[go: up one dir, main page]

NO164946B - Opto-elektronisk system for punktvis oppmaaling av en flates geometri. - Google Patents

Opto-elektronisk system for punktvis oppmaaling av en flates geometri. Download PDF

Info

Publication number
NO164946B
NO164946B NO884337A NO884337A NO164946B NO 164946 B NO164946 B NO 164946B NO 884337 A NO884337 A NO 884337A NO 884337 A NO884337 A NO 884337A NO 164946 B NO164946 B NO 164946B
Authority
NO
Norway
Prior art keywords
points
protractors
opto
spatial
spatial coordinates
Prior art date
Application number
NO884337A
Other languages
English (en)
Other versions
NO884337L (no
NO884337D0 (no
NO164946C (no
Inventor
Alf Pettersen
Oeyvind Roetvold
Original Assignee
Metronor As
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Family has litigation
First worldwide family litigation filed litigation Critical https://patents.darts-ip.com/?family=26648079&utm_source=google_patent&utm_medium=platform_link&utm_campaign=public_patent_search&patent=NO164946(B) "Global patent litigation dataset” by Darts-ip is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 International License.
Priority claimed from NO881579A external-priority patent/NO165046C/no
Application filed by Metronor As filed Critical Metronor As
Priority to NO884337A priority Critical patent/NO164946C/no
Publication of NO884337D0 publication Critical patent/NO884337D0/no
Priority to CA000596328A priority patent/CA1307663C/en
Priority to AU34184/89A priority patent/AU630606C/en
Priority to AT89904621T priority patent/ATE124132T1/de
Priority to PCT/NO1989/000030 priority patent/WO1989009922A1/en
Priority to DE68923172T priority patent/DE68923172T2/de
Priority to EP89904621A priority patent/EP0409875B1/en
Priority to JP1504209A priority patent/JP2779242B2/ja
Publication of NO884337L publication Critical patent/NO884337L/no
Publication of NO164946B publication Critical patent/NO164946B/no
Priority to US07/582,936 priority patent/US5196900A/en
Priority to FI904988A priority patent/FI96902C/fi
Publication of NO164946C publication Critical patent/NO164946C/no

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01C—MEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
    • G01C1/00—Measuring angles
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01C—MEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
    • G01C11/00—Photogrammetry or videogrammetry, e.g. stereogrammetry; Photographic surveying
    • G01C11/02—Picture taking arrangements specially adapted for photogrammetry or photographic surveying, e.g. controlling overlapping of pictures

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Radar, Positioning & Navigation (AREA)
  • Remote Sensing (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Light Receiving Elements (AREA)
  • Transmission And Conversion Of Sensor Element Output (AREA)
  • Position Input By Displaying (AREA)
  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)

