KR940006258A - 반도체장치 및 고체촬상장치의 수평레지스터 - Google Patents
반도체장치 및 고체촬상장치의 수평레지스터 Download PDFInfo
- Publication number
- KR940006258A KR940006258A KR1019930011589A KR930011589A KR940006258A KR 940006258 A KR940006258 A KR 940006258A KR 1019930011589 A KR1019930011589 A KR 1019930011589A KR 930011589 A KR930011589 A KR 930011589A KR 940006258 A KR940006258 A KR 940006258A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- line
- negative potential
- signal input
- ground
- ground line
- Prior art date
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10D—INORGANIC ELECTRIC SEMICONDUCTOR DEVICES
- H10D84/00—Integrated devices formed in or on semiconductor substrates that comprise only semiconducting layers, e.g. on Si wafers or on GaAs-on-Si wafers
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10D—INORGANIC ELECTRIC SEMICONDUCTOR DEVICES
- H10D89/00—Aspects of integrated devices not covered by groups H10D84/00 - H10D88/00
- H10D89/60—Integrated devices comprising arrangements for electrical or thermal protection, e.g. protection circuits against electrostatic discharge [ESD]
- H10D89/601—Integrated devices comprising arrangements for electrical or thermal protection, e.g. protection circuits against electrostatic discharge [ESD] for devices having insulated gate electrodes, e.g. for IGFETs or IGBTs
Landscapes
- Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
- Metal-Oxide And Bipolar Metal-Oxide Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
- Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
Abstract
Description
Claims (8)
- 신호입력선과 접지선을 접속한 반도체소자와, 상기 신호입력선과 상기 접지선과의 사이에, 상기 반도체소자에 대하여 병렬한 접속한 보호회로에 의해 구성한 것을 특징으로 하는 반도체 장치.
- 제1항에 있어서, 신호입력선과 접지선을 접속한 반도체소자를 MOS형 트랜지스터로 구성하는 동시에, 보호회로를, 부전위를 공급하는 부전위선과, 적어도 베이스를 상기 부전위선에 접속하는 동시에 에미터를 상기 신호 입력선에 접속한 제1바이폴라 트랜지스터와, 베이스를 상기 부전위선에 접속하는 동시에 컬렉터를 상기 제1바이폴라 트랜지스터의 컬렉터에 접속하고 에미터를 상기 접지선에 에미터를 상기 접지선에 접속한 제2바이폴라 트랜지스터에 의해 구성한 것을 특징으로 하는 반도체장치.
- 제1항에 있어서, 신호입력선과 접지선을 접속한 반도체소자를 MOS형 트랜지스터로 구성하는 동시에, 보호회로를, 전원전위를 공급하는 전원선과, 부전위를 공급하는 부전위선과, 상기 신호입력선에서 상기 전원선으로 순방향전류가 흐르는 상태로, 당해 신호입력선과 당해 부전위선에 접속한 제1다이오드와, 상기 부전위선에서 상기 신호입력선으로 순방향전류가 흐르는 상태로, 당해 부전위선과 상기 신호입력선에 접속한 제2다이오드와, 상기 접지선에서 상기 전원선으로 순방향전류가 흐르는 상태로, 당해 접지선과 당해 전원선에 접속한 제3다이오드와, 상기 부전위선에서 상기 접지선에 순방향전류가 흐르는 상태로, 당해 부전위선과 당해 접지선에 접속한 제4다이오드에 의해 구성한 것을 특징으로 하는 반도체장치.
- 제1항에 있어서, 신호입력선과 접지선을 접속한 반도체소자를 MOS형 트랜지스터로 구성하는 동시에, 보호회로를 공급하는 부전위선과, 상기 신호입력선과 상기 부전위선에 접속하는 동시에, 당해 부전위선을 채널이 형성되는 제1웰영역에 접속한 제l1MOS형 트랜지스터와, 상기 제1MOS형 트랜지스터의 게이트와 상기 신호입력선과의 사이에 직렬접속한 제1커패시터와, 상기 제1MOS형 트랜지스터의 게이트와 상기 부전위선과의 사이에 직렬 접속한 제1저항과, 상기 접지선과 상기 부전위선에 접속하는 동시에, 당해 부전위선을 채널이 형성되는 제2웰영역에 접속한 제2MOS형 트랜지스터와, 상기 제2MOS형 트랜지스터의 게이트와 상기 접지선과의 사이에 직렬 접속한 제2커패시터와, 상기 제2M0S형 트랜지스터의 게이트와 상기 부전위선과의 사이에 직렬접속한 제2저항으로 구성한 것을 특징으로 하는 반도체장치.
