KR940009249B1 - 반도체 메모리 장치의 승압보상회로 - Google Patents
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Description
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- 칩의 동작 전원 전압보다 소정레벨 상승된 소정의 승압전압이 유입되는 승압노드를 가지는 반도체 메모리 장치에 있어서, 소정의 인에이블신호를 입력하는 입력단(100)과, 상기 입력단(100)의 출력신호의 천이동작에 응답하여 소정의 승압된 전압을 발생시키는 승압전압단(500)과, 상기 입력단(100)의 출력신호에 연결되어 칩의 비액티브동작시에 상기 승압전압단(500)의 초기값을 전원전압(Vcc) 레벨로 프리차아지시키는 전원전압 프리차아지단(400)과, 상기 승압전압단(500)의 출력신호를 칩의 액티브동작시에 출력하기 위한 출력회로(M)와, 상기 입력단(100)의 출력신호에 응답하여 상기 출력회로(M)의 출력동작을 제어하기 위한 출력회로제어단(600)을 구비함을 특징으로 하는 승압보상회로.
- 제1항에 있어서, 상기 승압전압단(500)이 상기 입력단(100)의 출력신호에 연결되는 드라이버회로(7, 8)와, 상기 드라이버회로(7, 8)의 출력신호에 전극의 일단이 접속되는 승압용 캐패시터(C2)로 이루어짐을 특징으로 하는 승압보상회로.
- 제2항에 있어서, 상기 전원전압 프리차아지단(400)이 상기 입력단(100)의 출력신호에 전극의 일단이 연결되는 승압용 캐패시터(C1)와, 전원전압단(Vcc)에 게이트가 접속되고 전원전압단 및 상기 승압용 캐패시터(C1)전극의 타단 사이에 채널이 형성된 제1풀업트랜지스터(M1)와, 상기 승압전압단(500)의 출력단에 게이트가 접속되고 전원전압단 및 상기 승압용 캐패시터(C1)전극의 타단 사이에 채널이 형성된 제2풀업트랜지스터(M2)와, 전원전압단(Vcc)에 게이트가 접속되고 전원전압단 및 상기 승압전압단(500)의 출력단 사이에 채널이 형성된 제3풀업트랜지스터(M3)와, 상기 승압용 캐패시터(C1)전극의 타단에 게이트가 접속되고 전원전압단 및 상기 승압전압단(500)의 출력단 사이에 채널이 형성된 제4풀업트랜지스터(M4)로 이루어짐을 특징으로 하는 승압보상회로.
- 제2항에 있어서, 상기 출력회로제어단(600)이 상기 입력단(100A)의 출력신호에 전극의 일단이 연결된 승압용 제1캐패시터(C3)와, 상기 입력단(100A)의 출력신호에 전극의 일단이 연결된 승압용 제2캐패시터(C4)와, 전원전압단(Vcc)에 게이트가 접속되고 전원전압단 및 상기 승압용 제2캐패시터(C4)전극의 타단 사이에 채널이 형성된 제1풀업트랜지스터(M5)와, 상기 승압용 제2캐패시터(C4)전극의 타단에 게이트가 접속되고 채널의 일단이 전원전압단에 접속되고 채널의 타단이 상기 승압용 제1캐패시터(C3)전극의 타단 및 상기 출력회로(M)의 제어단자에 공통으로 접속되는 제2풀업트랜지스터(M6)로 이루어짐을 특징으로 하는 승압보상회로.
- 제1항에 있어서, 상기 인에이블신호는 칩의 동작모드에 따라 여러가지 신호일 수 있으며 이는 로우어드레스 스트로브()신호나 컬럼 어드레스 스트로브()신호에 의해 발생되거나, 아니면 칩의 인에이블시에 발생되는 신호일 수도 있음을 특징으로 하는 승압보상회로.