Description

Den foreliggende oppfinnelse vedrører et opto-elektronisk system for simultan måling av romlige koordinater for et antall punkter på en flate.
Det nevnte system er basert på bruk av opto-elektroniske vinkelmålere kalibrert for måling av vinkler i to dimensjoner (romlig retning) til aktive lyskilder eller diffuse lysreflekser, og representerer en direkte videreutvikling av den teknikk som er beskrevet i oppfinnerenes norske patentsøknad nr. 881579. I det nå videreutviklede system inngår også en anordning for projeksjon av lyspunkter på en flate. Denne anordning består av et eller to gitre som sprer en enkel fokusert lysstråle til et mønster av fokuserte punkter, eksempelvis slik som beskrevet i Applied Optics, Vol. 23, No. 2, 15. januar 1984, sidene 330 - 332.
Berøringsfri, automatisert geometrimåling er sterkt etterspurt for oppmåling av overflateprofiler, blant annet innenfor bil-industrien. Denne type oppmålinger utføres i dag med mekaniske koordinatmålemaskiner som er store og komplekse, kostbare, lite fleksible, samt berører overflaten. Disse begrensingene umulig-gjør bruk i serieproduksjon, der man i dag hovedsakelig benytter stikkprøvekontroll ved bruk av referansefiksturer.
Berøringsfri geometrimåling er konvensjonelt utført ved bruk av teodolitter som siktes manuelt inn mot avmerkede punkter på en flate. Innenfor denne teknologien er det kjent en servostyrt, automatisk teodolitt fra firmaet Kem. Denne kan rettes inn automatisk mot målepunkter av bestemt form og i tilnærmet kjent posisjon. Derved kan vinkler i to dimensjoner avleses automatisk. På grunn av den servokontrollerte mekaniske innretting av teodolitten mot målepunktene, har systemet sterkt begrenset målehastighet, og kan bare følge ett enkelt bevegelig målepunkt.
I noen grad benyttes projeksjon av mønstre av lyspunkter eller
-linjer på en flate for å registrere dennes form, eksempelvis i forbindelse med Moiré-teknikk. Felles for disse teknikkene er at det projiserte mønsteret avfotograferes ved bruk av videokamera
eller konvensjonell fotografiteknikk, og at en referanseflate eller avfotografering av et referansemønstér er nødvendig for kalibrering av systemet i måleoppstillingen.
Med et system ifølge oppfinnelsen beskrevet i norsk patentsøknad 881579 tilsiktes at objekters posisjon, orientering og / eller overflategeometri kan registreres statisk eller dynamisk med høy presisjon, noe som i bare meget begrenset grad er mulig med eksisterende berøringsfrie måleteknikker. Ved den foreliggende videreutvikling tilsiktes at en flates geometri skal måles opp hurtig, i et stort antall målepunkter.
Videre tilsikter den tidligere patentsøkte oppfinnelsen å gi en fullstendig automatisk og berøringsfri vinkelmåler som er kalibrert med høy presisjon. Ingen ytterligere kalibrering er nødvendig i en måleoppstilling, med unntak av definisjon av koordinatsystemer. Videre er det tilsiktet at vinkelmåleren ikke skal inneholde bevegelige deler, skal være lite følsom for bakgrunnsbelysning, samt tillate samtidig, måling av vinkler mot flere punkter. Linseenheten har et veldefinert rotasjonssymmetrisk punkt som gir en entydig definisjon av retningsbegrepet ved at alle punkter som befinner seg i samme romlige retning relativt til dette punkt avbildes i samme punkt på følermatrisen.
Vinkelmåleren er utviklet for å måle retning til punkter i form av aktive lyskilder eller punkter belyst av aktive lyskilder. Dette gir sikker identifikasjon av målepunktene, og muliggjør derfor helautomatisk bruk, samt at det gir. et meget bra signal-/støy-forhold, og derved bidrar til høy nøyaktighet.
I søknad 881579 anvendes en helautomatisk og nøyaktig kalibrert vinkelmåler som angitt i figur 1. Denne består i hovedsak av kamerahus 1, en linse-enhet 2, og en to-dimensjonal oppstilling (matrise) 3 av fotofølsomme elementer 11. Linse-enheten er et objektiv med standard, sfærisk optikk, med brennvidde hovedsakelig gitt av kravet til synsfelt. Linsens eventuelle anti-refleks belegg eller optiske filter må være tilpasset spektral-fordelingen i de benyttede lyskilder. De fotofølsomme elementene er for eksempel av CCD (Charge Coupled Device) eller CID (Charge Injected Device) type. Kravene til høy nøyaktighet gjør at matriser med maksimal oppløsning vanligvis vil bli benyttet. Dersom systemets hurtighet er det primære, vil matriser med færre elementer benyttes.
Kamera av denne type er kommersielt tilgjengelige. Det som gjør dette kameraet til en vinkelmåler er at linsesystemet 2 har et veldefinert og kjent rotasjonssymmetrisk punkt 7, definert ved at punkter som befinner seg i samme romlige retning relativt til dette punktet, avbildes i samme punkt på matrisen av fotofølsomme elementer. Dette symmetripunkt vil alltid ligge på linsesystemets optiske akse. En romlig retning angis i form av vinkler relativt til to ortogonale akser. I dette tilfelle vil ethvert par av akser normalt til den optiske akse kunne benyttes. I henhold til alminnelig praksis benyttes en horisontal- og en vertikal akse. En mekanisk festeanordning 4 kan ved hjelp av slisser 8 og feste-bolter 9 justeres slik at denne sammenfaller med vinkelmålerens vertikale symmetri-/rotasjonsakse 6. Den tilsvarende horisontale rotasjonsakse er entydig definert ved at den står normalt på både den vertikale akse, og linsens optiske akse. Vinkelmåleren er kalibrert for måling av vinkler i to dimensjoner relativt til disse to rotasjonsakser.
Figur 2a viser prinsipp for måling av romlig retning. Vinkelmålerens helautomatiske funksjon er basert på bruk av aktive lyskilder, for eksempel punkter 10 belyst av aktive lyskilder rettet mot en flate. Det lysende punkt 10 avbildes gjennom linsesystemet 2 til en lysende flekk 12 på matrisen av fotoføl-somme elementer 3. Avbildningen gir en belysning av et antall elementer 11 med en intensitetsfordeling gitt av lyspunktets utbredelse, og av linsesystemets oppløsning. Lysflekkens posisjon på matrisen gir et entydig mål for den romlige retning til det avbildede lyspunkt. Den romlige retning angis i form av to vinkler a og p. p fremkommer som vinkelen mellom den romlige retning og vinkelmålerens horisontale symmetriplan, a fremkommer som vinkelen mellom den optiske akse, og retningen til projeksjo-nen av lyspunktet ned i det horisontale symmetriplanet. Begge vinkelverdiene a og p er 0 på den optiske akse.
Oppløsningen i matrisen av fotofølsomme elementer gir for de fleste formål ikke en tilstrekkelig oppløsning. Lysflekkens posisjon på matrisen kan derfor beregnes mer nøyaktig ved tyngde-punktsberegning som vist i figurene 2b og 2c.
Linsesystemet 2 har en åpningsvinkel som begrenser vinkelmålerens måleområde. Typisk vil synsfeltet være 30 grader både horisontalt og vertikalt. Det stilles ikke strenge krav til linsens dis-torsjonsegenskaper, idet dette blir korrigert ved kalibrerings-metoden. Vinkelmåleren har ved dette så stort synsfelt, at mekanisk innretting av vinkelmåleren mot målepunktet ikke er nødvendig slik som ved konvensjonelle eller automatiske teodolitter. Vinkelmåleren vil være kalibrert for bruk ved en fast fokusavstand. Linsesystemets dybdeskarphet begrenser vinkelmålerens arbeidsområde i lengderetning.
