetment block and a method of constructing a gentle slope revetment using this gentle slope revetment block
RU2582903C1 (en) Method for protection of angles of 3d micromechanical structures on silicon plate during deep anisotropic etching
KR102237680B1 (en) Manufacturing method of bridge type structures and manufacturing method of an piezoresistive accelerometer sensor with bridge type piezoresistors using the same
JPH063003B2 (en) Breakwater
KR100857939B1 (en) Wafer cutting method for laser diode manufacturing and wafer structure for same