KR970067357A - 워드라인 인에이블 시간 조절이 가능한 반도체 메모리장치 - Google Patents
워드라인 인에이블 시간 조절이 가능한 반도체 메모리장치 Download PDFInfo
- Publication number
- KR970067357A KR970067357A KR1019960006827A KR19960006827A KR970067357A KR 970067357 A KR970067357 A KR 970067357A KR 1019960006827 A KR1019960006827 A KR 1019960006827A KR 19960006827 A KR19960006827 A KR 19960006827A KR 970067357 A KR970067357 A KR 970067357A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- word line
- line enable
- memory device
- semiconductor memory
- receiving
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C8/00—Arrangements for selecting an address in a digital store
- G11C8/18—Address timing or clocking circuits; Address control signal generation or management, e.g. for row address strobe [RAS] or column address strobe [CAS] signals
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C8/00—Arrangements for selecting an address in a digital store
- G11C8/08—Word line control circuits, e.g. drivers, boosters, pull-up circuits, pull-down circuits, precharging circuits, for word lines
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
- G11C11/401—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
- G11C11/4063—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing
- G11C11/407—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing for memory cells of the field-effect type
- G11C11/4076—Timing circuits
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
- G11C11/401—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
- G11C11/4063—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing
- G11C11/407—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing for memory cells of the field-effect type
- G11C11/408—Address circuits
- G11C11/4085—Word line control circuits, e.g. word line drivers, - boosters, - pull-up, - pull-down, - precharge
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Dram (AREA)
- Static Random-Access Memory (AREA)
Abstract
Description
Claims (5)
- 외부에서 로우 어드레스 스트로브 신호를 받아 워드라인 인에이블 신호를 발생하는 워드라인 인에이블 신호 발생수단; 상기 워드라인 인에이블 신호를 받아 워드라인을 구동하는 워드라인 드라이빙 수단; 상기 워드 라인 인에이블 신호 발생수단에 출력단이 접속되고, 외부에서 패드를 통해 입력되는 워드라인 인에이블 시간 조절신호에 의해 상기 워드라인 인에이블 신호의 인에이블 싯점까지의 시간을 조절하는 워드라인 인에이블 시간 조절수단을 구비하는 것을 특징으로 하는 워드라인 인에이블 시간 조절이 가능한 반도체 메모리장치.
- 제1항에 있어서, 상기 워드라인 인에이블 신호 발생수단이, 상기 로우 어드레스 스트로브 신호를 받아 딜레이시키는 제1딜레이단과, 상기 제1딜레이단의 출력을 받아 딜레이시키는 제2딜레이단과, 상기 제2딜레이 단의 출력 및 상기 워드라인 인에이블 시간 조절수단의 출력을 받아 노아동작을 수행하는 노아게이트와, 상기 노아게이트의 출력을 받아 딜레이시키는 제3딜레이단으로 구성되는 것을 특징으로 하는 워드라인 인에이블 시간 조절이 가능한 반도체 메모리장치.
- 제2항에 있어서, 상기 제1 내지 제3딜레이단은 인버터, 노아게이트, 및 낸드게이트 중 선택된 어느 하나의 짝수개로 구성되거나 이들의 조합으로 구성되는 것을 특징으로 하는 워드라인 인에이블 시간 조절이 가능한 반도체 메모리장치.
- 제1항에 있어서, 상기 워드라인 드라이빙 수단은, 외부에서 복수개의 어드레스가 모두 “로우” 상태로 입력될 때 상기 워드라인 인에이블 신호를 받아 워드라인을 구동시키는 것을 특징으로 하는 워드라인 인에이블 시간 조절이 가능한 반도체 메모리장치.