- 소정의 인에이블신호의 천이동작을 감지하는 입력노드(N1)를 가지고 소정의 전압승압회로의 출력전압(Vpp)이 소정레벨 강하될 시에 이를 보상하기 위한 승압보상회로에 있어서, 상기 승압보상회로가 상기 입력노드(N1)의 출력신호의 천이동작에 응답하여 소정의 승압된 전압을 발생시키는 승압전압단(500)과, 상기 입력노드(N1)의 출력신호에 연결되어 칩의 비액티브동작시에 상기 승압전압단(500)의 초기값을 전원전압(Vcc) 레벨로 프리차아지시키는 전원전압 프리차아지단(400)과, 상기 승압전압단(500)의 출력신호를 칩의 액티브동작시에 출력하기 위한 출력회로(M7)와, 상기 입력단(100)의 출력신호에 응답하여 상기 출력회로(M7)의 출력동작을 제어하기 위한 출력회로제어단(600)을 구비함을 특징으로 하는 승압보상회로.
- 제6항에 있어서, 상기 인에이블신호는 칩의 동작모드에 따라 여러가지 신호일 수 있으며 이는 로우어드레스 스트로브()신호나 컬럼 어드레스 스트로브()신호에 의해 발생되거나, 아니면 칩의 인에이블시에 발생되는 신호일 수도 있음을 특징으로 하는 승압보상회로.
Priority Applications (10)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019910020137A KR940009249B1 (ko) | 1991-11-13 | 1991-11-13 | 반도체 메모리 장치의 승압보상회로 |
ITMI922545A IT1258242B (it) | 1991-11-07 | 1992-11-05 | Dispositivo di memoria a semiconduttore includente circuiteria di pompaggio della tensione di alimentazione |
FR9213411A FR2689294B1 (fr) | 1991-11-07 | 1992-11-06 | Circuit de pompage de tension a utiliser dans des dispositifs de memoire a semi-conducteur. |
DE4237589A DE4237589C2 (de) | 1991-11-07 | 1992-11-06 | Spannungspumpschaltung |
DE4244992A DE4244992B4 (de) | 1991-11-07 | 1992-11-06 | Spannungspumpschaltung in einem Halbleiterspeicherelement |
GB9511378A GB2288678B (en) | 1991-11-07 | 1992-11-09 | Voltage pumping circuits |
JP4298831A JP2604526B2 (ja) | 1991-11-07 | 1992-11-09 | 半導体メモリ装置 |
US07/972,780 US5367489A (en) | 1991-11-07 | 1992-11-09 | Voltage pumping circuit for semiconductor memory devices |
GB9223478A GB2261307B (en) | 1991-11-07 | 1992-11-09 | Semiconductor memory device including voltage pumping circuit |
TW081109123A TW273059B (ko) | 1991-11-07 | 1992-11-14 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019910020137A KR940009249B1 (ko) | 1991-11-13 | 1991-11-13 | 반도체 메모리 장치의 승압보상회로 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR930010989A KR930010989A (ko) | 1993-06-23 |
KR940009249B1 true KR940009249B1 (ko) | 1994-10-01 |
Family
ID=19322734
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019910020137A Expired - Fee Related KR940009249B1 (ko) | 1991-11-07 | 1991-11-13 | 반도체 메모리 장치의 승압보상회로 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR940009249B1 (ko) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100732253B1 (ko) * | 2002-07-11 | 2007-06-25 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 장치의 부스팅 회로 |
CN113765348B (zh) * | 2021-10-19 | 2024-02-02 | 上海联影医疗科技股份有限公司 | 一种高压电源以及医疗影像设备 |
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1991
- 1991-11-13 KR KR1019910020137A patent/KR940009249B1/ko not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR930010989A (ko) | 1993-06-23 |
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Date | Code | Title | Description |
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A201 | Request for examination | ||
PA0109 | Patent application |
St.27 status event code: A-0-1-A10-A12-nap-PA0109 |
|
PA0201 | Request for examination |
St.27 status event code: A-1-2-D10-D11-exm-PA0201 |
|
R17-X000 | Change to representative recorded |
St.27 status event code: A-3-3-R10-R17-oth-X000 |
|
PG1501 | Laying open of application |
St.27 status event code: A-1-1-Q10-Q12-nap-PG1501 |
|
E902 | Notification of reason for refusal | ||
PE0902 | Notice of grounds for rejection |
St.27 status event code: A-1-2-D10-D21-exm-PE0902 |
|
T11-X000 | Administrative time limit extension requested |
St.27 status event code: U-3-3-T10-T11-oth-X000 |
|
P11-X000 | Amendment of application requested |
St.27 status event code: A-2-2-P10-P11-nap-X000 |
|
P13-X000 | Application amended |
St.27 status event code: A-2-2-P10-P13-nap-X000 |
|
G160 | Decision to publish patent application | ||
PG1605 | Publication of application before grant of patent |
St.27 status event code: A-2-2-Q10-Q13-nap-PG1605 |
|
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
