[go: up one dir, main page]

NL153718B - Inrichting voor het analyseren van de energie van een elektronenbundel. - Google Patents

Inrichting voor het analyseren van de energie van een elektronenbundel.

Info

Publication number
NL153718B
NL153718B NL686804435A NL6804435A NL153718B NL 153718 B NL153718 B NL 153718B NL 686804435 A NL686804435 A NL 686804435A NL 6804435 A NL6804435 A NL 6804435A NL 153718 B NL153718 B NL 153718B
Authority
NL
Netherlands
Prior art keywords
analyzing
energy
electron beam
electron
Prior art date
Application number
NL686804435A
Other languages
English (en)
Other versions
NL6804435A (nl
Original Assignee
Takeo Ichinokawa
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Takeo Ichinokawa filed Critical Takeo Ichinokawa
Publication of NL6804435A publication Critical patent/NL6804435A/xx
Publication of NL153718B publication Critical patent/NL153718B/nl

Links

Classifications

    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
    • H01J49/44—Energy spectrometers, e.g. alpha-, beta-spectrometers
    • H01J49/46—Static spectrometers
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J29/00—Details of cathode-ray tubes or of electron-beam tubes of the types covered by group H01J31/00
    • H01J29/84—Traps for removing or diverting unwanted particles, e.g. negative ions, fringing electrons; Arrangements for velocity or mass selection
    • H01J29/845—Traps for removing or diverting unwanted particles, e.g. negative ions, fringing electrons; Arrangements for velocity or mass selection by means of magnetic systems
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/02—Details
    • H01J37/04—Arrangements of electrodes and associated parts for generating or controlling the discharge, e.g. electron-optical arrangement or ion-optical arrangement
    • H01J37/05—Electron or ion-optical arrangements for separating electrons or ions according to their energy or mass

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
  • Electron Sources, Ion Sources (AREA)
  • Electron Tubes For Measurement (AREA)
NL686804435A 1967-03-30 1968-03-29 Inrichting voor het analyseren van de energie van een elektronenbundel. NL153718B (nl)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1953467 1967-03-30

Publications (2)

Publication Number Publication Date
NL6804435A NL6804435A (nl) 1968-10-01
NL153718B true NL153718B (nl) 1977-06-15

Family

ID=12001980

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
NL686804435A NL153718B (nl) 1967-03-30 1968-03-29 Inrichting voor het analyseren van de energie van een elektronenbundel.

Country Status (5)

Country Link
US (1) US3619607A (nl)
DE (1) DE1639280C3 (nl)
FR (1) FR1558166A (nl)
GB (1) GB1226872A (nl)
NL (1) NL153718B (nl)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5145221B2 (nl) * 1973-01-31 1976-12-02
US4068123A (en) * 1973-07-27 1978-01-10 Nihon Denshi Kabushiki Kaisha Scanning electron microscope
US4929838A (en) * 1988-02-16 1990-05-29 Fujitsu Limited Magnetic object lens for an electron beam exposure apparatus which processes a wafer carried on a continuously moving stage

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB962086A (en) * 1962-03-27 1964-06-24 Hitachi Ltd Energy-selecting electron microscopes
US3374346A (en) * 1964-07-15 1968-03-19 Hitachi Ltd Spectroscopic electron microscope wherein a specimen is irradiated with x-rays and the electrons emitted are energy analyzed

Also Published As

Publication number Publication date
DE1639280B2 (de) 1973-07-12
FR1558166A (nl) 1969-02-21
US3619607A (en) 1971-11-09
NL6804435A (nl) 1968-10-01
DE1639280C3 (de) 1974-01-31
GB1226872A (nl) 1971-03-31
DE1639280A1 (de) 1972-03-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
NL154326B (nl) Inrichting voor het bepalen van de splitsingsafmeting.
NL160978C (nl) Elektronenafbeeldingsstelsel voor het scherp afbeelden en afbuigen van een elektronenbundel.
NL162809C (nl) Beeldweergeefinrichting, voorzien van een elektronen- straalbuis met een enkelvoudig elektronenkanon voor het opwekken van een aantal elektronenbundels.
NL160396C (nl) Inrichting voor het opwekken van seismische energie.
NL166576C (nl) Afbuiginrichting voor de elektronenbundel in een elektronenmicroscoop.
NL149891B (nl) Inrichting ter ondersteuning van een voorwerp.
NL154339B (nl) Inrichting voor foto-elektroforetische beeldvorming.
NL147578B (nl) Inrichting voor het bestralen van materialen met een elektronenbundel.
NL149820B (nl) Werkwijze voor het copolymeriseren van alfa-alkenen met een alkenylamine.
NL152405B (nl) Elektrochemische inrichting voor de opslag van elektrische energie.
NL168888B (nl) Werkwijze voor het uitvoeren van een electrochemische reactie.
NL156159B (nl) Werkwijze voor het bereiden van een epoxygroepen bevattend adduct.
NL150280B (nl) Inrichting voor het opwekken van een aftastlichtstraal.
NL167052C (nl) Inrichting voor het focusseren van een elektronenbundel.
NL153718B (nl) Inrichting voor het analyseren van de energie van een elektronenbundel.
NL143068B (nl) Inrichting voor het afbuigen van een elektronenbundel.
NL173799C (nl) Inrichting voor de analyse van de energieverdeling van elektronen in een bundel.
NL156860B (nl) Inrichting voor het verdampen met behulp van een elektronenstraal.
NL139055B (nl) Werkwijze voor het strenggieten van een voorwerp en voorwerp, vervaardigd onder toepassing van een dergelijke werkwijze.
NL152537B (nl) Werkwijze voor het bereiden van een hydroxyindaanverbinding met muskusgeur.
NL159145B (nl) Werkwijze voor de vervaardiging van een elektrode.
NL141111B (nl) Inrichting en werkwijze voor elektroslaklassen.
NL152701B (nl) Voor een elektronenbuis bestemd koelsysteem.
NL151857B (nl) Laserinrichting voor de continue uitzending van een infrarode straling.
NL149997B (nl) Inrichting voor het een voor een omhoogvoeren van vruchten.

Legal Events

Date Code Title Description
V1 Lapsed because of non-payment of the annual fee
NL80 Information provided on patent owner name for an already discontinued patent

Owner name: TAKEO