Vinkelmålerene er konstruert for måling av retning til aktive lyskilder eller punkter belyst av aktive lyskilder. Dette gjør det mulig automatisk å skille ut det aktuelle målepunkt i forhold til bakgrunnen. Det benyttes fortrinnsvis lyskilder som emitterer lys med en veldefinert bølgelengde, vanligvis i det synlige røde eller nær-infrarøde spektralområde. Signal/støyforholdet kan derved forbedres ved bruk av et optisk filter montert på linsesystemet, og ved coating av de enkelte linseelementer tilpasset det aktuelle spektralområdet.
De opto-elektroniske vinkelmålerene 15 som er beskrevet i norsk patentsøknad nr. 881579 kan som nevnt benyttes for oppmåling av en flates geometri ved måling av romlige koordinater for lyspunkter projisert på flaten. I figur 3 er vist en anvendelse der lyspunktet 13 dannes ved fokusering av lysstrålen fra en laser 16 på flaten 14, og flyttes stegvis over flaten ved at laserstrålen rettes inn ved bruk av et dreibarttto-akset speilsystem 17. For å oppnå optimal nøyaktighet er det viktig at laserstrålen er fokusert til et veldefinert punkt på flaten. Begrensningene ved denne teknikken ligger i at systemet bare kan måle koordinater for ett punkt om gangen, og at det inneholder mekanisk bevegelige deler. Både den stegvise flytting av lysstrålen og avlesningen av vinkelmålerens 15 fotofølsomme sensor 3 er tidkrevende.
Den refererte patentsøknad omfatter, som illustrert i figur 4, simultan måling av koordinater for flere punkter 18, 19, 20 ved bruk av et antall fast rettede lyskilder 21, 22, 23 (eksempelvis laserdioder), innrettet mot kritiske punkter på en flate 14. Denne metoden er kostbar, og gir i praksis få målepunkter, idet det er nødvendig med en separat lyskilde for hvert målepunkt.
Ved den foreliggende oppfinnelse foreslås det å erstatte den stegvise innretting av en laserstråle med bruk av en anordning til å projisere et mønster av lyspunkter fokusert på en flate. Denne anordning er basert på en ny type dif f raksjonsgitre som nå er kommersielt tilgjengelige, og som er beskrevet i Applied Optics, Vol. 23, No. 2, 15. januar 1984, sidene 330 - 332. Disse er basert på parallelle optiske fibre, der hvert enkelt fiber fungerer som en sylindrisk linse. Det spredte lys fra de enkelt fibre interfererer og gir et tilnærmet ideelt interferensmønster. Disse gitrene sikrer at alle de spredte lyspunkter opprettholder tilnærmet samme intensitet og utstrekning (fokusdiameter) som nullte ordens stråle. Et slikt gitter plasseres i lysgangen mellom laseren og flaten slik at lyset spres til et antall fokuserte lyspunkter beliggende langs en linje over flaten.
Punktbelysning av hele flaten kan oppnås ved bruk av ett gitter, kombinert med et én-akset dreibart speil for forflytning av linjen av lyspunkter over hele flaten, eller ved bruk av to gitre montert slik at lysstrålen spres til et todimensjonalt mønster av fokuserte lyspunkter.
Konvensjonelle diffraksjonsgitre er mindre^anvendbare sammen med den angitte type vinkelmålere, fordi slike gitre gir store variasjoner i intensiteten mellom de enkelte intensitetsmaksima, og fordi det ikke oppnås punktformighet i dé/enkelte intensitetsmaksima.
De for oppfinnelsen kjennetegnende trekk vil fremgå av de etterfølgende patentkrav, samt den etterfølgende beskrivelse av for oppfinnelsen ikke-begrensende eksempler, med henvisning til de•vedlagte tegninger. Figur 5-7 illustrerer spredning av en fokusert laserstråle til flere stråler som skal danne et antall fokuserte punkter langs en.rett linje. Figur 8 illustrerer bruk av to innbyrdes ortogonale gitre for å spre en fokusert laserstråle til et to-dimensjonalt mønster av fokuserte punkter. Figur 9 illustrerer en systemløsning bestående av to vinkelmålere og en laser fra hvilken lyset spres ved hjelp av to gitre til et todimensjonalt mønster. Figur 10 illustrerer avsøkning over en flate ved bruk av
ett gitter og et enakset dreibart speilsystem.
Et gitter 24 består av et antall parallelle optiske fibre 25 arrangert i et enkelt lag som vist i figur 5. Figuren viser et tverrsnitt gjennom gitteret. Hvert enkelt fiber 25 virker som en sylindrisk linse. Parallelle innkommende lysstråler 26 fokuseres i et punkt 27 rett på andre siden av fiberet, og lyset spres ut videre med en intensitetsfordeling som er- svært uniform over en stor åpningsvinkel. Hvert fiber 25 kan derfor betraktes som en punktformet lyskilde 27. Det totale interferensmønsteret blir som fra et konvensjonelt diffraksjonsgitter med uendelig liten spaltebredde, som angitt i figur 6. Den innfallende plane bølge 28 brytes til et antall sylindriske bølger 29 som interfererer til et diffraksjonsmønster 30. Et ideelt gitter med uendelig liten spaltebredde gir et uendelig antall interferensmaksima med samme intensitet. Med et fiber av optiske gitre oppnås at 30 - 50 maksima har intensitet mer enn 50 % av nullte ordens stråle.
En fullstendig anordning for projeksjon av fokuserte lyspunkter på en flate er vist i figur 7. Dette består av laser 31, fiber gitter 24 og fokuserende optikk 32. Den kollimerte laserstrålen spres av gitteret 24 og fokuseres på flaten 34. Den optiske løsning er gitt av kravene til fokusavstand og utstrekningen av lysflekken på flaten. Gitteret forårsaker at lysstrålen spres til et antall lyspunkter 35 langs en linje over flaten. Gitteret sprer lyset med en konstant vinkel mellom hver ny stråleretning, gitt av fibrenes diameter.
Et todimensjonalt mønster av fokuserte lyspunkter oppnås ved at ytterligere ett gitter 36 plasseres i strålegangen. Dette gitteret plasseres slik at de optiske fibrene (spaltene) er dreiet relativt til det første gitteret 24 som illustrert i figur 8. 90 graders innbyrdes dreining av de to gitrene gir et rektangulært mønster av lyspunkter på flaten, som vist i figur 9.
Figur 9 illustrerer et komplett system for oppmåling av en flates geometri (profil). Et to-dimensjonalt mønster av lyspunkter 35 projiseres på flaten 34 ved hjelp av to gitre 24, 36 og fokuserende optikk 32. De romlige koordinater for hvert enkelt lyspunkt finnes ved måling av romlig retning relativt til to vinkelmålere 37a, 37b, eksempelvis slike som beskrevet i norsk patentsøknad nr. 881579. Alle lyspunkter registreres simultant av vinkelmålerene, slik at det for hver registrering vil finnes et antall intensitetsmaksima på målerenes oppstilling av fotofølsomme elementer.
Systemet inneholder videre midler i form av kameraprosessorer 38a, 38b for innsamling av måledata fra vinkelmålerene, og behandling av disse. Kameraprosessorenes utforming og funksjon vil avhenge av hvilken type vinkelmålere som benyttes.
Dersom vinkelmålerene er av den type som er - beskrevet i norsk patentsøknad 881579, vil avbildningsdataene overføres fra vinkelmålerene til tilhørende kameraprosessorer i form av analoge eller digitale intensitetsverdier for hvert enkelt av de fotofølsomme elementer. I kameraprosessoren kan følgende funksjoner utføres: kontroll av avbildningstidspunkt og eksponeringstid,