PE0701 | Decision of registration |
St.27 status event code: A-1-2-D10-D22-exm-PE0701 |
|
GRNT | Written decision to grant | ||
PR0701 | Registration of establishment |
St.27 status event code: A-2-4-F10-F11-exm-PR0701 |
|
PR1002 | Payment of registration fee |
St.27 status event code: A-2-2-U10-U11-oth-PR1002 Fee payment year number: 1 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
St.27 status event code: A-4-4-U10-U11-oth-PR1001 Fee payment year number: 4 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
St.27 status event code: A-4-4-U10-U11-oth-PR1001 Fee payment year number: 5 |
|
R18-X000 | Changes to party contact information recorded |
St.27 status event code: A-5-5-R10-R18-oth-X000 |
|
PN2301 | Change of applicant |
St.27 status event code: A-5-5-R10-R13-asn-PN2301 St.27 status event code: A-5-5-R10-R11-asn-PN2301 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
St.27 status event code: A-4-4-U10-U11-oth-PR1001 Fee payment year number: 6 |
|
PN2301 | Change of applicant |
St.27 status event code: A-5-5-R10-R13-asn-PN2301 St.27 status event code: A-5-5-R10-R11-asn-PN2301 |
|
R18-X000 | Changes to party contact information recorded |
St.27 status event code: A-5-5-R10-R18-oth-X000 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
St.27 status event code: A-4-4-U10-U11-oth-PR1001 Fee payment year number: 7 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
St.27 status event code: A-4-4-U10-U11-oth-PR1001 Fee payment year number: 8 |
|
PN2301 | Change of applicant |
St.27 status event code: A-5-5-R10-R13-asn-PN2301 St.27 status event code: A-5-5-R10-R11-asn-PN2301 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
St.27 status event code: A-4-4-U10-U11-oth-PR1001 Fee payment year number: 9 |
|
R18-X000 | Changes to party contact information recorded |
St.27 status event code: A-5-5-R10-R18-oth-X000 |
|
R18-X000 | Changes to party contact information recorded |
St.27 status event code: A-5-5-R10-R18-oth-X000 |
|
L13-X000 | Limitation or reissue of ip right requested |
St.27 status event code: A-2-3-L10-L13-lim-X000 |
|
U15-X000 | Partial renewal or maintenance fee paid modifying the ip right scope |
St.27 status event code: A-4-4-U10-U15-oth-X000 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
St.27 status event code: A-4-4-U10-U11-oth-PR1001 Fee payment year number: 10 |
|
R18-X000 | Changes to party contact information recorded |
St.27 status event code: A-5-5-R10-R18-oth-X000 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
St.27 status event code: A-4-4-U10-U11-oth-PR1001 Fee payment year number: 11 |
|
PN2301 | Change of applicant |
St.27 status event code: A-5-5-R10-R13-asn-PN2301 St.27 status event code: A-5-5-R10-R11-asn-PN2301 |
|
PN2301 | Change of applicant |
St.27 status event code: A-5-5-R10-R13-asn-PN2301 St.27 status event code: A-5-5-R10-R11-asn-PN2301 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
St.27 status event code: A-4-4-U10-U11-oth-PR1001 Fee payment year number: 12 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20060928 Year of fee payment: 13 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
St.27 status event code: A-4-4-U10-U11-oth-PR1001 Fee payment year number: 13 |
|
LAPS | Lapse due to unpaid annual fee | ||
PC1903 | Unpaid annual fee |
St.27 status event code: A-4-4-U10-U13-oth-PC1903 Not in force date: 20071002 Payment event data comment text: Termination Category : DEFAULT_OF_REGISTRATION_FEE |
|
PC1903 | Unpaid annual fee |
St.27 status event code: N-4-6-H10-H13-oth-PC1903 Ip right cessation event data comment text: Termination Category : DEFAULT_OF_REGISTRATION_FEE Not in force date: 20071002 |
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R18-X000 | Changes to party contact information recorded |
St.27 status event code: A-5-5-R10-R18-oth-X000 |
|
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