[go: up one dir, main page]

NL1036174C2 - Magnetisch interferentievrije meetinrichting voor gevoelige opstellingen c.q. machines welke middels een optische meting met 8 parallelle lichtsluisjes die een 8 bits graycode doorgeeft waarmee de directe positiebepaling van het tussen geschoven object kan worden uitgelezen. - Google Patents

Magnetisch interferentievrije meetinrichting voor gevoelige opstellingen c.q. machines welke middels een optische meting met 8 parallelle lichtsluisjes die een 8 bits graycode doorgeeft waarmee de directe positiebepaling van het tussen geschoven object kan worden uitgelezen. Download PDF

Info

Publication number
NL1036174C2
NL1036174C2 NL1036174A NL1036174A NL1036174C2 NL 1036174 C2 NL1036174 C2 NL 1036174C2 NL 1036174 A NL1036174 A NL 1036174A NL 1036174 A NL1036174 A NL 1036174A NL 1036174 C2 NL1036174 C2 NL 1036174C2
Authority
NL
Netherlands
Prior art keywords
microprocessor
directions
read
setups
gray code
Prior art date
Application number
NL1036174A
Other languages
English (en)
Other versions
NL1036174A1 (nl
Inventor
Wilfriedus Anthonius Albertus Markenstein
Original Assignee
Markenstein Wilfriedus Anthoni
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Markenstein Wilfriedus Anthoni filed Critical Markenstein Wilfriedus Anthoni
Priority to NL1036174A priority Critical patent/NL1036174C2/nl
Publication of NL1036174A1 publication Critical patent/NL1036174A1/nl
Application granted granted Critical
Publication of NL1036174C2 publication Critical patent/NL1036174C2/nl

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R33/00—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
    • G01R33/20—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables involving magnetic resonance
    • G01R33/28—Details of apparatus provided for in groups G01R33/44 - G01R33/64

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)

Description

Magnetisch interferentievrije meetinrichting voor gevoelige opstellingen c.q. machines welke middels een optische meting met 8 parallelle lichtsluisjes die een 8 bits graycode doorgeeft waarmee de directe positiebepaling van het tussen geschoven object kan worden uitgelezen.
5
Oeze vinding kan met name toegepast worden op plaatsen - zoals bijvoorbeeld bij een MRI-scan - waar iedere vorm van metalen of (elektrische) draden een nadelige of desastreuze invloed heeft op het resultaat. De optische (fibre-optics) meetinrichting kan op een afstand van 10 meter omgezet worden in een elektrisch te verwerken 8 bits 10 graycode waarde welke vervolgens in een microprocessor tot een reële afstandswaarde verwerkt wordt en kan worden aangewend om de aansturing van het object te realiseren. Het dubbel uitvoeren van deze uitvinding geeft een positiebepaling in zowel de X- als de Y-richting met een resolutie van slechts de dikte van de lichtstraal.
1036174

Claims (1)

  1. De vinding betreft een magnetisch interferentievrije meetinrichting voor gevoelige opstellingen c.q. machines welke middels een optische meting met 8 parallelle lichtsluisjes die een 8 bits graycode waarde doorgeeft waarmee de directe positiebepaling zowel in de X- als in de Y-richting van het tussen geschoven object 5 kan worden uitgelezen en vervolgens in een microprocessor tot een reële afstandswaarde verwerkt wordt en kan worden aangewend om de aansturing van het object te realiseren. 1036174
NL1036174A 2008-11-07 2008-11-07 Magnetisch interferentievrije meetinrichting voor gevoelige opstellingen c.q. machines welke middels een optische meting met 8 parallelle lichtsluisjes die een 8 bits graycode doorgeeft waarmee de directe positiebepaling van het tussen geschoven object kan worden uitgelezen. NL1036174C2 (nl)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
NL1036174A NL1036174C2 (nl) 2008-11-07 2008-11-07 Magnetisch interferentievrije meetinrichting voor gevoelige opstellingen c.q. machines welke middels een optische meting met 8 parallelle lichtsluisjes die een 8 bits graycode doorgeeft waarmee de directe positiebepaling van het tussen geschoven object kan worden uitgelezen.

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
NL1036174 2008-11-07
NL1036174A NL1036174C2 (nl) 2008-11-07 2008-11-07 Magnetisch interferentievrije meetinrichting voor gevoelige opstellingen c.q. machines welke middels een optische meting met 8 parallelle lichtsluisjes die een 8 bits graycode doorgeeft waarmee de directe positiebepaling van het tussen geschoven object kan worden uitgelezen.