- 고체촬상장치의 수평레지스터에 있어서, 상기 수평레지스터의 게이트에 접속하는 신호입력선과 당해 수평레지스터의 출력게이트에 접속하는 접지선과의 사이에, 보호회로를 당해 수평레지스터에 대하여 병렬로 접속한 것을 특징으로 하는 고체촬상장치의 수평레지스터.
- 제5항에 있어서, 신호입력선과 접지선과의 사이에 당해 수평레지스터에 대하여 병렬로 접속한 보호회로를, 부전위를 공급하는 부전위선과, 적어도 상기 부전위선에 베이스를 접속하는 동시에 상기 신호입력선에 에미터를 접속한 제1바이폴라 트랜지스터와, 상기 부전위선에 베이스를 접속하는 동시에 컬렉터를 상기 제1바이폴라 트랜지스터의 컬렉터에 접속하고 상기 접지선에 에미터를 접속하는 제2 바이폴라 트랜지스터로 구성한 것을 특징으로 하는 고체촬상장치의 수평레지스터.
- 제5항에 있어서, 신호입력선과 접지선과의 사이에 당해 수평레지스터에 대하여 병렬로 접속한 보호회로를, 부전위를 공급하는 부전위선과, 전원전위를 공급하는 전원선과, 상기 신호입력선에서 상기 전원선으로 순방향전류가 흐르는 상태로, 당해 신호입력선과 당해 전원선에 접속한 제1다이오드와, 상기 부전위선에서 상기 신호입력선으로 순방향전류가 흐르는 상태로 당해 부전위선과 당해 신호입력선에 접속한 제2다이오드와, 상기 접지선에서 상기 전원선으로 순방향전류가 흐르는 상태로, 당해 접지선과 당해 전원선에 접속한 제3다이오드와, 상기 부전위선에서 상기 접지선으로 순방항전류가 흐르는 상태로, 당해 부전위선에서 상기 접지선으로 순방향전류가 흐르는 상태로, 당해 부전위선과 당해 접지선에 접속한 제4다이오드로 구성한 것을 특징으로 하는 고체촬상장치의 수평레지스터.
- 제5항에 있어서, 신호입력선과 접지선과의 사이에 당해 수평레지스터에 대하여 병렬로 접속한 보호회로를, 부전위를 공급하는 부전위선과, 상기 신호입력선과 부전위선에 접속하는 동시에, 당해 부전위선을 채널이 형성되는 제1웰영역에 접속한 제1MOS형 트랜지스터와, 상기 제1MOS형 트랜지스터의 게이트와 상기 신호입력선과의 사이에 직렬접속한 제1커패시터와, 상기 제1MOS형 트랜지스터의 게이트와 상기 부전위선과의 사이에 직렬접속한 제1저항과, 상기 접지선과 상기 부전위선에 접속하는 동시에, 당해 부전위선을 채널이 형성되는 제2웰영역에 접속한 제2MOS형 트랜지스터와, 상기 제2MOS형 트랜지스터의 게이트와 상기 접지선과의 사이에 직렬 접속한 제2커패시터와, 상기 제2MOS형 트랜지스터의 게이트와 상기 부전위선과의 직렬접속한 제2저항으로 구성한 것을 특징으로 하는 고체촬상장치의 수평레지스터.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP19617492A JP3318774B2 (ja) | 1992-06-29 | 1992-06-29 | 半導体装置および固体撮像装置 |
JP92-196174 | 1992-06-29 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR940006258A true KR940006258A (ko) | 1994-03-23 |
KR100296147B1 KR100296147B1 (ko) | 2001-10-22 |
Family
ID=16353432
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019930011589A KR100296147B1 (ko) | 1992-06-29 | 1993-06-24 | 반도체장치및고체촬상장치의수평레지스터 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (3) | US5371392A (ko) |
JP (1) | JP3318774B2 (ko) |
KR (1) | KR100296147B1 (ko) |
Families Citing this family (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3318774B2 (ja) * | 1992-06-29 | 2002-08-26 | ソニー株式会社 | 半導体装置および固体撮像装置 |
JP3277438B2 (ja) * | 1994-10-12 | 2002-04-22 | ソニー株式会社 | 半導体装置 |
JP3019760B2 (ja) * | 1995-11-15 | 2000-03-13 | 日本電気株式会社 | 半導体集積回路装置 |
TW303512B (en) * | 1996-03-16 | 1997-04-21 | Winbond Electronics Corp | Electrostatic discharge protection circuit inside CMOS integrated circuit |
US5917220A (en) * | 1996-12-31 | 1999-06-29 | Stmicroelectronics, Inc. | Integrated circuit with improved overvoltage protection |
US5990503A (en) * | 1998-01-14 | 1999-11-23 | Dalsa, Inc. | Selectable resolution CCD sensor |
JP3703293B2 (ja) * | 1998-03-26 | 2005-10-05 | シャープ株式会社 | Ccd固体撮像素子 |
US6479872B1 (en) * | 1998-12-28 | 2002-11-12 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company | Dynamic substrate-coupled electrostatic discharging protection circuit |
US6587320B1 (en) | 2000-01-04 | 2003-07-01 | Sarnoff Corporation | Apparatus for current ballasting ESD sensitive devices |
US6363314B1 (en) * | 2000-07-13 | 2002-03-26 | Caterpillar Inc. | Method and apparatus for trimming a fuel injector |
US7372495B2 (en) * | 2002-08-23 | 2008-05-13 | Micron Technology, Inc. | CMOS aps with stacked avalanche multiplication layer and low voltage readout electronics |
US7199409B2 (en) * | 2004-08-26 | 2007-04-03 | Massachusetts Institute Of Technology | Device for subtracting or adding charge in a charge-coupled device |
US20210036025A1 (en) * | 2018-01-25 | 2021-02-04 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor material and semiconductor device |