digitalisering av avbildningsdataene dersom dette ikke er
gjort i vinkelmålerens elektronikk,
lagring av digitale avbildningsdata i en to-dimensjonal
hukommelsesoppstilling,
subtraksjon av bakgrunnsbelysning, i form av et lagret sett av avbildningsdata, registrert uten at de aktuelle lyskilder var tent,
gjennomsøking av hukommelsesoppstillingen for å registrere
omtrentlig posisjon av et antall intensitetsmaksima,
nøyaktig beregning av intensitetsmaksimaenes posisjon på
matrisen for hvert enkelt lyspunkt,
oppslag i en to-dimensjonal kalibreringstabell lagret i hukommelsesoppstilling, for omregning fra koordinater på matrisen til vinkler gitt relativt til de horisontale og vertikale rotasjonsakser.
Dataene fra de to vinkelmålerene kombineres i. en sentral dataprosessor 39 for beregning av romlige koordinater ved konvensjonell triangulering. Dette forutsetter at det eksisterer en entydig og kjent sammenheng mellom dataene fra de to vinkelmålerene, det vil si at systemet er i stand til å vite hvilke av intensitetsmaksi-maene registrert av de to vinkelmålerene som hører sammen. Systemet vil derfor inneholde programvare for gjenkjenning av det belyste mønster. Eventuelt kan dette erstattes av en manuell identifisering av de enkelte punktene før koordinatberegningene påbegynnes.
Identifikasjonsprosedyren er enkel ved bruk av bare ett gitter. På oppstillingen av fotofølsomme elementer vil det da registreres et antall intensitetsmaksima beliggende på en krummet linje over oppstillingen. Krummingen avhenger av flatens form.
Ved den beskrevne fremgangsmåte vil koordinatene på overflaten angis i form av globale koordinater. Dersom det på den aktuelle overflate finnes minst tre punkter med veldefinerte koordinater i et lokalt koordinatsystem, vil innmåling av disse punktenes globale koordinater gi beregningsgrunnlag for å transformere alle målte koordinatverdier til det lokale koordinatsystem.
Til dataprosessoren er koblet en terminal 40 bestående av monitor og tastatur for operatørens kommunikasjon med systemet. Denne enheten brukes eksempelvis til fortløpende og endelig presentasjon av måleresultater.
Dataprosessorens funksjon forøvrig, avhenger av applikasjon og systemkonfigurasjon. Kameraprosessorer og dataprosessor er bygget opp med basis i kommersielt tilgjengelig elektronikk og programvare for billedprosessering.
Figur 10 viser oppmåling av en flates geometri ved bruk av ett gitter 24, og forflytning av linjen av belyste punkter 35 over flaten 34 ved bruk av et én-akset dreibart speil 41, for å danne et to-dimensjonalt punktmønster, slik som i figur 9. Til dataprosessoren er det koblet en driver enhet 42 for kontroll av laser 31 og speil 41. Speilet dreies stegvis med steglengde gitt av ønsket antall målepunkter. Et tett raster av målepunkter gir grunnlag for en nøyaktig beskrivelse av hele flaten. Dataprosessoren vil kunne inneholde programvare for intelligent avsøking, for eksempel ved å registrere om strålen rettes utenfor objektet, eller ved å registrere endringene i målte vinkler for hvert steg, for derved å tilpasse steglengden til flatens krumming.
Målte koordinater for et antall punkter på en flate gir en beskrivelse av flatens form (profil). Et stort antall målepunkter sikrer en fullstendig og nøyaktig beskrivelse av flaten. Dataprosessoren vil kunne inneholde programvare for oppbygging av en matematisk modell som beskriver objektets.overflate på basis av det innsamlete sett av koordinater.
Dataprosessoren vil videre kunne kommunisere med brukerens DAK (Data Assistert Konstruksjon) anlegg for utveksling av geometri-data.
I mange industrielle anvendelser har man bare behov for å måle avvikene mellom ferdig produsert enhet og konstruksjonsdataene i et antall punkter på objektet. Systemet kan håndtere alle de genererte lyspunkter samtidig, og vil derfor gi en meget rask presentasjon av avvikene. De nominelle verdier leses direkte ut fra konstruksjonsdataene.
En slik anvendelse er kvalitetskontroll i serieproduksjon av pressede flater. Et enkelt system bestående av to gitre kan gi omkring 1.000 kontrollpunkter i form av lyspunkter på en flate. Punkttettheten kan økes ved å benytte flere projeksjonssystemer. Oppmåling av en flate vil ta bare noen sekunder. Et slikt system vil kunne erstatte dagens bruk av kontrollfiksturer i bilindust-rien, og vil tillate kontroll av alle produserte enheter fort-løpende i en produksjonslinje.
I enkelte applikasjoner vil det være tilstrekkelig med ett gitter og projeksjon av lyspunkter langs en linje. Eksempelvis gjelder dette kontroll av krumming av pressede støtfangere for biler.
I den foregående beskrivelse er det angitt bruk av vinkelmålere som beskrevet i den refererte patentsøknad. Disse kan erstattes av andre type vinkelmålere, eksempelvis automatiske teodolitter. Disse vil vanligvis ikke kunne registrere flere lyspunkter simultant, noe som medfører tidkrevende datainnsamling. Det er en forutsetning at det benyttes vinkelmålere som er forhånds-kalibrert, for å unngå bruk av referanserastere eller referanse-flater for kalibrering i måleoppstillingen.
For beregning av et punkts romlige koordinater ved triangulering, trengs informasjon om romlig retning relativt til to referanse-posisjoner, eksempelvis ved bruk av to vinkelmålere. Retningen av de projiserte strålene vil ikke være kjent med tilstrekkelig presisjon til å benytte disse ved beregning av de romlige posisjoner for punktene på flaten.
Et system som beskrevet i norsk patentsøknad 881579 egner seg meget godt for bruk av denne belysningsteknikken, idet systemet består av to sensorer, og lysstrålens romlige retning ikke inngår i posisjonsberegningene. Simultan måling på flere lyspunkter er bare mulig dersom intensiteten av de enkelte lyspunkter er av samme størrelsesorden. I motsetning til fiber gitre tilfredstil-les ikke dette krav av konvensjonelle interferensgitre. Disse er derfor lite egnet.
Ved vinkelmålere av angitt type har linsesystemet et rotasjonssymmetrisk punkt som gir en entydig definisjon av retningen til lyspunkter. Bruken av vinkelmålerene er basert på at de målte vinkler er gitt med høy presisjon. Det er derfor nødvendig med nøyaktige prosedyrer for bestemmelse av vinkelmålerenes rotas-jonssenter og for kalibrering. Dette er beskrevet og patentsøkt i norsk patentsøknad 881579.
Avbildning av lyspunkter gjennom linsesystenrene avhenger av lysets bølgelengde. Vinkelmålerene kalibreres derfor for bruk ved veldefinerte bølgelengder, og selve kalibreringen gjennomføres ved måling på aktive lyskilder eller punkter belyst av aktive lyskilder. Et eventuelt optisk filter må være montert før kalibreringen, da dette utgjør en del av det totale linsesystem. Selv om det i beskrivelsen og patentkravene er angitt bruk av gitre i form av optiske fibre, skal kravenesanses også å omfatte teknisk ekvivalente midler som konvensjonelle diffraksjonsgitre, modifikasjoner av slike,, samt holografiske gitre.