- 제1항에 있어서, 상기 워드라인 인에이블 시간 조절수단은, 외부에서 패드를 통해 입력되는 상기 워드라인 인에이블 시간 조절신호를 받아 전송시키는 전송라인과, 상기 전송라인의 소정의 위치와 접지사이에 접속되고 게이트에 공급전압이 접속된 1개 이상의 풀다운 엔모스 트랜지스터로 구성되는 것을 특징으로 하는 워드라인 인에이블 시간 조절이 가능한 반도체 메모리장치.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019960006827A KR100190028B1 (ko) | 1996-03-14 | 1996-03-14 | 워드라인 인에이블 시간 조절이 가능한 반도체 메모리장치 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019960006827A KR100190028B1 (ko) | 1996-03-14 | 1996-03-14 | 워드라인 인에이블 시간 조절이 가능한 반도체 메모리장치 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR970067357A true KR970067357A (ko) | 1997-10-13 |
KR100190028B1 KR100190028B1 (ko) | 1999-06-01 |
Family
ID=19453079
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019960006827A KR100190028B1 (ko) | 1996-03-14 | 1996-03-14 | 워드라인 인에이블 시간 조절이 가능한 반도체 메모리장치 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR100190028B1 (ko) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100813552B1 (ko) * | 2006-12-22 | 2008-03-17 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 메모리 장치 및 그 워드라인 구동회로 |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100945803B1 (ko) | 2008-06-24 | 2010-03-08 | 주식회사 하이닉스반도체 | 로우 메인 신호를 생성하는 반도체 집적 회로 |
-
1996
- 1996-03-14 KR KR1019960006827A patent/KR100190028B1/ko not_active IP Right Cessation
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100813552B1 (ko) * | 2006-12-22 | 2008-03-17 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 메모리 장치 및 그 워드라인 구동회로 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR100190028B1 (ko) | 1999-06-01 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR930008859A (ko) | 직류 전류를 제거한 데이타 출력 버퍼 | |
KR910014939A (ko) | 노이즈로 인한 오동작을 방지하기 위한 반도체 장치 | |
KR970012788A (ko) | 반도체 기억장치 | |
KR970078020A (ko) | 래치 회로를 포함하는 메모리 장치 | |
KR970067357A (ko) | 워드라인 인에이블 시간 조절이 가능한 반도체 메모리장치 | |
KR970003259A (ko) | 2 스테이지 래치회로를 이용한 페이지 모드 마스크롬 및 그 제어방법 | |
KR970051214A (ko) | 메모리의 어드레스 천이 검출회로 | |
KR970029788A (ko) | 반도체메모리장치의 내부전원공급장치 | |
KR920022300A (ko) | 개선된 라이트 동작을 가지는 반도체 메모리 장치 | |
KR970076882A (ko) | 반도체 메모리 장치의 번인 스트레스 회로 | |
KR970049568A (ko) | 순차엑세스를 위한 메모리장치 | |
KR980011454A (ko) | 라이트 제어회로 | |
KR100264076B1 (ko) | 데이타 출력 드라이버 전류를 증가시킨 디램 | |
KR100486200B1 (ko) | 반도체장치의비트라인전압발생기 | |
KR970060242A (ko) | 플래쉬 메모리 장치 | |
KR100271625B1 (ko) | 어드레스 천이 합성회로 | |
KR0179776B1 (ko) | 워드라인 구동장치 | |
KR960025721A (ko) | 반도체 기억소자의 프리 디코더 회로 | |
KR930010991A (ko) | 저잡음을 가지는 데이타 출력 드라이버 | |
KR900015141A (ko) | 반도체 메모리 장치 | |
KR970012729A (ko) | 워드라인 구동회로 | |
KR0119247Y1 (ko) | 디코더 회로 | |
KR970003237A (ko) | 센싱 제어회로 | |
KR930020444A (ko) | 반도체 메모리장치의 워드라인 구동회로 | |
KR20020013279A (ko) | 내부에서 테스트용 기준 전압을 발생하는 디디알 에스디램반도체 장치 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
PA0109 | Patent application |
Patent event code: PA01091R01D Comment text: Patent Application Patent event date: 19960314 |
|
PA0201 | Request for examination |
Patent event code: PA02012R01D Patent event date: 19960314 Comment text: Request for Examination of Application |
|
PG1501 | Laying open of application | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
PE0701 | Decision of registration |
Patent event code: PE07011S01D Comment text: Decision to Grant Registration Patent event date: 19981228 |
|
GRNT | Written decision to grant | ||
PR0701 | Registration of establishment |
Comment text: Registration of Establishment Patent event date: 19990119 Patent event code: PR07011E01D |
|
PR1002 | Payment of registration fee |
Payment date: 19990120 End annual number: 3 Start annual number: 1 |
|
PG1601 | Publication of registration | ||
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20011207 Start annual number: 4 End annual number: 4 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20021209 Start annual number: 5 End annual number: 5 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20031209 Start annual number: 6 End annual number: 6 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20041209 Start annual number: 7 End annual number: 7 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20051206 Start annual number: 8 End annual number: 8 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20061221 Year of fee payment: 9 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20061221 Start annual number: 9 End annual number: 9 |
|
LAPS | Lapse due to unpaid annual fee | ||
PC1903 | Unpaid annual fee |
Termination category: Default of registration fee Termination date: 20081210 |