KR102283267B1 (ko) | 2021-04-16 | 2021-07-28 | 황수현 | 고압용 솔리드 노즐 |
Family Cites Families (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3512058A (en) * | 1968-04-10 | 1970-05-12 | Rca Corp | High voltage transient protection for an insulated gate field effect transistor |
JPS523389A (en) * | 1975-06-27 | 1977-01-11 | Toshiba Corp | Field effect semiconductor device |
JPS5619656A (en) * | 1979-07-26 | 1981-02-24 | Mitsubishi Electric Corp | Semiconductor ic |
JPS5768071A (en) * | 1980-10-14 | 1982-04-26 | Nec Corp | Semiconductor device with protective element |
JPS6011455A (ja) * | 1983-06-30 | 1985-01-21 | Showa Denko Kk | トリクロロペンテニル誘導体及び除草剤 |
JPS6155962A (ja) * | 1984-08-27 | 1986-03-20 | Oki Electric Ind Co Ltd | 電荷結合素子 |
JPS61100954A (ja) * | 1984-10-22 | 1986-05-19 | Nec Corp | 半導体装置 |
JPS62199064A (ja) * | 1986-02-27 | 1987-09-02 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Mos・fetゲ−ト保護回路 |
JPH0748652B2 (ja) * | 1987-07-23 | 1995-05-24 | 三菱電機株式会社 | 半導体回路装置の入力保護装置 |
JPH061802B2 (ja) * | 1989-03-14 | 1994-01-05 | 株式会社東芝 | 半導体装置 |
JP3318774B2 (ja) * | 1992-06-29 | 2002-08-26 | ソニー株式会社 | 半導体装置および固体撮像装置 |
-
1992
- 1992-06-29 JP JP19617492A patent/JP3318774B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1993
- 1993-06-23 US US08/080,121 patent/US5371392A/en not_active Expired - Lifetime
- 1993-06-24 KR KR1019930011589A patent/KR100296147B1/ko not_active IP Right Cessation
-
1996
- 1996-06-14 US US08/663,609 patent/US5641981A/en not_active Expired - Lifetime
- 1996-08-20 US US08/697,168 patent/US5811845A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US5371392A (en) | 1994-12-06 |
US5641981A (en) | 1997-06-24 |
JPH0621356A (ja) | 1994-01-28 |
US5811845A (en) | 1998-09-22 |
JP3318774B2 (ja) | 2002-08-26 |
KR100296147B1 (ko) | 2001-10-22 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR940017215A (ko) | 과전압 보호기능을 지니는 저(low)전압 입력 및 출력회로 | |
KR960005986A (ko) | 반도체 집적회로장치 | |
KR940006258A (ko) | 반도체장치 및 고체촬상장치의 수평레지스터 | |
KR880012008A (ko) | 전원절환회로 | |
KR950012707A (ko) | 반도체 장치 | |
JPS63208324A (ja) | 半導体集積回路装置 | |
KR940704085A (ko) | 모스펫(MOSFET) 전력용 트랜지스터 보호회로(Circuit for protecting a MOSFET power transistor) | |
KR960009161A (ko) | 반도체 집적회로 | |
KR910016146A (ko) | 반도체 릴레이 회로 | |
KR960030398A (ko) | Esd 보호 회로를 갖는 반도체장치 | |
KR970072377A (ko) | 보호 회로 | |
KR970024162A (ko) | 풀업 또는 풀다운 저항을 갖는 반도체 장치(a semiconductor device having pull-up or pull-down resistance) | |
KR950021506A (ko) | 반도체 장치 | |
KR100204375B1 (ko) | 공급 전압원에서 공급되는 집적 회로의 입력을 과 전압으로부터 보호하기 위한 회로 장치 | |
KR950010006A (ko) | 내잡음 코드 설정회로 | |
KR940020669A (ko) | 바이어스 회로(bias circuit) | |
KR980006260A (ko) | 반도체 장치의 보호 소자 | |
KR970003927A (ko) | 전자기 방사가 감소된 반도체 장치 | |
KR970060479A (ko) | 반도체장치 | |
US4404477A (en) | Detection circuit and structure therefor | |
KR920013841A (ko) | 전력 트랜지스터를 특히 보호하기 위한 전압/전류 특성 제어회로 | |
EP0457737B1 (en) | MOS/BIP protection circuit | |
KR900015308A (ko) | 정전 보호회로 | |
KR890013795A (ko) | Mos형 집적회로 출력용 과전압 보호회로 | |
KR0115031Y1 (ko) | 포지티브와 네거티브 정전압회로가 내장된 반도체소자 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PA0109 | Patent application |
Patent event code: PA01091R01D Comment text: Patent Application Patent event date: 19930624 |
|
PG1501 | Laying open of application | ||
A201 | Request for examination | ||
AMND | Amendment | ||
PA0201 | Request for examination |