Claims (5)

1. System for opto-elektronisk måling av romlige koordinater for punkter på en overflate, karakterisert ved: at flaten (34'på i og for seg kjent måte belyses punktvis ved bruk av en rettet og fokusert lyskilde (31! som spres av et gitter (24) dannet av et antall parallelle optiske fibre (25), til et antall veldefinerte fokuserte lyspunkter 35) på en linje, og at lysstrålenes treffpunkter (35) på flaten (34) registreres av minimum to opto-elektroniske vinkelmålere (37a, bj i form av romlig retning relativt til vinkelmålerene, og at middel (38), (39) er anbragt for beregning av romlige koordinater for de enkelte treffpunkter basert på de registrerte romlige retninger relativt vinkelmålerene.
2. System for opto-elektronisk måling av romlige koordinater for punkter på en overflate, karakterisert ved: at flaten('34) på i og for seg kjent måte belyses punktvis ved bruk av en rettet og fokusert lyskilde (3l) som spres av to gitre ('24), (36) dannet av et antall parallelle optiske fibre (25), der hvert gitter sprer en fokusert lysstråle (33; til et antall veldefinerte fokuserte lyspunkter(35)på en linje, og de to gitrene er montert med sine lengdeakser tilnærmet ortogonalt på hverandre for å skape et todimensjonalt punktmønster av belyste punkter (35) på flaten (34), og at lysstrålenes treffpunkter (35.) på flaten registreres av minimum to opto-elektroniske vinkelmålere (37a, b) i form av romlig retning relativt til vinkelmålerene, og at middel (38), (39j anbringes for beregning av romlige koordinater for de enkelte treffpunkter (35j basert på de registrerte romlige retninger relativt vinkelmålerene. i
3. System for opto-elektronisk måling av romlige koordinater for punkter på en overflate, karakterisert ved: at flaten (34) på i og for seg kjent måte belyses punktvis ved bruk av en rettet og fokusert lyskilde(31) som spres av et gitter '24J bestående av et antall parallelle optiske fibre (25), til et antall veldefinerte fokuserte lyspunkter (35) på en linje, og at lysstrålenes treffpunkter(35) på flaten(34)registreres av minimum to opto-elektroniske vinkelmålere (37a,b) i form av romlig retning relativt til vinkelmålerene, og at middel (38), (39) er anbragt for- beregning av romlige koordinater for de enkelte treffpunkter basert på de registrerte romlige retninger relativt vinkelmålerene, at linjen av lyspunkter (35) forflyttes over flaten (34) i en retning på tvers av linjens retning ved hjelp av et én-akset dreibart speil (4l).
4. System for opto-elektronisk måling av romlige koordinater for punkter på en overflate som angitt i 1-3, karakterisert ved: at en dataprosessor (39) er tilkoblet vinkelmålerene for å gi en matematisk beskrivelse av flatens f34)form basert på de beregnede romlige koordinatene f or;, et stort antall belyste punkter (35).
5. System for opto-elektronisk måling av romlige koordinater for punkter på en overflate som angitt i 1-3, karakterisert ved: at en dataprosessor (39) er tilkoblet vinkelmålerene for å sammenligne de beregnede romlige koordinatene for de enkelte belyste punkter (35) med nominelle verdier.
NO884337A 1988-04-12 1988-09-30 Opto-elektronisk system for punktvis oppmaaling av en flates geometri. NO164946C (no)

Priority Applications (10)

Application Number Priority Date Filing Date Title
NO884337A NO164946C (no) 1988-04-12 1988-09-30 Opto-elektronisk system for punktvis oppmaaling av en flates geometri.
CA000596328A CA1307663C (en) 1988-04-12 1989-04-11 Opto-electronic angle measurement system
JP1504209A JP2779242B2 (ja) 1988-04-12 1989-04-12 光電子工学式角度測定システム
EP89904621A EP0409875B1 (en) 1988-04-12 1989-04-12 Method and sensor for opto-electronic angle measurements
DE68923172T DE68923172T2 (de) 1988-04-12 1989-04-12 Verfahren und Fühler für optoelektronische Winkelmessung.
PCT/NO1989/000030 WO1989009922A1 (en) 1988-04-12 1989-04-12 Method and sensor for opto-electronic angle measurements
AT89904621T ATE124132T1 (de) 1988-04-12 1989-04-12 Verfahren und fühler für optoelektronische winkelmessung.
AU34184/89A AU630606C (en) 1988-04-12 1989-04-12 Opto-electronic angle measurement system
US07/582,936 US5196900A (en) 1988-04-12 1990-10-09 Method and sensor for opto-electronic angle measurements
FI904988A FI96902C (fi) 1988-04-12 1990-10-10 Optoelektroninen kulma-anturilaite, tätä koskeva menetelmä sekä optoelektroninen mittausjärjestelmä

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
NO881579A NO165046C (no) 1988-04-12 1988-04-12 Opto-elektronisk system for vinkelmaaling.
NO884337A NO164946C (no) 1988-04-12 1988-09-30 Opto-elektronisk system for punktvis oppmaaling av en flates geometri.

Publications (4)

Publication Number Publication Date
NO884337D0 NO884337D0 (no) 1988-09-30
NO884337L NO884337L (no) 1989-10-13
NO164946B true NO164946B (no) 1990-08-20
NO164946C NO164946C (no) 1990-11-28

Family

ID=26648079

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
NO884337A NO164946C (no) 1988-04-12 1988-09-30 Opto-elektronisk system for punktvis oppmaaling av en flates geometri.