Publications (2)

Publication Number Publication Date
NL1036174A1 NL1036174A1 (nl) 2008-12-09
NL1036174C2 true NL1036174C2 (nl) 2009-12-01

Family

ID=40394581

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
NL1036174A NL1036174C2 (nl) 2008-11-07 2008-11-07 Magnetisch interferentievrije meetinrichting voor gevoelige opstellingen c.q. machines welke middels een optische meting met 8 parallelle lichtsluisjes die een 8 bits graycode doorgeeft waarmee de directe positiebepaling van het tussen geschoven object kan worden uitgelezen.

Country Status (1)

Country Link
NL (1) NL1036174C2 (nl)

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0030477A1 (en) * 1979-12-10 1981-06-17 Bertea Corporation Optical position transducer
GB2122826A (en) * 1982-06-29 1984-01-18 Nmi Ltd Displacement measuring gauges
US5442858A (en) * 1992-11-23 1995-08-22 Resonex Holding Company Automated angle encoder system for MRI apparatus
US5498867A (en) * 1993-11-22 1996-03-12 Sachio Uehara Wavelength-division multiplex digital optical position sensor

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0030477A1 (en) * 1979-12-10 1981-06-17 Bertea Corporation Optical position transducer
GB2122826A (en) * 1982-06-29 1984-01-18 Nmi Ltd Displacement measuring gauges
US5442858A (en) * 1992-11-23 1995-08-22 Resonex Holding Company Automated angle encoder system for MRI apparatus
US5498867A (en) * 1993-11-22 1996-03-12 Sachio Uehara Wavelength-division multiplex digital optical position sensor

Also Published As

Publication number Publication date
NL1036174A1 (nl) 2008-12-09

Similar Documents

Publication Publication Date Title
AR081436A1 (es) Metodo para la medicion de los parametros geometricos de empalmes roscados recubiertos
ATE493632T1 (de) Vorrichtung zur dreidimensionalen optischen vermessung
ATE554700T1 (de) Auflösung magnetischer dipolmehrdeutigkeit bei positionsverfolgungsmessungen
MX2016010256A (es) Metodos y aparatos para monitorear el estado de un objeto en movimiento y sistemas para la inspeccion rapida de un vehiculo.
PH12016501694A1 (en) Method of measuring road state, method of identifying degradation point of road surface information process apparatus, and program
JP2014528085A5 (nl)
WO2010080732A3 (en) Scatterometry metrology target design optimization
FR2896070B1 (fr) Systeme magnetique de controle de trafic
TW200707088A (en) Metrology apparatus, lithographic apparatus, process apparatus metrology method and device manufacturing method
SG11201804016YA (en) Monitoring and/or registering a position of a tool in an elevator shaft
WO2011160796A3 (de) Vorrichtung zum erzeugen eines sensorsignals und verfahren zur bestimmung der position eines gebers
MX2016016342A (es) Arreglo de sensor, dispositivo medidor y metodo de medicion.
ATE518112T1 (de) Einrichtung und verfahren zur nachverfolgung der bewegung eines werkzeuges einer handhabungseinheit
WO2013045210A3 (de) Konfokale verfahren und vorrichtung zum vermessen homogen reflektierender oberflächen
TW200736574A (en) Position measuring device and position measuring method, mobile body driving system and mobile body driving method, pattern forming device and pattern forming method, exposure device and exposure method, and device manufacturing method
ATE426143T1 (de) Verfahren zur erfassung von probendeformationen
DE602006007361D1 (de) Optisches Verfahren und Vorrichtung zur Messung der Entfernung von einem Hindernis
WO2011117135A3 (de) Verfahren und vorrichtung zur ermittlung einer aktuellen winkelposition eines drehbaren magnetischen bauteils in einem elektrischen antrieb
EP2472689A3 (de) Hochspannungsgarnitur und Verfahren zur Detektion von Teilentladungen in Hochspannungsgarnituren
NL1036174C2 (nl) Magnetisch interferentievrije meetinrichting voor gevoelige opstellingen c.q. machines welke middels een optische meting met 8 parallelle lichtsluisjes die een 8 bits graycode doorgeeft waarmee de directe positiebepaling van het tussen geschoven object kan worden uitgelezen.
ATE515678T1 (de) Optisches messgerät und messverfahren
BR112018003240A2 (pt) arranjo de elevador adaptado para a determinação baseada em som de posições de dispositivos elétricos em vários andares
TW201129879A (en) Stage apparatus, exposure apparatus, driving method, exposing method, and device fabricating method
CN103900492A (zh) 一种基于荧光反应的结构光在线热锻件检测原理及装置
SG143111A1 (en) Method and apparatus for automation of ptf measurement in sputter targets

Legal Events

Date Code Title Description
RD2N Patents in respect of which a decision has been taken or a report has been made (novelty report)
PD2B A search report has been drawn up
MM Lapsed because of non-payment of the annual fee

Effective date: 20151201