Patent event code: PA02012R01D Patent event date: 19971203 Comment text: Request for Examination of Application Patent event code: PA02011R01I Patent event date: 19930624 Comment text: Patent Application |
|
E902 | Notification of reason for refusal | ||
PE0902 | Notice of grounds for rejection |
Comment text: Notification of reason for refusal Patent event date: 20000428 Patent event code: PE09021S01D |
|
AMND | Amendment | ||
E601 | Decision to refuse application | ||
PE0601 | Decision on rejection of patent |
Patent event date: 20001121 Comment text: Decision to Refuse Application Patent event code: PE06012S01D Patent event date: 20000428 Comment text: Notification of reason for refusal Patent event code: PE06011S01I |
|
J201 | Request for trial against refusal decision | ||
PJ0201 | Trial against decision of rejection |
Patent event date: 20001219 Comment text: Request for Trial against Decision on Refusal Patent event code: PJ02012R01D Patent event date: 20001121 Comment text: Decision to Refuse Application Patent event code: PJ02011S01I Appeal kind category: Appeal against decision to decline refusal Decision date: 20010214 Appeal identifier: 2000101002938 Request date: 20001219 |
|
AMND | Amendment | ||
PB0901 | Examination by re-examination before a trial |
Comment text: Amendment to Specification, etc. Patent event date: 20010109 Patent event code: PB09011R02I Comment text: Request for Trial against Decision on Refusal Patent event date: 20001219 Patent event code: PB09011R01I Comment text: Amendment to Specification, etc. Patent event date: 20000626 Patent event code: PB09011R02I Comment text: Amendment to Specification, etc. Patent event date: 19971203 Patent event code: PB09011R02I |
|
B701 | Decision to grant | ||
PB0701 | Decision of registration after re-examination before a trial |
Patent event date: 20010214 Comment text: Decision to Grant Registration Patent event code: PB07012S01D Patent event date: 20010130 Comment text: Transfer of Trial File for Re-examination before a Trial Patent event code: PB07011S01I |
|
GRNT | Written decision to grant | ||
PR0701 | Registration of establishment |
Comment text: Registration of Establishment Patent event date: 20010507 Patent event code: PR07011E01D |
|
PR1002 | Payment of registration fee |
Payment date: 20010508 End annual number: 3 Start annual number: 1 |
|
PG1601 | Publication of registration | ||
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20040323 Start annual number: 4 End annual number: 4 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20050502 Start annual number: 5 End annual number: 5 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20060502 Start annual number: 6 End annual number: 6 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20070430 Start annual number: 7 End annual number: 7 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20080428 Start annual number: 8 End annual number: 8 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20090429 Start annual number: 9 End annual number: 9 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20100504 Start annual number: 10 End annual number: 10 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20110502 Year of fee payment: 11 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20110502 Start annual number: 11 End annual number: 11 |
|
LAPS | Lapse due to unpaid annual fee | ||
PC1903 | Unpaid annual fee |
Termination category: Default of registration fee Termination date: 20130409 |