Country Status (9)

Country Link
US (1) US5196900A (no)
EP (1) EP0409875B1 (no)
JP (1) JP2779242B2 (no)
AT (1) ATE124132T1 (no)
CA (1) CA1307663C (no)
DE (1) DE68923172T2 (no)
FI (1) FI96902C (no)
NO (1) NO164946C (no)
WO (1) WO1989009922A1 (no)

Families Citing this family (104)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5531087A (en) * 1990-10-05 1996-07-02 Kabushiki Kaisha Komatsu Seisakusho Metal sheet bending machine
NO174025C (no) * 1991-10-11 1994-03-02 Metronor Sa System for punktvis maaling av romlige koordinater
US5477459A (en) * 1992-03-06 1995-12-19 Clegg; Philip M. Real time three-dimensional machine locating system
JP2680224B2 (ja) * 1992-06-25 1997-11-19 松下電工株式会社 立体形状検出方法およびその装置
US5444481A (en) * 1993-01-15 1995-08-22 Sanyo Machine Works, Ltd. Method of calibrating a CCD camera
DE4308456C2 (de) * 1993-03-17 1996-03-28 Ems Technik Gmbh Vorrichtung zur Lagebestimmung eines Positionierkörpers relativ zu einem Bezugskörper
US5502568A (en) * 1993-03-23 1996-03-26 Wacom Co., Ltd. Optical position detecting unit, optical coordinate input unit and optical position detecting method employing a pattern having a sequence of 1's and 0's
DE4315005A1 (de) * 1993-05-06 1994-11-10 Deutsche Aerospace Vorrichtung zur meßtechnischen Erfassung von Winkellagen eines bewegten Gegenstandes gegenüber seiner Ausgangsstellung
NO302055B1 (no) * 1993-05-24 1998-01-12 Metronor As Fremgangsmåte og system for geometrimåling
JPH07234105A (ja) * 1994-02-23 1995-09-05 Wacom Co Ltd 光点位置計測方法
US5513276A (en) * 1994-06-02 1996-04-30 The Board Of Regents Of The University Of Oklahoma Apparatus and method for three-dimensional perspective imaging of objects
GB9413214D0 (en) * 1994-07-01 1994-08-24 Central Research Lab Ltd Apparatus and method for providing information to a control system or computer
US5521847A (en) * 1994-07-01 1996-05-28 General Electric Company System and method for determining airfoil characteristics from coordinate measuring machine probe center data
AUPM789494A0 (en) * 1994-09-06 1994-09-29 Montech Pty Ltd Calibration frame
FR2724720B1 (fr) * 1994-09-16 1997-01-31 Orten Procede de correlation des mesures tridimensionnelles realisees par des systemes d'acquisition d'images et installation pour sa mise en oeuvre
WO1997006406A1 (fr) * 1995-08-07 1997-02-20 Komatsu Ltd. Appareils de mesure de la distance et de la forme
NO301999B1 (no) * 1995-10-12 1998-01-05 Metronor As Kombinasjon av laser tracker og kamerabasert koordinatmåling
US5757425A (en) * 1995-12-19 1998-05-26 Eastman Kodak Company Method and apparatus for independently calibrating light source and photosensor arrays
US6044170A (en) * 1996-03-21 2000-03-28 Real-Time Geometry Corporation System and method for rapid shape digitizing and adaptive mesh generation
US5991437A (en) * 1996-07-12 1999-11-23 Real-Time Geometry Corporation Modular digital audio system having individualized functional modules
US5870220A (en) * 1996-07-12 1999-02-09 Real-Time Geometry Corporation Portable 3-D scanning system and method for rapid shape digitizing and adaptive mesh generation
JPH1096605A (ja) * 1996-09-24 1998-04-14 Komatsu Ltd 画像処理による位置計測方法および装置
US5807449A (en) * 1997-01-08 1998-09-15 Hooker; Jeffrey A. Workpiece treating apparatus and method of treating same
US6141104A (en) * 1997-09-09 2000-10-31 Image Guided Technologies, Inc. System for determination of a location in three dimensional space
US5870181A (en) * 1997-10-28 1999-02-09 Alliant Defense Electronics Systems, Inc. Acoustic optical scanning of linear detector array for laser radar
JPH11252320A (ja) * 1998-03-05 1999-09-17 Matsushita Electric Ind Co Ltd 画像読み取り装置
US6154279A (en) * 1998-04-09 2000-11-28 John W. Newman Method and apparatus for determining shapes of countersunk holes
US6549288B1 (en) 1998-05-14 2003-04-15 Viewpoint Corp. Structured-light, triangulation-based three-dimensional digitizer
US7800758B1 (en) 1999-07-23 2010-09-21 Faro Laser Trackers, Llc Laser-based coordinate measuring device and laser-based method for measuring coordinates
GB9914914D0 (en) * 1999-06-26 1999-08-25 British Aerospace Measurement apparatus for measuring the position and orientation of a first part to be worked, inspected or moved
GB2352289B (en) 1999-07-14 2003-09-17 Dennis Majoe Position and orientation detection system
US6259519B1 (en) 1999-08-31 2001-07-10 Intelligent Machine Concepts, L.L.C. Method of determining the planar inclination of a surface
US6327520B1 (en) 1999-08-31 2001-12-04 Intelligent Machine Concepts, L.L.C. Planar normality sensor
US6594623B1 (en) * 1999-11-12 2003-07-15 Cognex Technology And Investment Corporation Determining three-dimensional orientation of objects
DE19956912A1 (de) 1999-11-26 2001-08-09 Heidenhain Gmbh Dr Johannes Winkelmeßsystem und Winkelmeßverfahren zur berührungslosen Winkelmessung
US6362875B1 (en) * 1999-12-10 2002-03-26 Cognax Technology And Investment Corp. Machine vision system and method for inspection, homing, guidance and docking with respect to remote objects
DE10106060A1 (de) * 2000-02-18 2001-09-27 Busch Dieter & Co Prueftech Verfahren und Vorrichtung zum Ermitteln der Ausrichtung eines drehbar gelagerten Körpers bezüglich einer Referenzrichtung
US7065242B2 (en) * 2000-03-28 2006-06-20 Viewpoint Corporation System and method of three-dimensional image capture and modeling
AU4219901A (en) * 2000-04-20 2001-11-12 Walter Moser Method for converting non-geometrically-true photographs using graphic data processing method in geometrically-true digital measured images
FI113293B (fi) * 2001-04-19 2004-03-31 Mapvision Oy Menetelmä pisteen osoittamiseksi mittausavaruudessa
WO2003032129A2 (en) * 2001-10-11 2003-04-17 Laser Projection Technologies Inc. A Delaware Corporation Method and system for visualizing surface errors
DE10151563A1 (de) * 2001-10-23 2003-04-30 Heidenhain Gmbh Dr Johannes Positionsmessgerät
US6639201B2 (en) * 2001-11-07 2003-10-28 Applied Materials, Inc. Spot grid array imaging system
JP2005533365A (ja) * 2001-11-07 2005-11-04 アプライド　マテリアルズ　インコーポレイテッド マスクレスの光子−電子スポット格子アレイ印刷装置
US6946655B2 (en) 2001-11-07 2005-09-20 Applied Materials, Inc. Spot grid array electron imaging system
US6693706B2 (en) * 2002-01-08 2004-02-17 Trimble Navigation Limited Laser reference system and method of determining grade rake
US7019872B2 (en) * 2002-06-19 2006-03-28 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Compact scanner and scanning method
FR2843454B1 (fr) * 2002-08-08 2004-12-03 Visio Nerf Procede et dispositif de localisation par visiometrie
EP1391778A1 (en) * 2002-08-08 2004-02-25 Seiko Precision Inc. Apparatus for detecting the inclination angle of a projection screen and projector comprising the same
US7176974B2 (en) * 2003-01-21 2007-02-13 Chen Shu-Fen Method of positioning by using image
US7049594B2 (en) * 2003-03-28 2006-05-23 Howmedica Leibinger Position sensing sensor, method and system
US6791673B1 (en) * 2003-04-07 2004-09-14 Robert E. Malm Ground surveillance system
SE0301164D0 (sv) * 2003-04-22 2003-04-22 Trimble Ab Improved high accuracy absolute optical encoder
DE10359415A1 (de) 2003-12-16 2005-07-14 Trimble Jena Gmbh Verfahren zur Kalibrierung eines Vermessungsgeräts
WO2005060346A2 (en) * 2003-12-22 2005-07-07 Eyepoint Ltd. High precision wide-angle electro-optical positioning system and method
US7199872B2 (en) * 2004-05-18 2007-04-03 Leica Geosystems Ag Method and apparatus for ground-based surveying in sites having one or more unstable zone(s)
JP2006133066A (ja) * 2004-11-05 2006-05-25 Hara Doki Kk 巻尺
US7876980B2 (en) * 2004-11-11 2011-01-25 Panasonic Corporation Imaging apparatus and imaging method for outputting a specified number of pixels in a specified area
US8085388B2 (en) * 2005-02-01 2011-12-27 Laser Projection Technologies, Inc. Laser radar projection with object feature detection and ranging
EP1851588B1 (en) * 2005-02-01 2019-08-07 Laser Projection Technologies, Inc. Laser projection with object feature detection
DE102006002602A1 (de) 2006-01-13 2007-07-19 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Kalibrierungsverfahren und Kalibrierungssystem
US7525114B2 (en) 2006-02-14 2009-04-28 Lmi Technologies Ltd. Multiple axis multipoint non-contact measurement system
CA2536411C (en) * 2006-02-14 2014-01-14 Lmi Technologies Inc. Multiple axis multipoint non-contact measurement system
EP2008120B1 (en) * 2006-04-20 2010-12-08 Faro Technologies Inc. Camera based six degree-of-freedom target measuring and target tracking device
WO2007124009A2 (en) * 2006-04-21 2007-11-01 Faro Technologies, Inc. Camera based six degree-of-freedom target measuring and target tracking device with rotatable mirror
KR100809533B1 (ko) * 2006-09-21 2008-03-04 삼성중공업 주식회사 공간의 정밀 계측을 위한 글로벌 좌표 생성방법
US7616328B2 (en) * 2006-11-07 2009-11-10 Rudolph Technologies, Inc. Method and system for providing a high definition triangulation system
FR2908874B1 (fr) * 2006-11-21 2009-01-23 Mbda France Sa Systeme de visee a ecartometre integre.
CN101952690B (zh) * 2008-02-22 2013-02-27 特里伯耶拿有限公司 角度测量设备和方法
WO2009119229A1 (ja) * 2008-03-26 2009-10-01 コニカミノルタホールディングス株式会社 ３次元撮像装置及び３次元撮像装置の校正方法
FR2940831B1 (fr) * 2009-01-06 2011-09-30 Peugeot Citroen Automobiles Sa Dispositif d'eclairage d'une entite d'au moins un vehicule automobile
JP5654298B2 (ja) * 2010-09-15 2015-01-14 株式会社リコー 校正基準点取得システム及び校正基準点取得方法
US8639393B2 (en) * 2010-11-30 2014-01-28 Caterpillar Inc. System for automated excavation planning and control
US8539685B2 (en) 2011-01-20 2013-09-24 Trimble Navigation Limited Integrated surveying and leveling
US8605274B2 (en) 2011-01-24 2013-12-10 Trimble Navigation Limited Laser reference system
DE102011000304B4 (de) * 2011-01-25 2016-08-04 Data M Sheet Metal Solutions Gmbh Kalibrierung von Laser-Lichtschnittsensoren bei gleichzeitiger Messung
CN102283653B (zh) * 2011-05-18 2013-09-11 上海理工大学 一种基于激光测距的测量装置及其测量方法
EP2729761A4 (en) * 2011-07-04 2015-03-25 Fotonic I Norden Ab DEVICE AND METHOD FOR MEASURING THE DEFORMATION OF A LEAD
US9067690B2 (en) * 2011-08-23 2015-06-30 The Boeing Company Cataloging system for recording manufacture anomaly data related to type, severity, and position with a wireless probe
EP2602584A1 (de) * 2011-12-05 2013-06-12 Alicona Imaging GmbH Optisches Messsystem
TR201816240T4 (tr) 2012-10-12 2018-11-21 Nivora Ip B V Ölçüm sistemi ve bir açının ölçülmesine yönelik yöntem.
CN103471526B (zh) * 2013-07-29 2016-03-30 中国原子能科学研究院 一种精确的平行度调节装置及调节方法
US9410793B2 (en) 2013-08-06 2016-08-09 Laser Projection Technologies, Inc. Virtual laser projection system and method
EP3015839B1 (en) 2014-10-31 2020-01-01 Agisco S.r.l. Laser pointing system for monitoring stability of structures
DE202016002296U1 (de) * 2016-04-08 2017-07-12 Liebherr-Components Biberach Gmbh Baumaschine
WO2018009981A1 (en) 2016-07-15 2018-01-18 Fastbrick Ip Pty Ltd Brick/block laying machine incorporated in a vehicle
WO2018009980A1 (en) 2016-07-15 2018-01-18 Fastbrick Ip Pty Ltd Boom for material transport
DE102016218360B4 (de) * 2016-09-23 2019-08-29 Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Gmbh Kalibrierstruktur und Kalibrierverfahren zur Kalibrierung von optischen Messgeräten
AU2018295572B2 (en) 2017-07-05 2022-09-29 Fastbrick Ip Pty Ltd Real time position and orientation tracker
CN109269436B (zh) * 2017-07-17 2020-12-25 中国空气动力研究与发展中心高速空气动力研究所 一种超声速风洞二元挠性壁喷管型面检测方法及装置
WO2019018851A1 (en) 2017-07-21 2019-01-24 California Institute Of Technology PLANAR ULTRAMINOUS PHOTOGRAPHIC CAMERA WITHOUT LENS
US20190033460A1 (en) * 2017-07-27 2019-01-31 GM Global Technology Operations LLC Apparatus for increase field of view for lidar detector and illuminator
US11882371B2 (en) 2017-08-11 2024-01-23 California Institute Of Technology Lensless 3-dimensional imaging using directional sensing elements
US11958193B2 (en) 2017-08-17 2024-04-16 Fastbrick Ip Pty Ltd Communication system for an interaction system
EP3669138B1 (en) 2017-08-17 2023-05-24 Fastbrick IP Pty Ltd Laser tracker with improved roll angle measurement
CN107631806B (zh) * 2017-09-01 2019-10-18 天津津航技术物理研究所 一种提高tdi扫描仪扫描方向与tdi探测器扫描方向一致性对准精度的方法
ES2971624T3 (es) 2017-10-11 2024-06-06 Fastbrick Ip Pty Ltd Máquina para transportar objetos
CN108760650B (zh) * 2018-05-25 2023-10-13 北京海光仪器有限公司 一种多灯位旋转灯塔对光系统
CN112703092A (zh) 2018-07-16 2021-04-23 快砖知识产权私人有限公司 交互系统的备份跟踪
JP7271116B2 (ja) * 2018-09-18 2023-05-11 日本信号株式会社 画像処理方法、画像処理装置、及び地中レーダ装置
CN109974611B (zh) * 2019-03-23 2023-07-21 柳州阜民科技有限公司 深度检测系统及其支架和电子装置
CN112731340A (zh) * 2019-10-14 2021-04-30 上海禾赛科技股份有限公司 角度测量方法、反射镜系统及激光雷达
CN112432614B (zh) * 2020-10-29 2022-07-08 中国航空工业集团公司洛阳电光设备研究所 一种通用型机载多传感器校轴装置及校轴方法
CN114636379B (zh) * 2022-02-16 2024-05-14 吉林博识光电科技有限公司 一种测量非可见激光光斑直径的装置及测量方法

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2846962C2 (de) * 1978-10-27 1981-02-05 Precitronic Gesellschaft Fuer Feinmechanik Und Electronic Mbh, 2000 Hamburg Laserlicht-Schußsimulator für Lenkflugkörper
DE3145823C2 (de) * 1981-11-19 1984-04-12 Fa. Carl Zeiss, 7920 Heidenheim Einrichtung zur Punktbestimmung
JPS58211677A (ja) * 1982-06-02 1983-12-09 Nissan Motor Co Ltd 光レ−ダ装置
FR2583523B1 (fr) * 1985-06-17 1988-07-15 Aerospatiale Systeme pour la localisation d'un mobile.
JPS62220807A (ja) * 1986-03-20 1987-09-29 Toshiba Corp スタ−スキヤナ
FR2602057B1 (fr) * 1986-07-22 1988-11-04 Matra Procede et dispositif de mesure de distance par voie optique
US5000564A (en) * 1990-03-09 1991-03-19 Spectra-Physics, Inc. Laser beam measurement system

Also Published As

Publication number Publication date
JP2779242B2 (ja) 1998-07-23
NO884337L (no) 1989-10-13
EP0409875B1 (en) 1995-06-21
CA1307663C (en) 1992-09-22
FI96902B (fi) 1996-05-31
US5196900A (en) 1993-03-23
FI904988A0 (fi) 1990-10-10
DE68923172D1 (de) 1995-07-27
DE68923172T2 (de) 1995-11-23
ATE124132T1 (de) 1995-07-15
JPH03503680A (ja) 1991-08-15
EP0409875A1 (en) 1991-01-30
NO884337D0 (no) 1988-09-30
NO164946C (no) 1990-11-28
FI96902C (fi) 1996-09-10
AU630606B2 (en) 1992-11-05
AU3418489A (en) 1989-11-03
WO1989009922A1 (en) 1989-10-19

Similar Documents

Publication Publication Date Title
NO164946B (no) Opto-elektronisk system for punktvis oppmaaling av en flates geometri.
EP1364226B1 (en) Apparatus and method for obtaining three-dimensional positional data from a two-dimensional captured image
JP4553573B2 (ja) 測定系の較正のための方法と装置
US5771099A (en) Optical device for determining the location of a reflective target
US7298468B2 (en) Method and measuring device for contactless measurement of angles or angle changes on objects
JP2001021449A (ja) 光学物体の光学特性の自動非接触測定のための方法およびシステム
NO174025B (no) System for punktvis maaling av romlige koordinater
US5339154A (en) Method and apparatus for optical measurement of objects
US6067152A (en) Alignment range for multidirectional construction laser
EP0140029B1 (en) Optical distance measuring apparatus
GB2090497A (en) Checking correspondence of sighting and target lines
CN101469975A (zh) 光学检测仪器和方法
RU2635336C2 (ru) Способ калибровки оптико-электронного аппарата и устройство для его осуществления
US5057681A (en) Long range triangulating coordinate finder
US4641961A (en) Apparatus for measuring the optical characteristics of an optical system to be examined
AU739618B2 (en) Non-contact method for measuring the shape of an object
US6320653B1 (en) Multiple-axis inclinometer for measuring inclinations and changes in inclination
US5383025A (en) Optical surface flatness measurement apparatus
US4600304A (en) Optical level
CN116026258A (zh) 具有球透镜的光电编码器
US7212294B2 (en) Method for determination of the level of two or more measurement points, and an arrangement for this purpose
US5317374A (en) Method and apparatus for measuring a distance to an object from dual two dimensional images thereof
Sinnreich et al. Optical 3D tube measurement system for quality control in industry
RU2769305C1 (ru) Автоколлиматор
CN114594596B (zh) 物镜的光瞳像差的补偿